JP3514094B2 - Apparatus and method for inspecting appearance of mounting board - Google Patents
Apparatus and method for inspecting appearance of mounting boardInfo
- Publication number
- JP3514094B2 JP3514094B2 JP32994897A JP32994897A JP3514094B2 JP 3514094 B2 JP3514094 B2 JP 3514094B2 JP 32994897 A JP32994897 A JP 32994897A JP 32994897 A JP32994897 A JP 32994897A JP 3514094 B2 JP3514094 B2 JP 3514094B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- mounting board
- determination
- electronic component
- result
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品が実装さ
れた実装基板の外観検査を行う実装基板の外観検査装置
および外観検査方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a mounting board appearance inspection apparatus and an appearance inspection method for performing an appearance inspection of a mounting board on which electronic components are mounted.
【0002】[0002]
【従来の技術】チップなどの電子部品が実装された実装
基板は、外観検査ラインにて電子部品の位置ずれや半田
付けの良否などを判定するための外観検査が行われる。
この実装基板の外観検査においては、異る検査項目を対
象とした判定手段ごとにモジュール化された検査機を連
結し、同一の実装基板についてこれら複数の検査機によ
り順次検査することが行われる。このように判定手段ご
とにモジュール化することにより、それぞれの検査対象
項目に必要とされる機能に特化した適切な判定手段を用
いて検査品質や効率を向上させるとともに、複数の検査
機に検査項目を振り分けることにより、外観検査処理の
タクトタイムを短縮することができるという利点があ
る。2. Description of the Related Art A mounting board on which an electronic component such as a chip is mounted is subjected to an appearance inspection in an appearance inspection line to determine the positional deviation of the electronic component and the quality of soldering.
In the visual inspection of the mounting board, a modularized inspection machine is connected for each determination unit for different inspection items, and the same mounting board is sequentially inspected by the plurality of inspection machines. By modularizing each judgment means in this way, it is possible to improve the inspection quality and efficiency by using an appropriate judgment means specialized for the function required for each inspection target item, and to inspect multiple inspection machines. By allocating the items, there is an advantage that the takt time of the appearance inspection process can be shortened.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】上記検査において、検
査結果は各検査機から出力手段により出力され、オペレ
ータはこれらの出力結果に従って不良箇所の確認やリペ
アを行う。しかしながら各検査機からはそれぞれの検査
機により行われた検査項目についてのみ検査結果が各検
査機別に出力されていた。すなわち同一の実装基板の不
良箇所であっても、異る検査機によって検査され検出さ
れた不良箇所については、別個の検査結果として出力さ
れることとなっていた。このため、同一の実装基板に複
数の検査結果が存在する結果、検査機別に出力された検
査結果を見ながら実装基板の不良個所の確認やリペアを
行うので不良個所の見落としや確認に重複した手間を要
するという問題点があった。In the above inspection, the inspection result is output from each inspection machine by the output means, and the operator confirms and repairs the defective portion according to these output results. However, each inspection machine outputs the inspection result for each inspection machine only for the inspection item performed by each inspection machine. That is, even if the defective portion is on the same mounting board, the defective portion that is inspected and detected by a different inspection machine is to be output as a separate inspection result. For this reason, because multiple inspection results exist on the same mounting board, the defective parts of the mounting board are checked and repaired while checking the inspection results output by each inspection machine. There was a problem that it required.
【0004】そこで本発明は、複数の検査機によって検
査された場合でも1枚の実装基板に関する検査結果を容
易に確認できる実装基板の外観検査装置および外観検査
方法を提供することを目的とする。Therefore, it is an object of the present invention to provide an appearance inspection apparatus and appearance inspection method for a mounting board that can easily confirm the inspection result for one mounting board even when inspected by a plurality of inspection machines.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】請求項1記載の実装基板
の外観検査装置は、実装基板に半田付けされた電子部品
の有無や位置ずれを主な判定対象とする第1の判定手段
と、電子部品を実装基板に接合する半田付け部の形状不
良を主な判定対象とする第2の判定手段と、第1の判定
手段および第2の判定手段の判定結果を記憶する判定結
果記憶部と、この判定結果記憶部に記憶された判定結果
を同一の実装基板についての単一の最終検査結果として
合成処理する検査結果処理部と、この最終検査結果を出
力する出力手段とを備えた。According to a first aspect of the present invention, there is provided a mounting board appearance inspection apparatus, comprising: first determination means mainly for determining whether or not there is an electronic component soldered to the mounting board and a positional deviation. A second determination unit that mainly determines a shape defect of a soldering unit that joins an electronic component to a mounting board; and a determination result storage unit that stores the determination results of the first determination unit and the second determination unit. An inspection result processing unit that synthesizes the determination result stored in the determination result storage unit as a single final inspection result for the same mounting board, and an output unit that outputs the final inspection result are provided.
【0006】請求項2記載の実装基板の外観検査方法
は、実装基板に半田付けされた電子部品の有無や位置ず
れを主な判定対象とする第1の判定手段と、電子部品を
基板に接合する半田付け部の不良を主な判定対象とする
第2の判定手段を含む複数の判定手段により実装基板を
検査して各判定対象について良否の判定を行う実装基板
の外観検査方法であって、前記第1の判定手段および第
2の判定手段を含む複数の判定手段の判定結果を判定結
果記憶部に記憶させ、記憶された判定結果を検査結果処
理部により同一の実装基板についての単一の最終検査結
果として合成処理し、この最終検査結果を出力手段によ
り出力するようにした。According to a second aspect of the present invention, there is provided a method for inspecting the appearance of a mounting board, wherein the first judging means mainly judges the presence or absence of an electronic component soldered to the mounting board and the positional deviation, and the electronic part is joined to the board. A method for inspecting the appearance of a mounting board, wherein the mounting board is inspected by a plurality of judging means including a second judging means whose main judgment target is a defect of a soldering part, The determination results of a plurality of determination units including the first determination unit and the second determination unit are stored in the determination result storage unit, and the stored determination results are stored by the inspection result processing unit into a single The final inspection result is combined, and the final inspection result is output by the output means.
【0007】本発明によれば、外観検査装置の複数の判
定手段の判定結果を判定結果記憶部に記憶させ、記憶さ
れた判定結果を同一の実装基板についての単一の最終検
査結果として合成して出力することにより、複数の検査
機によって検査された場合にも1枚の実装基板に関する
不良個所の確認を確実かつ容易に確認できる。According to the present invention, the determination results of the plurality of determining means of the appearance inspection apparatus are stored in the determination result storage section, and the stored determination results are combined as a single final inspection result for the same mounting board. It is possible to surely and easily confirm the defective portion on one mounting board even if the inspection is performed by a plurality of inspection machines.
【0008】[0008]
【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態を図面を
参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態の電子
部品の実装状態検査装置の正面図、図2は同電子部品の
実装状態検査装置の制御系の構成を示すブロック図、図
3は同電子部品の実装状態検査装置の第1の判定部の構
成を示すブロック図、図4は同電子部品の実装状態検査
装置の第2の判定部の構成を示すブロック図、図5は同
電子部品の実装状態検査装置の第3の判定部の構成を示
すブロック図、図6は同電子部品の実装状態検査装置の
不良項目およびランク付けを示すデータテーブル、図7
は同電子部品の実装状態検査装置の半田付状態検査の画
像パターンを示すテーブル、図8は同電子部品の実装状
態検査装置の検査結果処理部の処理フローを示すフロー
図である。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a front view of an electronic component mounting state inspection device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a control system of the electronic component mounting state inspection device, and FIG. FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a first determination unit of the mounting state inspection device, FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a second determination unit of the mounting state inspection device of the electronic component, and FIG. 5 is a mounting state of the electronic component. FIG. 7 is a block diagram showing a configuration of a third determination unit of the inspection device, FIG. 6 is a data table showing defective items and ranking of the mounting state inspection device of the electronic component, and FIG.
Is a table showing an image pattern of a soldering state inspection of the electronic component mounting state inspection device, and FIG. 8 is a flow chart showing a processing flow of an inspection result processing unit of the electronic component mounting state inspection device.
【0009】まず図1を参照して電子部品の実装状態検
査装置の構造を説明する。図1において、電子部品の実
装状態検査装置1は、第1の検査機2Aおよび第2の検
査機2Bの2つのモジュールより構成される。第1の検
査機2Aの基台5A上には、可動テーブル6Aが配設さ
れ、可動テーブル6Aには基板保持部7Aが載置されて
いる。基板保持部7Aは多数の電子部品4が実装された
実装基板3を保持する。可動テーブル6Aを駆動するこ
とにより、実装基板3は水平移動し位置決めされる。First, the structure of an electronic component mounting state inspection apparatus will be described with reference to FIG. In FIG. 1, an electronic component mounting state inspection apparatus 1 is composed of two modules, a first inspection machine 2A and a second inspection machine 2B. A movable table 6A is arranged on a base 5A of the first inspection machine 2A, and a substrate holding portion 7A is placed on the movable table 6A. The board holding portion 7A holds the mounting board 3 on which a large number of electronic components 4 are mounted. The mounting substrate 3 is horizontally moved and positioned by driving the movable table 6A.
【0010】基板保持部7Aの両側にはコンベアユニッ
ト8A,9Aが配設されている。コンベアユニット8A
は基板保持部7Aに実装基板3を搬入し、コンベアユニ
ット9Aは基板保持部7Aから検査後の実装基板3を搬
出する。基板保持部7Aの上方には、第1の撮像部10
が配設されている。第1の撮像部10は、カラーカメラ
11、鏡筒12およびドーム形の照明部13を備えてい
る。第1の撮像部10は実装基板3のカラー画像を撮像
する。このカラー画像により、基板面と電子部品4の色
の違いを利用して電子部品4の有無や位置ずれを検出す
る。Conveyor units 8A and 9A are arranged on both sides of the substrate holder 7A. Conveyor unit 8A
Carries the mounting board 3 into the board holding section 7A, and the conveyor unit 9A carries out the mounted board 3 after the inspection from the board holding section 7A. The first imaging unit 10 is provided above the substrate holding unit 7A.
Is provided. The first imaging unit 10 includes a color camera 11, a lens barrel 12, and a dome-shaped illumination unit 13. The first imaging unit 10 captures a color image of the mounting board 3. With this color image, the presence or absence of the electronic component 4 and the positional deviation are detected by utilizing the difference in color between the substrate surface and the electronic component 4.
【0011】第1の検査機2Aに隣接して第2の検査機
2Bが配設されている。第2の検査機2Bは、第1の検
査機2Aと同様に基台5B、可動テーブル6B、基板保
持部7Bおよびコンベアユニット8B,9Bを備えてい
る。基板保持部6Bの上方には第2の撮像部20が配設
されている。第2の撮像部20はモノクロカメラ21を
備えており、モノクロカメラ21は、LEDを多数配列
して構成された多段照明部23により照明された実装基
板3を、鏡筒22を介して撮像する。これにより得られ
たモノクロ画像は、電子部品4の半田付け部の検査に用
いられる。A second inspection machine 2B is arranged adjacent to the first inspection machine 2A. The second inspection machine 2B includes a base 5B, a movable table 6B, a substrate holding portion 7B, and conveyor units 8B and 9B, like the first inspection machine 2A. The second imaging unit 20 is arranged above the substrate holding unit 6B. The second image capturing section 20 includes a monochrome camera 21, and the monochrome camera 21 captures an image of the mounting board 3 illuminated by a multi-stage illumination section 23 configured by arranging a large number of LEDs via a lens barrel 22. . The monochrome image thus obtained is used for the inspection of the soldered portion of the electronic component 4.
【0012】また第2の撮像部20には、4基のPSD
24が受光面を斜め下方に向けて実装基板3を中心とし
て東西南北に配設されている。鏡筒22の側面にはレー
ザ光源25およびスキャナ26が設けられている。レー
ザ光源25により発射されたレーザ光はハーフミラー2
7によって下方に照射され、実装基板3上で反射され
る。この反射光を4基のPSD24が受光することによ
り、実装基板3のレーザ光の照射点の高さを求めること
ができ、この高さ計測値に基づいて電子部品4の浮きな
どの不良を検出する。スキャナ26を駆動することによ
り、実装基板3上の所望位置にレーザ光の照射点を移動
させることができ、したがって各電子部品4の浮きを検
出することができる。The second image pickup section 20 has four PSDs.
24 are arranged in north, south, east, and west with the mounting substrate 3 as the center with the light-receiving surface facing obliquely downward. A laser light source 25 and a scanner 26 are provided on the side surface of the lens barrel 22. The laser light emitted by the laser light source 25 is used by the half mirror 2
It is irradiated downward by 7 and reflected on the mounting substrate 3. By receiving the reflected light by the four PSDs 24, the height of the irradiation point of the laser light on the mounting substrate 3 can be obtained, and a defect such as floating of the electronic component 4 is detected based on the height measurement value. To do. By driving the scanner 26, the irradiation point of the laser beam can be moved to a desired position on the mounting board 3, and thus the floating of each electronic component 4 can be detected.
【0013】次に図2を参照して電子部品4の実装状態
検査装置の制御系の構成を説明する。図2において、破
線枠2Aは第1の検査機2Aに含まれる範囲を、または
線枠2Bは第2の検査機2Bに含まれる範囲をそれぞれ
示している。第1の判定部31は、カラーカメラ11の
撮像データに基づき、基板面と電子部品4の色の違いを
利用して電子部品4の欠品、部品違い、極性(方向)違
い、位置ズレなどの不良を検出する。第1の判定部31
とカラーカメラ11は第1の判定手段を構成する。Next, the configuration of the control system of the mounting state inspection device for the electronic component 4 will be described with reference to FIG. In FIG. 2, a broken line frame 2A indicates a range included in the first inspection machine 2A, and a line frame 2B indicates a range included in the second inspection machine 2B. The first determination unit 31 utilizes the color difference between the substrate surface and the electronic component 4 based on the imaged data of the color camera 11 so that the electronic component 4 is out of stock, the component is different, the polarity (direction) is different, the position is displaced, and the like. Detect defects. First determination unit 31
The color camera 11 constitutes a first judging means.
【0014】第2の判定部32はモノクロカメラ21の
撮像データに基づき、電子部品4の半田付け部の検査、
すなわち半田過多、半田過少、半田無し、ブリッジなど
の半田付け部の不良を検出する。第2の判定部32とモ
ノクロカメラ21は第2の判定手段を構成する。また第
3の判定部33は、4基のPSD24が受光したレーザ
反射光の出力に基づいて検査対象点の高さを求め、この
高さ計測結果に基づき、電子部品4の浮きなど電子部品
4の高さに関する不良を検出する。第3の判定部33と
PSD24は第3の判定手段を構成する。制御部34は
CPUであり、電子部品4の実装状態検査装置1の全体
動作を制御する。The second determination section 32 inspects the soldering section of the electronic component 4 based on the image data of the monochrome camera 21,
That is, excessive solder, excessive solder, no solder, defects in the soldered portion such as a bridge are detected. The second determination unit 32 and the monochrome camera 21 form a second determination unit. In addition, the third determination unit 33 obtains the height of the inspection target point based on the output of the laser reflected light received by the four PSDs 24, and based on the height measurement result, the electronic component 4 such as the floating of the electronic component 4 is detected. Detect defects in height. The third determination unit 33 and the PSD 24 form a third determination unit. The control unit 34 is a CPU, and controls the entire operation of the mounting state inspection device 1 for the electronic component 4.
【0015】第1の記憶部41は判定結果記憶部であ
り、第1の判定部31、第2の判定部32および第3の
判定部33によって出力された判定結果を記憶する。第
2の記憶部42は検査項目の重大性や、表示の有用性な
どに応じて予め設定された項目別のランク付データを記
憶する。ここで、図6を参照して不良の種類および不良
の重大性に応じて設定されるランク付けデータについて
説明する。図6の不良項目テーブルに示すように、外観
検査で不良と判定される項目として不良データテーブル
の左欄に示すような種類が設定されており、各不良の種
類に対応して不良コードが付与されている。各判定部か
ら出力される不良結果情報では、この不良コードによっ
て不良の種類が特定される。The first storage unit 41 is a determination result storage unit, and stores the determination results output by the first determination unit 31, the second determination unit 32, and the third determination unit 33. The second storage unit 42 stores ranking data for each item set in advance according to the importance of the inspection item, the usefulness of the display, and the like. Here, the ranking data set according to the type of defect and the severity of the defect will be described with reference to FIG. As shown in the defect item table of FIG. 6, the types shown in the left column of the defect data table are set as items that are determined to be defective by the visual inspection, and a defect code is assigned to each defect type. Has been done. In the failure result information output from each determination unit, the type of failure is specified by this failure code.
【0016】図6のテーブルの右欄に示すように、各不
良の種類は、A〜Fまで6段階にランク付けされてい
る。このランク付けは、不良内容の重大性や不良表示の
有用性、すなわち複数の不良結果が表示された場合に、
どの不良表示が実質的に意味を有するか、の観点から決
定されるものである。例えば、電子部品4があるべき位
置に存在しない場合に出力される欠品の不良結果と、半
田形状の不良結果とが同一電子部品4について同時に存
在する例では、電子部品4が存在しない以上半田形状の
不良を表示することは実質的に意味を有さず、有用性の
ない表示となる。As shown in the right column of the table of FIG. 6, each defect type is ranked in six stages from A to F. This ranking is based on the importance of defect content and the usefulness of defect display, that is, when multiple defect results are displayed.
It is determined from the viewpoint of which defective display has a substantial meaning. For example, in the example in which the defective result of the defective product and the defective result of the solder shape which are output when the electronic component 4 is not present at the position where the electronic component 4 should exist, are present at the same time with respect to the same electronic component 4, the electronic component 4 is not present in the solder. Displaying a defective shape is meaningless and is not useful.
【0017】このような有用性のない無意味な検査結果
を出力することを避けるため、同一の電子部品4につい
て複数の不良結果情報が存在する場合には、実質的に意
味を有さない不良結果情報は、検査結果処理部44にて
ランク付けデータを参照して取捨選択される。In order to avoid outputting such a meaningless inspection result that is not useful, when there are a plurality of pieces of defect result information for the same electronic component 4, the defect is meaningless. The result information is selected by the inspection result processing unit 44 with reference to the ranking data.
【0018】また、第1の記憶部41に記憶された検査
データは、この第2の記憶部42のランク付けデータに
基づいて、検査結果処理部44によって選別、削除等の
処理がなされるとともに、同一の実装基板についての単
一の最終検査結果として合成処理され、最終検査結果は
第3の記憶部43に記憶される。これにより、不良箇所
のリペアに際して同一の実用基板3について複数の検査
結果を参照する必要がない。The inspection data stored in the first storage unit 41 is subjected to processing such as selection and deletion by the inspection result processing unit 44 on the basis of the ranking data in the second storage unit 42. , The same mounting board is combined as a single final inspection result, and the final inspection result is stored in the third storage unit 43. This eliminates the need to refer to a plurality of inspection results for the same practical substrate 3 when repairing a defective portion.
【0019】入力手段45はキーボードなどであり、第
2の記憶部42に設定されるランク付データの入力やそ
の他の操作入力を行う。表示部46はモニターであり、
最終検査結果などの表示を行う。プリンタ47は最終検
査結果などを印刷出力する。すなわち、表示部46およ
びプリンタ47は最終検査結果を出力する出力手段とな
っている。The input means 45 is a keyboard or the like, and inputs the ranked data set in the second storage section 42 and other operation inputs. The display unit 46 is a monitor,
The final inspection result is displayed. The printer 47 prints out the final inspection result and the like. That is, the display unit 46 and the printer 47 are output means for outputting the final inspection result.
【0020】次に図3を参照して第1の判定部31につ
いて説明する。第1の判定部31では、カラーカメラ1
1によって撮像された検査対象の画像データが画像記憶
部31aに記憶され、次に以下に説明する各検査処理部
によって画像データを処理して、判定結果を含む不良結
果情報を出力する。Next, the first judging section 31 will be described with reference to FIG. In the first determination unit 31, the color camera 1
The image data of the inspection target imaged by 1 is stored in the image storage unit 31a, and the image data is processed by each inspection processing unit described below, and the defect result information including the determination result is output.
【0021】欠品検査処理部31bでは、電子部品4が
検査位置に存在するか否かを検査する。部品サイズ検査
処理部31cでは、電子部品4のサイズを検出して、そ
の電子部品4が正しい電子部品4であるか否かを検査す
る。表裏反転検査処理部31dは、検出された電子部品
4の表裏が正しく実装されているか否かを検査する。極
性検査処理部31eでは、電子部品4の極性、すなわち
実装方向が正しいか否かを検査する。位置ズレ検査処理
部31fでは、電子部品4が許容値を越えて位置ずれし
ていないか否かを検査する。The out-of-stock inspection processing section 31b inspects whether or not the electronic component 4 is present at the inspection position. The component size inspection processing unit 31c detects the size of the electronic component 4 and inspects whether the electronic component 4 is the correct electronic component 4. The front / back inversion inspection processing unit 31d inspects whether the detected front / back of the electronic component 4 is properly mounted. The polarity inspection processing unit 31e inspects whether the polarity of the electronic component 4, that is, the mounting direction is correct. The misalignment inspection processing section 31f inspects whether or not the electronic component 4 is displaced beyond an allowable value.
【0022】ここで、第1の判定部31から出力される
不良結果情報について説明する。図3に示すように、不
良結果情報は、基板コード、部品コード、不良コード、
ピン番号、判定種別コードより構成される。基板コード
は検査対象の実装基板3を特定する情報、部品コードは
実装基板上の電子部品4を特定する情報、不良コードは
判定された不良の種類を示す情報、ピン番号はリード付
電子部品4の場合にのみ出力されるもので、電子部品4
のどのリードで不良が生じているかを示す情報である。
判定種別コードは、当該不良結果情報がどの判定部で判
定され、出力されたかを示すものである。なお、不良結
果情報は、第2の判定部32、第3の判定部33につい
ても同様の構成で出力される。The defect result information output from the first judging section 31 will be described. As shown in FIG. 3, the failure result information includes a board code, a component code, a failure code,
It consists of a pin number and a judgment type code. The board code is information that identifies the mounting board 3 to be inspected, the component code is information that identifies the electronic component 4 on the mounting board, the failure code is information that indicates the determined failure type, and the pin number is the electronic component with lead 4 Is output only in the case of
It is information indicating which of the leads has a defect.
The determination type code indicates which determination unit has determined and output the defect result information. The defect result information is output to the second determination unit 32 and the third determination unit 33 with the same configuration.
【0023】次に図4、図7を参照して第2の判定部3
2について説明する。図4において、モノクロカメラ2
1により撮像された撮像データは、画像記憶部32aに
記憶され、次いで半田部検査処理部32bにて半田付け
部の半田フィレットの形状が検査される。ここでは図7
に示すように、得られた電子部品4の画像中に設定され
る半田検査ウインドウ48、48’内の半田フィレット
の画像を、半田フィレットの正常、および不良の各状態
を示す基準パターンと対比することにより、正常である
か、又は、半田過多、半田過少、半田無しの不良である
かを判定する。これらの基準パターンは、図7に示すよ
うにチップ部品、リード付部品の種別に応じて設定され
ている。また、ブリッジ検査処理部32cでは、リード
付部品の場合に、溶融時に流動して隣のリードの半田と
つながりリード相互間を短絡する半田のブリッジの有無
が検査される。Next, referring to FIGS. 4 and 7, the second judging section 3
2 will be described. In FIG. 4, the monochrome camera 2
The image pickup data picked up by No. 1 is stored in the image storage unit 32a, and then the shape of the solder fillet of the soldering portion is inspected by the solder portion inspection processing unit 32b. Here, Fig. 7
As shown in FIG. 4, the images of the solder fillets in the solder inspection windows 48, 48 ′ set in the obtained image of the electronic component 4 are compared with reference patterns indicating normal and defective states of the solder fillets. By doing so, it is determined whether it is normal, or there is excess solder, insufficient solder, or no solder. As shown in FIG. 7, these reference patterns are set according to the types of chip parts and leaded parts. In addition, in the case of a leaded component, the bridge inspection processing unit 32c inspects the presence or absence of a solder bridge that flows at the time of melting and connects to the solder of the adjacent lead to short-circuit the leads.
【0024】次に図5を参照して第3の判定部33につ
いて説明する。第3の判定部33において、レーザ光を
電子部品4の計測対象点に照射することにより得られた
4基のPSD24の出力は、高さ情報記憶部33aに記
憶され、次いでこの高さ情報に基づいて浮き検査処理部
33bにより、当該電子部品4の計測対象点が浮きを生
じているか否かを検査する。Next, the third judging section 33 will be described with reference to FIG. In the third determination unit 33, the outputs of the four PSDs 24 obtained by irradiating the measurement target point of the electronic component 4 with the laser light are stored in the height information storage unit 33a, and then the height information is stored in the height information storage unit 33a. Based on the floating inspection processing unit 33b, it is inspected whether or not the measurement target point of the electronic component 4 is floating.
【0025】次に検査結果処理部44にて行われる処理
について図8のフローに沿って説明する。まず、検査が
終了した実装基板3に関する不良結果情報を第1の記憶
部41より読み取る(ST1)。ここで不良結果情報の
有無が判断され(ST2)、不良結果情報が全くなけれ
ば処理を終了し、不良結果情報がある場合には1つの電
子部品4に対して複数の不良結果情報があるか否かが判
断される(ST3)。そして複数の不良結果情報がある
場合には、前述の不良の重大性に応じて設定されたラン
ク付データを参照して不良結果情報を取捨選択する(S
T4)。次にこのようにして取捨選択された不良結果情
報、もしくはST3にて1つの電子部品4に対して1つ
のみ存在する場合の不良結果情報は、各実装基板ごとに
単一の最終検査結果として合成処理され(ST5)、第
3の記憶部43に格納される(ST6)。これらの一連
の処理は、1枚の実装基板3の全ての検査が終わるごと
に実行される。Next, the processing performed by the inspection result processing unit 44 will be described with reference to the flow of FIG. First, the defect result information regarding the mounting board 3 for which the inspection is completed is read from the first storage unit 41 (ST1). Here, it is determined whether there is defect result information (ST2), the process is terminated if there is no defect result information, and if there is defect result information, then there is a plurality of defect result information for one electronic component 4. It is determined whether or not (ST3). When there are a plurality of pieces of defect result information, the defect result information is sorted out by referring to the ranked data set according to the above-mentioned defect severity (S).
T4). Next, the failure result information selected in this manner, or the failure result information when only one electronic component 4 exists in ST3, is used as a single final inspection result for each mounting board. The combination processing is performed (ST5) and the result is stored in the third storage unit 43 (ST6). A series of these processes is executed every time all the inspections of one mounting board 3 are completed.
【0026】この電子部品4の実装状態検査装置は、上
記のように構成され、以下、本検査装置を用いた電子部
品4の実装状態検査について説明する。まず図1におい
て、第1の検査機2Aのコンベアユニット8Aにより実
装基板3が基板保持部7Aに搬入される。次いで可動テ
ーブル5Aを駆動することにより実装基板3を第1の撮
像部10に対して位置決めする。The mounting state inspection apparatus for the electronic component 4 is constructed as described above, and the mounting state inspection for the electronic component 4 using this inspection apparatus will be described below. First, in FIG. 1, the mounting substrate 3 is carried into the substrate holding portion 7A by the conveyor unit 8A of the first inspection machine 2A. Next, the movable table 5A is driven to position the mounting substrate 3 with respect to the first imaging unit 10.
【0027】その後検査対象の電子部品4の有無や位置
ずれなどの検査項目を第1の判定手段によって検査し判
定する。ここで検査され不良と判定された不良結果情報
は第1の記憶部41に記憶される。そして同一の実装基
板3の全ての検査対象の電子部品4の検査が終了したな
らば、実装基板3は基板保持部7Aより搬出され、コン
ベアユニット9Aによって第2の検査機2Bに渡され
る。次いで基板保持部7Bに搬入された実装基板3に対
し、第2の判定手段により半田付け部に関する検査項目
の検査が、また第3の判定手段により電子部品4の浮き
の検査が行われる。その後検査が終了した実装基板3は
コンベアユニット9Bによって搬出される。これらの検
査で不良と判定された不良結果情報も同様に、第1の記
憶部41に記憶される。Thereafter, the inspection items such as the presence or absence of the electronic component 4 to be inspected and the positional deviation are inspected and determined by the first determining means. The defect result information that is inspected and determined to be defective is stored in the first storage unit 41. Then, when the inspection of all electronic components 4 to be inspected on the same mounting board 3 is completed, the mounting board 3 is carried out from the board holding portion 7A and transferred to the second inspection machine 2B by the conveyor unit 9A. Next, the mounting board 3 carried into the board holding portion 7B is inspected by the second judging means for the inspection items relating to the soldering portion, and the third judging means is inspected for the floating of the electronic component 4. After that, the mounting board 3 for which the inspection is completed is carried out by the conveyor unit 9B. The defect result information determined to be defective in these inspections is similarly stored in the first storage unit 41.
【0028】第1の記憶部41に記憶された不良結果情
報は、検査結果処理部44によって重要性などのランク
付けに従って取捨選択され、選択された不良項目のみを
含み、更に同一の実装基板3について単一の最終検査結
果として合成処理された不良結果情報が第3の記憶部4
3に記憶される。そしてこれらの最終検査結果は必要に
応じて表示部46に表示され、あるいはプリンタ47に
よって印刷出力される。The defect result information stored in the first storage unit 41 is selected by the inspection result processing unit 44 according to the ranking of importance and the like, and includes only the selected defect item, and further the same mounting board 3 For the third storage unit 4, the defect result information synthesized as a single final inspection result for
3 is stored. These final inspection results are displayed on the display unit 46 or printed out by the printer 47 as needed.
【0029】このようにして出力された最終検査結果の
内容は、無意味な不良結果情報が削除されて有用な不良
結果情報のみとなっており、余分なデータが消去された
見易いものとなっている。また実装基板別に整理された
単一の検査結果となっているため、同一の実装基板の不
良個所の確認に重複した手間を必要とせず、確実かつ容
易に行うことができる。The content of the final inspection result output in this way is only useful defect result information after meaningless defect result information is deleted, and it is easy to see that excess data has been erased. There is. Further, since the single inspection result is arranged for each mounting board, it is possible to surely and easily carry out confirmation of a defective portion of the same mounting board without redundant labor.
【0030】上記説明のように、検査対象に応じて機能
が特化された判定手段を有する検査機を複数機連結して
外観検査装置を構成し、各判定手段から出力される判定
結果を一旦ランダムに記憶させ、その後それらの判定結
果を一括して処理して整理する機能を付加することによ
り、以下の効果を得ることができる。As described above, the appearance inspection apparatus is configured by connecting a plurality of inspection machines each having a judgment means whose function is specialized according to the inspection object, and the judgment result output from each judgment means is temporarily determined. The following effects can be obtained by adding the function of randomly storing and then collectively processing and organizing the judgment results.
【0031】まず、複数の判定手段によって順次検査を
行う場合に、最終的には判定結果が不良内容の重大性や
表示内容の有用性の判断基準に従って取捨選択されるた
め、オペレータは無意味な情報が削除され整理された検
査結果を得ることができ、リペアの効率を向上させるこ
とができる。また、各判定手段によって実装基板を検査
する順序に関係なく、常に同一内容の整理された最終検
査結果が出力されるため、複数の検査機に実装基板を投
入する順序設定の自由度が増すことになり、工程管理が
容易となる。さらに、検査結果処理部により同一の実装
基板については単一の最終検査結果として合成処理され
て出力されるため、1つの実装基板について不良箇所の
確認に際して重複した手間を要しない。First, in the case where inspections are sequentially carried out by a plurality of judging means, the judgment result is finally selected according to the judgment criteria of the significance of the defective contents and the usefulness of the displayed contents, so that the operator is meaningless. It is possible to obtain inspection results in which information is deleted and arranged, and repair efficiency can be improved. In addition, regardless of the order in which the mounting boards are inspected by each judging means, the finalized inspection results having the same contents are always output, so that the degree of freedom in setting the order of mounting the mounting boards on a plurality of inspection machines is increased. Therefore, the process control becomes easy. Further, since the same mounting board is combined and output as a single final inspection result by the inspection result processing unit, duplicate labor is not required when confirming a defective portion of one mounting board.
【0032】[0032]
【発明の効果】本発明によれば、外観検査装置の複数の
判定手段の判定結果を判定結果記憶部に記憶させ、記憶
された判定結果を同一の実装基板についての単一の最終
検査結果として合成して出力するようにしているので、
実装基板が異なった判定手段を有する複数の検査機によ
って検査された場合にも、実装基板ごとに整理された検
査結果を見ながら不良個所の確認を容易に行うことがで
きる。According to the present invention, the determination results of a plurality of determining means of the appearance inspection apparatus are stored in the determination result storage section, and the stored determination results are used as a single final inspection result for the same mounting board. Since it is composed and output,
Even when the mounting board is inspected by a plurality of inspection machines having different determining means, it is possible to easily confirm the defective portion while looking at the inspection results arranged for each mounting board.
【図1】本発明の一実施の形態の電子部品の実装状態検
査装置の正面図FIG. 1 is a front view of an electronic component mounting state inspection device according to an embodiment of the present invention.
【図2】本発明の一実施の形態の電子部品の実装状態検
査装置の制御系の構成を示すブロック図FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a control system of the electronic component mounting state inspection device according to the embodiment of the present invention.
【図3】本発明の一実施の形態の電子部品の実装状態検
査装置の第1の判定部の構成を示すブロック図FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a first determination unit of the electronic component mounting state inspection device according to the embodiment of the present invention.
【図4】本発明の一実施の形態の電子部品の実装状態検
査装置の第2の判定部の構成を示すブロック図FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a second determination unit of the electronic component mounting state inspection device according to the embodiment of the present invention.
【図5】本発明の一実施の形態の電子部品の実装状態検
査装置の第3の判定部の構成を示すブロック図FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of a third determination unit of the electronic component mounting state inspection device according to the embodiment of the present invention.
【図6】本発明の一実施の形態の電子部品の実装状態検
査装置の不良項目およびランク付けを示す図FIG. 6 is a diagram showing defective items and ranking of the electronic component mounting state inspection device according to the embodiment of the present invention.
【図7】本発明の一実施の形態の電子部品の実装状態検
査装置の半田付状態検査の画像パターンを示す図FIG. 7 is a diagram showing an image pattern of a soldering state inspection of an electronic component mounting state inspection device according to an embodiment of the present invention.
【図8】本発明の一実施の形態の電子部品の実装状態検
査装置の検査結果処理部の処理フローを示すフロー図FIG. 8 is a flowchart showing a processing flow of an inspection result processing unit of the electronic component mounting state inspection device according to the embodiment of the present invention.
1 外観検査装置 2A 第1の検査機 2B 第2の検査機 3 実装基板 4 電子部品 6A、6B 可動テーブル 7A、7B 基板保持部 10 第1の撮像部 11 カラーカメラ 20 第2の撮像部 21 モノクロカメラ 24 PSD 31 第1の判定部 32 第2の判定部 33 第3の判定部 34 制御部 41 第1の記憶部 42 第2の記憶部 1 Visual inspection device 2A First inspection machine 2B Second inspection machine 3 mounting board 4 electronic components 6A, 6B movable table 7A, 7B substrate holder 10 First imaging unit 11 color camera 20 Second imaging unit 21 monochrome camera 24 PSD 31 First determination unit 32 Second determination unit 33 Third determination unit 34 Control unit 41 First Storage 42 Second storage unit
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 木原 正宏 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 矢野 啓司 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (56)参考文献 特開 平9−260898(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 11/00 - 11/30 H05K 13/04 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Masahiro Kihara 1006 Kadoma, Kadoma City, Osaka Prefecture Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (72) Keiji Yano 1006 Kadoma, Kadoma City, Osaka Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (56) References JP-A-9-260898 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) G01B 11/00-11/30 H05K 13/04
Claims (2)
や位置ずれを主な判定対象とする第1の判定手段と、電
子部品を実装基板に接合する半田付け部の形状不良を主
な判定対象とする第2の判定手段と、第1の判定手段お
よび第2の判定手段の判定結果を記憶する判定結果記憶
部と、この判定結果記憶部に記憶された判定結果を同一
の実装基板についての単一の最終検査結果として合成処
理する検査結果処理部と、この最終検査結果を出力する
出力手段とを備えたことを特徴とする実装基板の外観検
査装置。1. A first determining means mainly for determining whether or not an electronic component is soldered to a mounting board and a positional deviation, and a shape defect of a soldering part for joining the electronic component to the mounting board. A second determination unit to be determined, a determination result storage unit that stores the determination results of the first determination unit and the second determination unit, and the determination results stored in the determination result storage unit are the same mounting board. The mounting board appearance inspection device, comprising: an inspection result processing unit that performs a combination process as a single final inspection result for the above; and an output unit that outputs the final inspection result.
や位置ずれを主な判定対象とする第1の判定手段と、電
子部品を基板に接合する半田付け部の不良を主な判定対
象とする第2の判定手段を含む複数の判定手段により実
装基板を検査して各判定対象について良否の判定を行う
実装基板の外観検査方法であって、前記第1の判定手段
および第2の判定手段を含む複数の判定手段の判定結果
を判定結果記憶部に記憶させ、記憶された判定結果を検
査結果処理部により同一の実装基板についての単一の最
終検査結果として合成処理し、この最終検査結果を出力
手段により出力することを特徴とする実装基板の外観検
査方法。2. A first determination means mainly for determining whether or not an electronic component is soldered to a mounting board and a positional deviation, and a main determination target for a defect of a soldering part for joining the electronic component to the board. A mounting board appearance inspection method for inspecting a mounting board by a plurality of judging means including a second judging means for judging whether each judgment object is good or bad, the first judging means and the second judging means. The determination results of the plurality of determination means including the means are stored in the determination result storage unit, and the stored determination results are combined into a single final inspection result for the same mounting board by the inspection result processing unit, and this final inspection is performed. An appearance inspection method for a mounting board, wherein the result is output by an output means.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32994897A JP3514094B2 (en) | 1997-12-01 | 1997-12-01 | Apparatus and method for inspecting appearance of mounting board |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32994897A JP3514094B2 (en) | 1997-12-01 | 1997-12-01 | Apparatus and method for inspecting appearance of mounting board |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11160044A JPH11160044A (en) | 1999-06-18 |
JP3514094B2 true JP3514094B2 (en) | 2004-03-31 |
Family
ID=18227059
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32994897A Expired - Fee Related JP3514094B2 (en) | 1997-12-01 | 1997-12-01 | Apparatus and method for inspecting appearance of mounting board |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3514094B2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6069723B2 (en) * | 2012-06-06 | 2017-02-01 | 澁谷工業株式会社 | Repair equipment for workpieces with small balls |
-
1997
- 1997-12-01 JP JP32994897A patent/JP3514094B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH11160044A (en) | 1999-06-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI414782B (en) | Apparatus and method for use in automatically inspecting and repairing prined circuit boards, and apparutus for use in automatically marking printed circuit boards | |
KR101802843B1 (en) | Automated Vision Inspection System | |
JP4967275B2 (en) | Mounting inspection system | |
JP3514094B2 (en) | Apparatus and method for inspecting appearance of mounting board | |
JPH0682801A (en) | Defect inspecting and correcting device | |
JP3419298B2 (en) | Apparatus and method for inspecting appearance of mounting board | |
KR20220044741A (en) | Wafer appearance inspection apparatus and method | |
JP2684656B2 (en) | Electronic component appearance inspection method | |
JP2008186879A (en) | Substrate inspection method | |
KR101379324B1 (en) | Defect position display apparatus of printed circuit board | |
JP2007017311A (en) | Appearance inspection system | |
JPS6028299A (en) | Clinch state discriminator of lead wire of electronic part | |
JPH0330812B2 (en) | ||
JPH1114552A (en) | Inspection system, external visual inspection system for printed circuit board and terminal for inspecting external view of printed circuit board | |
JPS62140054A (en) | Method for mounting inspection processing of electronic parts | |
JP2847351B2 (en) | Automatic printed wiring board inspection system | |
JP3264020B2 (en) | Inspection data creation method and mounted component inspection device | |
KR102549486B1 (en) | Inspect and repair apparatus for printed circuit board | |
CN115754670B (en) | Repairing and rechecking method and device for short circuit defect of PCB | |
JP2629798B2 (en) | Board inspection equipment | |
JP2006242794A (en) | Substrate inspection device and substrate inspection method | |
JPH08166218A (en) | Board inspection method and its device | |
JP3189441B2 (en) | Teaching data correction method for mounted component inspection equipment | |
JP2002158437A (en) | Method and apparatus for removing solderless part of printed board | |
JPH0829121A (en) | External-appearance inspecting method for electronic part |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20031224 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040106 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080123 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090123 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090123 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100123 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110123 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110123 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120123 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130123 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130123 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |