JPH0829121A - External-appearance inspecting method for electronic part - Google Patents

External-appearance inspecting method for electronic part

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JPH0829121A
JPH0829121A JP7127836A JP12783695A JPH0829121A JP H0829121 A JPH0829121 A JP H0829121A JP 7127836 A JP7127836 A JP 7127836A JP 12783695 A JP12783695 A JP 12783695A JP H0829121 A JPH0829121 A JP H0829121A
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Abstract

PURPOSE:To provide an external-appearance inspecting method for electronic parts, which can accurately inspect whether floating and position deviation are present or not in the electronic part mounted on a substrate by using cameras. CONSTITUTION:An electronic part 52, which is mounted on a substrate 4, is observed with a pair of side cameras at the right and left, and two images 82 and 83 are obtained. The positions of two images 82 and 83 are compared with the position of the reference image of a normal electronic part 52. When the positions of two images 82 and 83 are displaced in the same direction, floating is judged. When the positions are displaced in the reverse direction, position deviation is judged.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、基板に搭載された電子
部品の浮きや位置ずれなどを検査する電子部品の外観検
査方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting the appearance of an electronic component mounted on a board for inspecting the floating or displacement of the electronic component.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子部品を基板に搭載した後、電子部品
の外観検査が行われる。外観検査の代表的な検査項目と
しては、電子部品が所定の座標位置に位置ずれや浮きな
く正常に搭載されているかどうかの検査がある。
2. Description of the Related Art After mounting an electronic component on a substrate, a visual inspection of the electronic component is performed. A typical inspection item of the appearance inspection is an inspection as to whether or not the electronic component is normally mounted at a predetermined coordinate position without displacement or floating.

【0003】一般に、基板に搭載される電子部品の品種
や数はかなり多く、したがって電子部品の浮きや位置ず
れなどの外観検査はカメラなどの光学装置を使用して自
動的に行うことが望まれるが、現在、自動外観検査技術
は確立されていないことから、もっぱら作業者の目視に
より外観検査が行われている実情にある。
Generally, there are many kinds and a large number of electronic components mounted on a substrate, and therefore it is desired that visual inspection such as floating and displacement of electronic components is automatically performed using an optical device such as a camera. However, since the automatic visual inspection technique is not established at present, the visual inspection is performed by the operator's eyes.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら作業者の
目視検査では作業能率がはかどらず、また作業者の個人
誤差により良否判定がばらつきやすいなどの問題点があ
った。
However, there are problems that the visual inspection by the operator does not improve the work efficiency and that the quality judgment is likely to vary due to the individual error of the operator.

【0005】そこで本発明は、カメラを使用して、電子
部品の浮きや位置ずれの有無を的確に検査できる電子部
品の外観検査方法を提供することを目的とする。
Therefore, it is an object of the present invention to provide a visual inspection method for an electronic component, which can accurately inspect whether or not the electronic component is floating or displaced by using a camera.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】このために本発明は、基
板に搭載された電子部品を斜上方のサイドカメラにより
観察してこの電子部品の画像の位置を検出し、検出され
た画像の位置を基準画像の位置と比較して、この基準画
像に対して変位していれば、電子部品に浮きおよびまた
は位置ずれがあるものと判定する。
To this end, according to the present invention, an electronic component mounted on a substrate is observed by a side camera obliquely above to detect the position of the image of the electronic component, and the position of the detected image is detected. Is compared with the position of the reference image, and if it is displaced with respect to this reference image, it is determined that the electronic component has a floating and / or positional deviation.

【0007】またサイドカメラが左右一対あり、これら
のサイドカメラに入手された2つの画像の位置が基準画
像に対して同一方向に変位していれば、電子部品に浮き
があるものと判定する。
If there are a pair of left and right side cameras and the positions of the two images obtained by these side cameras are displaced in the same direction with respect to the reference image, it is determined that the electronic component is floating.

【0008】またサイドカメラが左右一対あり、これら
のサイドカメラに入手された2つの画像の位置が基準画
像に対して逆方向に変位していれば、電子部品に位置ず
れがあるものと判定する。
Further, if there are a pair of left and right side cameras and the positions of the two images obtained by these side cameras are displaced in the opposite directions with respect to the reference image, it is determined that the electronic component is displaced. .

【0009】[0009]

【作用】上記構成によれば、サイドカメラに入射された
画像の位置を基準画像の位置と比較することにより、電
子部品の浮きや位置ずれを的確に検出できる。
According to the above structure, by comparing the position of the image incident on the side camera with the position of the reference image, it is possible to accurately detect the floating or displacement of the electronic component.

【0010】[0010]

【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明する。図1は本発明の一実施例の電子部品の外観検
査装置の斜視図、図2は同認識部の斜視図である。1は
本体フレーム、2はベースプレート、3は基板4を矢印
H方向へ搬入する前コンベア、5は基板4を矢印M方向
へ搬出する後コンベア、6は基板4を位置決めする基板
ホルダー、7は不良基板4aを収納するマガジン8を備
えた不良基板ストッカー、9は基板ホルダー6の上方に
設けられた認識部である。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view of an electronic component appearance inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a perspective view of the recognition unit. 1 is a main body frame, 2 is a base plate, 3 is a pre-conveyor which carries in the substrate 4 in the direction of arrow H, 5 is a rear conveyor which carries out the substrate 4 in the direction of arrow M, 6 is a substrate holder for positioning the substrate 4, and 7 is defective A defective substrate stocker provided with a magazine 8 for accommodating the substrates 4a, and a recognition unit 9 provided above the substrate holder 6.

【0011】基板ホルダー6には2本のガイドレール1
0と、モータ11とボールネジ11aにより矢印A方向
へ移動する可動ベース12が設けられている。さらに可
動ベース12上には2本のガイド13が設けられ、可動
側コンベア14が駆動モータ15によって駆動されるよ
うになっている。また可動ベース12には、固定側コン
ベア14aが設けられ、固定側コンベア14aを基準と
して可動側コンベア14が移動するようになっている。
しかも基板4の幅に応じて可動側コンベア14と固定側
コンベア14aの間隔を調整するためにハンドル16と
スクリュー17が設けられ、ロックハンドル18により
可動側コンベア14がロックされるようになっている。
The substrate holder 6 has two guide rails 1
0, a movable base 12 that moves in the direction of arrow A by the motor 11 and the ball screw 11a. Further, two guides 13 are provided on the movable base 12, and the movable conveyor 14 is driven by a drive motor 15. Further, the movable base 12 is provided with a fixed side conveyor 14a, and the movable side conveyor 14 is configured to move with the fixed side conveyor 14a as a reference.
Moreover, a handle 16 and a screw 17 are provided to adjust the distance between the movable side conveyor 14 and the fixed side conveyor 14a according to the width of the substrate 4, and the movable side conveyor 14 is locked by a lock handle 18. .

【0012】固定側コンベア14aには、シリンダー1
9により矢印B方向へ作動する基板ストッパー20と、
基板4の有無を検出する基板検出センサー21が設けら
れている。可動側コンベア14には、シリンダー22に
より基板4を矢印C方向にクランプするクランパー23
が設けられている。したがってクランパー23で基板4
をクランプして固定し、駆動用のモータ11が駆動する
と、可動ベース12はガイドレール10に沿って矢印A
方向に水平移動し、基板4も同方向に水平移動する。す
なわちモータ11や可動ベース12などは基板4を認識
部9に対して水平方向へ移動させる移動手段となってい
る。
The fixed side conveyor 14a has a cylinder 1
A substrate stopper 20 which operates in the direction of arrow B by 9;
A substrate detection sensor 21 that detects the presence or absence of the substrate 4 is provided. The movable conveyor 14 has a clamper 23 for clamping the substrate 4 in the direction of arrow C with a cylinder 22.
Is provided. Therefore, the substrate 4 is
When the driving motor 11 is driven, the movable base 12 is moved along the guide rail 10 by the arrow A.
In the same direction, the substrate 4 also moves in the same direction. That is, the motor 11, the movable base 12, and the like are moving means for moving the substrate 4 in the horizontal direction with respect to the recognition unit 9.

【0013】後コンベア5には、ブラケット24に支持
された固定側コンベア25と、ガイド26とブラケット
27に支持され、かつスライド自在に設けられた可動側
コンベア28が設けられている。可動側コンベア28
は、ハンドル29、スクリュー30そしてロックハンド
ル31により、矢印D方向に移動できるようになってい
る。さらに可動側コンベア28は、モータ32、プーリ
ー33及びシャフト34によって駆動するようになって
いる。
The rear conveyor 5 is provided with a fixed side conveyor 25 supported by a bracket 24 and a movable side conveyor 28 supported by a guide 26 and a bracket 27 and slidably provided. Movable side conveyor 28
Can be moved in the direction of arrow D by a handle 29, a screw 30, and a lock handle 31. Further, the movable conveyor 28 is driven by a motor 32, a pulley 33 and a shaft 34.

【0014】不良基板ストッカー7には、ベースプレー
ト2に固定された2個のベアリング35及び2本のシャ
フト36が設けられている。また駆動装置37及びラッ
ク37aにより、駆動装置37上部に設けられているリ
フターベース38が矢印E方向にピッチ移動するように
なっている。
The defective substrate stocker 7 is provided with two bearings 35 and two shafts 36 fixed to the base plate 2. Further, the drive device 37 and the rack 37a allow the lifter base 38 provided on the upper part of the drive device 37 to move in a pitch direction in the arrow E direction.

【0015】認識部9には、ベースプレート2上に固定
された2本のポスト39が設けられ、ポスト39上に
は、ブロック40が設けられている。ブロック40に
は、2本のガイド41が基板4の搬送方向と同一方向に
設けられ、ガイド41に沿ってスライド移動する別のブ
ロック42が設けられている。ブロック42はモータ4
3とボールネジ44によって矢印F方向へ移動するよう
になっている。ブロック42上には、光源45とファイ
バー45aと光を遮断するスリットユニット45bが設
けられている。
The recognition unit 9 is provided with two posts 39 fixed on the base plate 2, and a block 40 is provided on the posts 39. In the block 40, two guides 41 are provided in the same direction as the substrate 4 conveyance direction, and another block 42 that slides along the guide 41 is provided. Block 42 is the motor 4
3 and the ball screw 44 move in the direction of arrow F. On the block 42, a light source 45, a fiber 45a, and a slit unit 45b that blocks light are provided.

【0016】またブロック42には、認識部9を矢印G
方向に水平回転させるモータ46を備えた駆動装置47
が設けられ、駆動装置47の下部に認識部9の本体フレ
ーム48を回転可能にさせるベアリング49が設けられ
ている。モータ46を駆動して認識部9を矢印G方向に
水平回転させることにより、基板4に搭載された電子部
品の向きに応じて、電子部品の画像の取り込み方向を変
えることができる。
Further, in the block 42, the recognition unit 9 is indicated by an arrow G.
Drive device 47 provided with a motor 46 for horizontally rotating in one direction
And a bearing 49 that allows the main body frame 48 of the recognition unit 9 to rotate is provided below the drive device 47. By driving the motor 46 to horizontally rotate the recognition unit 9 in the direction of arrow G, it is possible to change the capturing direction of the image of the electronic component according to the direction of the electronic component mounted on the substrate 4.

【0017】本体フレーム48には、基板4の位置認識
の為のカメラ50と照明ランプ51が設けられている。
そして本体フレーム48には、基板4の上面に対して光
軸が垂直方向になるように配置されたカメラ53(以下
トップカメラと称す)と、基板4に上方から光を照射す
るリング状の照明ランプ54が設けられ、また基板4の
上面に対して光軸が斜め方向になるように配置された複
数個(本実施例では4個)のカメラ55,55a,55
b,55c(以下サイドカメラと称す)と、ファイバー
45aに連結されて基板4に斜上方から光を照射する複
数個の照明ランプ56,56a,56b,56cが設け
られている。
The body frame 48 is provided with a camera 50 and an illumination lamp 51 for recognizing the position of the substrate 4.
The main body frame 48 has a camera 53 (hereinafter referred to as a top camera) arranged such that the optical axis is perpendicular to the upper surface of the substrate 4, and a ring-shaped illumination that irradiates the substrate 4 with light from above. A plurality of (four in this embodiment) cameras 55, 55a, 55 are provided with a lamp 54 and arranged so that the optical axis is oblique to the upper surface of the substrate 4.
b, 55c (hereinafter referred to as side cameras), and a plurality of illumination lamps 56, 56a, 56b, 56c connected to the fiber 45a and irradiating the substrate 4 with light obliquely from above.

【0018】図示するように、サイドカメラ55とサイ
ドカメラ55aはトップカメラ53を中心に互いに左右
対称に対設されており、またサイドカメラ55bとサイ
ドカメラ55cも同様にしてトップカメラ53を中心に
左右対称に対設されている。このように左右一対のサイ
ドカメラ55,55aおよび55b,55cを2組配置
することにより、後に図9〜図12を参照して説明する
ように、電子部品の浮きや位置ずれを的確に検出でき
る。また基板4に搭載された電子部品52の搭載状態や
半田付け状態の外観検査結果により、不良電子部品また
は不良箇所にマーキングをするマーカー57が基板ホル
ダー60の上方に設けられている。
As shown in the figure, the side cameras 55 and 55a are arranged symmetrically with respect to each other with the top camera 53 as the center, and the side cameras 55b and 55c similarly have the top camera 53 as the center. Opposite symmetrically. By arranging two pairs of the left and right side cameras 55, 55a and 55b, 55c in this way, as described later with reference to FIGS. 9 to 12, it is possible to accurately detect the floating or positional deviation of the electronic component. . Further, a marker 57 for marking a defective electronic component or a defective portion is provided above the substrate holder 60 according to the appearance inspection result of the mounted state or the soldered state of the electronic component 52 mounted on the substrate 4.

【0019】駆動用のモータ43が駆動すると、ブロッ
ク42はガイド41に沿って矢印F方向に水平移動す
る。認識部9やマーカー57はブロック42と一体に組
付けられており、したがってブロック42と一緒に矢印
F方向に水平移動する。すなわちガイド41、ブロック
42、モータ43は認識部9やマーカー57を基板4に
対して水平方向(F方向)へ移動させる移動手段となっ
ている。ここで、矢印A方向と矢印F方向は互いに直交
する方向であり、したがってモータ11とモータ43が
駆動することにより、基板4は認識部9やマーカー57
に対してA方向やF方向に相対的に水平移動することが
できる。
When the driving motor 43 is driven, the block 42 horizontally moves along the guide 41 in the arrow F direction. The recognition unit 9 and the marker 57 are assembled integrally with the block 42, and therefore move horizontally in the direction of arrow F together with the block 42. That is, the guide 41, the block 42, and the motor 43 are moving means for moving the recognition unit 9 and the marker 57 in the horizontal direction (F direction) with respect to the substrate 4. Here, the arrow A direction and the arrow F direction are directions orthogonal to each other, and therefore, the motor 4 drives the motor 11 and the motor 43, so that the board 4 causes the recognition unit 9 and the marker 57 to move.
It is possible to move horizontally relative to the directions A and F.

【0020】以上のように構成された電子部品の外観検
査装置についてその動作を説明する。図1において、ま
ず基板4を前コンベア3上に置く。そうすると基板4は
前コンベア3により矢印H方向に搬送され、ストッパー
20により基板搬送方向の基板位置決めが行われる。そ
の後基板検出センサー21が基板4を検出するとクラン
パー23がシリンダー22によりC方向に移動を行い、
基板4がクランプして位置決めされる。そして位置決め
された基板4の状態をカメラ50と照明ランプ51によ
って認識し、基板4の傾き、位置ずれを制御装置が演算
する。そして、基板4の傾き、位置ずれから演算される
補正値とあらかじめ記憶された基板4上のマスターパタ
ーンデータに基づいてモータ11,モータ43が駆動
し、基板4を認識部9に対して相対的にA方向やF方向
に水平移動させ、基板4に搭載された所定の電子部品5
2を認識部9による外観検査位置に位置させ、この電子
部品52について後述する外観検査が行われる。
The operation of the appearance inspection apparatus for electronic parts constructed as described above will be described. In FIG. 1, first, the substrate 4 is placed on the front conveyor 3. Then, the substrate 4 is transported by the front conveyor 3 in the direction of arrow H, and the stopper 20 positions the substrate in the substrate transport direction. After that, when the substrate detection sensor 21 detects the substrate 4, the clamper 23 moves in the C direction by the cylinder 22,
The substrate 4 is clamped and positioned. Then, the state of the positioned substrate 4 is recognized by the camera 50 and the illumination lamp 51, and the control device calculates the inclination and the positional deviation of the substrate 4. Then, the motor 11 and the motor 43 are driven based on the correction value calculated from the inclination and the positional deviation of the board 4 and the master pattern data stored on the board 4 in advance, and the board 4 is moved relative to the recognition unit 9. To a predetermined electronic component 5 mounted on the substrate 4 by horizontally moving in the A direction or the F direction.
2 is positioned at the visual inspection position by the recognition unit 9, and the visual inspection described later is performed on the electronic component 52.

【0021】次に、制御装置の説明を行う。図3は、本
発明の一実施例の電子部品の外観検査装置の機能ブロッ
ク図である。53,55,55a,55b,55cは基
板4上の電子部品52の画像を取り込むテレビカメラで
ある。テレビカメラ53はトップカメラであり、テレビ
カメラ55,55a,55b,55cはサイドカメラで
ある。58〜62は、テレビカメラ55,55a,55
b,55cから取り込まれた画像レベルを規格化された
コンポジットビデオ信号に変換するカメラコントロール
ユニット、63は映像切替ユニットであり、各テレビカ
メラから取り込まれた画像は、カメラ切替選択信号によ
りどれか1つのみを選択することができる。
Next, the control device will be described. FIG. 3 is a functional block diagram of an electronic component appearance inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. Reference numerals 53, 55, 55a, 55b, and 55c are television cameras that capture images of the electronic component 52 on the substrate 4. The TV camera 53 is a top camera, and the TV cameras 55, 55a, 55b, 55c are side cameras. 58 to 62 are TV cameras 55, 55a, 55
A camera control unit for converting the image level taken in from b, 55c into a standardized composite video signal, 63 is an image switching unit, and the image taken in from each television camera is selected by the camera switching selection signal. Only one can be selected.

【0022】64は外部同期信号を発生させるビデオ回
路である。この外部同期信号により各テレビカメラは全
て完全同期化された画像を取り込むことができる。65
はビデオバス、66はステータス,コントロールバスで
ある。67は512×512×8ビットから成るフレー
ムメモリ(TFM)であり、各テレビカメラがとらえた
オリジナル画像を格納しておく場所である。68,69
は必要な処理を加えて画像変換された映像情報を格納す
るワーキングメモリ(512×512×8ビット)であ
り、一方のワーキングメモリ(DMI)68は明るさに
よって分類された映像情報を格納し、他方のワーキング
メモリ(DMII)69はフィルター処理された映像情報
を格納する。70は検査に関する動作を制御するCPU
から成る制御部である。71はリードオンリーメモリと
ランダムアクセスメモリから成るメモリ、72はI/O
コントロール部である。
Reference numeral 64 is a video circuit for generating an external synchronizing signal. With this external synchronization signal, each television camera can capture all completely synchronized images. 65
Is a video bus, and 66 is a status and control bus. 67 is a frame memory (TFM) composed of 512 × 512 × 8 bits, which is a place for storing the original image captured by each television camera. 68,69
Is a working memory (512 × 512 × 8 bits) for storing image information that has been subjected to image conversion after performing necessary processing, and one working memory (DMI) 68 stores image information classified by brightness, The other working memory (DMII) 69 stores the filtered video information. Reference numeral 70 denotes a CPU that controls operations related to inspection
Is a control unit. 71 is a memory composed of a read-only memory and a random access memory, and 72 is an I / O
It is a control unit.

【0023】次に、制御部70の動作を説明する。図4
は、本発明の一実施例の電子部品の外観検査装置の制御
部の動作を示すフローチャートである。ステップ1で
は、まずトップカメラ53から基板4に搭載されている
電子部品52の画像を取り込む。ステップ2では、基板
4に搭載されている電子部品52の座標・明るさ・方向
・種類等のデータによる検査パラメータの検索を行う。
ステップ3では、フレームメモリ67からワーキングメ
モリ68へ必要な明るさのみ抽出した映像の転送を行
う。ステップ4では、フレームメモリ67からワーキン
グメモリ69へ輪部強調又は平滑化された映像等を転送
する。ステップ5では、基板4に搭載された電子部品5
2の電極部の明るさ判定及び所定場所での位置ずれ寸法
判定を行う。ステップ6では、カメラの切替えを行うか
行わないかの選択をする。ここで、カメラの切替えを行
わない場合検査終了となる。また、カメラの切替えを行
う場合、ステップ7でトップカメラ53からサイドカメ
ラ55,55a,55b,55cへ切替わり、新たに電
子部品52の映像を取り込む。
Next, the operation of the control unit 70 will be described. FIG.
3 is a flowchart showing the operation of the control unit of the electronic component appearance inspection apparatus according to the embodiment of the present invention. In step 1, first, an image of the electronic component 52 mounted on the substrate 4 is captured from the top camera 53. In step 2, an inspection parameter is searched by data such as coordinates, brightness, direction, type of the electronic component 52 mounted on the board 4.
In step 3, the video in which only the required brightness is extracted is transferred from the frame memory 67 to the working memory 68. In step 4, the frame-enhanced or smoothed image or the like is transferred from the frame memory 67 to the working memory 69. In step 5, the electronic component 5 mounted on the substrate 4
The determination of the brightness of the second electrode portion and the determination of the position displacement dimension at a predetermined place are performed. In step 6, the camera is switched or not switched. If the cameras are not switched, the inspection ends. When the camera is switched, the top camera 53 is switched to the side cameras 55, 55a, 55b, 55c in step 7, and a video of the electronic component 52 is newly captured.

【0024】この電子部品の外観検査装置は上記のよう
に構成されており、次に電子部品の外観検査方法を説明
する。まず、トップカメラ53による電子部品の位置ず
れ、欠品の検査方法を説明する。図5は、本発明の一実
施例の電子部品の外観検査装置のトップカメラに観察さ
れる二電極角形電子部品の平面図である。二電極角形電
子部品は両側部に電極を有している。図示するように平
面形状の特徴部である4つの角部をそれぞれ包含する4
つのエリア74,74a,74b,74cを予め記憶さ
れたマスターパターンデータに基づいて設定し、各々の
エリア74〜74cの画像データをトップカメラ53に
取り込む。そして4つのエリア74〜74cのすべてに
角部の画像が包含されていれば搭載状態は良と判定す
る。また4つのエリア74〜74cのうち、少なくとも
何れか1つのエリアに角部の画像が包含されていなけれ
ば位置ずれがあるものと判定し、また4つのすべてのエ
リア74〜74cに角部の画像がなければ欠品と判定す
る。
The appearance inspection apparatus for electronic parts is constructed as described above. Next, the appearance inspection method for electronic parts will be described. First, a method of inspecting a positional shift of electronic components and a missing item by the top camera 53 will be described. FIG. 5 is a plan view of a two-electrode prismatic electronic component observed by a top camera of an electronic component appearance inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. The two-electrode prismatic electronic component has electrodes on both sides. As shown in the figure, each of the four corners, which are the features of the planar shape, is included.
One area 74, 74a, 74b, 74c is set based on the master pattern data stored in advance, and the image data of each area 74-74c is taken into the top camera 53. If the corner area image is included in all of the four areas 74 to 74c, the mounted state is determined to be good. Further, if at least any one of the four areas 74 to 74c does not include a corner image, it is determined that there is a positional deviation, and all four areas 74 to 74c have corner images. If there is not, it is judged as out of stock.

【0025】図6は、本発明の一実施例の電子部品の外
観検査装置のトップカメラに観察されるミニトランジス
タ足付電子部品の平面図である。このミニトランジスタ
足付電子部品75は3つの電極を有しているが、その搭
載状態の良否判定方法も上記二電極角形電子部品73の
場合と同様であって、あらかじめ記憶されたマスターパ
ターンデータに基づいて3つの足(電極)を包含する3
つのエリア76〜76bを設定する。そしてすべてのエ
リア76〜76bにミニトランジスタ足付電子部品75
の足(電極)の画像が包含されているならば搭載状態は
良と判定する。また3つのエリア76〜76bのうちい
ずれか1つのエリアに足(電極)の画像が包含されてい
なければ位置ずれがあるものと判定し、また3つのエリ
ア76〜76bにすべて足の画像が包含されていなけれ
ば欠品と判定する。
FIG. 6 is a plan view of the mini-transistor foot-attached electronic component observed by the top camera of the electronic component appearance inspection apparatus according to one embodiment of the present invention. The mini-transistor foot electronic component 75 has three electrodes, and the quality of the mounting state of the electronic component 75 is the same as in the case of the two-electrode rectangular electronic component 73, and the master pattern data stored in advance is used. 3 including 3 feet (electrodes) based
Two areas 76 to 76b are set. And electronic parts 75 with mini transistor foot in all areas 76-76b
If the image of the foot (electrode) is included, the mounted state is determined to be good. Further, if any one of the three areas 76 to 76b does not include the foot (electrode) image, it is determined that there is a positional deviation, and the three areas 76 to 76b include all the foot images. If not, it is determined to be out of stock.

【0026】以上のように本方法によれば、二電極角形
電子部品73の角部やミニトランジスタ足付電子部品7
5の足(電極)などの電子部品の平面形状の複数個の特
徴部を包含するエリアを設定して、特徴部の画像がエリ
ア内に包含されているか否かをトップカメラ53により
検査することにより、電子部品の位置ずれや欠品などを
簡単・確実に判定できる。
As described above, according to this method, the corners of the two-electrode rectangular electronic component 73 and the mini-transistor leg electronic component 7 are used.
Setting an area including a plurality of planar feature portions of electronic parts such as 5 feet (electrodes) and inspecting with the top camera 53 whether or not the image of the feature portion is included in the area. This makes it possible to easily and reliably determine the misalignment of electronic components and missing items.

【0027】次に半田付け状態の良否判定方法を説明す
る。図7は、本発明の一実施例の電子部品の外観検査装
置のトップカメラに観察される電子部品の平面図、図8
は同二電極角形電子部品の平面図である。図7におい
て、予め記憶されたマスターパターンデータに基づいて
電極と電極の間に走査ライン77,77a,77b,7
7cを設定する。そして走査ライン77〜77c上の半
田78の有無を検査し、半田78があれば半田ブリッジ
と判定し、半田付け状態は不良と判定する。
Next, a method of judging the quality of the soldered state will be described. FIG. 7 is a plan view of an electronic component observed by a top camera of an electronic component appearance inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a plan view of the same two-electrode rectangular electronic component. In FIG. 7, scanning lines 77, 77a, 77b, 7 are provided between the electrodes based on the master pattern data stored in advance.
Set 7c. Then, the presence or absence of the solder 78 on the scanning lines 77 to 77c is inspected, and if the solder 78 is present, it is determined to be a solder bridge, and the soldering state is determined to be defective.

【0028】また図8に示す二電極角形電子部品73の
場合は、電極と電極の間に走査ライン79,79a,7
9bを設定する。そして走査ライン79〜79b上の半
田78の有無を確認し、半田78があれば半田ブリッジ
と判定し、半田付け状態は不良と判定する。このように
この方法によれば、ショートの原因となる半田ブリッジ
の有無を簡単に検査できる。
In the case of the two-electrode prismatic electronic component 73 shown in FIG. 8, scanning lines 79, 79a, 7 are provided between the electrodes.
Set 9b. Then, the presence or absence of the solder 78 on the scanning lines 79 to 79b is confirmed, and if the solder 78 is present, it is determined to be a solder bridge, and the soldering state is determined to be defective. As described above, according to this method, it is possible to easily inspect whether or not there is a solder bridge that causes a short circuit.

【0029】次にサイドカメラによる外観検査方法を説
明する。図9〜図12は本発明の一実施例の電子部品の
外観検査装置のサイドカメラによる外観検査方法の説明
図である。図9は基板4に対して電子部品52の浮き・
位置ずれがない場合で、2つのサイドカメラがとらえた
電子部品52の2つの画像80,81が基準画像とな
る。
Next, a visual inspection method using a side camera will be described. 9 to 12 are explanatory views of the appearance inspection method by the side camera of the appearance inspection apparatus for electronic parts according to the embodiment of the present invention. FIG. 9 shows the floating of the electronic component 52 with respect to the substrate 4.
When there is no displacement, the two images 80 and 81 of the electronic component 52 captured by the two side cameras serve as reference images.

【0030】さて図10に示すように基板4に対して電
子部品52の位置ずれはないがΔhの浮きがある場合、
一方のサイドカメラがとらえた電子部品52の画像82
の位置は矢印I方向に変位し、他方のサイドカメラがと
らえた画像83の位置はこれと同一方向である矢印J方
向に変位する。したがって画像82,83の位置を基準
画像80,81の位置と比較してその変位を求めること
により、電子部品52に浮きがあることを容易に判定で
きる。
Now, as shown in FIG. 10, when there is no displacement of the electronic component 52 with respect to the substrate 4 but there is a float of Δh,
Image 82 of electronic component 52 captured by one side camera
Is displaced in the direction of arrow I, and the position of the image 83 captured by the other side camera is displaced in the direction of arrow J, which is the same direction as this. Therefore, by comparing the positions of the images 82 and 83 with the positions of the reference images 80 and 81 and obtaining the displacements thereof, it is possible to easily determine that the electronic component 52 has a floating state.

【0031】また図11に示すように基板4に対して電
子部品52の浮きはないがΔxの位置ずれがある場合、
一方のサイドカメラがとらえた電子部品52の画像84
の位置は矢印K方向に変位し、他方のサイドカメラがと
らえた電子部品52の画像85の位置はこれと逆方向の
矢印L方向に変位する。したがってこの変位から位置ず
れがあることを容易に判定できる。
Further, as shown in FIG. 11, when the electronic component 52 does not float with respect to the substrate 4 but there is a positional deviation of Δx,
Image 84 of electronic component 52 captured by one side camera
Is displaced in the direction of arrow K, and the position of the image 85 of the electronic component 52 captured by the other side camera is displaced in the direction of arrow L, which is the opposite direction. Therefore, it can be easily determined from this displacement that there is a displacement.

【0032】次に図12に示すように基板4に対して電
子部品52のΔhの浮きとΔxの位置ずれが共にある場
合、サイドカメラがとらえた電子部品52の画像86,
87はΔxの位置ずれ及びΔhの浮きによって図示する
ように変位する。この場合Δxのずれ量はトップカメラ
53からとらえた電子部品52の画像から求め、Δhの
浮いている量はトップカメラ53からとらえた電子部品
52の画像によって求めたΔxのずれ量を基にして、サ
イドカメラからとらえた電子部品52の画像より求める
ことができる。
Next, as shown in FIG. 12, when there is both a floating Δh and a positional deviation Δx of the electronic component 52 with respect to the substrate 4, an image 86 of the electronic component 52 captured by the side camera,
87 is displaced as shown by the displacement of Δx and the floating of Δh. In this case, the shift amount of Δx is obtained from the image of the electronic component 52 captured from the top camera 53, and the floating amount of Δh is based on the shift amount of Δx obtained from the image of the electronic component 52 captured from the top camera 53. , It can be obtained from the image of the electronic component 52 captured from the side camera.

【0033】以上のようにして電子部品の外観検査が行
われるが、不良電子部品に対しては、図1に示すモータ
11,モータ43を駆動してマーカー57を基板4に対
して相対的に水平移動させることにより、不良電子部品
または不良箇所にマーキングする。そして良品の基板4
は矢印M方向へ搬出されるが、不良品の基板4aは基板
ホルダー6が矢印A方向へ移動し、不良基板ストッカー
7のマガジン8へ収納される。
The appearance inspection of the electronic parts is performed as described above. For defective electronic parts, the motor 11 and the motor 43 shown in FIG. By moving horizontally, defective electronic parts or defective parts are marked. And good board 4
Is conveyed in the direction of arrow M, but the defective substrate 4a is stored in the magazine 8 of the defective substrate stocker 7 by moving the substrate holder 6 in the direction of arrow A.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、基
板に搭載された電子部品を斜上方の左右一対のサイドカ
メラにより観察してその画像の変位を検出し、検出され
た2つの画像を基準画像の位置とそれぞれ比較するとい
うきわめて簡単な手法により、電子部品の浮きや位置ず
れの有無などの外観検査を自動的かつ的確に行うことが
できる。
As described above, according to the present invention, an electronic component mounted on a substrate is observed by a pair of left and right side cameras obliquely above, the displacement of the image is detected, and the two detected images are detected. It is possible to automatically and accurately perform a visual inspection for the presence or absence of displacement of the electronic component or the like by a very simple method of comparing each with the position of the reference image.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例の電子部品の外観検査装置の
斜視図
FIG. 1 is a perspective view of an appearance inspection apparatus for electronic parts according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例の電子部品の外観検査装置の
認識部の斜視図
FIG. 2 is a perspective view of a recognition unit of an appearance inspection apparatus for electronic parts according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例の電子部品の外観検査装置の
機能ブロック図
FIG. 3 is a functional block diagram of an appearance inspection apparatus for electronic parts according to an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の一実施例の電子部品の外観検査装置の
制御部の動作を示すフローチャート
FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the control unit of the electronic component appearance inspection apparatus according to the embodiment of the present invention.

【図5】本発明の一実施例の電子部品の外観検査装置の
トップカメラに観察される二電極角形電子部品の平面図
FIG. 5 is a plan view of a two-electrode prismatic electronic component observed by a top camera of an electronic component appearance inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図6】本発明の一実施例の電子部品の外観検査装置の
トップカメラに観察されるミニトランジスタ足付電子部
品の平面図
FIG. 6 is a plan view of the mini-transistor foot electronic component observed by the top camera of the electronic component visual inspection apparatus according to the embodiment of the present invention.

【図7】本発明の一実施例の電子部品の外観検査装置の
トップカメラに観察される電子部品の平面図
FIG. 7 is a plan view of an electronic component observed by a top camera of an electronic component appearance inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図8】本発明の一実施例の電子部品の外観検査装置の
トップカメラに観察される二電極角形電子部品の平面図
FIG. 8 is a plan view of a two-electrode prismatic electronic component observed by a top camera of an electronic component appearance inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図9】本発明の一実施例の電子部品の外観検査装置の
サイドカメラによる外観検査方法の説明図
FIG. 9 is an explanatory diagram of an appearance inspection method using a side camera of an appearance inspection apparatus for electronic parts according to an embodiment of the present invention.

【図10】本発明の一実施例の電子部品の外観検査装置
のサイドカメラによる外観検査方法の説明図
FIG. 10 is an explanatory diagram of an appearance inspection method using a side camera of an appearance inspection apparatus for electronic parts according to an embodiment of the present invention.

【図11】本発明の一実施例の電子部品の外観検査装置
のサイドカメラによる外観検査方法の説明図
FIG. 11 is an explanatory diagram of an appearance inspection method using a side camera of an appearance inspection apparatus for electronic parts according to an embodiment of the present invention.

【図12】本発明の一実施例の電子部品の外観検査装置
のサイドカメラによる外観検査方法の説明図
FIG. 12 is an explanatory diagram of an appearance inspection method using a side camera of an electronic component appearance inspection device according to an embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

4 基板 6 基板ホルダー 9 認識部 11 モータ 12 可動ベース 13 ガイド 41 ガイド 42 ブロック 43 モータ 52 電子部品 53 トップカメラ 54 照明ランプ 55 サイドカメラ 55a サイドカメラ 55b サイドカメラ 55c サイドカメラ 56 照明ランプ 56a 照明ランプ 56b 照明ランプ 56c 照明ランプ 73 二電極角形電子部品 74 エリア 74a エリア 74b エリア 74c エリア 75 ミニトランジスタ足付電子部品 76 エリア 76a エリア 76b エリア 77 走査ライン 77a 走査ライン 77b 走査ライン 77c 走査ライン 78 半田 79 走査ライン 79a 走査ライン 79b 走査ライン 4 board 6 board holder 9 recognition part 11 motor 12 movable base 13 guide 41 guide 42 block 43 motor 52 electronic part 53 top camera 54 lighting lamp 55 side camera 55a side camera 55b side camera 55c side camera 56 lighting lamp 56a lighting lamp 56b lighting Lamp 56c Illumination lamp 73 Bi-electrode square electronic component 74 Area 74a Area 74b Area 74c Area 75 Mini-transistor leg electronic component 76 Area 76a Area 76b Area 77 Scan line 77a Scan line 77b Scan line 77c Scan line 78 Solder 79 Scan line 79a Scan Line 79b Scan line

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05K 13/08 U 8315−4E ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Office reference number FI technical display location H05K 13/08 U 8315-4E

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】基板に搭載された電子部品を斜上方のサイ
ドカメラにより観察してこの電子部品の画像の位置を検
出し、検出された画像の位置を基準画像の位置と比較し
て、この基準画像に対して変位していれば、前記電子部
品に浮きおよびまたは位置ずれがあるものと判定するこ
とを特徴とする電子部品の外観検査方法。
1. An electronic component mounted on a substrate is observed by a side camera obliquely above to detect the position of an image of this electronic component, and the detected image position is compared with the position of a reference image. An appearance inspection method for an electronic component, characterized in that it is determined that the electronic component is floated and / or displaced if it is displaced with respect to a reference image.
【請求項2】前記サイドカメラが左右一対あり、これら
のサイドカメラに入手された2つの画像の位置が前記基
準画像に対して同一方向に変位していれば、電子部品に
浮きがあるものと判定することを特徴とする請求項1記
載の電子部品の外観検査方法。
2. If there are a pair of left and right side cameras and the positions of the two images obtained by these side cameras are displaced in the same direction with respect to the reference image, then the electronic component is said to be floating. The appearance inspection method for an electronic component according to claim 1, wherein the appearance is determined.
【請求項3】前記サイドカメラが左右一対あり、これら
のサイドカメラに入手された2つの画像の位置が前記基
準画像に対して逆方向に変位していれば、電子部品に位
置ずれがあるものと判定することを特徴とする請求項1
記載の電子部品の外観検査方法。
3. A pair of left and right side cameras, and if the positions of the two images obtained by these side cameras are displaced in the opposite directions with respect to the reference image, the electronic parts are misaligned. It is determined that
Appearance inspection method for electronic parts described.
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