JP3498689B2 - モノクロ線源励起用モノクロメータ及び蛍光x線分析装置 - Google Patents
モノクロ線源励起用モノクロメータ及び蛍光x線分析装置Info
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する。
照射し、これに応じて試料から発生する蛍光X線を絞り
を通して取り出し、この蛍光X線を分光器によって各元
素に対応する波長成分を持つスペクトルに分光し、分光
されたX線をX線検出器で検出し、これによって定性分
析や定量分析を行う。このX線照射による試料の励起に
おいて、X線管からの一次X線によって試料を励起する
直接励起と、一次X線中の特定波長のX線(モノクロX
線)によって試料を励起するモノクロ線源励起が知られ
ている。
光X線分析、及びモノクロ線を用いたモノクロ線源励起
による蛍光X線分析は、X線源としてX線管あるいはモ
ノクロメータとX線管を備えた各専用の蛍光X線分析装
置によって行うか、あるいは、同一の蛍光X線分析装置
に対して、直接励起用X線管と、X線管及びモノクロ線
源励起用モノクロメータとの2つのX線源を設置し、直
接励起を行うかあるいはモノクロ線源励起を行うかによ
って2つのX線源を切り替えることによって行ってい
る。
では、各X線源を分析装置本体に対して固定した状態で
設置している。このようにX線源を分析装置本体に対し
て固定するのは、試料とX線との位置関係や光学条件を
各励起態様毎に満足させるためである。例えば、直接励
起の場合には、試料に対する一次X線の照射精度や検出
感度を高めるために、X線管と試料との距離をできるだ
け近づける必要があり、また、モノクロ線源励起の場合
には、X線管とモノクロ線源励起用モノクロメータと光
学条件が満足するように位置決めする必要がある。各X
線源を分析装置本体に対して固定することによって、上
記のような条件を安定して満足することが容易となる。
蛍光X線分析装置において直接励起とモノクロ線源励起
の2つの異なる励起態様で蛍光X線分析を行うには、個
々に専用の蛍光X線分析装置を用いる場合、あるいは2
つのX線源を備える蛍光X線分析装置の各X線源を切り
替えて用いる場合のいずれにおいても、それぞれ直接励
起用のX線管とモノクロ線源励起用のX線管の2つのX
線管を用意する必要があり、X線分析装置のコストが高
くなるという問題がある。
用のX線源とモノクロ線源励起用のX線源を併設する場
合には、試料に対して2つのX線源を近接した状態で設
置する必要があるため、それぞれのX線源を単独で設置
する場合の最良の光学条件を満足することが困難であ
り、例えば、試料とX線管との距離を異ならせるなど、
最良の位置関係や光学条件からずれた状態で設置するこ
とになり、X線源を単独で設置する場合と比較して、試
料に対するX線の照射条件や試料から検出されるX線の
強度等の分析性能が低下するという問題がある。
ロ線源の偏光方向がモノクロメータが形成する面方向と
同一となるように、モノクロメータを通常の角度から9
0度回転させて配置するカルテシアン配置が知られてい
る。従来の蛍光X線分析装置では、このようなカルテシ
アン配置においても別個のX線源を必要としている。
解決し、蛍光X線分析において、試料に対するX線励起
を各励起態様に最適な条件で行うことを目的とする。さ
らに、詳細には、試料に対するX線励起を各励起態様に
最適な条件で行うことができるX線モノクロメータを提
供することを目的とし、また、試料に対するX線励起を
各励起態様に最適な条件で行うことができる蛍光X線分
析装置を提供することを目的とする。
X線分析装置本体との間にモノクロ線源励起用モノクロ
メータを切り替え可能に設ける構成とし、蛍光X線分析
装置本体にX線管を直接取付けることによる直接励起
と、蛍光X線分析装置本体にモノクロ線源励起用モノク
ロメータを挟んでX線管を取付けることによるモノクロ
線源励起とをそれぞれ最適な励起条件で行う。
タは、上記構成として、一端の形状を蛍光X線分析装置
本体に対するX線管の取り付け形状と同形状とし、他端
の形状をX線管に対する蛍光X線分析装置本体の取り付
け形状と同形状とする。モノクロ線源励起用モノクロメ
ータの各端部を上記形状とすることによって、モノクロ
線源励起用モノクロメータをX線管と蛍光X線分析装置
本体との間において脱着を可能とする。したがって、モ
ノクロ線源励起を行う場合には、X線管と蛍光X線分析
装置本体との間にモノクロ線源励起用モノクロメータを
設けて、モノクロX線を照射する。他方、直接励起を行
う場合には、X線管を蛍光X線分析装置本体に直接設け
て、X線管からの一次X線を試料に照射する。
した一端が蛍光X線分析装置本体に対するX線管の取り
付け形状と同形状で、他端がX線管に対する蛍光X線分
析装置本体の取り付け形状と同形状であるモノクロ線源
励起用モノクロメータを、X線管と蛍光X線分析装置本
体との間に着脱可能に備えるものであり、該モノクロ線
源励起用モノクロメータを外し、X線管を蛍光X線分析
装置本体に直接取付けることによって、X線管からの一
次X線を試料に照射して直接励起を行い、また、X線管
と蛍光X線分析装置本体との間にモノクロ線源励起用モ
ノクロメータを取付けることによって、モノクロ線源励
起用モノクロメータからのモノクロX線を用いてモノク
ロ線源励起を行う。本発明によれば、直接励起及びモノ
クロ線源励起のいずれの励起態様においても、試料に対
するX線励起を最適な条件で行うことができる。
上述の構成に加え、一端にX線管を備えるモノクロ線源
励起用モノクロメータの他端を、蛍光X線分析装置本体
に対してモノクロX線の光軸を回転中心として少なくと
も90度異なる2つの取り付け角度で取り付け可能な構
成とすることができる。この構成によって、モノクロ線
源励起用モノクロメータからのモノクロX線の試料に対
して90度異なる2つの入射角度とすることができ、試
料に対してモノクロX線を通常の入射方向と、該入射方
向から90度回転させたカルテシアン配置との切替えを
容易に行うことができる。
ノクロ線源励起用モノクロメータは、前記したような、
一端が蛍光X線分析装置本体に対するX線管の取り付け
形状と同形状で、他端がX線管に対する蛍光X線分析装
置本体の取り付け形状と同形状を備えるモノクロ線源励
起用モノクロメータに適用することも、あるいは、X線
管が固定されたモノクロ線源励起用モノクロメータに適
用することもできる。
を参照しながら詳細に説明する。図1は本発明を適用す
る蛍光X線分析装置を説明するための概略図である。蛍
光X線分析装置1は、蛍光X線分析装置本体2の真空室
内に蛍光X線測定部を備える。蛍光X線測定部において
は、X線管10からの一次X線を試料Sに照射し、これ
に応じて試料Sから発生する蛍光X線を含む2次X線を
絞りやソーラースリット4を通して平行ビームとして取
り出し、この蛍光X線を分光結晶5によって各元素に対
応する波長成分をもつスペクトルに分光し、分光された
蛍光X線をソーラースリット6を通して検出器7で検出
する。
は、リニアアンプ、パルスハイトアナライザー、スケー
ラ等を含む測定部を経てデータ処理部4に送られ、定性
分析や定量分析等の分析処理の他、蛍光X線のX線強度
分布データや、元素の強度分布データや元素の含有量分
布データを求めるデータ処理を行う。蛍光X線分析装置
本体2は、一次X線の入射位置に開口部を有する取り付
け部3を備え、該取り付け部3に対してX線管10ある
いはモノクロ線源励起用モノクロメータ20と着脱可能
に取付けられる。
1の態様は、X線管とモノクロ線源励起用モノクロメー
タとを蛍光X線分析装置本体2に対して交換可能に取り
付ける構成を特徴とする。図2は、本発明のX線管及び
モノクロ線源励起用モノクロメータを説明するための概
略図である。図2において、蛍光X線分析装置本体2に
対して、X線管10あるいはモノクロ線源励起用モノク
ロメータ20が着脱可能に取付けられる。X線管10は
一次X線を発生するX線源であり、X線管10の一端に
は、X線管10を蛍光X線分析装置本体2に取り付ける
ためのX線取付フランジ11が形成される。このX線取
付フランジ11の形状及び大きさは、蛍光X線分析装置
本体2側の取り付け部3と対応して形成され、Oリング
12等を介して密閉状態で取り付けられる。
20はX線管10からの一次X線をモノクロ化して特定
波長のX線(モノクロX線)を形成するものであり、モ
ノクロメータ用ソーラースリット24、分光結晶25、
モノクロメータ用ソーラースリット26が順に所定の角
度関係を保って設けられている。モノクロ線源励起用モ
ノクロメータ20の一次X線が入射される端部には、X
線管10を取り付けるためのモノクロメータ入射側フラ
ンジ21が形成される。ここで、モノクロメータ入射側
フランジ21は蛍光X線分析装置本体2側の取り付け部
3と同一形状に形成されているため、モノクロメータ入
射側フランジ21とX線取付フランジ11とを嵌合させ
ることによって、Oリング12等を介して密閉状態で取
り付けることができる。
タ20の他方の端部には、モノクロ線源励起用モノクロ
メータ20を蛍光X線分析装置本体2に取り付けるため
のモノクロメータ取付フランジ23が形成される。ここ
で、モノクロメータ取付フランジ23はX線管10のX
線管取付フランジ11と同一形状に形成され、蛍光X線
分析装置本体2側の取り付け部3に対応した形状であ
る。この形状によって、モノクロメータ取付フランジ2
3と蛍光X線分析装置本体2側の取り付け部3とを嵌合
させることによって、Oリング22等を介して密閉状態
で取り付けることができる。
メータ20の一端(モノクロメータ取付フランジ23)
を蛍光X線分析装置本体2に対するX線管10の取り付
け部分(X線管取付フランジ11)の形状と同形状と
し、他端(モノクロメータ入射用フランジ21)をX線
管10に対する蛍光X線分析装置本体2の取り付け部3
の形状と同形状とすることによって、X線管10あるい
はモノクロ線源励起用モノクロメータ20を蛍光X線分
析装置本体2に切り替え可能に取付けることができる。
また、モノクロ線源励起用モノクロメータ20に対して
もX線管10を切り替え可能に取付けることができる。
る直接励起の励起状態と、X線管10を取り付けたモノ
クロ線源励起用モノクロメータ20によるモノクロ線源
励起の励起状態について説明する。図3(a)におい
て、X線管10による直接励起は、蛍光X線分析装置本
体2の取り付け部3にX線管10のX線管取付フランジ
11を嵌合させ、X線管10からの一次X線30を蛍光
X線分析装置本体2内に配置する試料Sに照射する。X
線管10は、例えばRhターゲットのエンドウインドウ
型を用いることができる。一次X線30の照射によって
試料Sは励起され、試料Sからは蛍光X線33,34と
一次X線の散乱線(Rhの特性X線の散乱線32と連続
X線の散乱線35)を含む二次X線31が発生する。こ
の二次X線31は、蛍光X線分析装置1が備えるソーラ
ースリット4、分光結晶5、ソーラースリット6、及び
検出器7を備える分光器によって各波長に応じた電気信
号に変換される。図4(a)は、この直接励起による場
合のスペクトルを概略的に示している。
励起用モノクロメータ20によるモノクロ線源励起は、
モノクロ線源励起用モノクロメータ20のモノクロメー
タ入射用フランジ21にX線管10のX線管取付フラン
ジ11を嵌合させてX線管10を取り付け、さらに、蛍
光X線分析装置本体2の取り付け部3にモノクロ線源励
起用モノクロメータ20のモノクロメータ取付フランジ
23を嵌合させ、X線管10からの一次X線をソーラー
スリット24によって平行ビーム成分を取出し、分光結
晶25(例えば、LiF)に対してある波長(例えば、
RhKα)が回折される角度(θ=8.78°)で入射
させる。分光結晶25からは単一波長RhKαにモノク
ロ化したX線が回折され、ソーラースリット26を通し
て試料Sを照射する。試料Sからは、蛍光X線43とR
hKαの散乱線42を含む二次X線41が発生する。こ
の二次X線41は、直接励起の場合と同様に、蛍光X線
分析装置1が備えるソーラースリット4、分光結晶5、
ソーラースリット6、及び検出器7を備える分光器によ
って各波長に応じた電気信号に変換される。
る場合のスペクトルを概略的に示している。図4
(a),(b)のスペクトルを比較すると、モノクロ線
源励起による蛍光X線43のバックグラウンドは、直接
励起による蛍光X線33のバックグラウンドと比較して
格段に低くなる。この結果、モノクロ線源励起によれば
検出限界を下げることができる。また、図4(a)中の
直接励起による蛍光X線34は、図4(b)中のモノク
ロ線源励起で励起されないため検出されない。
明する。第2の態様は、蛍光X線分析装置本体2に対し
てモノクロ線源励起用モノクロメータを取り付ける取付
け角度を調整あるいは変更可能とする構成を特徴とし、
これによって、試料に対するモノクロX線の入射状態を
調整あるいは変更する。特に、試料に対してモノクロX
線を通常の入射方向で入射させる通常配置と、通常の入
射方向から90度回転させたカルテシアン配置との切替
えに好適となる。
と、この取り付け部3に嵌合するモノクロ線源励起用モ
ノクロメータ20のモノクロメータ取付フランジ23側
に、それぞれ互いの嵌合位置を定める位置決め部を設け
る。嵌合位置は、例えば、試料に対してモノクロX線を
通常の入射方向で入射させる通常配置と、通常の入射方
向から90度回転させたカルテシアン配置に合わせて形
成する。
本体2に対して、モノクロ線源励起用モノクロメータ2
0を2つの異なる取付け角度で取り付けた状態を示して
いる。図5(a)は、試料に対してモノクロX線を通常
の入射方向で入射させる通常配置を示し、図5(b)
は、通常の入射方向から90度回転させたカルテシアン
配置を示している。カルテシアン配置によれば、入射方
向はモノクロメータのソーラースリットと分光結晶が形
成する平面と同一平面となり、90度偏光を含まないモ
ノクロX線を照射することができる。また、蛍光X線分
析装置本体2に対するモノクロ線源励起用モノクロメー
タ20の取付け角度は、上記した90度に限らず任意の
角度とすることもできる。取付け角度を任意角度とする
ことによって、試料Sに対するモノクロX線の入射状態
を調整することができる。
及び凸部の組み合わせ形状など任意の構成とすることが
できる。なお、上記した例では、モノクロメータとして
ソーラースリットと平行結晶を用いた平行ビーム系を採
用しているが、湾曲結晶を用いた集中法を採用すること
もできる。また、励起の後に用いる分光器は、波長分散
型スキャニング分光器、波長分散型固定分光器を用いる
他、エネルギー分散型検出器を用いることもできる。
モノクロ線源励起との切替えを、X線管とモノクロ線源
励起用モノクロメータの蛍光X線分析装置に対する交換
で行うことができるため、直接励起による分析精度を維
持することができる他、X線管を共通とすることによっ
て装置のコストを低減することができる。
クロメータ及び蛍光X線分析装置によれば、試料に対す
るX線励起を各励起態様に最適な条件で行うことができ
る。
ための概略図である。
ロメータを説明するための概略図である。
用モノクロメータの蛍光X線分析装置本体への取付け状
態を説明する図である。
線源励起により得られるスペクトルを示す図である。
起用モノクロメータの取付け状態を説明する図である。
…取り付け部、4,6…ソーラースリット、5…分光結
晶、7…検出器、10…X線管、11…X線管取付フラ
ンジ、12,22…Oリング、20…モノクロ線源励起
用モノクロメータ、21…モノクロメータ入射用フラン
ジ、23…モノクロメータ取付フランジ、24,26…
モノクロメータ用ソーラースリット、25…モノクロメ
ータ用分光結晶、30…一次X線、31…二次X線、3
2…Rhの特性X線の散乱線、33,34…蛍光X線、
35…連続X線の散乱線、40…モノクロX線、41…
二次X線、42…RhKαの散乱線、43…蛍光X線、
S…試料。
Claims (2)
- 【請求項1】 一端が蛍光X線分析装置本体に対するX
線管の取り付け形状と同形状で、他端がX線管に対する
蛍光X線分析装置本体の取り付け形状と同形状であるこ
とを特徴とするモノクロ線源励起用モノクロメータ。 - 【請求項2】 一端が蛍光X線分析装置本体に対するX
線管の取り付け形状と同形状で、他端がX線管に対する
蛍光X線分析装置本体の取り付け形状と同形状であるモ
ノクロ線源励起用モノクロメータを、X線管と蛍光X線
分析装置本体との間に着脱可能に備え、直接励起とモノ
クロ線源励起とを切り替えて分析を行うことを特徴とす
る蛍光X線分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000230234A JP3498689B2 (ja) | 2000-07-31 | 2000-07-31 | モノクロ線源励起用モノクロメータ及び蛍光x線分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000230234A JP3498689B2 (ja) | 2000-07-31 | 2000-07-31 | モノクロ線源励起用モノクロメータ及び蛍光x線分析装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003298775A Division JP2004004125A (ja) | 2003-08-22 | 2003-08-22 | 蛍光x線分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002048738A JP2002048738A (ja) | 2002-02-15 |
JP3498689B2 true JP3498689B2 (ja) | 2004-02-16 |
Family
ID=18723219
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000230234A Expired - Lifetime JP3498689B2 (ja) | 2000-07-31 | 2000-07-31 | モノクロ線源励起用モノクロメータ及び蛍光x線分析装置 |
Country Status (1)
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP5539906B2 (ja) * | 2008-03-05 | 2014-07-02 | エックス−レイ オプティカル システムズ インコーポレーテッド | 高度に位置合わせされた筐体内に複数の励起エネルギー帯域を有するxrfシステム |
GB2515468A (en) * | 2013-05-24 | 2014-12-31 | Torr Scient Ltd | X-ray source |
-
2000
- 2000-07-31 JP JP2000230234A patent/JP3498689B2/ja not_active Expired - Lifetime
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