JP3494518B2 - 光切断法による画像認識装置 - Google Patents
光切断法による画像認識装置Info
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- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
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- G01B11/026—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
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- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/50—Depth or shape recovery
- G06T7/521—Depth or shape recovery from laser ranging, e.g. using interferometry; from the projection of structured light
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、計測対象に線状光
を投影し、この計測対象の表面に描かれる線状光のなす
像を撮像することによりその計測対象の三次元形状デー
タを得る光切断法による画像認識装置に関するものであ
る。
を投影し、この計測対象の表面に描かれる線状光のなす
像を撮像することによりその計測対象の三次元形状デー
タを得る光切断法による画像認識装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】この種の光切断法による画像認識装置に
おいては、計測対象の形状認識精度を向上させるに際
し、投光手段によって計測対象に投影される線状光が、
画像上において精度良く撮像されることが要求される。
言い換えれば、画像上の線状光が無限小幅の線として、
通常の画像処理技術においては１画素幅の線として表現
される細線化処理が可能なように撮像されることが要求
される。
おいては、計測対象の形状認識精度を向上させるに際
し、投光手段によって計測対象に投影される線状光が、
画像上において精度良く撮像されることが要求される。
言い換えれば、画像上の線状光が無限小幅の線として、
通常の画像処理技術においては１画素幅の線として表現
される細線化処理が可能なように撮像されることが要求
される。
【０００３】ところで、線状光が投影される計測対象を
撮像する撮像手段は、入射光量を適切とするための絞り
機構を有しているが、この際の絞り機構の絞り値が適切
でないと、前述のような１画素幅の線として表現される
細線化処理が困難になる。言い換えれば、計測対象に投
影された同一の線状光であっても、絞り値が小であれば
画像上に線状光が太く撮像され、細線化処理の結果にお
いてバラツキを生じてその線状光にジグザグ部分が生
じ、また絞り値が大であれば画像上に線状光が細く撮像
され、細線化処理の結果においてその線状光に不連続部
分が生じることになる。したがって、１画素幅の線とし
て表現され得なく、線の認識として不具合が起こること
になる。従来、このような不具合を解消するために、絞
り機構の所定値の絞り値のもとに計測対象、照度などを
一定にして撮像している。
撮像する撮像手段は、入射光量を適切とするための絞り
機構を有しているが、この際の絞り機構の絞り値が適切
でないと、前述のような１画素幅の線として表現される
細線化処理が困難になる。言い換えれば、計測対象に投
影された同一の線状光であっても、絞り値が小であれば
画像上に線状光が太く撮像され、細線化処理の結果にお
いてバラツキを生じてその線状光にジグザグ部分が生
じ、また絞り値が大であれば画像上に線状光が細く撮像
され、細線化処理の結果においてその線状光に不連続部
分が生じることになる。したがって、１画素幅の線とし
て表現され得なく、線の認識として不具合が起こること
になる。従来、このような不具合を解消するために、絞
り機構の所定値の絞り値のもとに計測対象、照度などを
一定にして撮像している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述さ
れたものにおいては、絞り値、計測対象、照度などが固
定されて自由度がなく汎用性がないとともに、また一定
の照度を得るために投光手段による投影を常時に行わね
ばならず、投光手段の寿命の短縮を招くという問題点が
ある。
れたものにおいては、絞り値、計測対象、照度などが固
定されて自由度がなく汎用性がないとともに、また一定
の照度を得るために投光手段による投影を常時に行わね
ばならず、投光手段の寿命の短縮を招くという問題点が
ある。
【０００５】本発明は、このような問題点を解消するこ
とを目的として、汎用性があるとともに、投光手段の寿
命の短縮を招かない光切断法による画像認識装置を提供
することにある。
とを目的として、汎用性があるとともに、投光手段の寿
命の短縮を招かない光切断法による画像認識装置を提供
することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段および作用・効果】本発明
の光切断法による画像認識装置は、前述された目的を達
成するために、計測対象に線状光を投影し、この計測対
象の表面に描かれる線状光のなす像を撮像することによ
りその計測対象の三次元形状データを得る光切断法によ
る画像認識装置であって、（ａ）前記線状光を前記計測
対象に投影するとともに、この線状光の投影をＯＮ・Ｏ
ＦＦ制御によって断続的に行う投光手段、（ｂ）この投
光手段により線状光が投影される前記計測対象を撮像す
るとともに、この撮像される画像に応じて自動的に絞り
調整動作を行う自動絞り調整機構を有する撮像手段、
（ｃ）この撮像手段により撮像される画像の処理を行っ
て前記三次元形状データを得る画像処理手段および
（ｄ）前記投光手段における前記計測対象に対する投影
を計測指令から前記撮像手段の自動絞り調整機構の絞り
調整動作が収束する直後までもしくはその収束と等価な
状態に到達する直後までＯＮさせるようにＯＮ・ＯＦＦ
制御するとともに、この自動絞り調整機構の絞り調整動
作の収束直後もしくは収束等価状態到達直後にその撮像
手段により撮像される画像にもとづき前記画像処理手段
に前記三次元形状データを得る処理を行わせるように制
御する制御手段を備えることを特徴とするものである。
の光切断法による画像認識装置は、前述された目的を達
成するために、計測対象に線状光を投影し、この計測対
象の表面に描かれる線状光のなす像を撮像することによ
りその計測対象の三次元形状データを得る光切断法によ
る画像認識装置であって、（ａ）前記線状光を前記計測
対象に投影するとともに、この線状光の投影をＯＮ・Ｏ
ＦＦ制御によって断続的に行う投光手段、（ｂ）この投
光手段により線状光が投影される前記計測対象を撮像す
るとともに、この撮像される画像に応じて自動的に絞り
調整動作を行う自動絞り調整機構を有する撮像手段、
（ｃ）この撮像手段により撮像される画像の処理を行っ
て前記三次元形状データを得る画像処理手段および
（ｄ）前記投光手段における前記計測対象に対する投影
を計測指令から前記撮像手段の自動絞り調整機構の絞り
調整動作が収束する直後までもしくはその収束と等価な
状態に到達する直後までＯＮさせるようにＯＮ・ＯＦＦ
制御するとともに、この自動絞り調整機構の絞り調整動
作の収束直後もしくは収束等価状態到達直後にその撮像
手段により撮像される画像にもとづき前記画像処理手段
に前記三次元形状データを得る処理を行わせるように制
御する制御手段を備えることを特徴とするものである。
【０００７】本発明においては、まず計測指令にもとづ
き投光手段による計測対象に対する線状光の投影がＯＮ
されるとともに、この線状光が投影される計測対象の撮
像される画像にもとづき自動絞り調整機構が自動的に絞
り調整動作を行って収束する方向に向かう。次に、絞り
調整動作の収束直後もしくはその収束と等価な状態への
到達直後に撮像される画像にもとづき三次元形状データ
を得る画像処理が行われるとともに、線状光の投影がＯ
ＦＦされる。
き投光手段による計測対象に対する線状光の投影がＯＮ
されるとともに、この線状光が投影される計測対象の撮
像される画像にもとづき自動絞り調整機構が自動的に絞
り調整動作を行って収束する方向に向かう。次に、絞り
調整動作の収束直後もしくはその収束と等価な状態への
到達直後に撮像される画像にもとづき三次元形状データ
を得る画像処理が行われるとともに、線状光の投影がＯ
ＦＦされる。
【０００８】したがって、入射光量を適切にする自動絞
り調整機構でもって絞り値は勿論、計測対象、照度など
が固定される必要がなく汎用性があるとともに、投光手
段による投影を常時に行うこともなく計測指令から自動
絞り調整機構の絞り調整動作が収束する直後までもしく
はその収束と等価な状態に到達する直後までＯＮさせれ
ばよいことから投光手段の寿命の短縮を招かない。
り調整機構でもって絞り値は勿論、計測対象、照度など
が固定される必要がなく汎用性があるとともに、投光手
段による投影を常時に行うこともなく計測指令から自動
絞り調整機構の絞り調整動作が収束する直後までもしく
はその収束と等価な状態に到達する直後までＯＮさせれ
ばよいことから投光手段の寿命の短縮を招かない。
【０００９】さらに、前記撮像手段の自動絞り調整機構
における絞り調整動作の収束時点もしくは収束等価状態
到達時点から次の計測指令までその時点の絞り状態を保
持させる絞り保持手段を備えることが好ましい。このよ
うに絞り保持手段を備えることにより、大きな絞り調整
動作が必要でなくなり、調整動作の収束に要する時間が
短くて済む。
における絞り調整動作の収束時点もしくは収束等価状態
到達時点から次の計測指令までその時点の絞り状態を保
持させる絞り保持手段を備えることが好ましい。このよ
うに絞り保持手段を備えることにより、大きな絞り調整
動作が必要でなくなり、調整動作の収束に要する時間が
短くて済む。
【００１０】なお、この絞り保持手段としては、例えば
前記自動絞り調整機構に対する動作電源を遮断して絞り
調整動作を停止させ前記収束時点もしくは収束等価状態
到達時点の絞り状態を保持させるもの、または、前記絞
り調整動作の収束直後もしくは収束等価状態到達直後に
前記撮像手段により撮像される画像を少なくとも次の計
測指令まで記憶する画像記憶部を備えて、この画像記憶
部に記憶される画像に応じて次の計測指令まで前記自動
絞り調整動作を行わせるようにしてその絞り調整動作の
収束時点もしくは収束等価状態到達時点の絞り状態を保
持させるもののいずれかを採用すれば良い。
前記自動絞り調整機構に対する動作電源を遮断して絞り
調整動作を停止させ前記収束時点もしくは収束等価状態
到達時点の絞り状態を保持させるもの、または、前記絞
り調整動作の収束直後もしくは収束等価状態到達直後に
前記撮像手段により撮像される画像を少なくとも次の計
測指令まで記憶する画像記憶部を備えて、この画像記憶
部に記憶される画像に応じて次の計測指令まで前記自動
絞り調整動作を行わせるようにしてその絞り調整動作の
収束時点もしくは収束等価状態到達時点の絞り状態を保
持させるもののいずれかを採用すれば良い。
【００１１】また、前記投光手段は、単一波長の光源に
もとづく線状光を前記計測対象に投影するとともに、前
記撮像手段はその線状光が投影される計測対象を前記単
一波長を透過中心波長とする減衰フィルタを介して撮像
することが好ましい。このようにすれば線状光以外の光
が撮像されることがなく、精度良く三次元形状データを
得ることができる。
もとづく線状光を前記計測対象に投影するとともに、前
記撮像手段はその線状光が投影される計測対象を前記単
一波長を透過中心波長とする減衰フィルタを介して撮像
することが好ましい。このようにすれば線状光以外の光
が撮像されることがなく、精度良く三次元形状データを
得ることができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】次に、本発明による光切断法によ
る画像認識装置の具体的実施例につき、図面を参照しつ
つ説明する。
る画像認識装置の具体的実施例につき、図面を参照しつ
つ説明する。
【００１３】（第１実施例）図１に、本発明の第１実施
例に係る三次元形状計測システムの概略構成図が示さ
れ、図２に、同三次元形状計測システムのブロック図が
示されている。
例に係る三次元形状計測システムの概略構成図が示さ
れ、図２に、同三次元形状計測システムのブロック図が
示されている。
【００１４】本実施例の三次元形状計測システムにおい
ては、計測対象であるワークＷの表面にスリット光（線
状光）を投光する投光手段としてのスリット光源１が設
けられるとともに、このスリット光源１によりワークＷ
の表面に生じる輝部を撮像する撮像手段としてのテレビ
カメラ２が設けられる。前記スリット光源１は、レーザ
ビームを発する点光源１ａとスリットマスク１ｂとスリ
ット走査機構（図示せず）とを備え、この点光源１ａの
ＯＮ・ＯＦＦ制御が画像処理装置３内の演算部（ＭＰ
Ｕ）４からの信号によりバス５および光源制御部６を介
して行われるようになっている。一方、前記テレビカメ
ラ２は、撮像部２ａとその撮像部２ａへの入射光量を適
切にするための自動絞り調整機構を有するレンズ部２ｂ
とよりなり、この撮像部２ａからの映像信号がＡ／Ｄ変
換部７およびバス５を介して画像処理装置３内の画像記
憶部８に取り込まれ、またレンズ部２ｂにおける自動絞
り調整機構が演算部４からの出力信号によってバス５お
よびＤ／Ａ変換部９を介して制御されるようになってい
る。
ては、計測対象であるワークＷの表面にスリット光（線
状光）を投光する投光手段としてのスリット光源１が設
けられるとともに、このスリット光源１によりワークＷ
の表面に生じる輝部を撮像する撮像手段としてのテレビ
カメラ２が設けられる。前記スリット光源１は、レーザ
ビームを発する点光源１ａとスリットマスク１ｂとスリ
ット走査機構（図示せず）とを備え、この点光源１ａの
ＯＮ・ＯＦＦ制御が画像処理装置３内の演算部（ＭＰ
Ｕ）４からの信号によりバス５および光源制御部６を介
して行われるようになっている。一方、前記テレビカメ
ラ２は、撮像部２ａとその撮像部２ａへの入射光量を適
切にするための自動絞り調整機構を有するレンズ部２ｂ
とよりなり、この撮像部２ａからの映像信号がＡ／Ｄ変
換部７およびバス５を介して画像処理装置３内の画像記
憶部８に取り込まれ、またレンズ部２ｂにおける自動絞
り調整機構が演算部４からの出力信号によってバス５お
よびＤ／Ａ変換部９を介して制御されるようになってい
る。
【００１５】前記画像処理装置３においては、前述の演
算部４，画像記憶部８のほか、主記憶部１０，前記画像
記憶部８に記憶された画像を予め設定した閾値にて二値
化する二値演算部１１，テレビカメラ２により取り込ん
だ画像を外部表示機構（モニタ）１２に表示するための
Ｄ／Ａ変換部１３およびロボットアームもしくは結果表
示器等の外部機器を制御するための外部制御部１４が備
えられている。
算部４，画像記憶部８のほか、主記憶部１０，前記画像
記憶部８に記憶された画像を予め設定した閾値にて二値
化する二値演算部１１，テレビカメラ２により取り込ん
だ画像を外部表示機構（モニタ）１２に表示するための
Ｄ／Ａ変換部１３およびロボットアームもしくは結果表
示器等の外部機器を制御するための外部制御部１４が備
えられている。
【００１６】このような計測システムにおいて、点光源
１ａをＯＮ状態にしてスリットマスク１ｂを介してワー
クＷの表面にスリット光を投影し、このワークＷ表面に
生じる輝部をテレビカメラ２により撮像すると、１回の
撮像で１本のスリット光がワークＷを切断するときの切
断線像を得ることができる。そこで、このスリットマス
ク１ｂの走査によってそのスリット光の投影方向を少し
ずつ変化させつつワークＷ表面に生じる輝部をテレビカ
メラ２により撮像し、この撮像画像を画像処理装置３に
て処理することで、このワークＷの三次元形状を得るこ
とができる。
１ａをＯＮ状態にしてスリットマスク１ｂを介してワー
クＷの表面にスリット光を投影し、このワークＷ表面に
生じる輝部をテレビカメラ２により撮像すると、１回の
撮像で１本のスリット光がワークＷを切断するときの切
断線像を得ることができる。そこで、このスリットマス
ク１ｂの走査によってそのスリット光の投影方向を少し
ずつ変化させつつワークＷ表面に生じる輝部をテレビカ
メラ２により撮像し、この撮像画像を画像処理装置３に
て処理することで、このワークＷの三次元形状を得るこ
とができる。
【００１７】ところで、本実施例の計測システムにおい
ては自動絞り調整機構を有するテレビカメラ２が用いら
れていることによって、ワークＷの表面性状もしくはワ
ークＷの表面での環境（照度）の変化に応じて撮像部２
ａに対する入射光量が常に適正値になるようにされ、こ
れによってワークＷの表面に形成される線状の輝部の細
線化の精度向上が図られている。しかしながら、この自
動絞り調整機構の動作は、図３および図４に示されるよ
うに入射光量に対してある時間遅れをもって収束するこ
とが確認されている。
ては自動絞り調整機構を有するテレビカメラ２が用いら
れていることによって、ワークＷの表面性状もしくはワ
ークＷの表面での環境（照度）の変化に応じて撮像部２
ａに対する入射光量が常に適正値になるようにされ、こ
れによってワークＷの表面に形成される線状の輝部の細
線化の精度向上が図られている。しかしながら、この自
動絞り調整機構の動作は、図３および図４に示されるよ
うに入射光量に対してある時間遅れをもって収束するこ
とが確認されている。
【００１８】図３に示されているのは、一定の環境（照
度約４００Ｌｘ）下において、ワークＷの表面性状、言
い換えれば投影されたスリット光のワークＷ表面での反
射率が異なる場合（白色ワーク，銀色ワークおよび黒色
ワーク）についての自動絞り調整機構の動作に係る試験
結果である。一方、図４に示されているのは、同一ワー
ク（鋼板）において、ワークＷの表面での環境（照度）
が変化する場合（９００Ｌｘ，３９０Ｌｘおよび１０Ｌ
ｘ以下）についての自動絞り調整機構の動作に係る試験
結果である。
度約４００Ｌｘ）下において、ワークＷの表面性状、言
い換えれば投影されたスリット光のワークＷ表面での反
射率が異なる場合（白色ワーク，銀色ワークおよび黒色
ワーク）についての自動絞り調整機構の動作に係る試験
結果である。一方、図４に示されているのは、同一ワー
ク（鋼板）において、ワークＷの表面での環境（照度）
が変化する場合（９００Ｌｘ，３９０Ｌｘおよび１０Ｌ
ｘ以下）についての自動絞り調整機構の動作に係る試験
結果である。
【００１９】したがって、考慮すべきワーク条件および
環境条件下で、予め図３，図４の試験結果が得られるよ
うな試験を行い、絞り動作の収束が最も遅い場合の経過
時間を遅延量として主記憶部１０に記憶させておき、計
測時にはスリット光源１がＯＮ動作したタイミングより
前記遅延量だけテレビカメラ２による撮像動作を遅延さ
せるようにすれば、ワーク条件および環境条件がどのよ
うに変わっても常に安定した画像を画像記憶部８に蓄え
ることができる。
環境条件下で、予め図３，図４の試験結果が得られるよ
うな試験を行い、絞り動作の収束が最も遅い場合の経過
時間を遅延量として主記憶部１０に記憶させておき、計
測時にはスリット光源１がＯＮ動作したタイミングより
前記遅延量だけテレビカメラ２による撮像動作を遅延さ
せるようにすれば、ワーク条件および環境条件がどのよ
うに変わっても常に安定した画像を画像記憶部８に蓄え
ることができる。
【００２０】図５は、本実施例におけるスリット光源１
のＯＮ・ＯＦＦ動作，自動絞り調整機構の調整動作およ
び画像処理装置３の処理実行動作の関係を示すタイムチ
ャートである。図示のように、計測指令が発せられると
スリット光源１がＯＮ動作されて画像の取り込みが開始
されるとともに自動絞り調整機構の調整動作が開始さ
れ、この自動絞り調整機構が収束した時点ｔ1 の直後に
撮像部２ａに撮像され画像記憶部８に記憶される画像に
基づき画像処理装置３において画像処理が実行される。
この後、スリット光源１は画像の取り込みの終了次第Ｏ
ＦＦ動作される。なお、記号Ａは計測指令から画像処理
装置３による処理実行までの待ち時間であり、記号Ｂは
今回の計測から次回の計測までの計測インターバルであ
る。
のＯＮ・ＯＦＦ動作，自動絞り調整機構の調整動作およ
び画像処理装置３の処理実行動作の関係を示すタイムチ
ャートである。図示のように、計測指令が発せられると
スリット光源１がＯＮ動作されて画像の取り込みが開始
されるとともに自動絞り調整機構の調整動作が開始さ
れ、この自動絞り調整機構が収束した時点ｔ1 の直後に
撮像部２ａに撮像され画像記憶部８に記憶される画像に
基づき画像処理装置３において画像処理が実行される。
この後、スリット光源１は画像の取り込みの終了次第Ｏ
ＦＦ動作される。なお、記号Ａは計測指令から画像処理
装置３による処理実行までの待ち時間であり、記号Ｂは
今回の計測から次回の計測までの計測インターバルであ
る。
【００２１】本実施例の三次元形状計測システムによれ
ば、入射光量を適切にする自動絞り調整機構でもって絞
り値は勿論、計測対象、照度などが固定される必要がな
く汎用性がある。また、スリット光源１からの投影を常
時に行うこともなく計測指令から自動絞り調整機構の絞
り調整動作が収束するまでそのスリット光源１をＯＮさ
せればよいので、言い換えれば少なくとも計測インター
バルの間スリット光源１をＯＦＦ状態にすることができ
るので、スリット光源１の寿命の短縮を招くことがない
とともに、光源としてレーザを用いる場合、作業者保護
のための遮光装置等を簡略化することができる。
ば、入射光量を適切にする自動絞り調整機構でもって絞
り値は勿論、計測対象、照度などが固定される必要がな
く汎用性がある。また、スリット光源１からの投影を常
時に行うこともなく計測指令から自動絞り調整機構の絞
り調整動作が収束するまでそのスリット光源１をＯＮさ
せればよいので、言い換えれば少なくとも計測インター
バルの間スリット光源１をＯＦＦ状態にすることができ
るので、スリット光源１の寿命の短縮を招くことがない
とともに、光源としてレーザを用いる場合、作業者保護
のための遮光装置等を簡略化することができる。
【００２２】（第２実施例）前記第１実施例において
は、自動絞り調整機構の絞り調整動作が収束するまで待
って撮像結果を求めるための入力画像を得るものとした
が、図１，図２に示される本システムによれば、前記自
動絞り調整機構の経時的な動作を観測することが可能で
あることから、本第２実施例においては、計測指令によ
りスリット光源１がＯＮ動作された後に逐次自動絞り調
整機構の絞り調整動作を観測し、この調整動作が収束す
るのと等価な状態に到達したと判断される時点で撮像結
果を求めるための入力画像を得るようにし、これによっ
て画像処理装置３による処理実行までの待ち時間を短縮
するようにされている。次に、本実施例における処理手
法を、図６に示される概念図を参照しながら図７に示さ
れるフローチャートによって説明する。
は、自動絞り調整機構の絞り調整動作が収束するまで待
って撮像結果を求めるための入力画像を得るものとした
が、図１，図２に示される本システムによれば、前記自
動絞り調整機構の経時的な動作を観測することが可能で
あることから、本第２実施例においては、計測指令によ
りスリット光源１がＯＮ動作された後に逐次自動絞り調
整機構の絞り調整動作を観測し、この調整動作が収束す
るのと等価な状態に到達したと判断される時点で撮像結
果を求めるための入力画像を得るようにし、これによっ
て画像処理装置３による処理実行までの待ち時間を短縮
するようにされている。次に、本実施例における処理手
法を、図６に示される概念図を参照しながら図７に示さ
れるフローチャートによって説明する。
【００２３】Ｓ１：予め設定される次の各設定値を読み
込む。 二値演算部１１における二値化の際の閾値 自動絞り調整機構の収束時の二値画像の白画素数Ｎ
（ただし、白画素とは画面の明るさを表す代表値であ
る。） 前記白画素数Ｎの上下許容幅δ 自動絞り調整機構が収束するのに十分な待ち時間ｔw
込む。 二値演算部１１における二値化の際の閾値 自動絞り調整機構の収束時の二値画像の白画素数Ｎ
（ただし、白画素とは画面の明るさを表す代表値であ
る。） 前記白画素数Ｎの上下許容幅δ 自動絞り調整機構が収束するのに十分な待ち時間ｔw
【００２４】Ｓ２〜Ｓ４：計測指令を待って、経過時間
をカウントするタイマｔをリセット（ｔ＝０）し、この
後にスリット光源１をＯＮ動作する。 Ｓ５〜Ｓ７：テレビカメラ２によってワークＷの表面の
輝線の画像を取り込んで画像処理装置３の画像記憶部８
に記憶する。次いで、この記憶された画像を二値演算部
１１において予め設定した閾値にて二値化する。この
後、各時点での二値画像における白画素（明画素）の画
素数ｎをカウントする。なお、図６においてプロットさ
れている各点がこの白画素数ｎを示している。また、こ
の図６において破線は実際の自動絞り調整機構の動作を
示すものである。
をカウントするタイマｔをリセット（ｔ＝０）し、この
後にスリット光源１をＯＮ動作する。 Ｓ５〜Ｓ７：テレビカメラ２によってワークＷの表面の
輝線の画像を取り込んで画像処理装置３の画像記憶部８
に記憶する。次いで、この記憶された画像を二値演算部
１１において予め設定した閾値にて二値化する。この
後、各時点での二値画像における白画素（明画素）の画
素数ｎをカウントする。なお、図６においてプロットさ
れている各点がこの白画素数ｎを示している。また、こ
の図６において破線は実際の自動絞り調整機構の動作を
示すものである。
【００２５】Ｓ８〜Ｓ１０：前記白画素数ｎが自動絞り
調整機構の収束時の白画素数Ｎに対する上下許容幅δ内
に入っているか否かを判定するために、次式が成立して
いるか否かを判断する。 Ｎ−δ≦ｎ≦Ｎ＋δ この判定の結果、この式が成立しているとき、言い換え
れば白画素数ｎがＮ±δの範囲内に入ったときには、こ
れ以上の画像の取り込みを行う必要がないのでスリット
光源１をＯＦＦ動作する。一方、この式が成立していな
いときには次の処理として、経過時間ｔが前記待ち時間
ｔw に達しているか否かを判定する。そして、この経過
時間ｔが待ち時間ｔw 未満であるときにはステップＳ５
へ戻って画像の取り込みを継続し、この経過時間ｔが待
ち時間ｔw に達したときには自動絞り調整機構が収束し
たと判断されるのでスリット光源１をＯＦＦ動作する。
調整機構の収束時の白画素数Ｎに対する上下許容幅δ内
に入っているか否かを判定するために、次式が成立して
いるか否かを判断する。 Ｎ−δ≦ｎ≦Ｎ＋δ この判定の結果、この式が成立しているとき、言い換え
れば白画素数ｎがＮ±δの範囲内に入ったときには、こ
れ以上の画像の取り込みを行う必要がないのでスリット
光源１をＯＦＦ動作する。一方、この式が成立していな
いときには次の処理として、経過時間ｔが前記待ち時間
ｔw に達しているか否かを判定する。そして、この経過
時間ｔが待ち時間ｔw 未満であるときにはステップＳ５
へ戻って画像の取り込みを継続し、この経過時間ｔが待
ち時間ｔw に達したときには自動絞り調整機構が収束し
たと判断されるのでスリット光源１をＯＦＦ動作する。
【００２６】Ｓ１１：画像記憶部８に記憶されている最
新の画像（スリット光源１のＯＦＦ動作時の画像）につ
いて所定の画像処理を実行してフローを終了する。
新の画像（スリット光源１のＯＦＦ動作時の画像）につ
いて所定の画像処理を実行してフローを終了する。
【００２７】本実施例によれば、白画素数ｎがＮ±δの
範囲内に入ったときの画像（図６におけるＰ点の画像）
を採用して画像処理を行うようにされているので、自動
絞り調整機構の絞り調整動作が収束するまで待たなくて
も、この収束と等価な状態に到達したときに画像処理を
行うことができ、画像処理装置３による処理実行までの
待ち時間を短縮することができる。
範囲内に入ったときの画像（図６におけるＰ点の画像）
を採用して画像処理を行うようにされているので、自動
絞り調整機構の絞り調整動作が収束するまで待たなくて
も、この収束と等価な状態に到達したときに画像処理を
行うことができ、画像処理装置３による処理実行までの
待ち時間を短縮することができる。
【００２８】（第３実施例）一般に、前記自動絞り調整
機構の動作の収束に要する時間は、スリット光源１が動
作する前後での入力画像の光量の偏差が大きくて大きな
絞り動作が必要な程長くなるものであるが、実用状態に
おいては、連続して計測を行う場合に、ワークもしくは
環境等の諸条件が急激に変化することは稀である。この
ことから、本第３実施例においては、前回撮像時点での
自動絞り調整機構の動作位置を記憶するとともに、各撮
像動作間（画像計測の待ち時間）にその動作位置にて自
動絞り調整機構の絞り状態を保持しておき、今回撮像動
作の開始（スリット光源のＯＮ動作）とともにその保持
を解除せしめるようにし、これによって自動絞り調整動
作の動作量を小さくして、画像処理装置３による処理実
行までの待ち時間を不要乃至極端に短縮するようにされ
ている。次に、本実施例における処理手法を、図８に示
される概念図を参照しながら図９に示されるフローチャ
ートによって説明する。
機構の動作の収束に要する時間は、スリット光源１が動
作する前後での入力画像の光量の偏差が大きくて大きな
絞り動作が必要な程長くなるものであるが、実用状態に
おいては、連続して計測を行う場合に、ワークもしくは
環境等の諸条件が急激に変化することは稀である。この
ことから、本第３実施例においては、前回撮像時点での
自動絞り調整機構の動作位置を記憶するとともに、各撮
像動作間（画像計測の待ち時間）にその動作位置にて自
動絞り調整機構の絞り状態を保持しておき、今回撮像動
作の開始（スリット光源のＯＮ動作）とともにその保持
を解除せしめるようにし、これによって自動絞り調整動
作の動作量を小さくして、画像処理装置３による処理実
行までの待ち時間を不要乃至極端に短縮するようにされ
ている。次に、本実施例における処理手法を、図８に示
される概念図を参照しながら図９に示されるフローチャ
ートによって説明する。
【００２９】Ｔ１：予め設定される次の各設定値を読み
込む。 ワークもしくは環境が大きく変化しないときのスリッ
ト光源ＯＮ後の待ち時間ｔ1 ワークもしくは環境が大きく変化した際に自動絞り調
整機構が収束するのに十分な待ち時間ｔ2 なお、前記待ち時間ｔ1 は、前回の計測時に比較して環
境（周囲の明るさ）の微小な変化に対応するために設定
されている微小時間である。
込む。 ワークもしくは環境が大きく変化しないときのスリッ
ト光源ＯＮ後の待ち時間ｔ1 ワークもしくは環境が大きく変化した際に自動絞り調
整機構が収束するのに十分な待ち時間ｔ2 なお、前記待ち時間ｔ1 は、前回の計測時に比較して環
境（周囲の明るさ）の微小な変化に対応するために設定
されている微小時間である。
【００３０】Ｔ２〜Ｔ５：ワークもしくは環境が大きく
変化したこと（例えばシステムの立ち上げ，ワークの変
更等）を示すフラグＦを立てる。この後、計測指令を待
ってスリット光源１をＯＮ動作し、次いで自動絞り調整
機構の保持状態を解除する。
変化したこと（例えばシステムの立ち上げ，ワークの変
更等）を示すフラグＦを立てる。この後、計測指令を待
ってスリット光源１をＯＮ動作し、次いで自動絞り調整
機構の保持状態を解除する。
【００３１】Ｔ６〜Ｔ９：フラグＦが立っている（Ｆ＝
１）ときには、ワークもしくは環境が大きく変化したと
いうことなので、予め設定されている待ち時間ｔ2 だけ
待った後に、言い換えれば自動絞り調整機構が収束する
まで待った後に、テレビカメラ２によってワークＷの表
面の輝線の画像を取り込んで画像処理装置３の画像記憶
部８に記憶する。一方、フラグＦが立っていない（Ｆ＝
０）ときには、ワークもしくは環境が大きく変化してい
ないということなので、予め設定されている微小待ち時
間ｔ1 だけ待った後に、テレビカメラ２によってワーク
Ｗの表面の輝線の画像を取り込んで画像処理装置３の画
像記憶部８に記憶する。
１）ときには、ワークもしくは環境が大きく変化したと
いうことなので、予め設定されている待ち時間ｔ2 だけ
待った後に、言い換えれば自動絞り調整機構が収束する
まで待った後に、テレビカメラ２によってワークＷの表
面の輝線の画像を取り込んで画像処理装置３の画像記憶
部８に記憶する。一方、フラグＦが立っていない（Ｆ＝
０）ときには、ワークもしくは環境が大きく変化してい
ないということなので、予め設定されている微小待ち時
間ｔ1 だけ待った後に、テレビカメラ２によってワーク
Ｗの表面の輝線の画像を取り込んで画像処理装置３の画
像記憶部８に記憶する。
【００３２】Ｔ１０〜Ｔ１１：自動絞り調整機構を現在
位置で保持した後、スリット光源１をＯＦＦ動作する。 Ｔ１２〜Ｔ１３：フラグＦを降ろし（Ｆ＝０）、次いで
画像記憶部８に記憶されている最新の画像（スリット光
源１をＯＦＦ動作時の画像）について所定の画像処理を
実行する。
位置で保持した後、スリット光源１をＯＦＦ動作する。 Ｔ１２〜Ｔ１３：フラグＦを降ろし（Ｆ＝０）、次いで
画像記憶部８に記憶されている最新の画像（スリット光
源１をＯＦＦ動作時の画像）について所定の画像処理を
実行する。
【００３３】Ｔ１４〜Ｔ１６：計測が終了していない場
合には、次に外部からの信号により環境等が変わったか
否かを判断する。そして、環境等が変わっていないと判
定されるときにはそのままステップＴ３に戻って次の計
測指令を待ち、環境等が変わったと判定されるときには
フラグＦを立ててやはりステップＴ３に戻って次の計測
指令を待つ。一方、計測が終了したというときにはフロ
ーを終了する。
合には、次に外部からの信号により環境等が変わったか
否かを判断する。そして、環境等が変わっていないと判
定されるときにはそのままステップＴ３に戻って次の計
測指令を待ち、環境等が変わったと判定されるときには
フラグＦを立ててやはりステップＴ３に戻って次の計測
指令を待つ。一方、計測が終了したというときにはフロ
ーを終了する。
【００３４】本実施例によれば、図８に示されているよ
うに、自動絞り調整機構の前回撮像時点での動作位置が
保持されており（記号Ｃで示す）、前記待ち時間ｔ2 と
画像の取り込みに必要な時間（画像取り込みはほぼ瞬時
になされる）との和にて与えられるスリット光源１のＯ
Ｎ動作時間Ｄの間だけ自動絞り調整が実行され（記号Ｅ
で示す）、この後前記自動絞り調整機構の動作位置はス
リット光源１がＯＦＦ動作される寸前の絞り値に保持さ
れる（記号Ｆで示す）。このとき、画像処理はそのスリ
ット光源１がＯＦＦ動作される寸前の絞り値で実行され
る（記号Ｇで示す）。
うに、自動絞り調整機構の前回撮像時点での動作位置が
保持されており（記号Ｃで示す）、前記待ち時間ｔ2 と
画像の取り込みに必要な時間（画像取り込みはほぼ瞬時
になされる）との和にて与えられるスリット光源１のＯ
Ｎ動作時間Ｄの間だけ自動絞り調整が実行され（記号Ｅ
で示す）、この後前記自動絞り調整機構の動作位置はス
リット光源１がＯＦＦ動作される寸前の絞り値に保持さ
れる（記号Ｆで示す）。このとき、画像処理はそのスリ
ット光源１がＯＦＦ動作される寸前の絞り値で実行され
る（記号Ｇで示す）。
【００３５】本実施例によれば、前回撮像時点での自動
絞り調整機構の動作位置を保持しておき、今回撮像動作
の開始とともにその保持を解除するようにされているの
で、自動絞り調整動作の動作量を最小限に抑えることが
でき、これにより画像処理装置３による処理実行までの
待ち時間を極端に短縮することができる。
絞り調整機構の動作位置を保持しておき、今回撮像動作
の開始とともにその保持を解除するようにされているの
で、自動絞り調整動作の動作量を最小限に抑えることが
でき、これにより画像処理装置３による処理実行までの
待ち時間を極端に短縮することができる。
【００３６】ここで、自動絞り調整機構の動作位置を保
持する手段としては、この自動絞り調整機構がオートク
ローズ機構（動作電源が遮断されると絞りが自動的に全
閉状態になる機構）を備えていない場合と、このオート
クローズ機構を備えている場合とに応じて次の２つの方
法のうちのいずれかを採用することができる。
持する手段としては、この自動絞り調整機構がオートク
ローズ機構（動作電源が遮断されると絞りが自動的に全
閉状態になる機構）を備えていない場合と、このオート
クローズ機構を備えている場合とに応じて次の２つの方
法のうちのいずれかを採用することができる。
【００３７】オートクローズ機構を備えていない場合
この場合には、図１０に示されているように、画像処理
装置３の外部制御部１４からの信号によりリレー１５を
動作させて、自動絞り調整機構を含むレンズ部２ｂの電
源１６を遮断させ、これによって自動絞り調整機構の絞
り位置を保持するようにされる。 オートクローズ機構を備えている場合 この場合には、図１１に示されているように、自動絞り
調整機構を保持させたい時点でその自動絞り調整機構に
入力されている信号を記憶し、この記憶された信号を継
続してその自動絞り調整機構に入力する機構を設けるの
が良い。より具体的には、多くの自動絞り調整機構は、
入力信号として映像信号を用いており、また通常の画像
処理装置は、ある時点での画像を保持して映像信号とし
て例えば外部表示機構（モニタ）１２に出力する機能を
有している。したがって、自動絞り調整機構を保持した
い時点での映像を画像記憶部８に記憶し、この映像信号
を自動絞り調整機構の動作を保持したい間継続的に出力
してその自動絞り調整機構に入力することで、容易に自
動絞り調整機構を保持することができる。
装置３の外部制御部１４からの信号によりリレー１５を
動作させて、自動絞り調整機構を含むレンズ部２ｂの電
源１６を遮断させ、これによって自動絞り調整機構の絞
り位置を保持するようにされる。 オートクローズ機構を備えている場合 この場合には、図１１に示されているように、自動絞り
調整機構を保持させたい時点でその自動絞り調整機構に
入力されている信号を記憶し、この記憶された信号を継
続してその自動絞り調整機構に入力する機構を設けるの
が良い。より具体的には、多くの自動絞り調整機構は、
入力信号として映像信号を用いており、また通常の画像
処理装置は、ある時点での画像を保持して映像信号とし
て例えば外部表示機構（モニタ）１２に出力する機能を
有している。したがって、自動絞り調整機構を保持した
い時点での映像を画像記憶部８に記憶し、この映像信号
を自動絞り調整機構の動作を保持したい間継続的に出力
してその自動絞り調整機構に入力することで、容易に自
動絞り調整機構を保持することができる。
【００３８】前記各実施例において、スリット光源１が
レーザ等の単一波長の光を投影するものである場合、撮
像手段としてのテレビカメラ２の前縁に、この単一波長
の光を透過中心波長とする減衰フィルタ（透過フィル
タ）を設けるのが好ましい。こうすることで、より環境
の影響を排除した精度の高い画像認識装置とすることが
できる。
レーザ等の単一波長の光を投影するものである場合、撮
像手段としてのテレビカメラ２の前縁に、この単一波長
の光を透過中心波長とする減衰フィルタ（透過フィル
タ）を設けるのが好ましい。こうすることで、より環境
の影響を排除した精度の高い画像認識装置とすることが
できる。
【図１】図１は、第１実施例に係る三次元形状計測シス
テムの概略構成図である。
テムの概略構成図である。
【図２】図２は、第１実施例に係る三次元形状計測シス
テムのブロック図である。
テムのブロック図である。
【図３】図３は、自動絞り調整機構の動作に係る試験結
果（１）である。
果（１）である。
【図４】図４は、自動絞り調整機構の動作に係る試験結
果（２）である。
果（２）である。
【図５】図５は、第１実施例における処理手法を示す概
念図である。
念図である。
【図６】図６は、第２実施例における処理手法を示す概
念図である。
念図である。
【図７】図７は、第２実施例における処理フローを示す
フローチャートである。
フローチャートである。
【図８】図８は、第３実施例における処理手法を示す概
念図である。
念図である。
【図９】図９は、第３実施例における処理フローを示す
フローチャートである。
フローチャートである。
【図１０】図１０は、自動絞り調整機構の動作位置保持
方法の一例を示す図である。
方法の一例を示す図である。
【図１１】図１１は、自動絞り調整機構の動作位置保持
方法の他の例を示す図である。
方法の他の例を示す図である。
１ スリット光源
１ａ 点光源
１ｂ スリットマスク
２ テレビカメラ
２ａ 撮像部
２ｂ レンズ部
３ 画像処理装置
４ 演算部（ＭＰＵ）
５ バス
６ 光源制御部
７ Ａ／Ｄ変換部
８ 画像記憶部
９ Ｄ／Ａ変換部
１０ 主記憶部
１１ 二値演算部
１２ 外部表示機構（モニタ）
１３ Ｄ／Ａ変換部
１４ 外部制御部
Ｗ ワーク
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01B 11/24
G06T 1/00 315
G06T 1/00 400
Claims (5)
- 【請求項１】 計測対象に線状光を投影し、この計測対
象の表面に描かれる線状光のなす像を撮像することによ
りその計測対象の三次元形状データを得る光切断法によ
る画像認識装置であって、（ａ）前記線状光を前記計測
対象に投影するとともに、この線状光の投影をＯＮ・Ｏ
ＦＦ制御によって断続的に行う投光手段、（ｂ）この投
光手段により線状光が投影される前記計測対象を撮像す
るとともに、この撮像される画像に応じて自動的に絞り
調整動作を行う自動絞り調整機構を有する撮像手段、
（ｃ）この撮像手段により撮像される画像の処理を行っ
て前記三次元形状データを得る画像処理手段および
（ｄ）前記投光手段における前記計測対象に対する投影
を計測指令から前記撮像手段の自動絞り調整機構の絞り
調整動作が収束する直後までもしくはその収束と等価な
状態に到達する直後までＯＮさせるようにＯＮ・ＯＦＦ
制御するとともに、この自動絞り調整機構の絞り調整動
作の収束直後もしくは収束等価状態到達直後にその撮像
手段により撮像される画像にもとづき前記画像処理手段
に前記三次元形状データを得る処理を行わせるように制
御する制御手段を備えることを特徴とする光切断法によ
る画像認識装置。 - 【請求項２】 さらに、前記撮像手段の自動絞り調整機
構における絞り調整動作の収束時点もしくは収束等価状
態到達時点から次の計測指令までその時点の絞り状態を
保持させる絞り保持手段を備えることを特徴とする請求
項１に記載の光切断法による画像認識装置。 - 【請求項３】 前記絞り保持手段は、前記自動絞り調整
機構に対する動作電源を遮断して絞り調整動作を停止さ
せ前記収束時点もしくは収束等価状態到達時点の絞り状
態を保持させることを特徴とする請求項２に記載の光切
断法による画像認識装置。 - 【請求項４】 前記絞り保持手段は、前記絞り調整動作
の収束直後もしくは収束等価状態到達直後に前記撮像手
段により撮像される画像を少なくとも次の計測指令まで
記憶する画像記憶部を備えて、この画像記憶部に記憶さ
れる画像に応じて次の計測指令まで前記自動絞り調整動
作を行わせるようにしてその絞り調整動作の収束時点も
しくは収束等価状態到達時点の絞り状態を保持させるこ
とを特徴とする請求項３に記載の光切断法による画像認
識装置。 - 【請求項５】 前記投光手段は、単一波長の光源にもと
づく線状光を前記計測対象に投影するとともに、前記撮
像手段はその線状光が投影される計測対象を前記単一波
長を透過中心波長とする減衰フィルタを介して撮像する
ことを特徴とする請求項１乃至４のうちのいずれかに記
載の光切断法による画像認識装置。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03238796A JP3494518B2 (ja) | 1996-02-20 | 1996-02-20 | 光切断法による画像認識装置 |
| TW085115616A TW351796B (en) | 1996-02-20 | 1996-12-18 | Photo identification apparatus by employing light cutting method |
| PCT/JP1997/000060 WO1997031240A1 (fr) | 1996-02-20 | 1997-01-10 | Appareil de reconnaissance d'images par procede de decoupage optique |
| CA002245844A CA2245844A1 (en) | 1996-02-20 | 1997-01-10 | Image recognition system using light-section method |
| EP97900422A EP0882946A4 (en) | 1996-02-20 | 1997-01-10 | IMAGE RECOGNITION APPARATUS BY OPTICAL CUTTING METHOD |
| US09/117,389 US6298152B1 (en) | 1996-02-20 | 1997-01-10 | Image recognition system using light-section method |
| KR1019970002184A KR970062968A (ko) | 1996-02-20 | 1997-01-25 | 광절단법에 의한 화상인식장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03238796A JP3494518B2 (ja) | 1996-02-20 | 1996-02-20 | 光切断法による画像認識装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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Family
ID=12357552
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6298152B1 (ja) |
| EP (1) | EP0882946A4 (ja) |
| JP (1) | JP3494518B2 (ja) |
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| CA (1) | CA2245844A1 (ja) |
| TW (1) | TW351796B (ja) |
| WO (1) | WO1997031240A1 (ja) |
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| US7643966B2 (en) * | 2004-03-10 | 2010-01-05 | Leica Geosystems Ag | Identification of 3D surface points using context-based hypothesis testing |
| DE102008043148A1 (de) * | 2008-10-24 | 2010-04-29 | Robert Bosch Gmbh | Steuereinrichtung, Aufnahmeeinrichtung und Verfahren zur Projektion und Bildaufnahme |
| JP6758062B2 (ja) * | 2016-03-22 | 2020-09-23 | 株式会社東洋精機製作所 | 試験片の伸び追跡装置および引張試験装置 |
| CN113375559B (zh) * | 2021-07-06 | 2022-09-09 | 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所 | 基于多源传感的在线测量定心装置、系统及方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| DE2711660C3 (de) * | 1977-03-17 | 1981-06-04 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 8000 München | Optisches Verfahren zur Schweißbahnverfolgung |
| JPS58170220A (ja) | 1982-03-31 | 1983-10-06 | Anritsu Corp | 光電式検出センサ |
| JPS6124616U (ja) | 1984-07-20 | 1986-02-14 | 株式会社山武 | 光学式ロ−タリ−エンコ−ダ |
| US5949056A (en) * | 1986-09-10 | 1999-09-07 | Norand Corporation | Method and apparatus for optically reading an information pattern |
| DE3850840T2 (de) * | 1987-10-14 | 1995-02-09 | Hitachi Ltd | Vorrichtung und Verfahren zur Fehlerinspektion in befestigten Bauteilen, unter Verwendung eines Lichtschlitzes. |
| US5280542A (en) * | 1989-12-28 | 1994-01-18 | Kabushiki Kaisha Toyota Chuo Kenkyusho | XYZ coordinates measuring system |
| JPH0526638A (ja) * | 1991-07-23 | 1993-02-02 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 三次元形状認識装置 |
| US5270780A (en) * | 1991-09-13 | 1993-12-14 | Science Applications International Corporation | Dual detector lidar system and method |
| US5756981A (en) * | 1992-02-27 | 1998-05-26 | Symbol Technologies, Inc. | Optical scanner for reading and decoding one- and-two-dimensional symbologies at variable depths of field including memory efficient high speed image processing means and high accuracy image analysis means |
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1996
- 1996-02-20 JP JP03238796A patent/JP3494518B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1996-12-18 TW TW085115616A patent/TW351796B/zh active
-
1997
- 1997-01-10 CA CA002245844A patent/CA2245844A1/en not_active Abandoned
- 1997-01-10 EP EP97900422A patent/EP0882946A4/en not_active Withdrawn
- 1997-01-10 US US09/117,389 patent/US6298152B1/en not_active Expired - Fee Related
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| TW351796B (en) | 1999-02-01 |
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