JP3470469B2 - レチクル保持装置および保持方法 - Google Patents

レチクル保持装置および保持方法

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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、荷電粒子線を用い
てレチクルのパターンをウエハ上に転写する荷電粒子線
転写装置のレチクル保持装置および保持方法に関する。
【0002】
【発明が解決しようとする課題】従来、半導体ウエハ等
の板状試料を保持する装置としては、試料を爪等で機械
的に固定するものや、静電力によって試料を固定する静
電チャックがあるが、これらを荷電粒子線転写装置のレ
チクル保持装置として用いた場合には、以下に述べるよ
うなことが原因して高精度なパターン転写を行うことが
できないという問題点がある。 (a)保持装置が載置されるステージを高速で連続的に
移動させながら転写を行う装置の場合、レチクル保持装
置に1G以上の大きな加速度が作用するため、機械的に
固定する保持装置ではレチクルと保持装置の間に機械的
なズレが生じるおそれがある。 (b)従来の静電チャックを用いる保持装置では、静電
チャックに設けられた電極の作る電界が荷電粒子ビーム
の通路に漏れ出たり、荷電粒子によって静電チャックを
構成する絶縁体の表面が帯電したりして、荷電粒子線に
非点収差やビーム位置ドリフトが発生する。 (c)レチクルに反りがあった場合、例えば、そのレチ
クルが上方に凸の状態で静電チャックにより吸着される
と、静電チャックに接触しているレチクル周辺部分から
吸着が始まる。その結果、レチクルと静電チャックとの
摩擦力によってレチクル周辺部分が滑ることができず、
パターンが形成されている中央部分に反りが残ったまま
でパターン転写を行うことになる。
【0003】本発明の目的は、荷電粒子線転写装置にお
いて、高精度なパターン転写を行うことができるレチク
ル保持装置および保持方法を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】発明の実施の形態を示す
図1に対応付けて説明すると、請求項1の発明は、荷電
粒子線を用いてレチクル2のパターンをウエハ上に転写
する荷電粒子線転写装置のレチクル保持装置に適用さ
れ、レチクル2を透過した荷電粒子線の通過する孔1a
が形成され、レチクル2を吸着保持するためにレチクル
2との間で静電力を発生する電極10が設けられた静電
チャック1と、静電チャック1の少なくとも孔1aの表
面を覆うとともに、レチクル2を接地するように設けら
れた導電性部材4とを備えて上述の目的を達成する。請
求項2の発明は、請求項1に記載のレチクル保持装置に
おいて、導電性部材4が金属板または導電性のコーティ
ング膜から成る。請求項3の発明は、請求項1または2
に記載のレチクル保持装置のレチクル保持方法に適用さ
れ、電極10が複数の要素電極10A〜10Lから成
り、レチクル2が静電吸着される部分がレチクル2の一
部分からその周辺部分に順次に拡大するように要素電極
10A〜10Lに予め定めた順に電圧を印加することに
より上述の目的を達成する。
【0005】請求項1の発明では、静電チャック1およ
びレチクル2に衝突した荷電粒子の電荷は、接地された
導電性部材4によって大地へと導かれる。請求項3の発
明では、レチクル2は、要素電極10A,10Bに対面
する部分から要素電極10K,10Lに対面する部分へ
と順次に静電チャック1に吸着される。
【0006】なお、本発明の構成を説明する上記課題を
解決するための手段の項では、本発明を分かり易くする
ために発明の実施の形態の図を用いたが、これにより本
発明が発明の実施の形態に限定されるものではない。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、図1を参照して本発明の実
施の形態を説明する。図1は本発明に係るレチクル保持
装置を示す図であり、(a)は平面図、(b)は(a)
のA−A断面図である。1は静電チャックであり、二点
鎖線で示すようにレチクル2を保持する。静電チャック
1はセラミックス製のチャック本体3を備えており、チ
ャック本体3の内部には要素電極10A〜10Lからな
る電極10が配設されている。なお、図1(a)では、
分りやすいように要素電極10A〜10Lを実線で示し
た。要素電極10A〜10Lは不図示の電源に接続され
ており、要素電極10A,10C,10E,10G,1
0Iおよび10Kには−300Vの電圧が、要素電極1
0B,10D,16F,10H,10Jおよび10Lに
は+300Vの電圧がそれぞれ印加される。静電チャッ
ク1の中央部には、レチクル2のパターン部2aに対応
して矩形の孔1aが形成されている。チャック本体3
は、孔1aを含むレチクル2の吸着面3a以外の面に1
00nm程度の厚さのチタン(Ti)コーティング膜4
がスパッタにより施されている。ただし、レチクル2が
静電チャック1に吸着されたときに、チタンコーチング
膜4の一部4aとレチクル2とが接触するように面3a
の一部にもコーティングされる。このコーティング膜4
は接地され、その一部4aがレチクル2と接触している
ため、コーティング膜4およびレチクル2の電位は0V
に保たれる。静電チャック1は接着剤5によってレチク
ルステージ6に固着されており、レチクルステージ6に
は静電チャック1の孔1aに対応する孔6aが形成され
ている。なお、コーティング膜4の接地方法としては、
コーティング膜4にアース線を設けてそのアース線を装
置のアースに接続したり、レチクルステージ6を導電体
で形成してコーティング膜4をレチクルステージ6を介
して装置のアースに接続するようにしてもよい。
【0008】このような静電チャックによる保持操作を
説明する。レチクル2に設けられたオリエンテーション
フラット2b等を用いてレチクル2を静電チャック1上
に位置決めした後、要素電極10Aに−300Vおよび
要素電極10Bに+300Vの電圧をそれぞれ印加す
る。要素電極10Aおよび10Bへの電圧印加を継続し
たままで電圧印加開始後0.5秒経過したならば、要素
電極10Aおよび10Bに隣接する要素電極10Cおよ
び10Dへの電圧印加を開始する。同様にして、0.5
秒間隔で(要素電極10E,要素電極10F),(要素
電極10G,要素電極10H),(要素電極10I,要
素電極10J),(要素電極10K,要素電極10L)
の順に電圧印加を開始し、最終的には要素電極10Aか
ら10Lの全ての要素電極に電圧が印加される。そのた
め、レチクル2は要素電極10Aおよび10Bに対面す
る部分が最初に吸着された後、順に各要素電極に対面す
る部分が吸着され、最後に要素電極10Kおよび10L
に対面する部分が吸着されてレチクル2全体が静電チャ
ック1に吸着保持される。すなわち、レチクル2は、全
体が同時に吸着されるのではなく、一方の端部から他方
の端部へ向けて少しずつ吸着される。その結果、レチク
ル2に反りがある場合でもレチクル2の端部から順に吸
着され、レチクル2の反りが矯正されながら吸着される
ため、反りが残った状態で静電チャック1に吸着保持さ
れることがない。
【0009】なお、本発明の実施の形態では、要素電極
10A,10Bから要素電極10K,10Lへと電圧を
印加したが、逆の順に印加するようにしてもよい。ま
た、最初に要素電極10A,10Kに電圧を印加して、
次に、それぞれの両側にある(要素電極10B,要素電
極10L)および(要素電極10C,10I)に電圧を
印加し、さらにその両側の要素電極へと順に印加するよ
うにしてもよい。すなわち、レチクル2の一部分を最初
に吸着した後、その周辺部分へと波及するような順序で
吸着してもよい。
【0010】このようにして、全ての要素電極10A〜
10Lに電圧が印加されてレチクル2が静電チャック1
に保持された後に、レチクル2のパターンが不図示のウ
エハに転写される。このとき、図1(b)において、荷
電粒子線は図示上方からレチクル2のパターン部2aに
照射される。パターン部2aを透過した荷電粒子線は、
静電チャック1の孔1aおよびレチクルステージ6の孔
6aを通過した後、不図示のウエハに達する。ウエハへ
の転写作業が終了したならば、要素電極10A〜10L
の電圧を同時に0Vにしてレチクル2を静電チャック1
から取り外す。
【0011】パターン転写時にはレチクルステージ6は
高速で連続的に移動するので、レチクル2と静電チャッ
ク1との相対的位置ズレが生じないようにするために、
静電チャック1の静電力は次式(1)を満たすように設
定される。
【数1】 ここで、加速度はレチクル2に作用する加速度のことで
あり、静摩擦係数はレチクル2と静電チャック1との間
の静摩擦係数である。レチクル2の径が8インチで厚さ
が1mm,チャック面積100cm2,静摩擦係数0.
1,加速度を1Gとすると、レチクル2の質量は約11
0gとなる。一般的な静電チャックの場合には静電力は
100gf/cm2程度であるので、このとき式(1)
の左辺および右辺は、
【数2】(左辺)=110(gf) …(2)
【数3】 (右辺)=100(gf/cm2)×100(cm2)×0.1=1000(gf) …(3) となって式(1)の不等式を満足しており、レチクル2
と静電チャック1との間に位置ズレが生じることは無
い。
【0012】また、要素電極10A〜10Lは接地され
たTiコーティング膜4によってシールドされているた
め、要素電極10A〜10Lの作る電界が孔1aの部
分、すなわち荷電粒子線のビーム通路に漏れ出ることが
ない。さらに、荷電粒子の一部がパターン部2aを透過
する際にその軌道が曲げられて静電チャック1の孔1a
に衝突するが、孔1aにはTiコーティング膜4が施さ
れ、かつ、接地されていて衝突した荷電粒子の電荷が大
地に導かれるため、静電チャック1は帯電しない。その
結果、荷電粒子線に非点収差やビーム位置ドリフトが発
生することが無く、高精度のパターン転写を行うことが
できる。
【0013】以上説明した発明の実施の形態では、12
個に分割された要素電極10A〜10Lを用いたが、要
素電極の数は12に限らない。さらに、電圧印加を0.
5秒間隔で行ったが、ウエハの大きさや、要素電極の大
きさおよび数等に応じて適当な条件で電圧印加を行えば
よい。また、コーティング膜4はTiに限らず他の金属
でもよく、さらに、コーティング膜の代りに薄い金属板
をチャック本体3の吸着面3a以外の面にレチクル2と
接触するように固着させてもよい。
【0014】上述した発明の実施の形態と特許請求の範
囲との対応において、Tiコーティング膜は導電性部材
をを構成する。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1および2
の発明によれば、静電チャックに設けられた荷電粒子の
通過する孔の表面を覆ってシールドするとともに、レチ
クルを接地させる導電性部材を設けたので、荷電粒子の
通路への電界の漏れや、静電チャックおよびレチクルの
帯電が防止されるため、荷電粒子線転写装置による高精
度なパターン転写を行うことができる。請求項3の発明
によれば、最初にレチクルの一部分が吸着された後、吸
着部分がその周辺部分に順に拡大するように吸着される
ため、レチクルの吸着が確実に行われて吸着後のレチク
ルの反り等の発生を抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によりレチクル保持装置を示す図であ
り、(a)は平面図、(b)は(a)のA−A断面図。
【符号の説明】
1 静電チャック 1a,6a 孔 2 レチクル 2a パターン部 3 チャック本体 4 Tiコーティング膜 5 接着剤 6 レチクルステージ 10 電極 10A〜10L 要素電極
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平7−135129(JP,A) 特開 平6−5499(JP,A) 特開 平2−151017(JP,A) 特開 昭58−190029(JP,A) 特開 平8−115871(JP,A) 特開 平2−294016(JP,A) 特開 平6−104164(JP,A) 特開 昭60−7127(JP,A) 特開 平7−29814(JP,A) 特開 昭63−194331(JP,A) 実開 昭57−161241(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/027 G03F 7/20 H01L 21/68

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 荷電粒子線を用いてレチクルのパターン
    をウエハ上に転写する荷電粒子線転写装置のレチクル保
    持装置において、 前記レチクルを透過した荷電粒子線の通過する孔が形成
    され、前記レチクルを吸着保持するために前記レチクル
    との間で静電力を発生する電極が設けられた静電チャッ
    クと、 前記静電チャックの少なくとも前記孔の表面を覆うとと
    もに、前記レチクルを接地するように設けられた導電性
    部材とを備えることを特徴とするレチクル保持装置。
  2. 【請求項2】 前記導電性部材が金属板または導電性の
    コーティング膜から成ることを特徴とする請求項1に記
    載のレチクル保持装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または2に記載のレチクル保持
    装置のレチクル保持方法において、 前記電極が複数の要素電極から成り、前記レチクルが静
    電吸着される部分が前記レチクルの一部分からその周辺
    部分に順次に拡大するように前記要素電極に予め定めた
    順に電圧を印加することを特徴とするレチクル保持方
    法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57161241U (ja) * 1981-04-03 1982-10-09
EP0078336B1 (de) * 1981-10-30 1988-02-03 Ibm Deutschland Gmbh Schattenwurfmaske für die Ionenimplantation und die Ionenstrahllithographie
JPS607127A (ja) * 1983-06-27 1985-01-14 Toshiba Corp 半導体ウエ−ハの露光方法
JPH07101663B2 (ja) * 1987-02-09 1995-11-01 キヤノン株式会社 マスク保持装置
JP2710649B2 (ja) * 1988-12-01 1998-02-10 富士通株式会社 露光装置
JPH02294016A (ja) * 1989-05-08 1990-12-05 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 荷電ビーム描画装置用ビームブランキング構造体
JPH065499A (ja) * 1992-06-22 1994-01-14 Hitachi Ltd アパーチャ絞り及びその製造方法ならびにこれを用いた荷電ビーム描画装置
JPH06104164A (ja) * 1992-09-18 1994-04-15 Hitachi Ltd 電子線描画装置
JP3265718B2 (ja) * 1993-06-23 2002-03-18 株式会社日立製作所 Si転写マスク、及び、Si転写マスクの製造方法
JPH0729814A (ja) * 1993-07-07 1995-01-31 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> マスク基板保持機構
JP3076727B2 (ja) * 1994-10-19 2000-08-14 東芝機械株式会社 試料ホルダの固定装置

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