JP3466402B2 - 測定器クランプ用ブラケットおよび測定器支持用スタンド - Google Patents

測定器クランプ用ブラケットおよび測定器支持用スタンド

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JP3466402B2 JP35001796A JP35001796A JP3466402B2 JP 3466402 B2 JP3466402 B2 JP 3466402B2 JP 35001796 A JP35001796 A JP 35001796A JP 35001796 A JP35001796 A JP 35001796A JP 3466402 B2 JP3466402 B2 JP 3466402B2
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    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/0002Arrangements for supporting, fixing or guiding the measuring instrument or the object to be measured

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  • Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、測定器クランプ用
ブラケットおよび測定器支持用スタンドに関する。たと
えば、インジケータやダイヤルゲージなどの測定器をク
ランプするための測定器クランプ用ブラケットおよびそ
の測定器クランプ用ブラケットを用いた測定器支持用ス
タンドに関する。
【0002】
【背景技術】インジケータやダイヤルゲージなどの測定
器を支持する測定器支持用スタンドとして、主にインジ
ケータ用に用いられる関節式スタンド(特公昭61−1
0717号公報参照)や、主にダイヤルゲージ用として
用いられる支柱型スタンドが知られている。たとえば、
ダイヤルゲージ用として用いられる支柱型スタンドは、
図5に示すように、上面に測定台1を有する基台2と、
この基台2に立設された円柱状の支柱3と、この支柱3
に上下方向へ位置調整可能かつ回動可能に固定され先端
に測定器であるダイヤルゲージ4を保持したブラケット
5とから構成されている。
【0003】ブラケット5は、図6に示すように、ブラ
ケット本体6と、このブラケット本体6の一端部に設け
られ測定器の取付部、ここでは、ダイヤルゲージ4のス
テム4Aをブラケット本体6にクランプする第1クラン
プ部7と、前記ブラケット本体6の他端部に設けられ前
記支柱3にブラケット本体6をクランプする第2クラン
プ部8とから構成されている。各クランプ部7,8は、
前記ステム4Aや支柱3を挿入する保持孔9,10と、
この保持孔9,10の一部からブラケット本体6の端部
に向かって形成されたすり割り溝11,12と、このす
り割り溝11,12を挟んで対向する一対の挟持片1
3,14を互いに接近する方向に弾性変形させる操作つ
まみ15,16とから構成されている。
【0004】使用にあたっては、支柱3に沿ってブラケ
ット5を高さ調整したのち、操作つまみ16を締め付け
てブラケット5を支柱3に固定する。また、ブラケット
5の第1クランプ部7の保持孔9にダイヤルゲージ4の
ステム4Aを挿入し、ダイヤルゲージ4の向きや高さ位
置を調節したのち、操作つまみ15を締め付けてダイヤ
ルゲージ4をブラケット5に固定する。この状態におい
て、ダイヤルゲージ4のスピンドル4Bを一旦上昇させ
たのち、測定台1上に被測定物をセットし、この後、ス
ピンドル4Bを下降させて被測定部に当接させる。この
ときのダイヤルゲージ4の読みから被測定物の高さ寸法
を測定する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述した構
造のスタンドでは、ブラケット5に対してダイヤルゲー
ジ4のステム4Aを固定する第1クランプ部7、支柱3
に対してブラケット5を固定する第2クランプ部8の構
造が、挟み込み固定方式であるため、実際に固定操作を
行うと、相互の位置関係がくるいやすいという課題があ
った。すなわち、これらの構造では、保持孔9,10に
ダイヤルゲージ4のステム4Aや支柱3を挿入し、操作
つまみ15,16を締め付けていくと、すり割り溝1
1,12を挟んで対向する一対の挟持片13,14が互
いに接近する方向に弾性変形され、これにより、保持孔
9,10の径が小さくなってダイヤルゲージ4のステム
4Aや支柱3を挟み込む方式であるため、保持孔9,1
0の縮径に伴って相互の位置関係、つまり、ブラケット
5に対するダイヤルゲージ4の位置関係や、支柱3に対
するブラケット5の位置関係がくるいやすいという課題
があった。
【0006】また、すり割り溝11,12をもつ挟み込
み固定方式の場合、加工上、保持孔9,10の精度、た
とえば、孔径、直角度、形状などが出しずらく、クラン
プ後のがたつきが生じやすいという課題があった。
【0007】本発明の目的は、このような従来の課題を
解消し、測定器をクランプする際に位置がずれることが
少なく、また、クランプ後にがたつきなどが生じること
が少ないうえ、経済的に構成できる測定器クランプ用ブ
ラケットおよび測定器支持用スタンドを提供することに
ある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の測定器クランプ
用ブラケットは、ブラケット本体に測定器の取付部をク
ランプするクランプ部を設けた測定器クランプ用ブラケ
ットにおいて、前記クランプ部は、前記ブラケット本体
に設けられ前記測定器の取付部が挿入可能な保持孔と、
この保持孔の近傍にその保持孔の中心軸に対して直交す
る方向に螺合されたクランプねじと、このクランプねじ
の螺合に伴う軸方向への移動によって前記保持孔内に突
出する押圧部とを含み構成され、前記押圧部は、前記ク
ランプねじの外周に固定されたクランプ駒によって構成
されていることを特徴とする。
【0009】このような構成であるから、保持孔内に測
定器の取付部を挿入したのち、クランプねじを螺合して
いくと、そのクランプねじの螺合に伴う軸方向への移動
によって押圧部が保持孔内に突出するので、この押圧部
によって保持孔内に挿入された測定器の取付部が締め付
けられる。このとき、保持孔の径は変化しないから、ブ
ラケットと測定器との相互位置がずれることが少ない。
また、従来のように、すり割り溝を形成する必要がない
から、その分、加工工数を低減でき、コスト低減ができ
る。このこと(すり割り溝が不要なこと)は、保持孔の
精度も高く維持できるから、クランプ後にがたつきなど
が生じることが少ないばかりでなく、これらの嵌合部に
おける公差管理も容易になり適切な組合せができるから
軽い力で確実に締め付けることができる。
【0010】以上において、ブラケット本体には、測定
器の取付部をクランプするクランプ部(第1クランプ
部)のほかに、測定器支持部材をクランプするクランプ
部(第2クランプ部)を設けてもよい。ここで、測定器
支持部材とは、測定器を所定の姿勢に支持するもので、
たとえば、測定器支持用スタンドなどである。このよう
にすれば、測定器を測定器支持部材に対して、位置ずれ
を生じることなく、しかも、クランプ後にがたつきを生
じることなく所望に位置、姿勢に確実に支持することが
できる。
【0011】
【0012】また、クランプねじの外周に、別体として
形成したクランプ駒を固定して押圧部を構成してある。
この場合、クランプ駒の外周面を、保持孔の円弧面をク
ランプねじの軸線を中心として回転させたときにできる
回転二次曲面に形成するのが好ましい。このようにクラ
ンプ駒の外周面を回転二次曲面とすれば、クランプ駒が
保持孔内に突出したとき、保持孔内に挿入された部材
(測定器の取付部や、測定器支持部材)と線接触となる
ので、安定してクランプできる。
【0013】本発明の測定器支持用スタンドは、スタン
ド本体のブラケット支持部に、前記請求項2記載の測定
器クランプ用ブラケットの第1クランプ部をクランプし
たことを特徴とする。ここで、スタンド本体の構成とし
ては、関節式など任意であるが、たとえば、ダイヤルゲ
ージ用のスタンドとしては、基台と、この基台に立設さ
れ前記測定器クランプ用ブラケットの第1クランプ部を
クランプ可能な支柱とから構成されているのが好まし
い。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図面
に基づいて説明する。なお、以下の説明にあたって、図
5と同一構成要件については、同一符号を付し、その説
明を省略もしくは簡略化する。図1は本実施形態の測定
器支持用スタンドの斜視図、図2はそのブラケットの平
面図、図3は図2の矢示III方向から見た図、図4は図
3のIV−IV線断面図である。これらの図に示すように、
本実施形態のスタンドは、ブラケットのみが図5のスタ
ンドと異なる。つまり、測定台1を有する基台2および
この基台2に立設された支柱3については、図5のスタ
ンドと同じである。なお、ここでは、基台2および支柱
3がスタンド本体を構成している。
【0015】本実施形態のブラケット20は、ブラケッ
ト本体21と、このブラケット本体21の一端部に設け
られ、測定器の取付部であるダイヤルゲージ4のステム
4Aをクランプする第1クランプ部31と、前記ブラケ
ット本体21の他端部に設けられ、測定器支持部材であ
るスタンドの支柱3をクランプする第2クランプ部41
とから構成されている。
【0016】前記ブラケット本体21は、前記第1クラ
ンプ部31を有する第1ブロック22と、前記第2クラ
ンプ部41を有する第2ブロック23と、前記第2ブロ
ック23に対して第1ブロック22を上下方向(支柱3
の軸方向)へ僅かずつ変位させる微動調整機構24とか
ら構成されている。前記微動調整機構24は、前記第2
ブロック23に対して第1ブロック22を上下方向へ僅
か平行変位可能に連結する一対の板ばね25、26と、
第1ブロック22に第2ブロック23側に向かって突設
されたピン27と、第2ブロック23に前記ピン27に
対して直角に螺合され前記ピン27を下方に押圧するテ
ーパ部28を有する微動調整ねじ29とから構成されて
いる。
【0017】前記各クランプ部31,41は、前記ブラ
ケット本体21に設けられ前記ダイヤルゲージ4のステ
ム4Aや支柱3が挿入可能な保持孔32,42と、この
保持孔32,42の近傍にその保持孔32,42の中心
軸に対して直交する方向に貫通形成されかつ途中が前記
保持孔32,42の内部(両端を除く部分)に開口した
貫通孔33,43と、この貫通孔33,43に螺合され
たクランプねじ34,44と、このクランプねじ34,
44の螺合に伴う軸方向への移動によって前記保持孔3
2,42内に突出可能な押圧部としてのクランプ駒3
5,45とから構成されている。
【0018】前記保持孔32,42は、ダイヤルゲージ
4のステム4Aや支柱3がガタなくはまり込む径に加工
されている。前記貫通孔33,43は、途中が前記保持
孔32,42の内部(両端を除く部分)に開口した径大
部51,61と、内部にめねじを有する径小部52、6
2とを備える。前記クランプねじ34,44は、先端部
に径小部52、62のめねじに螺合するねじ部53,6
3を有し、基端部に操作つまみ54、64を有する。前
記クランプ駒35、45は、前記保持孔32,42内に
挿入される部材の材料よりも軟質材料、たとえば黄銅な
どによって前記クランプねじ34,44とは別体として
形成されたのち、クランプねじ34,44の中間部(ね
じ部53,63と操作つまみ54,64との間)外周に
止めねじ55,65で固定されている。また、各クラン
プ駒35、45の外周面は、前記保持孔32,42の円
弧面を前記クランプねじ33,43の軸線を中心として
回転させたときにできる回転二次曲面に形成されてい
る。
【0019】次に、使用方法を説明する。使用にあたっ
ては、支柱3に沿ってブラケット20を高さ調整したの
ち、第2クランプ部41の操作つまみ64を締め付け
る。すると、クランプねじ44が軸方向に移動するた
め、クランプ駒45が保持孔42内に突出していくの
で、このクランプ駒45によって保持孔42内に挿入さ
れた支柱3が締め付けられる。このとき、保持孔42の
径は変化しないから、ブラケット20と支柱3との相互
位置がずれることが少ない。
【0020】また、ブラケット20の第1クランプ部3
1の保持孔32にダイヤルゲージ4のステム4Aを挿入
し、ダイヤルゲージ4の向きや高さ位置を調節したの
ち、操作つまみ54を締め付ける。すると、クランプね
じ34が軸方向に移動するため、クランプ駒35が保持
孔32内に突出していくので、このクランプ駒35によ
って保持孔32内に挿入されたダイヤルゲージ4のステ
ム4Aが締め付けられる。このとき、保持孔32の径は
変化しないから、ブラケット20とダイヤルゲージ4の
ステム4Aとの相互位置がずれることが少ない。
【0021】この状態において、ダイヤルゲージ4のス
ピンドル4Bを一旦上昇させたのち、測定台1上に被測
定物をセットし、この後、スピンドル4Bを下降させて
被測定部に当接させる。このとき、被測定物に対してス
ピンドル4Bのストロークが不足している場合、つま
り、ダイヤルゲージ4を下降させたい場合には、微動調
整機構24の微動調整ねじ29を螺合しながら軸方向に
変位させる。すると、微動調整ねじ29のテーパ部28
とピン27との作用によって第1ブロック22が第2ブ
ロック23に対して下方に変位するので、これにより、
ダイヤルゲージ4の高さ位置を微調整することができ
る。
【0022】以上の実施形態によれば、基台2と、この
基台2に立設された支柱3と、第1および第2クランプ
部31,41を有するブラケット20とを備え、各クラ
ンプ部31,41は、ブラケット本体21に設けられダ
イヤルゲージ4のステム4Aや支柱3が挿入可能な保持
孔32,42と、この保持孔32,42の近傍にその保
持孔32,42の中心軸に対して直交する方向に螺合さ
れたクランプねじ34,44と、このクランプねじ3
4,44の螺合に伴う軸方向への移動によって前記保持
孔32,42内に突出するクランプ駒35,45とを含
んで構成したので、ブラケット20とダイヤルゲージ4
との相互位置や、ブラケット20と支柱3との相互位置
がずれることが少ない。
【0023】また、従来のように、すり割り溝を形成す
る必要がないから、その分、加工工数を低減でき、コス
ト低減ができる。しかも、このことは、保持孔32,4
2の加工精度も高く維持できるから、クランプ後にがた
つきなどが生じることが少ないばかりでなく、これらの
嵌合部における公差管理も容易になり適切な組合せがで
きるから軽い力で確実に締め付けることができる。
【0024】また、クランプねじ34,44に対してク
ランプ駒35,45を別体として形成し、これをクラン
プねじ34、44の外周に挿入して止めねじ55、65
で固定するようにしたので、クランプ駒35,45の形
状や大きさを保持孔32,42に大きさに応じて適切な
ものを選択できる。この際、クランプ駒35,45の外
周面を、保持孔32,42の円弧面をクランプねじ3
4,44の軸線を中心として回転させたときにできる回
転二次曲面に形成したので、クランプ駒35,45が保
持孔32,42内に突出したとき、保持孔32,42内
に挿入された部材(ダイヤルゲージ4のステム4Aや支
柱3)と線接触となるので、安定してクランプできる。
なお、この線接触によっていずれかの部材に傷が生じる
ことが考えられるが、本実施形態では、クランプ駒3
5,45を黄銅などの軟質材料によって構成してあるか
ら、これらの問題も回避できる。
【0025】また、ブラケット本体21を、第1クラン
プ部31を有する第1ブロック22と、第2クランプ部
41を有する第2ブロック23と、第2ブロック23に
対して第1ブロック22を上下方向(支柱3の軸方向)
へ僅かずつ変位させる微動調整機構24とから構成した
ので、微動調整機構24によって第1クランプ部31を
有する第1ブロック22を上下方向(支柱3の軸方向)
へ僅かずつ変位させることができる。つまり、第1クラ
ンプ部31に保持されたダイヤルゲージ4の位置を上下
方向に微調整することができる。しかも、微動調整機構
24は一対の平行な板ばね25,26を含んで構成され
ているから、ダイヤルゲージ4をその姿勢のまま上下方
向に微調整することができる。
【0026】なお、上記実施形態では、クランプねじ3
4,44に対してクランプ駒35,45を別体として形
成し、これを止めねじ55,65でクランプねじ34、
44の外周に固定するようにしたが、これに限らず、他
の方法でもよい。たとえば、クランプ駒35,45をク
ランプねじ34,44に対して回動自在にかつ軸方向へ
の移動を規制できるように設けてもよい。これには、ク
ランプねじ34,44の途中に前記止めねじ55,65
の先端部分が係合する溝71を形成すれば(図2参
照)、これによって、クランプ駒35,45の軸方向
(クランプねじ34,44の軸方向)への移動を規制し
つつ、クランプ駒35,45をクランプねじ34,44
に対して回転させることができる。このようにすると、
クランプねじ34,44を回転させても、クランプ駒3
5,45が回転しないから、クランプ駒35,45によ
ってダイヤルゲージ4や支柱3を確実にクランプでき
る。
【0027】
【0028】また、上記実施形態では、スタンド本体の
構成として、基台2と、支柱3とを備える構成であった
が、関節式などでもよい。さらに、スタンドでなくても
よく、測定器を所定に姿勢に支持する測定器支持部材で
あれば、構造、形式は任意である。
【0029】また、上記実施形態では、ブラケット本体
21に、第1クランプ部31と第2クランプ部41とを
設けたが、たとえば、第2クランプ部41を省略し、ブ
ラケット本体21を測定器支持部材と一体的に構成する
ようにしてもよい。つまり、第1クランプ部31のみを
設けたものでもよい。
【0030】
【発明の効果】本発明の測定器クランプ用ブラケットお
よび測定器支持用スタンドによれば、測定器をクランプ
する際に位置がずれることが少なく、また、クランプ後
にがたつきなどが生じることが少ないうえ、経済的に構
成できるという効果が期待できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる測定器支持用スタンドの一実施
形態を示す斜視図である。
【図2】同上実施形態のブラケットを示す一部切り欠い
た平面図である。
【図3】図2の矢示III方向から見た図である。
【図4】図3のIV−IV線断面図である。
【図5】従来のスタンドを示す斜視図である。
【図6】従来のスタンドのブラケットを示す一部切り欠
いた平面図である。
【符号の説明】
2,3 スタンド本体を構成する基台および支柱 4 ダイヤルゲージ(測定器) 4A ステム(取付部) 20 ブラケット 31 第1クランプ部 41 第2クランプ部 32,42 保持孔 34,44 クランプねじ 35,45 クランプ駒(押圧部)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石田 博隆 メキシコ国 メキシコ州 セーペー 52000 パルケ インダストリアル レ ルマ ペーテーエー ヌメロ16 シルク イート デ ラ インダストリア アー ウベ (56)参考文献 特開 平8−35805(JP,A) 実開 昭62−191791(JP,U) 実開 昭55−55883(JP,U) 実開 平5−59210(JP,U) 実公 昭45−19028(JP,Y1) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01D 11/30 F16B 2/14 F16M 11/00 G01C 15/00 G01B 5/00

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ブラケット本体に測定器の取付部をクラ
    ンプするクランプ部を設けた測定器クランプ用ブラケッ
    トにおいて、 前記クランプ部は、前記ブラケット本体に設けられ前記
    測定器の取付部が挿入可能な保持孔と、この保持孔の近
    傍にその保持孔の中心軸に対して直交する方向に螺合さ
    れたクランプねじと、このクランプねじの螺合に伴う軸
    方向への移動によって前記保持孔内に突出する押圧部と
    を含み構成され 前記押圧部は、前記クランプねじの外周に固定されたク
    ランプ駒によって構成され ていることを特徴とする測定
    器クランプ用ブラケット。
  2. 【請求項2】 ブラケット本体に、測定器の取付部をク
    ランプする第1クランプ部と、測定器支持部材をクラン
    プする第2クランプ部とを設けた測定器クランプ用ブラ
    ケットにおいて、 前記第1クランプ部は、前記ブラケット本体に設けられ
    前記測定器の取付部が挿入可能な保持孔と、この保持孔
    の近傍にその保持孔の中心軸に対して直交する方向に螺
    合されたクランプねじと、このクランプねじの螺合に伴
    う軸方向への移動によって前記保持孔内に突出する押圧
    部とを含み構成され、 前記第2クランプ部は、前記ブラケット本体に設けられ
    前記測定器支持部材が挿入可能な保持孔と、この保持孔
    の近傍にその保持孔の中心軸に対して直交する方向に螺
    合されたクランプねじと、このクランプねじの螺合に伴
    う軸方向への移動によって前記保持孔内に突出する押圧
    部とを含み構成され 前記第1および第2クランプ部の押圧部は、前記クラン
    プねじの外周に固定されたクランプ駒によって構成され
    ていることを特徴とする測定器クランプ用ブラケット。
  3. 【請求項3】 請求項1または請求項2に記載の測定器
    クランプ用ブラケットにおいて、前記クランプ駒の外周
    面は、前記保持孔の円弧面を前記クランプねじの軸線を
    中心として回転させたときにできる回転二次曲面に形成
    されていることを特徴とする測定器クランプ用ブラケッ
    ト。
  4. 【請求項4】 スタンド本体のブラケット支持部に、前
    記請求項2記載の測定器クランプ用ブラケットの第2ク
    ランプ部をクランプしたことを特徴とする測定器支持用
    スタンド。
  5. 【請求項5】 請求項に記載の測定器支持用スタンド
    において、前記スタンド本体は、基台と、この基台に立
    設され前記測定器クランプ用ブラケットの第2クランプ
    部がクランプ可能な支柱とから構成されていることを特
    徴とする測定器支持用スタンド。
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