JPH09105601A - 寸法測定用基準器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 機器の精度の測定の操作性を大幅に向上し、
かつＸ，Ｙテーブルの無い機器あるいはＸ，Ｙテーブル
を有する機器に使用して好適な寸法測定用基準器を得
る。 【解決手段】 機器の座標軸精度を測定するための基準
器であって、両端面に回転中心となる軸受穴４，５を有
するマスターゲージ本体１と、マスターゲージ本体１上
に配列された複数の等ピッチ間隔の筒型形状からなるブ
ロックゲージ２とから構成し、マスターゲージ本体１を
機器の座標軸方向に回転可能に軸受けできるようにし
た。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、旋盤やフライス盤
等の工作機械、１軸のリニアガイド又はＸ，Ｙテーブル
を用いた位置又は形状の測定器等の座標精度を測定する
ための寸法測定用基準器に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、フライス盤等のテーブルはＸ軸方
向及びＹ軸方向あるいはＺ軸方向へ移動させることがで
き、このテーブルの移動量を基準にして当該テーブル上
に位置固定した各種の加工物を加工することができる。
そして、このようなテーブルは精確な動きが要求される
ことからＸ軸及びＹ軸あるいはＺ軸の各座標精度を測定
することが必要となり、この座標精度を測定する測定器
として従来から図９に示すような測定用基準器がある。

【０００３】図９において、符号８１が測定用基準器の
本体フレームであり、長尺状の金属部材から構成されて
いる。この本体フレーム８１の平坦な上面にはその長手
方向に沿って精確なピッチ間隔（一例として１０〜５０
ｍｍ）でもって角形の複数のプロックゲージ８２，８２
・・・が配列されている。各ブロックゲージ８２は各々
の一側面のゲージ面間のピッチ間距離を基準値として設
定してある。尚、本体フレーム８１の底面は測定用基準
器を水平に設置して使用する場合の基準面８３となるよ
うに平坦加工され、また、本体フレーム８１の端面は測
定用基準器を垂直に立てて使用した場合の基準面８４と
なるように平坦加工されている。

【０００４】次に、測定用基準器を使用してフライス盤
のテーブルの座標精度を測定する手順を図１０について
説明する。

【０００５】始めに、測定用基準器の本体フレーム８１
をフライス盤８５のテーブル８６上に設置する。この
際、本体フレーム８１は測定しようとするテーブル８６
の移動方向、例えばテーブル８６のＸ軸座標を測定する
場合では、本体フレーム８１の長手方向をＸ軸座標方向
に沿って設置固定する。一方、テーブル８６の上方側で
フライス盤８５の適所に目盛計８７ａを有するピックテ
スタ８７を支持する。

【０００６】ここで、予備調整としてテーブル８６をＸ
軸座標のスタート位置である零点位置セットした後、ピ
ックテスタ８７を本体フレーム８１の最外端のブロック
ゲージ８２のゲージ面に接触させ目盛計８７ａをアジャ
スト調整する。

【０００７】かくして、テーブル８６をＸ軸方向へ移動
しピックテスタ８７で各ブロックゲージ８２，８２間の
ピッチ距離を測定しなからテーブル８６の各移動量を測
定し、このときの誤差に応じてテーブル８６の座標精度
を設定し直すことができる。

【０００８】また、テーブル８６のＹ軸座標を測定する
場合には、本体フレーム８１の長手方向をＹ軸座標方向
に沿って設置固定し、以下、上述したＸ軸座標の測定と
同様にして行われる。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな測定用基準器ではテーブル８６を移動するとき、測
定し終わったブロックゲージ８２と干渉するため、これ
を回避するためにピックテスタ８７を測定し終わったブ
ロックゲージ８２から一旦離すことが必要である。この
操作は従来の場合は例えばテーブル８６のＸ軸座標の測
定のときには、テーブル８６をＹ軸方向へ後退してピッ
クテスタ８７からブロックゲージ８２を離したあと、テ
ーブル８６をＸ軸方向へ所定量移動しその後、テーブル
８６を再びＸ軸座標上へ移動し直してから次のブロック
ゲージ８２の測定を行うようにしていることから、測定
の操作に極めて多大な手数を要すると共に、テーブルを
一旦、測定座標以外の方向へ移動するのでその分、誤差
が生じ易いといった問題がある。

【００１０】また、従来のブロックゲージ８２は角形で
あるためピックテスタによる測定点が面部分であり、従
って、ブロックゲージ８２のピッチ間隔の精度を出す上
でブロックゲージの平面度及びブロック間の平行度を高
く設定しなければならず、このように加工することは製
造が極めて困難であると共に、高コストに成らざるを得
ない。

【００１１】また、従来の測定用基準器は本体フレーム
８１とブロックゲージ８２とが一体型の構成であるた
め、テーブルの無い工作機械例えば旋盤等には使用不可
能である。

【００１２】本発明は、上述したような課題を解消する
ためになされたもので、機器の精度の測定の操作性を大
幅に向上し、かつＸ，Ｙテーブルの無い機器あるいは
Ｘ，Ｙテーブルを有する機器に使用して好適な寸法測定
用基準器を得ることを目的とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
め、本発明による寸法測定用基準器は、機器の寸法精度
を測定するための基準器であって、回転中心軸手段を有
するマスターゲージと、マスターゲージ上に当該マスタ
ーゲージの回転方向と直交方向に配列された複数の等ピ
ッチ間隔のブロックゲージとから構成したものである。

【００１４】このように構成した寸法測定用基準器は、
マスターゲージの回転中心軸手段を機器の主軸に回転可
能にセットし、機器の座標精度を測定するに当たっては
ピックテスタを始めのブロックゲージに位置決めしたあ
と、ピックテスタを隣のブロックゲージへ移動する際、
機器の座標上からマスターゲージを移動することなく当
該マスターゲージを回転操作してピックテスタからブロ
ックゲージを離すことができ、その後、機器の主軸を座
標に沿って所定量移動したあと、マスターゲージを再び
元の位置へ回動操作することによって、隣りのブロック
ゲージをピックテスタによって作業性よく測定すること
ができる。

【００１５】また、本発明の寸法測定用基準器は、マス
ターゲージをその回転中心軸手段を本体フレームの軸受
手段に回転可能に支持して使用できるようにしたので、
本体フレームを利用して機器のテーブル上に位置固定す
ることができる。そして、ピックテスタによるブロック
ゲージの測定操作は、本体フレームに対してマスターゲ
ージを回転操作することでピックテスタからブロックゲ
ージの干渉を避けることができる。

【００１６】さらに、本発明の寸法測定用基準器は、ブ
ロックゲージ自体が弧面を有する筒型形状であるため、
ピックテスタは筒型形状の曲面の母線に接触するように
なり、このため、容易にブロックゲージ間の平行度を出
すことができ、従って、測定基準を容易に形成すること
ができる。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、本発明による寸法測定用基
準器の実施例を図面を参照して説明する。図１は本例に
よる寸法測定用基準器の斜視図である。

【００１８】符号１が寸法測定用基準器のマスターゲー
ジ本体であり、長尺状の円筒体の上下部を平坦加工した
金属部材から構成されている。マスターゲージ１の上面
の平坦面１ａには所定の精確なピッチ間隔（例えば１０
〜５０ｍｍ）で筒型形状の複数のブロックゲージ２，２
・・・が配列されている。この場合、ブロックゲージ２
のピッチ間隔Ｐは一側方のゲージ外周面間の距離に設定
されている。また、ブロックゲージ２の固定手段として
はブロックゲージ２の上面の座繰り穴２ａから挿入した
固定ねじ３をマスターゲージ本体１にねじ込み式に固定
されている。

【００１９】尚、ここで筒型形状というのは好ましい実
施例の総称であり、座繰り穴２ａを有する円筒形状に限
ることなく、外周面が弧面状であればその他、楕円形状
等であってもよい。また、ねじ部を有する円柱形状や楕
円柱形状で、直接、マスターゲージ本体１にねじ込み固
定してもよい。さらに、ブロックゲージ２の形状は回転
操作時に多少不利があるが四角形状や多角形状であって
も使用可能である。

【００２０】また、マスターゲージ本体１の両端面の中
心に当該マスターゲージ本体１の回転中心となるすり鉢
状の軸受穴４，５が形成されている。尚、６はマスター
ゲージ本体１を回転操作するためのハンドルである。

【００２１】次に、上述のように構成した本発明の寸法
測定用基準器を使用して例えば旋盤の送り台の座標精度
を測定する手順を図２について説明する。

【００２２】まず、マスターゲージ本体１を旋盤にセッ
トするために一方側の軸受穴４を旋盤の主軸台７のセン
ター軸８に軸受けし、他方側の軸受穴５を心押台９のセ
ンター軸１０に軸受けする。この際、マスターゲージ本
体１のブロックゲージ２を上方に向けた状態で回転可能
に支持する。

【００２３】一方、旋盤の送り台１１と一体に移動する
部材にはステー１２を介して目盛計１３を有するピック
テスタ１４を支持する。

【００２４】ここで、座標測定の予備調整として送り台
１１を座標のスタート位置である零点位置にセットした
後、ピックテスタ１４をブロックゲージ２の外側面に接
触させ目盛計１３をアジャスト調整する。

【００２５】かくして、送り台１１を送り方向へ移動し
ピックテスタ１４で各ブロックゲージ２，２間のピッチ
距離を測定しながら、このピッチ距離に対応した送り台
１１の移動量を測定し比較するものであり、そこで、本
発明ではブロックゲージ２にピックテスタ１４を接触さ
せた状態から隣のブロックゲージ２にピックテスタ１４
を移動する操作として、マスターゲージ本体１を軸受穴
４，５（図１参照）を中心として所定角度回転させるこ
とで、ピックテスタ１４からブロックゲージ２を逃がす
ことができ、従って、マスターゲージ本体１を回転させ
た状態で送り台１１を送り方向へ移動させることによっ
てピックテスタ１４に触れることなくブロックゲージ２
を通過させることができる。そして、ブロックゲージ２
の通過後、再びマスターゲージ本体１を回転させブロッ
クゲージ２を上方へ位置させたあと、隣りのブロックゲ
ージ２にピックテスタ１４を接触させることでブロック
ゲージ２，２間のピッチ距離に対する送り台１１の実際
の移動距離を測定することができる。以下、ブロックゲ
ージ２に対するピックテスタ１４の移動操作は同様にし
て行われる。

【００２６】尚、旋盤の両センター軸８，１０で軸受け
されたマスターゲージ本体１はフリーに回転可能である
ため、実際にはブロックゲージ２が上方に向いた位置で
保持できるように図示しない保持手段により支持され
る。

【００２７】このように本発明によれば、送り台１１の
座標測定においてピックテスタ１４のブロックゲージ
２，２間の移動操作に際してマスターゲージ本体１を軸
受穴４，５を回転中心として回転操作することで、ピッ
クテスタ１４とブロックゲージ２との干渉を回避しピッ
クテスタ１４の通過後にマスターゲージ本体１を再び元
の位置に回動させるだけでよいため、旋盤の送り台１１
の座標測定の手数を大幅に削減することができると共
に、測定誤差の生じない測定が可能となる。

【００２８】また、本発明の寸法測定用基準器は実施例
では旋盤の送り台１１の座標測定に適用した場合につい
て説明したが、その他、測定用のセンター軸を有する機
器の座標を測定するための基準器として広く適用可能で
ある。

【００２９】ところで、上述した本発明の寸法測定用基
準器は旋盤等の送り台の座標測定以外、例えばフライス
盤等のＸ，Ｙ軸テーブルの座標測定にも使用可能であ
る。この場合は、マスターゲージ本体１は支持フレーム
に回転可能に支持されて使用される。

【００３０】以下、支持フレームの構成を図３及び図４
について説明する。支持フレームは全体を符号１５で示
す。この支持フレーム１５の両端部には軸受フレーム１
６，１７が一体的に立設され、両軸受フレーム１６，１
７に軸受手段を介して上述したマスターゲージ本体１が
回転可能に支持されている。

【００３１】一方の軸受フレーム１６の軸受手段は次の
ように構成されている。軸受フレーム１６の中ほどには
筒状孔１８が開口され、筒状孔１８内には中心にすり鉢
状の軸受部１９を有する筒状の軸受用部材２０と、この
軸受用部材２０を軸受け方向へばね付勢するコイルばね
２１と、筒状のばね受用部材２２が収容されている。軸
受部１９には鋼製等からなるボール２３がはめ込まれ、
このボール２３は中心に開口孔を有するカバー２４で覆
い、カバー２４は軸受用部材２０にねじ固定されてい
る。これによって、ボール２３はその一部がカバー２４
の開口部から突出した状態で保持されている。

【００３２】また、ばね受用部材２２は軸受フレーム１
６の外端部にねじ２５ａで固定したプレート板２５にね
じ込んだ調整用押ねじ２６で受けている。この調整用押
ねじ２６は止めねじ２６ａで回転止めがなされている。

【００３３】尚、ばね受用部材２２はコイルばね２１で
最も押し込まれたとき上述した筒状孔１８の内壁に形成
した段部１８ａに係合するようになっている。また、筒
状孔１８の内端開口部には軸受用部材２０の脱出防止の
ためのフランジ１６ａを有している。

【００３４】他方の軸受フレーム１７の軸受手段は、す
り鉢状の軸受部２７を有する軸受用部材２８がこれに一
体に設けられたねじ部２８ａを軸受フレーム１７にねじ
込まれて固定されている。そして、軸受部２７には鋼製
等からなるボール２９がはめ込まれ、このボール２９は
中心に開口孔を有するカバー３０で覆い、カバー３０は
軸受フレーム１７にねじ固定されている。これによっ
て、ボール２９はその一部がカバー３０の開口部から突
出した状態で保持されている。

【００３５】尚、上述した両ボール２３，２９の他の保
持手段として、カバー２４，３０を用いずそれぞれの軸
受用部材２０，２８に接着剤等で固着するようにしても
よい。

【００３６】ここで、支持フレーム１５にマスターゲー
ジ本体１を軸受けする手順としては、まず、軸受フレー
ム１７に固定した軸受用部材２８の軸受部２７に支持さ
れているボール２９にマスターゲージ本体１の他端側の
軸受穴５を係合すると共に、軸受フレーム１６に設けた
軸受用部材２０の軸受部１９に支持されているボール２
３にマスターゲージ本体１の一方側の軸受穴４を係合し
た状態で調整用押ねじ２６を回転して挿入し、ばね受用
部材２２を介して圧縮するコイルばね２１のばね力によ
って軸受用部材２０を押し出すことによって両ボール２
３，２９が所定の挟持圧で保持され、マスターゲージ本
体１がボール２３，２９を回転中心として回転自在な状
態に軸受けすることができる。この際、調整用押ねじ２
６によって押し出されたばね受用部材２２は筒状孔１８
の段部１８ａに突き当たるため、ボール２３，２９の挟
持力は実質的にコイルばね２１のばね力のみとなり、こ
の結果、一定な保持力でマスターゲージ本体１を保持す
ることができる。

【００３７】また、上述した回転自在なマスターゲージ
本体１は通常の状態ではブロックゲージ２を上方へ向け
た状態で回転しないように固定することが必要であり、
このため、マスターゲージ本体１の固定手段の一例とし
て、図５に示すように例えばマスターゲージ本体１の中
央部の下面より先端面に弧状の凹部３１ａを有する位置
決めピン３１を垂設すると共に、この位置決めピン３１
と対応する支持フレーム１５面にビス３２及びばね３３
を介してストッパボール３４の一部が突出するような構
成にすることで、位置決めピン３１の凹部３１ａがスト
ッパボール３４に係合され、マスターゲージ本体１の位
置決めを行っている。尚、マスターゲージ本体１を回転
可能にフリーにした状態が図６である。また、ストッパ
ボール３４は上述した実施例とは逆に位置決めピン３１
の先端部にストッパボール３４を支持し、支持フレーム
１５側に当該ボール３４が係合する凹部を設けるように
してもよい。さらに、固定手段としては上述のマスター
ゲージ本体１の中央部の下面に設けるかわりに、マスタ
ーゲージ本体１の側面に設けてもよい。

【００３８】尚、支持フレーム１５の底面は測定用基準
器を水平に設置して使用する場合の基準面３５となるよ
うに平坦加工され、また、支持フレーム１５の端面は測
定用基準器を垂直に立てて使用した場合の基準面３６と
なるように平坦加工されている。また、３７は支持フレ
ーム１５を工作機械のテーブルに固定するための孔を有
する取付部である。

【００３９】また、マスターゲージ本体１の側面や支持
フレーム１５の取付部３７を位置出し基準面とし、機器
のテーブルの被測定座標軸と支持フレーム１５の測定軸
（すなわち、マスターゲージ本体１の測定軸）を平行出
しに使用するようにしてもよい。

【００４０】次に、上述のように構成した本発明の寸法
測定用基準器を使用してフライス盤のテーブルの座標精
度を測定する手順を図７について説明する。

【００４１】始めに、測定用基準器の支持フレーム１５
を図示しないフライス盤のテーブル上に設置する。この
際、支持フレーム１５は測定しようとするテーブルの移
動方向、例えばテーブルのＸ軸座標を測定する場合に
は、支持フレーム１５の長手方向をＸ軸座標方向に沿っ
て設置固定する。一方、テーブルの上方側でフライス盤
の適所に目盛計３８を有するピックテスタ３９を支持す
る。

【００４２】ここで、予備調整としてテーブルをＸ軸座
標のスタート位置である零点位置セットした後、ピック
テスタ３９をブロックゲージ２の外周面に接触させ目盛
計３８をアジャスト調整する。

【００４３】かくして、ブロックゲージ２にピックテス
タ３９を接触させた状態から隣りのブロックゲージ２に
ピックテスタ３９を接触させる操作として、従来のよう
にテーブルをＹ軸方向へ移動することなくマスターゲー
ジ本体１を矢印で示すように軸受穴４，５（図４参照）
を中心として回転させることで、ピックテスタ３９から
ブロックゲージ２を逃がすことができ、従って、マスタ
ーゲージ本体１を回転させた状態でテーブルをＸ軸座標
方向に移動させることによってピックテスタ３９に触れ
ることなくブロックゲージ２を通過させることができ
る。そして、ブロックゲージ２の通過後、再びマスター
ゲージ本体１を元の位置に回転させたあと、隣りのブロ
ックゲージ２にピックテスタ３９を接触させればよい。

【００４４】尚、テーブルのＹ軸座標を測定する場合に
は、支持フレーム１５の長手方向をＹ軸座標方向に沿っ
て設置固定し、以下、上述したＸ軸座標の測定と同様に
して行われる。

【００４５】このようにテーブルの座標の測定におい
て、ピックテスタ３９のブロックゲージ２，２間の移動
操作に際してテーブルを測定座標と異なる方向へ移動す
ることなくマスターゲージ本体１を回転動作することに
よって、ピックテスタ３９とブロックゲージ２との干渉
を回避するようにし、ブロックゲージ２の通過後、再び
マスターゲージ本体１を元の位置に回動させるだけでよ
いため、テーブルの座標測定の手数を大幅に削減するこ
とができると共に、測定誤差の生じない精確な測定がで
きる。

【００４６】また、本発明ではブロックゲージ２を筒型
形状としたことで、ピックテスタ３９が筒型形状の曲面
の母線線に接触するため、ブロックゲージ２，２間の平
行度は上述した母線を利用して容易に出すことができ、
よって、測定基準を容易に形成することができ、しか
も、ブロックゲージ１８の製作も容易である。

【００４７】図８にマスターゲージ本体１の軸受手段の
別の構成を示す。図４と異なる点は軸受フレーム１６側
においては、軸受部１９及びボール２３に変えて軸受用
部材２０から突出した円錐状軸４０の先端部をマスター
ゲージ本体１の軸受孔４に係合している。また、軸受フ
レーム１７側においては、軸受部２７及びボール２９に
変えて軸受用部材２８から突出した円錐状軸４１の先端
部をマスターゲージ本体１の軸受孔５に係合したもので
ある。

【００４８】このような軸受手段を構成したことによっ
て、マスターゲージ本体１の回転機構を得ることがで
き、この場合は図４に示した軸受手段に比較して軸受け
を構成する部品点数が低減できると共に、支持フレーム
１５に対してマスターゲージ本体１の組付け作業を短時
間で行うことができる。

【００４９】尚、マスターゲージ本体１を支持フレーム
１５から取り外すには、調整用押ねじ２６を緩めること
で図４の構成においては軸受用部材２０と共にボール２
３が後退してマスターゲージ本体１の軸受穴４との軸受
け状態が解除され、また、図８の構成においては軸受用
部材２０と共に円錐状軸４０が後退してマスターゲージ
本体１の軸受穴４との軸受け状態が解除され、これによ
って、マスターゲージ本体１は支持フレーム１５から容
易に取り外すことができる。

【００５０】また、マスターゲージ本体１を支持フレー
ム１５から取り外す場合の他の方法としては、支持フレ
ーム１５と両軸受フレーム１６，１７とが一体構造では
なく、支持フレーム１５に対して軸受フレーム１６及び
軸受フレーム１７または一方の軸受フレームを組み合わ
せ構造とし、当該支持フレーム１５から取り外しあるい
は両軸受フレーム１６，１７の間隔が広がるように構成
しておくことで、調整用押しねじ２６を緩めることなく
マスターゲージ本体１を支持フレーム１５から取り外し
できるようにすることも可能である。

【００５１】また、さらに別の方法として支持フレーム
１５部分を不要とし、それぞれ分離した両軸受フレーム
１６，１７をマグネットチャック方式でテーブルに固定
してもよい。この場合は軸受フレーム１６，１７の少な
くとも一方にマスターゲージ本体１の回転中心軸と直交
し、かつテーブル面に平行な方向に両軸受フレーム１
６，１７のセンター合わせを行うための微調整可能な調
整機構を設けるとマスターゲージ本体１の精確な軸受け
が作業性よく行える。

【００５２】さらに、軸受フレーム１６に設けた軸受用
部材２０やコイルばね２１、ばね受用部材２２及び調整
用押しねじ２６からなる軸受調整手段は、マスターゲー
ジ本体１を回転させたときに測定軸方向への変位を防止
することを目的とした好ましい実施例であり必ずしも必
要とする構成要件ではなく、従って、当該目的を達成で
きるものであればその他の構成及び方法であってもよ
い。

【００５３】本発明は、上述しかつ図面に示した実施例
に限定されるものでなく、その要旨を逸脱しない範囲内
で種々の変形実施が可能である。

【００５４】支持フレーム１５に対するマスターゲージ
本体１の回転可能な軸受け構造は上述した実施例に限る
ことなく、その他の構成も種々可能である。

【００５５】

【発明の効果】以上説明したように本発明の寸法測定用
基準器は、回転中心軸手段を有するマスターゲージと、
マスターゲージ上に当該マスターゲージの回転方向と直
交方向に配列された複数の等ピッチ間隔のブロックゲー
ジとから構成したので、マスターゲージを機器の測定座
標軸と直交方向に回転操作することができるようにな
り、これによって、ピックテスタのブロックゲージ間の
移動操作を迅速に行うことができ、座標測定の手数を大
幅に削減することができると共に、測定誤差の生じない
測定が可能となる。また、この種の基準器は旋盤等の
Ｘ，Ｙテーブルのない機器の座標精度を測定するのに好
適である。

【００５６】また、本発明の寸法測定用基準器は、マス
ターゲージをその回転中心軸手段を本体フレームの軸受
手段に回転可能に支持して使用できるようにしたので、
フライス盤等のＸ，Ｙテーブルを有する機器の座標精度
の測定の手数を大幅に削減することができる。

【００５７】また、本発明の寸法測定用基準器は、ブロ
ックゲージ自体が弧面を有する筒型形状であるため、ピ
ックテスタが筒型形状の曲面の母線に接触し、ピックテ
スタが面接触するブロックゲージと異なりブロックゲー
ジ間の平行度を容易に出すことができ、かつ容易に測定
基準を形成することができ、しかも、ブロックゲージの
製作も容易である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の寸法測定用基準器の斜視図である。

【図２】図１の寸法測定用基準器の使用例の斜視図であ
る。

【図３】本発明の別の使用例の寸法測定用基準器の一部
破断斜視図である。

【図４】同じく要部を断面で示した側面図である。

【図５】マスターゲージ本体の位置決め状態の図であ
る。

【図６】マスターゲージ本体の位置決め解除状態の図で
ある。

【図７】図３の寸法測定用基準器の使用例の斜視図であ
る。

【図８】マスターゲージ本体の別の軸受機構の例の図４
と同様の側面図である。

【図９】従来の測定基準器の斜視図である。

【図１０】従来の測定基準器の使用例の斜視図である。

【符号の説明】

１ マスターゲージ本体 ２ ブロックゲージ ４，５ 軸受穴 １５ 支持フレーム １６，１７ 軸受フレーム ２０，２８ 軸受用部材 ２１ コイルばね ２２ ばね受用部材 ２３，２９ ボール ２６ 調整用押ねじ ３１ 位置決めピン ３９ ピックテスタ ４０，４１ 円錐状軸

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 機器の寸法精度を測定するための基準器
   であって、 回転中心軸手段を有するマスターゲージと、 上記マスターゲージ上に当該マスターゲージの回転方向
   と直交方向に配列された複数の等ピッチ間隔のブロック
   ゲージと、から構成したことを特徴とする寸法測定用基
   準器。
2. 【請求項２】 請求項１記載の寸法測定用基準器におい
   て、 上記マスターゲージの上記回転中心軸手段を支持する一
   対の軸受手段を有し、機器のテーブル上に設置される本
   体フレームを備えたことを特徴とする寸法測定用基準
   器。
3. 【請求項３】 請求項２記載の寸法測定用基準器におい
   て、 上記軸受手段は少なくとも一方の軸受手段に上記マスタ
   ーゲージの軸受調整・着脱機構を備えたことを特徴とす
   る寸法測定用基準器。
4. 【請求項４】 請求項１又は２記載の寸法測定用基準器
   において、上記ブロックゲージは隣接するゲージ面が弧
   面を有する筒型形状であることを特徴とする寸法測定用
   基準器。