JP2885504B2 - 多方向微調整装置 - Google Patents
多方向微調整装置Info
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- JP2885504B2 JP2885504B2 JP2295549A JP29554990A JP2885504B2 JP 2885504 B2 JP2885504 B2 JP 2885504B2 JP 2295549 A JP2295549 A JP 2295549A JP 29554990 A JP29554990 A JP 29554990A JP 2885504 B2 JP2885504 B2 JP 2885504B2
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- track
- fine adjustment
- groove
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/0002—Arrangements for supporting, fixing or guiding the measuring instrument or the object to be measured
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B3/00—Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
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Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は微調整装置に関し、詳しくは、ダイヤルテス
トインジケータのような、或る目標方向に精密に向けら
れなければならない器具のための新規な微調整装置に関
する。
トインジケータのような、或る目標方向に精密に向けら
れなければならない器具のための新規な微調整装置に関
する。
（従来の技術） ダイヤルテストインジケータは、一方のものの他方の
ものに対する部品の表面を整列及び測定するために、機
械産業において、広く使用されている。ダイヤルテスト
インジケータは、デリケートな測定機であり、そしてそ
の測定レンジも限定されているので、通常、測定表面に
近接させなければならない。ダイヤルテストインジケー
タは、その末端に可動の接触チップを有している。ダイ
ヤルテストインジケータは、通常、クランプ可能な腕と
ジョイントを具えた測定スタンドに取り付けられる。
ものに対する部品の表面を整列及び測定するために、機
械産業において、広く使用されている。ダイヤルテスト
インジケータは、デリケートな測定機であり、そしてそ
の測定レンジも限定されているので、通常、測定表面に
近接させなければならない。ダイヤルテストインジケー
タは、その末端に可動の接触チップを有している。ダイ
ヤルテストインジケータは、通常、クランプ可能な腕と
ジョイントを具えた測定スタンドに取り付けられる。
接触チップの位置決めは、測定スタンドに取り付けら
れた（通常、スタンドのベース部に取り付けられる）微
調整装置によって行われる。この微調整装置は精密に制
御された動きによって、接触チップを測定すべき表面に
接触させることができる。従来、ダイヤルテストインジ
ケータには、測定表面の近くにインジケータの接触チッ
プを持ってくるための微調整手段を具えてはいるが、こ
の公知の測定スタンドの微調整装置は、インジケータに
対して、所定の一方向のみの動きを行うだけである。
れた（通常、スタンドのベース部に取り付けられる）微
調整装置によって行われる。この微調整装置は精密に制
御された動きによって、接触チップを測定すべき表面に
接触させることができる。従来、ダイヤルテストインジ
ケータには、測定表面の近くにインジケータの接触チッ
プを持ってくるための微調整手段を具えてはいるが、こ
の公知の測定スタンドの微調整装置は、インジケータに
対して、所定の一方向のみの動きを行うだけである。
（発明が解決しようとしている課題） それ故、従来の微調整装置では、接触チップが、接触
されるべき表面に近接する方向に動くのではなく、表面
に平行な方向に動いてしまうということが屡々生ずる。
このことが生ずると、微調整装置はもはや用をなさなく
なり、使用に適するようにするために、インジケータの
測定スタンドのベースの位置を変更しなければならな
い。このベース位置の偏向は作業者にとって重荷であ
り、また、作業テーブルの上にある他の物体が邪魔にな
って変更が全く不可能なこともある。
されるべき表面に近接する方向に動くのではなく、表面
に平行な方向に動いてしまうということが屡々生ずる。
このことが生ずると、微調整装置はもはや用をなさなく
なり、使用に適するようにするために、インジケータの
測定スタンドのベースの位置を変更しなければならな
い。このベース位置の偏向は作業者にとって重荷であ
り、また、作業テーブルの上にある他の物体が邪魔にな
って変更が全く不可能なこともある。
本発明は上記したような従来技術の欠点を克服するた
めに為されたものであり、従って、本発明の主要な目的
は、インジケータの接触チップを多方向にわたって微調
整することのできる多方向微調整装置を提供することで
ある。
めに為されたものであり、従って、本発明の主要な目的
は、インジケータの接触チップを多方向にわたって微調
整することのできる多方向微調整装置を提供することで
ある。
（課題を解決するための手段） 本発明に従って、ディスクの軸に沿って位置する結合
手段によって互に同軸的に隣接して保持される二つのデ
ィスクと、一方のディスクを他方に対して傾けるための
傾斜手段とよりなり、該傾斜手段は、両ディスク間の円
周方向の軌道内に位置し、該軌道上を移動可能であり、
軌道上の何れの位置にも位置することができるように構
成された、多方向微調整装置が提供される。
手段によって互に同軸的に隣接して保持される二つのデ
ィスクと、一方のディスクを他方に対して傾けるための
傾斜手段とよりなり、該傾斜手段は、両ディスク間の円
周方向の軌道内に位置し、該軌道上を移動可能であり、
軌道上の何れの位置にも位置することができるように構
成された、多方向微調整装置が提供される。
本発明の微調整装置は、所望の方向に精密に向けられ
なければならにような器具と共に使用されるものであ
る。本発明の微調整装置は、精密な向きに調整すること
を必要とするダイヤルテストインジケータに対して使用
するのに特に適しているけれども、他の同様な器具、た
とえば、循環油の細い流れを、動作点に正確に向けるた
めに、穴明け機やタッピング機に対しても使用すること
ができる。
なければならにような器具と共に使用されるものであ
る。本発明の微調整装置は、精密な向きに調整すること
を必要とするダイヤルテストインジケータに対して使用
するのに特に適しているけれども、他の同様な器具、た
とえば、循環油の細い流れを、動作点に正確に向けるた
めに、穴明け機やタッピング機に対しても使用すること
ができる。
環状の軌道と軌道内に位置した傾斜手段の部品は、デ
ィスク（複数）が互に平行になっている場合に、該傾斜
手段は容易に軌道内を回転可能であり、一方、ディスク
の一つが傾斜位置にある場合には、傾斜手段は軌道上の
一つの位置に固定して保持される。
ィスク（複数）が互に平行になっている場合に、該傾斜
手段は容易に軌道内を回転可能であり、一方、ディスク
の一つが傾斜位置にある場合には、傾斜手段は軌道上の
一つの位置に固定して保持される。
本発明の好ましい実施例によれば、環状の軌道を構成
する溝は、上方ディスクの下方縁部と下方ディスクの上
方縁部を機械加工することによって作られるあり溝（ダ
ブテール溝）である。
する溝は、上方ディスクの下方縁部と下方ディスクの上
方縁部を機械加工することによって作られるあり溝（ダ
ブテール溝）である。
（作用） 本発明によれば、傾斜手段を両ディスク間の環状の軌
道内の任意の位置に移動し、かつ、そこに保持させた状
態で、動作させることにより、一方のディスク部品は他
方のディスク部品に対して任意の方向に傾くことにな
る。
道内の任意の位置に移動し、かつ、そこに保持させた状
態で、動作させることにより、一方のディスク部品は他
方のディスク部品に対して任意の方向に傾くことにな
る。
（実施例） 以下図面を参照して、本発明の実施例について述べ
る。
る。
第１図〜第６図には、11および12と番号付けされた同
じ直径を有する二つの円筒形の上方および下方ディスク
と、これ等のディスクよりなる本発明の実施例の装置10
が示されている。ディスク11はディスク12の上に置かれ
る。両ディスクには、中央部にそれぞれ穴14および16を
有する。穴14の頂部の径は穴16の径より大きく、また、
穴14の底部の径よりも大きい。
じ直径を有する二つの円筒形の上方および下方ディスク
と、これ等のディスクよりなる本発明の実施例の装置10
が示されている。ディスク11はディスク12の上に置かれ
る。両ディスクには、中央部にそれぞれ穴14および16を
有する。穴14の頂部の径は穴16の径より大きく、また、
穴14の底部の径よりも大きい。
穴14の上方の部分は、第４図〜第６図に見られるよう
に、螺刻されていて、或る方向に精密に向けられなけれ
ばならない器具を保持するための垂直ロッドをそこにね
じ止めすることができる。ブッシュ18は、ディスク11お
よび12を互に実質的に同軸に維持するように、拘束部材
として作用する。ブッシュ18の外径は穴16の径よりも僅
かに小さくなっていて、以下に述べるように、ディスク
11,12の前記同軸関係を大きく損うことなしに、ディス
ク11のディスク12に対する傾斜を可能にする。ねじ20が
ブッシュ18の螺刻部の中へ螺入し、そして、穴14の拡径
部の下方に収る。押しばね（圧縮スプリング）22がブッ
シュ18の底部の段部19とディスク12の内部面39との間に
具えられている。該ばね22は、ディスク11と12とが互に
押合うように作用する。
に、螺刻されていて、或る方向に精密に向けられなけれ
ばならない器具を保持するための垂直ロッドをそこにね
じ止めすることができる。ブッシュ18は、ディスク11お
よび12を互に実質的に同軸に維持するように、拘束部材
として作用する。ブッシュ18の外径は穴16の径よりも僅
かに小さくなっていて、以下に述べるように、ディスク
11,12の前記同軸関係を大きく損うことなしに、ディス
ク11のディスク12に対する傾斜を可能にする。ねじ20が
ブッシュ18の螺刻部の中へ螺入し、そして、穴14の拡径
部の下方に収る。押しばね（圧縮スプリング）22がブッ
シュ18の底部の段部19とディスク12の内部面39との間に
具えられている。該ばね22は、ディスク11と12とが互に
押合うように作用する。
ディスク11および12は、それぞれ、第１図〜第６図に
見られるように、縁部に溝24、26を有しており、これ等
の溝が共働して一つの環状のあり溝（ダブテール溝）軌
道38を形成する（第5,6図）。
見られるように、縁部に溝24、26を有しており、これ等
の溝が共働して一つの環状のあり溝（ダブテール溝）軌
道38を形成する（第5,6図）。
ウエッジ30は、第７図によく示されるように、環状の
あり溝軌道38のセクションに丁度一致する形状に作られ
ている。ウエッジ30は、その中心を通る螺刻穴32を有し
ていて、ねじ34がこの螺刻穴32に螺合する。ねじ34の先
端がウエッジ30から突出していないときには、ウエッジ
30はあり溝軌道38に沿って自由に動くことができる。ね
じ34が内方に螺入して、その先端があり溝38の壁28を押
し付けるようになると、ウエッジ30を外方へ強制する。
これによって、ディスク11をディスク12に対して斜の位
置に強制する。ディスク11と12との間の角度は、ウエッ
ジ30内のねじ34の相対位置を変えることによって調節さ
れる。
あり溝軌道38のセクションに丁度一致する形状に作られ
ている。ウエッジ30は、その中心を通る螺刻穴32を有し
ていて、ねじ34がこの螺刻穴32に螺合する。ねじ34の先
端がウエッジ30から突出していないときには、ウエッジ
30はあり溝軌道38に沿って自由に動くことができる。ね
じ34が内方に螺入して、その先端があり溝38の壁28を押
し付けるようになると、ウエッジ30を外方へ強制する。
これによって、ディスク11をディスク12に対して斜の位
置に強制する。ディスク11と12との間の角度は、ウエッ
ジ30内のねじ34の相対位置を変えることによって調節さ
れる。
ディスク11の斜の位置の方向は、ウエッジ30がねじ34
によって外方へ押され始める前のウエッジの当初の位置
によって決定される。第７図に示されるように、ウエッ
ジ30は、ディスク11と12がウエッジ30の端部37、36に安
着するように、中央部が凹んでいる。このことは、ディ
スク11と12の間の安定したそしてしっかりとした接触を
保つのに役立つ。下方ディスク12は、その底部に複数の
螺刻穴27,29の手段によって、ベースプレートを取り付
けることができる。
によって外方へ押され始める前のウエッジの当初の位置
によって決定される。第７図に示されるように、ウエッ
ジ30は、ディスク11と12がウエッジ30の端部37、36に安
着するように、中央部が凹んでいる。このことは、ディ
スク11と12の間の安定したそしてしっかりとした接触を
保つのに役立つ。下方ディスク12は、その底部に複数の
螺刻穴27,29の手段によって、ベースプレートを取り付
けることができる。
実際の使用に際し、目標に向けられるべき、ダイヤル
テストインジケータのごとき、器具をセットするに当っ
て、最初に、ねじ34を弛めて、ウエッジ30が自由にあり
溝軌道38に沿って回ることができるようにする。次い
で、ウエッジ30を所望の回転位置にもたらし、そこでね
じ34を内方にねじ込めば、上方ディスク11が、所望の方
向に於いて、下方ディスク12に対して傾斜せしめられ
る。
テストインジケータのごとき、器具をセットするに当っ
て、最初に、ねじ34を弛めて、ウエッジ30が自由にあり
溝軌道38に沿って回ることができるようにする。次い
で、ウエッジ30を所望の回転位置にもたらし、そこでね
じ34を内方にねじ込めば、上方ディスク11が、所望の方
向に於いて、下方ディスク12に対して傾斜せしめられ
る。
第８図および第９図には、第５図および第６図に示さ
れたものと同様な他の微調整装置40が示されている。上
方ディスク41は第５図に示されたディスク11と同様なも
のであるが、このディスク41は異なった形状の溝を有し
ている。すなわち、溝の上方壁に半円形の環状の溝52を
有する形状になっている。また、下方ディスク42は、全
体が平坦な上方面を有しているだけである。上記環状溝
52を含む上方壁と上記上方面との間の領域が軌道50を形
成する。第10図にその詳細が示されているＬ字形のレバ
ー43が、軌道50内で自由に軌道に沿って動くことができ
るように構成されている。二つの小さな、頭部に丸みを
付けられた、ピン48がレバー43の上面に植込まれてい
る。該ピン48は該環状溝52に嵌入して、レバー43の軌道
50からの逸脱を防止すると共に、レバー43をディスク41
および42の軸の周りに、軌道に沿って、自由に回転でき
るようにしている。レバー43は曲った足44を具え、そこ
に螺刻穴45を有している。該穴45の中へ微調整ねじ46が
螺入する。
れたものと同様な他の微調整装置40が示されている。上
方ディスク41は第５図に示されたディスク11と同様なも
のであるが、このディスク41は異なった形状の溝を有し
ている。すなわち、溝の上方壁に半円形の環状の溝52を
有する形状になっている。また、下方ディスク42は、全
体が平坦な上方面を有しているだけである。上記環状溝
52を含む上方壁と上記上方面との間の領域が軌道50を形
成する。第10図にその詳細が示されているＬ字形のレバ
ー43が、軌道50内で自由に軌道に沿って動くことができ
るように構成されている。二つの小さな、頭部に丸みを
付けられた、ピン48がレバー43の上面に植込まれてい
る。該ピン48は該環状溝52に嵌入して、レバー43の軌道
50からの逸脱を防止すると共に、レバー43をディスク41
および42の軸の周りに、軌道に沿って、自由に回転でき
るようにしている。レバー43は曲った足44を具え、そこ
に螺刻穴45を有している。該穴45の中へ微調整ねじ46が
螺入する。
ディスクが傾斜していない平常の位置にあるときは、
ねじ46はディスク42の円筒側壁面47に接していない。ね
じ46が内方にねじ込まれると、ねじの先端が壁面47を押
し、これによって、レバー43はディスク41の一方の側を
上方に押上げ、ディスク41を第９図に示されるような傾
斜位置にもたらす。
ねじ46はディスク42の円筒側壁面47に接していない。ね
じ46が内方にねじ込まれると、ねじの先端が壁面47を押
し、これによって、レバー43はディスク41の一方の側を
上方に押上げ、ディスク41を第９図に示されるような傾
斜位置にもたらす。
第11図〜第13図は、第５図および第６図に示された微
調整装置を用いた測定スタンドにセットされたダイヤル
テストインジケータの二つの異なったセッティングを示
している。第11図および第12図は、それぞれ、ダイヤル
テストインジケータ104を用いて測定するための測定組
立体に適用された本発明の微調整装置（または微調整装
置組立体）101を示す側面図ならびに平面図である。微
調整用のねじ111を具えた円筒状の微調整装置組立体101
が、作業台に載置されたベースプレート102の上に固定
されている。垂直ロッド103が該微調整装置組立体101の
上方ディスクの中に螺入して、これに固定されている。
測定チップ（接触チップ）107とダイヤル108を具えたテ
ストインジケータ104が、一般に水平なロッド105に調整
可能に取り付けられている。該ロッド105は、スイベル
クランプ106の手段によって垂直ロッド103にクランプさ
れている。測定に際し、このテストインジケータのセッ
トアップを測定位置の近くに位置せしめ、次いで、テス
トインジケータの測定チップ107が、本発明の微調整装
置を利用することにより、測定すべき表面110との接触
にもたらされる。すなわち、テストインジケータ104
が、第11図に示されるような、測定位置の近くにもたら
された後、微調整ねじ111を作動して、ロッド103を矢印
112の方向に傾斜せしめ、インジケータ104を、チップ10
7の測定表面110への所望の接触が行われるまで、該測定
表面110へ近接せしめる。
調整装置を用いた測定スタンドにセットされたダイヤル
テストインジケータの二つの異なったセッティングを示
している。第11図および第12図は、それぞれ、ダイヤル
テストインジケータ104を用いて測定するための測定組
立体に適用された本発明の微調整装置（または微調整装
置組立体）101を示す側面図ならびに平面図である。微
調整用のねじ111を具えた円筒状の微調整装置組立体101
が、作業台に載置されたベースプレート102の上に固定
されている。垂直ロッド103が該微調整装置組立体101の
上方ディスクの中に螺入して、これに固定されている。
測定チップ（接触チップ）107とダイヤル108を具えたテ
ストインジケータ104が、一般に水平なロッド105に調整
可能に取り付けられている。該ロッド105は、スイベル
クランプ106の手段によって垂直ロッド103にクランプさ
れている。測定に際し、このテストインジケータのセッ
トアップを測定位置の近くに位置せしめ、次いで、テス
トインジケータの測定チップ107が、本発明の微調整装
置を利用することにより、測定すべき表面110との接触
にもたらされる。すなわち、テストインジケータ104
が、第11図に示されるような、測定位置の近くにもたら
された後、微調整ねじ111を作動して、ロッド103を矢印
112の方向に傾斜せしめ、インジケータ104を、チップ10
7の測定表面110への所望の接触が行われるまで、該測定
表面110へ近接せしめる。
表面110に対して直角方向の表面120について測定を行
う必要がある場合には、テストインジケータ104を90゜
回転して第13図に示すように位置せしめる。表面120に
対するテストインジケータ104の微調整は、ベースプレ
ート102の作業台（図示せず）上の位置を動かすことな
く、微調整ねじ111を具えたウエッジを、第13図に示す
位置に、円形軌道（環状あり溝軌道）に沿って回転する
ことによって達成できる。第13図では、テストインジケ
ータ104の接触チップ107を所望の位置にもたらすのに必
要な動きの方向は、第12図のそれに対してほぼ90゜ずれ
ている。
う必要がある場合には、テストインジケータ104を90゜
回転して第13図に示すように位置せしめる。表面120に
対するテストインジケータ104の微調整は、ベースプレ
ート102の作業台（図示せず）上の位置を動かすことな
く、微調整ねじ111を具えたウエッジを、第13図に示す
位置に、円形軌道（環状あり溝軌道）に沿って回転する
ことによって達成できる。第13図では、テストインジケ
ータ104の接触チップ107を所望の位置にもたらすのに必
要な動きの方向は、第12図のそれに対してほぼ90゜ずれ
ている。
（発明の効果） 以上述べた如く、本発明によれば、一方のディスク部
品を他方のディスク部品に対して傾けるための傾斜手段
が、該ディスクに沿う円形軌道の中を何れの位置にも回
転することができるので、ほとんど全ての必要性を満た
す、多方向への微調整のための動きを得ることが可能で
ある。
品を他方のディスク部品に対して傾けるための傾斜手段
が、該ディスクに沿う円形軌道の中を何れの位置にも回
転することができるので、ほとんど全ての必要性を満た
す、多方向への微調整のための動きを得ることが可能で
ある。
第１図は下方ディスクの平面図である。 第２図は第１図のＡ−Ａ線に沿った下方ディスクの断面
図である。 第３図は第１図および第２図に示された下方ディスクに
結合する上方ディスクの平面図である。 第４図は第３図のＢ−Ｂ線に沿った上方ディスクの断面
図である。 第５図は第１図〜第４図に示された二つのディスク部品
よりなる微調整装置の断面図である。 第６図は第５図に示された微調整装置の、傾斜位置にあ
るときの、断面図である。 第７図は第５図および第６図に示されたウエッジの斜視
図である。 第８図は、本発明に従った、微調整装置の他の実施例を
示す断面図である。 第９図は、第８図に示された装置が傾斜位置にあるとき
の断面図である。 第10図は、第８図および第９図に示されたレバーの斜視
図である。 第11図は、本発明に従った、ダイヤルテストインジケー
タの側面図である。 第12図は、第11図のダイヤルテストインジケータの平面
図である。 第13図は、傾斜手段が第12図の位置に対して直角の方向
に位置しているときの、第11図および第12図に示された
ダイヤルテストインジケータの平面図である。 10、40……微調整装置組立体、11……上方ディスク、12
……下方ディスク、24、26……環状溝、30……ウエッ
ジ、38……環状のあり溝（ダブテール）軌道、34……微
調整ねじ、22……圧縮ばね、41……上方ディスク、42…
…下方ディスク、43……Ｌ字形レバー、46……微調整ね
じ、48……ピン、50……環状の軌道、52……円周方向の
溝、101……微調整装置組立体、104……ダイヤルテスト
インジケータ、110、120……測定表面、
図である。 第３図は第１図および第２図に示された下方ディスクに
結合する上方ディスクの平面図である。 第４図は第３図のＢ−Ｂ線に沿った上方ディスクの断面
図である。 第５図は第１図〜第４図に示された二つのディスク部品
よりなる微調整装置の断面図である。 第６図は第５図に示された微調整装置の、傾斜位置にあ
るときの、断面図である。 第７図は第５図および第６図に示されたウエッジの斜視
図である。 第８図は、本発明に従った、微調整装置の他の実施例を
示す断面図である。 第９図は、第８図に示された装置が傾斜位置にあるとき
の断面図である。 第10図は、第８図および第９図に示されたレバーの斜視
図である。 第11図は、本発明に従った、ダイヤルテストインジケー
タの側面図である。 第12図は、第11図のダイヤルテストインジケータの平面
図である。 第13図は、傾斜手段が第12図の位置に対して直角の方向
に位置しているときの、第11図および第12図に示された
ダイヤルテストインジケータの平面図である。 10、40……微調整装置組立体、11……上方ディスク、12
……下方ディスク、24、26……環状溝、30……ウエッ
ジ、38……環状のあり溝（ダブテール）軌道、34……微
調整ねじ、22……圧縮ばね、41……上方ディスク、42…
…下方ディスク、43……Ｌ字形レバー、46……微調整ね
じ、48……ピン、50……環状の軌道、52……円周方向の
溝、101……微調整装置組立体、104……ダイヤルテスト
インジケータ、110、120……測定表面、
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01B 5/00 - 5/30 G01B 3/22 G01B 21/00
Claims (6)
- 【請求項１】ディスク部品の軸に沿って位置する結合手
段によって互に同軸的に隣接して保持される二つのディ
スク部品と、一方のディスク部品を他方のディスク部品
に対して傾けるための傾斜手段とを備え、該傾斜手段
は、円周方向の環状の軌道内に位置し、かつ、該軌道上
の何れの位置にも保持することが可能に構成されてな
る、多方向微調整装置。 - 【請求項２】円周方向の環状の軌道が半径方向の外側方
向において内側に向かって傾斜しており、その少なくと
も一つの傾斜側面が該ディスク部品の対向した面の一つ
に形成され、該傾斜手段が該軌道の前記形状に合致した
断面を有するウェッジと、該軌道上で、該ウェッジの位
置を半径方向に調整するための手段とよりなる、特許請
求の範囲第１項記載の多方向微調整装置。 - 【請求項３】円周方向の環状の軌道が、該二つのディス
ク部品の内の一方のディスク部品の、軸に対して直角方
向の少なくとも一つの対向面に形成された、円周方向に
延長する溝と、該二つのディスク部品の内の他方のディ
スク部品の対向面とよりなり、該傾斜手段が、該一方の
ディスク部品の該溝に係合するピン手段と、該他方のデ
ィスク部品の該対向面に係合する部品とを具えたレバー
を含み、該レバーはさらに該レバーを該溝の周りに傾け
るための手段を備えている、特許請求の範囲第１項記載
の多方向微調整装置。 - 【請求項４】円周方向の環状の軌道が外方へ傾斜した環
状のダブテール形状を有し、その傾斜側面が該ディスク
部品のそれぞれの互に対向した面に形成され、該傾斜手
段が該軌道の前記形状に合致した断面を有するウェッジ
と、該軌道上で、該ウェッジの位置を半径方向に調整す
るための手段とよりなる、特許請求の範囲第１項又は第
２項記載の多方向微調整装置。 - 【請求項５】円周方向の環状の軌道が、該二つのディス
ク部品の内の一方のディスク部品の、軸に対して直角方
向の対向面に形成された、円周方向に延長する溝と、該
二つのディスク部品の内の他方のディスク部品の対向面
とよりなり、該傾斜手段が、該一方のディスク部品の該
溝に係合するピン手段と、該他方のディスク部品の該対
向面に係合する部品とを具えたレバーを含み、該レバー
はさらに該レバーを該溝の周りに傾けるための手段を備
えている、特許請求の範囲第１項又は第３項記載の多方
向微調整装置。 - 【請求項６】ダイヤルテストインジケータの部品を構成
する特許請求の範囲第１項乃至第５項のいずれか１項に
記載の多方向微調整装置。
Applications Claiming Priority (2)
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|---|---|---|---|
| IL92919 | 1989-12-12 | ||
| IL8992919A IL92919A (en) | 1989-12-28 | 1989-12-28 | Fine adjusting means for instruments |
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