JPH04194601A - 多方向微調整装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は微調整装置に関し、詳しくは、ダイヤルテスト
インジケータのような、成る目標方向に精密に向けられ
なければならない器具のための新規な微調整装置に関す
る。

（従来の技術） ダイヤルテストインジケータは、一方のものの他方のも
のに対する部品の表面を整列及び測定するために、機械
産業において、広く使用されている。ダイヤルテストイ
ンジケータは、デリケートな測定機であり、そしてその
測定レンジも限定されているので、通常、測定表面に近
接させなければならない。ダイヤルテストインジケータ
は、その末端に可動の接触チップを有している。ダイヤ
ルテストインジケータは、通常、クランプ可能な腕とジ
ヨイントを具えた測定スタンドに取り付けられる。

接触チップの位置決めは、測定スタンドに取り付けられ
た（通常、スタンドのベース部に取り付けられる）微調
整装置によって行われる。この微調整装置は精密に制御
された動きによって、接触チップを測定すべき表面に接
触させることができる。従来、ダイヤルテストインジケ
ータには、測定表面の近（にインジケータの接触チ・ン
プを持ってくるための微調整手段を具えてはいるが、こ
の公知の測定スタンドの微調整装置は、インジケータに
対して、所定の一方向のみの動きを行うだけである。

（発明が解決しようとしている課題） それ故、従来の微調整装置では、接触チ・ツブが、接触
されるべき表面に近接する方向に動くのではなく、表面
に平行な方向に動いてしまうということが屡々生ずる。

このことが生ずると、微調整装置はもはや用をなさな（
なり、使用に適するようにするために、インジケータの
測定スタンドのベースの位置を変更しなければならない
。このペース位置の変更は作業者にとって重荷であり、
また、作業テーブルの上にある他の物体が邪魔になって
変更が全く不可能なこともある。

本発明は上記したような従来技術の欠点を克服するため
に為されたものであり、従って、本発明の主要な目的は
、インジケータの接触チップを多方向にわたって微調整
することのできる多方向微調整装置を提供することであ
る。

（課題を解決するための手段） 本発明に従って、ディスクの軸に沿って位置する結合手
段によって互に同軸的に隣接して保持される二つのディ
スクと、一方のディスクを他方に対して傾けるための傾
斜手段とよりなり、該傾斜手段は、両ディスク間の円周
方向の軌道内に位置し、該軌道上を移動可能であり、軌
道上の何れの位置にも位置することができるように構成
された、多方向微調整装置が提供される。

本発明の微調整装置は、所望の方向に精密に向けられな
ければならにような器具と共に使用されるものである。

本発明の微調整装置は、精密な向きに調整することを必
要とするダイヤルテストインジケータに対して使用する
のに特に適しているけれども、他の同様な器具、たとえ
ば、潤滑油の細い流れを、動作点に正確に向けるために
、穴明は機やタッピング機に対しても使用することがで
きる。

環状の軌道と軌道内に位置した傾斜手段の部品は、ディ
スク（複数）が互に平行になっている場合に、該傾斜手
段は容易に軌道内を回転可能であり、一方、ディスクの
一つが傾斜位置にある場合には、傾斜手段は軌道上の一
つの位置に固定して保持される。

本発明の好ましい実施例によれば、環状の軌道を構成す
る溝は、上方ディスクの下方縁部と下方ディスクの上方
縁部を機械加工することによって作られるあり溝（ダブ
テール溝）である。

（作用） 本発明によれば、傾斜手段を両ディスク間の環状の軌道
内の任意の位置に移動し、かつ、そこに保持させた状態
で、動作させることにより、一方のディスク部品は他方
のディスク部品に対して任意の方向に傾くことになる。

（実施例） 以下図面を参照して、本発明の実施例について述べる。

第１図〜第６図には、１１および１２と番号付けされた
同じ直径を有する二つの円筒形の上方および下方ディス
クと、これ等のディスクよりなる本発明の実施例の装置
１０が示されている。ディスク１１はディスク１２の上
に置かれる。両ディスクには、中央部にそれぞれ穴１４
および１６を有する。穴１４の頂部の径は穴１６の径よ
り大きく、また、穴１４の底部の径よりも大きい。

穴１４の上方の部分は、第４図〜第６図に見られるよう
に、螺刻されていて、成る方向に精密に向けられなけれ
ばならない器具を保持するための垂直ロッドをそこにね
じ止めすることができる。

ブツシュ１８は、ディスク１１および１２を互に実質的
に同軸に維持するように、拘束部材として作用する。ブ
ツシュ１８の外径は穴１６の径よりも僅かに小さくなっ
ていて、以下に述べるように、ディスク１１．１２の前
記同軸関係を大きく損うことなしに、ディスク１１のデ
ィスク１２に対する傾斜を可能にする。ねじ２０がブツ
シュ１８の螺刻部の中へ螺太し、そして、穴１４の拡径
部の下方に収る。押しばね（圧縮スプリング）２２力く
ブツシュ１８の底部の段部１９とディスク１２の内部面
３９との間に具えられている。該ばね２２は、ディスク
１１と１２とが互に押合うように作用する。

ディスク１１および１２は、それぞれ、第１図〜第６図
に見られるように、縁部に溝２４．２６を有しており、
これ等の溝が共働して一つの環状のあり溝（ダブテール
溝）軌道３８を形成する（第５，６図）。

ウェッジ３０は、第７図によく示されるように、環状の
あり溝軌道３８のセクションに丁度一致する形状に作ら
れている。ウェッジ３０は、その中心を通る螺刻穴３２
を有していて、ねじ３４カ（この螺刻穴３２に螺合する
。ねじ３４の先端力（ウェッジ３０から突出していない
ときには、ウェッジ３０はあり溝軌道３８に沿って自由
に動くこと力（できる。ねじ３４が内方に螺入して、そ
の先端力（あり溝３８の壁２８を押し付けるようになる
と、ウェッジ３０を外方へ強制する。これによって、デ
ィスク１１゛をディスク１２に対して斜の位置に強制す
る。ディスク１１と１２との間の角度は、ウェッジ３０
内のねじ３４の相対位置を変えることによって調節され
る。

ディスク１１の斜の位置の方向は、ウニ・ノジ３０がね
じ３４によって外方へ押され始める前のウェッジの当初
の位置によって決定される。第７図に示されるように、
ウェッジ３０は、ディスク１１と１２がウェッジ３０の
端部３７．３６に安着するように、中央部が凹んでいる
。このことは、ディスク１１と１２の間の安定したそし
てしっかりとした接触を保つのに役立つ。下方ディスク
１２は、その底部に複数の螺刻穴２７．２９の手段によ
って、ベースプレートに取り付けることができる。

実際の使用に際し、目標に向けられるべき、ダイヤルテ
ストインジケータのごとき、器具をセ・ン卜するに当っ
て、最初に、ねじ３４を弛めて、ウェッジ３０が自由に
あり溝軌道３８に沿って回ることができるようにする。

次いで、ウェッジ３０を所望の回転位置にもたらし、そ
こでねじ３４を内方にねじ込めば、上方ディスク１１が
、所望の方向に於いて、下方ディスク１２に対して傾斜
せしめられる。

第８図および第９図には、第５図および第６図に示され
たものと同様な他の微調整装置４０が示されている。上
方ディスク４１は第５図に示されたディスク１１と同様
なものであるが、このディスク４１は異なった形状の溝
を有している。すなわち、溝の上方壁に半円形の環状の
溝５２を有する形状になっている。また、下方ディスク
４２は、全体が平坦な上方面を有しているだけである。

上記環状溝５２を含む上方壁と上記上方面との間の領域
が軌道５０を形成する。第１０図にその詳細が示されて
いるＬ字形のレバー４３が、軌道５０内で自由に軌道に
沿って動くことができるように構成されている。二つの
小さな、頭部に丸みを付けられた、ビン４８がレバー４
３の上面に植込まれている。該ピン４８は該環状溝５２
に嵌入して、レバー４３の軌道５０からの逸脱を防止す
ると共に、レバー４３をディスク４１および４２の軸の
周りに、軌道に沿って、自由に回転できるようにしてい
る。レバー４３は曲った足４４を具え、そこに螺刻穴４
５を有している。該穴４５の中へ微調整ねじ４６が螺入
する。

ディスクが傾斜していない平常の位置にあるときは、ね
じ４６はディスク４２の円筒側壁面４７に接していない
。ねじ４６が内方にねじ込まれると、ねじの先端が壁面
４７を押し、これによって、レバー４３はディスク４１
の一方の側を上方に押上げ、ディスク４１を第９図に示
されるような傾斜位置にもたらす。

第１１図〜第１３図は、第５図および第６図に示された
微調整装置を用いた測定スタンドにセットされたダイヤ
ルテストインジケータの二つの異なったセツティングを
示している。第１１図および第１２図は、それぞれ、ダ
イヤルテストインジケータ１０４を用いて測定するため
の測定組立体に適用された本発明の微調整装置（または
微調整装置組立体）１０１を示す側面図ならびに平面図
である。微調整用のねじ１１１を具えた円筒状の微調整
装置組立体１０１が、作業台に載置されたベースプレー
ト１０２の上に固定されている。垂直ロッド１０３が該
微調整装置組立体１０１の上方ディスクの中に螺入して
、これに固定されている。測定チップ（接触チップ）１
０７とダイヤル１０８を具えたテストインジケータ１０
４が、−般に水平なロッド１０５に調整可能に取り付け
られている。該ロッド１０５は、スイベルクランプ１０
６の手段によって垂直ロッド１０３にクランプされてい
る。測定に際し、このテストインジケータのセットアツ
プを測定位置の近くに位置せしめ、次いで、テストイン
ジケータの測定チップ１０７が、本発明の微調整装置を
利用することにより、測定すべき表面１１０との接触に
もたらされる。すなわち、テストインジケータ１０４が
、第１１図に示されるような、測定位置の近くにもたら
された後、微調整ねじ１１１を作動して、ロッド１０３
を矢印１１２の方向に傾斜せしめ、インジケータ１０４
を、チップ１０７の測定表面１１０への所望の接触が行
われるまで、該測定表面１１０へ近接せしめる。

表面１１０に対して直角方向の表面１２０について測定
を行う必要がある場合には、テストインジケータ１０４
を９０°回転して第１３図に示すように位置せしめる。

表面１２０に対するテストインジケータ１０４の微調整
は、ベースプレート１０２の作業台（図示せず）上の位
置を動かすことなく、微調整ねじ１１１を具えたウェッ
ジを、第１３図に示す位置に、円形軌道（環状あり溝軌
道）に沿って回転することによって達成できる。

第１３図では、テストインジケータ１０４の接触チップ
１０７を所望の位置にもたらすのに必要な動きの方向は
、第１２図のそれに対してほぼ９００ずれている。

（発明の効果） 以上述べた如く、本発明によれば、一方のディスク部品
を他方のディスク部品に対して傾けるための傾斜手段が
、該ディスクに沿う円形軌道の中を何れの位置にも回転
することができるので、はとんど全ての必要性を満たす
、多方向への微調整のための動きを得ることが可能であ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は下方ディスクの平面図である。 第２図は第１図のＡ−Ａ線に沿った下方ディスクの断面
図である。 第３図は第１図および第２図に示された下方ディスクに
結合する上方ディスクの平面図である。 第４図は第３図のＢ−Ｂ線に沿った上方ディスクの断面
図である。 第５図は第１図〜第４図に示された二つのディスク部品
よりなる微調整装置の断面図である。 第６図は第５図に示された微調整装置の、傾斜位置にあ
るときの、断面図である。 第７図は第５図および第６図に示されたウェッジの斜視
図である。 第８図は、本発明に従った、微調整装置の他の実施例を
示す断面図である。 第９図は、第８図に示された装置が傾斜位置にあるとき
の断面図である。 第１０図は、第８図および第９図に示されたレバーの斜
視図である。 第１１図は、本発明に従った、ダイヤルテストインジケ
ータの側面図である。 第１２図は、第１１図のダイヤルテストインジケータの
平面図である。 第１３図は、傾斜手段が第１２図の位置に対して直角の
方向に位置しているときの、第１１図および第１２図に
示されたダイヤルテストインジケータの平面図である。 １０．４０・・・微調整装置組立体、１１・・・上方デ
ィスク、１２・・・下方ディスク、２４．２６・・・環
状溝、３０・・・ウェッジ、３８・・・環状のあり溝（
ダブテール）軌道、３４・・・微調整ねじ、２２・・・
圧縮ばね、４１・・・上方ディスク、４２・・・下方デ
ィスク、４３・・・Ｌ字形レバー、４６・・・微調整ね
じ、４８・・・ピン、５０・・・環状の軌道、５２・・
・円周方向の溝、１０１・・・微調整装置組立体、１０
４・・・ダイヤルテストインジケータ、１１０．１２０
・・・測定表面１．７１２ 下方ディスクの平面図 第１図 ノ ア 第１図のＡ−Ａ断面 第２図 北方ディスクの平面図 第３図 第３図のＢ−Ｂ断面 第４図 、１０杢究明実施例の装■ 第５図 第５図の微調整装置が傾斜位−にあるときの断面図第６
図 ウェッジの斜視図 第７図 ４０本究明の他の実施例の装置 本児明の他の実施例圏示す第５図と同様な図面第８図 第７図の装置が傾斜位冒にあるときの断面図第９図 り字形レバーのｉ覆面 第１０図 第１１図 第　１ど　図

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）ディスク部品の軸に沿って位置する結合手段（１
   ８、２０）によって互に同軸的に隣接して保持される二
   つのディスク部品（１１、１２、および４１、４２）と
   、一方のディスク部品を他方のディスク部品に対して傾
   けるための傾斜手段（３０、３４、および４３、４６、
   ４８）とよりなり、該傾斜手段は、両ディスク間に形成
   された円周方向の環状の軌道（３８および５０）内に位
   置し、かつ、該軌道上の何れの位置にも保持することが
   可能に構成されたことを特徴とする多方向微調整装置。
2. （２）円周方向の環状の軌道（３８）が外方へ傾斜した
   環状のダブテール形状を有し、その傾斜側面が該ディス
   ク部品（１１、１２）のそれぞれの互に対向した面に形
   成され、該傾斜手段が該軌道の前記形状に合致した断面
   を有するウェッジ（３０）と、該軌道上で、該ウェッジ
   の位置を半径方向に調整するための手段（３４）とより
   なることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の多方
   向微調整装置。
3. （３）円周方向の環状の軌道（５０）が、該二つのディ
   スク部品の内の一方のディスク部品の、軸に対して直角
   方向の対向面に形成された、円周方向に延長する溝（５
   ２）と、該二つのディスク部品の内の他方のディスク部
   品の対向面とよりなり、該傾斜手段が、該一方のディス
   ク部品の該溝（５２）に係合するピン手段（４８）と、
   該他方のディスク部品の該対向面に係合する部分とを具
   えたレバー（４３）を含み、該レバーはさらに該レバー
   を該溝（５２）の周りに傾けるための手段（４６）を具
   えていることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
   多方向微調整装置。
4. （４）ダイヤルテストインジケータの部品を構成する特
   許請求の範囲第１項、第２項、または第３項記載の多方
   向微調整装置。