JP3458595B2 - 半導体装置及び電子機器 - Google Patents

半導体装置及び電子機器

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JP3458595B2
JP3458595B2 JP12065696A JP12065696A JP3458595B2 JP 3458595 B2 JP3458595 B2 JP 3458595B2 JP 12065696 A JP12065696 A JP 12065696A JP 12065696 A JP12065696 A JP 12065696A JP 3458595 B2 JP3458595 B2 JP 3458595B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、振幅増幅回路を内
蔵した半導体装置に関し、さらに、この半導体装置を搭
載した通信機器等の電子機器に関する。
【0002】
【従来の技術】近年CMOS半導体において、小振幅な
アナログ入力信号を論理レベルまでに増幅して受け取る
増幅回路で、特に高周波領域においても良好な増幅ゲイ
ンを得るための手段として、帰還抵抗を介したバイアス
回路と反転増幅器の組み合わせから構成したCMOS振
幅増幅回路が、一方法として用いられている。このよう
なCMOS振幅増幅回路の構成としては、特開平04−
212508号公報の3欄37行〜4欄41行および図
1に記載されている。
【0003】以下図2の振幅増幅回路の従来例を用いて
説明する。4は小振幅の被増幅信号を受けるカップリン
グ容量である。半導体チップ上にこの容量素子を形成す
ることは面積効率の面から不利であり、通常は半導体チ
ップの外部に外付けされることが多い。図2の場合にお
いて、b点を半導体チップにおける入力PADとした場
合、カップリング容量4は、bに寄生している浮遊端子
容量を十分に充放電することが可能な容量値に設定する
必要があり、小振幅の被増幅信号は、この適切な容量値
を確保した容量4を介して、ほぼa点の電圧振幅を維持
して半導体チップ端子のb点に受けられる。7はP型M
OSFETのトランジスタQ1とN型MOSFETのト
ランジスタQ2とで構成された第1の反転増幅インバー
タである。ここで、一般にインバータには入力電圧を徐
々に変化させた場合に出力が反転し始める回路しきい値
電圧が存在するが、そのしきい値電圧を以下、そのイン
バータのロジックレベルと呼ぶ。前記インバータ1の入
力端子b点を、7のロジックレベル近傍にバイアスして
おくことにより、点bにアナログ信号で比較的小振幅な
変化が起こった場合にでも、その変化がロジックレベル
を横切ることで反転増幅が行なわれ、増幅信号がc点に
出力される。
【0004】前記7のロジックレベル近傍のバイアス電
圧は、8と10から構成されるバイアス回路により得ら
れる。8は第2の反転増幅インバータであり、P型MO
SFETのトランジスタQ3とN型MOSFETのトラ
ンジスタQ4とで構成される。10はアナログスイッチ
でP型MOSFETのトランジスタQ7とN型MOSF
ETのトランジスタQ8から構成される。トランジスタ
Q8のゲート端子には電源電圧VDDが印可され、トラ
ンジスタQ7のゲート端子は接地されているため、トラ
ンジスタQ7,Q8は共に常時オン状態となっており、
10はトランジスタのオン抵抗を利用した抵抗器として
機能する。
【0005】よって、8の入力端子と出力端子は10を
介して接続されていることになり、さらに8の出力端子
は、7の入力端子(点b)に接続をしており、前記バイ
アス回路のバイアス電圧出力端子となる。8の出力電圧
は10を介して負帰還し、Q7,Q8のゲート端子電圧
をコントロールするため、b点において被増幅信号に変
化がない時には、8の出力電圧は8自体のロジックレベ
ル近傍に落ち着くことになる。インバータのロジックレ
ベルは、そのインバータを構成するPチャンネルトラン
ジスタとNチャンネルトランジスタの各トランジスタの
電流係数の比によって決まる。そこで、8を構成するト
ランジスタQ3とQ4の互いのトランジスタサイズ比の
関係と、7を構成するトランジスタQ1とQ2の互いの
トランジスタサイズ比の関係とを相対的に同じ比例関係
に設定する。(数式1,数式2参照)
【0006】
【数1】
【0007】
【数2】
【0008】とする。
【0009】この関係が保たれることで、8のロジック
レベルと7のロジックレベルはほぼ同じとなり、前記バ
イアス回路によるb点のバイアス電圧は、7のロジック
レベルとほぼ同じ電圧が得られ、小振幅入力信号に対し
て正常に振幅増幅動作をすることが可能となる。9はP
型MOSFETのトランジスタQ5とN型MOSFET
のトランジスタQ6とで構成された第3の反転増幅イン
バータである。9は7に次いで2段目の増幅を担ってお
り、c点において十分なゲインが得られず論理レベル
(電源電圧レベル)にまでに電圧振幅が振れていない7
の出力信号を受けて、さらに振幅増幅をおこない、d点
出力時には完全な論理方形波に整形する。以上が図2の
従来例における振幅増幅回路の構成と動作原理である。
この様な構成をとることにより得られる利点は、増幅部
とバイアス部を分離して持つことで増幅インバータ自体
には、負帰還がかかることが無くなるため増幅動作にお
いて比較的に高利得が得られることである。
【0010】ところで、前記振幅増幅回路が内蔵される
半導体チップや通信機器等の電子機器において、前記振
幅増幅回路の動作中に被増幅信号にリップルが乗った場
合、図2のb点では、被増幅信号の電圧振幅分がリップ
ルによる変動振幅分に打ち消されてしまい、被増幅信号
の電圧レベルが7のロジックレベルを横切らず、正常な
出力を得ない誤動作を起こす危険がある。被増幅信号に
前記のリップルが乗ることを想定した場合のノイズ耐久
対策としては、前記振幅増幅回路内のハイパスフィルタ
のカットオフ周波数を考慮して時定数を設定することが
有効である。ハイパスフィルタにおけるカットオフ周波
数は、カットオフ周波数をfc[Hz]とすると、次式
で示される。
【0011】
【数3】
【0012】ここで、図2の場合に適用すると、Cはカ
ップリング容量4の容量値[F]、Rは帰還抵抗10で
あるアナログスイッチのオン抵抗値[Ω]とQ3、Q4
のトランジスタのオン抵抗値r[Ω]の和に相当する。
ある一定周波数以下のノイズをカットしたい場合には、
帰還抵抗9とカップリング容量4の容量値からなる時定
数を適切な値に設定する必要がある。ここでカットオフ
周波数を高く取りたい場合は、前記のとおりCは端子の
浮遊容量をドライブするために、ある一定値以下に下げ
ることができず、よってRを小さくして対応をとること
になる。このことから、バイアス電圧発生用インバータ
の電流係数をある水準以下に小さくすることができない
ため、本回路が消費する電流の省力化についてもある一
定レベルで限界となる。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】一方、前記振幅増幅回
路が内蔵される半導体チップや通信機器等の電子機器分
野においては、バッテリー駆動による携帯化の流れで、
省電力化が課題となっている。その一対策として、シス
テムがスタンバイ状態にある時に不要となる一部の回路
に対してその動作を静止状態にさせる手段をとる場合が
多い。
【0014】しかしながら、前記従来の振幅増幅回路に
あっては、小振幅信号の入力が無い場合や入力信号が入
力していても増幅出力を必要としない場合において、バ
イアス回路部分は動作を継続しているため、バイアス電
圧を出力している第2の反転増幅インバータとバイアス
電圧がゲート入力している第1の反転増幅インバータと
には継続して貫通電流が流れることになり、不要な動作
電流を消費するという問題を有していた。
【0015】また、前記のとおり被増幅信号に乗ったノ
イズや電源電圧の変動の周波数成分をカットオフする必
要がある場合、図2におけるQ1、Q2とQ3、Q4の
各トランジスタが増幅動作時に消費する電流の下限を、
カットオフ周波数に応じて引き上げなければならないと
いう問題も有していた。
【0016】そこで、本発明は、小振幅信号の振幅増幅
をおこなう回路において、振幅増幅動作の必要が無い場
合に不要な電流の消費を抑えることが可能で、かつ通常
の増幅動作時においてもバイアス供給回路の消費電力を
比較的に小さく抑える事が可能な、低消費電流型の回路
構成を提供するものである。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置は信
号が入力される第1の端子と、前記信号を反転増幅して
出力するクロックドCMOSインバータよりなる第1の
反転増幅器と、前記第1の反転増幅器の入力端子に出力
端子が接続されたクロックドCMOSインバータよりな
る第2の反転増幅器と、を含む半導体装置において、前
記第2の反転増幅器の入力端子と出力端子とを配線を用
いて直接接続したことを特徴とする。さらに前記第2の
反転増幅器の前記入力端子と前記出力端子とを直接接続
する前記配線がAl配線であることを特徴とする。
【0018】また、本発明の半導体装置はコントロール
信号端子をさらに含み、前記コントロール信号端子より
入力される制御信号によって前記第1、第2の反転増幅
器のオン・オフを制御することを特徴とする。
【0019】本発明の電子機器は本発明の半導体装置を
内蔵することを特徴とする。
【0020】
【作用】請求項1記載の発明では、クロックドCMOS
インバータのコントロールゲートにコントロール信号を
入力する構成をとることにより、増幅動作が必要でない
時や被増幅信号の入力が無い時に対して、システム上で
振幅増幅回路の動作開始・停止を制御することが可能と
なる。
【0021】請求項2記載の発明では、前記バイアス回
路部のアナログスイッチからなる帰還抵抗を取り去り、
バイアス電圧発生用インバータの帰還を、直接にアルミ
等の低抵抗配線により接続したことで、カットオフ周波
数の時定数を決める数式3のRの確保を、全てバイアス
電圧発生インバータを構成するトランジスタのオン抵抗
で補うことができるようになる。
【0022】請求項3記載の発明では、請求項1、請求
項2にあるCMOS振幅増幅回路を内蔵することによ
り、内蔵したシステム全体の消費電力の低減が可能とな
る。
【0023】
【発明の実施の形態】以下本発明を図面に基づいて説明
する。
【0024】(実施例)図1は請求項1および請求項2
記載の発明に係わる振幅増幅回路の実施例である。ま
ず、構成を説明する。b点は本発明の回路を内蔵したC
MOS半導体装置の入力端子で、a点よりカップリング
コンデンサ4を介して0.5V振幅で周波数10MHz
程度のsin波が被振幅増幅信号として入力するもので
ある。カップリング容量には、b点の端子浮遊容量を充
分に充放電ができるよう約100pFの容量を用いてい
る。第1のクロックドCMOSインバータ1は被増幅信
号を反転増幅し、第2のクロックドCMOSインバータ
2は、b点をクロックドインバータ2のロジックレベル
にバイアスするものである。1のQ11,Q12及びQ
21,Q22のトランジスタと、2のQ31,Q32及
びQ41,Q42のトランジスタは前記の数式1、数式
2の関係を満たしており、ここでは各トランジスタの電
流係数が全て同じになるよう各々のトランジスタサイズ
の設定をおこなっている。したがって、2のバイアス出
力電圧は1のロジックレベルと同じになっている。
【0025】また、2は入力端子と出力端子がその間に
帰還抵抗等を介さず、直接にアルミ配線により接続され
ている。従来例にあったアナログスイッチにより形成さ
れた帰還抵抗の抵抗値は約500kΩに相当していた
が、その抵抗成分は2を構成するクロックドインバータ
中のQ31とQ41のトランジスタのオン抵抗により補
填するために、Q31とQ41の各トランジスタサイズ
のゲート長とゲート幅の比率を調整して電流係数を小さ
くしている。トランジスタに流れる電流はその電流係数
に正比例するため、電流係数の減少割合に応じて、バイ
アス回路の2に流れる貫通電流が低減できることにな
る。クロックドインバータ1のQ12、Q22とクロッ
クドインバータ2のQ32,Q42のトランジスタはコ
ントロールゲートであり、各ゲートがオンの状態におい
て反転増幅動作およびバイアス出力動作上の影響が無視
できるように、Q11,Q21およびQ31,Q41と
比較して各トランジスタの電流係数を十分に大きく取っ
ている。3は2入力NANDゲート回路で1により増幅
出力された信号がQ51とQ61に入力しており、c点
において鈍っている波形を論理レベル(電源電圧レベ
ル)までに増幅し、方形波に整形してdに出力する。
【0026】S2はクロックドインバータ1のコントロ
ールゲートQ12、Q22にそれぞれ反転、正転信号が
入力しており、1の動作のオン、オフ制御をおこなう。
同様に、S1はクロックドインバータ2のコントロール
ゲートQ32とQ42にそれぞれ反転、正転信号が入力
しており、2の動作のオン、オフ制御をおこなう。図1
において、振幅増幅回路全体をオンにする場合はS1と
S2をハイレベルに固定することで1,2は動作をし、
オフにする場合はS1とS2をローレベルに固定するこ
とで1,2を静止することができる。S3は3の2入力
NANDのQ52、Q62のゲートに入力しており、通
常の増幅動作時にはハイレベルに固定する。クロックド
インバータ1,2がオフしている時には、S3をローレ
ベルに固定することで、c点の電圧レベルがフローティ
ング状態にあっても、3に貫通電流が流れないようにす
るとともに、d点から後段に接続する回路の入力ゲート
も電圧レベルがハイレベルに固定し、静止状態にするこ
とができる。以上が図1の本発明の実施例における振幅
増幅回路の構成と動作原理である。
【0027】図1の構成をとることによる、図2の従来
例と比較しての効果を以下に述べる。まずバイアス回路
におけるフィルター性能を同じに保ったまま、バイアス
回路が要する消費電流は、本実施例においては結果的に
10%程度低減される。また、帰還抵抗に寄生していた
浮遊容量が削除できるので、この浮遊容量の充放電に費
やされていたバイアス回路部の消費電流の一部も削減で
きる。さらに、帰還抵抗を構成していたアナログスイッ
チが無くなったため、このアナログスイッチの製造プロ
セス上の特性ばらつきやトランジスタの電源電圧特性等
による悪影響を受けることが無くなり、バイアス回路部
の負帰還をより強くかつ安定してかけることができ、従
来と比較してより安定した増幅特性を得ることができ
る。
【0028】また、本実施例の振幅増幅回路における動
作開始、停止の制御をおこなう場合、増幅回路をオンに
した後にバイアス電圧が上昇し、クロックドインバータ
2のロジックレベルに安定するまでには一定の待ち時間
が必要となるが、バイアス電圧発生回路に帰還抵抗が無
くなったことで浮遊容量が削減されており、バイアス電
圧の安定までの時間をより短くすることができるように
なり、電子機器全体に複合的に良い効果をもたらす。
【0029】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、システム
上で振幅増幅回路のオン、オフ制御を可能にしたこと
で、本回路を使用しないときの不要な電流の消費が排除
できる。請求項2記載の発明によれば、帰還抵抗をバイ
アス回路部のインバータのオン抵抗成分により得るよう
にしたことで、バイアス回路部のインバータのドライブ
能力は従来と比較してより省力化することが可能とな
る。
【0030】請求項3の発明によれば、請求項1、請求
項2の発明を半導体や電子機器に内蔵することで、電子
機器全体の消費電力の低減が可能で、バッテリーを使用
する携帯電子機器等では性能上有利になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す図。
【図2】従来のCMOS振幅増幅回路を示す図。
【符号の説明】
1.第一のCMOS反転増幅回路 2.第二のCMOS反転増幅回路 3.2入力NAND 4.コンデンサ 5.インバータ 6.インバータ 7.第一のCMOS反転増幅回路 8.第二のCMOS反転増幅回路 9.インバータ 10.アナログスイッチ

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】信号が入力される第1の端子と、前記信号
    を反転増幅して出力するクロックドCMOSインバータ
    よりなる第1の反転増幅器と、前記第1の反転増幅器の
    入力端子に出力端子が接続されたクロックドCMOSイ
    ンバータよりなる第2の反転増幅器と、を含む半導体装
    置において、 前記第2の反転増幅器の入力端子と出力端子とを配線を
    用いて直接接続したことを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】請求項1において、前記第2の反転増幅器
    の前記入力端子と前記出力端子とを直接接続する前記配
    線がAl配線であることを特徴とする請求項1記載の半
    導体装置。
  3. 【請求項3】請求項1または2に記載の半導体装置にお
    いてコントロール信号端子をさらに含み、前記コントロ
    ール信号端子より入力される制御信号によって前記第
    1、第2の反転増幅器のオン・オフを制御することを特
    徴とする請求項1または2に記載の半導体装置。
  4. 【請求項4】請求項1乃至3のいずれかに記載の半導体
    装置を内蔵することを特徴とする電子機器。
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