JP3449768B2 - 電子内視鏡装置 - Google Patents
電子内視鏡装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、体腔内及びエンジン
シリンダ内等、肉眼で直視することができない部分を観
察する内視鏡装置に係わり、特に、内視鏡に搭載された
固体撮像素子により撮像観察することができる電子内視
鏡装置に関する。
シリンダ内等、肉眼で直視することができない部分を観
察する内視鏡装置に係わり、特に、内視鏡に搭載された
固体撮像素子により撮像観察することができる電子内視
鏡装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、体腔内及びエンジンシリンダ内
等、肉眼で直接観察できない部分を、観察及び撮像する
手段として、図８に示されるような電子内視鏡装置が知
られている。図８に示されるように、電子内視鏡装置８
００は、スコープ１０１と光源１０３と内視鏡信号処理
装置１０５とを有し、光源１０３から射出された光は、
スコープ１０１に沿設された光学ファイバ束のライトガ
イド１０７を介して外部に導出され、観察対象物１０９
を照明する。
等、肉眼で直接観察できない部分を、観察及び撮像する
手段として、図８に示されるような電子内視鏡装置が知
られている。図８に示されるように、電子内視鏡装置８
００は、スコープ１０１と光源１０３と内視鏡信号処理
装置１０５とを有し、光源１０３から射出された光は、
スコープ１０１に沿設された光学ファイバ束のライトガ
イド１０７を介して外部に導出され、観察対象物１０９
を照明する。
【０００３】観察対象物１０９は、スコープ１０１を構
成する固体撮像素子１１１で撮像され、固体撮像素子１
１１の画像信号は、波形整形手段１１３で忠実な波形を
伝送するための波形整形及び増幅等されたのち、内視鏡
信号処理装置１０５を構成する画像信号処理回路１１５
に入力される。内視鏡信号処理装置１０５は、さらに固
体撮像素子１１１及び波形整形手段１１３を駆動すると
ともに固体撮像素子１１１を駆動する駆動回路１１７を
有しており、画像信号処理回路１１５及び駆動回路１１
７は、それぞれ中央演算装置（以下、ＣＰＵと記す）１
１９により制御されている。
成する固体撮像素子１１１で撮像され、固体撮像素子１
１１の画像信号は、波形整形手段１１３で忠実な波形を
伝送するための波形整形及び増幅等されたのち、内視鏡
信号処理装置１０５を構成する画像信号処理回路１１５
に入力される。内視鏡信号処理装置１０５は、さらに固
体撮像素子１１１及び波形整形手段１１３を駆動すると
ともに固体撮像素子１１１を駆動する駆動回路１１７を
有しており、画像信号処理回路１１５及び駆動回路１１
７は、それぞれ中央演算装置（以下、ＣＰＵと記す）１
１９により制御されている。
【０００４】画像信号処理回路１１５に入力された固体
撮像素子１１１からの画像信号は、所定の映像信号に変
換されたのち、外部のモニタ１２１及び外部の記憶装置
（図示せず）等に入力される。なお、画像信号処理回路
１１５は、入力される画像信号が所要の輝度を有するよ
うに、光源１０３を調光制御している。
撮像素子１１１からの画像信号は、所定の映像信号に変
換されたのち、外部のモニタ１２１及び外部の記憶装置
（図示せず）等に入力される。なお、画像信号処理回路
１１５は、入力される画像信号が所要の輝度を有するよ
うに、光源１０３を調光制御している。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述の電子内視鏡装置
は、種々の環境下で使用され、従って、これら環境下に
おいて、所要の安全性が確保されねばならない。例え
ば、体腔内部を観察しようとする場合は、スコープが液
体に接触するため、短絡事故等を考慮しなければならな
い。また、高電圧を用いる場合があることから、不慮の
短絡事故を引き起こす場合がある。
は、種々の環境下で使用され、従って、これら環境下に
おいて、所要の安全性が確保されねばならない。例え
ば、体腔内部を観察しようとする場合は、スコープが液
体に接触するため、短絡事故等を考慮しなければならな
い。また、高電圧を用いる場合があることから、不慮の
短絡事故を引き起こす場合がある。
【０００６】短絡事故が起こると、短絡箇所が破壊され
ることは勿論、短絡に因る過電流により熱が発生し、固
体撮像素子等が熱破壊される場合がある。特に、高価な
固体撮像素子が破壊された場合は、修理に相当の費用を
要する。また、固体撮像素子が搭載されているスコープ
先端は、複雑構造であるため、この部分の修理に、相当
の時間を要する。
ることは勿論、短絡に因る過電流により熱が発生し、固
体撮像素子等が熱破壊される場合がある。特に、高価な
固体撮像素子が破壊された場合は、修理に相当の費用を
要する。また、固体撮像素子が搭載されているスコープ
先端は、複雑構造であるため、この部分の修理に、相当
の時間を要する。
【０００７】そこで、この発明は上記事情に鑑みて成さ
れたもので、電子内視鏡装置を構成する固体撮像素子を
熱から保護することができる電子内視鏡装置を提供する
ことを目的とする。
れたもので、電子内視鏡装置を構成する固体撮像素子を
熱から保護することができる電子内視鏡装置を提供する
ことを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この発明に係わる電子内
視鏡装置は、スコープ先端に設けられた固体撮像素子で
観察対象物を撮像し、前記固体撮像素子で光電変換され
た信号を波形整形手段で所要の波形整形したのち、前記
スコープの外部に設けられた信号処理装置へ導出して所
要の信号処理を施すことにより、前記観察対象物を観察
する電子内視鏡装置において、前記固体撮像素子の近傍
に配置される温度検出手段と、前記スコープ及び前記信
号処理装置の少なくとも一方に設けられ、前記固体撮像
素子及び前記波形整形手段の少なくとも一方へ供給され
る駆動信号の信号レベルを前記温度検出手段の電気特性
の変化に応じた信号レベルに制御する電力制御手段と、
を備えたものである。
視鏡装置は、スコープ先端に設けられた固体撮像素子で
観察対象物を撮像し、前記固体撮像素子で光電変換され
た信号を波形整形手段で所要の波形整形したのち、前記
スコープの外部に設けられた信号処理装置へ導出して所
要の信号処理を施すことにより、前記観察対象物を観察
する電子内視鏡装置において、前記固体撮像素子の近傍
に配置される温度検出手段と、前記スコープ及び前記信
号処理装置の少なくとも一方に設けられ、前記固体撮像
素子及び前記波形整形手段の少なくとも一方へ供給され
る駆動信号の信号レベルを前記温度検出手段の電気特性
の変化に応じた信号レベルに制御する電力制御手段と、
を備えたものである。
【０００９】
【作用】この発明に係わる上記手段によれば、電子内視
鏡装置に過電流が生じ、これによりスコープ内に配置さ
れた固体撮像素子が過熱すると、固体撮像素子近傍に設
けられた温度検出手段が過熱を検知し、これにより電力
制御手段が作動する。供給信号制御手段は、スコープを
構成する固体撮像素子及び波形整形手段等の各回路へ供
給される駆動信号である駆動電圧及び駆動電流を減衰若
しくは遮断制御して、装置内に発生した過電流を抑制す
る。従って、過電流に因り生じる固体撮像素子の過熱が
回避される。
鏡装置に過電流が生じ、これによりスコープ内に配置さ
れた固体撮像素子が過熱すると、固体撮像素子近傍に設
けられた温度検出手段が過熱を検知し、これにより電力
制御手段が作動する。供給信号制御手段は、スコープを
構成する固体撮像素子及び波形整形手段等の各回路へ供
給される駆動信号である駆動電圧及び駆動電流を減衰若
しくは遮断制御して、装置内に発生した過電流を抑制す
る。従って、過電流に因り生じる固体撮像素子の過熱が
回避される。
【００１０】
【実施例】以下、この発明の実施例を図面を参照して説
明する。図１は、この発明の一実施例を示している。な
お、先の図８に示した電子内視鏡装置と同一部分には同
一符号を付して詳細な説明を省略する。電子内視鏡装置
１００は、スコープ１０１と光源１０３と内視鏡信号処
理装置１０５とを有し、光源１０３から射出された光
は、スコープ１０１に沿設されたライトガイド１０７を
介して外部に導出され、観察対象物１０９を照明する。
明する。図１は、この発明の一実施例を示している。な
お、先の図８に示した電子内視鏡装置と同一部分には同
一符号を付して詳細な説明を省略する。電子内視鏡装置
１００は、スコープ１０１と光源１０３と内視鏡信号処
理装置１０５とを有し、光源１０３から射出された光
は、スコープ１０１に沿設されたライトガイド１０７を
介して外部に導出され、観察対象物１０９を照明する。
【００１１】観察対象物１０９は、スコープ１０１を構
成する固体撮像素子１１１で撮像され、固体撮像素子１
１１で得られた画像信号は、波形整形手段１１３に入力
されて所要の波形整形及び増幅等されたのち、内視鏡信
号処理装置１０５を構成する画像信号処理回路１１５に
入力される。内視鏡信号処理装置１０５は、さらに固体
撮像素子１１１及び波形整形手段１１３を駆動するとと
もに固体撮像素子１１１を駆動する駆動回路１１７を有
しており、画像信号処理回路１１５及び駆動回路１１７
は、それぞれＣＰＵ１１９により制御されている。
成する固体撮像素子１１１で撮像され、固体撮像素子１
１１で得られた画像信号は、波形整形手段１１３に入力
されて所要の波形整形及び増幅等されたのち、内視鏡信
号処理装置１０５を構成する画像信号処理回路１１５に
入力される。内視鏡信号処理装置１０５は、さらに固体
撮像素子１１１及び波形整形手段１１３を駆動するとと
もに固体撮像素子１１１を駆動する駆動回路１１７を有
しており、画像信号処理回路１１５及び駆動回路１１７
は、それぞれＣＰＵ１１９により制御されている。
【００１２】画像信号処理回路１１５に入力された固体
撮像素子１１１からの画像信号は、所定の映像信号に変
換されたのち、外部のモニタ１２１及び外部の記憶装置
（図示せず）等に入力される。なお、画像信号処理回路
１１５は、入力される画像信号が所要の輝度を有するよ
うに、光源１０３を調光制御している。スコープ１０１
は、固体撮像素子１１１及び波形整形手段１１３に供給
される駆動電圧を制御する第１の電力制御手段１２３並
びに固体撮像素子１１１に供給される駆動電流のレベル
を制御する第２の電力手段１２５を有している。
撮像素子１１１からの画像信号は、所定の映像信号に変
換されたのち、外部のモニタ１２１及び外部の記憶装置
（図示せず）等に入力される。なお、画像信号処理回路
１１５は、入力される画像信号が所要の輝度を有するよ
うに、光源１０３を調光制御している。スコープ１０１
は、固体撮像素子１１１及び波形整形手段１１３に供給
される駆動電圧を制御する第１の電力制御手段１２３並
びに固体撮像素子１１１に供給される駆動電流のレベル
を制御する第２の電力手段１２５を有している。
【００１３】第１の電力制御手段１２３及び第２の電力
制御手段１２５は、それぞれスコープ１０１内の固体撮
像素子１１１近傍に設けられた温度検出手段１２７の検
出信号に基づいて作動し、駆動電流レベル及び駆動電圧
の少なくとも一方を低くし、若しくは少なくとも一方を
遮断する。以下、温度検出手段１２７、第１の電力制御
手段１２３、及び第２の電力制御手段１２５について説
明する。温度検出手段１２７は、サーミスタ等の感熱素
子を少なくとも１つ有し、周囲温度の上昇を、感熱素子
の抵抗変化により検出する。
制御手段１２５は、それぞれスコープ１０１内の固体撮
像素子１１１近傍に設けられた温度検出手段１２７の検
出信号に基づいて作動し、駆動電流レベル及び駆動電圧
の少なくとも一方を低くし、若しくは少なくとも一方を
遮断する。以下、温度検出手段１２７、第１の電力制御
手段１２３、及び第２の電力制御手段１２５について説
明する。温度検出手段１２７は、サーミスタ等の感熱素
子を少なくとも１つ有し、周囲温度の上昇を、感熱素子
の抵抗変化により検出する。
【００１４】例えば、サーミスタは、設定温度閾値を越
えると、抵抗値が大きく変化する。第１の電力制御手段
１２３及び第２の電力制御手段１２５は、サーミスタの
抵抗値変化に応答して、それぞれ駆動電流レベル及び駆
動電圧を制御する。なお、第１の電力制御手段１２３及
び第２の電力制御手段１２５は、それぞれ同一の作用を
有すため、以下、第２の電力制御手段１２５を参照して
説明する。
えると、抵抗値が大きく変化する。第１の電力制御手段
１２３及び第２の電力制御手段１２５は、サーミスタの
抵抗値変化に応答して、それぞれ駆動電流レベル及び駆
動電圧を制御する。なお、第１の電力制御手段１２３及
び第２の電力制御手段１２５は、それぞれ同一の作用を
有すため、以下、第２の電力制御手段１２５を参照して
説明する。
【００１５】図２は、温度検出手段１２７としてサーミ
スタ２０１を用いたときの回路図を示しており、サーミ
スタ２０１の両端は、それぞれ電力制御手段１２５に接
続されている。図３は、図２に示したサーミスタ２０１
を、設定温度を越えると抵抗値が大きくなる正の温度係
数を有するサーミスタとして用いたときの回路図を示し
ている。サーミスタ２０１の一端は、駆動回路１１７に
接続され、他端は、一端が接地された抵抗Ｒ１の他端に
接続され、該他端は、さらに固体撮像素子１１１に接続
されている。
スタ２０１を用いたときの回路図を示しており、サーミ
スタ２０１の両端は、それぞれ電力制御手段１２５に接
続されている。図３は、図２に示したサーミスタ２０１
を、設定温度を越えると抵抗値が大きくなる正の温度係
数を有するサーミスタとして用いたときの回路図を示し
ている。サーミスタ２０１の一端は、駆動回路１１７に
接続され、他端は、一端が接地された抵抗Ｒ１の他端に
接続され、該他端は、さらに固体撮像素子１１１に接続
されている。
【００１６】周辺温度が上昇してサーミスタ２０１に設
定された温度閾値を越えると、サーミスタ２０１の抵抗
値が大きくなる。従って、サーミスタ２０１と抵抗Ｒ１
とで設定される分圧比が変わるため、中点ａの電圧が低
くなり、駆動電流のレベルが減じられる。図４は、設定
された温度閾値を越えると抵抗値が小さくなる負の温度
係数を有するサーミスタとして用いたときの回路図を示
している。サーミスタ２０１の一端は接地され、他端は
抵抗Ｒ２を介して駆動回路１１７に接続されるととも
に、固体撮像素子１１１に接続されている。
定された温度閾値を越えると、サーミスタ２０１の抵抗
値が大きくなる。従って、サーミスタ２０１と抵抗Ｒ１
とで設定される分圧比が変わるため、中点ａの電圧が低
くなり、駆動電流のレベルが減じられる。図４は、設定
された温度閾値を越えると抵抗値が小さくなる負の温度
係数を有するサーミスタとして用いたときの回路図を示
している。サーミスタ２０１の一端は接地され、他端は
抵抗Ｒ２を介して駆動回路１１７に接続されるととも
に、固体撮像素子１１１に接続されている。
【００１７】周辺温度が上昇してサーミスタ２０１に設
定された温度閾値を越えると、サーミスタ２０１の抵抗
値が小さくなる。従って、サーミスタ２０１と抵抗Ｒ２
とで設定される分圧比が変わるため、中点ａの電圧が低
くなり、駆動電流のレベルが減じられる。以上、図２乃
至図４に示した実施例は、駆動電流レベルの制御が、熱
素子及び単一の抵抗により実行されるので、装置が小型
化及び簡易化され、設置場所の自由度が広がる。従っ
て、第２の電力制御手段１２５若しくは第１の電力制御
手段を、スコープの各回路内、例えば、波形整形手段１
１３内に配置することができる。
定された温度閾値を越えると、サーミスタ２０１の抵抗
値が小さくなる。従って、サーミスタ２０１と抵抗Ｒ２
とで設定される分圧比が変わるため、中点ａの電圧が低
くなり、駆動電流のレベルが減じられる。以上、図２乃
至図４に示した実施例は、駆動電流レベルの制御が、熱
素子及び単一の抵抗により実行されるので、装置が小型
化及び簡易化され、設置場所の自由度が広がる。従っ
て、第２の電力制御手段１２５若しくは第１の電力制御
手段を、スコープの各回路内、例えば、波形整形手段１
１３内に配置することができる。
【００１８】図５は、電力制御手段１２５の他の実施例
を示している。温度検出手段を構成するサーミスタ２０
１の一端は接地され、他端は抵抗Ｒ３を介して電源Ｖｃ
ｃに接続されている。サーミスタ２０１と電源Ｖｃｃ及
び抵抗Ｒ３とで設定される中点ａの電圧は、コンパレー
タ５０１の一端に入力されている。コンパレータ５０１
の他端には、一端が接地された抵抗Ｒ５と、一端が電源
Ｖｃｃに接続された抵抗Ｒ４とで設定される基準電圧Ｖ
ｒｅｆが入力されている。
を示している。温度検出手段を構成するサーミスタ２０
１の一端は接地され、他端は抵抗Ｒ３を介して電源Ｖｃ
ｃに接続されている。サーミスタ２０１と電源Ｖｃｃ及
び抵抗Ｒ３とで設定される中点ａの電圧は、コンパレー
タ５０１の一端に入力されている。コンパレータ５０１
の他端には、一端が接地された抵抗Ｒ５と、一端が電源
Ｖｃｃに接続された抵抗Ｒ４とで設定される基準電圧Ｖ
ｒｅｆが入力されている。
【００１９】コンパレータ５０１は、半導体スイッチ若
しくはリレー等の遮断手段５０３を開閉制御する。周辺
温度が上昇してサーミスタ２０１に設定された温度閾値
を越えると、サーミスタ２０１の抵抗値が変わり、中点
ａの電圧が変化する。従って、該電圧と基準電圧Ｖｒｅ
ｆとを比較するコンパレータの出力が反転するため、遮
断手段５０３が開成し、これにより、駆動電流のレベル
が減じられる。
しくはリレー等の遮断手段５０３を開閉制御する。周辺
温度が上昇してサーミスタ２０１に設定された温度閾値
を越えると、サーミスタ２０１の抵抗値が変わり、中点
ａの電圧が変化する。従って、該電圧と基準電圧Ｖｒｅ
ｆとを比較するコンパレータの出力が反転するため、遮
断手段５０３が開成し、これにより、駆動電流のレベル
が減じられる。
【００２０】図５に示した実施例は、コンパレータ５０
１の比較信号を導出しているため、該比較信号をハイレ
ベル、ローレベルの２値信号として扱うことができ、デ
ジタル処理に適している。従って、該比較信号をＣＰＵ
に取り込み、内視鏡信号処理装置の操作パネル若しくは
外部のモニタの画面上に、制御状態を表示させることが
容易にできる。
１の比較信号を導出しているため、該比較信号をハイレ
ベル、ローレベルの２値信号として扱うことができ、デ
ジタル処理に適している。従って、該比較信号をＣＰＵ
に取り込み、内視鏡信号処理装置の操作パネル若しくは
外部のモニタの画面上に、制御状態を表示させることが
容易にできる。
【００２１】なお、基準電圧Ｖｒｅｆと中点ａの電圧と
を入れ換えることにより、サーミスタ２０１の温度係数
を正負何れか一方に設定できる。また、内視鏡の種類に
応じた基準電圧ＶｒｅｆをＣＰＵで生成するようにし、
内視鏡の種類に応じてサーミスタ２０１に設定される温
度閾値を変えるようにしても良い。
を入れ換えることにより、サーミスタ２０１の温度係数
を正負何れか一方に設定できる。また、内視鏡の種類に
応じた基準電圧ＶｒｅｆをＣＰＵで生成するようにし、
内視鏡の種類に応じてサーミスタ２０１に設定される温
度閾値を変えるようにしても良い。
【００２２】さらに、図６に示されるように、定常状態
でそれぞれ閉成するスイッチ６０１と開成するスイッチ
６０３とを並列接続し、サーミスタ２０１の設定温度閾
値を越えるとスイッチ６０１が開成するとともに、スイ
ッチ６０３が閉成し、これにより駆動電流のレベルが抵
抗Ｒ６を介して減じられるようにしても良い。以上説明
した実施例は、温度検出手段を構成する感熱手段にサー
ミスタを用いた場合を説明したが、感熱ヒューズを用い
ても良い。
でそれぞれ閉成するスイッチ６０１と開成するスイッチ
６０３とを並列接続し、サーミスタ２０１の設定温度閾
値を越えるとスイッチ６０１が開成するとともに、スイ
ッチ６０３が閉成し、これにより駆動電流のレベルが抵
抗Ｒ６を介して減じられるようにしても良い。以上説明
した実施例は、温度検出手段を構成する感熱手段にサー
ミスタを用いた場合を説明したが、感熱ヒューズを用い
ても良い。
【００２３】すなわち、図７に示されるように、温度検
出手段１２７を構成する感熱ヒューズ７０１と電力制御
手段１２５を構成する抵抗Ｒ６とが並列接続される。周
囲温度が上昇して感熱ヒューズ７０１に設定された温度
閾値を越えると、感熱ヒューズ７０１が溶断し、これに
より駆動電流のレベルが、抵抗Ｒ６により減じられる。
出手段１２７を構成する感熱ヒューズ７０１と電力制御
手段１２５を構成する抵抗Ｒ６とが並列接続される。周
囲温度が上昇して感熱ヒューズ７０１に設定された温度
閾値を越えると、感熱ヒューズ７０１が溶断し、これに
より駆動電流のレベルが、抵抗Ｒ６により減じられる。
【００２４】また、抵抗Ｒ６を廃止し、周囲温度が上昇
して感熱ヒューズ７０１に設定された温度閾値を越える
と、感熱ヒューズ７０１が溶断し、これにより駆動電流
のレベルが遮断されるようにしても良い。この場合、感
熱ヒューズが、温度感知機能と遮断機能とを果たしてい
るため、温度検出手段１２７と電力制御手段１２５とを
兼用させることができ、部品点数を減らすことができ
る。
して感熱ヒューズ７０１に設定された温度閾値を越える
と、感熱ヒューズ７０１が溶断し、これにより駆動電流
のレベルが遮断されるようにしても良い。この場合、感
熱ヒューズが、温度感知機能と遮断機能とを果たしてい
るため、温度検出手段１２７と電力制御手段１２５とを
兼用させることができ、部品点数を減らすことができ
る。
【００２５】また、矢示のように、温度検出手段１２７
を構成する感熱手段に、バイメタル等の感熱スイッチ７
０３を用い、周辺温度が上昇して感熱スイッチ７０３に
設定された温度閾値を越えると、感熱スイッチ７０３が
開成し、これにより、駆動電流のレベルが、抵抗Ｒ６に
より減じられるようにしても良い。さらに、抵抗Ｒ６を
廃止し、周囲温度上昇に伴う感熱スイッチ７０３の開成
により、駆動電流が遮断されるようにしても良い。
を構成する感熱手段に、バイメタル等の感熱スイッチ７
０３を用い、周辺温度が上昇して感熱スイッチ７０３に
設定された温度閾値を越えると、感熱スイッチ７０３が
開成し、これにより、駆動電流のレベルが、抵抗Ｒ６に
より減じられるようにしても良い。さらに、抵抗Ｒ６を
廃止し、周囲温度上昇に伴う感熱スイッチ７０３の開成
により、駆動電流が遮断されるようにしても良い。
【００２６】感熱スイッチ７０３は、周辺温度が設定さ
れた温度閾値を下回ると、自動的に復帰して閉成する。
従って、先の感熱ヒューズと異なり、連続使用が可能と
なり維持管理が容易となる。以上、図１乃至図７に示し
た実施例は、何れもスコープ内に第１及び第２の電力制
御手段を設けた場合を説明した。しかし、各電力制御手
段を、それぞれ画像信号処理装置内に設けてスコープに
供給される駆動電流レベル及び駆動電圧を制御するよう
にしても良く、また、スコープ内及び画像信号処理装置
内の双方に設けるようにしても良い。
れた温度閾値を下回ると、自動的に復帰して閉成する。
従って、先の感熱ヒューズと異なり、連続使用が可能と
なり維持管理が容易となる。以上、図１乃至図７に示し
た実施例は、何れもスコープ内に第１及び第２の電力制
御手段を設けた場合を説明した。しかし、各電力制御手
段を、それぞれ画像信号処理装置内に設けてスコープに
供給される駆動電流レベル及び駆動電圧を制御するよう
にしても良く、また、スコープ内及び画像信号処理装置
内の双方に設けるようにしても良い。
【００２７】
【発明の効果】以上説明した発明によれば、過電流に因
る固体撮像素子の温度上昇は、固体撮像素子近傍に設け
られた温度検出手段により検出され、スコープを構成す
る固体撮像素子等の各回路に供給される駆動信号が減衰
若しくは遮断制御される。従って、過電流が抑制され、
これにより固体撮像素子に発生する過熱を回避すること
ができ、延いては固体撮像素子を熱から保護することが
できる。
る固体撮像素子の温度上昇は、固体撮像素子近傍に設け
られた温度検出手段により検出され、スコープを構成す
る固体撮像素子等の各回路に供給される駆動信号が減衰
若しくは遮断制御される。従って、過電流が抑制され、
これにより固体撮像素子に発生する過熱を回避すること
ができ、延いては固体撮像素子を熱から保護することが
できる。
【図１】この発明の一実施例を示すブロック図。
【図２】図１に示した温度検出手段の第１の実施例を示
す図。
す図。
【図３】図１に示した温度検出手段及び第２の電力制御
手段を示す回路図。
手段を示す回路図。
【図４】図１に示した温度検出手段及び第２の電力制御
手段を示す回路図。
手段を示す回路図。
【図５】図１に示した温度検出手段及び第２の電力制御
手段を示す回路図。
手段を示す回路図。
【図６】図１に示した温度検出手段及び第２の電力制御
手段を示す回路図。
手段を示す回路図。
【図７】図１に示した温度検出手段の第２の実施例を示
す図。
す図。
【図８】従来の電子内視鏡装置を示すブロック図。
１００ 電子内視鏡装置
１０１ スコープ
１０３ 光源
１０５ 内視鏡信号処理装置
１０７ ライトガイド
１０９ 観察対象物
１１１ 固体撮像素子
１１３ 波形整形手段
１１５ 画像信号処理装置
１１７ 駆動回路
１１９ ＣＰＵ
１２１ モニタ
１２３、１２５ 電力制御手段
１２７ 温度検出手段
２０１ サーミスタ
５０１ コンパレータ
５０３ 遮断手段
６０１ ６０３ スイッチ
７０１ 感熱ヒューズ
７０３ 感熱スイッチ
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 小松 康雄
東京都渋谷区幡ヶ谷２丁目43番２号 オ
リンパス光学工業株式会社内
(56)参考文献 特開 平５−168588（ＪＰ，Ａ)
特開 昭61−121575（ＪＰ，Ａ)
特開 昭63−71233（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
A61B 1/00 - 1/32
Claims (3)
- 【請求項１】 スコープ先端に設けられた固体撮像素子
で観察対象物を撮像し、前記固体撮像素子で光電変換さ
れた信号を波形整形手段で所要の波形整形したのち、前
記スコープの外部に設けられた信号処理装置へ導出して
所要の信号処理を施すことにより、前記観察対象物を観
察する電子内視鏡装置において、 前記固体撮像素子の近傍に配置される温度検出手段と、 前記スコープ及び前記信号処理装置の少なくとも一方に
設けられ、前記固体撮像素子及び前記波形整形手段の少
なくとも一方へ供給される駆動信号の信号レベルを前記
温度検出手段の電気特性の変化に応じた信号レベルに制
御する電力制御手段と、 を備えたことを特徴とする電子内視鏡装置。 - 【請求項２】 スコープ先端に設けられた固体撮像素子
で観察対象物を撮像し、前記固体撮像素子で光電変換さ
れた信号を波形整形手段で所要の波形整形したのち、前
記スコープの外部に設けられた信号処理装置へ導出して
所要の信号処理を施すことにより、前記観察対象物を観
察する電子内視鏡装置において、 前記固体撮像素子の近傍に配置される温度検出手段と、 前記スコープ及び前記信号処理装置の少なくとも一方に
設けられ、前記固体撮像素子及び前記波形整形手段の少
なくとも一方へ供給される駆動信号を制御する電力制御
手段とを有し、 内視鏡の種類に応じて生成された基準値を基に、前記温
度検出手段の検出出力と接続された内視鏡の種類に応じ
た基準値と比較することにより前記固体撮像素子近傍の
温度上昇が検知されたときは、前記電力制御手段を作動
させて、前記固体撮像素子及び前記波形整形手段の少な
くとも一方へ供給される駆動信号を制御するようにし
た、 ことを特徴とする電子内視鏡装置。 - 【請求項３】 前記基準値との比較結果に基き、前記電
力制御手段の制御状態を表示することを特徴とする請求
項２記載の電子内視鏡装置。
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|---|---|---|---|
| JP35456893A JP3449768B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 電子内視鏡装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35456893A JP3449768B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 電子内視鏡装置 |
Publications (2)
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Family
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35456893A Expired - Fee Related JP3449768B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 電子内視鏡装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
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-
1993
- 1993-12-28 JP JP35456893A patent/JP3449768B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07194531A (ja) | 1995-08-01 |
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