JP2687276B2 - 電子内視鏡装置 - Google Patents
電子内視鏡装置Info
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 44
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 5
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 101000857682 Homo sapiens Runt-related transcription factor 2 Proteins 0.000 description 1
- 102100025368 Runt-related transcription factor 2 Human genes 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Instruments For Viewing The Inside Of Hollow Bodies (AREA)
- Endoscopes (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、体腔内等、肉眼で直
視することができない部分を観察する内視鏡装置に係わ
り、特に、内視鏡先端に設けられた固体撮像素子により
上記部分を撮像観察することができる電子内視鏡装置に
関する。
視することができない部分を観察する内視鏡装置に係わ
り、特に、内視鏡先端に設けられた固体撮像素子により
上記部分を撮像観察することができる電子内視鏡装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】近年、生体内に挿入される内視鏡(以
下、スコープと記す)を有し、スコープ先端に設けられ
た照明窓から照明光を被写体に向けて照射し、同じく先
端に設けられた固体撮像素子である電荷結合素子(以
下、CCDと記す)により被写体像の反射光を電気信号
に変換し、スコープ外に設けられた信号処理装置により
所要の信号処理を施して、上記被写体像をモニタに表示
させて観察することができる電子内視鏡装置が普及して
いる。
下、スコープと記す)を有し、スコープ先端に設けられ
た照明窓から照明光を被写体に向けて照射し、同じく先
端に設けられた固体撮像素子である電荷結合素子(以
下、CCDと記す)により被写体像の反射光を電気信号
に変換し、スコープ外に設けられた信号処理装置により
所要の信号処理を施して、上記被写体像をモニタに表示
させて観察することができる電子内視鏡装置が普及して
いる。
【0003】図8に示されるように、電子内視鏡装置
は、スコープ101とプロセッサ103とを有し、スコ
ープ101先端にはCCD105が配置され、スコープ
101周縁にはライトガイド107が沿設される。ま
た、プロセッサ103は、患者回路111と電源回路1
09及び信号処理回路129とを有している。外部の交
流電源に接続される電源回路109は、患者回路111
用の電源901と信号処理回路129用の電源903と
を有し、各電源は、それぞれトランス905により分離
されている。
は、スコープ101とプロセッサ103とを有し、スコ
ープ101先端にはCCD105が配置され、スコープ
101周縁にはライトガイド107が沿設される。ま
た、プロセッサ103は、患者回路111と電源回路1
09及び信号処理回路129とを有している。外部の交
流電源に接続される電源回路109は、患者回路111
用の電源901と信号処理回路129用の電源903と
を有し、各電源は、それぞれトランス905により分離
されている。
【0004】患者回路用電源901は、患者回路111
を構成するレギュレータ115に供給されて所定電圧に
変換されたのち、駆動信号ドライバ121の電源端に接
続されるとともに、CCD105の電源端に接続され
る。駆動信号ドライバ121は、駆動信号ジェネレータ
119から発生される駆動電流を増幅してCCD105
に供給する。
を構成するレギュレータ115に供給されて所定電圧に
変換されたのち、駆動信号ドライバ121の電源端に接
続されるとともに、CCD105の電源端に接続され
る。駆動信号ドライバ121は、駆動信号ジェネレータ
119から発生される駆動電流を増幅してCCD105
に供給する。
【0005】一方、スコープ101に沿設されたライト
ガイド107は、図示しない光源装置から射出された光
をスコープ外に導出して被写体907を照射する。CC
D105は、ライトガイド107を介して照射された光
の反射光を受光して電気信号に変換する。該電気信号
は、患者回路111を構成するアンプ125で増幅され
たのち、患者回路111とを分離するアイソレーション
トランス127を介して信号処理回路129に供給され
る。信号処理回路129には、電源回路109からの電
源が供給され、入力された電気信号を所定の映像信号に
変換したのち、外部モニタに出力する。
ガイド107は、図示しない光源装置から射出された光
をスコープ外に導出して被写体907を照射する。CC
D105は、ライトガイド107を介して照射された光
の反射光を受光して電気信号に変換する。該電気信号
は、患者回路111を構成するアンプ125で増幅され
たのち、患者回路111とを分離するアイソレーション
トランス127を介して信号処理回路129に供給され
る。信号処理回路129には、電源回路109からの電
源が供給され、入力された電気信号を所定の映像信号に
変換したのち、外部モニタに出力する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述の電子内視鏡装置
は、種々の環境下で使用されるため、スコープを構成す
るCCDの入力端に外乱信号である過大なノイズ等の過
電流及び過電圧が印加される場合がある。このような状
態としては、例えば、静電気が印加された場合が挙げら
れる。この状態で、CCDを駆動し続けると、電源とグ
ランドとの間に過電流が流れ、上記外乱信号を遮断して
も、過電流が流れたままの状態となる。
は、種々の環境下で使用されるため、スコープを構成す
るCCDの入力端に外乱信号である過大なノイズ等の過
電流及び過電圧が印加される場合がある。このような状
態としては、例えば、静電気が印加された場合が挙げら
れる。この状態で、CCDを駆動し続けると、電源とグ
ランドとの間に過電流が流れ、上記外乱信号を遮断して
も、過電流が流れたままの状態となる。
【0007】上述の状態が続くと、ウエハ内の配線が溶
断し、素子が破壊される事態を招く。スコープ先端内に
配置されたCCDは、先端部の屈曲性及び防水性を備え
ているため複雑構造になっており、破壊されたCCDの
修理に相当の費用及び時間を要する。
断し、素子が破壊される事態を招く。スコープ先端内に
配置されたCCDは、先端部の屈曲性及び防水性を備え
ているため複雑構造になっており、破壊されたCCDの
修理に相当の費用及び時間を要する。
【0008】そこで、この発明は上記事情に鑑みて成さ
れたもので、電子内視鏡装置を構成するCCD等の固体
撮像素子を過電流に因る破壊から保護することができる
電子内視鏡装置を提供することを目的とする。
れたもので、電子内視鏡装置を構成するCCD等の固体
撮像素子を過電流に因る破壊から保護することができる
電子内視鏡装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】この発明に係わる電子内
視鏡装置は、スコープ先端に設けられた固体撮像素子で
観察対象物を撮像し、前記固体撮像素子で光電変換され
た信号を前記スコープに接続されたプロセッサで所要の
信号処理を施こすことにより、前記観察対象物を観察す
る電子内視鏡装置において、前記スコープと前記プロセ
ッサとで構成される回路に生じる過電流を検知する過電
流検知手段と、前記固体撮像素子へ供給される駆動電圧
及び駆動電流を抑制する電力制御手段とを有し、前記過
電流検知手段が前記回路に生じた過電流を検知したとき
は、前記電力制御手段を制御させて、前記駆動電圧及び
前記駆動電流の少なくとも一方を抑制するようにしたも
のである。
視鏡装置は、スコープ先端に設けられた固体撮像素子で
観察対象物を撮像し、前記固体撮像素子で光電変換され
た信号を前記スコープに接続されたプロセッサで所要の
信号処理を施こすことにより、前記観察対象物を観察す
る電子内視鏡装置において、前記スコープと前記プロセ
ッサとで構成される回路に生じる過電流を検知する過電
流検知手段と、前記固体撮像素子へ供給される駆動電圧
及び駆動電流を抑制する電力制御手段とを有し、前記過
電流検知手段が前記回路に生じた過電流を検知したとき
は、前記電力制御手段を制御させて、前記駆動電圧及び
前記駆動電流の少なくとも一方を抑制するようにしたも
のである。
【0010】また、前記スコープは、スコープの種類を
示すスコープ種別出力手段を有し、前記電力制御手段
は、前記駆動電圧及び前記駆動電流の少なくとも一方を
所定の制限値に制限することにより抑制する電力制限手
段であり、さらに、前記プロセッサは、前記スコープ種
別出力手段の出力を検出して、この検出信号に応じて前
記電力制御手段の制限値を設定する電力制限値設定手段
を有するものである。
示すスコープ種別出力手段を有し、前記電力制御手段
は、前記駆動電圧及び前記駆動電流の少なくとも一方を
所定の制限値に制限することにより抑制する電力制限手
段であり、さらに、前記プロセッサは、前記スコープ種
別出力手段の出力を検出して、この検出信号に応じて前
記電力制御手段の制限値を設定する電力制限値設定手段
を有するものである。
【0011】
【作用】この発明に係わる上記手段によれば、電子内視
鏡装置を構成するスコープとプロセッサとで構成される
回路に生じた過電流は、過電流検知回路により検知され
る。過電流が検知されると、固体撮像素子に供給される
駆動電圧及び駆動電流の少なくとも一方が遮断若しくは
減衰されることにより抑制される。これにより、固体撮
像素子に過電流が長時間供給される事態が回避され、固
体撮像素子が過電流に因る破壊から保護される。
鏡装置を構成するスコープとプロセッサとで構成される
回路に生じた過電流は、過電流検知回路により検知され
る。過電流が検知されると、固体撮像素子に供給される
駆動電圧及び駆動電流の少なくとも一方が遮断若しくは
減衰されることにより抑制される。これにより、固体撮
像素子に過電流が長時間供給される事態が回避され、固
体撮像素子が過電流に因る破壊から保護される。
【0012】過電流検知手段には、固体撮像素子に適正
な駆動電圧及び駆動電流が供給されるようにするために
所定の電流閾値が設定されている。固体撮像素子は、例
えば、画素数が異なると消費される電力も異なるため、
各固体撮像素子毎に供給される駆動電圧及び駆動電流の
適正範囲が異なる。従って、各固体撮像素子毎に対応し
て、過電流検知手段に適正な電流閾値が設定されること
が好ましい。そこで、電子内視鏡装置が、スコープに搭
載される固体撮像素子の種類を特定するための特定手段
を有し、搭載される固体撮像素子の種類に応じて、前記
過電流検知手段の電流閾値を設定することが好ましい。
な駆動電圧及び駆動電流が供給されるようにするために
所定の電流閾値が設定されている。固体撮像素子は、例
えば、画素数が異なると消費される電力も異なるため、
各固体撮像素子毎に供給される駆動電圧及び駆動電流の
適正範囲が異なる。従って、各固体撮像素子毎に対応し
て、過電流検知手段に適正な電流閾値が設定されること
が好ましい。そこで、電子内視鏡装置が、スコープに搭
載される固体撮像素子の種類を特定するための特定手段
を有し、搭載される固体撮像素子の種類に応じて、前記
過電流検知手段の電流閾値を設定することが好ましい。
【0013】
【実施例】以下、この発明の実施例を図面を参照して説
明する。図1は、この発明の一実施例を示している。な
お、先の図8に示した電子内視鏡装置と同一部分には同
一符号を付して詳細な説明を省略する。図1に示される
ように、電子内視鏡装置100は、スコープ101とプ
ロセッサ103とを有し、スコープ101先端にはCC
D105が配置され、スコープ101周縁にはライトガ
イド107が沿設されている。
明する。図1は、この発明の一実施例を示している。な
お、先の図8に示した電子内視鏡装置と同一部分には同
一符号を付して詳細な説明を省略する。図1に示される
ように、電子内視鏡装置100は、スコープ101とプ
ロセッサ103とを有し、スコープ101先端にはCC
D105が配置され、スコープ101周縁にはライトガ
イド107が沿設されている。
【0014】外部の交流電源に接続される電源回路10
9は、先の図8で述べた様に患者回路用電源と信号処理
回路用電源とを有し、各電源は、それぞれトランスによ
り分離されている。患者回路用電源の出力は、患者回路
111を構成する過電流検知回路113を介したのち、
レギュレータ115に供給されて所定電圧に変換され、
さらにリレー117を介してスコープ101のCCD1
05に供給される。
9は、先の図8で述べた様に患者回路用電源と信号処理
回路用電源とを有し、各電源は、それぞれトランスによ
り分離されている。患者回路用電源の出力は、患者回路
111を構成する過電流検知回路113を介したのち、
レギュレータ115に供給されて所定電圧に変換され、
さらにリレー117を介してスコープ101のCCD1
05に供給される。
【0015】一方、患者回路111を構成する駆動信号
ジェネレータ119の出力は、レギュレータ115の出
力により駆動される駆動信号ドライバ121により、そ
の波高値が電源電圧まで増幅されたのち、リレー123
を介してCCD105に供給される。CCD105は、
スコープ101に沿設されたライトガイド107を介し
て導出照明される光源装置からの光の反射光を受光して
電気信号に変換する。該電気信号は、患者回路111を
構成するアンプ125で増幅されたのち、アイソレーシ
ョントランス127を介して信号処理回路129に入力
される。
ジェネレータ119の出力は、レギュレータ115の出
力により駆動される駆動信号ドライバ121により、そ
の波高値が電源電圧まで増幅されたのち、リレー123
を介してCCD105に供給される。CCD105は、
スコープ101に沿設されたライトガイド107を介し
て導出照明される光源装置からの光の反射光を受光して
電気信号に変換する。該電気信号は、患者回路111を
構成するアンプ125で増幅されたのち、アイソレーシ
ョントランス127を介して信号処理回路129に入力
される。
【0016】過電流検知回路113は、患者回路111
に供給される電流が過大になったことを検知して、検知
信号を中央演算装置(以下、CPUと記す)131に供
給する。CPU131は、該検知信号を基づいてリレー
117、123を開成制御するとともに、フォトカップ
ラ133を介して警告信号発生回路135に制御信号を
供給する。
に供給される電流が過大になったことを検知して、検知
信号を中央演算装置(以下、CPUと記す)131に供
給する。CPU131は、該検知信号を基づいてリレー
117、123を開成制御するとともに、フォトカップ
ラ133を介して警告信号発生回路135に制御信号を
供給する。
【0017】警告信号発生回路135は、該制御信号に
基づいて外部に警告するために警告音等を発する警告部
137を作動させる。さらに、上記制御信号は重畳回路
139に供給されて信号処理回路129の出力に重畳さ
れたのち、モニタに供給される。これにより、過電流の
発生が、モニタ上で検知される。
基づいて外部に警告するために警告音等を発する警告部
137を作動させる。さらに、上記制御信号は重畳回路
139に供給されて信号処理回路129の出力に重畳さ
れたのち、モニタに供給される。これにより、過電流の
発生が、モニタ上で検知される。
【0018】以下、図2及び図3を参照して、過電流検
知回路113について説明する。図2は、過電流検知回
路113の第1の実施例を示しており、電源回路の出力
は、トランジスタTr1を介して患者回路へ導出される
とともに、トランジスタTr2を介してコンパレータ2
01の非反転入力端に供給される。トランジスタTr1
のコレクタは、トランジスタTr1、Tr2に接続され
ている。コンパレータ201の非反転入力端は、さらに
抵抗Rを介して接地されている。一方、コンパレータ2
01の反転入力端には、基準電圧Vが供給されている。
知回路113について説明する。図2は、過電流検知回
路113の第1の実施例を示しており、電源回路の出力
は、トランジスタTr1を介して患者回路へ導出される
とともに、トランジスタTr2を介してコンパレータ2
01の非反転入力端に供給される。トランジスタTr1
のコレクタは、トランジスタTr1、Tr2に接続され
ている。コンパレータ201の非反転入力端は、さらに
抵抗Rを介して接地されている。一方、コンパレータ2
01の反転入力端には、基準電圧Vが供給されている。
【0019】トランジスタTr1、Tr2は、カレント
ミラー回路を構成しており、トランジスタTr2に流れ
る電流i2は、トランジスタTr1に流れる電流i1と
等しい。コンパレータ201の非反転入力端には、i2
Rで規定される電圧降下が生じる。従って、該電圧降下
を基準電圧Vと比較することにより、患者回路に供給さ
れる電流i1の異常が検知される。
ミラー回路を構成しており、トランジスタTr2に流れ
る電流i2は、トランジスタTr1に流れる電流i1と
等しい。コンパレータ201の非反転入力端には、i2
Rで規定される電圧降下が生じる。従って、該電圧降下
を基準電圧Vと比較することにより、患者回路に供給さ
れる電流i1の異常が検知される。
【0020】図3は、過電流検知回路113の第2の実
施例を示しており、電源回路の出力は、トランジスタT
r3及び抵抗R1を直列に介して接地されるとともに、
抵抗R2を介して患者回路に導出される。さらに、抵抗
R2を介した電源回路の出力は、トランジスタTr3の
ベースに供給されるとともに、抵抗R3、R4、及びト
ランジスタTr4を直列に介して接地される。なお、ト
ランジスタTr3のコレクタとトランジスタTr4のベ
ースとは、抵抗R5を介して接続されている。抵抗R
3、R4の中点の出力は、過電流検知信号として導出さ
れる。
施例を示しており、電源回路の出力は、トランジスタT
r3及び抵抗R1を直列に介して接地されるとともに、
抵抗R2を介して患者回路に導出される。さらに、抵抗
R2を介した電源回路の出力は、トランジスタTr3の
ベースに供給されるとともに、抵抗R3、R4、及びト
ランジスタTr4を直列に介して接地される。なお、ト
ランジスタTr3のコレクタとトランジスタTr4のベ
ースとは、抵抗R5を介して接続されている。抵抗R
3、R4の中点の出力は、過電流検知信号として導出さ
れる。
【0021】いま、図3に示した回路において、抵抗2
を3Ωに設定し、これにより電流iが200mA以上流
れたとする。このとき、A−B間の電圧降下VABが60
0mV以上となり、この結果、トランジスタTr3がオ
ンになり、さらに、トランジスタTr4もオンになる。
従って、正常時の過電流検知信号が、電圧V1であるの
に対し、異常時には、電圧V1×R4/(R3+R4)
なる過電流検知信号が得られる。
を3Ωに設定し、これにより電流iが200mA以上流
れたとする。このとき、A−B間の電圧降下VABが60
0mV以上となり、この結果、トランジスタTr3がオ
ンになり、さらに、トランジスタTr4もオンになる。
従って、正常時の過電流検知信号が、電圧V1であるの
に対し、異常時には、電圧V1×R4/(R3+R4)
なる過電流検知信号が得られる。
【0022】上記実施例は、過電流検知回路及びリレー
がプロセッサ内に在る場合を説明したが、リレーをスコ
ープ内に配置しても良く、或いは、スコープ内に駆動信
号ジュネレータ及び駆動信号ドライバを有するスコープ
にあっては、スコープ内に過電流検知回路を配置するよ
うにしても良い。また、リレーの代わりに電流ヒューズ
を用いても良い。この場合、過電流の発生に因りヒュー
ズが溶断するため、これによりCCDに供給される駆動
電圧及び駆動電流が遮断される。
がプロセッサ内に在る場合を説明したが、リレーをスコ
ープ内に配置しても良く、或いは、スコープ内に駆動信
号ジュネレータ及び駆動信号ドライバを有するスコープ
にあっては、スコープ内に過電流検知回路を配置するよ
うにしても良い。また、リレーの代わりに電流ヒューズ
を用いても良い。この場合、過電流の発生に因りヒュー
ズが溶断するため、これによりCCDに供給される駆動
電圧及び駆動電流が遮断される。
【0023】電流ヒューズは、過電流検知機能と電流遮
断機能とを有しており、このため、過電流検知回路が不
要となり、回路規模を縮小することができる。なお、電
流ヒューズは、外部制御を要しないので設置場所を選ば
ない。従って、必要に応じてスコープに設けるようにし
ても良い。以上説明した実施例によれば、回路に過電流
が生じた場合、CCDに供給される駆動電圧及び駆動電
流が遮断されるので、これにより過電流に因るCCDの
破壊を回避することができる。
断機能とを有しており、このため、過電流検知回路が不
要となり、回路規模を縮小することができる。なお、電
流ヒューズは、外部制御を要しないので設置場所を選ば
ない。従って、必要に応じてスコープに設けるようにし
ても良い。以上説明した実施例によれば、回路に過電流
が生じた場合、CCDに供給される駆動電圧及び駆動電
流が遮断されるので、これにより過電流に因るCCDの
破壊を回避することができる。
【0024】以下、図4を参照してこの発明の第2の実
施例について説明する。なお、先の図1に示した部分と
同一部分には同一符号を付して詳細な説明を省略する。
先の図1に示した実施例と異なる点は、CCD105に
供給される駆動電流を低域通過フィルタ(以下、LPF
と記す)401に供給する点にある。CCD105に供
給される駆動電流は、例えば、水平転送パルスであり、
該パルスは、LPF401で積分されたのち、反転入力
端が基準電圧に接続されたコンパレータ403の非反転
入力端に入力される。
施例について説明する。なお、先の図1に示した部分と
同一部分には同一符号を付して詳細な説明を省略する。
先の図1に示した実施例と異なる点は、CCD105に
供給される駆動電流を低域通過フィルタ(以下、LPF
と記す)401に供給する点にある。CCD105に供
給される駆動電流は、例えば、水平転送パルスであり、
該パルスは、LPF401で積分されたのち、反転入力
端が基準電圧に接続されたコンパレータ403の非反転
入力端に入力される。
【0025】CCD105に過電流が供給されると、C
CD105の入力抵抗が低くなり、これによりCCD1
05に供給される駆動電圧の波高値が通常よりも低くな
る。LPF403は駆動電流を積分し、これにより得ら
れる直流値は、コンパレータ403の非反転入力端に供
給される。コンパレータ403の反転入力端に供給され
る基準電圧は、通常時の駆動電流を積分して得られる電
圧値であり、コンパレータ403は、該電圧値とLPF
401で得られる直流値とを比較し、比較結果はCPU
405に供給される。
CD105の入力抵抗が低くなり、これによりCCD1
05に供給される駆動電圧の波高値が通常よりも低くな
る。LPF403は駆動電流を積分し、これにより得ら
れる直流値は、コンパレータ403の非反転入力端に供
給される。コンパレータ403の反転入力端に供給され
る基準電圧は、通常時の駆動電流を積分して得られる電
圧値であり、コンパレータ403は、該電圧値とLPF
401で得られる直流値とを比較し、比較結果はCPU
405に供給される。
【0026】CPU405は、比較結果に基づいて過電
流の発生を検知し、リレー117、123を開成制御
し、これにより、CCD105に供給される駆動電圧及
び駆動電流が遮断される。なお、LPF401をプロセ
ッサ103内若しくはスコープ101のコネクタ内に配
置するようにして回路に生じた過電流を検知するように
しても良い。
流の発生を検知し、リレー117、123を開成制御
し、これにより、CCD105に供給される駆動電圧及
び駆動電流が遮断される。なお、LPF401をプロセ
ッサ103内若しくはスコープ101のコネクタ内に配
置するようにして回路に生じた過電流を検知するように
しても良い。
【0027】以下、図5を参照してこの発明の第3の実
施例について説明する。なお、先の図1及び図4に示し
た部分と同一部分には同一符号を付して詳細な説明を省
略する。図5に示されるように、レギュレータ115に
の出力は、オペアンプ503、トランジスタTr、及び
可変抵抗Rを有する定電圧源501及び過電流検知回路
509を直列に介してCCD105に供給される。
施例について説明する。なお、先の図1及び図4に示し
た部分と同一部分には同一符号を付して詳細な説明を省
略する。図5に示されるように、レギュレータ115に
の出力は、オペアンプ503、トランジスタTr、及び
可変抵抗Rを有する定電圧源501及び過電流検知回路
509を直列に介してCCD105に供給される。
【0028】さらに、定電圧源501の出力は、過電流
検知回路511を介して駆動信号ドライバ121の電源
端に供給される。CCD105の画像信号は、プロセッ
サ103内に配置されたLPF401で積分されたの
ち、コンパレータ403で基準電圧と比較されてオア回
路513の一端に供給される。オア回路513の他端に
は、オア回路515を介して得られる過電流検知回路5
09、511のオア出力が供給される。オア回路513
の出力は、CPU517に入力され、CPU517の制
御出力は、定電流源501を構成するデジタル制御可能
な可変抵抗Rの制御端に供給される。
検知回路511を介して駆動信号ドライバ121の電源
端に供給される。CCD105の画像信号は、プロセッ
サ103内に配置されたLPF401で積分されたの
ち、コンパレータ403で基準電圧と比較されてオア回
路513の一端に供給される。オア回路513の他端に
は、オア回路515を介して得られる過電流検知回路5
09、511のオア出力が供給される。オア回路513
の出力は、CPU517に入力され、CPU517の制
御出力は、定電流源501を構成するデジタル制御可能
な可変抵抗Rの制御端に供給される。
【0029】CCD105に過電流が供給され、これに
より画像信号出力のバイアスが低くなると、CPU51
7は、先の第2の実施例で説明したように、コンパレー
タ403の比較結果に基づいて過電流の発生を検知す
る。さらに、CPU517には、過電流検知回路50
9、511の出力が供給されており、CPU517は、
これら入力信号に基づいて可変抵抗507の抵抗値を制
御し、定電圧源501の出力を低くする。これにより、
CCD105に供給される駆動電圧及び駆動電流の波高
値が減じられる。
より画像信号出力のバイアスが低くなると、CPU51
7は、先の第2の実施例で説明したように、コンパレー
タ403の比較結果に基づいて過電流の発生を検知す
る。さらに、CPU517には、過電流検知回路50
9、511の出力が供給されており、CPU517は、
これら入力信号に基づいて可変抵抗507の抵抗値を制
御し、定電圧源501の出力を低くする。これにより、
CCD105に供給される駆動電圧及び駆動電流の波高
値が減じられる。
【0030】なお、上記実施例では、定電圧源の電圧を
減じるように制御しているが、レギュレータ115から
CCD105及び駆動信号ドライバ121に供給される
電流値を減じるようにしても良い。以下、図6を参照し
てこの発明の第4の実施例について説明する。なお、先
の図1及び図5に示した部分と同一部分には同一符号を
付して詳細な説明を省略する。この実施例では、スコー
プ101に搭載されるCCD105の種類を特定するた
めのデータが記憶保持されている読出しメモリ(以下、
ROMと記す)601が、スコープ101内に配置され
ている。ROM601に記憶保持されたデータはCPU
603に供給される。
減じるように制御しているが、レギュレータ115から
CCD105及び駆動信号ドライバ121に供給される
電流値を減じるようにしても良い。以下、図6を参照し
てこの発明の第4の実施例について説明する。なお、先
の図1及び図5に示した部分と同一部分には同一符号を
付して詳細な説明を省略する。この実施例では、スコー
プ101に搭載されるCCD105の種類を特定するた
めのデータが記憶保持されている読出しメモリ(以下、
ROMと記す)601が、スコープ101内に配置され
ている。ROM601に記憶保持されたデータはCPU
603に供給される。
【0031】すなわち、スコープ101に搭載されるC
CD105が異なる画素数等、複数種類存在する場合、
各CCD毎に消費電流が異なる。そこで、ROM601
には、搭載される各CCDを特定するためのデータが記
憶されている。さらに、レギュレータ115の出力側
と、駆動信号ドライバ121の制御入力側には、それぞ
れ過電流検知回路605、607が設けられており、過
電流検知回路605、607の過電流検知信号は、オア
回路609を介してCPU603に供給される。
CD105が異なる画素数等、複数種類存在する場合、
各CCD毎に消費電流が異なる。そこで、ROM601
には、搭載される各CCDを特定するためのデータが記
憶されている。さらに、レギュレータ115の出力側
と、駆動信号ドライバ121の制御入力側には、それぞ
れ過電流検知回路605、607が設けられており、過
電流検知回路605、607の過電流検知信号は、オア
回路609を介してCPU603に供給される。
【0032】スコープ101がプロセッサ103に接続
されると、スコープ101に搭載されたCCD105の
種類を特定するためのデータが、CPU603に供給さ
れる。CPU603は、CCDの種類に応じて、過電流
検知回路605、607が過電流を検知するための電流
閾値を設定する。
されると、スコープ101に搭載されたCCD105の
種類を特定するためのデータが、CPU603に供給さ
れる。CPU603は、CCDの種類に応じて、過電流
検知回路605、607が過電流を検知するための電流
閾値を設定する。
【0033】所定の電流閾値が設定された過電流検知回
路605、607で得られる過電流検知信号は、CPU
603に供給され、CPU603は、入力される過電流
検知信号に基づいて、過電流検知回路605及び駆動信
号ドライバ121の各出力端に設けられたリレー11
7、123を開閉制御する。回路に過電流が生じた場合
は、リレー117、123が開成し、これによりCCD
105に供給される駆動電圧及び駆動電流が遮断され
る。
路605、607で得られる過電流検知信号は、CPU
603に供給され、CPU603は、入力される過電流
検知信号に基づいて、過電流検知回路605及び駆動信
号ドライバ121の各出力端に設けられたリレー11
7、123を開閉制御する。回路に過電流が生じた場合
は、リレー117、123が開成し、これによりCCD
105に供給される駆動電圧及び駆動電流が遮断され
る。
【0034】なお、リレー117、123の代わりに電
流制限回路を設け、ROM601に記憶されたデータに
応じて上記電流制限回路の制限電流値を設定し、CCD
105に所定以上の電流が供給されないようにしても良
い。また、図7に示されるように、ROMの代わりにス
コープ101とプロセッサ103とを接続するためのコ
ネクタ内に各CCDに対応して配置された検知ピン70
1を設けても良い。
流制限回路を設け、ROM601に記憶されたデータに
応じて上記電流制限回路の制限電流値を設定し、CCD
105に所定以上の電流が供給されないようにしても良
い。また、図7に示されるように、ROMの代わりにス
コープ101とプロセッサ103とを接続するためのコ
ネクタ内に各CCDに対応して配置された検知ピン70
1を設けても良い。
【0035】スコープ101がプロセッサ103に接続
されると、検知ピン701の検知出力がプロセッサ10
3内のCPU603に入力される。CPU603には、
CCDの種類を特定するためのデータが予め記憶されて
いる。CPU603は、入力された検知ピン701のデ
ータに基づいてCCDの種類を特定し、CCDの種類に
応じて過電流検知回路の電流閾値を設定する。
されると、検知ピン701の検知出力がプロセッサ10
3内のCPU603に入力される。CPU603には、
CCDの種類を特定するためのデータが予め記憶されて
いる。CPU603は、入力された検知ピン701のデ
ータに基づいてCCDの種類を特定し、CCDの種類に
応じて過電流検知回路の電流閾値を設定する。
【0036】上記実施例によれば、スコープ101内に
搭載されるCCDが複数種類存在する場合でも、各CC
Dの種類に応じて過電流検知回路の設定閾値を変えるこ
とができる。従って、常に最適な制御により、CCDの
破壊が回避される。また、CCDの種類毎に回路を設け
る必要がないので、回路規模の増大が回避される。
搭載されるCCDが複数種類存在する場合でも、各CC
Dの種類に応じて過電流検知回路の設定閾値を変えるこ
とができる。従って、常に最適な制御により、CCDの
破壊が回避される。また、CCDの種類毎に回路を設け
る必要がないので、回路規模の増大が回避される。
【0037】
【発明の効果】以上説明した発明によれば、固体撮像素
子への外乱ノイズ混入等に因る誤動作により、固体撮像
素子に過電流が供給された場合でも、該過電流の発生を
検知して固体撮像素子に供給される駆動電圧及び駆動電
流が抑制されるので、固体撮像素子を過電流に因る破壊
から保護することができる。
子への外乱ノイズ混入等に因る誤動作により、固体撮像
素子に過電流が供給された場合でも、該過電流の発生を
検知して固体撮像素子に供給される駆動電圧及び駆動電
流が抑制されるので、固体撮像素子を過電流に因る破壊
から保護することができる。
【図1】この発明の一実施例を示すブロック図。
【図2】図1に示した過電流検知回路の第1の実施例を
示す回路図。
示す回路図。
【図3】図1に示した過電流検知回路の第2の実施例を
示す回路図。
示す回路図。
【図4】この発明の第2の実施例を示すブロック図。
【図5】この発明の第3の実施例を示すブロック図。
【図6】この発明の第4の実施例を示すブロック図。
【図7】図6に示した第4の実施例の他の実施例を示す
ブロック図。
ブロック図。
【図8】従来の電子内視鏡装置を示すブロック図。
100 電子内視鏡装置 101 スコープ 103 プロセッサ 105 CCD 107 ライトガイド 109 電源回路 111 患者回路 113、509、511、605、607 過電流検知
回路 115 レギュレータ 117、123 リレー 119 駆動信号ジェネレータ 121 駆動信号ドライバ 125 アンプ 127 アイソレーショントランス 129 信号処理回路 131、405、517、603 CPU 133 フォトカプラ 135 警告信号処理回路 137 警告部 139 重畳回路 201、403 コンパレータ 401 LPF 501 定電圧源 503 オペアンプ 513、515、609 オア回路 601 ROM 701 検知ピン
回路 115 レギュレータ 117、123 リレー 119 駆動信号ジェネレータ 121 駆動信号ドライバ 125 アンプ 127 アイソレーショントランス 129 信号処理回路 131、405、517、603 CPU 133 フォトカプラ 135 警告信号処理回路 137 警告部 139 重畳回路 201、403 コンパレータ 401 LPF 501 定電圧源 503 オペアンプ 513、515、609 オア回路 601 ROM 701 検知ピン
フロントページの続き (72)発明者 織田 朋彦 東京都渋谷区幡ヶ谷2丁目43番2号 オ リンパス光学工業株式会社内 (56)参考文献 特開 平5−168588(JP,A)
Claims (1)
- 【請求項1】 スコープ先端に設けられた固体撮像素子
で観察対象物を撮像し、前記固体撮像素子で光電変換さ
れた信号を前記スコープに接続されたプロセッサで所要
の信号処理を施すことにより、前記観察対象物を観察す
る電子内視鏡装置において、 前記スコープと前記プロセッサとで構成される回路に生
じる過電流を検知する過電流検知手段と、 前記固体撮像素子へ供給される駆動電圧及び駆動電流を
抑制する電力制御手段と、前記プロセッサと接続されたスコープに内蔵された前記
固体撮像素子の種類を特定する特定手段と、 前記特定手段により特定した固体撮像素子の種類に応じ
て、前記過電流検知手段が過電流を検知するための電流
閾値及び前記電力制御手段が抑制するための電力閾値の
少なくとも一方を設定する閾値設定手段 とを有し、 前記過電流検知手段が前記回路に生じた過電流を検知し
たときは、前記電力制御手段を制御させて、前記駆動電
圧及び前記駆動電流の少なくとも一方を抑制するように
したことを特徴とする電子内視鏡装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5354567A JP2687276B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 電子内視鏡装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5354567A JP2687276B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 電子内視鏡装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7183240A Division JPH0824218A (ja) | 1995-06-28 | 1995-06-28 | 電子内視鏡装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07194530A JPH07194530A (ja) | 1995-08-01 |
JP2687276B2 true JP2687276B2 (ja) | 1997-12-08 |
Family
ID=18438430
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5354567A Expired - Fee Related JP2687276B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 電子内視鏡装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2687276B2 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4814717B2 (ja) * | 2006-07-28 | 2011-11-16 | Hoya株式会社 | 電子内視鏡、及び、電子内視鏡システム |
JP2008161427A (ja) * | 2006-12-28 | 2008-07-17 | Pentax Corp | 電子内視鏡、および電子内視鏡システム |
JP5272053B2 (ja) * | 2011-07-26 | 2013-08-28 | 富士フイルム株式会社 | 電子内視鏡装置及び電子内視鏡システム |
JP5298259B1 (ja) * | 2011-09-22 | 2013-09-25 | オリンパスメディカルシステムズ株式会社 | 内視鏡 |
CN105188510B (zh) * | 2013-08-09 | 2017-10-31 | 奥林巴斯株式会社 | 内窥镜装置 |
JP6265815B2 (ja) * | 2014-03-31 | 2018-01-24 | Hoya株式会社 | 電子内視鏡システム |
US10213180B2 (en) | 2016-09-14 | 2019-02-26 | Dental Imaging Technologies Corporation | Multiple-dimension imaging sensor with operation based on magnetic field detection |
US10932733B2 (en) | 2016-09-14 | 2021-03-02 | Dental Imaging Technologies Corporation | Multiple-dimension imaging sensor with operation based on movement detection |
US10299741B2 (en) * | 2016-09-14 | 2019-05-28 | Dental Imaging Technologies Corporation | Multiple-dimension imaging sensor and state-based operation of an imaging system including a multiple-dimension imaging sensor |
US10299742B2 (en) * | 2016-09-14 | 2019-05-28 | Dental Imaging Technologies Corporation | Multiple-dimension imaging sensor with fault condition detection |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3043877B2 (ja) * | 1991-12-20 | 2000-05-22 | 株式会社東芝 | 電子内視鏡装置 |
-
1993
- 1993-12-28 JP JP5354567A patent/JP2687276B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07194530A (ja) | 1995-08-01 |
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