JP3435179B2 - 荷電粒子のフィルタ方法、エネルギフィルタ装置、エネルギフィルタ装置を有する分析器 - Google Patents

荷電粒子のフィルタ方法、エネルギフィルタ装置、エネルギフィルタ装置を有する分析器

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JP3435179B2
JP3435179B2 JP32333892A JP32333892A JP3435179B2 JP 3435179 B2 JP3435179 B2 JP 3435179B2 JP 32333892 A JP32333892 A JP 32333892A JP 32333892 A JP32333892 A JP 32333892A JP 3435179 B2 JP3435179 B2 JP 3435179B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、荷電粒子のフィルタ方
法、エネルギフィルタ装置、エネルギフィルタ装置を有
する分析器に関する。
【0002】
【従来の技術】上述したようなエネルギフィルタ処理は
特にプラズマ質量分析計と関連して使用される。公知の
質量分析計によって構成されたエネルギフィルタ装置で
は、粒子ビームの荷電分子粒子あるいは荷電原子粒子が
伝送中に運動エネルギに応じてフィルタ処理を受ける。
【0003】プラズマ分析のための質量分析計技術につ
いては、バルザース社(Firma Balsers) 、K.へーフラー
(Hoefler) のBG 800 184 PA (8410)「プラズマ特性化方
法 (Methods of plasma characterization) 」および同
社のBG 800 169 PD (871) 「真空技術における部圧測定
(Partialdruckmessung in der Vakuumtechik)」を参照
されたい。
【0004】上述したような分子ビームが質量分析計に
送られる前にエネルギフィルタ処理を受けることがしば
しば望まれ、これにより特定の運動エネルギを持つ分子
ビーム粒子が選択的に質量分析計に供給される。
【0005】本発明はその第1の局面では上述したよう
なエネルギフィルタ処理に向けられている。このような
エネルギフィルタ処理についてはEP-A-0 223 520によっ
て公知である。基本的には、上記特許から公知のエネル
ギフィルタ処理は周知の円筒形コンデンサの反射原理に
基づいて行われる。このような原理によれば、粒子ビー
ムの荷電粒子は円筒形コンデンサの電界スペース内に導
かれ、該円筒形コンデンサの外側電極面によって静電的
に偏向すなわち反射された後にそこから排出される。要
するに、所定の静電電界では、高運動エネルギの荷電粒
子は低運動エネルギの荷電粒子よりも一層小さな湾曲軌
道を通り、このため所定の運動エネルギ帯域の荷電粒子
だけが反射スペースを通って出口開口に到達し得るの
で、これに基づいてエネルギフィルタ効果が得られるこ
とになる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述の欧州特許の開示
内容は本明細書の全体に亘って説明されるが、かかる開
示内容によれば、荷電粒子ビームは反射円筒形装置の軸
線方向に供給され、第1の偏向コンデンサを成す一対の
電極面によって形成された同軸線方向の開口部内に導入
される。一対の電極面は半径方向外側に湾曲した電界ス
ペースを形成し、荷電粒子はその荷電極性および偏向コ
ンデンサ極性に応じて半径方向外側に偏向され、その湾
曲入口側電界スペースを出た後、荷電粒子は同軸線方向
の内部電極コアと同軸線方向の反射コンデンサ外被とし
ての円筒形電極面(反射面)との間の本来の反射スペー
ス内に入る。反射スペース内で荷電粒子は偏向され、次
いで半径方向の平面に関して入口側と対称となった電界
スペースに進み、更に別の一対の電極面間に形成された
出口側電界スペース内に入る。続いて、荷電粒子は入口
軸線に整列した出口軸線に沿ってエネルギフィルタ装置
から排出される。
【0007】半径方向内側の入口偏向電極面、内部反射
コンデンサ電極面、および出口偏向電極面は単一の同じ
円筒形コアによって形成されている。すべてのビーム偏
向は静電電界によって行われるので、入口側の湾曲電界
スペースにおいても、反射スペースにおいても、また湾
曲出口電界スペースにおいても、導入荷電粒子のフィル
タ処理は上述の電界スペースのそれぞれで行われ、この
ため遠心分離の場合と同様に、低運動エネルギの荷電粒
子は湾曲内側電極面に衝突し、高運動エネルギの荷電粒
子は湾曲外側電極面に衝突する。
【0008】また、上述した公知のエネルギフィルタ装
置においては、入口側湾曲電界スペースを形成する一対
の電極対の間に発生した静電電界は円筒形コンデンサの
反射スペースに干渉する。このため静電的な電界は入口
側電界スペースから円筒形反射スペース内への移行領域
で互いに重なり合うことになる。
【0009】円筒形反射スペースと出口側湾曲電界スペ
ースとの間の移行領域でも同様なことが言える。このよ
うな移行領域での電界の重なりによって生じた領域の電
界については、円筒形コアと同電位に保たれたシールド
リングを設けることによって除去することはできない。
また、シールドリングと反射円筒形コンデンサの外側電
極との間に荷電粒子の運動方向に対して特定の電界も形
成され、この電界は荷電粒子に加速作用または減速作用
を及ぼし、このためエネルギフィルタ装置の特性が変え
られる。したがって、本発明の第1の局面によれば、上
述したような電界の重なり問題を解決することが課題と
される。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、粒子ビ
ームの荷電粒子を運動エネルギに応じてフィルタ処理す
るフィルタ方法であって、粒子ビームを第1の静電電界
に通過させて第1のスペース領域内で偏向させ、第1の
スペース領域の前方側および/または後方側でビーム伝
幡方向に接続された第2のスペース領域で粒子ビームを
第2の静電電界に通過させて戻すフィルタ方法におい
て、第1のスペース領域あるいは第2のスペース領域を
電界に対してシールドすることにより、上述の電界の重
なり問題が解決される。
【0011】かかるシールドを設けることにより、双方
のスペース領域の電界は相互に干渉することはなく、ま
た偏向電界の調整はそれぞれスペース領域において互い
に独立して行うことが可能であり、このため各スペース
領域に形成された偏向電界によって得られるフィルタ作
用自体も相互に係わりなく調節可能である。特許請求の
範囲の請求項2に記載された事項によれば、静電電界の
発生のための電極をシールドとして利用することによ
り、構造的簡略化が得られる。
【0012】特許請求の範囲の請求項3に記載された事
項によれば、第1のスペース領域と第2のスペース領域
との間には実質的に電界の無いスペースが設けられ、こ
れにより双方の偏向スペース間には一層の隔離が得られ
る。荷電粒子は一方のスペース領域を通過した後に電界
の無いスペースを横切って他方のスペース領域の適切な
電界によって偏向される。このため上述の無電界スペー
スでは粒子ビームの経路に及ぼす偏向電界を考慮する必
要がないので、粒子ビームの経路を最適に制御すること
が容易に行うことが可能となる。
【0013】特許請求の範囲の請求項4に記載された事
項によれば、第2の静電電界の少なくとも一方が実質的
に同じ湾曲面となった2つの電極面間に発生させられ、
第1のスペース領域のためのシールドが湾曲外側電極面
の連続延長部によって形成され、しかも第1の静電電界
を形成する電極面として使用されるので、特に簡略化さ
れた構造が得られる。
【0014】特許請求の範囲の請求項5に記載された事
項によれば、湾曲外側電極面により、実質的に電界の無
いスペースが形成され、このスペースが粒子ビームによ
って横切られるので、イオン光学上の利点を僅かな設計
上の追加費用で得ることが可能である。このことは、特
に、特許請求の範囲の請求項4の好ましい変形実施態
様、すなわち湾曲外側電極面でもってシールドおよび/
または無電界スペースを形成するだけなく、第1のスペ
ース領域の第1の電界発生のための電極として使用する
変形実施態様において言える。
【0015】また、特許請求の範囲の請求項6に記載さ
れているように、好ましくは、粒子ビームの排出方向が
粒子ビームの入口方向に対して平行となるようにされ
る。このような構成によれば、中性粒子の分析のために
エネルギフィルタ装置の前方側および後方側のぞれぞれ
への電子衝撃イオン化源および質量分析計好ましくは4
極質量分析計の接続を整列状態で行うことが可能とな
る。
【0016】特許請求の範囲の請求項7に記載した事項
によれば、第2のスペース領域が2つ設けられ、粒子ビ
ームがそれぞれ2つのスペース領域の一方に出入りさせ
られ、このとき該粒子ビームの偏向については、該ビー
ムの入口方向および出口方向が実質的に一致するように
行われる。このような構成においては、エネルギフィル
タ装置、イオン化源および質量分析を共通の軸線上に沿
って配置することが可能となる。好ましくは、第2のス
ペース領域の双方と第1のスペース領域との間には特許
請求の範囲の請求項1ないし6に記載された構成が取り
入れられる。
【0017】更に、本発明によれば、粒子ビームの荷電
粒子を運動エネルギに応じてフィルタ処理するエネルギ
フィルタ装置であって、ビーム入口手段と、ビーム出口
手段と、これらビーム入口手段およびビーム出口手段と
の間でビーム通過方向に沿って連続して配置された少な
くとも二対のコンデンサ電極とを具備し、これら二対の
コンデンサ電極がそれぞれ実質的にビーム伝幡方向に対
し垂直方向に互いに逆極性の電界を発生するようになっ
ているエネルギフィルタ装置において、コンデンサ電極
対間の電界スペースに電気的シールドを設けることによ
っても、上述の課題は解決される。
【0018】特許請求の範囲の請求項9に記載されてい
るように、好ましくは、コンデンサ電極対間に湾曲電界
スペースが形成され、その湾曲外側電極の連続部により
電気的シールドが形成され、この電気的シールドには粒
子ビームを通過させるための通過手段が設けられる。こ
のような構成にあっては、電気的シールドのために追加
の構造要素を設けることが回避され得る。この場合、特
許請求の範囲の請求項10に記載されているように、か
かる連続部によって他方の電極対のコンデンサ電極を形
成してもよい。このような構成によれば、双方の静電電
界が湾曲外側電極の電位の調整によって行われない限
り、本発明により設けられた電気的シールドは双方の電
界形成に共通な構造によって実現されるけれども、双方
の電界を互いに分離することは可能となる。
【0019】本発明によるフィルタ方法に関連して説明
した利点、すなわち双方のスペース領域間に無電界スペ
ースを設ける利点は特許請求の範囲の請求項11に記載
した事項によって得られる。すなわち、電極対間に同電
位となっ縁によって形成されたスペースが設けられ、こ
のスペースには粒子ビームが一方の電界スペースを出た
後に一方電極対間を横切り、他方の電界スペースに入る
前に他方の電極対間を横切り、上述の縁が電極面の連続
によって形成される。
【0020】特許請求の範囲の請求項12に記載された
事項によれば、コンデンサ電極対間には湾曲電界スペー
スが形成され、その湾曲外側電極の連続部により実質的
に電界のないスペースが形成される。このような構成に
おいては、粒子ビームがコンデンサ電極対あるいはそれ
によって形成された湾曲電界スペースを出るとき、粒子
ビームは実質的に電界の無いスペースを傾斜した角度で
通過する。このため粒子ビームの軌道はかかる無電界ス
ペースを出た直後に干渉電界出口領域を去ることにな
る。
【0021】特許請求の範囲の請求項13に記載された
事項によれば、湾曲電界スペースから無電界スペースへ
の移行領域すなわちスペース境界縁に上述の通過手段が
配置され、湾曲外側電極によってシールドだけでなく他
方の電極対の1つも形成される。このような構成おいて
は、最も簡略化された構造が得られる。無電界スペース
を設けることにより、そこで粒子ビームの経路をイオン
光学手段を設けることにより最適化することが可能とな
り、また特許請求の範囲の請求項14に記載したような
絞り板の好ましい配置により、粒子ビームの外縁部分が
制限される。
【0022】以上で説明したエネルギフィルタ装置にあ
っては、粒子ビームの偏向が2段階で行われたけれど
も、基本的には、特許請求の範囲の請求項15ないし2
2に記載されているように、かかるエネルギフィルタ装
置を相互に結合し、第1の入口側での粒子ビームの偏
向、それからの戻り、次いで再び粒子ビームの偏向を行
って粒子ビームを実質的にS字形軌道に沿って通過させ
るのではなく、実質的に二重S字形軌道あるいは
【外1】 に沿って移動させるようにしてもよい。
【0023】また、特許請求の範囲の請求項15ないし
24に記載されているように、粒子ビームの一部に対し
てEP-A-0 223 520から基本的に公知であるように
【外2】 を与えることもできる。
【0024】EP-A-0 223 520に開示された公知のエネル
ギフィルタ装置の利点として、その同軸線構造が挙げら
れる。すなわち、入口偏向電極および出口偏向電極は共
に円筒形コンデンサの円筒反射電極面の軸線上に配置さ
れる。入射粒子ビームは電極面を形成する円筒状コアの
鋭い尖端すなわち一種の特異点で二分されて該軸線に対
して鏡面対称な軌道に沿って進む。かかる尖端では、周
知のように強電界箇所が発生する。エネルギフィルタ装
置の軸線上に沿って正確に入射する粒子は上述の強電界
箇所を通過し得ず、また該軸線近くに入射する粒子も同
様なことが言える。かかる尖端を通過した粒子は円筒形
反射電極面に対して好ましくない入射パレメータを持つ
ことになる。粒子ビームの案内制御は絶えず行われる
が、しかし上述のビーム分割尖端がそこに発生される強
電界のために粒子ビームの案内制御に悪影響を及ぼすと
が知られている。
【0025】しかしながら、本発明によれば、かかる問
題点も解決される。すなわち、粒子ビームの荷電粒子を
運動エネルギに応じて円筒形コンデンサでの反射でもっ
てフィルタ処理するエネルギフィルタ装置であって、円
筒形コンデンサへのビーム入口手段と、そこからのビー
ム出口手段とを具備し、それらの入口軸線および出口軸
線が実質的に整列されているエネルギフィルタ装置にお
いて、粒子ビーム路を円筒形コンデンサの中心軸線に関
して非対称とすることにより、上述した問題の解決が成
される。
【0026】粒子ビーム路をエネルギフィルタ装置の軸
線に対して非対称とした場合であっても、ビーム伝送率
は減少されず、また粒子ビームを分割させるような入口
尖端が生じ得ないことも判明した。特に、ビーム中心に
ある粒子は高伝送率で通過し、また非対称で粒子ビーム
を案内する場合であっても、入口軸線および出口軸線の
整列は維持され得る。
【0027】エネルギフィルタ装置の前方側および後方
側のそれぞれにイオン化源および4極質量分析計を組み
合わせる場合、入口軸線および出口軸線を整列させるこ
とはきわめて重要な事項であるが、しかし該軸線を円筒
形コンデンサの軸線に一致させること自体は重要ではな
い。したがって、特許請求の範囲の請求項26では、入
口軸線および出口軸線を円筒形コンデンサの軸線に対し
て平行にオフセットされることが提案されている。ま
た、円筒形コンデンサの軸線に対して粒子ビームの案内
が非対称で行われるにも拘わらず、該円筒形コンデンサ
の横断面容積を効率的に利用することが可能である。
【0028】本発明の第2の局面によるエネルギフィル
タ装置すなわち特許請求の範囲の請求項25ないし26
に記載されているようなエネルギフィルタ装置について
は、本発明による第1の局面によるエネルギフィルタ装
置すなわち特許請求の範囲の請求項12ないし22に記
載されているようなエネルギフィルタ装置と共に理想的
に実現することが可能であり、このため最後に述べた問
題点すなわち粒子ビームの分割に伴う問題点だけでなく
最初に述べた問題点すなわち電界干渉問題も解決され得
る。
【0029】この場合、特許請求の範囲の請求項27に
記載されているように、円筒形コンデサは特許請求の範
囲の請求項15から24までのいずれか1項に記載され
た中央の二対の電極によって形成され、ビーム入口手段
およびビーム出口手段は特許請求の範囲の請求項15か
ら24までのいずれか1項に記載された外側電極によっ
て形成され得る。
【0030】好ましくは、特許請求の範囲の請求項28
の記載から明らかなように、円筒形コンデンサが外側円
筒形電極面を有し、この外側円筒形電極面がその横断面
の4分円内で反射コンデンサ電極として機能し、ビーム
入口手段またはビーム出口手段該4分円に対し軸対称に
となった4分円内に配置される。このような非対称構造
によれば、反射領域内に保持手段を設けることが全く必
要とされない。
【0031】また、特許請求の範囲の請求項29および
30の記載から明らかなように、入口手段および/また
は付加的なイオン光学手段の設置によって円筒形コンデ
ンサの軸線上にビーム焦点を位置させ、これにより上述
したような無電界スペースとの好ましい組合せが得られ
る。この点では、入口手段の調整およびまたはイオン光
学手段の設置により、反射電界とは無関係に粒子ビーム
をイオン光学的に最適なものとすることが可能である。
【0032】本発明による分析器、有利にはプラズマ分
析器は特許請求の範囲の請求項8ないし30のいずれか
1項に記載のエネルギフィルタ装置を具備し、このエネ
ルギフィルタ装置の後方側には特許請求の範囲の請求項
31に記載されているように質量分析器好ましくは4極
質量分析器が接続される。本発明による分析器にかかる
エネルギフィルタ装置を組み込むことにより、質量分析
器に供給すべきエネルギスペクトルの選択性が最適にな
るだけでなく、該エネルギフィルタ装置の入口軸線およ
び出口軸線の整列性のために分析器の全体構成のコンパ
クト化も得られる。
【0033】また、本発明による電子衝撃イオン化源は
中性粒子のための入口開口手段と、イオンのための出口
開口手段とを具備し、かつ特許請求の範囲の請求項32
に記載されたような特徴事項を有する。すなわち、本発
明による電子衝撃イオン化源にあっては、加速格子が入
口開口手段と出口開口手段との間に規定された伝送軸線
に沿って延在し、このため中性粒子が電子衝突により均
質にしかも制御可能にイオン化され、かくして高イオン
化率が得られる。特に、特許請求の範囲の請求項33お
よび34に記載された事項によれば、最も均質なイオン
化分布が得られる。好ましくは、本発明による電子衝撃
イオン化源は本発明によるエネルギフィルタ装置と共に
用いられる。
【0034】当業者には明らかなように、本発明による
エネルギフィルタ装置では、その電極対の電位調節を行
うことにより、またエネルギフィルタ処理段階の相互干
渉を阻止することにより、最も狭いエネルギ帯域でのフ
ィルタ処理が可能となる。また、かかるエネルギフィル
タ処理段階の相互干渉の阻止に基づくシールドのために
各エネルギフィルタ処理の調節を最適に行うことが可能
となる。更に、本発明の第2の局面によるエネルギフィ
ルタ装置では、ビーム入口軸線およびビーム出口軸線を
オフセットさせることなくそこを通る粒子ビームに障害
のない制御を行うことが可能である。本発明に従って得
られるエネルギフィルタ構造については種々組み合わせ
て使用することが理想的である。
【0035】
【実施例】次に、添付図面を参照して、本発明による種
々の局面について例示的に説明する。図1には、例えば
EP-A-0223520から公知である荷電粒子ビームのための偏
向装置の長手方向断面部分が概略的に図示される。荷電
粒子ビーム、例えば正に荷電されたイオン1は、電極体
3a′、3b′に実質的に同じ湾曲面として形成された
電極面3aおよび3b間の湾曲スペース3 内に導入され
る。電極面3aおよび3b間には記号+および−で示す
ような電圧が印加され、これにより電界スペース3内に
はイオン1のビームSの経路すなわち破線で示す経路に
対して実質的に垂直方向となった静電電界E3 が発生さ
せられる。電界スペース3を通過するイオン1はその導
入口から静電電界E3 のために偏向される。
【0036】静電電界E3 では、より大きな運動エネル
ギを持つイオンが受ける偏向作用はより小さい運動エネ
ルギを持つイオンが受ける偏向作用よりも小さい。この
ため所定の運動エネルギ帯域のイオンは電界スペース3
を通過し得るが、大きな運動エネルギを持つイオンは電
極面3aおよび3bのいずれか一方に衝突して中性化さ
れる。
【0037】外側湾曲電極面3bは出口領域5において
電界スペース3からの粒子ビームの射出方向に対して鋭
角を成すように延在して電極面7bを形成し、この電極
面7bに対する対向電極面が7aで示される。電極面7
aおよび7b間には静電電界E7 が静電電界E3 とは逆
極性で発生させられる。このため破線で概略的に図示す
るようにイオンの経路は逆方向に偏向させられ、このと
きイオンは該破線で示されるように出口装置4の開口に
到達し得る。すなわち、電界スペース7でもイオンはそ
の運動エネルギに応じて多少偏向されるので、特定の運
動エネルギ帯域のイオンだけが出口装置7の開口に到達
し、かくして荷電粒子のエネルギフィルタ作用が得られ
ることになる。
【0038】破線E37で示すように、電界スペース3の
出口領域5には電界ペース7内で漂遊電界が生じ、この
ため該出口領域には電界E7 にも電界E3 にも関連した
生じた電界が該漂遊電界E37およびそこで支配的な一次
電界E7 と重なり合う。かかる公知の偏向装置では、電
極面3bおよび7bと同電位となったシールドリング9
を設けることが提案され、この場合には追加の電界E79
も生ずる。このような電界E79は電界E7 にも影響を与
え、このため電界スペース7に導入されたイオンはその
極性に応じて加速あるいは減速させられるので、該イオ
ンの軌道が変えられ、かくしてエネルギフィルタ作用が
悪化する。
【0039】図2に示した本発明による偏向装置にあっ
ては、図1の電界スペース3および7にそれぞれに対応
した電界スペースの静電電界が互いに結合されることな
ないので、荷電粒子ビームSへの干渉作用は回避され
る。また双方の電界スペースを互いに隔離することによ
り、該双方の電界スペースでの静電電界の調節について
は互いに関係なく最適に行うことが可能である。
【0040】先の公知の偏向装置では、湾曲電界スペー
ス3を去る際の粒子ビームは出口領域5において幾つか
の電極面によって影響された別の静電電界E7 中に直接
的に導入されるが、しかし本発明にあっては、破線で示
すようにビームSを貫通させるための通過スロット13
を形成したシールド11が設けられる。シールド11の
電位は当初任意に設定される(破線6)。出口領域5と
通過スロット13との間で粒子1の運動エネルギおよび
その偏向方向は電極3aおよび3bとシールド11との
間の電界によって影響されるが、しかしその影響はシー
ルド11の幾何学的配置の適切な選択によって最小にさ
れ得る。これは、例えば、シールド11の電位を電極3
a′の電位と電極3b′の電位との間の中間電位に設定
し、ビーム軌道域でシールド11と電極3aとの間の電
界E11a およびシールド11と電極3bとの間の電界E
11b を実質的に補償することによって達成され得る。
【0041】好ましくは、図2において参照符号6aで
示すように、シールド11が湾曲外側電極3b′と同電
位とし、中間スペースDでのビームの通過角度α≒45
°に選択することによって、シールド11と電極対3
a′との間の静電電界E11a の影響を無視することがで
きる。
【0042】また、好ましくは、図2から明らかなよう
に、シールド11は図1に示した電極7aおよび7bの
一方の電極として使用される。ビームを通過させるよう
になったシールド11は構造の簡略化のめに電極7bと
して一体化されているけれども、電界E7 およびE3
間での電界による影響はない。
【0043】図2には本発明による偏向装置の実施例と
して基本的な構成が図示されたが、図3を参照すると、
その第1の好ましい実施態様が概略的に示される。な
お、図3では図2の場合と同様な要素については同じ参
照符号が用いられる。図3から明らかなように、この第
1の好ましい実施態様では、湾曲外側電極面3bあるい
はそれを形成している電極本体3b′は電極面3aから
離れて連続して延在し、その連続部分3dは少なくとも
その一領域部あるいは複数の領域部に亘って電極本体3
b′と同電位とされ、かつ中空スペース15を部分的に
形成し、この中空スペース15には出口領域5と貫通ス
ロット13との間でビームが通過させられる。中空スペ
ース15にはその拡がりと電極面3bおよび3aの間の
電位差とに応じて干渉電界E3aが生じさせられるが、し
かしその領域は実際には中空スペース15の一部にのみ
限定され、そこをビームSが通過することはない。かく
して、該干渉電界E3aがビームの偏向方向あるいはその
粒子の運動エネルギに影響を与えることはない。
【0044】中空スペース15、特にビームSが通過す
る領域は同電位の壁面によって囲まれているので、そこ
には電界は実質的には存在しない。中空スペース15を
部分的に形成する壁部分、すなわち出口領域5に対向し
た壁部分が別の一対の電極面7aおよび7bの一方(7
b)を形成し、その間ではビームは反射のために戻され
る。湾曲電界スペース3から射出したビームは電界のな
い領域を通過するので、電極面3aを形成する電極本体
3a′とシールド11との間に発生させられる干渉電界
の影響は最小化される。特に、一対の電極3a′、3
b′の適切な形成およびその電界作用によって、あるい
は適当なイオン光学手段好ましくは絞り板15aを設け
ることによって、電界スペース7内に入る前のビーム経
路すなわち中空スペース15での電界のない領域でのビ
ーム経路を例えば収束させるように最適化することがで
きる。絞り板15aによって、ビームの外側部分は制限
される。この場合、他の電界は考慮されない。なお、イ
オン光学上の理由から、スロット13の最小直径寸法は
少なくともシールド11の壁厚dに等しくされる。
【0045】図4には本発明によるエネルギフィルタ装
置の好ましい実施態様が示され、このエネルギフィルタ
装置は平面Eに対して実質的に対称に構成され、しかも
そこには図2または図3に示した2つの偏向装置が対称
に設けられる。なお、図4でも同様な要素については同
じ参照符号が用いられる。
【0046】図4に示すエネルギフィルタ装置の構成お
よび機能については、特に図3を参照した説明から明ら
かであろう。同図でも、偏向電界E3 およびE7 には正
イオンが送り込まれる。図示するように、このエネルギ
フィルタ装置では、双方の湾曲電界スペース3の適宜の
配置により、その入口側および出口側で入口軸線AE
よび出口軸線AA を整列させることが可能である。この
ような構成によれば、回転対称形式でなくとも、分析器
を共通の入口/出口軸線AEAに配置することが可能であ
り、該分析器は後方側に設けた質量分析計、特に4極質
量分析計、また場合によっては前方側に設けたイオン化
源を含む。図4で参照符号8を付すと共に破線で図示す
るように、場合によっては、シールド部分11は共にあ
るいは個別に部分3b′に対して異なった電位とするこ
とができる。この場合、かかる部分は電気的に絶縁する
ことが必要である。
【0047】図5には、EP-A-0223520に対応する公知の
ビーム偏向装置であって、本発明の別の局面により解決
すべき課題を内在するビーム偏向装置が概略的に示さ
れ、同図においても、同様な要素については同じ参照符
号が用いられる。図5から明らかなように、湾曲電界ス
ペース3と、その内側に位置した電極面3aと、その外
側に位置した電極面3bと、一対の電極7a、7bとか
らなる入口装置は、軸線AZ を持つ円筒状形態に構成さ
れる。円筒状内部本体3b′は電界スペース7内の保持
バー17によって支持され、そこには電極面3bおよび
7bが形成され、入射ビームSは該円筒状内部本体3
b′の鋭い尖端Pで二分される。ビーム経路路Sは中心
軸線AZ に対し鏡面対称であり、入射ビームSは上述の
ように尖端P(一種の特異点)で二分され、次いで中心
軸線AZ に関して鏡面対称にとなった電極対すなわちそ
の電界スペースを通過させられる。中心軸線AZ 上に沿
って入射したイオンは尖端Pのためにビーム偏向装置を
通過し得ない。また、同様はことは中心軸線AZ の近く
に入射したイオンについても言える。更に、尖端Pを通
過し得るイオンは電界スペース7の円筒形反射面に対し
て不都合な入口パラメータを持つ。
【0048】その上、上述の入口側特異点すなわち尖端
Pでのビーム分割がビームの発散性および制御可能性に
きわめて不利な影響を与えることが判明した。しかし、
かかる公知のビーム偏向装置の利点としては、入口軸線
および出口軸線との実質的な整列性が得られるというこ
とであるが、この場合かかる軸線は対称なビームガイド
のために中心軸線AZ 上に実質的に横たわることにな
る。
【0049】図6には、本発明によるエネルギフィルタ
装置が概略的に図示され、この実施例では、例えば入口
側および出口側が平面Eに対して対称とされ、入口軸線
Eおよび出口軸線AA は、図示するように、円筒状と
なったエネルギフィルタ装置の中心軸線AZ に完全に一
致させられ、これによりビーム分割が回避される。な
お、図6でも同様な要素については同じ参照符号が用い
られる。エネルギフィルタ装置の外側境界は実質的に外
側電極面7aによって規定され、その形態は中心軸線A
Z に対して円筒状とされるが、しかし本実施例では図6
から明らかなように円筒形内部の片側にはビームSのビ
ーム路は存在しない。ビームSは中心軸線方向にのみ導
かれ、この対称な構造の実施例では該ビームSは再び中
心軸線方向に射出させられる。また、単一のビーム路だ
けが設けられるので、ビームSが分割されることはな
い。このように中心軸線AZ に対して非対称に単一のビ
ーム路だけを設けた際のフィルタ動特性にはビーム路を
対称に設けた際の欠点はなく、しかもビーム分割を行う
特異点がないという利点も得られる。図5では、ビーム
伝送を妨げるようになった保持バー17によって入口部
分および出口部分で支持が行われるが、しかし図6で
は、参照符号17aで示すようにビーム路に使用されな
い円筒形内部の片側での支持が可能である。
【0050】ところで、本実施例では、図6から明らか
なように、エネルギフィルタ構造、ビーム供給ガイドお
よびビーム排出ガイドに対する同軸心構成が実現できる
が、エネルギフィルタ構造の横断面寸法は例えば外側円
筒状部分7a′のために有利に利用されていない。しか
しながら、その点については、図7に示す好ましい実施
例では改善される。また、図7の実施例では、エネルギ
フィルタ装置の製造も容易に行い得る。分析器システム
の製造組立に際し、ビーム供給ガイドおよびビーム排出
ガイドを中心軸線AZ に一致させて固定させること自体
は僅かな利点しかもたらされないが、しかし入口軸線A
E および出口軸線AA が正しく整列され、横断面容積が
効率的に利用され、しかも製造技術的に相当に有利な場
合に、かかる利点は実際に発揮され得る。
【0051】図7には平面Eに対して対称構造となった
エネルギフィルタ装置の変形実施例が示され、同図でも
同様な要素については同じ参照符号が用いられる。図7
から明らかなように、ビーム入口およびビーム出口は中
心軸線方向に沿って配置されるが、該ビーム入口および
該ビーム出口は横断面の4分円Q1 内に位置するように
中心軸線A′Z に対してオフセットされ、一方ビームを
反射して戻す電界スペースは中心軸線A′Z に関して対
称となった4分円Q2 に設けられる。要するに、図7に
おいては、中心軸線A′Z は軸線AE およびAA に対し
て図6で参照符号A′Z で示すようにシフトされたもの
となる。
【0052】図8は図7のIIX−IIX線沿う横断面であ
り、同図では、電極面3aおよび3bを提供する双方の
電極本体も参照符号3a′および3b ′で示され、また
4分円Q1 およびQ2 が鎖線で示される。また、図8で
は、絶縁体9も電極本体3a′および3b′間に見え、
このような絶縁体は図2ないし図4および図6ないし図
7に示した全ての実施例でも何らかの形で設けられる。
図7および図8から明らかなように、エネルギフィルタ
装置の横断面内は効率良く利用されている。
【0053】図9には本発明による好ましいエネルギフ
ィルタ装置が縦断面図として図示され、このエネルギフ
ィルタ装置には本発明の2つの特徴事項が含まれる。す
なわち、図9のエネルギフィルタ装置は図4および図7
に示した構造を組み合わせることにより実現され、これ
により該エネルギフィルタ装置には連続した電界スペー
ス間にシールドを設けるという特徴事項と、ビームを分
割することなく反射円筒状内部の横断面容積を効率良く
利用するという特徴事項とが含まれる。なお、図9で
も、同様な要素については同じ参照符号が用いられる。
【0054】ビームSは入口軸線AE に沿って湾曲電界
スペース3内に導入され、該湾曲電界スペース3は中心
軸線AZ に対し回転対称となった端部電極部分3a′の
電極面3aと、中心軸線AZ に対し回転対称となった中
空円筒形電極部分3b′の電極面3bとの間に形成され
る。双方の電極部分3a′、3b′は回転体であり、図
6の実施例について上述した製造上の利点は明らかであ
る。湾曲電界スペース3を規定している2つの電極部分
3a′および3b′は参照符号20で示した絶縁体によ
って電気的に絶縁され、この絶縁体は図8の絶縁体9に
対応するものである。出口領域5側の湾曲電界スペース
3内でビームSが出口に向かう方向は軸線方向AE また
は中心軸線AZ に関して約45°である。中空円筒形電
極部分3b′は実質的に電界の存在しないスペース15
を形成し、そこには偏向ビームSを通過させるための通
過スロット13が設けられる。中空円筒形電極部3b′
には反射円筒形電極体7a′が電気的絶縁体22を介し
て設けられ、該反射円筒形電極体7a′は中空円筒形電
極部分3b′の電極面7bに対する円筒状コンデンサ面
としての電極面7aを形成する。
【0055】また、湾曲電界スペース3を持つビーム出
口はビーム入口に対して対称に配置され、ビーム出口軸
線AA はビーム出口軸線AE ′と整列させられ、その双
方の軸線は円筒状形態のエネルギフィルタ装置の中心軸
線AZ に対しオフセットされる。調整可能な電圧源U1
およびU2 が正イオンの偏向すなわちエネルギフィルタ
作用を得るために概略的に示され、そこには印加電圧が
例示的に図示される。この例では、双方の端部電極部分
3a′は同電位とされるが、これは絶対的な条件ではな
い。また、本実施例では、シールド11を形成すると共
に無電界スペース15および電界スペース7の電極を成
す中空円筒形電極部3b′は正の電位とされ、かつ反射
円筒形電極体7a′の外側電極面7aは中空円筒形電極
部3b′に対して正の電位とされる。本発明による分析
器を構成するために、エネルギフィルタ装置の後方側に
は質量分析計、好ましくは4極質量分析計24が接続さ
れる。分析器で中性粒子を分析する場合には、エネルギ
フィルタ装置の前方側にはイオン化源、好ましくは電子
衝撃イオン化源26が接続される。無電界スペース15
は好ましくはビーム絞り板15aが設けられる。この無
電界スペースでは、ビームは好ましくは中心軸線AZ
に集束され、ビームの縁領域および散乱イオンが絞り板
15aによって制限される。焦点Fにはイオンビームの
クロス・オーバー、すなわちイオン軌道の交差が生じさ
せられる。
【0056】勿論、当業者には明らかなように、図示の
エネルギフィルタ装置は真空中で作動させられ、被分析
部分は例えばプラズマから得られ、静電中性粒子はイオ
ン化のためにイオン化源26で拡散によって荷電させら
れる。
【0057】図10には本発明によるイオン化源が示さ
れ、このイオン化源はそれ自体で発明を構成するが、好
ましくは上述したエネルギフィルタ装置と共に用いられ
る。開口32を持つ絞り板30を通して、中性粒子が拡
散によりプラズマから得られて、軸線方向に延在した円
筒状格子34で荷電される。円筒状格子34にはその半
径方向外側に少なくとも1つの電子エミッタが熱陰極3
6の形態で設けられ、好ましくは多数の熱陰極36が円
筒状格子34の周りに配置される。電子エミッタ陰極3
6は参照符号U3 で示されるように円筒状格子34に対
して負の電位とされ、このため円筒格子34は放出電子
に対して加速格子として働く。電源Iでは、電子エミッ
タ陰極36への加熱電流が調整される。円筒状格子34
内での電子衝撃によって生じたイオンは他方の絞り板3
8を通して参照符号U4 で示すように制御可能な電位で
もって射出される。絞り板38の電位は好ましくは少な
くとも実質的に円筒状格子34の電位に等しく選ばれ
る。円筒状格子内の中性粒子は該円筒状格子とその外側
に設けられた好ましくは多数の電子エミッタでもって高
率でしかも均等にイオン化される。この場合、電子流れ
の軸線方向長さLは好ましくはL≧1.5 φとされ、また
有利にはL≧3φとされる。なお、φは円筒状格子の直
径を示す。
【0058】上述したように、図10に示すイオン化源
はそれ自体で発明を成し、好ましくは、特に図9に示し
たエネルギフィルタ装置と組み合わされ、また好ましく
は中性粒子分析器を構成すべくその後方側に質量分析
計、有利には4極質量分析計が配置される。
【図面の簡単な説明】
【図1】公知のビーム偏向装置を概略的に示す縦断面で
ある。
【図2】図1に対応する縦断面図であって、本発明の第
1の局面によるビーム偏向装置を概略的に示す図であ
る。
【図3】図1および図2に対応する縦断面図であって、
図2に示したビーム偏向装置の変形実施態様を示す図で
ある。
【図4】図2に示したビーム偏向装置のその他の好まし
い変形実施態様を示す縦断面図である。
【図5】その他の公知のビーム偏向装置を概略的に示す
縦断面図である。
【図6】図5に対応する縦断面図であって、本発明の第
2の局面によるビーム偏向装置を概略的に示す図であ
る。
【図7】図5および図6に対応する縦断面図であって、
図6に示したビーム偏向装置の好ましい変形実施態様を
示す図である。
【図8】図7のIIX−IIX線に沿う概略横断面図であ
る。
【図9】本発明の第1および第2の局面に従って構成さ
れたエネルギフィルタ装置の好ましい実施例を概略的に
示す縦断面図である。
【図10】本発明によるエネルギフィルタ装置と有利に
組み合わせ得る本発明によるイオン化源を概略的に示す
縦断面図である。
【符号の説明】
1…イオン(粒子) 3…電界スペース 3a,3b…電極面 3a′,3b′…電極体 4…出口装置 5…出口領域 7…スペース 7a,7b…電極面 11…シールド 13…スロット

Claims (24)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 粒子ビームとしての伝播経路に沿って伝
    搬する荷電粒子を荷電粒子の運動エネルギに基づいてフ
    ィルタする荷電粒子のフィルタ方法において、 第一のスペース領域において前記伝播経路に沿って第一
    の対の電極面の間に第一の静電電界を加えることによっ
    て前記ビームを一つの方向に偏向させ、 前記伝播経路に沿って前記第一のスペース領域の前方側
    か後方側の少なくとも一方に在る少なくとも一つの第二
    のスペース領域において第二の対の電極面の間に第二の
    静電電界を加えることによって前記ビームを他の方向に
    偏向させ、前記第二の対の電極面は共通の曲率中心に対
    してほぼ同心で曲げられると共にこれら電極面のそれぞ
    れは前記第二の静電電界を生じさせる静電位に在り、 さらに、 等電位状態に保持された壁手段の間に第三のスペース領
    域を形成することによって、前記第一および第二の静電
    電界を相互妨害からシールドし、前記第三のスペース領
    域は前記第一および第二のスペース領域の間に位置して
    おり、 さらに、 前記曲率中心からさらに遠方に在る前記第二の対の電極
    面のうちの一方の静電位に、前記壁手段の静電位を接続
    させる荷電粒子のフィルタ方法。
  2. 【請求項2】 前記壁手段を前記第一の対の電極面の一
    方の電極面として前記壁手段を使用するようにした請求
    項1に記載の荷電粒子のフィルタ方法。
  3. 【請求項3】 さらに、前記ビームを前記第一および第
    二のスペース領域の一方に導入すること、前記ビームを
    前記第二および第一のスペース領域の一方から射出する
    こと、および前記一つの方向および前記他の方向におい
    て前記偏向作用を行うことを含んでおり、それにより、
    前記ビームの導入作用および射出作用が互いにほぼ平行
    になるようにした請求項1に記載の荷電粒子のフィルタ
    方法。
  4. 【請求項4】 さらに、二つの前記第二のスペース領域
    を前記第一のスペース領域の前方側および後方側のそれ
    ぞれに形成すると共に二つの前記第三のスペース領域を
    形成すること、および前記一つの方向および前記他の方
    向において前記偏向作用を行うことを含んでおり、それ
    により、前記ビームは互いに一致するように前記第二の
    スペース領域の一方に進入すると共に前記第二のスペー
    ス領域の他方から離れるようにした請求項1に記載の荷
    電粒子のフィルタ方法。
  5. 【請求項5】 粒子ビームとしての伝播経路に沿って伝
    搬する荷電粒子を荷電粒子の運動エネルギに基づいてフ
    ィルタする荷電粒子のフィルタ方法において、 第一のスペース領域において前記伝播経路に沿って第一
    の対の電極面の間に第一の静電電界を加えることによっ
    て前記ビームを一つの方向に偏向させ、 前記伝播経路に沿って前記第一のスペース領域の前方側
    か後方側の少なくとも一方に在る少なくとも一つの第二
    のスペース領域において第二の対の電極面の間に第二の
    静電電界を加えることによって前記ビームを他の方向に
    偏向させ、 等電位状態に保持された壁手段の間に第三のスペース領
    域を形成することによって、前記第一および第二の静電
    電界を相互妨害からシールドし、前記第三のスペース領
    域は前記第一および第二のスペース領域の間に位置して
    おり、前記壁手段は前記第三のスペース領域を概ね取り
    囲んでいると共に全体が導電性であり、それにより、前
    記壁手段は一つの静電位に在るようになり、さらに、前
    記第一および第二のスペース領域の一方から離れた後お
    よび前記第一および第二のスペース領域の他方に進入す
    る前に、前記第三のスペース領域は前記ビームによって
    前記伝播経路に沿って横切られ、 前記壁手段は前記第二の対の電極面の一つの延長部を含
    んでいる荷電粒子のフィルタ方法。
  6. 【請求項6】 粒子ビームの荷電粒子を荷電粒子の運動
    エネルギに基づいてフィルタするためのエネルギフィル
    タ装置において、 入口部と出口部とを具備し、前記ビームは概ね伝播経路
    に沿ってこれら入口部と出口部との間を伝播し、 さらに、 少なくとも一つの第一および第二の対の電極面を具備
    し、前記第一および第二の対の電極面は前記入口部と前
    記出口部との間の方向に沿ってずらして配置されてお
    り、 さらに、 前記伝播経路に対してそれぞれほぼ垂直に向けられた第
    一および第二の静電電界をそれぞれ生じさせるように前
    記電極面に給電するために前記第一および第二の対の電
    極面のそれぞれに接続された給電手段を具備し、前記第
    一および第二の静電電界は前記伝播経路に対して互いに
    逆極性であり、 前記第二の対の電極面は前記伝播経路を含む面内におい
    て共通の曲率中心に対してほぼ同心に曲げられており、 さらに、 等電位状態に在る壁手段を具備し、該壁手段は前記ビー
    ムによって横切られる電界の無い領域を形成しており、
    前記電界の無い領域は前記第一および第二の対の電極面
    の間において前記伝播経路に沿って配置されており、 前記壁手段は、前記第二の対の電極面の他方よりも前記
    中心からさらに遠方に位置する前記第二の対の電極面の
    一方に静電的に接続されているエネルギフィルタ装置。
  7. 【請求項7】 前記壁手段が前記さらに遠方に在る電極
    面の延長部より形成されている請求項6に記載のエネル
    ギフィルタ装置。
  8. 【請求項8】 前記第一の対の電極面の一方が前記壁手
    段より形成されている請求項6に記載のエネルギフィル
    タ装置。
  9. 【請求項9】 さらに、前記ビームにより通過される絞
    り板を前記電界の無い領域に具備する請求項6に記載の
    エネルギフィルタ装置。
  10. 【請求項10】 前記ビームの前記入口部および前記出
    口部が前記ビームのために互いにほぼ平行な入口用開口
    部および出口用開口部をそれぞれ具備する請求項6に記
    載のエネルギフィルタ装置。
  11. 【請求項11】 前記入口用開口部および出口用開口部
    が互いに対して概ね整列されている請求項10に記載の
    エネルギフィルタ装置。
  12. 【請求項12】 二つの前記第一の対の電極面および二
    つの前記第二の対の電極面を具備する請求項6に記載の
    エネルギフィルタ装置。
  13. 【請求項13】 前記二つの第一の対の電極面が交互に
    配置されていて、これら電極面が共通の電極面より形成
    されている請求項12に記載のエネルギフィルタ装置。
  14. 【請求項14】 それぞれの曲率中心からさらに遠方に
    配置された前記二つの第二の対の電極面が一つの電極の
    表面より形成されている請求項13にエネルギフィルタ
    装置。
  15. 【請求項15】 二つの前記壁手段を具備する請求項1
    3に記載のエネルギフィルタ装置。
  16. 【請求項16】 前記第一の対の電極面が軸線を有する
    円筒体を形成しており、前記入口部および前記出口部が
    前記ビームのための入口用開口部および出口用開口部を
    それぞれ具備しており、前記入口用開口部および出口用
    開口部の少なくとも一方が前記軸線から遠方に在る請求
    項6に記載のエネルギフィルタ装置。
  17. 【請求項17】 前記少なくとも一方の開口部が前記軸
    線に対してほぼ平行である請求項16に記載のエネルギ
    フィルタ装置。
  18. 【請求項18】 前記第一の対の電極面が軸線を有する
    円筒体を形成しており、前記入口部および前記出口部
    が、互いに対して整列された入口用開口部および出口用
    開口部をそれぞれ具備する請求項6に記載のエネルギフ
    ィルタ装置。
  19. 【請求項19】 概ね円筒部を形成しており、前記円筒
    部の断面の第一の四分円において前記第一の対の電極面
    を有すると共に前記第一の四分円に対向する前記断面の
    第二の四分円において前記第二の対の電極面を有する請
    求項6に記載のエネルギフィルタ装置。
  20. 【請求項20】 外方円筒部を具備し、前記入口部は前
    記円筒部の軸線からずれた孔を具備し、前記入口部に進
    入する前記ビームを焦点合わせするために焦点手段が前
    記円筒部の前記軸線上に位置する領域に設けられている
    請求項6に記載のエネルギフィルタ装置。
  21. 【請求項21】 粒子ビームの荷電粒子を荷電粒子の運
    動エネルギに基づいてフィルタするためのエネルギフィ
    ルタ装置において、 入口部と出口部とを具備し、前記ビームは概ね伝播経路
    に沿ってこれら入口部と出口部との間を伝播し、 さらに、 少なくとも一つの第一および第二の対の電極面を具備
    し、前記第一および第二の対の電極面は前記入口部と前
    記出口部との間の方向に沿ってずらして配置されてお
    り、 さらに、 前記伝播経路に対してそれぞれほぼ垂直に向けられた第
    一および第二の静電電界をそれぞれ生じさせるように前
    記電極面に給電するために前記第一および第二の対の電
    極面のそれぞれに接続された給電手段を具備し、前記第
    一および第二の静電電界は前記伝播経路に対して互いに
    逆極性であり、 さらに、 等電位状態に在る壁手段を具備し、該壁手段は前記ビー
    ムによって横切られる電界の無い領域を形成しており、
    前記電界の無い領域は前記第一および第二の対の電極面
    の間において前記伝播経路に沿って配置されており、 前記電界の無い領域は、導電性であって全体的にほぼ等
    電位に在る前記壁手段によって概ね取り囲まれる第三の
    スペース領域を含んでおり、前記第一および第二のスペ
    ース領域の一方から離れた後および前記第一および第二
    のスペース領域に進入する前に、前記第三のスペース領
    域は前記ビームによって横切られており、前記壁手段は
    前記第一および第二の対の電極面の一つの電極の電極面
    によって概ね形成されているエネルギフィルタ装置。
  22. 【請求項22】 粒子ビームの荷電粒子を荷電粒子の運
    動エネルギに基づいてフィルタするためのエネルギフィ
    ルタ装置を有する分析器において、 入口部と出口部とを具備し、前記ビームは概ね伝播経路
    に沿ってこれら入口部と出口部との間を伝播し、 さらに、 少なくとも一つの第一および第二の対の電極面を具備
    し、前記第一および第二の対の電極面は前記入口部と前
    記出口部との間の方向に沿ってずらして配置されてお
    り、前記第一および第二の対の電極面は給電手段によっ
    て前記方向に対してそれぞれほぼ垂直に向けられた第一
    および第二の静電電界をそれぞれ生じさせるように給電
    されており、前記第一および第二の静電電界は互いに前
    記方向に対して逆極性であり、 前記第二の対の電極面は前記ビームを含む面内において
    共通の曲率中心に対してほぼ同心に曲げられており、 等電位状態に在る壁手段を具備し、該壁手段は前記ビー
    ムによって横切られる電界の無い領域を形成しており、
    前記電界の無い領域は前記第一および第二の対の電極面
    の間において前記伝播経路に沿って配置されており、 前記壁手段は、前記第二の対の電極面の他方よりも前記
    中心からさらに遠方に位置する前記第二の対の電極面の
    一方に静電的に接続されており、 前記エネルギフィルタ装置の後方側に質量選択式粒子フ
    ィルタが位置している分析器。
  23. 【請求項23】 前記質量選択式粒子フィルタが四重極
    質量分析部である請求項22に記載の分析器。
  24. 【請求項24】 さらに、主に中性粒子のための入口部
    と主にイオンのための出口部とを備えた電子衝撃イオン
    化源を具備し、これら入口部および出口部は伝播軸線を
    形成しており、さらに、前記伝播軸線周りでかつ前記伝
    播軸線に沿った加速用格子チューブと、前記チューブの
    半径方向外側に在る少なくとも一つの熱陰極を含んでお
    り、前記イオン化源は前記エネルギフィルタ装置の上流
    に配置されている請求項22に記載の分析器。
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