JP3433227B2 - 流速センサ素子、流速センサ、流速センサ素子の製造方法、流速センサの製造方法、及び流速計測方法 - Google Patents
流速センサ素子、流速センサ、流速センサ素子の製造方法、流速センサの製造方法、及び流速計測方法Info
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流速センサ、及びこれらの製造方法、並びに流速計測方
法に関する。
用いられていた。この熱線流速計は、直径数ミクロンの
細いタングステンや白金などからなる金属線を電流加熱
し、流速による冷却効果を利用し、前記金属線の抵抗変
化から流速を計測するものである。例えば、流速が大き
い場合においては、前記金属線の冷却効果が大きくなる
ため、前記金属線の抵抗変化は大きくなる。また、上記
熱線流速計は、近年、シリコン基板の微細加工を通じて
微細化されている。
1m/sec以下の流速の場合においては、熱線流速計
の熱線自体の発熱によって生じる対流の影響が顕著にな
る。このため、前記熱線流速計においては、特に低速域
の流速を精度よく計測することが困難であった。そし
て、特に、上記熱線流速計を単一の素子として複数配列
し、所定の流速センサを構成した場合においては、前述
した発熱の影響がより顕著になって計測感度を劣化させ
てしまうという問題があった。
での流速計測精度を向上させた流速センサ素子、及びこ
の流速センサ素子を利用した流速センサを提供するとと
もに、これらの製造方法、並びにこれら流速センサ素子
及び流速センサを用いた流速計測方法を提供することを
目的とする。
本発明の流速センサ素子は、毛状構造体と、この毛状構
造体の基部に設けられ、前記毛状構造体を支持するよう
に形成された支持梁と、この支持梁に組み込まれた歪み
ゲージと、前記支持梁を固定する基板とを具える。そし
て、所定の流体が前記毛状構造体に接触した際の、前記
毛状構造体の変形量を、前記支持梁の変形量を通じて前
記歪みゲージによって検出することにより、前記所定の
流体の流速を計測する。そして、前記毛状構造体の長さ
を20μm〜500μmにしたこと、及び500μm〜
5mmにしたことを特徴とする。
検討した結果、上述した全く新規な構成の流速センサ素
子を開発した。本発明の流速センサ素子によれば、流体
の流速を前記毛状構造体の変形量から、前記毛状構造体
の基部に取り付けられた支持梁の変形を通じて計測する
ようにしている。したがって、前記毛状構造体の長さ
を、前記毛状構造体が計測すべき流体の流速に応じて所
定量変形するように設定することによって、前記支持梁
に十分な大きさの変形を与えることができ、この歪みを
歪みゲージの最適な測定レンジで読むことができるよう
になる。したがって、流体の流速を高精度に計測するこ
とができる。
した場合の、流体の流速と支持梁の変形量との関係を定
性的に示すグラフである。図1から明らかなように、毛
状構造体の長さを大きくすると(長い毛状構造体)、低
流速域において、その変形量が大きくなって支持梁に十
分な大きさの変形を与えることができ、歪みゲージの計
測範囲内に収まるようになる。しかしながら、高流速域
においては、その変形量が大きくなるすぎるために、支
持梁は歪みゲージの計測範囲を超えて変形するようにな
る。
(短い毛状構造体)、低流速域においてはその変形量が
小さく、支持梁に十分な大きさの変形を与えることがで
きない。しかしながら、高流速域においては、その変形
量が大きくなるために支持梁に十分な大きさの変形を与
えることができ、歪みゲージの計測範囲内に収まるよう
になる。
小さい場合は、毛状構造体の長さを大きくし、計測すべ
き流体の流速が比較的大きい場合は、毛状構造体の長さ
を小さくすることによって、流体の流速を高精度に計測
することができる。そして、流体の流速が比較的小さい
場合の毛状構造体の長さ、及び流体の流速が比較的大き
い場合の毛状構造体の長さを具体的に求めたところ、そ
れぞれ500μm〜5mm、及び20μm〜500μm
であることを見いだし、本発明の流速センサ素子を発明
するに至ったものである。
の流速センサ素子を利用して構成され、複数の毛状構造
体と、複数の支持梁と、複数の歪みゲージと、基板とを
具え、前記複数の支持梁は、前記複数の毛状構造体の基
部に設けられて前記複数の毛状構造体のそれぞれを支持
し、前記複数の歪みゲージは、前記複数の支持梁に組み
込まれ、前記基板は、前記複数の支持梁を固定する。そ
して、所定の流体が前記複数の毛状構造体に接触した際
の、前記複数の毛状構造体の変形量を、前記複数の支持
梁の変形量を通じて前記複数の歪みゲージによって検出
することにより、前記所定の流体の流速を計測すること
を特徴とする。
を具えている。したがって、これら複数の毛状構造体の
総てを比較的長く、あるいは比較的短く形成して、低流
速域の流体の流速、あるいは高流速域の流体の流速の計
測を高精度に実施することもできる。しかしながら、前
記複数の毛状構造体の一部を長く、他の一部を短く形成
することにより、一つのセンサの計測範囲を拡大し、低
流速域にある流体、及び高流速域にある流体のいずれに
対しても対応することのできる流速センサを提供するこ
とができる。
の計測に対しては毛状構造体の長さを500μm〜5m
mに設定することが好ましく、高流速域の流体の計測に
対しては毛状構造体の長さを20μm〜500μmに設
定することが好ましい。そして、これらの毛状構造体を
同時に設けることによって、低流速域から高流速域まで
計測が可能な流速センサの提供が可能となる。
は、SOIウエハを構成する単結晶シリコン膜上に歪み
ゲージを形成する工程と、前記単結晶シリコン膜をドラ
イエッチングすることにより、前記歪みゲージを含む支
持梁を形成する工程と、前記SOIウエハを構成するシ
リコン基板を、前記単結晶シリコン膜が形成された側の
主面と反対側の主面からプラズマエッチングすることに
より、前記支持梁を基部に有する毛状構造体を形成する
工程と、前記SOIウエハを構成する酸化シリコン膜
の、前記毛状構造体を構成する部分以外の残部を除去す
る工程と、を含むことを特徴とする。
SOIウエハを構成する単結晶シリコン膜上に複数の歪
みゲージを形成する工程と、前記単結晶シリコン膜をド
ライエッチングすることにより、前記歪みゲージを含む
複数の支持梁を形成する工程と、前記SOIウエハを構
成するシリコン基板を、前記単結晶シリコン膜が形成さ
れた側の主面と反対側の主面からプラズマエッチングす
ることにより、前記支持梁を基部に有する複数の毛状構
造体を形成する工程と、前記SOIウエハを構成する酸
化シリコン膜の、前記複数の毛状構造体を構成する部分
以外の残部を除去する工程と、を含むことを特徴とす
る。
ウエハをドライエッチングなどで加工するのみで、結果
的にシリコンからなる本発明の流速センサ素子及び流速
センサを簡易に形成することができる。
び液体状の流動体のみならず、微細な粒子状の流動体な
どをも含む概念である。
に則して詳細に説明する。図2は、本発明の流速センサ
素子の一例を示す斜視図である。図2(a)は、流体の
非計測時における流速センサ素子の状態を示し、図2
(b)は、流体の計測時における流速センサ素子の状態
を示す図である。
造体1と、この毛状構造体1の基部に設けられ、毛状構
造体1を支持するように形成された支持梁2−1〜2−
4と、これら支持梁2−1〜2−4のそれぞれに設けら
れた歪みゲージ3−1〜3−4とを具えている。支持梁
2−1〜2−4は基板4で支持され、この基板4上にお
いて一体的に形成されている。なお、図2において、歪
みゲージ3−1〜3−4は、支持梁2−1〜2−4の上
面側に設けられているが、それらの下面側に設けること
もできる。
て、毛状構造体1は何らの変形も受けないため直立して
いるが、図2(b)に示すように、計測時においては、
矢印で示す流体と毛状構造体1とが接触するため、毛状
構造体1は変形する。この変形は毛状構造体1を支持す
る支持梁2−1〜2−4に伝達され、これら支持梁2−
1〜2−4の変形量を、これら支持梁2−1〜2―4に
設けられた歪みゲージ3−1〜3−4のそれぞれによっ
て検出する。
量が大きい場合は、支持梁2−1〜2−4の変形量も大
きくなり、歪みゲージによる検出量が大きくなる。ま
た、流体の流速が小さく、毛状構造体1の変形量が小さ
い場合は、支持梁2−1〜2−4の変形量も小さくな
り、歪みゲージによる検出量も小さくなる。
くなると、低流速域の流体に対してもその変形量が大き
くなるために、支持梁2−1〜2−4に対して、歪みゲ
ージ3−1〜3−4の計測範囲内における十分な大きさ
の変形量を付与することができる。また、毛状構造体1
が短くなると、高流速域の流体に対して十分大きな変形
を呈し、支持梁2−1〜2−4に対して、歪みゲージ3
−1〜3−4の計測範囲内における十分な大きさの変形
量を付与することができる。すなわち、高流速域の流体
に対しては毛状構造体1を短くし、低流速域の流体に対
しては毛状構造体1を長くする。
造体1の長さを20μm〜500μm、好ましくは10
0μm〜400μmにする。これによって、例えば、1
m/sec〜50m/sec程度の高速の流体に対して
もその流速を高精度に計測することができる。
5mm、好ましくは600μm〜1.5mmにする。こ
れによって、例えば、0.1m/sec以下の低速流体
の流速を高精度に計測することができる。
ては特に限定されず、円形状、楕円形状、あるいは矩形
状などとすることができる。
限定されるものではないが、1μm〜500μmの大き
さに設定することが好ましい。これによって、毛状構造
体1の変形をある程度の大きさの範囲内で抑制すること
ができ、毛状構造体1の破壊を防止することができる。
サ素子を複数並べて構成する。図3は、本発明の流速セ
ンサの好ましい態様の一例を示す斜視図である。図3に
示す流速センサ20は、図2に示す流速センサ素子10
が横に5列、縦に4列配列されて構成されている。そし
て、図中斜線で示す部分の流速センサ素子の毛状構造体
を上述したように500μm〜5mm、好ましくは60
0μm〜1.5mmに設定する。一方、斜線のない部分
の流速センサ素子の毛状構造体を20μm〜500μ
m、好ましくは100μm〜400μmに設定する。
は、その内部に比較的流速の速い流体を計測する流速セ
ンサ素子と、比較的流速の遅い流体を計測する流速セン
サ素子とを具えるようになる。このため、流速センサ2
0の計測範囲が拡大され、流速の遅い速いとに拘わら
ず、流体の流速計測を可能とすることができるようにな
る。
示すものと異なり、センサを構成する流速センサ素子に
おける毛状構造体の総てを500μm〜5mm、好まし
くは600μm〜1.5mmに設定することができる。
これによって、本発明の流速センサは、低速流体の流速
計測に適した流速センサ素子を複数具えるようになるた
め、前記低速流体の測定精度をさらに向上させることが
できる。
子における毛状構造体の総てを20μm〜500μm、
好ましくは100μm〜400μmに設定することがで
きる。これによって、流速センサは、高速流体の流速計
測に適した流速センサ素子を複数具えるようになるた
め、前記高速流体の測定精度をさらに向上させることが
できる。
製造方法は、特に限定されるものではないが、以下に示
すような工程にしたがってSOIウエハを加工して形成
することが好ましい。これによって、実質的にシリコン
から構成される小型の流速センサ素子及び流速センサを
簡易に形成することができる。
び流速センサの製造方法を説明するための工程図であ
る。最初に、図4に示すように、SOIウエハ30を構
成するシリコン膜31の表面に歪みゲージ3−1〜3−
4を形成する。次いで、所定のマスクを介してシリコン
膜31の表面をドライエッチングすることにより、歪み
ゲージ3−1〜3−4を含む支持梁2−1〜2−4を形
成する。
30を構成するシリコン基板32を、シリコン膜31が
形成された側の主面と反対側の主面32Aから所定のマ
スクを介し、誘導結合型のプラズマを用いてプラズマエ
ッチングして、図6に示すように、毛状構造体1を形成
する。最後に、図7に示すように、SOIウエハ30を
構成するシリコン酸化膜33を、毛状構造体1を構成す
る部分を除いて除去することにより、目的とする流速セ
ンサ素子10、及び流速センサ20を得る。
説明してきたが、本発明の内容は上記に限定されるもの
ではなく、本発明の範疇を逸脱しない限りにおいて、あ
らゆる変形や変更が可能である。
サ素子及び流速センサによれば、これらを構成する毛状
構造体の長さを適宜に設定することにより、各流速域、
特に低速域での流速計測精度を向上させることができ
る。さらに、前記流速センサにおいて、毛状構造体を長
短2種類の所定の範囲内の長さに設定することにより、
流体の流速を広範囲に計測することができる。
摩擦が動作効率を大きく低減しているような機械システ
ムの、流体を能動的に制御するマイクロシステムのセン
サとして有効に利用することができ、環境問題やエネル
ギ問題などの解決に大きな役割を果たすことができる。
にしたがった小型の流速センサ素子及び流速センサを簡
易に形成することができる。
の長さをパラメータとした場合の、流体の流速と支持梁
の変形量との関係を定性的に示すグラフである。
である。
示す斜視図である。
造方法における一工程を示す図である。
Claims (14)
- 【請求項1】 20μm〜500μmの長さを有する毛
状構造体と、この毛状構造体の基部に設けられ、前記毛
状構造体を支持するように形成された支持梁と、この支
持梁に組み込まれた歪みゲージと、前記支持梁を固定す
る基板とを具え、所定の流体が前記毛状構造体に接触し
た際の、前記毛状構造体の変形量を、前記支持梁の変形
量を通じて前記歪みゲージによって検出することによ
り、前記所定の流体の流速を計測するようにしたことを
特徴とする、流速センサ素子。 - 【請求項2】 500μm〜5mmの長さを有する毛状
構造体と、この毛状構造体の基部に設けられ、前記毛状
構造体を支持するように形成された支持梁と、この支持
梁に組み込まれた歪みゲージと、前記支持梁を固定する
基板とを具え、所定の流体が前記毛状構造体に接触した
際の、前記毛状構造体の変形量を、前記支持梁の変形量
を通じて前記歪みゲージによって検出することにより、
前記所定の流体の流速を計測するようにしたことを特徴
とする、流速センサ素子。 - 【請求項3】 複数の毛状構造体と、複数の支持梁と、
複数の歪みゲージと、基板とを具え、前記複数の支持梁
は、前記複数の毛状構造体の基部に設けられて前記複数
の毛状構造体のそれぞれを支持し、前記複数の歪みゲー
ジは、前記複数の支持梁に組み込まれ、前記基板は、前
記複数の支持梁を固定し、所定の流体が前記複数の毛状
構造体に接触した際の、前記複数の毛状構造体の変形量
を、前記複数の支持梁の変形量を通じて前記複数の歪み
ゲージによって検出することにより、前記所定の流体の
流速を計測するようにしたことを特徴とする、流速セン
サ。 - 【請求項4】 前記複数の毛状構造体の長さが、それぞ
れ20μm〜500μmであることを特徴とする、請求
項3に記載の流速センサ。 - 【請求項5】 前記複数の毛状構造体の長さが、それぞ
れ500μm〜5mmであることを特徴とする、請求項
3に記載の流速センサ。 - 【請求項6】 前記複数の毛状構造体の一部は、それぞ
れ20μm〜500μmの長さを有するとともに、前記
複数の毛状構造体の他の一部は、それぞれ500〜5m
mの長さを有することを特徴とする、請求項3に記載の
流速センサ。 - 【請求項7】 SOIウエハを構成する単結晶シリコン
膜上に歪みゲージを形成する工程と、 前記単結晶シリコン膜をドライエッチングすることによ
り、前記歪みゲージを含む支持梁を形成する工程と、 前記SOIウエハを構成するシリコン基板を、前記単結
晶シリコン膜が形成された側の主面と反対側の主面から
プラズマエッチングすることにより、前記支持梁を基部
に有する毛状構造体を形成する工程と、 前記SOIウエハを構成する酸化シリコン膜の、前記毛
状構造体を構成する部分以外の残部を除去する工程と、 を含むことを特徴とする、流速センサ素子の製造方法。 - 【請求項8】 SOIウエハを構成する単結晶シリコン
膜上に複数の歪みゲージを形成する工程と、 前記単結晶シリコン膜をドライエッチングすることによ
り、前記歪みゲージを含む複数の支持梁を形成する工程
と、 前記SOIウエハを構成するシリコン基板を、前記単結
晶シリコン膜が形成された側の主面と反対側の主面から
プラズマエッチングすることにより、前記支持梁を基部
に有する複数の毛状構造体を形成する工程と、 前記SOIウエハを構成する酸化シリコン膜の、前記複
数の毛状構造体を構成する部分以外の残部を除去する工
程と、 を含むことを特徴とする、流速センサの製造方法。 - 【請求項9】 所定の流体を長さ20μm〜500μm
の毛状構造体に接触させ、この接触によって生じた前記
毛状構造体の変形量を、前記毛状構造体の基部において
前記毛状構造体を支持するように形成された支持梁の変
形量を通じて、前記支持梁に組み込まれた歪みゲージに
よって検出することにより、前記所定の流体の流速を計
測するようにしたことを特徴とする、流速計測方法。 - 【請求項10】 所定の流体を長さ500μm〜5mm
の毛状構造体に接触させ、この接触によって生じた前記
毛状構造体の変形量を、前記毛状構造体の基部において
前記毛状構造体を支持するように形成された支持梁の変
形量を通じて、前記支持梁に組み込まれた歪みゲージに
よって検出することにより、前記所定の流体の流速を計
測するようにしたことを特徴とする、流速計測方法。 - 【請求項11】 所定の流体を複数の毛状構造体に接触
させ、この接触によって生じた前記複数の毛状構造体の
変形量を、前記複数の毛状構造体それぞれの基部におい
て、前記複数の毛状構造体のそれぞれを支持するように
形成された複数の支持梁の変形量を通じて、前記複数の
支持梁のそれぞれに組み込まれた歪みゲージによって検
出することにより、前記所定の流体の流速を計測するよ
うにしたことを特徴とする、流速計測方法。 - 【請求項12】 前記複数の毛状構造体の長さが、それ
ぞれ20μm〜500μmであることを特徴とする、請
求項11に記載の流速計測方法。 - 【請求項13】 前記複数の毛状構造体の長さが、それ
ぞれ500μm〜5mmであることを特徴とする、請求
項11に記載の流速計測方法。 - 【請求項14】 前記複数の毛状構造体の一部は、それ
ぞれ20μm〜500μmの長さを有するとともに、前
記複数の毛状構造体の他の一部は、それぞれ500〜5
mmの長さを有することを特徴とする、請求項11に記
載の流速計測方法。
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