JP3431232B2 - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents

磁気記録媒体の製造方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、塗布型の磁気記録媒体
の製造方法、特に磁気記録媒体のクリーニングに関す
る。
【0002】
【従来の技術】磁気記録は、音声、画像、データ等の信
号を記録再生、保存する用途に幅広く利用されており、
貴重な情報を記録する為に、磁気記録媒体は高度な信頼
性が必要とされる。信頼性を保証する項目としては、電
磁変換特性、耐久性などの物性とドロップアウトなどの
トラック品質がある。電磁変換性、物性等は使用材料に
大きく左右され、設計品質と呼ばれる。トラック品質
は、製造工程の加工条件によって左右され、製造品質と
呼ばれる。近年磁気記録は高密度化、デジタル化が進
み、設計品質は勿論、製造品質の向上が重大な問題とな
っている。ドロップアウトの発生原因は多岐にわたる
が、媒体表面の異物付着が最大の問題である。異物とし
ては、磁性膜、べースもしくはバックコート等の磁気記
録媒体構成物の微小破片、塵埃、繊維等のゴミ、媒体表
面の傷等がある。これらの異物の影響は、磁気ヘッドと
の間に存在してスページングロスとなる場合、ヘッド表
面に付着して目詰まり等の現象を起す場合、原反の層間
に異物が挟まって原反に凹凸を発生させる場合等があ
る。磁気記録媒体表面の異物を、更に詳しく分析すると
以下のようになる。 (1)磁性塗膜あるいはバックコート層成分の微小粉 表面の微小な突起が、製造工程のガイドロール等との接
触、原反の表裏のこすれによる摩耗等によって削れて生
じた微小粉や、磁気記録媒体の表面処理として実施され
るラッピングテープなどによる研磨によって発生した摩
耗粉の除去が充分でない為に媒体表面に残る摩耗粉等が
含まれる。 (2)磁性膜、ベース、バックコート等の磁気記録媒体
構成物の微小破片 切断面やプレス等の加工時にその破断面から脱落する
微小破片。切断面やプレス等の加工時にその破断面に
発生したバリが、研磨時あるいは研磨、巻き取りもしく
は使用時に、ガイドロール等と接触することによって脱
落して発生した微小破片。 (3)その他 大気中の塵埃など。Siを主成分とする粒子である。
繊維系異物。これらは、衣服、クリーニング用の不織
布等からの脱落繊維である。 人体組織(フケ等) 設備の摩耗粉等 従来、これらの異物は不織布や細糸織布で拭くクリーニ
ング方法によって除去しようとしてきた。
【0003】
【発明が解決しよとする課題】クリーニングは、被クリ
ーニング物の表面から上記のような異物を除去する作業
であり、クリーニング素材と被クリーニング物との密着
性が重要である。微小な異物を除去しようとするほど密
着性が重要になる。一般的に使用される不織布は使用さ
れる繊維の状態によってその密着性が決まる。すなわ
ち、繊維の太さ、絡まり具合によってその表面の凹凸が
決まり、クリーニング効果に差が生ずる。不織布の中で
も、バインダー成分で繊維が固定されている物(ケミカ
ルボンドタイプ)はクリーニング効果が少ない。不織布
表面に垂直な方向の起毛繊維が少ない為で、被クリーニ
ング物との密着性が悪いことを示している。
【0004】サーマルボンドやウォータージェット方式
のバインダーを使用しないタイプはクリーニング効果は
向上するが、脱繊維等の不織布自体の発塵性が問題とな
る。またこれらに使用される繊維は約20μmの直径が
あり、これらが絡まってできた表面の凹凸はかなり大き
く、少なくとも数十μmの空間が存在し、研磨によって
発生した微小粉等の除去を十分に行うことはできない。
又、最近眼鏡拭き等で注目されている細糸織布(例えば
東レ社のミラクレーション)は、油膜の除去には適して
いるが、異物の除去には適していない。これは、細い繊
維が密に織られている結果、被クリーニング物との接触
は不織布に較べると良好であるが、高密度の為に弾性に
乏しく、又異物を取り込む空孔がない為に異物の保存が
困難であることによると思われる。
【0005】本発明の課題は、クリーニング部材による
媒体へのダメージ、クリーニング部材が容易に変形して
しまう現象(ヘタリ)などを避け、もって、クリーニン
グ効果を向上させた磁気記録媒体の製造方法を提供する
ことである。
【0006】
【課題を解決するための手段】上述した課題解決のた
め、本発明は、図1に示すように、間隔を隔てて配置さ
れたローラ5ー6間に、非磁性支持体1を張設し、非磁
性支持体1を、その裏面にローラ5、6を接触させて、
一方向(a)に走行させる。そして、ローラ5ー6間に
おいて、非磁性支持体1の表面に、磁性膜2を塗布
る。次に、磁性膜2の表面に、ショアー硬度(A)は4
0°〜65°の範囲の多孔性高分子部材32を、静止状
態で押し付けることによってクリーニングする。図1に
おいて、クリーニング.ステージAは磁性膜塗布ステー
ジBの後に設定されている。ステージAとステージBの
間に、通常乾燥工程やカレンダー工程等が入る。33は
多孔性高分子部材32を支持す支持体、4はノズル等
の静止型塗布治具、5、6はローラである。非磁性支持
体1は矢印aの方向に走行する。
【0007】
【作用】本発明者は、磁気記録媒体の効果的なクリーニ
ングについて鋭意研究を行い、多孔性高分子部材が磁気
記録媒体のクリーニングに非常に大きな効果を有するこ
とを見い出した。クリーニング工程は、塗布工程の巻き
取り前及び/または切断工程の巻き取り前及び/または
研磨工程の巻き取り前及び/または組立工程の巻き取り
前に行うことができる。このクリーニング工程と共に、
磁性膜を形成する前に、非磁性支持体をクリーニングす
るクリーニング工程を含むこともできる。このクリーニ
ング工程も多孔性高分子部材を用いて行うことができ
る。
【0008】適度な弾性(硬度、圧縮率、圧縮弾性率)
を有する高分子部材は、被クリーニング物への密着性が
非常に良く、また多孔性とすることで異物の保持性能に
も優れる。
【0009】高分子部材の硬度は、40〜65°(ショ
アー硬度A)が望ましい。この範囲であれば、媒体への
ダメージ、高分子部材のクリーニング部材が容易に変形
してしまう現象(ヘタリ)などを避けることができるか
らである。適切な密着性を確保するために、圧縮率50
%以下であることが望ましく、圧縮弾性率は90%以上
であることが望ましい。高分子膜として用いる場合は、
厚さ100μm以上であることが望ましい。多孔性の高
分子部材は、膜の形成時に表面に充分な開口が無い場合
は、高分子膜の表面を研磨、研削などして充分な開口を
確保できる。開口密度は5000個/cm2以上が望ま
しい。
【0010】このように、多孔性高分子部材は、被クリ
ーニング物への密着性が優れ、異物の保持能力もあるこ
とから、大きなクリーニング力を発揮する。多孔性高分
子部材は単体でも使用できるし、適当な支持体の上に膜
を設けても良い。多孔性高分子部材としては耐摩耗性に
優れる発泡性ポリウレタンが特に適しており、クリーニ
ング効果を発揮すると共に、自己の摩耗による発塵もな
い。代表的な製品としてはフジボウ愛媛(株)製パルパ
ス、ベルテック(株)製SMT等がある。
【0011】また、適度な圧縮率、圧縮弾性率、膜厚を
設定することで、磁気記録媒体のエッジ側面もクリーニ
ングすることが可能となり、バリ等の切断等の端面クリ
ーニングにも効果を発揮する。これは不織布、織布等に
は期待できない効果である。
【0012】
【実施例】実施例1 メタル磁性粉を使用したDAT用テープの製造におい
て、フジボウ愛媛(株)製パルパスを使用してクリーニ
ングを行った。用いられた高分子材料の特性は次の通り
である。 ショアー硬度A:62° 圧縮率:32% 圧縮弾性率:94% 開口密度:12000個/cm2 多孔性高分子膜厚:400μm 比較例は不織布(バイリーン社 OX1355、厚さ=
200μm)を用いた。結果は表1に示されている。表
1において、ブロックエラーレート及びバーストエラー
は次のようにして測定された。 a.ブロックエラーレートの測定 テープの任意の部分にフルスケールより3dB低い1k
Hzの正弦波をL,Rの両チャンネルに録音する。再生
時、1秒毎にC1エラー発生ブロック数を計算し、1秒
あたりのデコードブロック数に対する比を算出する。測
定はメインエリアのみを対象とし、連続120分間以上
行い、その平均値を測定値とした。 b.バーストエラーの測定 ブロックエラーレト測定結果から最悪と判断されるテー
プ部分を含む連続120秒間を再生し、0.1秒毎にC
1エラー発生ブロック数を計数する。0.1秒間当たり
のデコードブロック数に対するC1エラー発生ブロック
数の比を算出し、5×10-2のエラーレートレベルを越
えた回数を数えた。測定はメインエリアのみを対象とし
て行った。 実施例2 メタル磁性粉を使用したDCC用テープの製造におい
て、フジボウ愛媛(株)製パルパス(実施例1と同じ材
料)を使用し、組立工程においてクリーニングを行っ
た。比較例は不織布(旭化成社ベンリーゼ、厚さ=15
0μm)である。エラーはフィリップス社製エラーレー
ト測定器(DEMS/測定デッキDTTー1000)を
用いて測定した。
【0013】実施例3 多孔性高分子の物性とヘッド汚れ及びニップ汚れとの関
係を測定した。測定結果を表3〜表7に示す。表3は硬
度とヘッド汚れとの関係、表4は圧縮率とニップ汚れと
の関係、表5は圧縮弾性率とヘッド汚れとの関係、表6
は開口密度とヘッド汚れとの関係、表7は膜厚とニップ
汚れとの関係を、それぞれ示している。DATテープの
クリーニング効果について、DATデッキのヘッド汚れ
量または切断機のニップ汚れ量で評価した。多孔性高分
子クリーニング材としてフジボウ愛媛(株)製のパルパ
スを用いた。 表3に示すように、高分子膜の硬度40〜65°(ショ
アー硬度A)の範囲で、充分なヘッド汚れ防止作用を得
ることができる。硬度65°を越えるとテープに傷を発
生し、硬度40°よりも小さいと、ヘッド汚れ防止作用
が低下する。
【0014】圧縮率は、表4に示すように、50%以下
であることが望ましく、圧縮弾性率は、表5に示すよう
に、90%以上あることが望ましい。多孔性高分子膜
は、膜の形成時に表面に充分な開口が無い場合は、その
表面を研磨、研削などして充分な開口を確保できる。開
口密度は、表6に示すように、5000個/cm2以上
が望ましい。厚さは、表7に示すように、100μm以
上であることが望ましい。
【0015】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、ク
リーニング部材による媒体へのダメージ、クリーニング
部材のクリーニング部材が容易に変形してしまう現象
(ヘタリ)などを避け、もって、クリーニング効果を向
上させた磁気記録媒体の製造方法を提供することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る磁気記録媒体の製造方法を示す図
である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 楜沢 礼一 東京都中央区日本橋1丁目13番1号 テ ィーディーケイ株式会社内 (72)発明者 石川 泰史 東京都中央区日本橋1丁目13番1号 テ ィーディーケイ株式会社内 (56)参考文献 特開 平1−106336(JP,A) 特開 平1−106335(JP,A) 特開 平3−101768(JP,A) 特開 平2−270134(JP,A) 特開 昭58−142375(JP,A) 特開 平5−166179(JP,A) 特開 昭57−81318(JP,A) 実開 昭63−45569(JP,U)

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 間隔を隔てて配置されたローラ間に、非
    磁性支持体を張設し、 前記非磁性支持体を、その裏面に前記ローラを接触させ
    て、一方向に走行させ、 前記ローラ間において、前記非磁性支持体の表面に、磁
    性膜を塗布し、 次に、前記磁性膜の表面に、ショアー硬度(A)が40
    °〜65°の範囲、開口率が5000個/cm 2 〜12
    000個/cm 2 以下の範囲、圧縮率が30%〜50%
    の範囲、圧縮弾性率が90%以上、かつ、膜厚が100
    μm〜400μmの範囲の多孔性高分子部材を、静止状
    態で押し付けることによってクリーニングする工程を含
    む磁気記録媒体の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記多孔性高分子部材は、発泡性ポリウ
    レタンである請求項1に記載の磁気記録媒体の製造方
    法。
  3. 【請求項3】 塗布工程における塗布後にクリーニング
    しその後に巻き取る工程、切断工程の切断後にクリーニ
    ングしその後に巻き取る工程、研磨工程の研磨後にクリ
    ーニングしその後に巻き取る工程、または組立工程の巻
    き取り前にクリーニングしその後に巻き取る工程、の少
    なくとも1つを含むことを特徴とする請求項1に記載の
    磁気記録媒体の製造方法。
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