JP3427535B2 - 特性バラツキ補正方法 - Google Patents
特性バラツキ補正方法Info
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Description
検知素子を使用した赤外線撮像装置に関するものであ
る。
る。図において、多数の赤外線検知素子を有する赤外線
検知器12は、光学系11を通って入射した赤外線をそのま
ま電気信号に変換してA/D 変換器13に送出するので、こ
の変換器はN ビットのディジタル画像データに変換して
バラツキ補正部2に出力す。
毎の特性のバラツキを補正する機能を持っているので、
素子毎の特性バラツキを補正してフレームメモリ14に送
出する。そこで、フレームメモリ14はディジタル画像デ
ータをテレビ信号のフォーマットに走査変換した後、D/
A 変換器15を介して表示部に送出して画面表示する。
囲にわたって均等な補正精度を保ちながら、補正に使用
するデータを格納しているメモリ容量の削減を図ること
が必要である。
多点補正方法の説明図、図8は従来例の補正処理フロー
図、図9は従来例の補正処理説明図、図10は補正処理部
の構成図の一例図である。
省略する) の入出力特性は非直線性を有し、且つ非直線
性の程度が素子毎に異なっている。この様な検知素子毎
の入出力特性のバラツキを補正する方法として「多点補
正方式」が提案されているが、図6〜図9を用いてこの
補正方法を説明する。ここで、画像データのビット数N
=12 とする。
ィジタル化した検知器出力( 例えば、j 画素の12ビット
画像データ) と予め設定した基準画素のディジタル画像
データの関係を示す図で、縦軸の右側の目盛りは27( 12
8)ずつ増加して212(4096) まで、左側の目盛りは右側の
目盛りの値を全て 128で割った値で、1目盛りの間が12
8 に均等分割されている。
ビット画像データIdj が入力したとすると、図7の入力
レベル領域判定部分25でこの画像データが図6の縦軸左
側の32に均等分割された、どの均等分割領域に入ってい
るかを判定する。
ータIdj を下位7ビット(K) と上位5ビット(N−K)に分
割し、上位5ビットのデータ mj 及び(上位5ビットの
データ+1) mj +1 をアドレスとして図9のROM にア
クセスする( 図8、図9のS1,S2 参照) 。
と5ビットに分割することは、(Idj /27)の演算を実行
することになり、上位5ビットは演算の商に相当して画
像データIdj が入る均等分割領域の下位境界値に相当
し、下位7ビットは演算の余りで下位境界値を0とした
時の画像データの値に相当する。
分割領域の各境界値における画像データIdj の値(図中
の白丸)に対応する基準画素の値(図中の黒丸で校正デ
ータと云う)が格納されている。
に行なわれると、均等分割領域の境界値3,4に対応す
る校正データ Sj (mj ), Sj (mj +1)が読み出されるの
で、これらの減算を行なって均等分割領域の両端での基
準画素の校正データの差を求めた後、[Sj (mj +1)− S
j (mj )]/ 2K ( これをB とする) を演算する(図8、
図9のS3〜S5参照) 。
い 2K だけ変化すると、基準画素のデータは[Sj (mj +
1)− Sj (mj )]だけ変化することを意味する。つまり、
[Sj (mj +1)− Sj (mj )]= 2K の時、j画素と基準画
素は同一の感度を有することになる。
均等分割領域の下位境界値より djだは大きいので、こ
れに対応して基準画素のデータを求めると、 d j ×B + Sj (mj ) = [Id j −(mj × 2K )]×B + S
j (mj ) となる( 図8,図9のS6, S7参照) 。
値が多点補正したj画素の画像データ( 補正データ) と
して求められる。なお、上記の演算は具体的には図10に
示す様に、図8に示す手順が格納されているプログラム
ROM 22と、演算に必要な情報やテーブルが格納されたテ
ーフルROM 、演算などの処理をするRAM 24などを設け、
CPU 21はプログラム ROM 22 に格納された手順に従って
補正処理を行なうことになる。
る。図において、図中の32点補正は図6中の縦軸0と40
95の間を32分割し、8点補正は8分割するので、32点補
正は8点補正のものよりも4倍細かく補正することにな
る。これにより、図10に示す様に分割数が細かくなる
程、輝度ムラが小さくなる。
画素数×M ×1画素当りのビット数で求められる。ここ
で、M =2N / 2K は領域分割数( 多点補正の点数) であ
る。この為、分割数が大きくなる程、ROM の所要容量が
大きくなる。つまり、分割数を大きくすれば輝度ムラは
小さくなるが、ROM の容量が大きくなると云う課題があ
った。
子の入出力特性に適合する様に出力特性の全領域を不均
等に分割する。赤外線検知素子の出力データが印加した
時、出力データが含まれる不均等分割領域の上端及び下
端における赤外線検知素子の出力データに対応する基準
赤外線検知素子の出力データを求め、基準赤外線検知素
子の出力データを用いて、印加した赤外線検知素子の出
力データのバラツキを補正する。尚、上記不均等な分割
は、上記の出力特性の全領域を均等に分割した後、均等
分割領域を不均等に束ねて生成する様にした。
れる不均等分割領域の検出を、赤外線検知素子の出力デ
ータをディジタル化し、ディジタル化出力データ中の上
位複数ビットが示すアドレスと不均等分割領域の下端境
界の番号との対応を示す第1のテーブル、上位複数ビッ
トが示すアドレスと不均等分割領域の幅との対応を示す
第2のテーブル、上位複数ビットが示すアドレスと不均
等領域の下端境界のデータとの対応を示す第3のテーブ
ルを格納した第1のメモリを設ける。
位複数ビットを用いて対応する不均等分割領域番号を認
識する様にした。本発明は、上記補正を、不均等分割領
域の上端及び下端における赤外線検知素子の出力データ
に対する基準赤外線検知素子の出力データを格納した第
2のメモリを設ける。
として、第1及び第2のメモリから読み出したデータを
用いて、基準赤外線検知素子の出力特性に近づく様に補
正する様にした。
ち、非直線性の顕著な部分では分割を細かくし、直線性
の良好な部分では分割を荒くする不均等な領域分割を行
うことにより、上記の領域分割数のM の値を小さくす
る。尚、上記不均等な分割は、出力特性の全領域を均等
に分割した後、均等分割領域を不均等に束ねて生成す
る。
正でも32点補正でも輝度ムラは殆ど変化しないが、両端
付近では補正数が増加する程、輝度ムラは小さくなる。
そこで、中間領域の分割を荒くし、両端付近では分割数
を大きくする。
のでROM の容量は削減されると共に、全出力範囲にわた
って輝度ムラは低い状態を維持することができる。
法説明図、図2は第1〜第5の本発明の補正処理フロー
図、図3は第1〜第5の本発明の補正処理説明図、図4
は第1〜第5の本発明による補正効果の説明図である。
を示す。以下、図1〜図4の説明をするが、上記で詳細
説明した部分に対しては概略説明し、本発明の部分につ
いて詳細説明する。
力に対するディジタル化した検知器出力(j画素のN ビ
ット画像データ) と予め設定した基準画素のディジタル
画像データの関係を示す図で、縦軸の右側の目盛りは12
8 ずつ増加し、中側の目盛りは右側の値を128 で割った
値で均等分割領域の値( ここまでは従来例と同じ) 、左
側の目盛りは画素の入出力特性が直線的である部分( 中
間部分) は1目盛りの領域は広く、非直線的である部分
(両端に近い部分)は1目盛りの領域は狭くなってい
る。
の数よりも小さくなる。今、図1の×印に示すレベルの
j画素のN ビット画像データIdj が入力すると、この画
像データがどの均等分割領域に入るかを判定する。この
為、入力したNビット画像データの上位(N−K)ビットを
取り出し、上記と同様な方法で均等分割領域の下位境界
値が mj であることが判った。
アドレスとして図3中の第1のROM231 にアクセスす
る。第1のROM 231 には 均等分割領域の様々な下位境界値の入る不均等分割
領域の下端境界のデータ 均等分割領域の様々な下位境界値の入る不均等分割
領域の幅 均等分割領域の様々な下位境界値の入る不均等分割
領域の下端境界の番号 が格納されているので、アドレス mj に対応する不均等
分割領域の下位境界値データL 、対応する不均等分割領
域の幅dHL 、対応する不均等分割領域の下位境界値 gj
を読み出す( 図2,図3のS1〜S3参照) 。
正データ)から (Idj −L) / dHLを演算する( 図2,図
3のS4, S5参照) 。なお、 (Idj −L)は不均等分割領域
の下位境界値を0とした時の入力画像データの値であ
る。
位境界値 gj 及びdHL だけ上方の下位境界値(gj +1)を
アドレスとして、図3中の第2のROM 232 にアクセスす
る。第2のROM 232 には不均等分割領域の下位境界値に
おける基準画素データが格納されているので、アドレス
gj に対して Sj (gj ) 、アドレス(gj +1)に対して S
j (gj +1)の基準画素データをそれぞれ読み出す( 図
2、図3のS6, S7参照) 。
j (gj ) を演算することにより、不均等に領域を分割した本発明
の補正データが得られる( 図2、図3のS8参照) 。
j+2 ・・に20°C の黒体温度が入力した時、素子のバ
ラツキを補正しなければ出力レベルがバラツクことを示
している。
により、図4(b) に示す様に、出力レベルの上部及び下
部で補正しきれない部分が現れる程度で、ほぼ全出力範
囲にわたって均等な補正精度が得られることが判る。
たので、均等に分割する従来例よりも分割数が減り( 図
1の場合は約半分) 、メモリの容量が削減された。つま
り、良好な補正精度を得る為のメモリ容量の削減、また
は一定のメモリによって電子シャッタ動作( 入力条件に
よって素子感度を制御する動作) 等のより広い使用条件
下での補正が可能になる。
ば、メモリ容量の削減を図ることができると云う効果が
ある。
である。
る。
る。
る。
換器 14 フレームメモリ 15 D/A 変
換器 21 CPU 22 プログ
ラムROM 23 テーブルROM 24 RAM
Claims (3)
- 【請求項1】 赤外線検知素子の入出力特性に適合す
る様に出力特性の全領域を不均等に分割し、赤外線検知
素子の出力データが印加した時、該出力データが含まれ
る不均等分割領域の上端及び下端における該赤外線検知
素子の出力データに対応する基準赤外線検知素子の出力
データを求め、該基準赤外線検知素子の出力データを用
いて、印加した赤外線検知素子の出力データのバラツキ
を補正する特性バラツキ補正方法において、 前記 不均等な分割は、上記の出力特性の全領域を均等に
分割した後、均等分割領域を不均等に束ねて生成するこ
とを特徴とする特性バラツキ補正方法。 - 【請求項2】 赤外線検知素子の入出力特性に適合す
る様に出力特性の全領域を不均等に分割し、赤外線検知
素子の出力データが印加した時、該出力データが含まれ
る不均等分割領域の上端及び下端における該赤外線検知
素子の出力データに対応する基準赤外線検知素子の出力
データを求め、該基準赤外線検知素子の出力データを用
いて、印加した赤外線検知素子の出力データのバラツキ
を補正する特性バラツキ補正方法において、 前記 印加した出力データが含まれる不均等分割領域の検
出は、赤外線検知素子の出力データをディジタル化し、
ディジタル化出力データ中の上位複数ビットが示すアド
レスと不均等分割領域の下端境界の番号との対応を示す
第1のテーブル、上位複数ビットが示すアドレスと不均
等分割領域の幅との対応を示す第2のテーブル、上位複
数ビットが示すアドレスと不均等領域の下端境界のデー
タとの対応を示す第3のテーブルを格納した第1のメモ
リを設け、赤外線検知素子の出力データの上位複数ビッ
トを用いて、対応する均等分割領域番号を認識する様に
したことを特徴とする特性バラツキ補正方法。 - 【請求項3】 赤外線検知素子の入出力特性に適合す
る様に出力特性の全領域を不均等に分割し、赤外線検知
素子の出力データが印加した時、該出力データが含まれ
る不均等分割領域の上端及び下端における該赤外線検知
素子の出力データに対応する基準赤外線検知素子の出力
データを求め、該基準赤外線検知素子の出力データを用
いて、印加した赤外線検知素子の出力データのバラツキ
を補正する特性バラツキ補正方法において、 前記 補正は、不均等分割領域の上端及び下端における赤
外線検知素子の出力データに対する基準赤外線検知素子
の出力データを格納した第2のメモリを設け、前記の上
位複数ビットをアドレスとして、第1及び第2のメモリ
から読み出したデータを用いて該基準赤外線検知素子の
出力特性に近づく様に補正することを特徴とする特性バ
ラツキ補正方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP00321895A JP3427535B2 (ja) | 1995-01-12 | 1995-01-12 | 特性バラツキ補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP00321895A JP3427535B2 (ja) | 1995-01-12 | 1995-01-12 | 特性バラツキ補正方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08193883A JPH08193883A (ja) | 1996-07-30 |
JP3427535B2 true JP3427535B2 (ja) | 2003-07-22 |
Family
ID=11551307
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP00321895A Expired - Lifetime JP3427535B2 (ja) | 1995-01-12 | 1995-01-12 | 特性バラツキ補正方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3427535B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2314227B (en) * | 1996-06-14 | 1998-12-23 | Simage Oy | Calibration method and system for imaging devices |
JP2001191271A (ja) * | 2000-01-01 | 2001-07-17 | Yasaka:Kk | レーザー墨出し装置 |
JP3963008B2 (ja) * | 2001-12-20 | 2007-08-22 | 本田技研工業株式会社 | イメージセンサの出力補正装置 |
CN103076097A (zh) * | 2013-01-06 | 2013-05-01 | 河北汉光重工有限责任公司 | 基于参照源的分段线性非均匀矫正方法 |
-
1995
- 1995-01-12 JP JP00321895A patent/JP3427535B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
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