JP3422017B2 - 恒温槽 - Google Patents
恒温槽Info
- Publication number
- JP3422017B2 JP3422017B2 JP00665198A JP665198A JP3422017B2 JP 3422017 B2 JP3422017 B2 JP 3422017B2 JP 00665198 A JP00665198 A JP 00665198A JP 665198 A JP665198 A JP 665198A JP 3422017 B2 JP3422017 B2 JP 3422017B2
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- JP
- Japan
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- temperature
- constant temperature
- heater
- bath
- liquid
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- Control Of Temperature (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、イオンクロマトグ
ラフィ用恒温槽に関し、設定温度までのランニング時間
の短縮および被測定液の温度を長時間一定温度に維持可
能な恒温槽に関するものである。
ラフィ用恒温槽に関し、設定温度までのランニング時間
の短縮および被測定液の温度を長時間一定温度に維持可
能な恒温槽に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図4は従来より用いられている恒温槽の
断面構成図である。図において、第１恒温槽１の中程に
第２恒温槽２が配置され、この第２恒温槽２内に検出器
３が配置されている。これら第１、第２恒温槽を貫通し
て被測定液を導入する配管４が設けられている。第１ヒ
ータ５は第１恒温槽を加熱し、第２ヒータ６は第２恒温
槽内を加熱する。
断面構成図である。図において、第１恒温槽１の中程に
第２恒温槽２が配置され、この第２恒温槽２内に検出器
３が配置されている。これら第１、第２恒温槽を貫通し
て被測定液を導入する配管４が設けられている。第１ヒ
ータ５は第１恒温槽を加熱し、第２ヒータ６は第２恒温
槽内を加熱する。
【０００３】上記の構成において、第１ヒータ５は第１
恒温槽内１の温度を被測定液の測定温度まで昇温し、同
時に第２恒温槽２内の温度も被測定液の測定温度まで昇
温する。
恒温槽内１の温度を被測定液の測定温度まで昇温し、同
時に第２恒温槽２内の温度も被測定液の測定温度まで昇
温する。
【０００４】ところで上述の従来例においては、第２ヒ
ータ６のパワーが大きいと被測定液の温度むらが生じ、
パワーが小さいと、特に電源投入時には、被測定液の測
定温度まで昇温するのに時間がかかるという問題があ
る。図５は上述の従来の恒温槽を用い、導電率の一定し
た被測定液を安定温度に保った状態での測定結果を示す
図であるが、時間の経過（ここでは１０分）と共に、導
電率の測定値が変動（およそ０．０２μＳ／ｃｍ）して
いることが分かる。
ータ６のパワーが大きいと被測定液の温度むらが生じ、
パワーが小さいと、特に電源投入時には、被測定液の測
定温度まで昇温するのに時間がかかるという問題があ
る。図５は上述の従来の恒温槽を用い、導電率の一定し
た被測定液を安定温度に保った状態での測定結果を示す
図であるが、時間の経過（ここでは１０分）と共に、導
電率の測定値が変動（およそ０．０２μＳ／ｃｍ）して
いることが分かる。
【０００５】本発明は上記従来技術の問題点を解決する
ためになされたもので、測定温度に達するまでのランニ
ング時間を短縮し、外乱の影響を受け難い恒温槽を提供
することを目的とする。
ためになされたもので、測定温度に達するまでのランニ
ング時間を短縮し、外乱の影響を受け難い恒温槽を提供
することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本発明では、第１恒温槽と、この第１恒温槽内
に配置された第２恒温槽と、この第２恒温槽内に配置さ
れた検出器と、前記第１恒温槽内を通って第２恒温槽内
の検出器に被測定液を導入する配管と、記第１恒温槽内
を加熱する第１ヒータと、前記第２恒温槽内を加熱する
第２ヒータと、前記検出器を加熱する第３ヒータと、か
らなり、前記第１ヒータにより前記被測定液の測定温度
付近まで急速加熱し、前記第２ヒータにより測定温度ま
で加熱するようにしたことを特徴とするものである。
るために本発明では、第１恒温槽と、この第１恒温槽内
に配置された第２恒温槽と、この第２恒温槽内に配置さ
れた検出器と、前記第１恒温槽内を通って第２恒温槽内
の検出器に被測定液を導入する配管と、記第１恒温槽内
を加熱する第１ヒータと、前記第２恒温槽内を加熱する
第２ヒータと、前記検出器を加熱する第３ヒータと、か
らなり、前記第１ヒータにより前記被測定液の測定温度
付近まで急速加熱し、前記第２ヒータにより測定温度ま
で加熱するようにしたことを特徴とするものである。
【０００７】
【作用】第１ヒータは第１恒温槽１内を被測定液の測定
温度付近まで急速加熱する。第３ヒータは検出器を測定
温度より僅かに低い温度まで急速加熱する。第２ヒータ
は被測定液と検出器を測定温度まで加熱する。
温度付近まで急速加熱する。第３ヒータは検出器を測定
温度より僅かに低い温度まで急速加熱する。第２ヒータ
は被測定液と検出器を測定温度まで加熱する。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下図面を用いて本発明を詳しく
説明する。図１は本発明の実施の形態の一例を示す概略
構成図である。図２（ａ）、（ｂ）は第１、第２恒温槽
内の第１、第２ヒータ５、６による温度変化を示し、図
２（c）は検出器３の第３ヒータ７による温度変化を示
している。なお、図１において、図４に示す従来例と同
一要素には同一符号を付している。第１ヒータ５はパワ
ーの大きなヒータであり、第１恒温槽１内と配管４内の
被測定液を図２（a）に示すように設定（測定）温度付
近まで急速に加熱してPID制御を行う。
説明する。図１は本発明の実施の形態の一例を示す概略
構成図である。図２（ａ）、（ｂ）は第１、第２恒温槽
内の第１、第２ヒータ５、６による温度変化を示し、図
２（c）は検出器３の第３ヒータ７による温度変化を示
している。なお、図１において、図４に示す従来例と同
一要素には同一符号を付している。第１ヒータ５はパワ
ーの大きなヒータであり、第１恒温槽１内と配管４内の
被測定液を図２（a）に示すように設定（測定）温度付
近まで急速に加熱してPID制御を行う。
【０００９】なお、第１ヒータ５は第１恒温槽内に設け
られたケース８に設けられ、このケース８内には配管４
内の被測定液が十分に加熱されるように、コイル状に巻
き回した状態で配置されている。
られたケース８に設けられ、このケース８内には配管４
内の被測定液が十分に加熱されるように、コイル状に巻
き回した状態で配置されている。
【００１０】第２ヒータ６は第２恒温槽２内と検出器３
の温度を図２(b)に示すようにPID制御を行う（この場合
の温度制御は精密に行う）。第３ヒータ７は初期段階に
おいては、検出器３の温度を設定温度付近（設定温度よ
りΔt低い温度）まで急速に加熱してスイッチ断とな
る。その後検出器３は第２ヒータ６により加熱されて設
定温度まで加熱される。この検出器３の制御はオンオフ
により行うが、図２（ｃ）に示すように、異常時に温度
が設定下限値以下まで下がったら通電し、設定温度まで
上昇すると電源が断となり、その後は第２ヒータにより
恒温化される。
の温度を図２(b)に示すようにPID制御を行う（この場合
の温度制御は精密に行う）。第３ヒータ７は初期段階に
おいては、検出器３の温度を設定温度付近（設定温度よ
りΔt低い温度）まで急速に加熱してスイッチ断とな
る。その後検出器３は第２ヒータ６により加熱されて設
定温度まで加熱される。この検出器３の制御はオンオフ
により行うが、図２（ｃ）に示すように、異常時に温度
が設定下限値以下まで下がったら通電し、設定温度まで
上昇すると電源が断となり、その後は第２ヒータにより
恒温化される。
【００１１】なお、第１恒温槽と第２恒温槽は断熱材に
より温度的に遮断されており、外界の温度変化や互いの
恒温槽の内部温度の変化を受けないようにされている。
図３は本発明の恒温槽を用いて従来例と同条件で測定を
おこなった結果を示すもので、測定温度に達してからの
測定結果（従来の１０分間に０．０２μＳ／ｃｍに対し
て約１３分の間に０．００５μＳ／ｃｍの変動）も安定
していることが分かる。このことは、本発明の恒温槽が
外界の温度変化や互いの恒温槽の内部温度の変化を受け
ないことを示している。
より温度的に遮断されており、外界の温度変化や互いの
恒温槽の内部温度の変化を受けないようにされている。
図３は本発明の恒温槽を用いて従来例と同条件で測定を
おこなった結果を示すもので、測定温度に達してからの
測定結果（従来の１０分間に０．０２μＳ／ｃｍに対し
て約１３分の間に０．００５μＳ／ｃｍの変動）も安定
していることが分かる。このことは、本発明の恒温槽が
外界の温度変化や互いの恒温槽の内部温度の変化を受け
ないことを示している。
【００１２】また、本発明の以上の説明は、説明および
例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎな
い。したがって本発明はその本質から逸脱せずに多くの
変更、変形をなし得ることは当業者に明らかである。特
許請求の範囲の欄の記載により定義される本発明の範囲
は、その範囲内の変更、変形を包含するものとする。
例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎな
い。したがって本発明はその本質から逸脱せずに多くの
変更、変形をなし得ることは当業者に明らかである。特
許請求の範囲の欄の記載により定義される本発明の範囲
は、その範囲内の変更、変形を包含するものとする。
【００１３】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、第
１恒温槽内に第２恒温槽を配置し、この第２恒温槽内に
検出器を配置して、第１恒温槽内を通って第２恒温槽内
の検出器に被測定液を導入する配管を設け、第１恒温槽
内を加熱する第１ヒータと、第２恒温槽内を加熱する第
２ヒータと、検出器を加熱する第３ヒータとを設けて、
第１ヒータにより被測定液の測定温度付近まで急速加熱
し、前記第２ヒータにより測定温度まで加熱するように
したので、測定温度に達するまでのランニング時間を短
縮し、かつ検出器に流れる被測定液の温度を外乱の影響
を受けずに長時間にわたって維持することが可能な恒温
槽を実現することができた。
１恒温槽内に第２恒温槽を配置し、この第２恒温槽内に
検出器を配置して、第１恒温槽内を通って第２恒温槽内
の検出器に被測定液を導入する配管を設け、第１恒温槽
内を加熱する第１ヒータと、第２恒温槽内を加熱する第
２ヒータと、検出器を加熱する第３ヒータとを設けて、
第１ヒータにより被測定液の測定温度付近まで急速加熱
し、前記第２ヒータにより測定温度まで加熱するように
したので、測定温度に達するまでのランニング時間を短
縮し、かつ検出器に流れる被測定液の温度を外乱の影響
を受けずに長時間にわたって維持することが可能な恒温
槽を実現することができた。
【図１】本発明の実施の形態の一例を示す恒温槽の断面
構成図である。
構成図である。
【図２】各ヒータによる恒温槽と検出器の温度制御の状
態を示す図である。
態を示す図である。
【図３】本発明の恒温槽を用いた導電率の測定結果を示
す図である。
す図である。
【図４】従来の恒温槽の断面構成図である。
【図５】従来の恒温槽を用いた導電率の測定結果を示す
図である。
図である。
１ 第１恒温槽
２ 第２恒温槽
３ 検出器
４ 配管
５ 第１ヒータ
６ 第２ヒータ
７ 第３ヒータ
８ ケース
Ｔ1、Ｔ2、Ｔ3 温度センサ
Claims (3)
- 【請求項１】第１恒温槽と、この第１恒温槽内に配置さ
れた第２恒温槽と、この第２恒温槽内に配置された検出
器と、前記第１恒温槽内を通って第２恒温槽内の検出器
に被測定液を導入する配管と、前記第１恒温槽内を加熱
する第１ヒータと、前記第２恒温槽内を加熱する第２ヒ
ータと、前記検出器を加熱する第３ヒータと、からな
り、前記第１ヒータにより前記被測定液の測定温度付近
まで急速加熱し、前記第２ヒータにより測定温度まで加
熱するようにしたことを特徴とする恒温槽。 - 【請求項２】前記第１測定槽内の被測定液の温度と、前
記検出器の温度を測定する温度センサを設けたことを特
徴とする請求項１記載の恒温槽。 - 【請求項３】前記第３ヒータは前記被測定液の測定温度
付近まで急速加熱し、前記第２ヒータにより測定温度ま
で加熱するようにしたことを特徴とする請求項１記載の
恒温槽。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00665198A JP3422017B2 (ja) | 1998-01-16 | 1998-01-16 | 恒温槽 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00665198A JP3422017B2 (ja) | 1998-01-16 | 1998-01-16 | 恒温槽 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11201957A JPH11201957A (ja) | 1999-07-30 |
| JP3422017B2 true JP3422017B2 (ja) | 2003-06-30 |
Family
ID=11644295
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP00665198A Expired - Lifetime JP3422017B2 (ja) | 1998-01-16 | 1998-01-16 | 恒温槽 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3422017B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI685658B (zh) * | 2017-02-20 | 2020-02-21 | 日商島津製作所股份有限公司 | 電導率檢測器以及離子色譜儀 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5040990B2 (ja) * | 2007-02-23 | 2012-10-03 | 東ソー株式会社 | カラムオーブン二重温調 |
| CN102944633A (zh) * | 2012-10-31 | 2013-02-27 | 青岛轩汇仪器设备有限公司 | 一种离子色谱仪 |
| CN102967663A (zh) * | 2012-10-31 | 2013-03-13 | 青岛轩汇仪器设备有限公司 | 一种带自动激活装置的离子色谱仪 |
-
1998
- 1998-01-16 JP JP00665198A patent/JP3422017B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI685658B (zh) * | 2017-02-20 | 2020-02-21 | 日商島津製作所股份有限公司 | 電導率檢測器以及離子色譜儀 |
| US11293907B2 (en) | 2017-02-20 | 2022-04-05 | Shimadzu Corporation | Electric conductivity detector and ion chromatograph |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH11201957A (ja) | 1999-07-30 |
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