JP3417464B2 - 平坦化膜形成用塗布液 - Google Patents
平坦化膜形成用塗布液Info
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Description
属配線層その他を設けたときに生じる凹凸を、平坦化す
るために用いる新規な平坦化膜形成用塗布液に関するも
のである。
の高集積化や微細化がはかられ、そのため配線層は多層
化の方向に進んでいる。その結果、表面に凹凸を生じる
が、これにより後続の多層化のためのホトリソグラフィ
処理が所期の目的を達成することができず、半導体デバ
イスの性能、信頼性の低下を招来することになるため、
一般に基板表面に平坦化膜を形成させている。
いる塗布液については、微細化した配線間を確実に埋め
ることができ、優れた平坦性をもつことに加えて、最近
ではエッチバック材料としての物性を兼ね備えた膜とし
てCVD膜に適合したエッチング速度条件や、微細な凹
凸へのぬれ性を有することが要求されている。そして、
これまでこの平坦化膜は、アルコキシシランやハロゲノ
シランの加水分解反応生成物を含む塗布液(特開平5−
32410号公報)、ポリメチルシルセスキオキサンと
テトラアルキルアンモニウムと有機溶剤とからなる塗布
液(特開平8−143818号公報)を用いて形成され
ている。しかしながら、前者は、無機系の酸化ケイ素膜
すなわち無機SOG膜であるため、アスペクト比が大き
くなるとクラックが発生するし、また微細な回路パター
ンに対しては埋め込みが不十分になるという欠点がある
し、後者は平坦化度が不完全で、この上に設けるホトレ
ジストの露光時の焦点深度が変動して解像度が低下した
り、有機溶剤の残存量やベーク温度が一定しないためエ
ッチング速度が変動し、制御しにくいという欠点があ
る。また、ポリイミド樹脂を用いた平坦化膜も提案され
ているが、このものは焼成すると平坦性が低下するた
め、リフローしなければならない上に、埋め込み性にも
問題があり、実用化されていない。
化膜形成用塗布液がもつ欠点を克服し、半導体デバイス
の集積化、微細化に十分対応しうる平坦化能力を有する
新規な平坦化膜形成用塗布液を提供するためになされた
ものである。
板上に配線層などを積層したときに生じる凹凸を平坦化
するための塗布液について種々研究を重ねた結果、ヒド
ロキシアルキル基又はアルコキシアルキル基あるいはそ
の両方で置換されたアミノ基を少なくとも1個有するト
リアジン化合物を含む有機溶剤溶液が、優れた平坦化性
を示し、エッチング速度を近接層とマッチングさせやす
く、しかも微細な凹凸に対して良好なぬれ性を有するこ
とを見出し、この知見に基づいて本発明をなすに至っ
た。
基又はアルコキシアルキル基あるいはその両方で置換さ
れたアミノ基を少なくとも1個有するトリアジン化合物
の有機溶剤溶液からなる平坦化膜形成用塗布液を提供す
るものである。
としてヒドロキシアルキル基又はアルコキシアルキル基
あるいはその両方で置換されたアミノ基を少なくとも1
個有するトリアジン化合物を含有する。このトリアジン
化合物としては、例えばメラミン、ベンゾグアナミン、
アセトグアナミンを挙げることができる。これらのトリ
アジン化合物は、その分子中に炭素原子に結合したアミ
ノ基を有し、そのアミノ基はヒドロキシアルキル基又は
アルコキシアルキル基あるいはその両方で置換されてい
ることが必要である。
はアルコキシ基としては、炭素数4以下のものが好まし
い。このようなアルキル基の例としては、メチル基、エ
チル基、n‐プロピル基、イソプロピル基、n‐ブチル
基、イソブチル基、sec‐ブチル基、tert‐ブチ
ル基などを、またアルコキシ基の例としては、メトキシ
基、エトキシ基、n‐プロポキシ基、n‐ブトキシ基な
どをそれぞれ挙げることができる。
ようなヒドロキシアルキル基又はアルコキシアルキル
基、あるいはその両方で置換されたアミノ基を少なくと
も1個、通常は1〜3個有するものであり、このアミノ
基以外にさらに他の置換基例えばハロゲン原子、ニトロ
基、シアノ基、カルボキシル基などを有していてもよ
い。このようなヒドロキシアルキル基又はアルコキシア
ルキル基あるいはその両方で置換されたアミノ基を有す
るトリアジン化合物の代表的なものとしては、例えばメ
トキシメチル化メラミン、メトキシメチル化ブトキシメ
チル化メラミン、ブトキシメチル化メラミン、カルボキ
シル基含有メトキシメチル化イソブトキシメチル化メラ
ミン、メトキシメチル化ベンゾグアナミン、メトキシメ
チル化エトキシメチル化ベンゾグアナミン、メトキシメ
チル化ブトキシメチル化ベンゾグアナミン、ブトキシメ
チル化ベンゾグアナミン、メチロール化ベンゾグアナミ
ンなどがある。この中でもメトキシメチル化ベンゾグア
ナミンが好ましい。これら誘導体は通常単独で用いられ
るが、所望ならば2種以上を組み合わせて用いることが
できる。
上記のトリアジン化合物を溶解しうるものであればよ
く、特に制限はない。このような有機溶剤の例として
は、メチルアルコール、エチルアルコール、プロピルア
ルコール、ブチルアルコールのような一価アルコール、
エチレングリコール、ジエチレングリコール、プロピレ
ングリコールのような多価アルコール、エチレングリコ
ールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチ
ルエーテル、エチレングリコールモノプロピルエーテ
ル、エチレングリコールモノブチルエーテル、プロピレ
ングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコー
ルモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロ
ピルエーテル、プロピレングリコールモノブチルエーテ
ル、エチレングリコールモノメチルエーテルアセテー
ト、エチレングリコールモノエチルエーテルアセテー
ト、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテー
ト、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテー
トのような多価アルコール誘導体、酢酸、プロピオン酸
のような脂肪酸等を挙げることができる。これらの有機
溶剤は単独で用いてもよいし、2種以上組み合わせて用
いてもよい。この中で特に好ましいのは、プロピレング
リコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモ
ノメチルエーテルアセテートのようなアルキレングリコ
ールモノアルキルエーテル及びそのエステルである。
濃度には特に制限はなく、トリアジン化合物の種類や使
用目的に応じて適宜選択することができる。例えば同じ
トリアジン化合物においては、濃度を高くすると厚い膜
が得られ、濃度を低くすると薄い膜が得られる。このよ
うに、この濃度は所望の膜厚に応じて適宜選ぶことがで
きるが、本発明の塗布液においては、従来の塗布液にお
ける濃度が約20%を限度としていたにもかかわらず、
85%という高濃度にすることもできる。
するには、所定のトリアジン化合物を有機溶剤に所望の
濃度で溶解して調製した塗布液を、例えばアルミニウム
のような金属の回路パターンを有するシリコンウエーハ
上にスピンナー法、スプレー法、浸せき法など従来慣用
されている手段により塗布したのち、乾燥して有機溶剤
を除き、150〜250℃において焼成する。焼成時間
は温度に依存するが、通常1〜30分の範囲内である。
基板には、さらにエッチバックを適用することができ、
これによってさらに膜表面の平坦性を向上させることが
できる。これは本発明の塗布液から形成される膜が有機
膜であるため、エッチングの際にエッチングガスの組成
を調節することによりエッチング速度を容易に変えるこ
とができ、下層膜例えば絶縁膜や半導体膜とマッチング
させうるからである。このようにして、より優れた性能
をもつ平坦化膜を得ることができる。この平坦化膜は、
特に平坦性が優れる上に、微細な凹凸のある基板に対し
て十分なぬれ性を示す。
上させるための添加剤や界面活性剤を配合することがで
きる。この添加剤としては相容性のあるもので、架橋反
応の促進剤として利用できるものであればよく、シュウ
酸、マレイン酸、o‐ヒドロキシ安息香酸、3,5‐ジ
ニトロ安息香酸、2,6‐ジヒドロキシ安息香酸、o‐
ヒドロキシ安息香酸とp‐キシレンとの共重合体として
市販されているSAX(三井東圧化学社製)などのカル
ボン酸類、p‐トルエンスルホン酸とジアルキルアミノ
アルコールとのエステルなどの有機酸エステルや2,
2′,4,4′‐テトラヒドロキシベンゾフェノンなど
を、平坦化膜形成用組成物の樹脂形成成分に対して、5
重量%未満の範囲で添加することができる。さらに、塗
布性の向上やストリエーション防止のための界面活性剤
を添加することができる。このような界面活性剤として
はサーフロンSC−103、SR−100(旭硝子社
製)、EF−351(東北肥料社製)、フロラードFc
−431、フロラードFc−135、フロラードFc−
98、フロラードFc−430、フロラードFc−17
6(住友3M社製)等のフッ素系の界面活性剤が挙げら
れる。その添加量は平坦化膜形成用組成物中のトリアジ
ン化合物に対し、2000ppm未満の範囲で選ぶのが
よい。
説明する。なお、各例中の膜表面の評価は次のようにし
て行った。 (1)加熱後の膜表面:加熱硬化後の膜断面を走査型電
子顕微鏡(SEM)により観察し、膜表面が完全に平坦
化されているものを○、凹凸が存在したり、コンフォー
マルな形状のものを×とした。 (2)エッチバック後の膜表面:エッチバック後の膜断
面をSEMにより観察し、膜表面が完全に平坦化された
ものを○、平坦化されていないものを×とした。
ールモノメチルエーテルアセテートに濃度15重量%に
なるように溶解することにより、平坦化膜形成用塗布液
を調製した。次にシリコン基板上にアルミニウム配線を
施し、第一層として窒化チタンからなる絶縁膜層、第二
層としてポリシリコン膜を積層した。このようにして得
た半導体デバイス表面に、前記の塗布液をスピンナーを
用いて回転塗布したのち、180℃で90秒間加熱焼成
し、膜厚2000Åの平坦化膜を形成した。この平坦化
膜の断面をSEMにより観察した結果を表1に示す。次
にこの基板に対して、膜全体にわたってエッチバックを
施したのち、その断面をSEMで観察した。その結果を
表1に示す。
メチルエーテルアセテートに濃度15重量%になるよう
に溶解することにより、平坦化膜形成用塗布液を調製し
た。この塗布液を実施例1と同じ半導体デバイス表面に
塗布し、同様に処理して平坦化膜を形成した。この断面
をSEMにより観察し、その結果を表1に示す。また、
この基板に対して、膜全体にわたってエッチバックを施
したものについて、その断面をSEMにより観察し、そ
の結果を表1に示す。
ールモノメチルエーテルに濃度15重量%になるように
溶解することにより、平坦化膜形成用塗布液を調製し
た。この塗布液を実施例1と同じ半導体デバイス表面に
塗布し、同様に処理して平坦化膜を形成した。この断面
をSEMにより観察し、その結果を表1に示す。また、
この基板に対して、膜全体にわたってエッチバックを施
したものについて、その断面をSEMにより観察し、そ
の結果を表1に示す。
ールモノメチルエーテルアセテートに、濃度35重量%
になるように溶解することにより、平坦化膜形成用塗布
液を調製した。この溶液は、保存安定性がよく、室温で
6か月放置しても、その物性に変化は認められなかっ
た。次に、この塗布液を実施例1と同じ半導体デバイス
表面にスピンナーで回転塗布し、180℃において90
秒間焼成したところ、良好な平坦性をもつ膜が得られ
た。この膜を全体にわたってエッチバックした場合も平
坦性は良好であった。この結果を表1に示す。
ールモノメチルエーテルアセテートに濃度80重量%に
なるように溶解して平坦化膜形成用塗布液を調製した。
この溶液は保存安定性が良好で室温で6か月放置して
も、その物性に変化は認められなかった。次に、この塗
布液を実施例1と同じ半導体デバイス表面に塗布して同
様に処理して得た結果を表1に示す。また、この膜を全
体にわたってエッチバックした場合の結果も表1に示
す。
なる市販の平坦化膜形成用塗布液を用い、これを実施例
1と同じ半導体デバイス表面に塗布し、同様に処理して
平坦化膜を形成し、さらにエッチバックを施した。この
際のSEMによる観察結果を表1に示す。
ン15重量部とエタノール/ブタノール/3‐メトキシ
プロピオン酸メチル(重量比55/20/25)からな
る混合溶媒85重量部とを混合し、さらにテトラメチル
アンモニウムヒドロキシド0.0001重量部を加えて
平坦化膜形成用塗布液を調製した。次に、この塗布液
を、シリコンウエーハ上にスピン塗布したのち、180
℃のホットプレート上に30分間保持して溶媒を揮散さ
せ、次いで350℃で30分間加熱硬化させることによ
り、膜厚0.35μmの平坦化膜を形成させた。このよ
うにして得た平坦化膜についてSEMによる観察を行っ
た結果を表1に示す。またエッチバック後の観察結果も
表1に示す。
板に対して、十分なぬれ性を示し、優れた平坦性の平坦
化膜を与える。また、エッチバックに際し、下層膜とエ
ッチング速度が一致するように、容易にコントロールで
きるという利点がある。
Claims (3)
- 【請求項1】 ヒドロキシアルキル基又はアルコキシア
ルキル基あるいはその両方で置換されたアミノ基を少な
くとも1個有するトリアジン化合物の有機溶剤溶液から
なる平坦化膜形成用塗布液。 - 【請求項2】 トリアジン化合物がベンゾグアナミンで
ある請求項1記載の平坦化膜形成用塗布液。 - 【請求項3】 有機溶剤がアルキレングリコールモノア
ルキルエーテル及びそのエステル化物の中から選ばれた
少なくとも1種である請求項1記載の平坦化膜形成用塗
布液。
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