JP3416261B2 - 電子源のフォーミング方法 - Google Patents

電子源のフォーミング方法

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JP3416261B2 JP11491094A JP11491094A JP3416261B2 JP 3416261 B2 JP3416261 B2 JP 3416261B2 JP 11491094 A JP11491094 A JP 11491094A JP 11491094 A JP11491094 A JP 11491094A JP 3416261 B2 JP3416261 B2 JP 3416261B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】 本発明は、電子源のフォーミン
グ方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、電子放出素子として熱電子源と冷
陰極電子源の2種類が知られている。
【0003】冷陰極電子源には電界放出型(以下FEと
略す)、金属/絶縁層/金属型(以下MIMと略す)や
表面伝導型放出素子(以下SCEと略す)等がある。
【0004】FE型の例としては、W.P.Dyke & W.W.Dol
an , "Field emission" , Advancein Electron Physics
, 8,89(1956) や、 C.A.Spindt , "PHYSICAL propertie
s of thin-film field emission cathodes with molybd
enum cones" ,J.Appl.Phys.,47,5248(1976)等が知られ
ている。
【0005】また、MIM型の例として、C.A.Mead, "T
he tunnel-emission amplifier,J.appl.Phys.,32,(196
1) 等が知られている。
【0006】さらに、SCE型の例としては、M.I.Elin
son, Radio Eng. Electron Pys., 10.(1965)等がある。
【0007】SCE型は基板上に形成された小面積の薄
膜に、膜面に平衡に電流を流すことにより、電子放出が
生ずる現象を利用するものである。
【0008】この、表面伝導型放出素子としては、前述
のエリンソン(Erinson)等によるSnO2 薄膜を用い
たもの、Au薄膜によるもの(G.Dittmer:" Thin Solid
Films",9,319(1972) In2O3 /SnO2 薄膜による
もの(M.Hartwell and C.G.Fonstad: " IEEE Trans.ED
Conf. " 、519(1975)、カーボン薄膜によるもの(荒木久
他:真空、第26巻、第1号、22頁(1983)な
どが報告されている。
【0009】これらの表面伝導型放出素子の典型的な素
子構成として前述のM.Hartwell(M.ハートウェル)の
素子構成を図23に示す。同図において、501は絶縁
性基板である。502は電子放出部形成用薄膜で、スパ
ッタで形成された形状金属酸化物薄膜などからなり、後
述のフォーミングと呼ばれる通電処理により電子放出部
503が形成される。504は電子放出部形成用薄膜に
電子放出部503が形成されたもので、電子放出部を含
む薄膜と呼ぶ。
【0010】従来、これらの表面伝導型放出素子におい
ては、電子放出を行う前に電子放出部形成用薄膜502
に予めフォーミングと呼ばれる通電処理によって電子放
出部503を形成するのが一般的である。ここで、フォ
ーミングとは、電子放出部形成用薄膜502の両端に電
圧を印加通電し、電子放出部形成用薄膜502を局所的
に破壊、変形もしくは変質せしめ、電気的に高抵抗な状
態にした電子放出部503を形成することである。
【0011】なお、電子放出部503は電子放出部形成
用薄膜502の一部に亀裂が発生し、その亀裂の付近か
ら電子放出が行われる。以下フォーミングにより発生し
た電子放出部503を含む電子放出部形成用薄膜を電子
放出部を含む薄膜504と呼ぶ。前記フォーミング処理
をした表面伝導型放出素子は上述電子放出部を含む薄膜
504に電圧を印加し、素子に電流を流すことにより、
上述電子放出部503より電子を放出せしめるものであ
る。
【0012】上述の表面伝導型放出素子は、構造が単純
で製造も容易であることから、大面積にわたる多数素子
を配列形成できる利点がある。そこで、この特徴を生か
せるよういろいろな応用が研究されている。例えば、荷
電ビーム源、表示装置などが挙げられる。多数の表面伝
導型放出素子を配列形成した例としては、並列に表面伝
導型放出素子を配列し、個々の素子の両端を配線にてそ
れぞれ結線した行を多数行配列した電子源が挙げられる
(例えば、本出願人の特開平1−031332)。
【0013】また、特に表示措置等の画像形成装置にお
いては、近年、液晶を用いた平板型表示装置が、CRT
に替わって普及してきたが、自発光型でないため、バッ
クライトを持たなければならない視野角が小さい等の問
題点があり、自発光型の表示装置の開発が望まれてき
た。表面伝導型放出素子を多数配置した電子源と電子源
より放出された電子によって、可視光を発光せしめる蛍
光体とを組み合わせた表示装置である画像形成装置は、
自発光型で視野角の大きな表示装置である(例えば、本
出願人のUSP5066883)。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】上述の表示装置をはじ
めとして、表面伝導型放出素子を応用した各種画像形成
パネルにおいては当然のことながら高品位・高精細な画
像が望まれる。これを実現するに、発明者等は例えば、
単純マトリクス配線された多数の表面伝導型放出素子を
試みた。このため、行および列の数がそれぞれ数百〜数
千にも達する非常に多くの素子配列が必要となり、かつ
各表面伝導型放出素子の素子特性が均一であることが望
まれる。
【0015】このように非常に多くの素子を多数個並列
(例えば1列ごと)にフォーミングしようとすると、電
流の増加による配線、その他の部分へのダメージの問題
が出てくる。また電流量の増加に伴なう配線抵抗による
電圧降下で、各素子ごとに印加される電圧がばらついて
しまう現象が起きる。そして、素子のフォーミング時の
非線形性の影響で、各素子が経験する電圧パターンに大
きな違いを生じ、素子特性がばらつくということが考え
られる。また1素子ずつ印加電圧を昇圧してフォーミン
グしようとすると、膨大な時間がかかってしまうという
問題があった。
【0016】本発明は上記の問題点に鑑みてなされたも
のであり、フォーミングにおける素子特性のばらつきを
抑えるために、各配線に流れる電流を軽減しながら、多
数個同時にかつ時間的に損失することなくフォーミング
するフォーミング方法及び該方法による電子源及び画像
形成装置を提供することを目的とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明のフォーミング方法は次のような構成から成
る。複数の行方向配線及び列方向配線と、該行方向配線
及び列方向配線にマトリクス状に接続された複数の表面
伝導型電子放出素子を有する電子源のフォーミング方法
であって、所定数の電子放出部形成用薄膜を選択するよ
うに行方向及び列方向の配線を選択し、前記選択された
配線を介して前記電子放出部形成用薄膜に所定波形のパ
ルス電圧を所定時間間隔で印加し、前記所定時間間隔内
に、前記選択された所定数の電子放出部形成用薄膜を非
選択として、他の所定数の電子放出部形成用薄膜を選択
するように行方向及び列方向の配線を選択し、該他の所
定数の電子放出部形成用薄膜に、所定波形のパルス電圧
の印加を行う
【0018】更に好ましくは、前記印加されるパルスの
電圧は、所定時間ごとに段階的に増加される。
【0019】更に好ましくは、前記電子放出部形成用薄
膜は、導電性超微粒子から成る薄膜を有する。
【0020】
【0021】
【0022】
【0023】
【0024】さらに、上記の目的を達成する本発明のフ
ォーミング方法は、複数の表面伝導型放出素子が行列状
に、該素子が行方向および列方向の配線と電気的に接続
された状態に配置された電子源のフォーミング方法であ
って、 M行×N列に配置された素子の内、1昇圧サイクル内
でフォーミングしたいM×N個、またはそれ以下の素子
を適当なブロックに分割し、その1ブロック内に含まれ
る全ての表面伝導型放出素子に対応する行方向および列
方向のそれぞれの配線を選択して同一または異なる電圧
を印加し、その選択する配線を各ブロックに対応して順
次替え(走査)、全ブロックを切り替え最初のブロック
に戻るまでを1走査とすると、1走査内、あるいは1走
査ごと、あるいは複数走査ごと、もしくは一定時間ごと
に昇圧していくことにより複数個の素子を1昇圧サイク
ル内でフォーミングすることを特徴とする。
【0025】M行×N列に配置された素子のうち、1
昇圧サイクル内でフォーミングしたい1つまたは複数の
行あるいは1つまたは複数の列内の素子に対し、各素子
に対応する配線に加える電圧の初期値、昇圧レート、あ
るいはその電圧を加え始める時間などを変えることによ
り、その行方向または列方向の同一の配線に接続された
素子間に電位差を生じさせながら昇圧していき複数個の
素子を1昇圧サイクルでフォーミングすることを特徴と
する。
【0026】
【0027】
【作用】上記の構成により、行方向の配線および列方向
の配線により素子がマトリクス上に配置される。
【0028】1昇圧サイクル内でフォーミングしよう
とする素子をブロックに分割し、そのブロックを走査し
ながら電圧を印加しフォーミングするため、瞬時的に選
択しているブロック内の素子に対応する配線にのみ電流
は流れ、該素子に並列にフォーミング電圧を印加した時
と比べ各配線の電流は大幅に軽減できる。またフォーミ
ング電圧のパルス間隔とブロックの分割数を適宜選択す
ることにより、該素子に並列にフォーミング電圧を印加
した時と比べ時間的損失がない、または1素子ごとに昇
圧してフォーミングしたときと比べ大幅に時間を削減す
ることができる。
【0029】選択した行方向または列方向の配線に接
続されている素子は、それぞれに電位差が生じているこ
とにより時間差を持ってフォーミング最終電圧に達する
ため、該素子を並列に同電位でフォーミングするときと
比べ、選択した行方向または列方向の配線に流れる最大
電流は軽減できる。また時間差を持ってフォーミング電
圧に達するため該素子を並列に同電位でフォーミングす
る時と比べ、各素子が経験する電圧パターンのばらつき
は小さくなり、均一フォーミングが可能となる。
【0030】本発明は、表面伝導型放出素子を多数個備
える電子源、並びにこれを用いた画像形成装置にかかわ
り、そこに備える表面伝導型素子の材料や構造等によら
ず上述した作用を及ぼすことができる。
【0031】なお、本発明者等は、表面伝導型放出素子
の中では電子放出部もしくはその周辺部を微粒子膜から
形成するものが電子放出特性上好ましいことを見いだし
ている。また製造上の観点からも、微粒子膜は製膜が容
易で大面積にわたり多数個を形成するのに適しているこ
とに着目している。
【0032】そこで、いかに述べる本発明の好ましい態
様、あるいは実施例に関しては、微粒子膜から形成する
表面伝導型放出素子を多数個備えた装置について説明す
る。
【0033】
【実施例】
[第1実施例]以下に、添付の図面を参照して本発明の
好適な実施例について説明する。
【0034】まず、本実施例に係わる表面伝導型放出素
子について、その概要および製造方法などを説明する。
【0035】以下に特に、本出願人による本実施例にか
かる素子の基本的な構成と製造方法およびその特徴(例
えば、特開平2−56822等を参考にして)および本
発明者などが鋭意検討した結果見出した本発明の原理と
なる特性について概説する。
【0036】<表面伝導型放出素子の基本構成>本実施
例に係わる表面伝導型放出素子の構成、および製法の特
徴としては、次のようなものが挙げられる。なお、以下
に示される参照番号は後述の図14において付された番
号である。
【0037】1)フォーミングと呼ばれる通電処理前の
電子放出部形成用薄膜202は、微粒子分散体を分散
し、形成された微粒子からなる薄膜、あるいは有機金属
などを加熱焼成し形成された微粒子からなる薄膜等、基
本的には微粒子より構成される。
【0038】2)フォーミングと呼ばれる通電処理後の
電子放出部を含む薄膜204は、電子放出部203を含
めて、基本的には、微粒子により構成される。
【0039】絶縁性基板201としては、石英ガラス、
Na等の不純物含有量を減少したガラス、青板ガラス、
青板ガラスにスパッタ法などにより形成したSiO2 を
積層したガラス基板等及アルミナ等のセラミックスなど
が挙げられる。
【0040】本実施例にかかる表面伝導型放出素子の基
本的な構成には、平面型および垂直型の2つの構成が挙
げられる。まず、平面型表面伝導型放出素子について説
明する。
【0041】図14(a)および(b)は、それぞれ本
実施例にかかる基本的な平面型表面伝導型放出素子の構
成を示す平面図および断面図である。図14を用いて、
本実施例にかかる素子の基本的な構成を説明する。図1
4において、201は絶縁性基板、205と206は素
子電極、204は電子放出部を含む薄膜、203は電子
放出部である。なお、202は電子放出部形成薄膜であ
り、電子放出部203を形成する前の薄膜を表わす。
【0042】対向する素子電極205、206の材料と
しては導電性を有するものであればどのようなものであ
っても構わないが、例えばNi,Cr,Au,Mo,
W,Pt,Ti,Al,Cu,Pd等の金属あるいは合
金およびPd,Ag,Au,RuO2 ,Pd−Ag等の
金属あるいは金属酸化物とガラス等から構成される印刷
導体、In2 O3 等の透明導電体およびポリシリコン等
の半導体材料などが挙げられる。
【0043】素子電極間隔L1は、数百オングストロー
ムより数百マイクロメートルであり、素子電極の製法の
基本となるフォトリソグラフィー技術、即ち、露光機の
性能とエッチング方法等、及び素子電極間に印加する電
圧と電子放出し得る電界強度等により設定されるが、好
ましくは、1マイクロメートルより10マイクロメート
ルである。素子電極長さW1、素子電極205、206
の膜厚dは、電極の抵抗値、前述したX,Y配線との結
線、多数配置された電子源の配置上の問題より適宜設計
され、通常は、素子電極長さW1は、数マイクロメート
ルより数百マイクロメートルであり、素子電極205、
206の膜厚dは、好ましくは数百オングストロームよ
り数マイクロメートルである。
【0044】絶縁性基板201上に設けられた対向する
素子電極205と素子電極206間及び素子電極20
5、206上に設置された電子放出部を含む薄膜204
は、電子放出部203を含む。図14(b)では、電子
放出部を含む薄膜204が素子電極205、206上に
設置された場合を示すが、素子電極205、206上に
電子放出部を含む薄膜204が設置されない場合もあ
る。すなわち、絶縁性基板201上に電子放出部形成用
薄膜202を積層した後、対向する素子電極205、2
06の電極という順序で積層構成した場合である。
【0045】また、製法によっては、対向する素子電極
205と素子電極206間全てが電子放出部として機能
する場合もある。この電子放出部を含む薄膜204の膜
厚は、数オングストロームより数千オングストローム、
好ましくは10オングストロームから200オングスト
ロームであり、素子電極205、206間の抵抗値およ
び電子放出部203の導電性微粒子の粒径、後述する通
電処理条件等によって適宜設定される。その抵抗値は1
3〜107Ω/□のシート抵抗値を示す。
【0046】電子放出部を含む薄膜204を構成する材
料の具体例を挙げるならば、Pd,Ru,Ag,Au,
Ti,In,Cu,Cr,Fe,Zn,Sn,Ta,
W,Pb等の金属、PdO,SnO2,In2O3,Pb
O,Sb2O3等の酸化物、HfB2,ZrB2,LaB
6,CeB6,YB4,GdB4等の硼化物、Tic,Zr
c,HfC,TaC,SiC,WC等の炭化物、Ti
N,ZrN,HfN等の窒化物、Si,Ge等の半導
体、カーボン,AgMg,NiCu,Pb,Snなどが
挙げられ、これらは微粒子膜からなる。
【0047】なお、ここで述べる微粒子膜とは、複数の
微粒子が集合した膜であり、その微細構造として、微粒
子が個々に分散した状態のみならず、微粒子が互いに隣
接、あるいは重なり合った状態(島状も含む)の膜を指
す。
【0048】電子放出部203は、数オングストローム
より数千オングストローム、好ましくは10オングスト
ロームから200オングストロームの粒径の導電性微粒
子多数個からなり、電子放出部を含む薄膜204の膜厚
および後述する通電処理条件等の製法に依存しており、
適宜設定される。電子放出部を含む薄膜204を構成す
る材料の元素の一部あるいは全てと同様のものである。
【0049】<基本的製造方法>電子放出部203を有
する表面伝導型放出素子の製造方法としては様々な方法
が考えられるが、その一例を図15に示す。なお、20
2は電子放出部形成用薄膜で、例えば微粒子膜が挙げら
れる。
【0050】以下、順を追って製造方法を図14および
図15に基づいて説明する。
【0051】1)絶縁性基板201を洗剤、純水および
有機溶剤により充分に洗浄後、真空蒸着技術、スパッタ
法などにより素子電極材料を堆積後、フォトリソグラフ
ィー技術により該絶縁性基板201の面上に素子電極2
05、206を形成する(図15(a))。
【0052】2)絶縁性基板201上に設けられた素子
電極205と素子電極206との間、及び素子電極20
5と206を形成した絶縁性基板上に有機金属溶液を塗
布して放置することにより、有機金属薄膜を形成する。
なお、有機金属溶液とは、前記Pd,Ru,Ag,A
u,Ti,In,Cu,Cr,Fe,Zn,Sn,T
a,W,Pb等の金属を主元素とする有機化合物の溶液
である。この後、有機金属薄膜を加熱焼成処理し、リフ
トオフ、エッチング等によりパターニングし、電子放出
部形成用薄膜202を形成する(図15(b))。
【0053】なお、ここでは、有機金属溶液の塗布法を
用いてるがこれに限られるものではなく、真空蒸着法、
スパッタ法、化学的気相堆積法、分散塗布法、ディッピ
ング法、スピナー法等によっても形成されれる場合があ
る。
【0054】3)つづいてフォーミングと呼ばれる通電
処理を行う。ここで、素子電極205、206間に電圧
を不図示の電源によりパルス状電圧による通電処理が行
われると、電子放出部形成用薄膜202の部位に構造の
変化した電子放出部203が形成される(図15
(c))。
【0055】この通電処理により電子放出形成用の薄膜
202を局所的に破壊、変形もしくは変質させる。この
ように、フォーミングにより構造の変化した部位を電子
放出部203と呼ぶ。先に説明したように、電子放出部
203は導電性微粒子で構成されていることを本発明者
らは観察している。
【0056】図16中、T1およびT2は電圧波形のパ
ルス幅とパルス間隔であり、T1を1マイクロ秒〜10
ミリ秒、T2を10マイクロ秒〜100ミリ秒、三角波
の波高値(フォーミング時のピーク電圧)は4V〜10
V程度、フォーミング処理は真空雰囲気下で数十秒間程
度の範囲で適宜選択した。
【0057】以上説明した電子放出部を形成する際に、
素子の電極間に三角波パルスを印加してフォーミング処
理を行っているが、素子の電極間に印加する波形は三角
波に限定されるものではなく、矩形波など所望の波形を
用いてもよい。更に、その波高値およびパルス幅・パル
ス間隔等についても上述の値に限ることなく、電子放出
部が良好に形成されれば所望の値を選択することができ
る。
【0058】<基本特性について>上述のような素子構
成と製造方法によって作成された本実施例に係わる表面
伝導型放出素子の特性の評価方法について図17を用い
て説明する。
【0059】図17は、図14で示した構成を有する表
面伝導型放出素子の電子放出特性を測定するための測定
評価装置の概略構成図である。図17において、201
は絶縁性基板、205および206は素子電極、204
は電子放出部を含む薄膜、203は電子放出部である。
231は電源であり、素子に素子電圧Vfを印加する。
230は電流計であり、素子電極205、206間の電
子放出部を含む薄膜204を流れる素子電流Ifを測定
する。234はアノード電極であり、電子放出部203
より放出される放出電流Ieを捕捉する。233は高圧
電源であり、アノード電極234に電圧を印加する。2
32は電流計であり、電子放出部203より放出電流I
eを測定する。
【0060】表面伝導型放出素子の上記素子電流If、
放出電流Ieの測定にあたっては、素子電極205、2
06に電源231と電流計230とを接続し、該表面伝
導型放出素子の上方に電源233と電流計232とを接
続したアノード電極234を配置している。また、本表
面伝導型放出素子およびアノード電極234は真空装置
235内に設置され、その真空装置235には不図示の
排気ポンプおよび真空装置に必要な機器が具備されてお
り、所望の真空下で本素子の測定評価を行えるようにな
っている。
【0061】なお、アノード電極234の電圧は1kV
〜10kV、アノード電極234と表面伝導型放出素子
との距離Hは3mmから8mmの範囲で測定した。
【0062】なお、予め導電性微粒子を分散して構成し
た表面伝導型放出素子においては、前記本実施例の基本
的な素子構成の基本的な製造方法のうち一部を変更して
もよい。
【0063】図17に示した測定評価装置により測定さ
れた放出電流Ie及び素子電流Ifと素子電圧Vfの関
係の典型的な例を図18に示す。なお、図18は任意単
位で示されており、放出電流Ifに対する3つの特性を
有する。
【0064】まず、第一に、本素子はある電圧(しきい
値電圧と呼ぶ、図18中のVth)以上の素子電圧を印
加すると急激に放出電流Ieが増加し、一方しきい値電
圧Vth以下では放出電流Ieがほとんど検出されな
い。すなわち、放出電流Ieに対する明確なしきい値電
圧Vthを持った非線形素子である。
【0065】第二に、放出電流Ieが素子電圧Vfに依
存する。また、電子放出電流Ieがほぼ素子電流Ifに
比例する領域がある。
【0066】第三に、アノード電極234に捕捉される
放出電荷は、素子電圧Vfを印加する時間に依存する。
すなわち、アノード電極234に捕捉される電荷量は、
素子電圧Vfを印加する時間により制御できる。
【0067】以上のような特性を有するため、本実施例
にかかわるSCEは、多方面への応用が期待できる。例
えば、画像形成パネルを構成した場合、画素の明るさは
単位時間内に蛍光体に照射される電子のエネルギー総量
によって決まる。電子源とアノード234の間にかけら
れる加速電圧Vaは、どの画素にたいしてもほぼ一定に
印加されるので、画素の明るさは電子源からの放出電子
量と電子放出時間によって決まる。
【0068】次に本実施例にかかる別な構成の表面伝導
型放出素子である垂直型表面伝導型放出素子について説
明する。
【0069】図19は本実施例にかかる垂直型表面伝導
型放出素子の基本的な構成を示す図面である。図19に
おいて、251は絶縁性基板、255、256は素子電
極、254は電子放出部を含む薄膜、253は電子放出
部、257は段差形成部である。なお、電子放出部25
3は、段差形成部257の厚さ、製法および、電子放出
部を含む薄膜254の厚さ、製法等によって、その位置
は変化し、図19で示された位置に限るものではない。
【0070】絶縁性基板251、素子電極255と25
6、電子放出部を含む薄膜254、電子放出部253
は、前述した平面型表面伝導型放出素子と同様の材料で
構成されたものである。したがって、ここでは、垂直型
表面伝導型放出素子を特徴付ける段差形成部257及び
電子放出部を含む薄膜254について詳述する。
【0071】段差形成部257は、真空蒸着法、印刷
法、スパッタ法等で形成されたSiO2等の絶縁性材料
で構成される。段差形成部257の厚さが先に述べた平
面型表面伝導型放出素子の素子電極間隔L1に対応し、
数百オングストロームより数十マイクロメートルであ
る。段差形成部257の厚さは、段差形成部257のも
製法、および素子電極間に印加する電圧と電子放出し得
る電界強度により設定されるが、好ましくは、千オング
ストロームより10マイクロメートルである。
【0072】電子放出部を含む薄膜254は、素子電極
255、256と段差形成部257の作成後に形成され
るため、素子電極255、256の上に積層され、場合
によっては素子電極255、256との電気的接続を担
う重なりの一部を除いた所望の形状にされる。また、電
子放出部を含む薄膜254の膜厚は、その製法に依存し
て、段差部での膜厚と素子電極255、256の上に積
層された部分の膜厚とでは異なる場合が多く、一般に段
差部分の膜厚が薄い。その結果、前述した平面型表面伝
導型放出素子と比べて、容易に通電処理され、電子放出
部3が形成される場合が多い。
【0073】<マトリクス>次に上述の表面伝導型放出
素子をマトリクス上に配列した電子源について説明す
る。
【0074】電子源基板の構成について図20を用いて
説明する。同図において、271は絶縁性基板、272
はX方向配線、273はY方向配線、274は表面伝導
型放出素子、275は結線である。尚、表面伝導型放出
素子274は、前述した平面あるいは垂直型のいずれで
あってもよい。
【0075】同図において、絶縁性基板271は、前述
したガラス基板等であり、その大きさ及びその厚みは、
絶縁性基板271に設置される表面伝導型放出素子の個
数及び個々の素子の設計上の形状、及び電子源の使用時
に容器の一部を構成する場合には、その容器を真空に保
持するための条件等に依存して適宜設定される。
【0076】m本のX方向配線272は、DX1,DX
2,…DXmからなり、絶縁性基板271上に、真空蒸着
法、印刷法、スパッタ法等で形成し、所望のパターンと
した導電性金属などからなり、多数の表面伝導型放出素
子にほぼ均等な電圧が供給されるように、材料、膜厚、
配線幅が設定される。Y方向配線273は、DY1,D
Y2,…DYnのn本の配線よりなり、X方向配線272
と同様に、真空蒸着法、印刷法、スパッタ法等で形成
し、所望のパターンとした導電性金属などからなり、多
数の表面伝導型放出素子にできるだけ均等な電圧が供給
されるように、材料、膜厚、配線などが設定される。こ
れらm本のX方向配線272とn本のY方向配線273
の間には、不図示の層間絶縁層が設置され、電気的に分
離されて、マトリクス配線を構成する(このm,nは、
ともに正の整数)。
【0077】不図示の層間絶縁層は、真空蒸着法、印刷
法、スパッタ法等で形成されたSiO2等であり、X方
向配線272を形成した絶縁性基板271の全面あるい
は一部の所望の形状で形成され、特に、X方向配線27
2とY方向配線273は、それぞれ外部端子として引き
出される。
【0078】尚、上述の例では、m本のX方向配線27
2の上にn本のY方向配線273を層間絶縁層を介して
設置した例で説明したが、n本のY方向配線273の上
にm本のX方向配線272を層間絶縁層を介して設置す
る場合もある。
【0079】更に、前述と同様にして、表面伝導型放出
素子274の対向する電極(不図示)として真空蒸着
法、印刷法、スパッタ法等で形成された導電性金属など
からなる結線275を有する。すなわち、表面伝導型放
出素子274は、結線275によってm本のX方向配線
272及びn本のY方向配線273と電気的に接続され
ている。
【0080】尚、m本の方向配線272、n本のY方向
配線273、および対向する素子電極である結線275
の導電性金属は、その構成元素の一部あるいは全部が同
一であっても、またそれぞれ異なっていてもよく、N
i,Cr,Au,Mo,W,Pt,Ti,Al,Cu,
Pd等の金属あるいは合金およびPd,Ag,Au,R
uO2,Pd−Ag等の金属あるいは金属酸化物とガラ
ス等から構成される印刷導体、In2O3−SnO2等の
透明導電体およびポリシリコン等の半導体材料などより
適宜選択される。また、表面伝導型放出素子は、絶縁性
基板271あるいは不図示の層間絶縁層上のどちらに形
成してもよい。
【0081】また、前記X方向配線272には、X方向
に配列する表面伝導型放出素子274の行を任意に走査
するための走査信号を印加するための不図示の走査信号
発生手段と電気的に接続されている。一方、Y方向配線
273には、Y方向に配列する表面伝導型放出素子27
4の列の各列を任意に変調するための変調信号を印加卯
するための不図示の変調信号発生手段と電気的に接続さ
れている。更に、表面伝導型放出素子の各素子に印加さ
れる駆動電圧は、当該素子に印加される走査信号と変調
信号の差電圧として供給されるものである。
【0082】<画像形成装置の基本構成>次に、以上の
ようにして作成した電子源を用いて表示などを行う画像
形成装置について図21および図22を用いて説明す
る。図21は画像形成装置の基本構成図であり、図22
は蛍光膜を表わす図である。
【0083】271は絶縁性基板であり、絶縁性基板2
71の上には上述のようにして電子放出素子が形成され
ている。以後これを電子源基板と称する。281は電子
源基板を固定したリアプレート、286はガラス基板2
83の内面に蛍光膜284とメタルバック285などが
形成されたフェースプレートである。282は支持枠で
あり、リアプレート281およびフェースプレート28
6をフリットガラス等で封着して外周器288を構成し
ている。
【0084】上述の構成では、外周器288をフェース
プレート286、支持枠282、リアプレート281で
構成したが、リアプレート281は主に電子源基板の強
度を補強する目的で設けられているため、電子源基板自
体で十分な強度を有する場合は、別体のリアプレート2
81は不要であり、電子源基板に直接支持枠282を封
着し、フェースプレート286、支持枠282、電子源
基板にて外周器288を構成してもよい。
【0085】図22は、蛍光膜を表わす図である。蛍光
膜284は、モノクロームの場合は蛍光体のみからなる
が、カラーの蛍光膜の場合は、蛍光体の配列によりブラ
ックストライブあるいはブラックマトリクス等と呼ばれ
る黒色導電材291と蛍光体292で構成される。
【0086】ブラックストライプ、ブラックマトリクス
が設けられる目的は、カラー表示の場合必要となる三原
色蛍光体の各蛍光体間の塗り分け部を黒くすることで混
色などを目立たなくすることと、蛍光膜284における
外光反射によるコントラストの低下を抑制することであ
る。ブラックストライプ、ブラックマトリクスの材料と
しては通常よく用いられている黒鉛を主成分とする材料
だけでなく、導電性があり、光の透過および反射が少な
い材料であればこれに限るものではない。
【0087】ガラス基板283に蛍光体を塗布する方法
はモノクローム、カラーによらず沈殿法や印刷法が用い
られる。
【0088】また、蛍光膜284内面側には通常メタル
バック285が設けられる。メタルバックの目的は、蛍
光体の発光のうち内面側への光をフェースプレート28
6側へ鏡面反射することにより輝度を向上すること、電
子ビーム加速電圧を印加するための電極として作用する
こと、外周器内で発生した負イオンの衝突によるダメー
ジからの蛍光体の保護等である。
【0089】メタルバック285は、さらに蛍光膜28
4の作成後、蛍光膜284の内面側表面の平滑化処理
(通常フィルミングと呼ばれる)を行い、その後Alを
真空蒸着することで作製できる。
【0090】フェースプレート286には、更に蛍光膜
284の伝導性を高めるため、蛍光膜284の外面側に
透明電極(不図示)を設けてもよい。尚、前述の封着を
行う際、カラーの場合は各色蛍光体と電子放出素子とを
対応させなくてはいけないため、十分な位置合わせを行
った。
【0091】外周器288は、不図示の排気管を通じ、
10-6[torr]程度の真空度にされ、外周器288
の封止が行われる。
【0092】尚、容器外端子DOX1〜DOXmとDOY
1〜DOYnを通じ素子電極205、206間に電圧を印
加し、上述のフォーミングを行い、電子放出部203を
形成して電子放出素子を作製した。また、外周器288
の封止後の真空度を維持するために、ゲッター処理を行
う場合もある。これは、外周器288の封止を行う直前
あるいは封止後に、抵抗加熱あるいは高周波加熱等の加
熱法により、外周器288内の所定の位置(不図示)に
配置されたゲッターを加熱し、蒸着膜を形成する処理で
ある。ゲッターは通常Baなどが主成分であり、蒸着膜
の吸収作用により、例えば1×10-5ないしは1×10
-7[torr]の真空度を維持するものである。
【0093】以上のようにして完成した本実施例に係わ
る画像形成装置において、各電子放出素子には、容器外
端子DOX1 ないしDOXm 、DOY1 ないしDOYn
を通じ、電圧を印加することにより電子放出させ、高圧
端子Hvを通じ、メタルバック285あるいは透明電極
(不図示)に数kV以上の高圧を印加し、電子ビームを
加速し、蛍光膜284に衝突させ、励起・発光させるこ
とで画像を表示するものである。
【0094】以上述べた構成は、表示等に用いられる好
適な画像形成装置を作製する上で必要な概略構成であ
り、例えば各部材の材料等、詳細な部分は上述内容に限
られるものではなく、画像形成の用途に適するよう適宜
選択する。
【0095】また、本発明の思想によれば、表示に用い
るのに好適な画像形成装置に限るものではなく、感光性
ドラムと発光ダイオード等で構成された光プリンタの発
光ダイオードの代替の発光源として、上述の画像形成装
置を用いることもできる。またこの際、上述のm本のX
方向配線272とn本のY方向配線273を、適宜選択
することで、ライン上発光源だけでなく、2次元状の発
光源としても応用できる。
【0096】尚、以上の表面伝導型放出素子の基本的な
構成、製法について述べたが、本発明の思想によれば、
上述の構成等に限定されず、後述の電子源、表示装置等
の画像形成装置においても適用できる。
【0097】<フォーミング>図1は本実施例における
フォーミングを行うための電気回路の概略構成を示した
ブロック図である。図1において、9は表面伝導型放出
素子であり、電子放出部形成用薄膜9aにフォーミング
処理を実行することにより電子放出部を含む薄膜を形成
したものである。表面伝導型放出素子9はm×nのマト
リクス配置となっており、表面伝導型放出素子9を多数
個備える電子源10(以降電子源10と称する)を構成
する。
【0098】7、8はそれぞれパルス発生電源および制
御スイッチング回路である。パルス発生電源および制御
スイッチング回路7は行方向の端子DY1ないしDYnに
フォーミングパルスを印加するかグランドにするかフロ
ーティングの状態にするかを切り替えるスイッチ素子
と、フォーミングを行うために行方向の端子DY1ない
しDYnを選択するスイッチ素子と、それらの切替動作
およびパルスの波高、幅、周期、発生タイミングなどを
制御する回路からなる。パルス発生電源および制御スイ
ッチング回路8は列方向においてパルス発生電源および
制御スイッチング回路7と同じ働きをする。またパルス
発生電源および制御スイッチング回路7、8は複数の端
子を同時に選択することも可能である。
【0099】これら2つの制御スイッチング回路は、互
いに同期してパルス発生/スイッチングを行うことがで
きる。
【0100】まず、電圧を印加すべき表面伝導型放出素
子につながる配線の選択法を図1および図2を用いて説
明する。図2は電子源10の全マトリクス中の6×6マ
トリクスを抽出した図である。説明上各表面伝導型放出
素子を区別するために、D(1,1)、D(1,2)な
いしはD(6,6)のように(X,Y)座標で位置を示
している。
【0101】例えば図2のD(3,2)の表面伝導型放
出素子に電圧を印加する場合には、パルス発生電源およ
び制御スイッチング回路7,8により端子DY2および
端子DX3を選択して両者の間にフォーミングパルスを
印加し、その他の端子はフローティングまたはグラウン
ドの状態になる。この場合選択した2つの端子に所望の
電圧がかかっていればよいため、片方がグランドでも両
者に電位を与えても構わない。
【0102】フォーミング処理は、各素子に図16にお
けるT1(パルス幅)が1ミリ秒、T2(パルス間隔)
が10ミリ秒の三角波を印加するようにして、波高値の
昇圧レートは毎秒0.1Vとし、約1×10-6[tor
r]の真空雰囲気化で100秒間、つまり10Vまで行
った。
【0103】次ぎに本実施例のフォーミング法でこの6
×6マトリクス内の36素子を1昇圧サイクル内でフォ
ーミングする方法を図2および図3を用いて詳しく説明
する。まずDX1、DX2、DY1、DY2の4本の配
線を選択し、D(1,1)、D(1,2)、D(2,
1)、D(2,2)の4素子(図2のブロックの4素
子)に波高0.1V、パルス幅1ミリ秒の三角波電圧を
印加する。1パルス印加し終ったら(本実施例の場合1
ミリ秒後)、次にDX1、DX2はそのままでDY1、
DY2の代わりにDY3、DY4を選択しD(1,
3)、D(1,4)、D(2,3)、D(2,4)の4
素子(図2のブロックの4素子)に同様のパルス電圧
を印加する。このようなことを次々に繰り返し、全体を
4素子ずつ9つのブロックに分け(図2のブロック〜
)、パルス間隔(本実施例の場合10ミリ秒)の間に
9回選択配線を切り換える。このような走査を続けなが
ら1秒ごとに印加パルスの波高を0.1Vずつ10Vま
で昇圧する。図3に横軸に時間をとったときの各ブロッ
クの素子に加えられるパルス電圧を示す。
【0104】6×6素子を1ブロックとした場合に、1
ブロックをフォーミングする制御手順を図25に示す。
Vpは素子に印加するパルスの波高であり、iは列方向
配線DXの添字を、jは行方向配線DYの添字を表す。
【0105】まず、パルスの波高の初期値を0.1
[V]に設定し、最初に選択する行・列各方向の配線を
1,2とする。その後、選択した配線に電圧を印加し
て、フォーミング対象の素子に波高Vpの三角パルスを
1ms間印加する。この時パルスVpが印加される素子
は、D(i,j),D(i,j+1),D(i+1,
j),D(i+1,j+1)の4素子である。その後、
行方向の6素子に対するパルス印加が終えたか判定する
ためにj=3か否か判定し、j=3でなければjに1加
算して行方向に隣接する次のブロックを選択する。行方
向で最後の素子、すなわちDY5,DY6が選択されてい
るならば、列方向の6素子に対するパルス印加が終えて
いるか判定するためにi=3か否か判定する。i=3で
なけければまだ未処理のブロックが残っているため、i
に1加算する。列方向にも最後のブロックであるなら、
6×6マトリクス内の全素子に対して同一の波高のパル
ス印加を終了しているため、同一パルスを印加し始めて
から1秒経過したかテストし、経過していなければ再び
それまでと同じ波高のパルスを与える。1秒経過したな
らば、Vp=10[V]まで終了していないなら0.1
[V]印加電圧を上げて始めのブロックからパルスの印
加を繰りかえす。なお、1秒の経過の判定は、経過後で
はなく、次のループで1秒経過してしまうことを判定し
てもよい。この手順はDX1〜DX6,DY1〜DY6の6
×6マトリクスに対する手順であるが、行・列各方向に
ついて6ずつずらしていけば、マトリクス上の電子源全
体に対して同様の手順でフォーミングすることができ
る。
【0106】この方法によれば各素子及び各配線は、そ
のブロック内の1グループを成す4素子のみを同時にフ
ォーミングした時と全く同じ条件でフォーミングされ、
かつ1昇圧サイクルと同一時間で9倍の面積をフォーミ
ングできる。つまり1ラインの6素子を並列に6回(6
昇圧サイクル)でフォーミングした時と比べ、各配線電
流は3分の1に軽減され、時間は6分の1に短縮され
る。
【0107】すなわち、この方法によりフォーミングを
行うことで、ブロック内の4素子のフォーミングによる
ばらつきと配線抵抗による電圧降下の違いによるブロッ
クごとのフォーミングのばらつきとを、無視できる程充
分小さな幅に抑えることができるため、フォーミングに
要する時間を大幅に短縮しながら複数個の素子を均一に
フォーミングすることが可能になる。
【0108】尚、本実施例はm×nマトリクス内の6×
6マトリクス36素子を1単位として1昇圧サイクルで
フォーミングしているが、ブロック内の素子数の上限は
許容電流量で決まり、ブロック数の上限はフォーミング
時に印加するパルス間隔で決まるため、これらの数は上
記の限りではない。またブロックは正方形である必要は
なく、ブロックを構成する素子は隣接している必要もな
いし、ブロック内の素子に電位差与えてもよい。
【0109】<電子源基板の構成及び製造工程>次に本
実施例のフォーミング方法で製造された電子源10につ
いて更に説明する。
【0110】電子源10の一部の平面図を図9に示す。
また、図中のA−A’断面図を図10に、その製造方法
を示す図を図11、図12に示す。但し、図10、図1
1、図12で同じ記号で示したものは同じ部位を示す。
ここで1は基板、72は図7のDXmに対応するX方向
配線(下配線とも呼ぶ)、73は図7のDYnに対応す
るY方向配線(上配線とも呼ぶ)、4は電子放出部を含
む薄膜、5、6は素子電極、111は層間絶縁層、11
2は素子電極5と下配線72と電気的接続のためのコン
タクトホールである。
【0111】次に製造方法を図11、図12により工程
順に従って具体的に説明する。
【0112】工程−a 清浄化した青板ガラス上に厚さ0.5ミクロンのシリコ
ン酸化膜をスパッタ法で形成した基板1上に、真空蒸着
により厚さ50オングストロームのCr、厚さ6000
オングストロームのAuを順次積層した後、ホトレジス
ト(AZ1370 ヘキスト社製)をスピンナーにより
回転塗布、べークした後、ホトマスク像を露光、現像し
て、下配線72のレジストパターンを形成し、Au/C
r堆積膜をウェットエッチングして所望の形状の下配線
72を形成する(図11の(a))。
【0113】工程−b 次に厚さ1.0ミクロンのシリコン酸化膜からなる層間
絶縁層111をRFスパッタ法により堆積する(図11
の(b))。
【0114】工程−c 工程bで堆積したシリコン酸化膜にコンタクトホール1
12を形成するためのホトレジストパターンを作り、こ
れをマスクとして層間絶縁層111をエッチングしてコ
ンタクトホール112を形成する(図11の(c))。
尚、エッチングはCF4とH2ガスを用いたRIE(React
ive Ion Etching)法によった。
【0115】工程−d その後、素子電極5と素子電極間ギャップGとなるべき
パターンをホトレジスト(RD−2000N−41 日
立化成社製)形成し、真空蒸着法により、厚さ50オン
グストロームのTi、厚さ1000オングストロームの
Niを順次堆積した。ホトレジストパターンを有機溶剤
で溶解し、Ni/Ti堆積膜をリフトオフし、素子電極
間隔Gは3ミクロンとし、素子電極の幅(図14の
(a)のW1に相当する)が300ミクロンとなるよう
に素子電極5、6形成した(図11の(d))。
【0116】工程−e 素子電極5、6の上に上配線73のホトレジストパター
ンを形成した後、厚さ50オングストロームのTi、厚
さ5000オングストロームのAuを順次真空蒸着によ
り堆積し、リフトオフにより不要の部分を除去して、所
望の形状の上配線73を形成した(図12の(e))。
【0117】工程−f 図13に本工程に関わる電子放出素子の電子放出部形成
用薄膜4のマスク平面図の一部を示す。素子間電極ギャ
ップL1およびこの近傍に開口を有するマスクであり、
このマスクにより膜厚1000オングストロームのCr
膜121を真空蒸着により堆積・パターニングし、その
上に有機Pd(ccp4230の奥野製薬(株)社製)
をスピンナーにより回転塗布、300℃で10分間の加
熱焼成処理をした(図12の(f))。また、こうして
形成された主元素としてPdよりなる微粒子からなる電
子放出部形成用薄膜4の膜圧は100オングストロー
ム、シート抵抗値は5×104Ω/□であった。尚、こ
こで述べる微粒子膜とは、上述したように、複数の微粒
子が集合した膜であり、その微細構造として、微粒子が
個々に分散配置した状態のみならず、微粒子が互いに隣
接、あるいは重なり合った状態(島状も含む)の膜を指
し、その粒径とは前記状態で粒子形状が認識可能な微粒
子についての径をいう。
【0118】工程−g Cr膜121および焼成後の電子放出部形成用薄膜4を
酸エッチャントによりエッチングして所望のパターンを
形成した(図12の(g))。
【0119】工程−h コンタクトホール112部分以外にレジストを塗布する
ようなパターンを形成し、真空蒸着により厚さ50オン
グストロームのTi、厚さ5000オングストロームの
Auを順次堆積した。リフトオフにより不要の部分を除
去することにより、コンタクトホール112を埋め込ん
だ(図12の(h))。
【0120】以上の工程により、絶縁性基板1上に下配
線72、層間絶縁層111、上配線73、素子電極5、
6、電子放出部形成用薄膜4を形成した。
【0121】<表示装置の説明>次に、以上のようにし
て作成した電子源基板を用いて表示装置を構成した例を
図21と図22を用いて説明する。
【0122】上述のようにして多数の平面型表面伝導型
放出素子を作成した基板271をリアプレート281上
に固定した後、基板1の5mm上方に、フェースプレート
286(ガラス基板283の内面に蛍光膜284とメタ
ルバック285が形成された構成される)を支持枠28
2を介し配置し、フェースプレート286、支持枠28
2、リアプレート281の接合部にフリットガラスを塗
布し、大気中あるいは窒素雰囲気中で400℃〜500
℃で10分以上焼成することで封着した(図21)。ま
た。リアプレート281への基板1の固定もフリットガ
ラスで行った。尚、図21において、274は電子放出
素子、272と273はそれぞれX方向およびY方向の
素子配線である。
【0123】蛍光膜284は、モノクロームの場合は蛍
光体のみからなるが、本実施例では、蛍光体はストライ
プ形状を採用し、先にブラックストライプを形成し、そ
の間隙部に各色蛍光体を塗布し、蛍光膜284を作成し
た。ブラックストライプの材料としては、通常よく用い
られている黒鉛を主成分とする材料を用いた。尚、ガラ
ス基板283に蛍光体を塗布する方法はスラリーを法を
用いた。
【0124】また、蛍光膜284の内面側には通常メタ
ルバック285を設けた。このメタルバックは、蛍光膜
作成後、蛍光膜の内面側表面の平滑化処理(通常フィル
ミングと呼ばれる)を行い、その後、Alを真空蒸着す
ることで作成した。
【0125】フェースプレート286には、更に蛍光膜
284の導電性を高めるため、蛍光膜284の外面側に
透明電極(不図示)が設けられる場合もあるが、本実施
例では、メタルバックのみで十分な導電性が得られたの
で省略した。
【0126】また、前述の封着を行う際、カラーの場合
は各色蛍光体と電子放出素子とを対応させなくてはいけ
ないため、十分な位置合わせを行った。
【0127】以上のようにして完成したガラス容器内の
雰囲気を排気管(図示せず)を通じ真空ポンプにて排気
し、十分な真空度に達した後、容器外端子D0X1〜D
0XmとD0Y1〜D0Ynを通じ電子放出素子274の
素子電極間に電圧を印加して、電子放出部を、電子放出
部形成用薄膜に通電処理(フォーミング処理)すること
により作成した。
【0128】フォーミングは全素子のうち6×6マトリ
クスの36素子を1単位として行い、更にその中を9つ
のブロックに分け、前述の方法により行った。
【0129】このように作成された電子放出部は、パラ
ジウム元素を主成分とする微粒子が分散配置された状態
となり、その微粒子の平均粒径は30オングストローム
であった。
【0130】次に10-6[torr]程度の真空度で、
不図示の排気管をガスバーナーで熱することで容着し外
周器の封止を行った。
【0131】最後に封止後の真空度を維持するために、
ゲッター処理を行った。これは、封止を行う直前あるい
は直後に、抵抗加熱あるいは高周波加熱等の加熱法によ
り、画像形成装置内の所定の位置(不図示)に配置され
たゲッターを加熱し、蒸着膜を形成する処理である。
【0132】ゲッターは通常Baなどが主成分であり、
該蒸着膜の吸着作用により、例えば1×10-5〜1×1
-7[torr]の真空度を維持するものである。
【0133】以上のように完成した本実施例の画像表示
装置において、各電子放出素子には、容器外端子D0X
1〜D0Xm、D0Y1〜D0Ynを通じ、走査信号および
変調信号を不図示の信号発生手段よりそれぞれ印加する
ことにより電子放出させ、高圧端子Hvを通じ、メタル
バック285、あるいは透明電極(不図示)に数kV以
上の高圧を印加し、電子ビームを加速し、蛍光膜284
に衝突させ、励起・発光させることで画像を表示した。
【0134】また、上述の工程で作成した平面型表面伝
導型放出素子の特性を把握するために、同時に、図14
に示した平面型表面伝導型放出素子のL1、W1、W2
等同様のものにした標準的な比較サンプルを作成し、そ
の電子放出特性の測定を上述の図17の測定評価装置を
用いて行った。尚、比較サンプルの測定条件は、アノー
ド電極と電子放出素子間の距離を4mm、アノード電極の
電位を1kV、電子放出特性測定時の真空装置内の真空
度を1×10-6[torr]とした。
【0135】比較サンプルの電極205および206の
間に素子電圧を印加し、その時に流れる素子電流Ifお
よび放出電流Ieを測定したところ、本素子では、素子
の電圧8V程度から急激に放出電流Ieが増加し、素子
電圧14Vでは素子電流Ifが2.2mA、放出電流I
eが1.1μAとなり、電子放出効率η=Ie/If
(%)は0.05%であった。
【0136】尚、上述の工程a〜hの後に上記フォーミ
ング処理を行えば、本実施例の電子源が完成する。
【0137】以上説明したように、本実施例の手順でフ
ォーミングを行えば、非常に多くの素子を多数個並列
(例えば1列ごと)にフォーミングしようとした場合
に、電流の増加による配線、その他の部分に与える電極
の溶断や基板の破壊といったダメージを避けることがで
きる。また電流量の増加に伴なう配線抵抗による電圧降
下で、各素子ごとに印加される電圧がばらついてしまう
現象をも避けることができる。その上、素子のフォーミ
ング時の非線形性の影響で、各素子が経験する電圧パタ
ーンに大きな違いを生じ、素子特性がばらつくというこ
ともなく、1昇圧サイクルでパルス間隔に応じた数の素
子のブロックをフォーミングできるため、フォーミング
時間の増大を抑制することができる。
【0138】次に、上記のようにして作成した電子源を
用いたディスプレイパネルの応用例を説明する。
【0139】<SCEの応用例>図24は、前記説明の
SCEを用いたディスプレイパネルに、たとえばテレビ
ジョン放送をはじめとする種々の画像情報源より提供さ
れる画像情報を表示できるように構成した表示装置の一
例を示すための図である。図中2400は、図21に示
すような構成のディスプレイパネル、2401はディス
プレイパネルの駆動回路、2402はディスプレイコン
トローラ、2403はマルチプレクサ、2404はデコ
ーダ、2405は入出力インターフェース回路、240
6はCPU、2407は画像生成回路、2408および
2409および2410は画像メモリインターフェース
回路、2411は画像入力インターフェース回路、24
12および2413はTV信号受信回路、2414は入
力部である。
【0140】(なお、本図においては、テレビジョンを
はじめとする各入力信号の音声成分に関する処理回路や
スピーカなどは省略している。) 以下、画像信号の流れに沿って各部の機能を説明してゆ
く。
【0141】まず、TV信号受信回路2413は、たと
えば電波や空間光通信などのような無線伝送系を用いて
伝送されるTV画像信号を受信する為の回路である。受
信するTV信号の方式は特に限られるものではなく、た
とえば、NTSC方式,PAL方式,SECAM方式な
どの諸方式でもよい。また、これよりさらに多数の走査
線よりなるTV信号(たとえばMUSE方式をはじめと
するいわゆる高品位TV)は、大面積化や大画素数化に
適した前記ディスプレイパネルの利点を生かすのに好適
な信号源である。TV信号受信回路2413で受信され
たTV信号は、デコーダ2414に出力される。
【0142】また、TV信号受信回路2412は、たと
えば同軸ケーブルや光ファイバーなどのような有線伝送
系を用いて伝送されるTV画像信号を受信するための回
路である。前記TV信号受信回路2413と同様に、受
信するTV信号の方式は特に限られるものではなく、ま
た本回路で受信されたTV信号もデコーダ2404に出
力される。
【0143】また、画像入力インターフェース回路24
11は、たとえばTVカメラや画像読み取りスキャナな
どの画像入力装置から供給される画像信号を取り込むた
めの回路で、取り込まれた画像信号はデコーダ2404
に出力される。
【0144】また、画像メモリインターフェース回路2
410は、ビデオテープレコーダ(以下VTRと略す)
に記憶されている画像信号を取り込むための回路で、取
り込まれた画像信号はデコーダ2404に出力される。
【0145】また、画像メモリインターフェース回路2
409は、ビデオディスクに記憶されている画像信号を
取り込むための回路で、取り込まれた画像信号はデコー
ダ2404に出力される。
【0146】また、画像メモリインターフェース回路2
408は、いわゆる静止画ディスクのように、静止画像
データを記憶している装置から画像信号を取り込むため
の回路で、取り込まれた静止画像データはデコーダ24
04に出力される。
【0147】また、入出力インターフェース回路240
5は、本表示装置と、外部のコンピュータもしくはコン
ピュータネットワークもしくはプリンタなどの出力装置
とを接続するための回路である。画像データや文字・図
形情報の入出力を行うのはもちろんのこと、場合によっ
ては本表示装置の備えるCPU2406と外部との間で
制御信号や数値データの入出力などを行うことも可能で
ある。
【0148】また、画像生成回路2407は、前記入出
力インターフェース回路2405を介して外部から入力
される画像データや文字・図形情報や、あるいはCPU
2406より出力される画像データや文字・図形情報に
もとづき表示用画像データを生成するための回路であ
る。本回路の内部には、たとえば画像データや文字・図
形情報を蓄積するための書き換え可能メモリや、文字コ
ードに対応する画像パターンが記憶されている読み出し
専用メモリや、画像処理を行うためのプロセッサなどを
はじめとして画像の生成に必要な回路が組み込まれてい
る。
【0149】本回路により生成された表示用画像データ
は、デコーダ2404に出力されるが、場合によっては
前記入出力インターフェース回路2405を介して外部
のコンピュータネットワークやプリンタに出力すること
も可能である。
【0150】また、CPU2406は、主として本表示
装置の動作制御や、表示画像の生成や選択や編集に関わ
る作業を行う。
【0151】たとえば、マルチプレクサ2403に制御
信号を出力し、ディスプレイパネルに表示する画像信号
を適宜選択したり組み合わせたりする。また、その際に
は表示する画像信号に応じてディスプレイパネルコント
ローラ2402に対して制御信号を発生し、画面表示周
波数や走査方法(たとえばインターレースかノンインタ
ーレースか)や一画面の走査線の数など表示装置の動作
を適宜制御する。
【0152】また、前記画像生成回路2407に対して
画像データや文字・図形情報を直接出力したり、あるい
は前記入出力インターフェース回路2405を介して外
部のコンピュータやメモリをアクセスして画像データや
文字・図形情報を入力する。
【0153】なお、CPU2406は、むろんこれ以外
の目的の作業にも関わるものであって良い。たとえば、
パーソナルコンピュータやワードプロセッサなどのよう
に、情報を生成したり処理する機能に直接関わっても良
い。
【0154】あるいは、前述したように入出力インター
フェース回路2405を介して外部のコンピュータネッ
トワークと接続し、たとえば数値計算などの作業を外部
機器と協同して行っても良い。
【0155】また、入力部2414は、前記CPU24
06に使用者が命令やプログラム、あるいはデータなど
を入力するためのものであり、たとえばキーボードやマ
ウスのほか、ジョイスティック、バーコードリーダ、音
声認識装置など多様な入力機器を用いる事が可能であ
る。
【0156】また、デコーダ2404は、前記2407
ないし2413より入力される種々の画像信号を3原色
信号、または輝度信号とI信号,Q信号に逆変換するた
めの回路である。なお、同図中に点線で示すように、デ
コーダ2404は内部に画像メモリを備えるのが望まし
い。これは、たとえばMUSE方式方式をはじめとし
て、逆変換するに際して画像メモリを必要とするような
テレビ信号を扱うためである。また、画像メモリを備え
る事により、静止画の表示が容易になる、あるいは前記
画像生成回路2407およびCPU2406と協同して
画像の間引き、補間,拡大,合成をはじめとする画像処
理や編集が容易に行えるようになるという利点が生まれ
るからである。
【0157】また、マルチプレクサ2403は、前記C
PU2406より入力される制御信号にもとづき表示画
像を適宜選択するものである。すなわち、マルチプレク
サ2403はデコーダ2404から入力される逆変換さ
れた画像信号のうちから所望の画像信号を選択して駆動
回路2401に出力する。その場合には、一画面表示時
間内で画像信号を切り替えて選択することにより、いわ
ゆる多画面テレビのように、一画面を複数の領域に分け
て領域によって異なる画像を表示することも可能であ
る。
【0158】また、ディスプレイパネルコントローラ2
402は、前記CPU2406より入力される制御信号
にもとづき駆動回路2401の動作を制御するための回
路である。
【0159】まず、ディスプレイパネルの基本的な動作
に関わるものとして、たとえばディスプレイパネルの駆
動用電源(図示せず)の動作シーケンスを制御するため
の信号を駆動回路2401に対して出力する。
【0160】また、ディスプレイパネルの駆動方法に関
わるものとして、たとえば画面表示周波数や走査方法
(たとえばインターレースかノンインターレースか)を
制御するための信号を駆動回路2401に対して出力す
る。
【0161】また、場合によっては表示画像の輝度やコ
ントラストや色調やシャープネスといった画質の調整に
関わる制御信号を駆動回路2401に対して出力する場
合もある。
【0162】また、駆動回路2401は、ディスプレイ
パネル2400に印加する駆動信号を発生するための回
路であり、前記マルチプレクサ2403から入力される
画像信号と、前記ディスプレイパネルコントローラ24
02より入力される制御信号にもとづいて動作するもの
である。
【0163】以上、各部の機能を説明したが、24図に
例示した構成により、本表示装置においては多様な画像
情報源より入力される画像情報をディスプレイパネル2
400に表示する事が可能である。すなわち、テレビジ
ョン放送をはじめとする各種の画像信号はデコーダ24
04において逆変換された後、マルチプレクサ2403
において適宜選択され、駆動回路2401に入力され
る。一方、ディスプレイコントローラ2402は、表示
する画像信号に応じて駆動回路2401の動作を制御す
るための制御信号を発生する。駆動回路2401は、上
記画像信号と制御信号にもとづいてディスプレイパネル
2400に駆動信号を印加する。これにより、ディスプ
レイパネル2400において画像が表示される。これら
の一連の動作は、CPU2406により統括的に制御さ
れる。
【0164】また、本表示装置においては、前記デコー
ダ2404に内蔵する画像メモリや、画像生成回路24
07およびCPU2406が関与することにより、単に
複数の画像情報の中から選択したものを表示するだけで
なく、表示する画像情報に対して、たとえば拡大,縮
小,回転,移動,エッジ強調,間引き,補間,色変換,
画像の縦横比変換などをはじめとする画像処理や、合
成,消去,接続,入れ換え,はめ込みなどをはじめとす
る画像編集を行う事も可能である。また、本実施例の説
明では特に触れなかったが、上記画像処理や画像編集と
同様に、音声情報に関しても処理や編集を行なうための
専用回路を設けても良い。
【0165】したがって、本表示装置は、テレビジョン
放送の表示機器,テレビ会議の端末機器,画像の編集機
器,コンピュータの端末機器,ワードプロセッサをはじ
めとする事務用端末機器,ゲーム機などの機能を一台で
兼ね備えることが可能で、産業用あるいは民生用として
極めて応用範囲が広い。しかも、ディスプレイパネルの
薄形化が容易なため、装置の奥行きを小さくすることが
できる。それに加えて、大画面化が容易で輝度が高く視
野角特性にも優れるため、臨場感あふれる画像を視認性
良く表示する事が可能である。
【0166】[参考例] 本発明のフォーミング法の参考例をフォーミングの部分
のみ説明する。その他の部分は第1実施例と同様であ
る。
【0167】はじめに、図4のように1行n列の素子を
フォーミングする場合について説明する。まず、DY1
にパルス幅1msec、周期10msec、0.1Vの
波高の三角波を印加する。DX1、その他の端子はGN
Dである。次に1秒後にDX1はそのまま、DY1に0.
2V、DY2に0.1Vの波高の三角波、DY3〜DYn
はGNDを印加する状態に切り換える。次の1秒後には
DY1に0.3V、DY2に0.2V、DY3に0.1V
と、昇圧する毎に切換え、各素子に対応する配線にかか
る電圧が10Vになった後はGNDに切換える。図5に
各時間毎の各素子にかかる電圧の推移を示す。これより
電圧の印加されている素子は最大100個で、しかもそ
の中でDY1側の素子程その波高が大きくなっているこ
とがわかる。つまりDX1に流れる電流はn個の素子を
並列にフォーミングした時と比べて大幅に軽減できる。
しかも(100+n)秒かけてn個の素子をフォーミン
グするのでn個の素子を1つずつフォーミングした場合
の時間(100×n)秒に比べ、時間的にも大幅に削減
できる。またDY1側の素子より順にフォーミング電圧
に達する、すなわち時間差を持って各素子が高抵抗化す
るため、該素子を並列に同電位でフォーミングするとき
と比べ、各素子が経験する電圧パターンのばらつきは非
常に小さくなる。以上により、時間を大幅に短縮しなが
ら複数個の素子を同時にしかも均一にフォーミングする
ことが可能となる。
【0168】次に図6のようにm行×n列のマトリクス
でD(1,1)〜D(1,n)の各素子を上記1行n列
の場合と同様にフォーミングする方法について説明す
る。DX1(選択配線)およびDY1〜DYnの各配線に
印加する電圧は上記1行n列の場合と同様である。DX
2〜DXm(非選択配線)にはDY側の最高印加電圧の半
分を印加する。これはD(1,1)〜D(1,n)以外
の素子を通ってDX1に回り込む電流をなくし、かつD
(1,1)〜D(1,n)以外の素子になるべく電圧を
かけないようにするためである。図7に各時間ごとの各
配線に印加する電圧、及び各素子にかかる電圧の推移を
示す。図中各素子の下に示した電圧はDY側が高電位の
とき正とした。D(1,1)〜D(1,n)の各素子
は、図5の1行n列の場合と同様に電圧が印加され、ま
た他の素子は−5V〜+5Vの間の電圧が印加されてい
ることがわかる。ここで各素子の特性が等しく、各行配
線および列配線の抵抗が等しく、また各素子は10V以
下かつ5Vより大きい印加電圧で高抵抗化されるとする
と、上記1行n列の場合と同様に時間を大幅に短縮しな
がら複数個の均一フォーミングが可能となる。
【0169】尚、DX側の選択配線は電流量が許す限り
複数でも良く、非選択配線にはDY側の最高印加電圧の
半分でない定電圧でも、また電位差を与えてもよい。
【0170】また上記の最大100という素子数は、最
初の波高すなわちDX1に印加する負電圧(DX1はGN
Dでなく電位を与えてもよい)、最後の波高すなわち素
子が十分に高抵抗化するために必要な電圧(本実施例で
は10V)及び昇圧レートによって決定されているため
上記の限りではない。また本実施例のすべてにおいて行
と列が反対でもよい。n<100であっても同様であ
る。
【0171】図26に、本実施例のフォーミング手順の
流れ図を示す。k,iは説明のための制御変数であり、
それぞれパルスの印加される行番号,パルス数を制御す
るための変数である。また、j,lはそれぞれパルスの
印加される列番号及び行番号であり、制御変数ではな
く、条件に適合する数値を一般的に表現するために用い
ている。Vmaxはある時点で素子に印加される最大電圧
を示す。
【0172】まず、第1行目からパルスの印加開始する
が、最大電圧Vmaxは0.1[V]としておく。そし
て、配線DYjにVmax−0.1×(j−1)[V]の波
高の幅1ms周期10msの三角パルスを印加し、同時
に配線DXlに0.5×Vmaxの同パルスを印加する。た
だし、DYjとしては、(i≦100)の場合にはj=
1〜iというi個を対象とし、(i>100)の場合に
はj=i−99〜iという100個を対象とする。な
お、j>nとなったなら、そのDYjは存在しないから
対象としない。また、DXlの添え字lの値は1〜mで
あってkと異なる値である。以上、特に説明の無い配線
はグラウンドレベルに保たれる。
【0173】このようにして選んだ配線に幅1ms周期
10msのパルスを印加して1秒間経過した後、Vmax
に0.1ずつ加算して、パルス印加の対象となる列をず
らしながら、マトリクス全面にわたって完了するまで繰
りかえす。
【0174】[第実施例] 上記第1実施例と参考例の組み合わせである。参考例と
同様にフォーミングの部分のみ説明する。図6におい
て、まずDX1(選択配線)、DY2〜DYnをグラン
ド、DX2〜DXm(非選択配線)に0.5V、DY1に
0.1Vの波高のパルス幅1msecの三角波を印加す
る。1パルス印加し終ったら(本実施例の場合1ミリ秒
後)次にDY側はそのままでDX1の代わりにDX2を選
択する。
【0175】このようにしてDX10まで順次選択した後
(本実施例の場合1秒後)再びDX1に戻りDY1を
0.2V、DY2を0.1Vに昇圧する。その後はDX1
〜DX10を1秒間に走査しながら、参考例に従って1秒
ごとにDY側を昇圧する。図8に各時間ごとの各配線に
印加する電圧、及び各素子にかかる電圧の推移を示す。
以上のように本実施例では、第1実施例と参考例との組
み合わせにより更なる時間短縮が可能であり、しかも一
時に選択される配線の数は参考例と同様なため、行方向
間での素子の特性のバラつきを防止することができる。
【0176】尚、各パラメータは第1、参考例と同様上
記の限りではない。
【0177】また、本発明は、複数の機器から構成され
るシステムに適用しても1つの機器から成る装置に適用
しても良い。また、本発明は、システム或は装置にプロ
グラムを供給することによって達成される場合にも適用
できることはいうまでもない。
【0178】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の電子源お
よびそのフォーミング方法によれば、複数の表面伝導型
放出素子のフォーミング時における各配線に流れる電流
を低減して電子源に与えるダメージを防止するととも
に、ばらつきのない均一なフォーミングを可能とし、所
要時間も大幅に削減できるという効果がある。
【0179】
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施例におけるフォーミングを行うための電
気回路の概略構成を示したブロック図である。
【図2】本実施例の電子源の全マトリクスより6×6マ
トリクスを抽出した図である。
【図3】第1実施例の印加電圧のタイミング図である。
【図4】本実施例の電子源の全マトリクスより6×1マ
トリクスを抽出した図である。
【図5】図4の素子に印加される電圧と時間との関係を
示した図である。
【図6】本実施例の電子源の全マトリクスの図である。
【図7】第2実施例の各時間における各配線及び各素子
の印加電圧を示した図である。
【図8】第3実施例の印加電圧のタイミング図である。
【図9】本実施例の電子源の一部を表わす平面図であ
る。
【図10】本実施例の電子源の断面図である。
【図11】本実施例の電子源の製造工程を示す図であ
る。
【図12】本実施例の電子源の製造工程を示す図であ
る。
【図13】本実施例で用いたマスク図である。
【図14】本実施例に係わる基本的な平面型表面伝導型
放出素子の構成を示す平面図および断面図である。
【図15】電子放出部を有する表面伝導型放出素子の製
造方法の一例を表わす図である。
【図16】フォーミング処理における電圧波形を表わす
図である。
【図17】表面伝導型放出素子の電子放出特性を測定す
るための測定評価装置の概略構成図である。
【図18】表面伝導型放出素子の電子放出特性の一例を
示す図である。
【図19】垂直表面伝導型放出素子の基本的な構成を示
す図である。
【図20】マトリクス構造を有する電子源基板の一般的
な構成を示す図である。
【図21】本実施例の画像形成装置の概略構成を表わす
図である。
【図22】本実施例における蛍光膜を表わす図である。
【図23】従来の表面伝導型放出素子の典型的な素子構
成を表わす図である。
【図24】電子源の応用例を示すブロック図である。
【図25】第1実施例のフォーミング手順を説明する流
れ図である。
【図26】第2実施例のフォーミング手順を説明する流
れ図である。
【符号の説明】
1 絶縁性基板 2 電子放出部形成用薄膜 3 電子放出部 4 電子放出部を含む薄膜 5 素子電極 6 素子電極 7 パルス発生電極および制御スイッチング回路 8 パルス発生電極および制御スイッチング回路 9 電子源素子 10 電子源 72 X方向配線 73 Y方向配線

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の行方向配線及び列方向配線と、該
    行方向配線及び列方向配線にマトリクス状に接続された
    複数の表面伝導型電子放出素子を有する電子源のフォー
    ミング方法であって、所定数の電子放出部形成用薄膜を選択するように行方向
    及び列方向の配線を選択し、 前記選択された配線を介して前記電子放出部形成用薄膜
    に所定波形のパルス電圧を所定時間間隔で印加し、 前記所定時間間隔内に、前記選択された所定数の電子放
    出部形成用薄膜を非選択として、他の所定数の電子放出
    部形成用薄膜を選択するように行方向及び列方向の配線
    を選択し、該他の所定数の電子放出部形成用薄膜に、所定波形のパ
    ルス電圧の印加を行う ことを特徴とする電子源のフォー
    ミング方法。
  2. 【請求項2】 前記印加されるパルスの電圧は、所定時
    間ごとに段階的に増加されることを特徴とする請求項
    記載の電子源のフォーミング方法。
  3. 【請求項3】 前記電子放出部形成用薄膜は、導電性超
    微粒子から成る薄膜を有することを特徴とする請求項
    記載の電子源のフォーミング方法。
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