JP3402651B2

JP3402651B2 - 地図データベース検定方法

Info

Publication number: JP3402651B2
Application number: JP06292893A
Authority: JP
Inventors: 潔米山; 孝平川野
Original assignee: Tokyo Gas Co Ltd
Current assignee: Tokyo Gas Co Ltd
Priority date: 1993-02-28
Filing date: 1993-02-28
Publication date: 2003-05-06
Anticipated expiration: 2018-05-06
Also published as: JPH06250587A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、異なる種類の検定方法
に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】一般にマッピングシステムでは、地図デ
ータベースとして国家基準点を利用して作成した地図を
用いるので、同一縮尺例えば、１／５００で作成された
地図をベースとしておけば、各図はほぼ一致する。

【０００３】ところで、地図データベースを道路管理者
と、公共企業者の専用物件管理に共通に使用する道路管
理システムでは、各地図は、ほとんど完全に一致する必
要がある。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この一
致度を定量的に測定する方法が今までに確立されていな
かったために、従来は、地図データベースを一度出図し
て、目視で比較する方法が用いられていた。しかし、こ
の方法では、比較図面間の図郭のずれが、０．５mm程度
あり、しかも０．２〜０．７mmの誤差を計測するという
ことで、信頼性に乏しいという問題があった。

【０００５】本発明は、このような問題に鑑みてなされ
たもので、その目的とするところは、二つの地図の一致
度を定量的に測定することができる地図データベース検
定方法を提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】図１は、本発明の原理説
明図である。図１において１はホストコンピュータ、３
は地図データベース、５はアプリケーションプログラ
ム、７はワーク領域、９はディスプレイ、１１はデジタ
イザ、１３は指示具である。

【０００７】ホストコンピュータ１はアプリケーション
プログラム５にしたがって各種処理を行う。地図データ
ベース３には既存の第１の地図データ（既存デジタルデ
ータ）が格納される。ディスプレイ９には地図データベ
ース３に格納された、地図データが表示される。デジタ
イザ１１には、検定基本とすべき第２の地図（検定基本
図）が貼られる。この地図はディスプレイ９に表示され
た地図に記載された領域を含む。デジタイザ１１におい
て指示具１３により地図データを入力することができ
る。指示具１３を動かすと、この動きにつれて、ディス
プレイ９上でカーソルが動き、この指示具１３をクリッ
クすることによりディスプレイ９上の点、あるいは線分
を指定することができる。

【０００８】Ａはアプリケーションプログラム５の内容
およびオペレータの操作を示すフローチャートである。
まず地図データベース３にある第１の地図をディスプレ
イ９上に表示させる（ステップ２１）。オペレータはデ
ィスプレイ９を見ながら指示具１３を動かしディスプレ
イ９上の、たとえば点Ｇにカーソルを合わせ、指示具１
３を用いてＧを通る線分ｇを指定する（ステップ２
２）。つぎにオペレータはデジタイザ１１に貼られた第
２の地図に目を向け、ディスプレイ９上の線分ｇに対応
する線分ｇ１上の点Ｈを指示具１３で指定する（ステッ
プ２３）。デジタイザ１１により点Ｈを指定すると、デ
ィスプレイ９上では、それが点Ｈ´となって表示され
る。点Ｈ´が線分ｇ上に存在しないのは、第１の地図と
第２の地図の対応する部分で微妙なずれがあり、両者が
整合していないからである。

【０００９】アプリケーションプログラム５はディスプ
レイ９上における点Ｈに対応する点Ｈ´と線分ｇとの距
離と角度を算出する（ステップ２４）。オペレータはス
テップ２２からステップ２４までの動作を繰り返して点
Ｇ、点Ｈを異ならしめて、線分ｇと点Ｈの組を複数組指
定する（ステップ２５）。このように線分ｇと点Ｈが複
数組指定されると、アプリケーションプログラム５はス
テップ２４で算出された複数組の距離と角度を用いてア
フィン変換により、検定すべきパラメータを算出する
（ステップ２６）。ここで検定すべきパラメータとして
は、第１の地図に対する第２の地図の偏平、回転、Ｘ方
向の伸縮、Ｙ方向の伸縮、Ｘ方向の移動、Ｙ方向の移動
の影響係数および、回転中心、アフィン変換前と、変換
後のデータの誤差等がある。

【００１０】

【作用】本発明では、ディスプレイ９に表示されている
第１の地図とデジタイザ１１上に貼り付けられた第２の
地図において、複数組の線分と点を指定することにより
アフィン変換を用いて、検定すべきパラメータを自動的
に求めることができる

【００１１】。

【実施例】以下、図面に基づいて本発明の実施例を詳細
に説明する。図２は、本発明の１実施例に係る図形処理
方法に用いられる装置の構成を示す図である。１はホス
トコンピュータ、３は地図データベース、５はアプリケ
ーションプログラム、７はワーク領域、９はディスプレ
イ、１１はデジタイザ、１３は指示具、１５はキーボー
ド、１７はプリンタである。

【００１２】図３、図４は本実施例の処理を示すフロー
チャートである。まずオペレータは地図データベース３
にある第１の地図（既存デジタルデータ）をキーボード
１５を用いて呼び出し、ディスプレイ９上に表示させる
（ステップ３０１）。図５は、ディスプレイ９に表示さ
れた第１の地図を示す。

【００１３】つぎにオペレータは、検定基本図をデジタ
イザ１１に貼り付け、図郭の４隅Ａ２、Ｂ２、Ｃ２、Ｄ
２を指示具１３で入力する（ステップ３０２）。図６は
デジタイザ１１に貼られた検定基本図である。オペレー
タは、点Ａ２、Ｂ２、Ｃ２、Ｄ２の座標値を入力し、た
とえば特開平１−３２０５７９号公報に記載された方法
により図郭の補正を行うためのパラメータを算出する。
このパラメータはワーク領域７に保管される。

【００１４】つぎに組数を表わすパラメータｉをクリア
し（ステップ３０３）、ディスプレイ９上の点Ｇを指示
具１３により入力する（ステップ３０４）。

【００１５】ステップ３０４の処理について説明する。
図７はディスプレイ９の現状の表示内容と、デジタイザ
１１上の領域Ａ２Ｂ２Ｃ２Ｄ２をそのままディスプレイ
９上に表示したと仮定した表示内容を重畳させて示した
ものである。図７において実線はディスプレイ９の実際
の表示内容を示し、破線はデジタイザ１１上の図面をそ
のまま表示したと仮定した場合の表示内容を示す。

【００１６】オペレータはディスプレイ９を見ながら指
示具１３を操作する。指示具１３の動きに連動してディ
スプレイ９上でカーソルが動く。オペレータはカーソル
が図７の点Ｇ付近まで移動すると、指示具１３により入
力を行う。

【００１７】このように点Ｇが指定されると、ホストコ
ンピュータ１は指定された点の最も近傍にある線分ｇ
（本実施例の場合点Ｇは線分ｇ上に存在する）をたとえ
ば赤で表示する（ステップ３０５）。図８は、このとき
のディスプレイ９の表示内容を示すもので、線分ｇが赤
で表示されている。

【００１８】つぎにオペレータはデジタイザ１１に目を
向け、デジタイザ１１上の検定基本図上で線分ｇ１に対
応する線分上の点Ｈを指示具１３を用いて入力する（ス
テップ３０６）。Ｈ点を入力した後、前述したパラメー
タによりＨ点の座標値を補正する。

【００１９】図７に示すように第１の地図と第２の地図
とは、その対応する部分においても微妙なずれが存在す
る。デジタイザ１１に貼られた第２の地図上で点Ｈを入
力すると、図８に示すようにディスプレイ９上では点Ｈ
´が入力されたことになる。

【００２０】つぎにホストコンピュータ１は、線分ｇと
点Ｈ´との距離Ｌ_iと角度θ_iを計算し、点Ｈ´の座標
（Ｘ_i，Ｙ_i）とともに格納する（ステップ３０７）。

【００２１】距離Ｌ_iと角度θ_iを計算はつぎのように
して行う。図９は線分ｇと点Ｈ´を示す図である。点Ｈ
´の座標を今（Ｘ₁，Ｙ₁）とし、線分ｇ上の任意の２
点の座標（Ｘ₂，Ｙ₂，）、（Ｘ₃，Ｙ₃）とする。点
Ｈ´から直線ｇに垂線をおろし、その垂線の長さを距離
Ｌ_i、その垂線の水平軸に対する傾きを角度θ_iとす
る。

【００２２】ａ＝Ｙ₂−Ｙ₃、ｂ＝Ｘ₃−Ｘ₂ とすると θ_i＝ｓｇｎ（ｂ／ａ）・ｔａｎ^-1｜ｂ／ａ｜（ただし−π／２＜θ_i＜π／２、ａ＝０のときθ_i＝
π／２）となる。ここでｓｇｎ（ｂ／ａ）は線分ｇのベ
クトル方向が第２象限、第４象限にあるときは正、第１
象限、第３象限にあるときは負となることを示す。

【００２３】一方、距離Ｌ_iを求めるにはｃ＝Ｘ₃・Ｙ₂−Ｘ₂・Ｙ₃ とするとＬ_i＝ｓｇｎ（ａ）・（ａＸ₁＋ｂＹ₁−ｃ）／（ａ²
＋ｂ²）^1/2 となる。

【００２４】つぎにパラメータｉを「１」増加させ（ス
テップ３０８）、オペレータが終了の指示を行うまでス
テップ３０４からステップ３０８までの処理が繰り返さ
れる（ステップ３０９）。すなわち異なる点Ｇおよび点
Ｈの組が複数組指定され、各組ごとに、その距離Ｌ_iと
角度θ_iが計算される。

【００２５】このときの組の数をＮに代入し（ステップ
３１０）、アフィン変換を用いて、回転、偏平の影響係
数、および回転中心を求める（ステップ３１１）。

【００２６】図１０はアフィン変換用パラメータの計算
の説明図である。図１０に示すようにｌ_i＝Ｌ_i−ｘ_iｃｏｓθ_i−ｙ_iｓｉｎθ_i ……（１）とし、ｘ_i、ｙ_iに対する次式のアフィン変換を考え
る。なお図１０では分かりやすくするため、ベクトルｌ
_i、ｘ_i、ｙ_iを平行移動して示してあるが実際にはベ
クトルＬ_iとベクトルｌ_iとが重なっている。

【００２７】ｘ_i＝｛（Ａ／２）＋Ｂ｝Ｙ_i＋Ｃ ……（２）ｙ_i＝｛（Ａ／２）−Ｂ｝Ｘ_i＋Ｄ ……（３）とする。ここでＡは偏平に関する影響係数、Ｂは回転に
関する影響係数である。

【００２８】式（２）、式（３）を式（１）に代入する
と、ｌ_i＝Ｌ_i−ｃｏｓθ_i［｛（Ａ／２）＋Ｂ｝Ｙ_i＋Ｃ］ −ｓｉｎθ_i［｛（Ａ／２）−Ｂ｝Ｘ_i＋Ｄ］ ……（４）ここで、（Ａ／２）＋Ｂ＝Ｅ ……（５）（Ａ／２）−Ｂ＝Ｆ ……（６）と置くと、ｌ_i＝Ｌ_i−ｃｏｓθ_i（ＥＹ_i＋Ｃ）−ｓｉｎθ_i（ＦＸ_i＋Ｄ）…（７）となる。このｌ_iの２乗和が最小となるための条件は、

【００２９】

【数１】

【００３０】である。式（８）、（９）、（１０）、
（１１）を整理すると、

【００３１】

【数２】

【００３２】となる。式（１２）〜（１５）に示すよう
に、未定数パラメータをＣ、Ｄ、Ｅ、Ｆとした連立方程
式を解き、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆを求める。

【００３３】次に、Ａ＝Ｅ＋Ｆ ……（１６）Ｂ＝Ｅ−Ａ／２＝Ｅ−（Ｅ＋Ｆ）／２＝（Ｅ−Ｆ）／２ ……（１７）であるので、Ａ、Ｂが求められる。

【００３４】次に、回転偏平中心を求める。回転偏平中
心の座標を（Ｘ_o，Ｙ_o）とすると、 −｛（Ａ／２）＋Ｂ｝Ｙ_o＋Ｃ＝０ ……（１８） −｛（Ａ／２）−Ｂ｝Ｘ_o＋Ｄ＝０ ……（１９）であればよいので、Ｙ_o＝Ｃ／｛（Ａ／２）＋Ｂ｝＝２Ｃ／（Ａ＋２Ｂ） ……（２０）Ｘ_o＝Ｄ／｛（Ａ／２）−Ｂ｝＝２Ｄ／（Ａ−２Ｂ） ……（２１）として、回転偏平中心が求められる。このようにして、
偏平、回転に関する影響係数および回転中心が求められ
る。

【００３５】また元のデータの標準偏差は、

【００３６】

【数３】

【００３７】となり、元のデータの平均は、

【００３８】

【数４】

【００３９】となる。一方、回転・偏平を修正した後の
標準偏差は、

【００４０】

【数５】

【００４１】となり、回転・偏平を修正した後の平均
は、

【００４２】

【数６】

【００４３】となる。［第２実施例］次に第２実施例に
ついて説明する。この第２実施例では、次のような一般
的なアフィン変換を考える。

【００４４】ｘ_i＝ＡＸ_ｉ＋ＢＹ_i＋Ｃｙ_i＝ＤＸ_ｉ＋ＥＹ_i＋Ｆこれを、ｌ_i＝Ｌ_i−ｘ_iｃｏｓθ_i−ｙ_iｓｉｎθ_i に代入し、ｌ_i＝Ｌ_i−ｃｏｓθ_i（ＡＸ_ｉ＋ＢＹ_i＋Ｃ）−ｓｉ
ｎθ_i（ＤＸ_ｉ＋ＥＹ_i＋Ｆ）を得る。このｌ_iの２乗和が最小となるための条件は、

【００４５】

【数７】

【００４６】である。計算結果は未定数パラメータを
Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆとした連立方程式となり、行列
で示すと次式の通りである。

【００４７】［Ｋ_hj］［Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，ｌ］＝０［Ｋ_hj］はＫ₁₁、Ｋ₁₂、…Ｋ₁₇、…Ｋ₆₁、…Ｋ₆₇という
ように４２個の係数の行列になるが、たとえばこの中の
Ｋ₁₁からＫ₁₇を示すと、つぎのようになる。

【００４８】

【数８】

【００４９】ここで、アフィン変換用パラメータの内、
ＡはＸ方向の伸縮率、（Ｂ＋Ｄ）／２は偏平率、ＣはＸ
方向の移動量、ＥはＹ方向の伸縮率、（Ｂ−Ｄ）／２は
回転量、ＦはＹ方向の移動量に関するものである。［第
３実施例］次に第３実施例について説明する。この第３
実施例では、偏平、Ｘ方向の移動、Ｙ方向の移動の影響
係数を同時に求めるものである。このような変形は、第
１の地図あるいは台帳図等の図郭が、紙のすき方によ
り、あるいは、図郭線印刷時において長方形でなく、菱
形となっている場合等に生じる。

【００５０】かかる場合、影響係数を求めるには以下の
ようにして行う。

【００５１】ｘ_i＝（Ａ／２）Ｙ_i＋Ｃ ……（２６）ｙ_i＝（Ａ／２）Ｘ_i＋Ｄ ……（２７）とする。

【００５２】式（２６）、式（２７）を式（１）に代入
すると、ｌ_i＝Ｌ_i−ｃｏｓθ_i［（Ａ／２）Ｙ_i＋Ｃ］ −ｓｉｎθ_i［（Ａ／２）Ｘ_i＋Ｄ］ ……（２８）このｌ_iの２乗和が最小となるための条件は、

【００５３】

【数９】

【００５４】すなわち、

【００５５】

【数１０】

【００５６】である。計算結果は未定数パラメータを
Ａ、Ｃ、Ｄとした次のような連立方程式となる。

【００５７】

【数１１】

【００５８】この連立方程式を解き、Ａ、Ｃ、Ｄを求め
る。［第４実施例］次に第４実施例について説明する。
この第４実施例では、回転の影響係数および回転中心を
同時に求めるものである。このような変形は、（ａ）平
板測量の磁北がずれている場合、（ｂ）平面直角座標上
のＹ座標を誤り、平板測量した図を台帳図等に転記した
場合、（ｃ）平板測量した図を台帳図等に転記する場
合、重ね合わせ誤差が発生した場合等に生じる。

【００５９】かかる場合、影響係数を求めるには以下の
ようにして行う。

【００６０】ｘ_i＝ＢＹ_i＋Ｃ ……（３６）ｙ_i＝−ＢＸ_i＋Ｄ ……（３７）とする。式（３６）、式（３７）を式（１）に代入する
と、ｌ_i＝Ｌ_i−ｃｏｓθ_i［ＢＹ_i＋Ｃ］ −ｓｉｎθ_i［−ＢＸ_i＋Ｄ］ ……（３８）このｌ_iの２乗和が最小となるための条件は、

【００６１】

【数１２】

【００６２】すなわち、

【００６３】

【数１３】

【００６４】である。計算結果は未定数パラメータを
Ｂ、Ｃ、Ｄとした次のような連立方程式となる。

【００６５】

【数１４】

【００６６】この連立方程式を解き、Ｂ、Ｃ、Ｄを求め
る。［第５実施例］次に第５実施例について説明する。
この第５実施例では、Ｘ方向の移動、Ｙ方向の移動の影
響係数を求めるものである。このような変形は、（ａ）
平板測量した図を台帳図等に転記する場合、重ね合わせ
誤差が発生した場合、（ｂ）台帳図等が平面直角座標で
作成されいるが、メッシュの原点位置がずれている場合
等に生じる。

【００６７】かかる場合、影響係数を求めるには以下の
ようにして行う。

【００６８】ｘ_i＝Ｃ ……（４６）ｙ_i＝Ｄ ……（４７）とする。式（４６）、式（４７）を式（１）に代入する
と、ｌ_i＝Ｌ_i−Ｃ・ｃｏｓθ_i−Ｄ・ｓｉｎθ_i ……（４５）このｌ_iの２乗和が最小となるための条件は、

【００６９】

【数１５】

【００７０】すなわち、

【００７１】

【数１６】

【００７２】である。計算結果は未定数パラメータを
Ｃ、Ｄとした次のような連立方程式となる。

【００７３】

【数１７】

【００７４】この連立方程式を解き、Ｃ、Ｄを求める。
［第６実施例］次に第６実施例について説明する。この
第６実施例では、Ｘ方向の伸縮、Ｙ方向の伸縮、Ｘ方向
の移動、Ｙ方向の移動、の影響係数を同時に求めるもの
である。このような変形は、第１の地図あるいは、台帳
図等が、紙質、紙のすき方、温度、湿度等によりＸ軸方
向、Ｙ軸方向に伸縮する場合等に生じる。

【００７５】かかる場合、影響係数を求めるには以下の
ようにして行う。

【００７６】ｘ_i＝ＡＸ_i＋Ｃ ……（５４）ｙ_i＝ＢＹ_i＋Ｄ ……（５５）とする。式（５４）、式（５５）を式（１）に代入する
と、ｌ_i＝Ｌ_i−ｃｏｓθ_i［ＡＸ_i＋Ｃ］ −ｓｉｎθ_i［ＢＹ_i＋Ｄ］ ……（５６）このｌ_iの２乗和が最小となるための条件は、

【００７７】

【数１８】

【００７８】すなわち、

【００７９】

【数１９】

【００８０】である。計算結果は未定数パラメータを
Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄとした次のような連立方程式となる。

【００８１】

【数２０】

【００８２】この連立方程式を解き、Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄを
求める。［第７実施例］つぎに本発明の第７実施例を図
１１、図１２に示すフローチャートに従って説明する。
この第７実施例は、交差点の隅切り等が行われて、街区
が経年変化しているにも拘らずオペレータが、その事実
に気付かずに経年変化に係る街区線を入力指定すると、
アフィン変換用パラメータの精度が悪くなる恐れがある
ので、その経年変化したと思われるデータを除外してア
フィン変換用パラメータを求めるようにしたものであ
る。

【００８３】すなわちホストコンピュータ１はステップ
３１１において、つぎのような処理を行う。

【００８４】すなわち格納されている座標Ｘ_ｉ、Ｙ_i、
距離Ｌ_ｉ、角度θ_iの組のすべてを取り出す（ステップ
１３０１）。

【００８５】つぎにｌ_i＝Ｌ_i−ｃｏｓθ_i（ＡＸ_ｉ＋ＢＹ_i＋Ｃ）−ｓｉ
ｎθ_i（ＤＸ_ｉ＋ＥＹ_i＋Ｆ）に従って、アフィン変換後の距離ｌ_iを入力数分求める
（ステップ１３０２）。そして求めた各ｌ_iの標準偏差
Ｓを計算する（ステップ１３０３）。

【００８６】つぎに閾値をα（たとえば２や３）として
｜ｌ_i｜＞Ｓαを満足するすべてのｌ_iを経年変化した
街区線データに対応するものとみなして消去する（ステ
ップ１３０４）。

【００８７】そして消去したｌ_iの数をｎとして、Ｎ−
ｎを正規の入力数Ｎとし（ステップ１３０５）、その正
規の入力数Ｎ分のｌ_iに基づいて、最小二乗法によりア
フィン変換を用いて検定すべきパラメータＡ、Ｂ、Ｃ、
Ｄ、Ｆを求める（ステップ１３０６）。

【００８８】図１２は、このようなデータを半自動的に
除外する処理を示すフローチャートである。この処理は
図１１に示す処理と共通する部分が多いので、異なる点
のみを簡単に説明する。

【００８９】各ｌ_iの標準偏差Ｓを計算した後は、閾値
をα（たとえば２や３）として｜ｌ_i｜＞Ｓαを満足す
るすべてのｌ_iに対して、これらｌ_iは経年変化した街
区線データに対応するものとみなしてフラグをたてる
（ステップ１３０４ａ）。そして各組について座標
Ｘ_ｉ、Ｙ_iを起点とする長さｌ_i、角度θ_iのベクトル
をディスプレイ９上に表示する（ステップ１３０４
ｂ）。この際、ｌ_iは小さな値であり、ベクトルが見づ
らいので数十倍に拡大して表示するとともに、フラグが
たっているものについては、経年変化した街区線データ
に関するものである可能性が高いことであることをオペ
レータに示すため、他のものとは別の色で表示する。

【００９０】そこでオペレータは除外対象のベクトルを
指定する（ステップ１３０４ｃ）。つぎに図１３の場合
と同様に、残りのｌ_iに基づいて最小二乗法によりアフ
ィン変換を用いて検定すべきパラメータＡ、Ｂ、Ｃ、
Ｄ、Ｅ、Ｆを求める（ステップ１３０５、１３０６）。

【００９１】このように不適切なデータを自動的または
半自動的に除外して、アフィン変換用パラメータを決定
することにより、オペレータの負担を重くすることな
く、変換結果の信頼性を向上させることができる。

【００９２】［第８実施例］つぎに第８実施例を図１３
のフローチャートに従って説明する。この第８実施例の
趣旨はつぎのとおりである。たとえば最近、広い地域に
わたり下水道工事が行われた面的区域について道路を測
量し直しており、地図データを一部ではあるが広範囲に
補正している場合、補正した区域と補正しない区域とで
は大縮尺の地図の街区線と中縮尺の地図の街区線との間
の誤差が大きく相違している場合がある。このような場
合には、アフィン変換用パラメータを区域別に決定しな
いと、アフィン変換用パラメータの精度が悪くなる。こ
のため第７実施例では、区域別にアフィン変換用パラメ
ータを決定するものである。

【００９３】すなわち第７実施例では、ホストコンピュ
ータ１は図４のステップ３１０の後、格納されている座
標Ｘ_ｉ、Ｙ_i、距離Ｌ_ｉ、角度θ_iの組のすべてを取り
出す（ステップ１６０１）。

【００９４】つぎにｌ_i＝Ｌ_i−ｃｏｓθ_i（ＡＸ_ｉ＋ＢＹ_i＋Ｃ）−ｓｉ
ｎθ_i（ＤＸ_ｉ＋ＥＹ_i＋Ｆ）に従って、アフィン変換後の距離ｌ_iを入力数分求める
（ステップ１６０２）。そして各組について座標Ｘ_ｉ、
Ｙ_iを起点とする長さｌ_i、角度θ_iのベクトルを数十
倍に拡大してディスプレイ９上に表示する（ステップ１
６０３）。

【００９５】そこでオペレータはベクトルの分布状況を
見ながら、同一傾向にあるベクトルの範囲を入力するこ
とにより表示画面上の区域を区分する（ステップ１６０
４）。すると、ホストコンピュータ１は区分された１つ
の区域に関するすべてのｌ_iを読み出して、その区域に
ついてのアフィン変換を用いて検定すべきパラメータを
最小二乗法により決定する（ステップ１６０５）。つぎ
に残りの区域についてステップ１６０５と全く同様の処
理を行う（ステップ１６０６）。

【００９６】［第９実施例］つぎに第９実施例について
説明する。第９実施例は街区線の種別、たとえば国道、
都道、区道、市道、私道、歩道等に応じて重み付けをし
てアフィン変換を用いて検定すべきパラメータを決定す
るようにする。たとえば国道、都道、区道、市道、私
道、歩道についてそれぞれ６、５、４、３、２、１つず
づ街区線が指定されたとすると、それらが各々６個、５
個、４個、３個、２個、１個ずつ指定されたものとして
パラメータを決定する。このようにすれば重要度の高い
街区線に沿った座標データほど高精度にアフィン変換さ
れる。

【００９７】［第１０実施例］つぎに第１０実施例につ
いて説明する。第１０実施例では、線分ｇと点Ｈ´との
距離と角度を求める代わりに、点Ｇと点Ｈ´との間で、
座標位置データをＸ成分と、Ｙ成分とに分割することに
より線データ間の距離と角度に基づいて、アフィン変換
用のパラメータを決定する図３、図４の処理を全く同様
に実行するようにしたものである。

【００９８】すなわち指定された第１の地図の点Ｇと第
２の地図の点Ｈ´の座標位置データが図１４に示したよ
うに（Ｘ₁，Ｙ₁）、（Ｘ₂，Ｙ₂）であったとする
と、図３のステップ３０４では、それぞれＸ軸、Ｙ軸が
指定されたものとみなして、（ｉ＋１）番目におけるス
テップ３０７では距離Ｌ_i+1を（Ｘ₁−Ｘ₂）、角度θ
_i+1を０度とし、（ｉ＋２）番目におけるステップ３０
７では距離Ｌ_i+2を（Ｙ₁−Ｙ₂）、角度θ_i+2を９０
度，すなわちπ／２ラジアンとして処理するものであ
る。

【００９９】

【発明の効果】以上、詳細に説明したように本発明によ
れば、二つの地図の一致度を定量的に測定することがで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理説明図

【図２】本発明の１実施例に係る図形処理方法を実行
するための装置構成図

【図３】実施例の動作を示すフローチャート

【図４】実施例の動作を示すフローチャート

【図５】ディスプレイ９に表示された既存の第１の地
図を示す図

【図６】デジタイザ１１上に貼られた設備管理図図を
示す図

【図７】ディスプレイ９の表示内容とデジタイザ１１
上の図面の該当部分を、そのままディスプレイ９に表示
したと仮定した場合の説明図

【図８】ステップ３０５において線分ｇが強調されて
表示されているディスプレイ９の表示内容を示す図

【図９】線分ｇと点Ｈとの位置関係を示す図

【図１０】アフィン変換を説明する図

【図１１】アフィン変換用パラメータの決定要素を自
動的に除外する場合の動作を示すフローチャート

【図１２】アフィン変換用パラメータの決定要素を半
自動的に除外する場合の動作を示すフローチャート

【図１３】区域別にアフィン変換用パラメータを決定
する場合の動作を示すフローチャート

【図１４】各地図上の基準点が、それぞれ指定された
場合の処理を説明する図

【符号の説明】

１………ホストコンピュータ３………地図データベース５………アプリケーションプログラム７………ワーク領域９………ディスプレイ１１………デジタイザ１５………キーボード１７………プリンタ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献特開平５−181411（ＪＰ，Ａ) 特開平４−158388（ＪＰ，Ａ) 特開平５−174127（ＪＰ，Ａ) 特開平５−290172（ＪＰ，Ａ) 特開平５−28321（ＪＰ，Ａ) 特開平５−165402（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G09B 29/00 - 29/14

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】デジタイザと、ディスプレイと、記憶装
置とを備えたシステムにおいて、（ａ）前記記憶装置に記憶された第１の地図を前記ディ
スプレイ上に表示させる工程と、（ｂ）前記ディスプレイ上の第１の線分を指定する工程
と、（ｃ）前記デジタイザ上に貼りつけられており、前記第
１の地図に対応する部分を有する第２の地図上の前記第
１の線分に対応する第２の線分上の点を指定する工程
と、（ｄ）前記点に対応する前記第１の地図上の参照点と、
前記第１の線分との距離と角度を、前記参照点から前記
第１の線分におろされた垂線の長さを距離とし、前記垂
線の水平軸に対する傾きを角度として算出する工程と、（ｅ）工程（ｂ）〜（ｄ）を繰り返して、複数組の第１
の線分と参照点との距離と角度を算出する工程と、（ｆ）前記複数組の第１の線分と参照点との距離と角度
を用いて、アフィン変換により検定すべきパラメータを
算出する工程と、（ｇ）前記アフィン変換を行う前と、行った後のデータ
の誤差を算出する工程と、を具備し、前記工程（ｆ）は、変位量のアフィン変換のパラメータ
（ｘ _ｉ，ｙ _ｉ）を、偏平に関する影響係数Ａ、回転に関する影響係数Ｂ、Ｘ
方向の移動の影響係数Ｃ、Ｙ方向の移動の影響係数Ｄ、
前記参照点の座標（Ｘ _ｉ，Ｙ _ｉ）を用いてｘ _ｉ＝｛（Ａ／２）＋Ｂ｝Ｙ _ｉ＋Ｃｙ _ｉ＝｛（Ａ／２）−Ｂ｝Ｘ _ｉ＋Ｄと表し、前記距離Ｌ _ｉ、前記角度θ _ｉを用いて表され、
前記肯定（ｇ）によって求められる各誤差ｌ _ｉｌ _ｉ＝Ｌ _ｉ −ｃｏｓθ _ｉ［｛（Ａ／２）＋Ｂ｝Ｙ _ｉ＋Ｃ］ −ｓｉｎθ _ｉ［｛（Ａ／２）−Ｂ｝Ｘ _ｉ＋Ｄ］の２乗和を最小にするように各パラメータ、各影響係
数、及び回転中心座標を求めることを特徴とする地図デ
ータベース検定方法。
【請求項２】デジタイザと、ディスプレイと、記憶装
置とを備えたシステムにおいて、（ａ）前記記憶装置に記憶された第１の地図を前記ディ
スプレイ上に表示させる工程と、（ｂ）前記ディスプレイ上の第１の線分を指定する工程
と、（ｃ）前記デジタイザ上に貼りつけられており、前記第
１の地図に対応する部分を有する第２の地図上の前記第
１の線分に対応する第２の線分上の点を指定する工程
と、（ｄ）前記点に対応する前記第１の地図上の参照点と、
前記第１の線分との距離と角度を、前記参照点から前記
第１の線分におろされた垂線の長さを距離とし、前記垂
線の水平軸に対する傾きを角度として算出する工程と、（ｅ）工程（ｂ）〜（ｄ）を繰り返して、複数組の第１
の線分と参照点との距離と角度を算出する工程と、（ｆ）前記複数組の第１の線分と参照点との距離と角度
を用いて、アフィン変換により検定すべきパラメータを
算出する工程と、（ｇ）前記アフィン変換を行う前と、行った後のデータ
の誤差を算出する工程と、を具備し、前記工程（ｆ）は、変位量のアフィン変換のパラメータ
（ｘ _ｉ，ｙ _ｉ）を、アフィン変換パラメータＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、前記
参照点の座標（Ｘ _ｉ，Ｙ _ｉ）を用いてｘ _ｉ＝ＡＸ _ｉ＋ＢＹ _ｉ＋Ｃｙ _ｉ＝ＤＸ _ｉ＋ＥＹ _ｉ＋Ｆと表し、前記距離Ｌ _ｉ、前記角度θ _ｉを用いて表され、
前記肯定（ｇ）によって求められる各誤差ｌ _ｉｌ _ｉ＝Ｌ _ｉ −ｃｏｓθ _ｉ（ＡＸ _ｉ＋ＢＹ _ｉ＋Ｃ） −ｓｉｎθ _ｉ（ＤＸ _ｉ＋ＥＹ _ｉ＋Ｆ）の２乗和を最小にするように各パラメータを求めること
を特徴とする地図データベース検定方法。
【請求項３】デジタイザと、ディスプレイと、記憶装
置とを備えたシステムにおいて、（ａ）前記記憶装置に記憶された第１の地図を前記ディ
スプレイ上に表示させる工程と、（ｂ）前記ディスプレイ上の第１の線分を指定する工程
と、（ｃ）前記デジタイザ上に貼りつけられており、前記第
１の地図に対応する部分を有する第２の地図上の前記第
１の線分に対応する第２の線分上の点を指定する工程
と、（ｄ）前記点に対応する前記第１の地図上の参照点と、
前記第１の線分との距離と角度を、前記参照点から前記
第１の線分におろされた垂線の長さを距離とし、前記垂
線の水平軸に対する傾きを角度として算出する工程と、（ｅ）工程（ｂ）〜（ｄ）を繰り返して、複数組の第１
の線分と参照点との距離と角度を算出する工程と、（ｆ）前記複数組の第１の線分と参照点との距離と角度
を用いて、アフィン変換により検定すべきパラメータを
算出する工程と、（ｇ）前記アフィン変換を行う前と、
行った後のデータの誤差を算出する工程と、を具備し、前記工程（ｆ）は、変位量のアフィン変換のパラメータ
（ｘ _ｉ，ｙ _ｉ）を、偏平に関する影響係数Ａ、Ｘ方向の移動の影響係数Ｃ、
Ｙ方向の移動の影響係数Ｄ、前記参照点の座標（Ｘ _ｉ，
Ｙ _ｉ）を用いてｘ _ｉ＝（Ａ／２）Ｙ _ｉ＋Ｃｙ _ｉ＝（Ａ／２）Ｘ _ｉ＋Ｄと表し、前記距離Ｌ _ｉ、前記角度θ _ｉを用いて表され、
前記肯定（ｇ）によって求められる各誤差ｌ _ｉｌ _ｉ＝Ｌ _ｉ −ｃｏｓθ _ｉ［（Ａ／２）Ｙ _ｉ＋Ｃ］ −ｓｉｎθ _ｉ［（Ａ／２）Ｘ _ｉ＋Ｄ］の２乗和を最小にするように各パラメータ及び各影響係
数を求めることを特徴とする地図データベース検定方
法。
【請求項４】デジタイザと、ディスプレイと、記憶装
置とを備えたシステムにおいて、（ａ）前記記憶装置に記憶された第１の地図を前記ディ
スプレイ上に表示させる工程と、（ｂ）前記ディスプレイ上の第１の線分を指定する工程
と、（ｃ）前記デジタイザ上に貼りつけられており、前記第
１の地図に対応する部分を有する第２の地図上の前記第
１の線分に対応する第２の線分上の点を指定する工程
と、（ｄ）前記点に対応する前記第１の地図上の参照点と、
前記第１の線分との距離と角度を、前記参照点から前記
第１の線分におろされた垂線の長さを距離とし、前記垂
線の水平軸に対する傾きを角度として算出する工程と、（ｅ）工程（ｂ）〜（ｄ）を繰り返して、複数組の第１
の線分と参照点との距離と角度を算出する工程と、（ｆ）前記複数組の第１の線分と参照点との距離と角度
を用いて、アフィン変換により検定すべきパラメータを
算出する工程と、（ｇ）前記アフィン変換を行う前と、行った後のデータ
の誤差を算出する工程と、を具備し、前記工程（ｆ）は、変位量のアフィン変換のパラメータ
（ｘ _ｉ，ｙ _ｉ）を、回転に関する影響係数Ｂ、Ｘ方向の
移動の影響係数Ｃ、Ｙ方向の移動の影響係数Ｄ、前記参
照点の座標（Ｘ _ｉ，Ｙ _ｉ）を用いてｘ _ｉ＝ＢＹ _ｉ＋Ｃｙ _ｉ＝−ＢＸ _ｉ＋Ｄと表し、前記距離Ｌ _ｉ、前記角度θ _ｉを用いて表され、
前記肯定（ｇ）によって求められる各誤差ｌ _ｉｌ _ｉ＝Ｌ _ｉ −ｃｏｓθ _ｉ［ＢＹ _ｉ＋Ｃ］ −ｓｉｎθ _ｉ［−ＢＸ _ｉ＋Ｄ］の２乗和を最小にするように各パラメータ、各影響係数
及び回転中心座標を求めることを特徴とする地図データ
ベース検定方法。
【請求項５】デジタイザと、ディスプレイと、記憶装
置とを備えたシステムにおいて、（ａ）前記記憶装置に記憶された第１の地図を前記ディ
スプレイ上に表示させる工程と、（ｂ）前記ディスプレイ上の第１の線分を指定する工程
と、（ｃ）前記デジタイザ上に貼りつけられており、前記第
１の地図に対応する部分を有する第２の地図上の前記第
１の線分に対応する第２の線分上の点を指定する工程
と、（ｄ）前記点に対応する前記第１の地図上の参照点と、
前記第１の線分との距離と角度を、前記参照点から前記
第１の線分におろされた垂線の長さを距離とし、前記垂
線の水平軸に対する傾きを角度として算出する工程と、（ｅ）工程（ｂ）〜（ｄ）を繰り返して、複数組の第１
の線分と参照点との距離と角度を算出する工程と、（ｆ）前記複数組の第１の線分と参照点との距離と角度
を用いて、アフィン変換により検定すべきパラメータを
算出する工程と、（ｇ）前記アフィン変換を行う前と、行った後のデータ
の誤差を算出する工程と、を具備し、前記工程（ｆ）は、変位量のアフィン変換のパラメータ
（ｘ _ｉ，ｙ _ｉ）を、Ｘ方向の移動の影響係数Ｃ、Ｙ方向
の移動の影響係数Ｄを用いてｘ _ｉ＝Ｃｙ _ｉ＝Ｄと表し、前記距離Ｌ _ｉ、前記角度θ _ｉを用いて表され、
前記肯定（ｇ）によって求められる各誤差ｌ _ｉｌ _ｉ＝Ｌ _ｉ −Ｃ・ｃｏｓθ _ｉ −Ｄｓｉｎθ _ｉの２乗和を最小にするように各パラメータ及び各影響係
数を求めることを特徴とする地図データベース検定方
法。
【請求項６】デジタイザと、ディスプレイと、記憶装
置とを備えたシステムにおいて、（ａ）前記記憶装置に記憶された第１の地図を前記ディ
スプレイ上に表示させる工程と、（ｂ）前記ディスプレイ上の第１の線分を指定する工程
と、（ｃ）前記デジタイザ上に貼りつけられており、前記第
１の地図に対応する部分を有する第２の地図上の前記第
１の線分に対応する第２の線分上の点を指定する工程
と、（ｄ）前記点に対応する前記第１の地図上の参照点と、
前記第１の線分との距離と角度を、前記参照点から前記
第１の線分におろされた垂線の長さを距離とし、前記垂
線の水平軸に対する傾きを角度として算出する工程と、（ｅ）工程（ｂ）〜（ｄ）を繰り返して、複数組の第１
の線分と参照点との距離と角度を算出する工程と、（ｆ）前記複数組の第１の線分と参照点との距離と角度
を用いて、アフィン変換により検定すべきパラメータを
算出する工程と、（ｇ）前記アフィン変換を行う前と、行った後のデータ
の誤差を算出する工程と、を具備し、前記工程（ｆ）は、変位量のアフィン変換のパラメータ
（ｘ _ｉ，ｙ _ｉ）を、Ｘ方向の伸縮影響係数Ａ、Ｙ方向の伸縮影響係数Ｂ、Ｘ
方向の移動の影響係数Ｃ、Ｙ方向の移動の影響係数Ｄ、
前記参照点の座標（Ｘ _ｉ，Ｙ _ｉ）を用いてｘ _ｉ＝ＡＸ _ｉ＋Ｃｙ _ｉ＝ＢＹ _ｉ＋Ｄと表し、前記距離Ｌ _ｉ、前記角度θ _ｉを用いて表され、
前記肯定（ｇ）によって求められる各誤差ｌ _ｉｌ _ｉ＝Ｌ _ｉ −ｃｏｓθ _ｉ［ＡＸ _ｉ＋Ｃ］ −ｓｉｎθ _ｉ［ＢＹ _ｉ＋Ｄ］の２乗和を最小にするように各パラメータ及び各影響係
数を求めることを特徴とする地図データベース検定方
法。
【請求項７】デジタイザと、ディスプレイと、記憶装
置とを備えたシステムにおいて、（ａ）前記記憶装置に記憶された前記第１の地図を前記
ディスプレイ上に表示させる工程と、（ｂ）前記ディスプレイ上の第１の点を指定する工程
と、（ｃ）前記デジタイザ上に貼りつけられており、前記第
１の地図に対応する部分を有する第２の地図上の前記第
１の点に対応する第２の点を指定する工程と、（ｄ）前記第１の点と前記第２の点を対角線とする矩形
の長辺および短辺のそれぞれの長さおよび傾きを距離と
角度として算出する工程と、（ｅ）工程（ｂ）〜（ｄ）を繰り返して、複数組の第１
の点と第２の点との距離と角度を算出する工程と、（ｆ）前記複数組の第１の点と第２の点との距離と角度
を用いて、アフィン変換により検定すべきパラメータを
算出する工程と、（ｇ）前記アフィン変換を行う前と、行った後のデータ
の誤差を算出する工程と、を具備し、前記工程（ｆ）は、変位量のアフィン変換のパラメータ
（ｘ _ｉ，ｙ _ｉ）を、偏平に関する影響係数Ａ、回転に関する影響係数Ｂ、Ｘ
方向の移動の影響係数Ｃ、Ｙ方向の移動の影響係数Ｄ、
前記第２の点の座標（Ｘ _ｉ，Ｙ _ｉ）を用いてｘ _ｉ＝｛（Ａ／２）＋Ｂ｝Ｙ _ｉ＋Ｃｙ _ｉ＝｛（Ａ／２）−Ｂ｝Ｘ _ｉ＋Ｄと表し、前記距離Ｌ _ｉ、前記角度θ _ｉを用いて表され、
前記肯定（ｇ）によって求められる各誤差ｌ _ｉｌ _ｉ＝Ｌ _ｉ −ｃｏｓθ _ｉ［｛（Ａ／２）＋Ｂ｝Ｙ _ｉ＋Ｃ］ −ｓｉｎθ _ｉ［｛（Ａ／２）−Ｂ｝Ｘ _ｉ＋Ｄ］の２乗和を最小にするように各パラメータ、各影響係
数、及び回転中心座標を求めることを特徴とする地図デ
ータベース検定方法。
【請求項８】デジタイザと、ディスプレイと、記憶装
置とを備えたシステムにおいて、（ａ）前記記憶装置に記憶された前記第１の地図を前記
ディスプレイ上に表示させる工程と、（ｂ）前記ディスプレイ上の第１の点を指定する工程
と、（ｃ）前記デジタイザ上に貼りつけられており、前記第
１の地図に対応する部分を有する第２の地図上の前記第
１の点に対応する第２の点を指定する工程と、（ｄ）前記第１の点と前記第２の点を対角線とする矩形
の長辺および短辺のそれぞれの長さおよび傾きを距離と
角度として算出する工程と、（ｅ）工程（ｂ）〜（ｄ）を繰り返して、複数組の第１
の点と第２の点との距離と角度を算出する工程と、（ｆ）前記複数組の第１の点と第２の点との距離と角度
を用いて、アフィン変換により検定すべきパラメータを
算出する工程と、（ｇ）前記アフィン変換を行う前と、行った後のデータ
の誤差を算出する工程と、を具備し、前記工程（ｆ）は、変位量のアフィン変換のパラメータ
（ｘ _ｉ，ｙ _ｉ）を、アフィン変換パラメータＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、前記
第２の点の座標（Ｘ _ｉ，Ｙ _ｉ）を用いてｘ _ｉ＝ＡＸ _ｉ＋ＢＹ _ｉ＋Ｃｙ _ｉ＝ＤＸ _ｉ＋ＥＹ _ｉ＋Ｆと表し、前記距離Ｌ _ｉ、前記角度θ _ｉを用いて表され、
前記肯定（ｇ）によって求められる各誤差ｌ _ｉｌ _ｉ＝Ｌ _ｉ −ｃｏｓθ _ｉ（ＡＸ _ｉ＋ＢＹ _ｉ＋Ｃ） −ｓｉｎθ _ｉ（ＤＸ _ｉ＋ＥＹ _ｉ＋Ｆ）の２乗和を最小にするように各パラメータを求めること
を特徴とする地図データベース検定方法。
【請求項９】デジタイザと、ディスプレイと、記憶装
置とを備えたシステムにおいて、（ａ）前記記憶装置に記憶された前記第１の地図を前記
ディスプレイ上に表示させる工程と、（ｂ）前記ディスプレイ上の第１の点を指定する工程
と、（ｃ）前記デジタイザ上に貼りつけられており、前記第
１の地図に対応する部分を有する第２の地図上の前記第
１の点に対応する第２の点を指定する工程と、（ｄ）前記第１の点と前記第２の点を対角線とする矩形
の長辺および短辺のそれぞれの長さおよび傾きを距離と
角度として算出する工程と、（ｅ）工程（ｂ）〜（ｄ）を繰り返して、複数組の第１
の点と第２の点との距離と角度を算出する工程と、（ｆ）前記複数組の第１の点と第２の点との距離と角度
を用いて、アフィン変換により検定すべきパラメータを
算出する工程と、（ｇ）前記アフィン変換を行う前と、行った後のデータ
の誤差を算出する工程と、を具備し、前記工程（ｆ）は、変位量のアフィン変換のパラメータ
（ｘ _ｉ，ｙ _ｉ）を、偏平に関する影響係数Ａ、Ｘ方向の移動の影響係数Ｃ、
Ｙ方向の移動の影響係数Ｄ、前記第２の点の座標
（Ｘ _ｉ，Ｙ _ｉ）を用いてｘ _ｉ＝（Ａ／２）Ｙ _ｉ＋Ｃｙ _ｉ＝（Ａ／２）Ｘ _ｉ＋Ｄと表し、前記距離Ｌ _ｉ、前記角度θ _ｉを用いて表され、
前記肯定（ｇ）によって求められる各誤差ｌ _ｉｌ _ｉ＝Ｌ _ｉ −ｃｏｓθ _ｉ［（Ａ／２）Ｙ _ｉ＋Ｃ］ −ｓｉｎθ _ｉ［（Ａ／２）Ｘ _ｉ＋Ｄ］の２乗和を最小にするように各パラメータ及び各影響係
数を求めることを特徴とする地図データベース検定方
法。
【請求項１０】デジタイザと、ディスプレイと、記憶
装置とを備えたシステムにおいて、（ａ）前記記憶装置に記憶された前記第１の地図を前記
ディスプレイ上に表示させる工程と、（ｂ）前記ディスプレイ上の第１の点を指定する工程
と、（ｃ）前記デジタイザ上に貼りつけられており、前記第
１の地図に対応する部分を有する第２の地図上の前記第
１の点に対応する第２の点を指定する工程と、（ｄ）前記第１の点と前記第２の点を対角線とする矩形
の長辺および短辺のそれぞれの長さおよび傾きを距離と
角度として算出する工程と、（ｅ）工程（ｂ）〜（ｄ）を繰り返して、複数組の第１
の点と第２の点との距離と角度を算出する工程と、（ｆ）前記複数組の第１の点と第２の点との距離と角度
を用いて、アフィン変換により検定すべきパラメータを
算出する工程と、（ｇ）前記アフィン変換を行う前と、行った後のデータ
の誤差を算出する工程と、を具備し、前記工程（ｆ）は、変位量のアフィン変換のパラメータ
（ｘ _ｉ，ｙ _ｉ）を、回転に関する影響係数Ｂ、Ｘ方向の
移動の影響係数Ｃ、Ｙ方向の移動の影響係数Ｄ、前記第
２の点の座標（Ｘ _ｉ，Ｙ _ｉ）を用いてｘ _ｉ＝ＢＹ _ｉ＋Ｃｙ _ｉ＝−ＢＸ _ｉ＋Ｄと表し、前記距離Ｌ _ｉ、前記角度θ _ｉを用いて表され、
前記肯定（ｇ）によって求められる各誤差ｌ _ｉｌ _ｉ＝Ｌ _ｉ −ｃｏｓθ _ｉ［ＢＹ _ｉ＋Ｃ］ −ｓｉｎθ _ｉ［−ＢＸ _ｉ＋Ｄ］の２乗和を最小にするように各パラメータ、各影響係数
及び回転中心座標を求めることを特徴とする地図データ
ベース検定方法。
【請求項１１】デジタイザと、ディスプレイと、記憶
装置とを備えたシステムにおいて、（ａ）前記記憶装置に記憶された前記第１の地図を前記
ディスプレイ上に表示させる工程と、（ｂ）前記ディスプレイ上の第１の点を指定する工程
と、（ｃ）前記デジタイザ上に貼りつけられており、前記第
１の地図に対応する部分を有する第２の地図上の前記第
１の点に対応する第２の点を指定する工程と、（ｄ）前記第１の点と前記第２の点を対角線とする矩形
の長辺および短辺のそれぞれの長さおよび傾きを距離と
角度として算出する工程と、（ｅ）工程（ｂ）〜（ｄ）を繰り返して、複数組の第１
の点と第２の点との距離と角度を算出する工程と、（ｆ）前記複数組の第１の点と第２の点との距離と角度
を用いて、アフィン変換により検定すべきパラメータを
算出する工程と、（ｇ）前記アフィン変換を行う前と、行った後のデータ
の誤差を算出する工程と、を具備し、前記工程（ｆ）は、変位量のアフィン変換のパラメータ
（ｘ _ｉ，ｙ _ｉ）を、Ｘ方向の移動の影響係数Ｃ、Ｙ方向
の移動の影響係数Ｄを用いてｘ _ｉ＝Ｃｙ _ｉ＝Ｄと表し、前記距離Ｌ _ｉ、前記角度θ _ｉを用いて表され、
前記肯定（ｇ）によって求められる各誤差ｌ _ｉｌ _ｉ＝Ｌ _ｉ −Ｃ・ｃｏｓθ _ｉ −Ｄｓｉｎθ _ｉの２乗和を最小にするように各パラメータ及び各影響係
数を求めることを特徴とする地図データベース検定方
法。
【請求項１２】デジタイザと、ディスプレイと、記憶
装置とを備えたシステムにおいて、（ａ）前記記憶装置に記憶された前記第１の地図を前記
ディスプレイ上に表示させる工程と、（ｂ）前記ディスプレイ上の第１の点を指定する工程
と、（ｃ）前記デジタイザ上に貼りつけられており、前記第
１の地図に対応する部分を有する第２の地図上の前記第
１の点に対応する第２の点を指定する工程と、（ｄ）前記第１の点と前記第２の点を対角線とする矩形
の長辺および短辺のそれぞれの長さおよび傾きを距離と
角度として算出する工程と、（ｅ）工程（ｂ）〜（ｄ）を繰り返して、複数組の第１
の点と第２の点との距離と角度を算出する工程と、（ｆ）前記複数組の第１の線分と第２の点との距離と角
度を用いて、アフィン変換により検定すべきパラメータ
を算出する工程と、（ｇ）前記アフィン変換を行う前と、行った後のデータ
の誤差を算出する工程と、を具備し、前記工程（ｆ）は、変位量のアフィン変換のパラメータ
（ｘ _ｉ，ｙ _ｉ）を、Ｘ方向の伸縮影響係数Ａ、Ｙ方向の
伸縮影響係数Ｂ、Ｘ方向の移動の影響係数Ｃ、Ｙ方向の
移動の影響係数Ｄ、前記参照点の座標（Ｘ _ｉ，Ｙ _ｉ）を
用いてｘ _ｉ＝ＡＸ _ｉ＋Ｃｙ _ｉ＝ＢＹ _ｉ＋Ｄと表し、前記距離Ｌ _ｉ、前記角度θ _ｉを用いて表され、
前記肯定（ｇ）によって求められる各誤差ｌ _ｉｌ _ｉ＝Ｌ _ｉ −ｃｏｓθ _ｉ［ＡＸ _ｉ＋Ｃ］ −ｓｉｎθ _ｉ［ＢＹ _ｉ＋Ｄ］の２乗和を最小にするように各パラメータ及び各影響係
数を求めることを特徴とする地図データベース検定方
法。
【請求項１３】デジタイザと、ディスプレイと、記憶
装置とを備えたシステムにおいて、（ａ）前記記憶装置に記憶された前記第１の地図を前記
ディスプレイ上に表示させる工程と、（ｂ）前記ディスプレイ上の第１の線分または第３の点
を指定する工程と、（ｃ）前記デジタイザ上に貼りつけられており、前記第
１の地図に対応する部分を有する第２の地図上の前記第
１の線分に対応する第２の線分上の点または、前記第３
の点に対応する第４の点を指定する工程と、（ｄ）前記点に対応する前記第１の地図上の参照点と、
前記第１の線分との距離と角度を、前記参照点から前記
第１の線分におろされた垂線の長さを距離とし、前記垂
線の水平軸に対する傾きを角度として算出し、または前
記第３の点と前記第４の点を対角線とする矩形の長辺お
よび短辺のそれぞれの長さおよび傾きを距離と角度とし
て算出する工程と、（ｅ）工程（ｂ）〜（ｄ）を繰り返して、複数組の第１
の線分と参照点との距離と角度または、第３の点と第４
の点との距離と角度を算出する工程と、（ｆ）前記複数組の第１の線分と参照点との距離と角度
または、第３の点と第４の点との距離と角度を用いて、
アフィン変換により検定すべきパラメータを算出する工
程と、（ｇ）前記アフィン変換を行う前と、行った後のデータ
の誤差を算出する工程と、を具備し、前記工程（ｆ）は、変位量のアフィン変換のパラメータ
（ｘ _ｉ，ｙ _ｉ）を、偏平に関する影響係数Ａ、回転に関する影響係数Ｂ、Ｘ
方向の移動の影響係数Ｃ、Ｙ方向の移動の影響係数Ｄ、
前記参照点または前記第４の点の座標（Ｘ _ｉ，Ｙ _ｉ）を
用いてｘ _ｉ＝｛（Ａ／２）＋Ｂ｝Ｙ _ｉ＋Ｃｙ _ｉ＝｛（Ａ／２）−Ｂ｝Ｘ _ｉ＋Ｄと表し、前記距離Ｌ _ｉ、前記角度θ _ｉを用いて表され、
前記肯定（ｇ）によって求められる各誤差ｌ _ｉｌ _ｉ＝Ｌ _ｉ −ｃｏｓθ _ｉ［｛（Ａ／２）＋Ｂ｝Ｙ _ｉ＋Ｃ］ −ｓｉｎθ _ｉ［｛（Ａ／２）−Ｂ｝Ｘ _ｉ＋Ｄ］の２乗和を最小にするように各パラメータ、各影響係
数、及び回転中心座標を求めることを特徴とする地図デ
ータベース検定方法。
【請求項１４】デジタイザと、ディスプレイと、記憶
装置とを備えたシステムにおいて、（ａ）前記記憶装置に記憶された前記第１の地図を前記
ディスプレイ上に表示させる工程と、（ｂ）前記ディスプレイ上の第１の線分または第３の点
を指定する工程と、（ｃ）前記デジタイザ上に貼りつけられており、前記第
１の地図に対応する部分を有する第２の地図上の前記第
１の線分に対応する第２の線分上の点または、前記第３
の点に対応する第４の点を指定する工程と、（ｄ）前記点に対応する前記第１の地図上の参照点と、
前記第１の線分との距離と角度を、前記参照点から前記
第１の線分におろされた垂線の長さを距離とし、前記垂
線の水平軸に対する傾きを角度として算出し、または前
記第３の点と前記第４の点を対角線とする矩形の長辺お
よび短辺のそれぞれの長さおよび傾きを距離と角度とし
て算出する工程と、（ｅ）工程（ｂ）〜（ｄ）を繰り返して、複数組の第１
の線分と参照点との距離と角度または、第３の点と第４
の点との距離と角度を算出する工程と、（ｆ）前記複数組の第１の線分と参照点との距離と角度
または、第３の点と第４の点との距離と角度を用いて、
アフィン変換により検定すべきパラメータを算出する工
程と、（ｇ）前記アフィン変換を行う前と、行った後のデータ
の誤差を算出する工程と、を具備し、前記工程（ｆ）は、変位量のアフィン変換のパラメータ
（ｘ _ｉ，ｙ _ｉ）を、アフィン変換パラメータＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、前記
参照点または前記第４の点の座標（Ｘ _ｉ，Ｙ _ｉ）を用い
てｘ _ｉ＝ＡＸ _ｉ＋ＢＹ _ｉ＋Ｃｙ _ｉ＝ＤＸ _ｉ＋ＥＹ _ｉ＋Ｆと表し、前記距離Ｌ _ｉ、前記角度θ _ｉを用いて表され、
前記肯定（ｇ）によって求められる各誤差ｌ _ｉｌ _ｉ＝Ｌ _ｉ −ｃｏｓθ _ｉ（ＡＸ _ｉ＋ＢＹ _ｉ＋Ｃ） −ｓｉｎθ _ｉ（ＤＸ _ｉ＋ＥＹ _ｉ＋Ｆ）の２乗和を最小にするように各パラメータを求めること
を特徴とする地図データベース検定方法。
【請求項１５】デジタイザと、ディスプレイと、記憶
装置とを備えたシステムにおいて、（ａ）前記記憶装置に記憶された前記第１の地図を前記
ディスプレイ上に表示させる工程と、（ｂ）前記ディスプレイ上の第１の線分または第３の点
を指定する工程と、（ｃ）前記デジタイザ上に貼りつけられており、前記第
１の地図に対応する部分を有する第２の地図上の前記第
１の線分に対応する第２の線分上の点または、前記第３
の点に対応する第４の点を指定する工程と、（ｄ）前記点に対応する前記第１の地図上の参照点と、
前記第１の線分との距離と角度を、前記参照点から前記
第１の線分におろされた垂線の長さを距離とし、前記垂
線の水平軸に対する傾きを角度として算出し、または前
記第３の点と前記第４の点を対角線とする矩形の長辺お
よび短辺のそれぞれの長さおよび傾きを距離と角度とし
て算出する工程と、（ｅ）工程（ｂ）〜（ｄ）を繰り返して、複数組の第１
の線分と参照点との距離と角度または、第３の点と第４
の点との距離と角度を算出する工程と、（ｆ）前記複数組の第１の線分と参照点との距離と角度
または、第３の点と第４の点との距離と角度を用いて、
アフィン変換により検定すべきパラメータを算出する工
程と、（ｇ）前記アフィン変換を行う前と、行った後のデータ
の誤差を算出する工程と、を具備し、前記工程（ｆ）は、変位量のアフィン変換のパラメータ
（ｘ _ｉ，ｙ _ｉ）を、偏平に関する影響係数Ａ、Ｘ方向の移動の影響係数Ｃ、
Ｙ方向の移動の影響係数Ｄ、前記参照点または前記第４
の点の座標（Ｘ _ｉ，Ｙ _ｉ）を用いてｘ _ｉ＝（Ａ／２）Ｙ _ｉ＋Ｃｙ _ｉ＝（Ａ／２）Ｘ _ｉ＋Ｄと表し、前記距離Ｌ _ｉ、前記角度θ _ｉを用いて表され、
前記肯定（ｇ）によって求められる各誤差ｌ _ｉｌ _ｉ＝Ｌ _ｉ −ｃｏｓθ _ｉ［（Ａ／２）Ｙ _ｉ＋Ｃ］ −ｓｉｎθ _ｉ［（Ａ／２）Ｘ _ｉ＋Ｄ］の２乗和を最小にするように各パラメータ及び各影響係
数を求めることを特徴とする地図データベース検定方
法。
【請求項１６】デジタイザと、ディスプレイと、記憶
装置とを備えたシステムにおいて、（ａ）前記記憶装置に記憶された前記第１の地図を前記
ディスプレイ上に表示させる工程と、（ｂ）前記ディスプレイ上の第１の線分または第３の点
を指定する工程と、（ｃ）前記デジタイザ上に貼りつけられており、前記第
１の地図に対応する部分を有する第２の地図上の前記第
１の線分に対応する第２の線分上の点または、前記第３
の点に対応する第４の点を指定する工程と、（ｄ）前記点に対応する前記第１の地図上の参照点と、
前記第１の線分との距離と角度を、前記参照点から前記
第１の線分におろされた垂線の長さを距離とし、前記垂
線の水平軸に対する傾きを角度として算出し、または前
記第３の点と前記第４の点を対角線とする矩形の長辺お
よび短辺のそれぞれの長さおよび傾きを距離と角度とし
て算出する工程と、（ｅ）工程（ｂ）〜（ｄ）を繰り返して、複数組の第１
の線分と参照点との距離と角度または、第３の点と第４
の点との距離と角度を算出する工程と、（ｆ）前記複数組の第１の線分と参照点との距離と角度
または、第３の点と第４の点との距離と角度を用いて、
アフィン変換により検定すべきパラメータを算出する工
程と、（ｇ）前記アフィン変換を行う前と、行った後のデータ
の誤差を算出する工程と、を具備し、前記工程（ｆ）は、変位量のアフィン変換のパラメータ
（ｘ _ｉ，ｙ _ｉ）を、回転に関する影響係数Ｂ、Ｘ方向の
移動の影響係数Ｃ、Ｙ方向の移動の影響係数Ｄ、前記参
照点または第４の点の座標（Ｘ _ｉ，Ｙ _ｉ）を用いてｘ _ｉ＝ＢＹ _ｉ＋Ｃｙ _ｉ＝−ＢＸ _ｉ＋Ｄと表し、前記距離Ｌ _ｉ、前記角度θ _ｉを用いて表され、
前記肯定（ｇ）によって求められる各誤差ｌ _ｉｌ _ｉ＝Ｌ _ｉ −ｃｏｓθ _ｉ［ＢＹ _ｉ＋Ｃ］ −ｓｉｎθ _ｉ［−ＢＸ _ｉ＋Ｄ］の２乗和を最小にするように各パラメータ、各影響係数
及び回転中心座標を求めることを特徴とする地図データ
ベース検定方法。
【請求項１７】デジタイザと、ディスプレイと、記憶
装置とを備えたシステムにおいて、（ａ）前記記憶装置に記憶された前記第１の地図を前記
ディスプレイ上に表示させる工程と、（ｂ）前記ディスプレイ上の第１の線分または第３の点
を指定する工程と、（ｃ）前記デジタイザ上に貼りつけられており、前記第
１の地図に対応する部分を有する第２の地図上の前記第
１の線分に対応する第２の線分上の点または、前記第３
の点に対応する第４の点を指定する工程と、（ｄ）前記点に対応する前記第１の地図上の参照点と、
前記第１の線分との距離と角度を、前記参照点から前記
第１の線分におろされた垂線の長さを距離とし、前記垂
線の水平軸に対する傾きを角度として算出し、または前
記第３の点と前記第４の点を対角線とする矩形の長辺お
よび短辺のそれぞれの長さおよび傾きを距離と角度とし
て算出する工程と、（ｅ）工程（ｂ）〜（ｄ）を繰り返して、複数組の第１
の線分と参照点との距離と角度または、第３の点と第４
の点との距離と角度を算出する工程と、（ｆ）前記複数組の第１の線分と参照点との距離と角度
または、第３の点と第４の点との距離と角度を用いて、
アフィン変換により検定すべきパラメータを算出する工
程と、（ｇ）前記アフィン変換を行う前と、行った後のデータ
の誤差を算出する工程と、を具備し、前記工程（ｆ）は、変位量のアフィン変換のパラメータ
（ｘ _ｉ，ｙ _ｉ）を、Ｘ方向の移動の影響係数Ｃ、Ｙ方向
の移動の影響係数Ｄを用いてｘ _ｉ＝Ｃｙ _ｉ＝Ｄと表し、前記距離Ｌ _ｉ、前記角度θ _ｉを用いて表され、
前記肯定（ｇ）によって求められる各誤差ｌ _ｉｌ _ｉ＝Ｌ _ｉ −Ｃ・ｃｏｓθ _ｉ −Ｄｓｉｎθ _ｉの２乗和を最小にするように各パラメータ及び各影響係
数を求めることを特徴とする地図データベース検定方
法。
【請求項１８】デジタイザと、ディスプレイと、記憶
装置とを備えたシステムにおいて、（ａ）前記記憶装置に記憶された前記第１の地図を前記
ディスプレイ上に表示させる工程と、（ｂ）前記ディスプレイ上の第１の線分または第３の点
を指定する工程と、（ｃ）前記デジタイザ上に貼りつけられており、前記第
１の地図に対応する部分を有する第２の地図上の前記第
１の線分に対応する第２の線分上の点または、前記第３
の点に対応する第４の点を指定する工程と、（ｄ）前記点に対応する前記第１の地図上の参照点と、
前記第１の線分との距離と角度を、前記参照点から前記
第１の線分におろされた垂線の長さを距離とし、前記垂
線の水平軸に対する傾きを角度として算出し、または前
記第３の点と前記第４の点を対角線とする矩形の長辺お
よび短辺のそれぞれの長さおよび傾きを距離と角度とし
て算出する工程と、（ｅ）工程（ｂ）〜（ｄ）を繰り返して、複数組の第１
の線分と参照点との距離と角度または、第３の点と第４
の点との距離と角度を算出する工程と、（ｆ）前記複数組の第１の線分と参照点との距離と角度
または、第３の点と第４の点との距離と角度を用いて、
アフィン変換により検定すべきパラメータを算出する工
程と、（ｇ）前記アフィン変換を行う前と、行った後のデータ
の誤差を算出する工程と、を具備し、前記工程（ｆ）は、変位量のアフィン変換のパラメータ
（ｘ _ｉ，ｙ _ｉ）を、Ｘ方向の伸縮影響係数Ａ、Ｙ方向の伸縮影響係数Ｂ、Ｘ
方向の移動の影響係数Ｃ、Ｙ方向の移動の影響係数Ｄ、
前記参照点または第４の点の座標（Ｘ _ｉ，Ｙ _ｉ）を用い
てｘ _ｉ＝ＡＸ _ｉ＋Ｃｙ _ｉ＝ＢＹ _ｉ＋Ｄと表し、前記距離Ｌ _ｉ、前記角度θ _ｉを用いて表され、
前記肯定（ｇ）によって求められる各誤差ｌ _ｉｌ _ｉ＝Ｌ _ｉ −ｃｏｓθ _ｉ［ＡＸ _ｉ＋Ｃ］ −ｓｉｎθ _ｉ［ＢＹ _ｉ＋Ｄ］の２乗和を最小にするように各パラメータ及び各影響係
数を求めることを特徴とする地図データベース検定方
法。
【請求項１９】前記工程（ｆ）は、距離が標準偏差か
ら大きくずれた組の距離と角度を除外して、アフィン変
換を行うことを特徴とする請求項１から請求項１８まで
のいずれかに記載された地図データベース検定方法。
【請求項２０】前記工程（ｆ）は、指定された線の種
類に対して重みづけを行ってアフィン変換を行うことを
特徴とする請求項１から請求項１８までのいずれかに記
載された地図データベース検定方法。