JP3391948B2 - レーザ装置及びそれを用いたレーザ画像記録装置 - Google Patents

レーザ装置及びそれを用いたレーザ画像記録装置

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JP3391948B2
JP3391948B2 JP22248895A JP22248895A JP3391948B2 JP 3391948 B2 JP3391948 B2 JP 3391948B2 JP 22248895 A JP22248895 A JP 22248895A JP 22248895 A JP22248895 A JP 22248895A JP 3391948 B2 JP3391948 B2 JP 3391948B2
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達也 山崎
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は対象物上にレーザビ
ーム(レーザ光)を所望のスポットサイズ及びスポット
形状に結像するレーザ装置及びそれを用いたレーザ画像
記録装置に関し、特に光源として半導体レーザを使用し
記録媒体(感光体)面上に多値画像を記録するようにし
たものである。
【0002】
【従来の技術】図10は従来のレーザ画像記録装置の要
部概略図である。
【0003】同図において101は光源手段である半導
体レーザ(Laser Diode 、以後「LD」とも言う。)、
102はコリメータレンズ、103はレーザビームを分
割するビームスプリッタ、130は集光レンズ、104
は光量検出器であるフォトダイオード、105は所定方
位角の偏光成分だけを透過させる偏光ビームスプリッタ
(Polarized Beam Splitter 、以後「PBS」とも言
う。)、106は光偏向器であるポリゴンミラー(回転
多面鏡)、107はfθ特性を有する走査レンズ、13
1は反射ミラー、108は副走査モータ、109は記録
媒体である銀塩フィルムである。
【0004】同図においてLD101はLD変調手段
(不図示)によって画像信号に応じて強度変調されたレ
ーザビームLを発振する。拡散光であるレーザビームL
はコリメータレンズ102によって略平行光に変換さ
れ、ビームスプリッタ103において2方向に分割され
る。分割された一方のレーザビームL2はLD101か
ら発振したレーザパワー(レーザビームの光量)を検出
するために集光レンズ130で集光されてフォトダイオ
ード104に導かれる。もう一方のレーザビームL1は
PBS105に導かれ、さらにポリゴンミラー106の
反射面(偏向面)106aで偏向反射され、走査レンズ
107によって反射ミラー131を介して銀塩フィルム
109面上に微小なレーザスポット状に結像される。そ
してポリゴンミラー106の回転によってレーザビーム
L1が銀塩フィルム109面上を走査する。この走査を
主走査、この走査がなされる方向を主走査方向と呼ぶ。
そして銀塩フィルム109は副走査モータ108によっ
て主走査方向と略直交する方向(副走査方向)に搬送さ
れ、これによってレーザビームL1が銀塩フィルム10
9面上を実質的に2次元走査し画像を描画する。
【0005】ここでレーザビームL1は偏光比が約10
0:1の直線偏光であり、かつPBS105は光軸廻り
に回転可能なので、PBS105の透過率は回転角に応
じて変化するためフィルム感度に適したレーザパワーを
得ることができる。
【0006】この種のレーザ画像記録装置の光源には一
般にLDが多く使用されているが、このLDの種類によ
っては結像されるスポットにサイドローブが発生する為
に画質が低下するという問題点がある。
【0007】ここでサイドローブの生じたスポット形状
を図11に実線111で示す。特に最近開発されてきた
赤色半導体レーザはサイドローブを発生しやすいので、
該赤色半導体レーザを使用し銀塩フィルムに多値画像を
記録するレーザプリンタにおいては、このサイドローブ
が著しく画質を悪化させることがある。本出願人による
実験では銀塩フィルムに記録する場合は、中心強度に対
し強度0.7%以上のサイドローブは視認されることが
明らかになっている。同様に感光ドラムを使用するレー
ザビームプリンタ(LBP)においても顕著なサイドロ
ーブは画質低下の要因となる。
【0008】サイドローブが発生する原因の一つとし
て、コリメータレンズやその他の光学素子のアパーチャ
(制限開口)がLDから発振する略ガウシアン分布のレ
ーザビームを制限し回折現象を引き起こすことが挙げら
れる。回折現象とサイドローブの発生に関してはM.Born
and E.Wolf,Principles of Optics,2nd ed.(Macmilla
n,New York,1964) に、特にガウシアン分布のレーザビ
ームの回折現象と結像スポット形状に関してはA.S.Chai
and H.J.Wertz, “The digital computation of the f
ar-field radiation pattern of a truncated Gaussian
aperture distribution, " IEEE Trans.Antennas Prop
ag.(1965) 、R.G.Schell and G.Tyras, “Irradiance f
rom an aperture with a truncated Gaussian field di
stribution,”J.Opt.Soc.Am.61(1971) 、早見良定「光
機器の光学2」社団法人日本オプトメカトロニクス協会
(1989)等に記載されている。
【0009】またサイドローブが発生する他の原因とし
て、LDチップを保持するヒートシンクによってレーザ
ビームが制限されることが挙げられる。この現象につい
てはM.Imai and T.P.Tanaka,“The effect of spatial
filtering on non-linear distortions of laser diode
s,”Optical and Quantum Electronics 20(Chapman and
Hall Ltd.1988) 等に記載されている。
【0010】さらにサイドローブが発生する他の原因と
して、LDのマルチモード発振、特に基本モード(TE
00モード)以外の発振、及びレンズの収差等が挙げら
れる。
【0011】これらの原因で発生したサイドローブを除
去し、図11に点線112で示した略ガウシアン分布の
良好なるスポット形状を最終結像面上で得る方法として
は、空間フィルタ処理が挙げられる。
【0012】この空間フィルタ処理は大別すると2種類
あり、一つは瞳面にソフトアパーチャと呼ばれる透過率
が半径方向に漸減するフィルタを設けるアポディゼーシ
ョンと呼ばれる方法であり、もう一つは最終結像面と共
役な他の結像位置にピンホールを設けてピンホールを通
過する低次の回折光だけを選択する空間フィルタリング
と呼ばれる方法である。空間フィルタリングを行うピン
ホールを単に空間フィルタと呼ぶことがある。
【0013】図12は、この空間フィルタリングを実施
する光学系の要部概略図である。同図においては正のレ
ンズ121と正のレンズ123とより成るビームエキス
パンダ137を用いて空間フィルタリングを行ない、ピ
ンホール128を通過する低次の回折光だけを選択して
いる。
【0014】この空間フィルタリングは「光学技術ハン
ドブック増補版」p211-212(朝倉書店,1975 )に述べら
れているようにマルチモードレーザのモード選択にも有
効である。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】空間フィルタ処理とし
てのソフトアパーチャは高価であり、かつ小径のソフト
アパーチャを精度良く製作するのは困難なことから、現
在ではアポディゼーションは多量生産する産業機器には
ほとんど使用されていない。
【0016】また空間フィルタリングはピンホールとレ
ーザスポットのアライメントが困難であるために実用化
が難しい。更に空間フィルタリングでは光軸に垂直な面
内においてピンホールを結像した微小な通常数100μ
m以下のレーザスポットと正確にアライメントさせる必
要がある。もしアライメントに誤差が生じるとピンホー
ルがレーザスポットを遮るために著しい光量の損失が生
じ、かつ得られる最終結像面上のレーザスポット形状も
変形し画質が悪化する。
【0017】また同じくピンホールがレーザスポットを
遮るとピンホールと共役な最終結像面上にはピンホール
像が投影されることになる。ピンホールより下流の光学
系のNAが小さい、または収差が大きい場合には、ピン
ホール像には除去しようとするサイドローブより強度の
強い著しい輪郭が発生し、逆に画質を悪化させることが
ある。
【0018】またLDのスポットサイズは個体差が大き
いので、固定された大きさのピンホールでは低次の回折
光や低次のモードのみを選択することが難しくなる場合
がある。さらにピンホールは光軸方向、すなわちフォー
カス方向にも正確にアライメントさせる必要がある。も
しアライメントに誤差が生じるとピンホールは低次の回
折光や低次のモードのみを選択することが困難になる。
【0019】さらに図12に示したように空間フィルタ
リングを行うにはビームエキスパンダ137が必要にな
るため、該ビームエキスパンダ137を配置するスペー
スが必要になる。もしスペースを節約するために正のレ
ンズ121及びレンズ123の焦点距離を短くすると、
該2つのレンズ121,123が発生する収差が無視で
きないほど大きくなり、結像性能を悪化させるという問
題点が生じてくる。
【0020】本発明は結像面近傍に配置した1次元スリ
ットより成る1次元空間フィルタにより半導体レーザ
(LD)から発振するビーム形状が楕円形のレーザビー
ムの長軸方向の光束を制限することにより、アライメン
トが容易で、かつ結像位置でサイドローブを生じさせな
い、画質に優れるレーザ装置及びそれを用いたレーザ画
像記録装置の提供を目的とする。
【0021】請求項1の発明のレーザ装置は遠視野像が
略楕円ガウシアン分布を呈するレーザビームを発振する
光源手段と、該遠視野像を制限する制限開口手段と、該
制限開口手段を通過するレーザビームを結像面に結像さ
せスポットを形成する結像手段と、該結像面近傍に設け
られ、該遠視野像の長軸方向のサイドローブを除去する
1次元空間フィルタとを有しており、前記制限開口手段
の制限開口径は、前記スポットの中心強度を100%と
したとき、前記遠視野像の短軸方向に強度0%以上で、
かつ1%未満のサイドローブを与え、前記遠視野像の長
軸方向に強度0.5%以上で、かつ40%以下のサイド
ローブを与える大きさであることを特徴としている。
求項2の発明のレーザ装置は遠視野像が略楕円ガウシア
ン分布を呈するレーザビームを発振する光源手段と、該
遠視野像を制限する制限開口手段と、該制限開口手段を
通過するレーザビームを結像面に結像させスポットを形
成する結像手段と、該結像面近傍に設けられ、該遠視野
像の長軸方向のサイドローブを除去する1次元空間フィ
ルタとを有しており、前記遠視野像の短軸方向の前記制
限開口手段の制限開口径は、該制限開口位置における短
軸方向の該遠視野像の1/e 2 径の1倍以上で、かつ1
0倍以下であり、前記遠視野像の長軸方向の前記制限開
口手段の制限開口径は、該制限開口位置における長軸方
向の該遠視野像の1/e 2 径の0.2倍以上で、かつ2
倍以下であることを特徴としている。 請求項3の発明の
レーザ装置は遠視野像が略楕円ガウシアン分布を呈する
レーザビームを発振する光源手段と、該遠視野像を制限
する制限開口手段と、該制限開口手段を通過するレーザ
ビームを結像面に結像させスポットを形成する結像手段
と、該結像面近傍に設けられ、該遠視野像の長軸方向の
サイドローブを除去する1次元空間フィルタとを有して
おり、前記1次元空間フィルタは複数の遮光部材を有
し、該複数の遮光部材は光軸方向に一体となって移動可
能であり、かつ該光軸方向と直交する面内においてはそ
れぞれ独立に移動可能であることを特徴としている。
求項4の発明のレーザ装置は遠視野像が略楕円ガウシア
ン分布を呈するレーザビームを発振する光源手段と、該
遠視野像を制限する制限開口手段と、該制限 開口手段を
通過するレーザビームを結像面に結像させスポットを形
成する結像手段と、該結像面近傍に設けられ、該遠視野
像の長軸方向のサイドローブを除去する1次元空間フィ
ルタと、該1次元空間フィルタを照明する照明手段と、
を有していることを特徴としている。請求項5の発明の
レーザ装置は遠視野像が略楕円ガウシアン分布を呈する
レーザビームを発振する光源手段と、該遠視野像を制限
する制限開口手段と、該制限開口手段を通過するレーザ
ビームを結像面に結像させスポットを形成する結像手段
と、該結像面近傍に設けられ、該遠視野像の長軸方向の
サイドローブを除去する1次元空間フィルタとを有して
おり、光路内の収束光束中に光束を分割する光束分割手
段を設けたことを特徴としている。
【0022】請求項6の発明は請求項1乃至5のいずれ
か1項の発明において光路内の収束光束中に前記光源手
段の非点隔差を補正する非点隔差補正手段を設けたこと
を特徴としている。請求項7の発明は請求項1乃至5の
いずれか1項の発明において少なくとも1つのアナモル
フィック光学素子を有していることを特徴としている。
【0023】請求項8の発明のレーザ画像記録装置は遠
視野像が略楕円ガウシアン分布を呈するレーザビームを
発振する光源手段と、該遠視野像を制限する制限開口手
段と、該制限開口手段を通過するレーザビームを1次結
像面に結像させスポットを形成する1次結像手段と、該
1次結像面近傍に設けられ、該遠視野像の長軸方向のサ
イドローブを除去する1次元空間フィルタと、該1次結
像面に結像された該レーザビームを変換するビーム変換
手段と、該変換されたレーザビームを最終結像面に結像
させ最終スポットを形成する最終結像手段とを有してお
り、前記制限開口手段の制限開口径は、前記スポットの
中心強度を100%としたとき、前記遠視野像の短軸方
向に強度0%以上で、かつ1%未満のサイドローブを与
え、該遠視野像の長軸方向に強度0.5%以上で、かつ
40%以下のサイドローブを与える大きさであることを
特徴としている。 請求項9の発明のレーザ画像記録装置
は遠視野像が略楕円ガウシアン分布を呈するレーザビー
ムを発振する光源手段と、該遠視野像を制限する制限開
口手段と、該制限開口手段を通過するレーザビームを1
次結像面に結像させスポットを形成する1次結像手段
と、該1次結像面近傍に設けられ、該遠視野像の長軸方
向のサイドローブを除去する1次元空間フィルタと、該
1次結像面に結像された該レーザビームを変換するビー
ム変換手段と、該変換されたレーザビームを最終結像面
に結像させ最終スポットを形成する最終結像手段とを有
しており、前記遠視野像の短軸方向の前記制限開口手段
の制限開口径は、該制限開口位置における短軸方向の該
遠視野像の1/e 2 径の1倍以上で、かつ10倍以下で
あり、前記遠視野像の長軸方向の前記制限開口手段の制
限開口径は、該制限開口位置における長軸方向の該遠視
野像の1/e 2 径の0.2倍以上で、かつ2倍以下であ
ることを特徴としている。 請求項10の発明のレーザ画
像記録装置は遠視野像が略楕円ガウシアン分布を呈する
レーザビームを発振する光源手段と、該遠視野像を制限
する制限開口手段と、該制限開口手段を通過するレーザ
ビームを1次結像面に結像させスポットを形成する1次
結像手段と、該1次結像面近傍に設けられ、該遠視野像
の長軸方向のサイドローブを除去する1次元空間フィル
タと、該1次結像面に結像された該 レーザビームを変換
するビーム変換手段と、該変換されたレーザビームを最
終結像面に結像させ最終スポットを形成する最終結像手
段とを有しており、前記1次元空間フィルタは複数の遮
光部材を有し、該複数の遮光部材は光軸方向に一体とな
って移動可能であり、かつ該光軸方向と直交する面内に
おいてはそれぞれ独立に移動可能であることを特徴とし
ている。 請求項11の発明のレーザ画像記録装置は遠視
野像が略楕円ガウシアン分布を呈するレーザビームを発
振する光源手段と、該遠視野像を制限する制限開口手段
と、該制限開口手段を通過するレーザビームを1次結像
面に結像させスポットを形成する1次結像手段と、該1
次結像面近傍に設けられ、該遠視野像の長軸方向のサイ
ドローブを除去する1次元空間フィルタと、該1次結像
面に結像された該レーザビームを変換するビーム変換手
段と、該変換されたレーザビームを最終結像面に結像さ
せ最終スポットを形成する最終結像手段とを有してお
り、光路内に所定方位角の偏向成分のみを透過させる光
量制限手段を設けたことを特徴としている。 請求項12
の発明のレーザ画像記録装置は遠視野像が略楕円ガウシ
アン分布を呈するレーザビームを発振する光源手段と、
該遠視野像を制限する制限開口手段と、該制限開口手段
を通過するレーザビームを1次結像面に結像させスポッ
トを形成する1次結像手段と、該1次結像面近傍に設け
られ、該遠視野像の長軸方向のサイドローブを除去する
1次元空間フィルタと、該1次結像面に結像された該レ
ーザビームを変換するビーム変換手段と、該変換された
レーザビームを最終結像面に結像させ最終スポットを形
成する最終結像手段とを有しており、前記1次元空間フ
ィルタより下流の位置に可動部分を有する光学素子を設
けたことを特徴としている。 請求項13の発明のレーザ
画像記録装置は遠視野像が略楕円ガウシアン分布を呈す
るレーザビームを発振する光源手段と、該遠視野像を制
限する制限開口手段と、該制限開口手段を通過するレー
ザビームを1次結像面に結像させスポットを形成する1
次結像手段と、該1次結像面近傍に設けられ、該遠視野
像の長軸方向のサイドローブを除去する1次元空間フィ
ルタと、該1次結像面に結像された該レーザビームを変
換するビーム変換手段と、該変換されたレーザビームを
最終結 像面に結像させ最終スポットを形成する最終結像
手段と、前記1次元空間フィルタを照明する照明手段
と、を有していること特徴としている。 請求項14の発
明のレーザ画像記録装置は遠視野像が略楕円ガウシアン
分布を呈するレーザビームを発振する光源手段と、該遠
視野像を制限する制限開口手段と、該制限開口手段を通
過するレーザビームを1次結像面に結像させスポットを
形成する1次結像手段と、該1次結像面近傍に設けら
れ、該遠視野像の長軸方向のサイドローブを除去する1
次元空間フィルタと、該1次結像面に結像された該レー
ザビームを変換するビーム変換手段と、該変換されたレ
ーザビームを最終結像面に結像させ最終スポットを形成
する最終結像手段とを有しており、光路内の収束光束中
に光束を分割する光束分割手段を設けたことを特徴とし
ている。 請求項15の発明のレーザ画像記録装置は遠視
野像が略楕円ガウシアン分布を呈するレーザビームを発
振する光源手段と、該遠視野像を制限する制限開口手段
と、該制限開口手段を通過するレーザビームを1次結像
面に結像させスポットを形成する1次結像手段と、該1
次結像面近傍に設けられ、該遠視野像の長軸方向のサイ
ドローブを除去する1次元空間フィルタと、該1次結像
面に結像された該レーザビームを変換するビーム変換手
段と、該変換されたレーザビームを最終結像面に結像さ
せ最終スポットを形成する最終結像手段とを有してお
り、前記1次結像面と共役な位置に前記レーザビームと
前記1次元空間フィルタが観察可能な観察手段を設けた
ことを特徴としている。
【0024】請求項16の発明は請求項8乃至15のい
ずれか1項の発明において光路内の収束光束中に、又は
発散光束中に前記光源手段の非点隔差を補正する非点隔
差補正手段を設けたことを特徴としている。請求項17
の発明は請求項8乃至15のいずれか1項の発明におい
て前記1次元空間フィルタより下流の光学素子の有効径
は、該光学素子におけるレーザビームのスポットサイズ
の2倍以上で、かつ10倍以下であることを特徴として
いる。 請求項18の発明は請求項8乃至15のいずれか
1項の発明において少なくとも1つのアナモルフィック
光学素子を有していることを特徴としている。請求項1
9の発明は請求項8乃至15のいずれか1項の発明にお
いて前記1次結像手段と、前記ビーム変換手段とでビー
ムエキスパンダを構成していることを特徴としている。
【0025】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施例1のレーザ
装置を用いたレーザ画像記録装置の要部概略図である。
【0026】同図において1は光源手段であり、半導体
レーザ(LD)より成っており、遠視野像(光強度分
布)が略楕円ガウシアン分布を呈するレーザビーム(レ
ーザ光)を発振している。2は制限開口手段であるNA
(開口数)が0.45のコリメーターレンズであり、遠
視野像を制限すると共にLD1から発振されたレーザビ
ームを平行光に変換している。
【0027】37はビームエキスパンダであり、1次結
像手段として作用する1次結像レンズ3とビーム変換手
段として作用する集光レンズ7の2つのレンズより成っ
ており、後述するようにビームエキスパンダ37内でサ
イドローブを除去している。10は照明手段としての着
脱可能なぼけレンズであり、後述する1次元スリット4
においてレーザビーム径が、該1次元スリット4全体を
照明できる大きさまでディフォーカスさせている。
【0028】4は1次元空間フィルタとしての1次元ス
リットであり、1次結像面5近傍に設けており、後述す
るようにLD1の遠視野像の長軸方向のサイドローブを
除去している。1次元スリット4は複数の遮光部材(ス
リット)4a,4bより成っており、該複数の遮光部材
4a,4bは光軸方向(フォーカス方向)に一体となっ
て移動可能であり、かつ該光軸方向と直交する面内にお
いて、それぞれ独立に移動可能となるように構成されて
いる。本実施例におけるスリット4の幅は47μmで設
定しており、幅方向をLD1から発振するビーム形状が
楕円形のレーザビームの長軸方向と一致させている。
【0029】5は1次結像面、6は光量制限手段として
の光軸廻りに回転可能な偏光ビームスプリッター(可動
光学素子)であり、所定方位角の偏光成分だけを透過さ
せている。8は最終結像手段としての最終結像レンズで
あり、集光レンズ7で平行光に変換されたレーザビーム
を最終結像面9に結像させ、最終スポットを形成してい
る。
【0030】本実施例においてLD1から発振したレー
ザビームはNA(開口数)0.45のコリメーターレン
ズ2で略平行光に変換される。ここでLD1の遠視野像
(Far Field Pattern ;以後「FFP」とも言う。)を
図2に示す。同図において実線21はレーザビームを発
生する活性層(コア)に対して垂直な方向のFFP、点
線22は活性層に対して平行な方向のFFPを表わす。
同図から明らかなようにLD1は活性層に垂直な方向に
長軸を有するビーム形状が楕円形の拡散レーザビームを
発振している。この拡散レーザビームの垂直方向の1/
2 径(ビーム径)は約±17°であり、これはNA
0.3に相当する。コリメーターレンズ2は前述の如く
NA0.45(±26.7°)であり、これは活性層に
対して水平方向のほぼ全範囲及び垂直方向の1/e2
(ビーム径)の1.5倍の範囲のFFPを取り込むこと
ができる。
【0031】そしてコリメーターレンズ2で平行光に変
換されたレーザビームは1次結像レンズ3によって1次
結像面5に結像され、スポットを形成する。1次結像面
5におけるスポットサイズは活性層に対して水平方向で
76μm、垂直方向で28μmである。
【0032】ここでスポットサイズとはスポット中心強
度の1/e2 強度となる直径を表わし、以後特別に断ら
ない限りスポットサイズはこの定義に従うものとする。
参考までに数学上はガウシアン分布では1/e2 径は半
値全幅の1.7倍である。
【0033】また1次結像面5のスポット形状は活性層
に対し水平方向が図11の点線112で示した略ガウシ
アン分布を示し、活性層に対し垂直方向が図11の実線
111で示したサイドローブを有し、該サイドローブの
高さはスポット中心強度の2%である。
【0034】ここで上記回折現象とサイドローブとの発
生に関する参考文献に記載されている計算式を用いてサ
イドローブの高さを計算すると0.1%以下になるの
で、活性層に対し垂直方向のサイドローブの発生原因は
コリメーターレンズ2のアパーチャの回折だけでなく、
レンズの収差及び基本モード(TEM00モード)以外の
高次モード発振も原因であると考えられる。
【0035】本実施例におけるスリット4の幅は前述の
如く42μmで設定しており、幅方向をLD1から発振
するビーム形状が楕円形のレーザビームの長軸方向と一
致させて設けている。本出願人の実験によると、図3に
示すスポット形状の説明図において最も内側の暗環(エ
アリディスク)幅w2はスポットサイズw1の1.4倍
から1.7倍であり、サイドローブの中心幅w3はスポ
ットサイズw1の1.7倍から2.5倍であった。従っ
て活性層に対し垂直方向のスポットサイズの1.5倍で
ある本実施例で設定したスリット4の幅42μmはスポ
ットの中心部のみを透過させサイドローブを遮断するの
に好適な幅であるといえる。
【0036】そしてスリット4でスポットの中心部のみ
を選択されたレーザビームはPBS6において用途に適
した強度に変換され、集光レンズ7で再び略平行光に変
換される。そして最後にレーザビームは最終結像レンズ
8により最終結像面9に集光され、サイドローブのない
スポットとなり描画等に利用される。
【0037】このように本実施例においては上述の如く
1次結像面5近傍に設けた1次元スリットより成る1次
元空間フィルタ4によりLD1が発振する楕円形のレー
ザビームの長軸方向の光束を効果的に制限することによ
り、最終結像面9でサイドローブを生じさせない良好な
るスポットを得ている。
【0038】次にスリット4のアライメントについて説
明する。本実施例では最終結像面9にCCDカメラを利
用した観察手段(不図示)を設けている。最終結像面9
は1次結像面5と光学的に共役であることから、観察手
段はスリット4の像とスポット形状とを常に観察するこ
とができる。
【0039】まずスリット4のフォーカス調整を行な
う。スリット4の幅を100μm程度に設定し、該スリ
ット像を観察手段で観察する。スリット幅を広めに設定
したのは初期のアライメント誤差でスリット4がレーザ
ビームを完全に遮断してしまうのを防ぐためである。ス
リット4はレーザビームが最も細くなる1次結像面5に
設けられているので、該レーザビームでスリット4全体
を照明することは難かしい。
【0040】そこで本実施例ではスリット4より上流の
位置に着脱自在なぼけレンズ10を挿入し、該ぼけレン
ズ10によりスリット4におけるレーザビーム径がスリ
ット4全体を照明できる大きさまでディフォーカスさせ
ている。この状態でスリット4の像を観察手段で観察し
ながらスリット4をフォーカス方向(光軸方向)に移動
させることで、該スリット4のフォーカス調整を行なっ
ている。スリット4の像が観察手段で合焦したときがス
リット4の正確なフォーカス方向の位置である。フォー
カス調整後には、ぼけレンズ10を光路外へ退避させ
る。
【0041】次にスリット4に対して光軸に垂直な面内
のアライメントを行なう。スリット4は前記面内におい
てレーザビームの長軸方向に独立に移動可能な2枚のス
リット4a,4bから成っており、該2枚のスリット4
a,4bを移動させることでアライメントとスリット幅
の調整を同時に行なうことができる。
【0042】この面内アライメントと上記のフォーカス
調整とは独立に実行可能な機構が設けられているので、
面内アライメントによってフォーカス調整に誤差が生じ
ることはない。また面内アライメントも前記観察手段に
よって常に観察することができるので、容易にかつ確実
にアライメントを行なうことができる。
【0043】またスリット4は1次元空間フィルタであ
るので、ピンホールや矩形のアパーチャ等、2次元空間
フィルタに比べてはるかにアライメントや開口幅の調整
が容易である。
【0044】そして最後にスリット4を固定し調整が終
了する。
【0045】尚、本実施例ではNA0.45のコリメー
ターレンズを使用しているが、これに限定されることは
なく、例えば空間フィルタとして1次元のスリットを使
用することでアライメントを正確に、かつ容易にするこ
とができれば、いかなるアパーチャ径(NA)であって
も本発明は前述の実施例1と同様に適用することができ
る。
【0046】即ち、楕円ガウシアン分布を呈する発散光
を発振する光源に対してアパーチャ径は、1次結像面に
おいてビーム形状が楕円形のレーザビームの長軸方向に
対してはサイドローブを発生させ、短軸方向に対しては
サイドローブを発生させない大きさであれば良い。
【0047】より具体的に示すとアパーチャ径は1次結
像面において、スポットの中心強度を100%としたと
き、FFPの短軸方向に強度0%以上で、かつ1%未満
のサイドローブを与え、該FFPの長軸方向に強度0.
5%以上で、かつ40%以内のサイドローブを与える大
きさである。
【0048】更にFFPの短軸方向のアパーチャ径は、
該アパーチャ位置における短軸方向のFFPの1/e2
径の1倍以上で、かつ10倍以内であり、またFFPの
長軸方向のアパーチャ径は、該アパーチャ位置における
長軸方向のFFPの1/e2径の0.2倍以上で、かつ
2倍以下の大きさである。
【0049】尚、アパーチャ形状は円形である必要はな
く、例えば楕円形や矩形であっても上記の範囲内であれ
ばどのような形状であっても良い。
【0050】本実施例では光量制限手段であるPBS6
をビームエキスパンダ37中に設けている。PBS6及
びPBS6を回転させる機構はスペースを必要とする
が、本実施例においては該PBS6をビームエキスパン
ダ37中に設けることにより、必要スペースの増大を最
小限に抑えている。
【0051】尚、本実施例においては光量制限手段とし
てPBSを用いたが、これに限らず、同様の効果を有す
る他の手段、例えばフィルタ等を用いても前述の実施例
1と同様な効果を得ることができる。
【0052】また本実施例では可動光学素子でもあるP
BS6を空間フィルタであるスリット4より下流の位置
に設けている。これは上述のように空間フィルタのアラ
イメントはμmオーダーの精度を必要とするので、もし
可動光学素子が空間フィルタより上流の位置に設けられ
ていると、該可動光学素子の動作によってレーザビーム
の光路が変化し、アライメントに誤差が生じる可能性が
あるからである。そこで本実施例においては懸かる問題
点を未然に防ぐ為にPBS6をスリット4より下流の位
置に設けている。
【0053】尚、本実施例においては可動光学素子とし
てPBSを用いたが、これに限らず、例えば音響光学変
調素子や切り替え式のフィルタ等、動作に伴なって光路
を変更する可能性のある全ての光学素子なら何を用いて
も良い。また可動光学素子を設ける場所は上述したビー
ムエキスパンダ中に限らず、この目的を達成する為に有
効な位置(但しスリットより下流の位置)であれば何処
に配置しても良い。
【0054】また本実施例においてはスリット4全体を
照明する手段として挿脱可能なぼけレンズを用いたが、
これに限らず、同様の効果を有する他の手段、例えば薄
紙やスリガラス等のような光透過性と光拡散性を有する
手段、あるいは光ファイバを利用したイルミネータ等の
照明手段を使用しても良い。但し、このときは光学系の
色収差を考慮して、照明に用いる光の波長はレーザビー
ムと同じ波長が望ましい。
【0055】また本実施例においてはスリット4より下
流の光学素子の有効径が、各光学素子におけるレーザビ
ームの1/e2 径の2倍以上となるように確保してい
る。その理由はサイドローブを除去したレーザビームが
下流の光学素子のアパーチャによる回折で再びサイドロ
ーブを生じさせない為である。またこの他の理由として
は、もしスリット4がレーザビームを微小に遮蔽したと
きに、最終結像面においてスリット像の強い輪郭を生じ
させない為である。
【0056】上記の回折に関する事項は前述した文献に
明示されているように、像の輪郭強度が結像光学系のN
Aの関数であり、該NAが大きくなると輪郭強度は減少
する。即ち最終結像面においてスリット像の輪郭を小さ
くして画質に与える影響をできるだけ小さくするにはN
Aが大きいほど望ましい。但し大きいNAに対しては十
分に収差が補正されていることが条件である。従ってス
リット4より下流の光学素子の有効径は、各光学素子に
おけるレーザビームの、特に長軸方向の1/e2 径の2
倍以上で、かつ10倍以下を確保するのが望ましい。
【0057】次にLD1から発振したレーザビームを略
平行光に変換するコリメーターレンズのアパーチャ径
(またはNA)の最適化について図4を用いて説明す
る。
【0058】図4は本発明の実施例2のレーザ装置を用
いたレーザ画像記録装置の要部概略図である。同図にお
いて図1に示した要素と同一に要素には同符番を付して
いる。
【0059】同図において40はビームエキスパンダで
あり、該ビームエキスパンダ40内でサイドローブを除
去している。42はシリンドリカルレンズであり、副走
査方向においてのみは所定の屈折力を有している。43
は光偏向器としてのポリゴンミラー(回転多面鏡)、4
4はポリゴンミラー43の反射面(偏向面)、45はf
θ特性を有するfθレンズ、46は最終スポット、47
は感光材料(例えば感光ドラム)である。
【0060】本実施例においてLD1から発振したレー
ザビームはNA0.45のコリメーターレンズ2で略平
行光に変換される。ここでLD1のFFPは主走査方向
に長軸、副走査方向に短軸を有する楕円ガウシアン分布
を呈する。そしてレーザビームはビームエキスパンダ4
0内で主走査方向のサイドローブが除去された後、シリ
ンドリカルレンズ42に導かれる。シリンドリカルレン
ズ42は副走査方向においてのみ所定の屈折力を有し、
ポリゴンミラー43の反射面44上にレーザビームを主
走査方向に長い線像に結像させる。ここで線像に結像す
る理由はfθレンズ45と共にポリゴンミラー43の反
射面44の面毎の倒れを補正する為である。そしてレー
ザビームはポリゴンミラー43の回転によって偏向反射
されfθレンズ45を介して感光材料47面上に最終ス
ポットとして結像され、該感光材料47面上を矢印A方
向に走査する。これにより画像記録が行なわれる。
【0061】ここでコリメーターレンズ2と、ビームエ
キスパンダ40を構成する1次結像レンズ3と集光レン
ズ7の焦点距離をそれぞれ順にf2,f3,f7、また
fθレンズ45の主走査方向の焦点距離をf45、また
LD1のFFPの長軸方向におけるLD1及び最終スポ
ットのスポットサイズをそれぞれw及びdとすると、こ
れらの変数には以下に示す関係がある。
【0062】 d=w×f45/(f2×M) ‥‥‥(1) M=f7/f3 ‥‥‥(2) =w×f45×f3/(f2×d) ‥‥‥(3) ここでMはビームエキスパンダ40の角倍率である。ま
たwはコリメーターレンズ2のNA及び以下に定義する
けられ係数に対して以下の関係がある。
【0063】 w=w(NA)=a/NA+b ‥‥‥(4) =w(t) =x/t+y ‥‥‥(5) a=0.4 ‥‥‥(6) b=0.5 ‥‥‥(7) x=1.3 ‥‥‥(8) y=1.7 ‥‥‥(9) t=Da/Dw=NA/0.3 ‥‥‥(10) 但し、(6)式から(9)式までは市販のLDに対する
測定値であり、適用範囲はNAが0.1から0.5まで
である。またtはここではけられ係数と呼び、コリメー
ターレンズ2のアパーチャ径Daと該アパーチャにおけ
るLD1のFFPの1/e2 径Dwの比で定義される。
このLD1のFFPの長軸方向の1/e2 径は約±17
°(NA0.3相当)であった。wとNAとtの関係を
図5に示す。またwは実測不可能であるが、(1),
(2)式及びdを測定することで間接的に求めたもので
ある。
【0064】次にポリゴンミラー43の反射面44にお
ける線像の主走査方向の幅φは以下のように表わされ
る。
【0065】 φ=2×NA×f2×M ‥‥‥(11) =2×NA×f45×w(NA)/d ‥‥‥(12) =2×f45×(a+b×NA)/d ‥‥‥(13) =2×f45×(x+y×t)/d ‥‥‥(14) ここでできるだけ小さいφを与える条件を考えると(1
1)式から単純にtが小さい方がφが小さくなるように
見えるが、(3)式から明らかなようにMはw、即ちt
の関数である為(11)式だけではこの結論は得られな
い。(14)式によって初めてfθレンズ45の焦点距
離f45と最終スポッサイズdが決められている場合、
tは小さい方がφを小さくすることが分かる。
【0066】一般に線像の主走査方向の幅φは小さい方
がポリゴンミラーを小型化できるために低コストであ
り、また小型のポリゴンミラーを使用するとfθレンズ
45で生じる副走査方向の像面湾曲も小さくできること
から有利である。従ってできるだけ小さいtが望ましい
と言える。特に図5より明らかなようにt=1以下(±
17°)になるとwが急速に大きくなり有利である。従
って線像の主走査方向の幅φが小さい利点を享受すべき
レーザ画像記録装置では、FFPの長軸方向のアパーチ
ャ径は該長軸方向のFFPの1/e2 径の1倍以下が望
ましい。
【0067】また、LD1とコリメーターレンズ2の焦
点深度はwの自乗に比例し、最終スポットの焦点深度は
dの自乗に比例するから、この点でもけられ係数tは小
さい方が有利である。
【0068】現在市販されているLDの短軸方向のFF
Pの1/e2 径はほとんど±10°以下であるから、も
し円形のアパーチャを用いた場合はt=1はこの方向に
サイドローブを生じさせない条件も十分に満たすことに
成る。
【0069】次に本発明の実施例3としてビームエキス
パンダ40が占めるスペースについて説明する。本実施
例におけるビームエキスパンダ40の長さ(全長)Lは
以下のように表わされる。
【0070】 L=f3+f7 ‥‥‥‥(15) =f3×(1+M) =f3×(1+f45×w(t)/(f2×d)) ‥‥‥‥(16) =f3×(1+f45×(x/t+y)/(f2×d))‥‥(17) 即ち、上式よりビームエキスパンダ40の長さLは、け
られ係数tが大きいほど短くなることがわかる。前記図
5によればt=1以上においてw(t)は十分に小さく
なり、当然長さLが短くなる。従ってスペースが制限さ
れるレーザ画像記録装置では、FFPの長軸方向のアパ
ーチャ径は該長軸方向のFFPの1/e2 径の1倍以上
が望ましい。
【0071】図6は本発明の実施例4のレーザ装置を用
いたレーザ画像記録装置の一部分の要部概略図である。
同図において図1に示した要素と同一要素には同符番を
付している。
【0072】同図において67はビームエキスパンダで
あり、アナモルフィック光学素子より成る1次結像手段
として作用するシリンドリカルレンズ61とビーム変換
手段として作用するシリンドリカルレンズ62の2つの
シリンドリカルレンズ61,62より構成している。こ
の2つのシリンドリカルレンズ61,62はLD1のF
FPの長軸方向にのみ所定の屈折力を有している。
【0073】本実施例におけるコリメーターレンズ2の
アパーチャ径はLD1のFFPの長軸方向にサイドロー
ブを生じさせるが、短軸方向にはサイドローブを生じさ
せない大きさである。即ち、短軸方向には何ら処理を必
要としないことがわかる。そこでアナモルフィック光学
素子より成るビームエキスパンダ67を用いることによ
っても本実施例では前述の各実施例と同様な効果を得る
ことができる。
【0074】更にビームエキスパンダ67の角倍率をL
D1のFFPの楕円率(=短軸径/長軸径)と略同等に
すれば、ビーム形状はほぼ円形で、かつ最終結像位置で
サイドローブを発生させない良質なるレーザビームを供
給することができるレーザ画像記録装置を得ることがで
きる。またこのレーザ画像記録装置はHe−Neレーザ
等、ビーム形状が円形のレーザビームを発振するガスレ
ーザ装置と容易に置き換わる互換性を有することにな
る。
【0075】図7は本発明の実施例5のレーザ装置を用
いたレーザ画像記録装置の一部分の要部概略図である。
同図において図1に示した要素と同一要素には同符番を
付している。
【0076】同図において71は光束分割手段としての
平行平面板より成るハーフミラーであり、ビームエキス
パンダ77の光路内の収束光束中に設けており、LD1
からのレーザビームの一部を光量検出器であるフォトダ
イオード72へ導いている。フォトダイオード72はL
D1の駆動電流の制御の為にレーザパワー(レーザビー
ムの光量)を検出している。
【0077】一般にLDは駆動電流に応じてレーザパワ
ーが変化する特性を有していると共に温度変動にも応じ
てレーザパワーが変化する。従って一定強度のレーザパ
ワーを必要とするレーザ装置においては、温度変動によ
るレーザパワーの変化を検出して駆動電流を変化させる
必要がある。
【0078】またレーザ画像記録装置においては画像信
号に応じてLDのレーザパワーを変調させる必要がある
が、この装置においてもレーザパワーの変化を検出して
駆動電流を変化させる必要がある。
【0079】そこで本実施例ではLD1から発振された
レーザビームを平行平面板(ハーフミラー)71により
分割して一部のレーザビームをフォトダイオード72に
導き、レーザパワーを検出し、該検出結果に基づいてレ
ーザパワーが常に一定の強度となるように光量調整手段
(不図示)により調整している。
【0080】従来のレーザパワーの検出方法は図10に
示したようにビームスプリッタ103でレーザビームを
分割した後に集光レンズ130でフォトダイオード10
4に集光させている。本実施例においてはビームエキス
パンダ77内の収束光束中に光束分割手段を設けたこと
により、フォトダイオード72にレーザビームを集光さ
せる為の集光レンズを不要としている。これにより必要
なスペースを低減させると共に低コスト化を図ってい
る。
【0081】尚、本実施例においては光束分割手段とし
て平行平面板(ハーフミラー)を用いたが、これに限ら
ず、例えばプリズム形状をしたビームスプリッタやくさ
びガラス等でも上記の実施例5と同様な効果を得ること
ができる。
【0082】また本実施例では上記とは別に光束分割手
段として平行平面板を使用する他の利点がある。その利
点とは平行平面板71がLD1の非点隔差を補正するこ
とである。一般にLDには三菱電機、三菱半導体データ
ブック、光半導体素子編で記載されているように非点隔
差が存在し、活性層に対して平行な方向と垂直な方向で
は見かけ上、発光点が異なる。
【0083】図8はこの非点隔差を説明するための説明
図である。そのため非点隔差の存在するLD1から発振
したレーザビームを集光すると前記2方向でそれぞれ焦
点が異なることになるので、例えば高精度のスポットサ
イズの制御を必要とするレーザ装置(及びレーザ画像記
録装置)では非点隔差を補正する必要がある。
【0084】そこで本実施例においては非点隔差を補正
する方法として、例えば前記図4、図6の実施例2,4
のようにシリンドリカルレンズを用いた装置では、該シ
リンドリカルレンズをフォーカス方向(光軸方向)に移
動させることで、該非点隔差を容易に補正することがで
きる。またシリンドリカルレンズを用いない本実施例の
ような装置においては、例えば特公平5−52071号
公報、特公平7−18983号公報そして特公平8−2
2219号公報等で提案されているように発散光束中ま
たは収束光束中に平行平面板を設けて、該平行平面板が
発生する非点収差を利用することにより該非点隔差を補
正することができる。尚、平行平面板が発生する非点収
差については久保田 広「光学」岩波書店(1964)に詳説
されている。
【0085】本実施例ではこのように平行平面板71が
発生する非点収差を利用して、該平行平面板71をビー
ムエキスパンダ77内の収束光束中(又は発散光束中)
に設けることにより、LD1の非点隔差を容易に補正し
ている。従って本実施例の平行平面板71は光束分割手
段及び非点隔差補正手段として機能することになる。こ
れにより本実施例においては非点隔差補正手段を別に設
けることなくLD1の非点隔差を補正することができる
ので、省スペースで、かつ低コストなレーザ装置及びそ
れをレーザ画像記録装置を得ることができる。
【0086】図9は本発明の実施例6のレーザ装置を用
いたレーザ画像記録装置の一部分の要部概略図である。
同図において図1に示した要素と同一要素には同符番を
付している。
【0087】同図において91は第1のシリンドリカル
レンズであり、LD1のFFPの長軸方向にのみ所定の
屈折力を有している。92は第2のシリンドリカルレン
ズであり、LD1のFFPの短軸方向にのみ所定の屈折
力を有している。尚第1のシリンドリカルレンズ91と
第2のシリンドリカルレンズ92はビーム変換手段とし
て作用する。
【0088】本実施例においては第1のシリンドリカル
レンズ91と第2のシリンドリカルレンズ92とがそれ
ぞれ独立に焦点距離を設定することができ、かつフォー
カスも独立に調整することができるので、所望のビーム
形状のレーザビームを容易に取り出すことができる。例
えば第1のシリンドリカルレンズ91と第2のシリンド
リカルレンズ92との焦点距離の比をLD1のFFPの
楕円率と同じにすれば、ビーム形状が円形のレーザビー
ムを取り出すことができる。またLD1に非点隔差があ
っても第1のシリンドリカルレンズ91と第2のシリン
ドリカルレンズ92とを用いて相対的なフォーカス調整
を行なうことにより容易に補正することができる。
【0089】尚、本実施例ではLD1側から順に1次結
像レンズ3、空間フィルタ4、第1のシリンドリカルレ
ンズ91そして第2のシリンドリカルレンズ92を配置
したが、逆に第2のシリンドリカルレンズ92、第1の
シリンドリカルレンズ91、空間フィルタ4そして1次
結像レンズ3の順に配置しても上記の実施例6と同様な
効果を得ることができる。この場合は第2のシリンドリ
カルレンズ92と第1のシリンドリカルレンズ91とが
1次結像手段として作用し、1次結像レンズ3がビーム
変換手段として作用する。
【0090】
【発明の効果】本発明によれば前述の如く1次結像面近
傍に配置した1次元スリットより成る1次元空間フィル
タにより半導体レーザ(LD)から発振するビーム形状
が楕円形のレーザビームの長軸方向の光束を効果的に制
限することにより、以下に示す効果を得ることができる
レーザ装置及びそれを用いたレーザ画像記録装置を達成
することができる。
【0091】1次元スリットの幅を可変にすることに
より、LDのスポットサイズの個体差に関わらず結像位
置でサイドローブを発生させない。 空間フィルタリングを行なうビームエキスパンダ中に
光量制限手段を設けることにより、省スペースでかつ結
像位置でサイドローブを発生させない。 可動部分を有する光学素子を空間フィルタより下流の
位置に設けることにより、アライメントに優れ、かつ結
像位置でサイドローブを発生させない。 空間フィルタを照明する照明手段を設けることによ
り、アライメントに優れ、かつ結像位置でサイドローブ
を発生させない。 コリメーターレンズのNAとビームエキスパンダの角
倍率を最適化にすることにより、瞳面において光束幅の
狭い、あるいはビームエキスパンダ全長を短く、かつ結
像位置でサイドローブを発生させない。 空間フィルタリングを行なうビームエキスパンダを、
LDの遠視野像の長軸方向にのみ屈折力を有するアナモ
ルフィック光学素子(シリンドリカルレンズ)で構成す
ることにより、ビーム形状が略円形で、かつ結像位置で
サイドローブを発生させない。 空間フィルタリングを行なうビームエキスパンダ中に
光束分割手段を設けることにより、省スペースで低コス
ト、かつ結像位置でサイドローブを発生させない。 空間フィルタリングを行なうビームエキスパンダ中に
非点隔差補正手段を設けることにより、結像性能に優
れ、かつ結像位置でサイドローブを発生させない。 空間フィルタより下流の光学素子の有効径をレーザビ
ームの1/e2 径の少なくとも2倍を確保することによ
り、結像性能に優れ、かつ結像位置でサイドローブを発
生させない。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施例1の要部概略図
【図2】 半導体レーザの遠視野像を説明する説明図
【図3】 サイドローブが発生したスポット形状を説明
する説明図
【図4】 本発明の実施例2の要部概略図
【図5】 半導体レーザのスポットサイズと制限開口と
の関係を説明する説明図
【図6】 本発明の実施例4の要部概略図
【図7】 本発明の実施例5の要部概略図
【図8】 半導体レーザの非点隔差を説明する説明図
【図9】 本発明の実施例6の要部概略図
【図10】 従来のレーザ画像記録装置の要部概略図
【図11】 スポット形状を説明する説明図
【図12】 従来のサイドローブを除去する光学系の要
部概略図
【符号の説明】
1 光源手段(半導体レーザ) 2 制限開口手段(コリメーターレンズ) 3 1次結像手段 4 1次元空間フィルタ(1次元スリット) 5 1次結像面 6 光量制限手段(可動光学素子) 7 ビーム変換手段(集光レンズ) 8 最終結像手段 9 最終結像面 10 照明手段(ぼけレンズ) 37,40,67,77 ビームエキスパンダ 42 シリンドリカルレンズ 43 光偏向器 45 fθレンズ 46 最終スポット 47 感光材料 61,62 アナモルフィック光学素子 71 光束分割手段 72 光量検出器 91,92 アナモルフィック光学素子
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−136018(JP,A) 特開 平6−208068(JP,A) 特公 平5−52071(JP,B2) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02B 27/09

Claims (19)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 遠視野像が略楕円ガウシアン分布を呈す
    るレーザビームを発振する光源手段と、該遠視野像を制
    限する制限開口手段と、該制限開口手段を通過するレー
    ザビームを結像面に結像させスポットを形成する結像手
    段と、該結像面近傍に設けられ、該遠視野像の長軸方向
    のサイドローブを除去する1次元空間フィルタとを有し
    ており、前記制限開口手段の制限開口径は、前記スポッ
    トの中心強度を100%としたとき、前記遠視野像の短
    軸方向に強度0%以上で、かつ1%未満のサイドローブ
    を与え、前記遠視野像の長軸方向に強度0.5%以上
    で、かつ40%以下のサイドローブを与える大きさであ
    ことを特徴とするレーザ装置。
  2. 【請求項2】 遠視野像が略楕円ガウシアン分布を呈す
    るレーザビームを発振する光源手段と、該遠視野像を制
    限する制限開口手段と、該制限開口手段を通過するレー
    ザビームを結像面に結像させスポットを形成する結像手
    段と、該結像面近傍に設けられ、該遠視野像の長軸方向
    のサイドローブを除去する1次元空間フィルタとを有し
    ており、前記遠視野像の短軸方向の前記制限開口手段の
    制限開口径は、該制限開口位置における短軸方向の該遠
    視野像の1/e2 径の1倍以上で、かつ10倍以下であ
    り、前記遠視野像の長軸方向の前記制限開口手段の制限
    開口径は、該制限開口位置における長軸方向の該遠視野
    像の1/e2 径の0.2倍以上で、かつ2倍以下である
    ことを特徴とするレーザ装置
  3. 【請求項3】 遠視野像が略楕円ガウシアン分布を呈す
    るレーザビームを発振する光源手段と、該遠視野像を制
    限する制限開口手段と、該制限開口手段を通過するレー
    ザビームを結像面に結像させスポットを形成する結像手
    段と、該結像面近傍に設けられ、該遠視野像の長軸方向
    のサイドローブを除去する1次元空間フィルタとを有し
    ており、前記1次元空間フィルタは複数の遮光部材を有
    し、該複数の遮光部材は光軸方向に一体となって移動可
    能であり、かつ該光軸方向と直交する面内においてはそ
    れぞれ独立に移動可能であることを特徴とするレーザ装
  4. 【請求項4】 遠視野像が略楕円ガウシアン分布を呈す
    るレーザビームを発振する光源手段と、該遠視野像を制
    限する制限開口手段と、該制限開口手段を通 過するレー
    ザビームを結像面に結像させスポットを形成する結像手
    段と、該結像面近傍に設けられ、該遠視野像の長軸方向
    のサイドローブを除去する1次元空間フィルタと、該1
    次元空間フィルタを照明する照明手段と、を有している
    ことを特徴とするレーザ装置
  5. 【請求項5】 遠視野像が略楕円ガウシアン分布を呈す
    るレーザビームを発振する光源手段と、該遠視野像を制
    限する制限開口手段と、該制限開口手段を通過するレー
    ザビームを結像面に結像させスポットを形成する結像手
    段と、該結像面近傍に設けられ、該遠視野像の長軸方向
    のサイドローブを除去する1次元空間フィルタとを有し
    ており、光路内の収束光束中に光束を分割する光束分割
    手段を設けたことを特徴とするレーザ装置
  6. 【請求項6】 光路内の収束光束中に前記光源手段の非
    点隔差を補正する非点隔差補正手段を設けたことを特徴
    とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載のレーザ装
    置。
  7. 【請求項7】 少なくとも1つのアナモルフィック光学
    素子を有していることを特徴とする請求項1乃至5のい
    ずれか一項に記載のレーザ装置。
  8. 【請求項8】 遠視野像が略楕円ガウシアン分布を呈す
    るレーザビームを発振する光源手段と、該遠視野像を制
    限する制限開口手段と、該制限開口手段を通過するレー
    ザビームを1次結像面に結像させスポットを形成する1
    次結像手段と、該1次結像面近傍に設けられ、該遠視野
    像の長軸方向のサイドローブを除去する1次元空間フィ
    ルタと、該1次結像面に結像された該レーザビームを変
    換するビーム変換手段と、該変換されたレーザビームを
    最終結像面に結像させ最終スポットを形成する最終結像
    手段とを有しており、前記制限開口手段の制限開口径
    は、前記スポットの中心強度を100%としたとき、前
    記遠視野像の短軸方向に強度0%以上で、かつ1%未満
    のサイドローブを与え、該遠視野像の長軸方向に強度
    0.5%以上で、かつ40%以下のサイドローブを与え
    る大きさであることを特徴とするレーザ画像記録装置。
  9. 【請求項9】 遠視野像が略楕円ガウシアン分布を呈す
    るレーザビームを発振する光源手段と、該遠視野像を制
    限する制限開口手段と、該制限開口手段を通過するレー
    ザビームを1次結像面に結像させスポットを形成する1
    次結像手段と 、該1次結像面近傍に設けられ、該遠視野
    像の長軸方向のサイドローブを除去する1次元空間フィ
    ルタと、該1次結像面に結像された該レーザビームを変
    換するビーム変換手段と、該変換されたレーザビームを
    最終結像面に結像させ最終スポットを形成する最終結像
    手段とを有しており、前記遠視野像の短軸方向の前記制
    限開口手段の制限開口径は、該制限開口位置における短
    軸方向の該遠視野像の1/e2 径の1倍以上で、かつ1
    0倍以下であり、前記遠視野像の長軸方向の前記制限開
    口手段の制限開口径は、該制限開口位置における長軸方
    向の該遠視野像の1/e2 径の0.2倍以上で、かつ2
    倍以下であることを特徴とするレーザ画像記録装置
  10. 【請求項10】 遠視野像が略楕円ガウシアン分布を呈
    するレーザビームを発振する光源手段と、該遠視野像を
    制限する制限開口手段と、該制限開口手段を通過するレ
    ーザビームを1次結像面に結像させスポットを形成する
    1次結像手段と、該1次結像面近傍に設けられ、該遠視
    野像の長軸方向のサイドローブを除去する1次元空間フ
    ィルタと、該1次結像面に結像された該レーザビームを
    変換するビーム変換手段と、該変換されたレーザビーム
    を最終結像面に結像させ最終スポットを形成する最終結
    像手段とを有しており、前記1次元空間フィルタは複数
    の遮光部材を有し、該複数の遮光部材は光軸方向に一体
    となって移動可能であり、かつ該光軸方向と直交する面
    内においてはそれぞれ独立に移動可能であることを特徴
    とするレーザ画像記録装置
  11. 【請求項11】 遠視野像が略楕円ガウシアン分布を呈
    するレーザビームを発振する光源手段と、該遠視野像を
    制限する制限開口手段と、該制限開口手段を通過するレ
    ーザビームを1次結像面に結像させスポットを形成する
    1次結像手段と、該1次結像面近傍に設けられ、該遠視
    野像の長軸方向のサイドローブを除去する1次元空間フ
    ィルタと、該1次結像面に結像された該レーザビームを
    変換するビーム変換手段と、該変換されたレーザビーム
    を最終結像面に結像させ最終スポットを形成する最終結
    像手段とを有しており、光路内に所定方位角の偏向成分
    のみを透過させる光量制限手段を設けたことを特徴とす
    るレーザ画像記録装置
  12. 【請求項12】 遠視野像が略楕円ガウシアン分布を呈
    するレーザビームを発振する光源手段と、該遠視野像を
    制限する制限開口手段と、該制限開口手段を 通過するレ
    ーザビームを1次結像面に結像させスポットを形成する
    1次結像手段と、該1次結像面近傍に設けられ、該遠視
    野像の長軸方向のサイドローブを除去する1次元空間フ
    ィルタと、該1次結像面に結像された該レーザビームを
    変換するビーム変換手段と、該変換されたレーザビーム
    を最終結像面に結像させ最終スポットを形成する最終結
    像手段とを有しており、前記1次元空間フィルタより下
    流の位置に可動部分を有する光学素子を設けたことを
    徴とするレーザ画像記録装置
  13. 【請求項13】 遠視野像が略楕円ガウシアン分布を呈
    するレーザビームを発振する光源手段と、該遠視野像を
    制限する制限開口手段と、該制限開口手段を通過するレ
    ーザビームを1次結像面に結像させスポットを形成する
    1次結像手段と、該1次結像面近傍に設けられ、該遠視
    野像の長軸方向のサイドローブを除去する1次元空間フ
    ィルタと、該1次結像面に結像された該レーザビームを
    変換するビーム変換手段と、該変換されたレーザビーム
    を最終結像面に結像させ最終スポットを形成する最終結
    像手段と、前記1次元空間フィルタを照明する照明手段
    と、を有していること特徴とするレーザ画像記録装置
  14. 【請求項14】 遠視野像が略楕円ガウシアン分布を呈
    するレーザビームを発振する光源手段と、該遠視野像を
    制限する制限開口手段と、該制限開口手段を通過するレ
    ーザビームを1次結像面に結像させスポットを形成する
    1次結像手段と、該1次結像面近傍に設けられ、該遠視
    野像の長軸方向のサイドローブを除去する1次元空間フ
    ィルタと、該1次結像面に結像された該レーザビームを
    変換するビーム変換手段と、該変換されたレーザビーム
    を最終結像面に結像させ最終スポットを形成する最終結
    像手段とを有しており、光路内の収束光束中に光束を分
    割する光束分割手段を設けたことを特徴とするレーザ画
    像記録装置
  15. 【請求項15】 遠視野像が略楕円ガウシアン分布を呈
    するレーザビームを発振する光源手段と、該遠視野像を
    制限する制限開口手段と、該制限開口手段を通過するレ
    ーザビームを1次結像面に結像させスポットを形成する
    1次結像手段と、該1次結像面近傍に設けられ、該遠視
    野像の長軸方向のサイドローブを除去する1次元空間フ
    ィルタと、該1次結像面に結像された該レーザビームを
    変換するビーム変換手段と、該変換されたレーザビーム
    を最終結像面に結像させ最終ス ポットを形成する最終結
    像手段とを有しており、前記1次結像面と共役な位置に
    前記レーザビームと前記1次元空間フィルタが観察可能
    な観察手段を設けたことを特徴とするレーザ画像記録装
  16. 【請求項16】 光路内の収束光束中に、又は発散光束
    中に前記光源手段の非点隔差を補正する非点隔差補正手
    段を設けたことを特徴とする請求項8乃至15のいずれ
    か一項に記載のレーザ画像記録装置。
  17. 【請求項17】 前記1次元空間フィルタより下流の光
    学素子の有効径は、該光学素子におけるレーザビームの
    スポットサイズの2倍以上で、かつ10倍以下であるこ
    とを特徴とする請求項8乃至15のいずれか一項に記載
    レーザ画像記録装置。
  18. 【請求項18】 少なくとも1つのアナモルフィック光
    学素子を有していることを特徴とする請求項8乃至15
    のいずれか一項に記載のレーザ画像記録装置。
  19. 【請求項19】 前記1次結像手段と、前記ビーム変換
    手段とでビームエキスパンダを構成していることを特徴
    とする請求項8乃至15のいずれか一項に記載のレーザ
    画像記録装置。
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