JP3383759B2 - Multilayer printed wiring board and method of manufacturing multilayer printed wiring board - Google Patents

Multilayer printed wiring board and method of manufacturing multilayer printed wiring board

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JP3383759B2 JP34391197A JP34391197A JP3383759B2 JP 3383759 B2 JP3383759 B2 JP 3383759B2 JP 34391197 A JP34391197 A JP 34391197A JP 34391197 A JP34391197 A JP 34391197A JP 3383759 B2 JP3383759 B2 JP 3383759B2
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、ICチップを載
置させるためのパッケージ基板等を形成する多層プリン
ト配線板に関し、更に詳細には、上面及び下面に半田パ
ッドの形成される多層プリント配線板及び多層プリント
配線板の製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer printed wiring board for forming a package substrate or the like on which an IC chip is mounted, and more specifically, a multilayer printed wiring board having solder pads formed on its upper and lower surfaces. And a method for manufacturing a multilayer printed wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】高集積ICチップは、多層プリント配線
板等から成るパッケージ基板に載置され、マザーボー
ド、サブボード等の基板へ接続されている。ICチップ
とパッケージ基板との間、及び、パッケージ基板とマザ
ーボードとの間の接続に、近年半田バンプが多く用いら
れている。
2. Description of the Related Art A highly integrated IC chip is mounted on a package substrate composed of a multilayer printed wiring board or the like and connected to a substrate such as a mother board or a sub board. In recent years, solder bumps have been widely used for connection between an IC chip and a package substrate and between a package substrate and a mother board.

【0003】ここで、パッケージ基板(多層プリント配
線板)上に構成される半田パッドの一部は、図26
(A)に示すように配線を介して接続されていた。ここ
で、図中に示すように、該半田パッド275相互は、接
続の信頼性を高めるために2本の配線278により接続
が取られていた。
Here, a part of the solder pads formed on the package substrate (multilayer printed wiring board) is shown in FIG.
They were connected via wiring as shown in (A). Here, as shown in the drawing, the solder pads 275 are connected to each other by two wirings 278 in order to improve the reliability of the connection.

【0004】該多層プリント配線板の表層の半田パッド
275及び配線278のセミアディティブ法による形成
について、図26、図27、図28を参照して説明す
る。先ず、図27(A)に示す基板230上にバイアホ
ール用開口248の形成された層間樹脂絶縁層250の
表面に、図27(B)に示すように均一に無電解めっき
層252を形成する。その後、図27(C)に示すよう
に無電解めっき層252に、半田パッド及び接続用の配
線を形成するための開口部254aを設けてレジスト2
54を形成する。次に、図27(D)に示すようにレジ
スト254の開口部254aの無電解めっき層252上
に電解めっき層254を析出し、半田パッド275及び
配線278を形成する。図26(B)は、図27(D)
に示す基板をB矢印側から見た図である。即ち、図27
(D)は、図26(B)のD−D断面図に相当する。ま
た、図28(E)は、図26(B)のE−E断面図に相
当する。引き続き、図28(F)に示すようにレジスト
254及び該レジスト254下層の無電解めっき層25
2を除去し、多層プリント配線板を完成する。ここで、
図26(C)は、図28(F)に示す基板をE矢印側か
ら見た図である。即ち、図28(F)は、図26(C)
のF−F断面図に相当する。また、図28(G)は、図
26(C)のG−G断面図に相当する。
The formation of the solder pads 275 and the wirings 278 on the surface layer of the multilayer printed wiring board by the semi-additive method will be described with reference to FIGS. 26, 27 and 28. First, as shown in FIG. 27B, the electroless plating layer 252 is uniformly formed on the surface of the interlayer resin insulation layer 250 in which the via hole opening 248 is formed on the substrate 230 shown in FIG. 27A. . After that, as shown in FIG. 27C, the electroless plating layer 252 is provided with an opening 254a for forming a solder pad and a wiring for connection, and the resist 2 is formed.
54 is formed. Next, as shown in FIG. 27D, an electrolytic plating layer 254 is deposited on the electroless plating layer 252 in the opening 254a of the resist 254 to form a solder pad 275 and a wiring 278. FIG. 26B is the same as FIG. 27D.
It is the figure which looked at the substrate shown in FIG. That is, FIG.
26D corresponds to a cross-sectional view taken along line DD of FIG. In addition, FIG. 28E corresponds to a cross-sectional view taken along line EE of FIG. Subsequently, as shown in FIG. 28F, the resist 254 and the electroless plating layer 25 below the resist 254 are formed.
2 is removed to complete the multilayer printed wiring board. here,
FIG. 26C is a diagram of the substrate shown in FIG. 28F as seen from the E arrow side. That is, FIG. 28 (F) corresponds to FIG. 26 (C).
Corresponds to a sectional view taken along line FF of FIG. 28G corresponds to a cross-sectional view taken along line GG of FIG. 26C.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図28
(E)を参照して上述したレジスト254及び該レジス
ト254下層の無電解めっき層252を除去する工程に
おいて、レジストの溶剤は、上側からシャワー状に降り
注がれる。ここで、図26(B)に示すように配線27
8Aと配線278Bとに挟まれているレジスト254A
は、図28(E)に示すように、溶剤にて溶融しても上
方に突出した配線278Aと配線278Bとの間に滞留
し、外部へ流れ出し難い状態になる。このため、レジス
トが半田パッド275に近接して残り、図26(C)及
び図26(C)のG−G断面を示す図28(G)のよう
に、レジスト下層の無電解めっき層252が半田パッド
275の外周に残ることがある。ここで、半田パッド2
75(電解めっき層256)の外部に無電解めっき層2
52が残ると、当該部位において、該電解めっき層25
6が無電解めっき層252から剥離し、半田パッドの故
障原因となっていた。
However, as shown in FIG.
In the step of removing the resist 254 and the electroless plating layer 252 below the resist 254 described above with reference to (E), the solvent of the resist is poured from above into a shower shape. Here, as shown in FIG.
Resist 254A sandwiched between 8A and wiring 278B
As shown in FIG. 28 (E), even if it is melted with a solvent, it stays between the wiring 278A and the wiring 278B protruding upward, and becomes difficult to flow out to the outside. Therefore, the resist remains in the vicinity of the solder pad 275, and the electroless plating layer 252 below the resist is formed as shown in FIG. 28C showing the GG cross section of FIGS. 26C and 26C. It may remain on the outer periphery of the solder pad 275. Where the solder pad 2
75 (electrolytic plating layer 256) outside the electroless plating layer 2
When 52 remains, the electrolytic plating layer 25 is formed at the site.
6 peeled off from the electroless plating layer 252, causing a failure of the solder pad.

【0006】更に、図26(C)に示すように配線27
8の角部K、及び、配線相互の接合部Jにおいて、基板
を乾燥させる際、並びに、多層プリント配線板の使用中
に発生するヒートサイクルにより、応力が集中し易く、
図28(F)に示すように該応力集中により基板にクラ
ックLを発生させ、内部配線258の断線の原因となっ
ていた。
Further, as shown in FIG.
At the corners K of 8 and the joints J between wirings, stress tends to concentrate due to heat cycles that occur when the substrate is dried and during use of the multilayer printed wiring board.
As shown in FIG. 28F, the stress concentration causes a crack L in the substrate, which causes the disconnection of the internal wiring 258.

【0007】本発明の多層プリント配線板は、上述した
課題を解決するためになされたものであり、その目的と
するところは、クラックの入り難い多層プリント配線板
を提供することにある。
The multi-layer printed wiring board of the present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object thereof is to provide a multi-layer printed wiring board in which cracks are hard to enter.

【0008】また、本発明の多層プリント配線板の製造
方法は、半田パッドに剥離を生ぜしめない多層プリント
配線板の製造方法を提供することを目的とする。
Another object of the present invention is to provide a method for manufacturing a multilayer printed wiring board which does not cause peeling of solder pads.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上述した目的を達成する
ため請求項1の多層プリント配線板は、導体層の形成さ
れた基板上に層間樹脂絶縁層を介して導体層が形成さ
れ、表層に半田バンプを形成するための半田パッド群が
形成されてなる多層プリント配線板において、前記半田
パッドが形成された前記表層は、半田パッドを露出させ
るような開口を設けたソルダーレジストにより被覆さ
れ、前記半田パッド群の2以上の半田パッドが、前記表
層において1本の配線のみで接続されていることを技術
的特徴とする。
In order to achieve the above-mentioned object, a multilayer printed wiring board according to claim 1 has a conductor layer formed on a substrate on which a conductor layer is formed via an interlayer resin insulation layer, and a surface layer. In a multilayer printed wiring board in which a solder pad group for forming a solder bump is formed, the surface layer on which the solder pad is formed is covered with a solder resist having an opening for exposing the solder pad, A technical feature is that two or more solder pads of the solder pad group are connected by only one wire in the surface layer.

【0010】また、請求項2の多層プリント配線板は、
請求項1において、前記1本の配線で接続される前記2
以上の半田バンプは、更に、層間樹脂絶縁層の内層の導
体層に形成された配線により接続されていることを技術
的特徴とする。
The multilayer printed wiring board according to claim 2 is
In Claim 1, said 2 connected by said 1 wiring
The above-mentioned solder bumps are further technically characterized in that they are connected to each other by a wiring formed in a conductor layer which is an inner layer of the interlayer resin insulation layer.

【0011】請求項3の多層プリント配線板の製造方法
は、以下の工程を備えることを技術的特徴とする。 (a)導体層の形成された基板上の層間樹脂絶縁層に無
電解めっき層を設ける工程。 (b)前記無電解めっき層に、複数の半田パッド及び複
数の半田パッドの内の2以上を1本で接続する配線を形
成するための開口部を設けてレジストを形成する工程。 (c)前記レジストの前記開口部の前記無電解めっき層
上に電解めっき層を析出し、半田パッド及び配線を形成
する工程。 (d)前記レジスト及び該レジスト下層の無電解めっき
層を除去する工程。 (e)表層に前記半田パッドが露出させる開口を設けて
半田レジストを形成する工程。 (f)前記半田パッドに半田を載置して半田バンプを形
成する工程。
The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to claim 3 is technically characterized by including the following steps. (A) A step of providing an electroless plating layer on the interlayer resin insulation layer on the substrate on which the conductor layer is formed. (B) A step of forming a resist in the electroless plating layer by providing an opening for forming a plurality of solder pads and a wiring for connecting two or more of the plurality of solder pads with one wire. (C) A step of depositing an electrolytic plating layer on the electroless plating layer in the opening of the resist to form a solder pad and wiring. (D) A step of removing the resist and the electroless plating layer under the resist. (E) A step of forming a solder resist by providing an opening for exposing the solder pad on the surface layer. (F) A step of placing solder on the solder pads to form solder bumps.

【0012】請求項1の多層プリント配線板において
は、半田パッドが表層において1本の配線のみで接続さ
れており、該配線に角部及び配線相互の接続部がないの
で、応力の集中する箇所が存在しない。このため、応力
集中によるクラックが発生することがない。
In the multilayer printed wiring board according to the present invention, the solder pads are connected by only one wiring on the surface layer, and since there is no corner portion or a connecting portion between the wirings, a portion where stress is concentrated. Does not exist. Therefore, cracks due to stress concentration do not occur.

【0013】請求項2の多層プリント配線板において
は、半田パッドが表層において1本の配線で接続される
と共に、更に層間樹脂絶縁層の内層の導体層に形成され
た配線によっても接続されている。このため、表層の配
線にて接続が適切に取れなくとも、層間樹脂絶縁層の内
層の配線にて半田パッド間を接続することができる。
According to another aspect of the multilayer printed wiring board of the present invention, the solder pads are connected by a single wiring on the surface layer, and are further connected by the wiring formed on the inner conductor layer of the interlayer resin insulation layer. . Therefore, even if the connection cannot be properly made with the wiring on the surface layer, the solder pads can be connected with the wiring on the inner layer of the interlayer resin insulation layer.

【0014】請求項3の多層プリント配線板の製造方法
によれば、2以上の半田パッドを1本の配線で接続する
ように開口部を設けレジストを形成し、レジストの開口
部の無電解めっき層上に電解めっき層を析出し、半田パ
ッド及び配線を形成する。そして、レジスト及び該レジ
スト下層の無電解めっき層を除去する。この際に、半田
パッド間が1本の配線により結ばれており、配線にレジ
ストが囲まれていないので、該レジスト及び該レジスト
下層の無電解めっき層を適切に除去することができる。
このため、レジスト下層の無電解めっき層を全て除去す
ることで、半田パッドの剥離を防止できる。
According to the method of manufacturing a multilayer printed wiring board of claim 3, an opening is provided so as to connect two or more solder pads with one wiring, and a resist is formed, and electroless plating of the opening of the resist is performed. An electrolytic plating layer is deposited on the layer to form solder pads and wiring. Then, the resist and the electroless plating layer under the resist are removed. At this time, since the solder pads are connected by one wire and the resist is not surrounded by the wire, the resist and the electroless plating layer under the resist can be appropriately removed.
Therefore, by removing all the electroless plating layer under the resist, the peeling of the solder pad can be prevented.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】本発明の第1実施形態に係る多層
プリント配線板の構成について図23、図24(A)を
参照して説明する。図23は、第1実施形態の多層プリ
ント配線板の断面を示し、図24(A)は、多層プリン
ト配線板のX1−X1横断面を示している。該多層プリ
ント配線板は、図23に示すように上面にICチップ
(図示せず)のバンプ側に接続するための半田バンプ7
6Uが設けられ、下面側にマザーボード(図示せず)の
バンプに接続するための半田バンプ76Dが配設され、
該ICチップ−マザーボード間の信号等の受け渡し、及
び、マザーボード側からの電源供給を中継する役割を果
たす。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The structure of a multilayer printed wiring board according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 23 and 24 (A). FIG. 23 shows a cross section of the multilayer printed wiring board of the first embodiment, and FIG. 24 (A) shows an X1-X1 cross section of the multilayer printed wiring board. As shown in FIG. 23, the multilayer printed wiring board has solder bumps 7 on its upper surface for connecting to the bump side of an IC chip (not shown).
6U is provided, and solder bumps 76D for connecting to bumps of a mother board (not shown) are provided on the lower surface side.
It plays a role of passing signals and the like between the IC chip and the mother board and relaying power supply from the mother board side.

【0016】図23に示すように、多層プリント配線板
のコア基板30の上面及び下面には、グランド層となる
内層銅パターン34U、34Dが形成されている。ま
た、内層銅パターン34Uの上層には、層間樹脂絶縁層
50を介在させて信号線を形成する導体回路58U、
又、該層間樹脂絶縁層50を貫通してバイアホール60
Uが形成されている。導体回路58Uの上層には、層間
樹脂絶縁層150を介して最外層(表層)の導体回路1
58U及び該層間樹脂絶縁層150を貫通するバイアホ
ール160Uが形成されている。バイアホール160U
には半田バンプ76Uを支持する半田パッド75UA、
75UB(図23中には半田パッド75UAのみ示す)
が形成されている。
As shown in FIG. 23, inner layer copper patterns 34U and 34D serving as ground layers are formed on the upper and lower surfaces of the core substrate 30 of the multilayer printed wiring board. Further, a conductor circuit 58U for forming a signal line with the interlayer resin insulation layer 50 interposed on the upper layer of the inner layer copper pattern 34U,
Also, a via hole 60 is formed through the interlayer resin insulation layer 50.
U is formed. The conductor circuit 1 of the outermost layer (surface layer) is provided on the upper layer of the conductor circuit 58U via the interlayer resin insulation layer 150.
A via hole 160U penetrating 58U and the interlayer resin insulation layer 150 is formed. Via hole 160U
A solder pad 75UA for supporting the solder bump 76U,
75UB (only solder pad 75UA is shown in FIG. 23)
Are formed.

【0017】即ち、図23中のX1−X1横断面に相当
する図24(A)に示すように、バイアホール160U
には、相互に導体回路158Uにて接続される半田パッ
ド75UAと、導体回路158Uにて接続されない半田
パッド75UBとが形成されている。該半田パッド75
UA、75UBは、直径120〜170μmに形成され
ている。
That is, as shown in FIG. 24A corresponding to the X1-X1 cross section in FIG. 23, the via hole 160U.
The solder pads 75UA connected to each other by the conductor circuit 158U and the solder pads 75UB not connected by the conductor circuit 158U are formed on the. The solder pad 75
The UA and 75UB are formed to have a diameter of 120 to 170 μm.

【0018】本発明の第1実施形態の多層プリント配線
板においては、半田パッド75UAを1本の導体回路
(配線)158Uにて接続してあるため、図26(A)
を参照して上述した従来技術の多層プリント配線板と異
なり、導体回路(配線)158Uに角部及び配線相互の
接続部がないので、応力の集中する箇所が存在しない。
このため、多層プリント配線板に応力集中によるクラッ
クが発生することがないので、内層の導体回路58Uに
断線を生ぜしめることがない。
In the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention, since the solder pad 75UA is connected by one conductor circuit (wiring) 158U, FIG.
Unlike the conventional multi-layer printed wiring board described above with reference to FIG. 1, since the conductor circuit (wiring) 158U does not have a corner portion or a connecting portion between wirings, there is no stress concentration portion.
For this reason, cracks due to stress concentration do not occur in the multilayer printed wiring board, so that no disconnection occurs in the inner conductor circuit 58U.

【0019】一方、コア基板30の下面側のグランド層
(内層銅パターン)34Dの上層(ここで、上層とは基
板30を中心として上面については上側を、基板の下面
については下側を意味する)には、層間樹脂絶縁層50
を介して信号線を形成する導体回路58Dが形成されて
いる。該導体回路58Dの上層には、層間樹脂絶縁層1
50を介して最外層の導体回路158D及び該層間樹脂
絶縁層150を貫通するバイアホール160Dが形成さ
れ、該導体回路158D、バイアホール160Dには半
田バンプ76Dを支持する半田パッド75Dが形成され
ている。マザーボード側の半田パッド75Dは、直径6
00〜700μmに形成されている。ここでは詳細に述
べないが、マザーボード側に接続される半田パッドも、
所定の半田パッドが1本の配線(導体回路158D)に
より接続されている。
On the other hand, the upper layer of the ground layer (inner layer copper pattern) 34D on the lower surface side of the core substrate 30 (here, the upper layer means the upper side with respect to the substrate 30 as the center and the lower side as the lower surface of the substrate). ) Is the interlayer resin insulation layer 50.
A conductor circuit 58D that forms a signal line is formed via. An interlayer resin insulation layer 1 is formed on the conductor circuit 58D.
Via holes 160D penetrating the outermost conductor circuit 158D and the interlayer resin insulation layer 150 via 50 are formed, and solder pads 75D supporting the solder bumps 76D are formed in the conductor circuit 158D and via holes 160D. There is. The solder pad 75D on the motherboard side has a diameter of 6
It is formed to have a thickness of 00 to 700 μm. Although not described in detail here, the solder pads connected to the motherboard side are also
Predetermined solder pads are connected by one wire (conductor circuit 158D).

【0020】引き続き、図23に示す多層プリント配線
板の製造工程について図1〜図23を参照して説明す
る。 (1)厚さ1mmのガラスエポキシ樹脂またはBT(ビ
スマレイミドトリアジン)樹脂からなるコア基板30の
両面に18μmの銅箔32がラミネートされている銅張
積層板30Aを出発材料とする(図1参照)。まず、こ
の銅張積層板30Aをドリル削孔し、無電解めっき処理
を施し、パターン状にエッチングすることにより、基板
30の両面に内層銅パターン34U、34Dとスルーホ
ール36を形成する(図2参照)。
Next, the manufacturing process of the multilayer printed wiring board shown in FIG. 23 will be described with reference to FIGS. (1) Starting material is a copper clad laminate 30A in which a 18 μm copper foil 32 is laminated on both sides of a core substrate 30 made of a glass epoxy resin or a BT (bismaleimide triazine) resin having a thickness of 1 mm (see FIG. 1). ). First, the copper clad laminate 30A is drilled, electroless plated, and patterned to form inner layer copper patterns 34U and 34D and through holes 36 on both surfaces of the substrate 30 (FIG. 2). reference).

【0021】(2)さらに、内層銅パターン34U、3
4Dおよびスルーホール36を形成した基板30を、水
洗いして乾燥した後、酸化一還元処理し、内層銅パター
ン34U、34Dおよびスルーホール36の表面に粗化
層38を設ける(図3参照)。
(2) Further, the inner layer copper patterns 34U, 3
The substrate 30 on which the 4D and the through holes 36 are formed is washed with water, dried, and then subjected to oxidation-reduction treatment to provide a roughened layer 38 on the surfaces of the inner layer copper patterns 34U and 34D and the through holes 36 (see FIG. 3).

【0022】(3)一方、基板表面を平滑化するための
樹脂充填剤を調整する。ここでは、ビスフェノールF型
エポキシモノマー(油化シェル製、分子量310、YL
983U)100重量部、イミダゾール硬化剤(四国化
成製、2E4MZ−CN)6重量部を混合し、これらの
混合物に対し、表面にシランカップリング剤がコーティ
ングされた平均粒径1.6μmのSiO2 球状粒子(ア
ドマテック製、CRS1101−CE、ここで、最大粒
子の大きさは後述する内層銅パターンの厚み(15μ
m)以下とする)170重量部、消泡剤(サンノプコ
製、ペレノールS4)0.5重量部を混合し、3本ロー
ルにて混練することにより、その混合物の粘度を23±
1℃で45,000〜49,000cpsに調整して、
樹脂充填剤を得る。この樹脂充填剤は無溶剤である。も
し溶剤入りの樹脂充填剤を用いると、後工程において層
間剤を塗布して加熱・乾燥させる際に、樹脂充填剤の層
から溶剤が揮発して、樹脂充填剤の層と層間材との間で
剥離が発生するからである。
(3) On the other hand, a resin filler for smoothing the surface of the substrate is adjusted. Here, bisphenol F type epoxy monomer (made by Yuka Shell, molecular weight 310, YL
983 U) 100 parts by weight and 6 parts by weight of an imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Kasei) are mixed, and a silane coupling agent is coated on the surface of the mixture to form SiO 2 having an average particle diameter of 1.6 μm. Spherical particles (manufactured by Admatech, CRS1101-CE, where the maximum particle size is the thickness of the inner layer copper pattern described later (15 μm
m) or less) 170 parts by weight and 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (manufactured by San Nopco, Perenol S4) are mixed and kneaded with a three-roll mill to increase the viscosity of the mixture to 23 ±.
Adjust to 45,000 to 49,000 cps at 1 ° C,
Obtain a resin filler. This resin filler is solventless. If a resin filler containing a solvent is used, the solvent volatilizes from the resin filler layer when the interlayer agent is applied and heated / dried in a later step, and the space between the resin filler layer and the interlayer material is reduced. This is because peeling occurs.

【0023】(4)上記(3)で得た樹脂充填剤40
を、基板30の両面にロールコータを用いて塗布するこ
とにより、上面の導体回路(内層銅パターン)34U間
あるいはスルーホール36内に充填し、70℃,20分
間で乾燥させ、下面についても同様にして樹脂充填剤4
0を導体回路34D間あるいはスルーホール36内に充
填し、70℃,20分間で乾燥させる(図4参照)。
(4) Resin filler 40 obtained in (3) above
Is coated on both surfaces of the substrate 30 using a roll coater so as to fill between the conductor circuits (inner layer copper patterns) 34U on the upper surface or through holes 36, and is dried at 70 ° C. for 20 minutes. Resin filler 4
0 is filled between the conductor circuits 34D or in the through holes 36 and dried at 70 ° C. for 20 minutes (see FIG. 4).

【0024】(5)上記(4)の処理を終えた基板30
の片面を、♯600のベルト研磨紙(三共理化学製)を
用いたベルトサンダー研磨により、内層銅パターン34
U、34Dの表面やスルーホール36のランド表面に樹
脂充填剤40が残らないように研磨し、次いで、上記ベ
ルトサンダー研磨による傷を取り除くためのバフ研磨を
行う(図5参照)。次いで、100℃で1時間、120
℃で3時間、150℃で1時間、180℃で7時間の加
熱処理を行って樹脂充填剤40を硬化させる。
(5) Substrate 30 which has undergone the processing of (4) above
One side of the inner layer copper pattern 34 was polished by belt sander polishing using # 600 belt polishing paper (manufactured by Sankyo Rikagaku).
Polishing is performed so that the resin filler 40 does not remain on the surface of U and 34D and the land surface of the through hole 36, and then buffing is performed to remove the scratches due to the belt sander polishing (see FIG. 5). Then, at 100 ° C. for 1 hour, 120
C. for 3 hours, 150.degree. C. for 1 hour, and 180.degree. C. for 7 hours to perform heat treatment to cure the resin filler 40.

【0025】このようにして、スルーホール36等に充
填された樹脂充填剤40の表層部および導体回路34
U、34D上面の粗化層38を除去して基板両面を平滑
化することで、樹脂充填剤40と導体回路34U、34
Dの側面とが粗化層38を介して強固に密着し、またス
ルーホール36の内壁面と樹脂充填剤40とが粗化層3
8を介して強固に密着した配線基板を得る。即ち、この
工程により、掛脂充填剤40の表面と内層銅パターン3
4U、34Dの表面とを同一平面にする。
In this way, the surface layer portion of the resin filler 40 filled in the through holes 36 and the conductor circuit 34.
By removing the roughening layer 38 on the upper surfaces of U and 34D and smoothing both surfaces of the substrate, the resin filler 40 and the conductor circuits 34U and 34D are formed.
The side surface of D is firmly adhered to the roughened layer 38 via the roughened layer 38, and the inner wall surface of the through hole 36 and the resin filler 40 are firmly bonded to each other.
A wiring board tightly adhered via 8 is obtained. That is, by this step, the surface of the greasing filler 40 and the inner layer copper pattern 3 are
The surfaces of 4U and 34D are flush with each other.

【0026】(6)上記(5)の処理で露出した導体回
路34U、34Dおよびスルーホール36のランド上面
に、厚さ2.5μmのCu−Ni−P合金からなる粗化
層(凹凸層)42を形成し、さらに、その粗化層42の
表面に厚さ0.3μmのSn層を設ける(図6参照、但
し、Sn層については図示しない)。その形成方法は以
下のようである。即ち、基板30を酸性脱脂してソフト
エッチングし、次いで、塩化パラジウムと有機酸からな
る触媒溶液で処理して、Pd触媒を付与し、この触媒を
活性化した後、硫酸銅8g/l、硫酸ニッケル0.6g
/l、クエン酸15g/l、次亜リン酸ナトリウム29
g/l、ホウ酸31g/l、界面活性剤0.1g/l、
pH=9からなる無電解めっき浴にてめっきを施し、銅
導体回路4およびスルーホール9のランド上面にCu−
Ni−P合金の粗化層42を形成する。ついで、ホウフ
ッ化スズ0.1mol/l、チオ尿素1.0mol/
l、温度50℃、pH=1.2の条件でCu−Sn置換
反応させ、粗化層42の表面に厚さ0.3μmのSn層
を設ける(Sn層については図示しない)。
(6) A roughened layer (concavo-convex layer) having a thickness of 2.5 μm and made of a Cu—Ni—P alloy is formed on the upper surfaces of the lands of the conductor circuits 34U and 34D and the through holes 36 exposed by the treatment of the above (5). 42 is formed, and a Sn layer having a thickness of 0.3 μm is provided on the surface of the roughened layer 42 (see FIG. 6, but the Sn layer is not shown). The formation method is as follows. That is, the substrate 30 is acid-degreased and soft-etched, then treated with a catalyst solution consisting of palladium chloride and an organic acid to impart a Pd catalyst, and the catalyst is activated. Nickel 0.6g
/ L, citric acid 15g / l, sodium hypophosphite 29
g / l, boric acid 31 g / l, surfactant 0.1 g / l,
Plating is performed in an electroless plating bath of pH = 9, and Cu-on the upper surface of the land of the copper conductor circuit 4 and the through hole 9.
A roughened layer 42 of Ni-P alloy is formed. Then, tin borofluoride 0.1 mol / l, thiourea 1.0 mol / l
A Cu—Sn substitution reaction is performed under the conditions of 1, temperature of 50 ° C. and pH = 1.2 to provide a 0.3 μm thick Sn layer on the surface of the roughening layer 42 (Sn layer is not shown).

【0027】引き続き、絶縁層を形成する感光性接着剤
(上層用)及び層間樹脂絶縁剤(下層用)を用意する。 (7)感光性接着剤(上層用)は、DMDG(ジエチレ
ングリコールジメチルエーテル)に溶解した濃度80w
t%のクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬
製、分子量2500)の25%アクリル化物を35重量
部、ポリエーテルスルフォン(PES)12重量部、イ
ミダゾール硬化剤(四国化成製、2E4MZ−CN)2
重量部、感光性モノマー(東亜合成製、アロニックスM
315)4重量部、光開始剤(チバガイギー製、イルガ
キュアI−907)2重量部、光増感剤(日本化薬製、
DETX−S)0.2重量部を混合し、これらの混合物
に対し、エポキシ樹脂粒子(三洋化成製、ポリマーポー
ル)の平均粒径1.0μmのものを7.2重量部、平均
粒経0.5μmのものを3.09重量部、消泡剤(サン
ノプコ製 S−65)0.5重量部を混合した後、さら
にNMP30重量部を添加しながら混合して粘度7Pa
・sの感光性接着剤(上層用)を得る。
Subsequently, a photosensitive adhesive (for upper layer) and an interlayer resin insulating agent (for lower layer) for forming an insulating layer are prepared. (7) The photosensitive adhesive (for the upper layer) has a concentration of 80 w dissolved in DMDG (diethylene glycol dimethyl ether).
35 parts by weight of 25% acrylate of t% cresol novolac type epoxy resin (Nippon Kayaku, molecular weight 2500), 12 parts by weight of polyether sulfone (PES), imidazole curing agent (2E4MZ-CN manufactured by Shikoku Kasei) 2
Parts by weight, photosensitive monomer (Toagosei, Aronix M
315) 4 parts by weight, photoinitiator (manufactured by Ciba Geigy, Irgacure I-907) 2 parts by weight, photosensitizer (manufactured by Nippon Kayaku,
DETX-S) 0.2 parts by weight, and to the mixture, 7.2 parts by weight of epoxy resin particles (polymer pole manufactured by Sanyo Kasei Co., Ltd.) having an average particle diameter of 1.0 μm, and an average particle diameter of 0. After mixing 3.09 parts by weight of 0.5 .mu.m and 0.5 parts by weight of a defoaming agent (S-65 manufactured by San Nopco), 30 parts by weight of NMP are further added and mixed to obtain a viscosity of 7 Pa.
Obtain a photosensitive adhesive of s (for the upper layer).

【0028】(8)一方、層間樹脂絶縁剤(下層用)
は、DMDG(ジエチレングリコールジメチルエーテ
ル)に溶解した濃度80wt%のクレゾールノボラック
型エポキシ樹脂(日本化薬製、分子量2500)の25
%アクリル化物を35重量部、ポリエーテルスルフォン
(PES)12重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成
製、2E4MZ−CN)2重量部、感光性モノマー(東
亜合成製、アロニックスM315)4重量部、光開始剤
(チバガイギー製、イルガキュアI −907)2重量
部、光増感剤(日本化薬製、DETE−S)0.2重量
部を混合し、これらの混合物に対し、エポキシ樹脂粒子
(三洋化成製、ポリマーポール)の平均粒経0.5μm
のものを14.49重量部、消泡剤(サンノプコ製、S
−65)0.5重量部を混合した後、さらにNMP30
重量部を添加しながら混合して粘度1.5Pa・sの層
間樹脂絶縁剤(下層用)を得る。
(8) On the other hand, interlayer resin insulation agent (for lower layer)
Is a cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku, molecular weight 2500) having a concentration of 80 wt% dissolved in DMDG (diethylene glycol dimethyl ether).
% Acrylate, 35 parts by weight, polyether sulfone (PES) 12 parts by weight, imidazole curing agent (Shikoku Kasei, 2E4MZ-CN) 2 parts by weight, photosensitive monomer (Toagosei, Aronix M315) 4 parts by weight, light 2 parts by weight of an initiator (manufactured by Ciba Geigy, Irgacure I-907) and 0.2 part by weight of a photosensitizer (manufactured by Nippon Kayaku, DETE-S) were mixed, and epoxy resin particles (Sanyo Chemical Co., Ltd.) were mixed with the mixture. Made of polymer pole) with an average particle size of 0.5 μm
14.49 parts by weight of antifoaming agent (San Nopco, S
-65) After mixing 0.5 parts by weight, further NMP30
By mixing while adding parts by weight, an interlayer resin insulating agent (for lower layer) having a viscosity of 1.5 Pa · s is obtained.

【0029】(9)基板30の両面に、上記(7)で得
られた粘度1.5Pa・sの層間樹脂絶縁剤(下層用)
をロールコ一夕で塗布し、水平状態で20分間放置して
から、60℃で30分の乾燥(プリベーク)を行い、絶
縁剤層44を形成する。さらにこの絶縁剤層44の上に
上記(8)で得られた粘度7Pa・sの感光性接着剤
(上層用)をロールコ一タを用いて塗布し、水平状態で
20分間放置してから、60℃で30分の乾燥を行い、
接着剤層46を形成する(図7参照)。
(9) On both surfaces of the substrate 30, an interlayer resin insulating agent (for lower layer) having a viscosity of 1.5 Pa · s obtained in (7) above.
Is applied by roll coating overnight, left standing in a horizontal state for 20 minutes, and then dried (prebaked) at 60 ° C. for 30 minutes to form an insulating agent layer 44. Further, a photosensitive adhesive (for upper layer) having a viscosity of 7 Pa · s obtained in (8) above is applied on the insulating agent layer 44 by using a roll coater, and left standing in a horizontal state for 20 minutes, Dry for 30 minutes at 60 ℃,
The adhesive layer 46 is formed (see FIG. 7).

【0030】上述したように導体回路34U、34D
は、粗化層(凹凸層)42が形成され、即ち、粗化処理
が施されることで、上層の絶縁剤層44との密着性が高
められている。
As described above, the conductor circuits 34U, 34D
The roughened layer (concavo-convex layer) 42 is formed, that is, the roughening treatment is performed, so that the adhesiveness with the upper insulating agent layer 44 is improved.

【0031】(10)上記(9)で絶縁剤層44および
接着剤層46を形成した基板30の両面に、100μm
φの黒円が印刷されたフォトマスクフィルムを密着さ
せ、超高圧水銀灯により500mJ/cm2 で露光す
る。これをDMDG溶液でスプレー現像し、さらに、当
該基板を超高圧水銀灯により3000mJ/cm2 で露
光し、100℃で1時間、その後150℃で5時間の加
熱処理(ポストベーク)をすることにより、フォトマス
クフィルムに相当する寸法精度に優れた100μmφの
開口(バイアホール形成用開口48)を有する厚さ35
μmの層間樹脂絶縁層(2層構造)50を形成する(図
8参照)。なお、バイアホールとなる開口48には、ス
ズめっき層を部分的に露出させる。
(10) 100 μm on both sides of the substrate 30 on which the insulating layer 44 and the adhesive layer 46 are formed in (9) above.
A photomask film on which a φ black circle is printed is brought into close contact and exposed at 500 mJ / cm 2 by an ultra-high pressure mercury lamp. This is spray-developed with a DMDG solution, and further, the substrate is exposed at 3000 mJ / cm 2 by an ultra-high pressure mercury lamp, and subjected to heat treatment (post-baking) at 100 ° C. for 1 hour and then at 150 ° C. for 5 hours. A thickness 35 having an opening (via-hole forming opening 48) of 100 μmφ excellent in dimensional accuracy equivalent to a photomask film.
An interlayer resin insulation layer (two-layer structure) 50 of μm is formed (see FIG. 8). In addition, the tin plating layer is partially exposed in the opening 48 serving as a via hole.

【0032】(11)開口48が形成された基板30
を、クロム酸に1分間浸漬し、接着剤層46の表面のエ
ポキシ樹脂粒子を溶解除去することにより、層間樹脂絶
縁層50の表面を粗面とし、その後、中和溶液(シプレ
イ社製)に浸漬してから水洗いする(図9参照)。さら
に、粗面化処理した該基板の表面に、パラジウム触媒
(アトテック製)を付与することにより、層間樹脂絶縁
層50の表面およびバイアホール用開口48の内壁面に
触媒核を付ける。
(11) Substrate 30 on which the opening 48 is formed
Is immersed in chromic acid for 1 minute to dissolve and remove the epoxy resin particles on the surface of the adhesive layer 46 to roughen the surface of the interlayer resin insulation layer 50, and then to a neutralizing solution (manufactured by Shipley). Immerse and then wash with water (see FIG. 9). Further, a palladium catalyst (manufactured by Atotech Co., Ltd.) is applied to the surface of the roughened substrate to attach a catalyst nucleus to the surface of the interlayer resin insulating layer 50 and the inner wall surface of the via hole opening 48.

【0033】(12)以下の組成の無電解銅めっき浴中
に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ1.6μmの無電解
銅めっき膜52を形成する(図10参照)。 〔無電解めっき液〕 EDTA 150 g/l 硫酸銅 20 g/l HCHO 30ml/l NaOH 40 g/l α、α’−ビピリジル 80 mg/l PEG 0.1g/l 〔無電解めっき条件〕 70℃の液温度で30分
(12) The substrate is dipped in an electroless copper plating bath having the following composition to form an electroless copper plating film 52 having a thickness of 1.6 μm on the entire rough surface (see FIG. 10). [Electroless plating solution] EDTA 150 g / l Copper sulfate 20 g / l HCHO 30 ml / l NaOH 40 g / l α, α′-bipyridyl 80 mg / l PEG 0.1 g / l [Electroless plating conditions] 70 ° C. 30 minutes at the liquid temperature of

【0034】(13)上記(12)で形成した無電解銅
めっき膜52上に市販の感光性ドライフィルムを張り付
け、マスクを載置して、100mJ/cm2 で露光、
0.8%炭酸ナトリウムで現像処理し、厚さ15μmの
めっきレジスト54を設ける(図11参照)。
(13) A commercially available photosensitive dry film is attached on the electroless copper-plated film 52 formed in (12), a mask is placed, and exposure is performed at 100 mJ / cm 2 .
Development is performed with 0.8% sodium carbonate to provide a plating resist 54 having a thickness of 15 μm (see FIG. 11).

【0035】(14)ついで、レジスト非形成部分に以
下の条件で電解銅めっきを施し、厚さ15μmの電解銅
めっき膜56を形成する(図12参照)。 〔電解めっき液〕 硫酸 180 g/l 硫酸銅 80 g/l 添加剤(アトテックジャパン製、カパラシドGL) 1 ml/l 〔電解めっき条件〕 電流密度 1A/dm2 時間 30分 温度 室温
(14) Next, electrolytic copper plating is applied to the resist non-formed portion under the following conditions to form an electrolytic copper plated film 56 having a thickness of 15 μm (see FIG. 12). [Electrolytic plating solution] Sulfuric acid 180 g / l Copper sulfate 80 g / l Additive (Atotech Japan, Kaparaside GL) 1 ml / l [Electrolytic plating conditions] Current density 1 A / dm 2 hours 30 minutes Temperature room temperature

【0036】(15)めっきレジスト54を5%KOH
で剥離除去した後、そのめっきレジスト54下の無電解
めっき膜52を硫酸と過酸化水素の混合液でエッチング
処理して溶解除去し、無電解銅めっき膜52と電解銅め
っき膜56からなる厚さ18μmの導体回路58U、5
8D及びバイアホール60U、60Dを形成する(図1
3参照)。引き続き、その基板30を800g/lのク
ロム酸中に3分間浸漬して粗化面上に残留しているパラ
ジウム触媒核を除去する。
(15) The plating resist 54 is set to 5% KOH
After peeling and removing with, the electroless plating film 52 under the plating resist 54 is etched by a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide to dissolve and remove, and a thickness formed of the electroless copper plating film 52 and the electrolytic copper plating film 56. 18 μm conductor circuit 58U, 5
8D and via holes 60U, 60D are formed (see FIG. 1).
3). Subsequently, the substrate 30 is immersed in 800 g / l of chromic acid for 3 minutes to remove the palladium catalyst nuclei remaining on the roughened surface.

【0037】(16)導体回路58U、58D及びバイ
アホール60U、60Dを形成した基板30を、硫酸銅
8g/l、硫酸ニッケル0.6g/l、クエン酸15g
/l、次亜リン酸ナトリウム29g/l、ホウ酸31g
/l、界面活性剤0.1g/lからなるpH=9の無電
解めっき液に浸漬し、該導体回路58U、58D及びバ
イアホール60U、60Dの表面に厚さ3μmの銅−ニ
ッケル−リンからなる粗化層62を形成する(図14参
照)。さらに、ホウフッ化スズ0.1mol/l、チオ
尿素1.0mol/l、温度50℃、pH=1.2の条
件でCu−Sn置換反応を行い、上記粗化層62の表面
に厚さ0.3μmのSn層を設ける(Sn層については
図示しない)。
(16) The substrate 30 on which the conductor circuits 58U and 58D and the via holes 60U and 60D are formed is copper sulfate 8 g / l, nickel sulfate 0.6 g / l, and citric acid 15 g.
/ L, sodium hypophosphite 29g / l, boric acid 31g
/ L, 0.1 g / l of a surfactant and pH = 9, and the surface of the conductor circuits 58U, 58D and the via holes 60U, 60D was dipped in an electroless plating solution of copper-nickel-phosphorus having a thickness of 3 μm. A roughened layer 62 is formed (see FIG. 14). Further, a Cu—Sn substitution reaction is performed under the conditions of tin borofluoride 0.1 mol / l, thiourea 1.0 mol / l, temperature 50 ° C. and pH = 1.2, and the surface of the roughened layer 62 has a thickness of 0. A Sn layer of 0.3 μm is provided (Sn layer is not shown).

【0038】(17)上記(2)〜(16)の工程を繰
り返すことにより、さらに上層の導体回路を形成する。
即ち、基板30の両面に、層間樹脂絶縁剤(下層用)を
ロールコ一夕で塗布し、絶縁剤層144を形成する。ま
た、この絶縁剤層144の上に感光性接着剤(上層用)
をロールコ一タを用いて塗布し、接着剤層146を形成
する(図15参照)。絶縁剤層144および接着剤層1
46を形成した基板30の両面に、フォトマスクフィル
ムを密着させ、露光・現像し、開口(バイアホール形成
用開口148)を有する層間樹脂絶縁層150を形成し
た後、該層間樹脂絶縁層150の表面を粗面とする(図
16参照)。その後、該粗面化処理した該基板30の表
面に、無電解銅めっき膜152を形成する(図17参
照)。
(17) By repeating the steps (2) to (16), a conductor circuit in an upper layer is formed.
That is, an interlayer resin insulating agent (for lower layer) is applied to both surfaces of the substrate 30 by roll coating to form the insulating agent layer 144. In addition, a photosensitive adhesive (for the upper layer) is formed on the insulating agent layer 144.
Is applied using a roll coater to form an adhesive layer 146 (see FIG. 15). Insulating agent layer 144 and adhesive layer 1
A photomask film is adhered to both surfaces of the substrate 30 on which the 46 is formed, exposed and developed to form an interlayer resin insulating layer 150 having an opening (opening 148 for forming a via hole), and then the interlayer resin insulating layer 150 is formed. The surface is roughened (see FIG. 16). Then, an electroless copper plating film 152 is formed on the surface of the substrate 30 that has been roughened (see FIG. 17).

【0039】引き続き、無電解銅めっき膜152上にめ
っきレジスト154を設ける(図18参照)。この図1
8に示す基板30のC矢視を図24(B)に示す。図2
3(B)のX2−X2断面が図18に相当する。めっき
レジスト154は、バイアホール形成用開口154aと
導体回路形成用開口154bとを設けるように形成す
る。ここで、複数のバイアホール形成用開口154aの
内、導体回路により接続されるものについては、図24
(B)中に示すように1本の導体回路形成用開口154
bにより接続する。
Subsequently, a plating resist 154 is provided on the electroless copper plating film 152 (see FIG. 18). This Figure 1
24B is a view of the substrate 30 shown in FIG. Figure 2
An X2-X2 cross section of FIG. 3B corresponds to FIG. The plating resist 154 is formed so as to provide a via hole forming opening 154a and a conductor circuit forming opening 154b. Here, of the plurality of openings 154a for forming via holes, those connected by a conductor circuit are shown in FIG.
As shown in (B), one conductor circuit forming opening 154 is formed.
Connect by b.

【0040】その後、レジスト非形成部分(バイアホー
ル形成用開口154a、導体回路形成用開口154b)
に電解銅めっき膜156を形成し、導体回路158U及
びバイアホール160Uを形成する(図19参照)。こ
の図19に示す基板30のD矢視を図24(C)に示
す。図24(C)のX3−X3断面が図19に相当す
る。
After that, a resist non-formed portion (via hole forming opening 154a, conductor circuit forming opening 154b)
Then, an electrolytic copper plating film 156 is formed on the substrate, and a conductor circuit 158U and a via hole 160U are formed (see FIG. 19). FIG. 24C shows the substrate 30 shown in FIG. 19 as viewed in the direction of arrow D. The X3-X3 cross section of FIG. 24C corresponds to FIG.

【0041】そして、図19に示す上側(矢印D側に沿
って)からKOHをシャワー状に降り注ぎ、めっきレジ
スト154を除去する。この際に、第1実施形態の多層
プリント配線板においては、半田パッドを形成するため
のバイアホールを1本の導体回路(配線)158Uにて
接続してあるので、図26を参照して上述した従来技術
の多層プリント配線板と異なり、複数の配線にてめっき
レジストが囲まれていない。このため、シャワー状にK
OHを注ぐことで、上面側めっきレジストを滞留させる
ことなく完全に剥離することができる。同様にして下面
側のめっきレジストを剥離する。
Then, KOH is poured like a shower from the upper side (along arrow D side) shown in FIG. 19 to remove the plating resist 154. At this time, in the multilayer printed wiring board of the first embodiment, the via holes for forming the solder pads are connected by one conductor circuit (wiring) 158U. Unlike the prior art multilayer printed wiring board described above, the plating resist is not surrounded by a plurality of wirings. Therefore, K
By pouring OH, the upper surface side plating resist can be completely peeled off without staying. Similarly, the plating resist on the lower surface side is peeled off.

【0042】この後、溶剤を降り注ぐことで、めっきレ
ジスト154を剥離した部位の無電解めっき膜152を
溶解除去し、導体回路158U、160Uを完成する。
同様にして下面側の導体回路158D及びバイアホール
160Dを完成する(図20参照)。上述したようにめ
っきレジスト154を完全に剥離してあるので、図26
(C)を参照して上述した従来技術の多層プリント配線
板と異なり、図24(A)に示すようバイアホール16
0Uの外周に無電解めっき膜152が残ることがない。
このため、無電解めっき膜152から電解めっき膜15
6が剥離して、バイアホール160U、即ち、後述する
半田パッドの剥離を発生させることがない。
After that, by pouring a solvent, the electroless plated film 152 at the portion where the plating resist 154 is peeled off is dissolved and removed to complete the conductor circuits 158U and 160U.
Similarly, the conductor circuit 158D and the via hole 160D on the lower surface side are completed (see FIG. 20). As described above, the plating resist 154 has been completely peeled off.
Unlike the conventional multilayer printed wiring board described above with reference to FIG. 24C, the via hole 16 is formed as shown in FIG.
The electroless plating film 152 does not remain on the outer periphery of 0 U.
Therefore, the electroless plated film 152 to the electrolytic plated film 15
6 does not peel off to cause peeling of the via hole 160U, that is, the solder pad described later.

【0043】さらに、該導体回路158U、158D及
びバイアホール160U、160Dの表面に粗化層16
2を形成することで、多層プリント配線板を完成する
(図21参照)。
Further, the roughening layer 16 is formed on the surfaces of the conductor circuits 158U and 158D and the via holes 160U and 160D.
By forming 2, the multilayer printed wiring board is completed (see FIG. 21).

【0044】(19)そして、上述した多層プリント配
線板にはんだバンプを形成する。先ず、はんだバンプ用
のソルダーレジスト組成物の調整について説明する。こ
こでは、DMDGに溶解させた60重量%のクレゾール
ノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製)のエポキシ基
50%をアクリル化した感光性付与のオリゴマー(分子
量4000)を46.67g、メチルエチルケトンに溶
解させた80重量%のビスフェノールA型エポキシ樹脂
(油化シェル製、エピコート1001)15.0g、イ
ミダゾール硬化剤(四国化成製、2E4MZ−CN)
1.6g、感光性モノマーである多価アクリルモノマー
(日本化薬製、R604)3g、同じく多価アクリルモ
ノマー(共栄社化学製、DPE6A)1.5g、分散系
消泡剤(サンノプコ社製、S−65)0.71gを混合
し、さらにこれらの混合物に対し、光開始剤としてのべ
ンゾフェノン(関東化学製)を2g、光増感剤としての
ミヒラーケトン(関東化学製)を0.2g加えて、粘度
を25℃で2.0Pa・sに調整したソルダーレジスト
組成物を得る。
(19) Then, solder bumps are formed on the above-mentioned multilayer printed wiring board. First, the preparation of the solder resist composition for solder bumps will be described. Here, 46.67 g of a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) obtained by acrylated 50% of epoxy groups of 60 wt% cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku) dissolved in DMDG was dissolved in methyl ethyl ketone. 80% by weight of bisphenol A type epoxy resin (Okaka Shell, Epicoat 1001) 15.0 g, imidazole curing agent (Shikoku Kasei, 2E4MZ-CN)
1.6 g, polyvalent acrylic monomer (R604, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) which is a photosensitive monomer, 1.5 g of polyvalent acrylic monomer (manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd., DPE6A), dispersion type defoaming agent (San Nopco, S -65) 0.71 g was mixed, and 2 g of benzophenone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photoinitiator and 0.2 g of Michler's ketone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photosensitizer were added to these mixtures. A solder resist composition having a viscosity adjusted to 2.0 Pa · s at 25 ° C. is obtained.

【0045】(20)上記(18)で得た配線板の両面
に、上記ソルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗
布する。次いで、70℃で20分間、70℃で30分間
の乾燥処理を行った後、円パターン(マスクパターン)
が描画された厚さ5mmのフォトマスクフィルムを密着
させて載置し、1000mJ/cm2 の紫外線で露光
し、DMTG現像処理する。そしてさらに、80℃で1
時間、100℃で1時間、120℃で1時間、150℃
で3時間の条件で加熱処理し、はんだパッド部分(バイ
アホールとそのランド部分を含む)71が開口した(上
面側開口径200μm、下面側開口径700μm)ソル
ダーレジスト層(厚み20μm)70を形成する(図2
2参照)。
(20) The solder resist composition having a thickness of 20 μm is applied to both surfaces of the wiring board obtained in (18). Then, after performing a drying treatment at 70 ° C. for 20 minutes and at 70 ° C. for 30 minutes, a circular pattern (mask pattern)
A photomask film having a thickness of 5 mm, in which is drawn, is placed in close contact with it, exposed to ultraviolet rays of 1000 mJ / cm 2 , and DMTG developed. And 1 more at 80 ℃
Hour, 100 ° C for 1 hour, 120 ° C for 1 hour, 150 ° C
Then, the solder resist layer (thickness 20 μm) 70 having a solder pad portion (including a via hole and its land portion) 71 opened (upper surface side opening diameter 200 μm, lower surface side opening diameter 700 μm) is formed by heating for 3 hours. Yes (Fig. 2
2).

【0046】(21)次に、ソルダーレジスト層70を
形成した基板30を、塩化ニッケル30g/l、次亜リ
ン酸ナトリウム10g/l、クエン酸ナトリウム10g
/lからなるpH=5の無電解ニッケルめっき液に20
分間浸漬して、開口部71に厚さ5μmのニッケルめっ
き層72を形成する(図23参照)。さらに、その基板
30を、シアン化金カリウム2g/l、塩化アンモニウ
ム75g/l、クエン酸ナトリウム50g/l、次亜リ
ン酸ナトリウム10g/lからなる無電解金めっき液に
93℃の条件で23秒間浸漬して、ニッケルめっき層7
2上に厚さ0.03μmの金めっき層74を析出し、上
面に直径133〜170μmの半田パッド75Uを、下
面に直径600μmの半田パッド75Dを形成する。
(21) Next, the substrate 30 on which the solder resist layer 70 is formed is nickel chloride 30 g / l, sodium hypophosphite 10 g / l, sodium citrate 10 g.
20 for electroless nickel plating solution of pH = 5 consisting of 1 / l
By immersing for a minute, a nickel plating layer 72 having a thickness of 5 μm is formed in the opening 71 (see FIG. 23). Further, the substrate 30 was immersed in an electroless gold plating solution containing 2 g / l of potassium gold cyanide, 75 g / l of ammonium chloride, 50 g / l of sodium citrate and 10 g / l of sodium hypophosphite at 93 ° C. Immerse for 2 seconds, nickel plating layer 7
A gold plating layer 74 having a thickness of 0.03 μm is deposited on the upper surface of the substrate 2, solder pads 75U having a diameter of 133 to 170 μm are formed on the upper surface, and solder pads 75D having a diameter of 600 μm are formed on the lower surface.

【0047】(22)そして、ソルダーレジスト層70
の開口部71内の半田パッド75U、75Dに、はんだ
ペーストを印刷して200℃でリフローすることにより
はんだバンプ76U、76Dを形成し、はんだバンプ7
6U、76Dを有する多層プリント配線板を完成する。
(22) Then, the solder resist layer 70
Solder bumps 76U and 76D are formed by printing a solder paste on the solder pads 75U and 75D in the opening 71 of the solder paste and reflowing at 200 ° C.
Complete a multilayer printed wiring board with 6U and 76D.

【0048】第1実施形態においては、半田パッド75
UAを表層(最外層の層間樹脂絶縁層150の表面)に
設けられた1本の導体回路(配線)158Uで接続して
あるが、該表層には、ソルダーレジスト層70が被覆し
てあるので、該配線158Uに断線を生じさせることが
ない。
In the first embodiment, the solder pad 75
The UAs are connected by a single conductor circuit (wiring) 158U provided on the surface layer (the surface of the outermost interlayer resin insulation layer 150). Since the surface layer is covered with the solder resist layer 70. Therefore, the wiring 158U is not broken.

【0049】引き続き、本発明の第2実施形態に係る多
層プリント配線板について、図25を参照して説明す
る。上述した第1実施形態では、半田パッド75UAを
表層に設けられた1本の導体回路(配線)158Uで接
続した。これに対して、第2実施形態の多層プリント配
線板においては、隣接する半田パッド75UAが、表層
の1本の導体回路(配線)158Uで接続されると共
に、層間樹脂絶縁層150の下層に設けられた内層導体
58Uに依っても接続されている。このため、表層の配
線158Uにて接続が適切に取れなくとも、層間樹脂絶
縁層150Uの内層の配線58Uにて半田パッド75U
A間を接続することができる。
Next, a multilayer printed wiring board according to the second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In the above-described first embodiment, the solder pad 75UA is connected by one conductor circuit (wiring) 158U provided on the surface layer. On the other hand, in the multilayer printed wiring board of the second embodiment, the adjacent solder pads 75UA are connected to each other by one conductor circuit (wiring) 158U on the surface layer and are provided on the lower layer of the interlayer resin insulation layer 150. They are also connected by the inner layer conductor 58U provided. Therefore, even if the connection cannot be properly made with the wiring 158U on the surface layer, the solder pad 75U with the wiring 58U on the inner layer of the interlayer resin insulation layer 150U.
A can be connected.

【0050】なお、上述した実施形態では、セミアディ
ティブ法により形成する多層プリント配線板を例示した
が、本発明の構成は、フルアディティブ法により形成す
る多層プリント配線板にも適用し得ることは言うまでも
ない。また、上述した実施形態では、バイアホールに設
けられた半田パッドを1本の配線で接続する例について
説明したが、バイアホールの設けられていない半田パッ
ド相互を1本の配線で接続することも可能である。
In the above-described embodiment, the multilayer printed wiring board formed by the semi-additive method is illustrated, but it goes without saying that the configuration of the present invention can be applied to the multilayer printed wiring board formed by the full additive method. Yes. Further, in the above-described embodiment, the example in which the solder pads provided in the via holes are connected by one wire has been described, but the solder pads not provided with the via holes may be connected by one wire. It is possible.

【0051】[0051]

【発明の効果】以上説明したように請求項1の多層プリ
ント配線板においては、半田パッドが表層において1本
の配線のみで接続されており、該配線に角部及び配線相
互の接続部がないので、応力の集中する箇所が存在しな
い。このため、応力集中によるクラックが発生し、導体
回路の断線を生ぜしめることがない。
As described above, in the multilayer printed wiring board according to the first aspect, the solder pads are connected to each other by only one wiring on the surface layer, and the wiring has no corners or wiring interconnections. Therefore, there is no place where stress is concentrated. For this reason, cracks due to stress concentration do not occur and the conductor circuit is not broken.

【0052】請求項2の多層プリント配線板において
は、半田パッドが表層において1本の配線で接続される
と共に、更に層間樹脂絶縁層の内層の導体層に形成され
た配線によっても接続されている。このため、表層の配
線にて接続が適切に取れなくとも、層間樹脂絶縁層の内
層の配線にて半田パッド間を接続することができる。
In the multilayer printed wiring board according to the second aspect of the invention, the solder pads are connected by a single wiring on the surface layer, and further by the wiring formed on the conductor layer inside the interlayer resin insulation layer. . Therefore, even if the connection cannot be properly made with the wiring on the surface layer, the solder pads can be connected with the wiring on the inner layer of the interlayer resin insulation layer.

【0053】請求項3の多層プリント配線板の製造方法
によれば、2以上の半田パッドを1本の配線で接続する
ように開口部を設けレジストを形成し、レジストの開口
部の無電解めっき層上に電解めっき層を析出し、半田パ
ッド及び配線を形成する。そして、レジスト及び該レジ
スト下層の無電解めっき層を除去する。この際に、半田
パッド間が1本の配線により結ばれており、配線にレジ
ストが囲まれていないので、該レジスト及び該レジスト
下層の無電解めっき層を適切に除去することができる。
このため、レジスト下層の無電解めっき層を全て除去す
ることで、半田パッドの剥離を防止できる。
According to the method of manufacturing a multilayer printed wiring board of claim 3, an opening is provided so that two or more solder pads are connected by one wiring, and a resist is formed, and electroless plating of the opening of the resist is performed. An electrolytic plating layer is deposited on the layer to form solder pads and wiring. Then, the resist and the electroless plating layer under the resist are removed. At this time, since the solder pads are connected by one wire and the resist is not surrounded by the wire, the resist and the electroless plating layer under the resist can be appropriately removed.
Therefore, by removing all the electroless plating layer under the resist, the peeling of the solder pad can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a manufacturing process of a multilayer printed wiring board according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 10 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図11】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図12】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 12 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図13】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 13 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図14】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 14 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図15】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 15 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図16】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 16 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図17】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 17 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図18】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 18 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図19】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 19 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図20】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 20 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図21】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 21 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図22】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 22 is a diagram showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図23】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板を示す断面図である。
FIG. 23 is a cross-sectional view showing the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図24】図24(A)は図23のX1−X1横断面図
であり、図24(B)は図18のC矢視図であり、図2
4(C)は図19のD矢視図である。
24 (A) is a lateral cross-sectional view taken along the line X1-X1 of FIG. 23, and FIG. 24 (B) is a view taken in the direction of arrow C of FIG.
4C is a view taken in the direction of arrow D in FIG.

【図25】本発明の第2実施形態に係る多層プリント配
線板を示す断面図である。
FIG. 25 is a cross-sectional view showing a multilayer printed wiring board according to a second embodiment of the present invention.

【図26】図26(A)、図26(B)、図26(C)
は、従来技術に係る多層プリント配線板の半田パッドの
説明図である。
26 (A), FIG. 26 (B), and FIG. 26 (C)
FIG. 3 is an explanatory diagram of solder pads of a multilayer printed wiring board according to a conventional technique.

【図27】図27(A)、図27(B)、図27
(C)、図27(D)は、従来技術の多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 27 (A), FIG. 27 (B), FIG.
27C and 27D are diagrams showing manufacturing steps of a conventional multilayer printed wiring board.

【図28】図28(E)、図28(F)、図28(G)
は、従来技術の多層プリント配線板の製造工程を示す図
である。
28 (E), 28 (F), and 28 (G).
FIG. 7 is a diagram showing a manufacturing process of a conventional multilayer printed wiring board.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

30 コア基板 34U、34D 内層銅パターン(内層導体回路) 50 層間樹脂絶縁層 58U、58D 導体回路 58M ダミーパターン 60U、60D バイアホール 75UA、75UB 半田パッド 76U、76D 半田バンプ 78 配線 150 層間樹脂絶縁層 158U 導体回路(配線) 160U バイアホール 30 core substrate 34U, 34D Inner layer copper pattern (inner layer conductor circuit) 50 interlayer resin insulation layer 58U, 58D Conductor circuit 58M dummy pattern 60U, 60D via hole 75UA, 75UB Solder pad 76U, 76D Solder bump 78 wiring 150 interlayer resin insulation layer 158U Conductor circuit (wiring) 160U via hole

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 導体層の形成された基板上に層間樹脂絶
縁層を介して導体層が形成され、表層に半田バンプを形
成するための半田パッド群が形成されてなる多層プリン
ト配線板において、 前記半田パッドが形成された前記表層は、半田パッドを
露出させるような開口を設けたソルダーレジストにより
被覆され、 前記半田パッド群の2以上の半田パッドが、前記表層に
おいて1本の配線のみで接続されていることを特徴とす
る多層プリント配線板。
1. A multilayer printed wiring board comprising a conductor layer formed on a substrate on which a conductor layer is formed, with an interlayer resin insulation layer interposed therebetween, and a solder pad group for forming solder bumps formed on a surface layer. The surface layer on which the solder pad is formed is covered with a solder resist having an opening for exposing the solder pad, and two or more solder pads of the solder pad group are connected by only one wire in the surface layer. A multilayer printed wiring board characterized by being provided.
【請求項2】 前記1本の配線で接続される前記2以上
の半田バンプは、更に、層間樹脂絶縁層の内層の導体層
に形成された配線により接続されていることを特徴とす
る請求項1の多層プリント配線板。
2. The two or more solder bumps connected by the one wire are further connected by a wire formed in a conductor layer which is an inner layer of the interlayer resin insulation layer. 1 multilayer printed wiring board.
【請求項3】 以下の工程を備えることを特徴とする多
層プリント配線板の製造方法。 (a)導体層の形成された基板上の層間樹脂絶縁層に無
電解めっき層を設ける工程。 (b)前記無電解めっき層に、複数の半田パッド及び複
数の半田パッドの内の2以上を1本で接続する配線を形
成するための開口部を設けてレジストを形成する工程。 (c)前記レジストの前記開口部の前記無電解めっき層
上に電解めっき層を析出し、半田パッド及び配線を形成
する工程。 (d)前記レジスト及び該レジスト下層の無電解めっき
層を除去する工程。 (e)表層に前記半田パッドが露出させる開口を設けて
半田レジストを形成する工程。 (f)前記半田パッドに半田を載置して半田バンプを形
成する工程。
3. A method for manufacturing a multilayer printed wiring board, comprising the following steps. (A) A step of providing an electroless plating layer on the interlayer resin insulation layer on the substrate on which the conductor layer is formed. (B) A step of forming a resist in the electroless plating layer by providing an opening for forming a plurality of solder pads and a wiring for connecting two or more of the plurality of solder pads with one wire. (C) A step of depositing an electrolytic plating layer on the electroless plating layer in the opening of the resist to form a solder pad and wiring. (D) A step of removing the resist and the electroless plating layer under the resist. (E) A step of forming a solder resist by providing an opening for exposing the solder pad on the surface layer. (F) A step of placing solder on the solder pads to form solder bumps.
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