JP3256172B2 - Multilayer printed wiring board - Google Patents
Multilayer printed wiring boardInfo
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- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、電源層又はグラ
ンド層として形成される導体回路を備える多層プリント
配線板に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer printed wiring board having a conductor circuit formed as a power supply layer or a ground layer.
【0002】[0002]
【従来の技術】複数層の導体回路をそれぞれ絶縁層にて
絶縁して成る多層プリント配線板において、1層分の導
体回路をグランド層、或いは、電源層として用いること
が、ノイズの低減等の目的で行われている。係る多層プ
リント配線板において、図26に示すように、該グラン
ド層(或いは電源層)を形成する配線434を、導体非
形成部分435を有するメッシュパターンに形成するこ
とが多い。ここで、導体非形成部分435を設けるの
は、配線434が樹脂との接続性が低い銅で形成される
ため、配線434の上層に配設される層間樹脂絶縁層
(図示せず)と下層に配設される樹脂製基板(図示せ
ず)との接続性を、該導体非形成部分にて層間樹脂絶縁
層と樹脂製基板とを直接接触させることで改善するため
である。2. Description of the Related Art In a multilayer printed wiring board in which a plurality of conductive circuits are insulated by an insulating layer, using one conductive circuit as a ground layer or a power supply layer can reduce noise and the like. It is done for the purpose. In such a multilayer printed wiring board, as shown in FIG. 26, the wiring 434 forming the ground layer (or power supply layer) is often formed in a mesh pattern having a conductor non-forming portion 435. Here, the conductor non-forming portion 435 is provided because the wiring 434 is formed of copper having low connectivity with the resin, so that the interlayer resin insulating layer (not shown) provided above the wiring 434 and the lower layer This is for improving the connectivity with the resin substrate (not shown) provided in the substrate by directly contacting the interlayer resin insulating layer and the resin substrate at the portion where the conductor is not formed.
【0003】ここで、本出願人は、メッシュパターンの
配線434を形成した際に、導体非形成部分435へ樹
脂を充填することにより、多層プリント配線板を平滑化
する方法を案出した。この平滑化を行う多層プリント配
線板の製造について、図27を参照して説明する。図2
7(A)は、図26に示す配線434の形成された基板
430のF−F断面を示している。この基板430に均
一に樹脂440を塗布し、該樹脂440を硬化させる
(図27(B)参照)。そして、樹脂440を研磨して
基板430を平滑化させる(図27(C)参照)。その
後、該基板上に層間樹脂絶縁層450を形成してから、
導体回路458を形成する(図27(D)参照)。Here, the present applicant has devised a method of smoothing a multilayer printed wiring board by filling a resin into the non-conductor-formed portion 435 when the wiring 434 of the mesh pattern is formed. Manufacturing of a multilayer printed wiring board for performing this smoothing will be described with reference to FIG. FIG.
FIG. 7A illustrates an FF cross section of the substrate 430 on which the wiring 434 illustrated in FIG. 26 is formed. The resin 440 is uniformly applied to the substrate 430, and the resin 440 is cured (see FIG. 27B). Then, the resin 440 is polished to smooth the substrate 430 (see FIG. 27C). Then, after forming the interlayer resin insulation layer 450 on the substrate,
The conductor circuit 458 is formed (see FIG. 27D).
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記構
成においては、図26に示すように配線434が、メッ
シュパターン状に形成されているため、導体非形成部分
435が矩形状となり角部435Eを有している。この
ため、図27(B)を参照して上述した導体非形成部分
435に樹脂40を充填する工程において、該角部43
5Eへ充填できないことがあり、該樹脂40が充填でき
なかった角部435Eにおいて、図27(D)に示すよ
うに基板430の表面に凹部ができ、上層の導体回路4
58が意図したように形成できなくなることがあった。However, in the above configuration, since the wiring 434 is formed in a mesh pattern as shown in FIG. 26, the conductor non-formed portion 435 becomes rectangular and has a corner 435E. are doing. For this reason, in the step of filling the resin 40 into the non-conductor-formed portion 435 described above with reference to FIG.
In the corner 435E where the resin 40 could not be filled, the concave portion was formed on the surface of the substrate 430 as shown in FIG.
58 could not be formed as intended.
【0005】また、銅等の金属製の導体回路434と、
樹脂からなる層間樹脂絶縁層450とは、熱膨張率が大
きく異なる。従って、矩形状の導体非形成部分435の
角部435Eにおいて応力が集中し易い。このため、多
層プリント配線板が熱膨張−収縮を繰り返した際に、該
応力により図27(E)に示すよう層間樹脂絶縁層45
0へクラックKが入り、該層間樹脂絶縁層450の上層
の導体回路458に断線を生ぜしめることがあった。[0005] Further, a conductor circuit 434 made of metal such as copper,
The coefficient of thermal expansion is significantly different from that of the interlayer resin insulating layer 450 made of resin. Therefore, stress tends to concentrate at the corner 435E of the rectangular conductor-free portion 435. For this reason, when the multilayer printed wiring board repeats thermal expansion and contraction, the stress causes the interlayer resin insulating layer 45 as shown in FIG.
In some cases, cracks K were formed in the conductor circuit 458 in the upper layer of the interlayer resin insulating layer 450, causing a break in the circuit.
【0006】本発明は、上述した課題を解決するために
なされたものであり、その目的とするところは、電源層
又はグランド層を備えると共に、導体配線に断線を生じ
させない多層プリント配線板を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a multilayer printed wiring board which includes a power supply layer or a ground layer and does not cause disconnection in conductor wiring. Is to do.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、上記
目的を達成するため、内層導体回路が形成された基板上
に層間樹脂絶縁層を介して導体回路が形成されてなる多
層プリント配線板であって、前記内層導体回路又は導体
回路が、電源層又はグランド層として形成され、該電源
層又はグランド層として形成された内層導体回路又は導
体回路が、円形状の導体非形成部分を有するメッシュパ
ターンであり、該メッシュパターンにバイアホール接続
領域が形成され、前記電源層又はグランド層の導体非形
成部分に樹脂が充填され、該充填された樹脂と前記電源
層又はグランド層とが平滑化されていることを特徴とす
る。According to the first aspect of the present invention, there is provided a multilayer printed wiring comprising a substrate having an inner conductor circuit formed thereon and a conductor circuit formed thereon via an interlayer resin insulation layer. A plate, wherein the inner-layer conductor circuit or the conductor circuit is formed as a power supply layer or a ground layer, and the inner-layer conductor circuit or the conductor circuit formed as the power supply layer or the ground layer has a circular conductor non-forming portion Mesh pattern, via hole connection to the mesh pattern
A region is formed, and a resin-free portion of the power supply layer or the ground layer is filled with a resin, and the filled resin and the power supply layer or the ground layer are smoothed.
【0008】[0008]
【0009】また、請求項2の発明は、請求項1におい
て、前記メッシュパターンの内層導体回路及びメッシュ
パターンの導体回路は、粗化処理されていることを技術
的特徴とする。According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, an inner conductor circuit and a mesh of the mesh pattern are provided.
A technical feature of the conductor circuit of the pattern is that it is subjected to a roughening process.
【0010】請求項1の多層プリント配線板では、メッ
シュパターンの導体回路の有する導体非形成部分が、円
形状に形成され、角部がないため、応力が集中すること
がなく、導体配線に断線を生じさせない。In the multilayer printed wiring board according to the first aspect, since the conductor-free portion of the conductor circuit of the mesh pattern is formed in a circular shape and has no corners, stress is not concentrated, and the conductor wiring is disconnected. Does not occur.
【0011】請求項1の多層プリント配線板では、樹脂
が充填される導体非形成部分が、円形状に形成されてい
るため、樹脂を隙間なく導体非形成部分に充填すること
ができる。According to the first aspect of the present invention, since the conductor-free portion to be filled with the resin is formed in a circular shape, the resin-filled portion without the gap can be filled with the resin.
【0012】請求項2の多層プリント配線板では、メッ
シュパターンの内層導体回路及びメッシュパターンの導
体回路が、粗化処理されているため、上層の層間樹脂絶
縁層との密着性が高い。In the multilayer printed wiring board according to the second aspect, since the inner conductor circuit of the mesh pattern and the conductor circuit of the mesh pattern are roughened, adhesion to the upper interlayer resin insulation layer is improved. Is high.
【0013】[0013]
【発明の実施の形態】本発明の第1実施形態に係る多層
プリント配線板の構成について図22を参照して説明す
る。図22に断面を示す第1実施形態の多層プリント配
線板は、上面に集積回路(図示せず)を載置した状態
で、マザーボード(図示せず)に取り付けるためのいわ
ゆる集積回路パッケージを構成するものである。該多層
プリント配線板は、上面に集積回路のバンプ側に接続す
るための半田バンプ76Uが設けられ、下面側にマザー
ボードのバンプに接続するための半田バンプ76Dが配
設され、該集積回路−マザーボード間の信号等の受け渡
し、及び、マザーボード側からの電源供給を中継する役
割を果たしている。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The structure of a multilayer printed wiring board according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. The multilayer printed wiring board according to the first embodiment whose cross section is shown in FIG. 22 constitutes a so-called integrated circuit package for mounting on a motherboard (not shown) with an integrated circuit (not shown) mounted on the upper surface. Things. The multilayer printed wiring board is provided with solder bumps (76U) on the upper surface for connection to the bump side of the integrated circuit, and solder bumps (76D) for connection to the bumps on the motherboard on the lower surface side. It plays a role of transferring signals and the like between the terminals and relaying power supply from the motherboard.
【0014】多層プリント配線板のコア基板30の上面
及び下面には、グランド層となる内層銅パターン34
U、34Dが形成されている。また、内層銅パターン3
4Uの上層には、層間樹脂絶縁層50を介在させて信号
線を形成する導体回路58Uが形成されている。導体回
路58Uの上層には、層間樹脂絶縁層150を介して最
外層の導体回路158U及び該層間樹脂絶縁層150を
貫通するバイアホール160Uが形成され、該バイアホ
ール160Uには半田バンプ76Uが形成されている。An inner copper pattern 34 serving as a ground layer is provided on the upper and lower surfaces of the core substrate 30 of the multilayer printed wiring board.
U and 34D are formed. In addition, inner layer copper pattern 3
In the upper layer of 4U, a conductor circuit 58U for forming a signal line with an interlayer resin insulating layer 50 interposed is formed. In the upper layer of the conductor circuit 58U, a via hole 160U penetrating the outermost conductor circuit 158U and the interlayer resin insulation layer 150 via the interlayer resin insulation layer 150 is formed, and a solder bump 76U is formed in the via hole 160U. Have been.
【0015】一方、コア基板30の下面側のグランド層
(内層銅パターン)34Dの上層(ここで、上層とは基
板30を中心として上面については上側を、基板の下面
については下側を意味する)には、層間樹脂絶縁層50
を介して信号線を形成する導体回路58Dが形成されて
いる。該導体回路58Dの上層には、層間樹脂絶縁層1
50を介して最外層の導体回路158D及び該層間樹脂
絶縁層150を貫通するバイアホール160Dが形成さ
れ、該バイアホール160Dには半田バンプ76Dが形
成されている。On the other hand, the upper layer of the ground layer (inner layer copper pattern) 34D on the lower surface side of the core substrate 30 (here, the upper layer means the upper side with respect to the substrate 30 as the center and the lower side with respect to the lower surface of the substrate). ) Includes an interlayer resin insulation layer 50
, A conductor circuit 58D forming a signal line is formed. On the upper layer of the conductor circuit 58D, an interlayer resin insulating layer 1 is provided.
Via holes 160D are formed through the outermost conductive circuit 158D and the interlayer resin insulation layer 150 through the via holes 50. Solder bumps 76D are formed in the via holes 160D.
【0016】図22のX1−X1断面を図23に示す。
即ち、図23は、多層プリント配線板の横断面を示し、
図23中のX2−X2縦断面が図22に相当する。図2
3中に示すように、グランド層を構成する導体回路34
Uは、円形状の導体非形成部分35を有するメッシュパ
ターンに形成されている。該導体非形成部分35には、
後述する樹脂充填剤40が充填されている。なお、図示
しないが、基板30の下面側の内層導体回路34Dも、
同様に円形状の導体非形成部分35を有するメッシュパ
ターンに形成されている。FIG. 23 shows a cross section taken along line X1-X1 of FIG.
That is, FIG. 23 shows a cross section of the multilayer printed wiring board,
The X2-X2 longitudinal section in FIG. 23 corresponds to FIG. FIG.
As shown in FIG. 3, the conductor circuit 34 constituting the ground layer
U is formed in a mesh pattern having a circular conductor non-forming portion 35. In the conductor non-formed portion 35,
A resin filler 40 described later is filled. Although not shown, the inner layer conductor circuit 34D on the lower surface side of the substrate 30 also
Similarly, it is formed in a mesh pattern having a circular conductor non-formed portion 35.
【0017】メッシュパターンの導体回路34Uに形成
された導体非形成部分35が、円形状に形成され、図2
6及び図27(E)を参照して上述した従来技術の導体
回路のような角部がないため、該角部にて応力が集中す
ることがなく、層間樹脂絶縁層50を介して形成された
導体配線158U、158Dに断線を生じさせない。ま
た、樹脂充填剤が充填される導体非形成部分35が、円
形状に形成されているため、従来技術の角部を有する構
成と異なり、樹脂充填剤を隙間なく導体非形成部分35
に充填することができる。このため、基板表面をフラッ
ト化することにより、上層に適切に導体回路を形成する
ことが可能となる。更に、図25(C)に示すようにバ
イアホール接続領域99と導体非形成部分35とが重な
らないように配置することが望ましい。バイアホール接
続領域99と導体非形成部分35とが、図25(D)に
示すように重なると、導体非形成部分35の面積が小さ
くなり、樹脂を充填し難くなるからである。The conductor-free portion 35 formed on the mesh-patterned conductor circuit 34U is formed in a circular shape, as shown in FIG.
6 and FIG. 27 (E), there is no corner as in the prior art conductor circuit described above with reference to FIG. 27 and FIG. 27 (E), so that stress is not concentrated at the corner and formed via the interlayer resin insulating layer 50. The conductive wires 158U and 158D are not disconnected. Further, since the non-conductor-formed portion 35 filled with the resin filler is formed in a circular shape, unlike the conventional configuration having a corner portion, the non-conductor-formed portion 35 is filled with the resin filler without a gap.
Can be filled. Therefore, by flattening the substrate surface, it is possible to appropriately form a conductor circuit in the upper layer. Furthermore, as shown in FIG. 25 (C), it is desirable that the via-hole connection region 99 and the non-conductor-formed portion 35 are arranged so as not to overlap. This is because if the via-hole connection region 99 and the non-conductor-formed portion 35 overlap as shown in FIG. 25D, the area of the non-conductor-formed portion 35 becomes small, and it becomes difficult to fill the resin.
【0018】引き続き、図22に示す多層プリント配線
板の製造工程について図1〜図22を参照して説明す
る。 (1)厚さ1mmのガラスエポキシ樹脂またはBT(ビ
スマレイミドトリアジン)樹脂からなるコア基板30の
両面に18μmの銅箔32がラミネートされている銅張
積層板30Aを出発材料とする(図1参照)。まず、こ
の銅張積層板30Aをドリル削孔し、無電解めっき処理
を施し、パターン状にエッチングすることにより、基板
30の両面に図23を参照して上述したような形状の内
層銅パターン34U、34Dとスルーホール36を形成
する(図2参照)。Next, the manufacturing process of the multilayer printed wiring board shown in FIG. 22 will be described with reference to FIGS. (1) The starting material is a copper-clad laminate 30A in which 18 μm copper foils 32 are laminated on both sides of a core substrate 30 made of glass epoxy resin or BT (bismaleimide triazine) resin having a thickness of 1 mm (see FIG. 1). ). First, the copper-clad laminate 30A is drilled, subjected to an electroless plating process, and etched in a pattern to form an inner layer copper pattern 34U having a shape as described above with reference to FIG. , 34D and through holes 36 (see FIG. 2).
【0019】(2)さらに、内層銅パターン34U、3
4Dおよびスルーホール36を形成した基板30を、水
洗いして乾燥した後、酸化一還元処理し、内層銅パター
ン34U、34Dおよびスルーホール36の表面に粗化
層38を設ける(図3参照)。(2) Further, the inner layer copper patterns 34U, 3U
The substrate 30 having the 4D and the through-hole 36 formed thereon is washed with water and dried, and then subjected to an oxidation-reduction treatment to provide a roughened layer 38 on the surfaces of the inner copper patterns 34U and 34D and the through-hole 36 (see FIG. 3).
【0020】(3)一方、基板表面を平滑化するための
樹脂充填剤を調整する。ここでは、ビスフェノールF型
エポキシモノマー(油化シェル製、分子量310、YL
983U)100重量部、イミダゾール硬化剤(四国化
成製、2E4MZ−CN)6重量部を混合し、これらの
混合物に対し、表面にシランカップリング剤がコーティ
ングされた平均粒径1.6μmのSiO2 球状粒子(ア
ドマテック製、CRS1101−CE、ここで、最大粒
子の大きさは後述する内層銅パターンの厚み(15μ
m)以下とする)170重量部、消泡剤(サンノプコ
製、ペレノールS4)0.5重量部を混合し、3本ロー
ルにて混練することにより、その混合物の粘度を23±
1℃で45,000〜49,000cpsに調整して、
樹脂充填剤を得る。この樹脂充填剤は無溶剤である。も
し溶剤入りの樹脂充填剤を用いると、後工程において層
間剤を塗布して加熱・乾燥させる際に、樹脂充填剤の層
から溶剤が揮発して、樹脂充填剤の層と層間材との間で
剥離が発生するからである。(3) On the other hand, a resin filler for smoothing the substrate surface is adjusted. Here, bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell, molecular weight 310, YL)
983U) of 100 parts by weight and 6 parts by weight of an imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.), and the mixture was mixed with SiO 2 having an average particle diameter of 1.6 μm, the surface of which was coated with a silane coupling agent. Spherical particles (manufactured by Admatech, CRS1101-CE, where the maximum particle size is the thickness of the inner layer copper pattern described later (15 μm).
m) or less) 170 parts by weight and 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (manufactured by San Nopco, Perenol S4) are mixed and kneaded with a three-roll mill to reduce the viscosity of the mixture to 23 ±
Adjust to 45,000-49,000 cps at 1 ° C,
Obtain resin filler. This resin filler is solventless. If a resin filler containing a solvent is used, the solvent is volatilized from the resin filler layer when the interlayer agent is applied, heated and dried in a later step, so that the space between the resin filler layer and the interlayer material is reduced. This causes peeling.
【0021】(4)上記(3)で得た樹脂充填剤40
を、基板30の両面にロールコータを用いて塗布するこ
とにより、上面の導体回路(内層銅パターン)34U間
あるいはスルーホール36内に充填し、70℃,20分
間で乾燥させ、下面についても同様にして樹脂充填剤4
0を導体回路34D間あるいはスルーホール36内に充
填し、70℃,20分間で乾燥させる(図4参照)。(4) The resin filler 40 obtained in the above (3)
Is applied to both surfaces of the substrate 30 using a roll coater to fill the space between the conductor circuits (inner copper patterns) 34U on the upper surface or in the through holes 36, and is dried at 70 ° C. for 20 minutes. And resin filler 4
0 is filled between the conductor circuits 34D or in the through holes 36 and dried at 70 ° C. for 20 minutes (see FIG. 4).
【0022】(5)上記(4)の処理を終えた基板30
の片面を、♯600のベルト研磨紙(三共理化学製)を
用いたベルトサンダー研磨により、内層銅パターン34
U、34Dの表面やスルーホール36のランド表面に樹
脂充填剤40が残らないように研磨し、次いで、上記ベ
ルトサンダー研磨による傷を取り除くためのバフ研磨を
行う(図5参照)。次いで、100℃で1時間、120
℃で3時間、150℃で1時間、180℃で7時間の加
熱処理を行って樹脂充填剤40を硬化させる。(5) The substrate 30 after the processing of the above (4)
Of the inner layer copper pattern 34 by belt sander polishing using # 600 belt polishing paper (manufactured by Sankyo Rikagaku).
Polishing is performed so that the resin filler 40 does not remain on the surfaces of the U and 34D and the land surface of the through hole 36, and then buffing is performed to remove the scratches caused by the belt sander polishing (see FIG. 5). Then, at 100 ° C. for 1 hour, 120
The resin filler 40 is cured by performing a heat treatment at a temperature of 3 hours at 150 ° C. for 1 hour and at 180 ° C. for 7 hours.
【0023】このようにして、スルーホール36等に充
填された樹脂充填剤40の表層部および導体回路34
U、34D上面の粗化層38を除去して基板両面を平滑
化することで、樹脂充填剤40と導体回路34U、34
Dの側面とが粗化層38を介して強固に密着し、またス
ルーホール36の内壁面と樹脂充填剤40とが粗化層3
8を介して強固に密着した配線基板を得る。即ち、この
工程により、掛脂充填剤40の表面と内層銅パターン3
4U、34Dの表面とを同一平面にする。ここで、充填
した硬化樹脂のTg点は155.6℃、線熱膨張係数は
44.5×10-6/℃であった。The surface layer of the resin filler 40 filled in the through holes 36 and the like and the conductor circuit 34
By removing the roughened layer 38 on the upper surface of the U and 34D and smoothing both surfaces of the substrate, the resin filler 40 and the conductor circuits 34U and 34D are removed.
D is firmly adhered to the side surface of the roughened layer 38 via the roughened layer 38, and the inner wall surface of the through hole 36 and the resin filler 40 are bonded to the roughened layer 3.
Thus, a wiring board firmly adhered to the wiring board is obtained. That is, by this process, the surface of the grease filler 40 and the inner layer copper pattern 3
The surfaces of 4U and 34D are flush with each other. Here, the filled resin had a Tg point of 155.6 ° C. and a linear thermal expansion coefficient of 44.5 × 10 −6 / ° C.
【0024】(6)上記(5)の処理で露出した導体回
路34U、34Dおよびスルーホール36のランド上面
に、厚さ2.5μmのCu−Ni−P合金からなる粗化
層(凹凸層)42を形成し、さらに、その粗化層42の
表面に厚さ0.3μmのSn層を設ける(図6参照、但
し、Sn層については図示しない)。その形成方法は以
下のようである。即ち、基板30を酸性脱脂してソフト
エッチングし、次いで、塩化パラジウムと有機酸からな
る触媒溶液で処理して、Pd触媒を付与し、この触媒を
活性化した後、硫酸銅8g/l、硫酸ニッケル0.6g
/l、クエン酸15g/l、次亜リン酸ナトリウム29
g/l、ホウ酸31g/l、界面活性剤0.1g/l、
pH=9からなる無電解めっき浴にてめっきを施し、銅
導体回路4およびスルーホール9のランド上面にCu−
Ni−P合金の粗化層42を形成した。ついで、ホウフ
ッ化スズ0.1mol/l、チオ尿素1.0mol/
l、温度50℃、pH=1.2の条件でCu−Sn置換
反応させ、粗化層42の表面に厚さ0.3μmのSn層
を設けた(Sn層については図示しない)。(6) A roughened layer (rough layer) made of a Cu-Ni-P alloy having a thickness of 2.5 μm is formed on the upper surfaces of the lands of the conductor circuits 34U and 34D and the through holes 36 exposed in the process (5). Then, an Sn layer having a thickness of 0.3 μm is provided on the surface of the roughened layer 42 (see FIG. 6, but the Sn layer is not shown). The formation method is as follows. That is, the substrate 30 is acid-degreased and soft-etched, and then treated with a catalyst solution comprising palladium chloride and an organic acid to provide a Pd catalyst. After activating this catalyst, copper sulfate 8 g / l, sulfuric acid Nickel 0.6g
/ L, citric acid 15g / l, sodium hypophosphite 29
g / l, boric acid 31 g / l, surfactant 0.1 g / l,
Plating is performed in an electroless plating bath having a pH of 9 and Cu-
The roughened layer 42 of the Ni-P alloy was formed. Then, tin borofluoride 0.1 mol / l, thiourea 1.0 mol / l
1, a Cu-Sn substitution reaction was performed under the conditions of a temperature of 50 ° C. and a pH of 1.2 to provide a 0.3 μm thick Sn layer on the surface of the roughened layer 42 (the Sn layer is not shown).
【0025】引き続き、絶縁層を形成する感光性接着剤
(上層用)及び層間樹脂絶縁剤(下層用)を用意する。 (7)感光性接着剤(上層用)は、DMDG(ジエチレ
ングリコールジメチルエーテル)に溶解した濃度80w
t%のクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬
製、分子量2500)の25%アクリル化物を35重量
部、ポリエーテルスルフォン(PES)12重量部、イ
ミダゾール硬化剤(四国化成製、2E4MZ−CN)2
重量部、感光性モノマー(東亜合成製、アロニックスM
315)4重量部、光開始剤(チバガイギー製、イルガ
キュアI−907)2重量部、光増感剤(日本化薬製、
DETX−S)0.2重量部を混合し、これらの混合物
に対し、エポキシ樹脂粒子(三洋化成製、ポリマーポー
ル)の平均粒径1.0μmのものを7.2重量部、平均
粒経0.5μmのものを3.09重量部、消泡剤(サン
ノプコ製 S−65)0.5重量部を混合した後、さら
にNMP30重量部を添加しながら混合して粘度7Pa
・sの感光性接着剤(上層用)を得る。Subsequently, a photosensitive adhesive (for an upper layer) and an interlayer resin insulator (for a lower layer) for forming an insulating layer are prepared. (7) The photosensitive adhesive (for the upper layer) is dissolved in DMDG (diethylene glycol dimethyl ether) at a concentration of 80 w
35% by weight of 25% acrylate of t% cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight 2500), 12 parts by weight of polyether sulfone (PES), imidazole curing agent (2E4MZ-CN) 2
Parts by weight, photosensitive monomer (Toa Gosei Co., Aronix M
315) 4 parts by weight, 2 parts by weight of a photoinitiator (manufactured by Ciba Geigy, Irgacure I-907), a photosensitizer (manufactured by Nippon Kayaku,
0.2 parts by weight of DETX-S) were mixed, and 7.2 parts by weight of epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Chemical Industries, polymer pole) having an average particle diameter of 1.0 μm were added to these mixtures, and the average particle diameter was 0%. After mixing 3.09 parts by weight of a 0.5 μm-thick and 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (S-65 manufactured by San Nopco), the mixture was further mixed while adding 30 parts by weight of NMP to obtain a viscosity of 7 Pa.
・ S photosensitive adhesive (for upper layer) is obtained.
【0026】(8)一方、層間樹脂絶縁剤(下層用)
は、DMDG(ジエチレングリコールジメチルエーテ
ル)に溶解した濃度80wt%のクレゾールノボラック
型エポキシ樹脂(日本化薬製、分子量2500)の25
%アクリル化物を35重量部、ポリエーテルスルフォン
(PES)12重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成
製、2E4MZ−CN)2重量部、感光性モノマー(東
亜合成製、アロニックスM315)4重量部、光開始剤
(チバガイギー製、イルガキュアI −907)2重量
部、光増感剤(日本化薬製、DETE−S)0.2重量
部を混合し、これらの混合物に対し、エポキシ樹脂粒子
(三洋化成製、ポリマーポール)の平均粒経0.5μm
のものを14.49重量部、消泡剤(サンノプコ製、S
−65)0.5重量部を混合した後、さらにNMP30
重量部を添加しながら混合して粘度1.5Pa・sの層
間樹脂絶縁剤(下層用)を得る。(8) On the other hand, interlayer resin insulating material (for lower layer)
Is a 25% by weight cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku, molecular weight 2500) dissolved in DMDG (diethylene glycol dimethyl ether).
% Acrylate, 35 parts by weight of polyethersulfone (PES), 12 parts by weight of imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), 4 parts by weight of photosensitive monomer (Aronix M315, manufactured by Toa Gosei), light 2 parts by weight of an initiator (Circa Geigy, Irgacure I-907) and 0.2 part by weight of a photosensitizer (DETE-S, Nippon Kayaku) were mixed, and the mixture was mixed with epoxy resin particles (Sanyo Chemical Co., Ltd.). 0.5μm average particle size
14.49 parts by weight of an antifoaming agent (manufactured by San Nopco, S
-65) After mixing 0.5 part by weight, NMP30
By mixing while adding parts by weight, an interlayer resin insulating agent (for lower layer) having a viscosity of 1.5 Pa · s is obtained.
【0027】(9)基板30の両面に、上記(7)で得
られた粘度1.5Pa・sの層間樹脂絶縁剤(下層用)
をロールコ一夕で塗布し、水平状態で20分間放置して
から、60℃で30分の乾燥(プリベーク)を行い、絶
縁剤層44を形成する。さらにこの絶縁剤層44の上に
上記(8)で得られた粘度7Pa・sの感光性接着剤
(上層用)をロールコ一タを用いて塗布し、水平状態で
20分間放置してから、60℃で30分の乾燥を行い、
接着剤層46を形成する(図7参照)。(9) An interlayer resin insulating material having a viscosity of 1.5 Pa · s obtained in (7) above (for lower layer)
Is applied on a roll roll overnight, left for 20 minutes in a horizontal state, and then dried (prebaked) at 60 ° C. for 30 minutes to form an insulating layer 44. Further, the photosensitive adhesive (for the upper layer) having a viscosity of 7 Pa · s obtained in the above (8) is applied on the insulating layer 44 using a roll coater, and left for 20 minutes in a horizontal state. Dry at 60 ° C for 30 minutes,
An adhesive layer 46 is formed (see FIG. 7).
【0028】上述したように導体回路34U、34D
は、粗化層(凹凸層)42が形成され、即ち、粗化処理
が施されることで、上層の絶縁剤層44との密着性が高
められている。As described above, the conductor circuits 34U and 34D
The roughening layer (irregular layer) 42 is formed, that is, by performing a roughening process, the adhesion to the upper insulating layer 44 is enhanced.
【0029】(10)上記(9)で絶縁剤層44および
接着剤層46を形成した基板30の両面に、100μm
φの黒円が印刷されたフォトマスクフィルムを密着さ
せ、超高圧水銀灯により500mJ/cm2 で露光す
る。これをDMDG溶液でスプレー現像し、さらに、当
該基板を超高圧水銀灯により3000mJ/cm2 で露
光し、100℃で1時間、その後150℃で5時間の加
熱処理(ポストベーク)をすることにより、フォトマス
クフィルムに相当する寸法精度に優れた100μmφの
開口(バイアホール形成用開口48)を有する厚さ35
μmの層間樹脂絶縁層(2層構造)50を形成する(図
8参照)。なお、バイアホールとなる開口48には、ス
ズめっき層を部分的に露出させる。(10) On both sides of the substrate 30 on which the insulating layer 44 and the adhesive layer 46 were formed in (9), a 100 μm
The photomask film on which the black circle of φ is printed is brought into close contact with the photomask film, and exposed at 500 mJ / cm 2 using an ultra-high pressure mercury lamp. This is spray-developed with a DMDG solution, and further, the substrate is exposed to 3000 mJ / cm 2 by an ultra-high pressure mercury lamp, and is subjected to a heat treatment (post-bake) at 100 ° C. for 1 hour, and then at 150 ° C. for 5 hours. Thickness 35 having 100 μmφ opening (via hole forming opening 48) having excellent dimensional accuracy equivalent to a photomask film
A μm interlayer resin insulating layer (two-layer structure) 50 is formed (see FIG. 8). Note that the tin plating layer is partially exposed in the opening 48 serving as a via hole.
【0030】(11)開口48が形成された基板30
を、クロム酸に1分間浸漬し、接着剤層46の表面のエ
ポキシ樹脂粒子を溶解除去することにより、層間樹脂絶
縁層50の表面を粗面とし、その後、中和溶液(シプレ
イ社製)に浸漬してから水洗いする(図9参照)。さら
に、粗面化処理した該基板の表面に、パラジウム触媒
(アトテック製)を付与することにより、層間樹脂絶縁
層50の表面およびバイアホール用開口48の内壁面に
触媒核を付ける。(11) Substrate 30 with opening 48 formed
Is immersed in chromic acid for 1 minute to dissolve and remove the epoxy resin particles on the surface of the adhesive layer 46 to make the surface of the interlayer resin insulating layer 50 rough, and then to a neutralizing solution (manufactured by Shipley). After immersion, it is washed with water (see FIG. 9). Further, by applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the surface of the substrate subjected to the surface roughening treatment, a catalyst nucleus is attached to the surface of the interlayer resin insulating layer 50 and the inner wall surface of the via hole opening 48.
【0031】(12)以下の組成の無電解銅めっき浴中
に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ1.6μmの無電解
銅めっき膜52を形成する(図10参照)。 〔無電解めっき液〕 EDTA 150 g/l 硫酸銅 20 g/l HCHO 30ml/l NaOH 40 g/l α、α’−ビピリジル 80 mg/l PEG 0.1g/l 〔無電解めっき条件〕 70℃の液温度で30分(12) The substrate is immersed in an electroless copper plating bath having the following composition to form an electroless copper plating film 52 having a thickness of 1.6 μm on the entire rough surface (see FIG. 10). [Electroless plating solution] EDTA 150 g / l Copper sulfate 20 g / l HCHO 30 ml / l NaOH 40 g / l α, α'-bipyridyl 80 mg / l PEG 0.1 g / l [Electroless plating conditions] 70 ° C. 30 minutes at liquid temperature
【0032】(13)上記(12)で形成した無電解銅
めっき膜52上に市販の感光性ドライフィルムを張り付
け、マスクを載置して、100mJ/cm2 で露光、
0.8%炭酸ナトリウムで現像処理し、厚さ15μmの
めっきレジスト54を設ける(図11参照)。(13) A commercially available photosensitive dry film is adhered on the electroless copper plating film 52 formed in the above (12), a mask is placed, and exposure is performed at 100 mJ / cm 2 .
A development process is performed with 0.8% sodium carbonate to provide a plating resist 54 having a thickness of 15 μm (see FIG. 11).
【0033】(14)ついで、レジスト非形成部分に以
下の条件で電解銅めっきを施し、厚さ15μmの電解銅
めっき膜56を形成する(図12参照)。 〔電解めっき液〕 硫酸 180 g/l 硫酸銅 80 g/l 添加剤(アトテックジャパン製、カパラシドGL)1
ml/l 〔電解めっき条件〕 電流密度 1A/dm2 時間 30分 温度 室温(14) Then, electrolytic copper plating is applied to the non-resist forming portion under the following conditions to form an electrolytic copper plating film 56 having a thickness of 15 μm (see FIG. 12). [Electroplating solution] Sulfuric acid 180 g / l Copper sulfate 80 g / l Additive (Capparaside GL, manufactured by Atotech Japan) 1
ml / l [Electroplating conditions] Current density 1A / dm 2 hours 30 minutes Temperature Room temperature
【0034】(15)めっきレジスト54を5%KOH
で剥離除去した後、そのめっきレジスト54下の無電解
めっき膜52を硫酸と過酸化水素の混合液でエッチング
処理して溶解除去し、無電解銅めっき膜52と電解銅め
っき膜56からなる厚さ18μmの導体回路58U、5
8D及びバイアホール60U、60Dを形成する(図1
3参照)。引き続き、その基板30を800g/lのク
ロム酸中に3分間浸漬して粗化面上に残留しているパラ
ジウム触媒核を除去する。(15) 5% KOH plating resist 54
Then, the electroless plating film 52 under the plating resist 54 is dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide to form a film comprising the electroless copper plating film 52 and the electrolytic copper plating film 56. 58 μm conductor circuit 58U, 5
8D and via holes 60U, 60D are formed (FIG. 1).
3). Subsequently, the substrate 30 is immersed in 800 g / l chromic acid for 3 minutes to remove the palladium catalyst nuclei remaining on the roughened surface.
【0035】(16)導体回路58U、58D及びバイ
アホール60U、60Dを形成した基板30を、硫酸銅
8g/l、硫酸ニッケル0.6g/l、クエン酸15g
/l、次亜リン酸ナトリウム29g/l、ホウ酸31g
/l、界面活性剤0.1g/lからなるpH=9の無電
解めっき液に浸漬し、該導体回路58U、58D及びバ
イアホール60U、60Dの表面に厚さ3μmの銅−ニ
ッケル−リンからなる粗化層62を形成する(図14参
照)。さらに、ホウフッ化スズ0.1mol/l、チオ
尿素1.0mol/l、温度50℃、pH=1.2の条
件でCu−Sn置換反応を行い、上記粗化層62の表面
に厚さ0.3μmのSn層を設ける(Sn層については
図示しない)。(16) The substrate 30 on which the conductor circuits 58U and 58D and the via holes 60U and 60D are formed is replaced with copper sulfate 8 g / l, nickel sulfate 0.6 g / l, and citric acid 15 g.
/ L, sodium hypophosphite 29g / l, boric acid 31g
/ L, a surfactant of 0.1 g / l, immersed in an electroless plating solution having a pH of 9 and a surface of the conductor circuits 58U, 58D and via holes 60U, 60D formed of copper-nickel-phosphorus having a thickness of 3 μm. A roughened layer 62 is formed (see FIG. 14). Further, a Cu—Sn substitution reaction was performed under the conditions of tin borofluoride 0.1 mol / l, thiourea 1.0 mol / l, temperature 50 ° C., and pH = 1.2, and a thickness of 0 A Sn layer of 0.3 μm is provided (the Sn layer is not shown).
【0036】(17)上記(2)〜(16)の工程を繰
り返すことにより、さらに上層の導体回路を形成する。
即ち、基板30の両面に、層間樹脂絶縁剤(下層用)を
ロールコ一夕で塗布し、絶縁剤層144を形成する。ま
た、この絶縁剤層144の上に感光性接着剤(上層用)
をロールコ一タを用いて塗布し、接着剤層146を形成
する(図15参照)。絶縁剤層144および接着剤層1
46を形成した基板30の両面に、フォトマスクフィル
ムを密着させ、露光・現像し、開口(バイアホール形成
用開口148)を有する層間樹脂絶縁層150を形成し
た後、該層間樹脂絶縁層150の表面を粗面とする(図
16参照)。その後、該粗面化処理した該基板30の表
面に、無電解銅めっき膜152を形成する(図17参
照)。引き続き、無電解銅めっき膜152上にめっきレ
ジスト154を設けた後、レジスト非形成部分に電解銅
めっき膜156を形成する(図18参照)。そして、め
っきレジスト154をKOHで剥離除去した後、そのめ
っきレジスト54下の無電解めっき膜152を溶解除去
し導体回路158U、158D及びバイアホール160
U、160Dを形成する(図19参照)。さらに、該導
体回路158U、158D及びバイアホール160U、
160Dの表面に粗化層162を形成し、多層プリント
配線板を完成する(図20参照)。(17) By repeating the above steps (2) to (16), a conductor circuit in a further upper layer is formed.
That is, an interlayer resin insulating agent (for the lower layer) is applied to both surfaces of the substrate 30 with a roller to form an insulating agent layer 144. Also, a photosensitive adhesive (for the upper layer) is provided on the insulating layer 144.
Is applied using a roll coater to form an adhesive layer 146 (see FIG. 15). Insulating agent layer 144 and adhesive layer 1
A photomask film is brought into close contact with both surfaces of the substrate 30 on which the 46 has been formed, and exposed and developed to form an interlayer resin insulating layer 150 having an opening (via hole forming opening 148). The surface is made rough (see FIG. 16). Thereafter, an electroless copper plating film 152 is formed on the surface of the substrate 30 subjected to the surface roughening treatment (see FIG. 17). Subsequently, after a plating resist 154 is provided on the electroless copper plating film 152, an electrolytic copper plating film 156 is formed on a portion where no resist is formed (see FIG. 18). Then, after the plating resist 154 is peeled and removed with KOH, the electroless plating film 152 under the plating resist 54 is dissolved and removed, and the conductor circuits 158U and 158D and the via hole 160 are removed.
U, 160D are formed (see FIG. 19). Further, the conductor circuits 158U, 158D and via holes 160U,
A roughened layer 162 is formed on the surface of 160D to complete a multilayer printed wiring board (see FIG. 20).
【0037】(19)そして、上述した多層プリント配
線板にはんだバンプを形成する。先ず、はんだバンプ用
のソルダーレジスト組成物の調整について説明する。こ
こでは、DMDGに溶解させた60重量%のクレゾール
ノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製)のエポキシ基
50%をアクリル化した感光性付与のオリゴマー(分子
量4000)を46.67g、メチルエチルケトンに溶
解させた80重量%のビスフェノールA型エポキシ樹脂
(油化シェル製、エピコート1001)15.0g、イ
ミダゾール硬化剤(四国化成製、2E4MZ−CN)
1.6g、感光性モノマーである多価アクリルモノマー
(日本化薬製、R604)3g、同じく多価アクリルモ
ノマー(共栄社化学製、DPE6A)1.5g、分散系
消泡剤(サンノプコ社製、S−65)0.71gを混合
し、さらにこれらの混合物に対し、光開始剤としてのべ
ンゾフェノン(関東化学製)を2g、光増感剤としての
ミヒラーケトン(関東化学製)を0.2g加えて、粘度
を25℃で2.0Pa・sに調整したソルダーレジスト
組成物を得る。(19) Then, solder bumps are formed on the above-mentioned multilayer printed wiring board. First, adjustment of the solder resist composition for a solder bump will be described. Here, 46.67 g of a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) in which 50% of epoxy groups of a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku) of 60% by weight dissolved in DMDG were dissolved in methyl ethyl ketone was dissolved. 15.0 g of 80% by weight of bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell, Epicoat 1001), imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, 2E4MZ-CN)
1.6 g, 3 g of a polyacrylic monomer (R604, manufactured by Nippon Kayaku), which is a photosensitive monomer, 1.5 g of a polyvalent acrylic monomer (DPE6A, manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.), a dispersion defoaming agent (manufactured by Sannopco, S -65) 0.71 g, and 2 g of benzophenone (Kanto Kagaku) as a photoinitiator and 0.2 g of Michler's ketone (Kanto Kagaku) as a photosensitizer were added to the mixture. A solder resist composition having a viscosity adjusted to 2.0 Pa · s at 25 ° C. is obtained.
【0038】(20)上記(18)で得た配線板の両面
に、上記ソルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗
布する。次いで、70℃で20分間、70℃で30分間
の乾燥処理を行った後、円パターン(マスクパターン)
が描画された厚さ5mmのフォトマスクフィルムを密着
させて載置し、1000mJ/cm2 の紫外線で露光
し、DMTG現像処理する。そしてさらに、80℃で1
時間、100℃で1時間、120℃で1時間、150℃
で3時間の条件で加熱処理し、はんだパッド部分(バイ
アホールとそのランド部分を含む)71が開口した(開
口径200μm)ソルダーレジスト層(厚み20μm)
70を形成する(図21参照)。(20) The solder resist composition is applied to both sides of the wiring board obtained in the above (18) in a thickness of 20 μm. Next, after performing a drying process at 70 ° C. for 20 minutes and at 70 ° C. for 30 minutes, a circular pattern (mask pattern)
Is placed in close contact with a 5 mm thick photomask film on which is drawn, exposed to ultraviolet light of 1000 mJ / cm 2 , and subjected to DMTG development processing. And at 80 ° C for 1
Time, 1 hour at 100 ° C, 1 hour at 120 ° C, 150 ° C
And a heat treatment under conditions of 3 hours, a solder resist layer (opening diameter: 200 μm) with a solder pad portion (including a via hole and its land portion) 71 opened (opening diameter: 200 μm)
70 are formed (see FIG. 21).
【0039】(21)次に、ソルダーレジスト層70を
形成した基板30を、塩化ニッケル30g/l、次亜リ
ン酸ナトリウム10g/l、クエン酸ナトリウム10g
/lからなるpH=5の無電解ニッケルめっき液に20
分間浸漬して、開口部71に厚さ5μmのニッケルめっ
き層72を形成する(図22参照)。さらに、その基板
30を、シアン化金カリウム2g/l、塩化アンモニウ
ム75g/l、クエン酸ナトリウム50g/l、次亜リ
ン酸ナトリウム10g/lからなる無電解金めっき液に
93℃の条件で23秒間浸漬して、ニッケルめっき層7
2上に厚さ0.03μmの金めっき層74を形成する。(21) Next, the substrate 30 on which the solder resist layer 70 is formed is replaced with nickel chloride 30 g / l, sodium hypophosphite 10 g / l, and sodium citrate 10 g.
/ L of electroless nickel plating solution of pH = 5
Then, a nickel plating layer 72 having a thickness of 5 μm is formed in the opening 71 (see FIG. 22). Further, the substrate 30 was immersed in an electroless gold plating solution comprising 2 g / l of potassium gold cyanide, 75 g / l of ammonium chloride, 50 g / l of sodium citrate, and 10 g / l of sodium hypophosphite at 93 ° C. for 23 hours. Immersion for 2 seconds, nickel plating layer 7
A gold plating layer 74 having a thickness of 0.03 μm is formed on 2.
【0040】(22)そして、ソルダーレジスト層70
の開口部71に、はんだペーストを印刷して200℃で
リフローすることによりはんだバンプ76U、76Dを
形成し、はんだバンプ76U、76Dを有する多層プリ
ント配線板を完成する。(22) The solder resist layer 70
The solder bumps 76U and 76D are formed by printing a solder paste in the opening 71 of the substrate and performing reflow at 200 ° C. to complete a multilayer printed wiring board having the solder bumps 76U and 76D.
【0041】引き続き、本発明の第2実施形態に係る多
層プリント配線板について図24及び図25を参照して
説明する。図24は、本発明の第2実施形態に係る多層
プリント配線板の構成を示す断面図である。コア基板2
30の上面及び下面には、グランド層となる内層銅パタ
ーン234U、234Dが形成されている。即ち、基板
230を介在させて対向するグランド層(内層銅パター
ン)234U及びグランド層(内層銅パターン)234
Dによりコンデンサが形成されている。Next, a multilayer printed wiring board according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 24 is a cross-sectional view illustrating a configuration of the multilayer printed wiring board according to the second embodiment of the present invention. Core substrate 2
Inner layer copper patterns 234U and 234D serving as ground layers are formed on the upper surface and the lower surface of 30. That is, the ground layer (inner layer copper pattern) 234U and the ground layer (inner layer copper pattern) 234 facing each other with the substrate 230 interposed therebetween.
D forms a capacitor.
【0042】また、内層銅パターン234Uの上層に
は、層間樹脂絶縁層250を介在させて信号線を形成す
る導体回路258Uが形成されている。該導体回路25
8Uの上層には、層間樹脂絶縁層350を貫通するバイ
アホール360Uが形成され、該バイアホール360U
には半田バンプ376Uが形成されている。In addition, a conductor circuit 258U for forming a signal line is formed above the inner layer copper pattern 234U with an interlayer resin insulating layer 250 interposed. The conductor circuit 25
Via holes 360U penetrating through interlayer resin insulation layer 350 are formed in the upper layer of 8U.
Are formed with solder bumps 376U.
【0043】一方、基板230の下面側のグランド(内
層銅パターン)234Dの上層(ここで、上層とは基板
230を中心として上面については上側を、基板の下面
については下側を意味する)には、層間樹脂絶縁層25
0を介して信号線となる導体回路258Dが形成されて
いる。該導体回路258Dの上層には、層間樹脂絶縁層
350を介して電源層となる導体回路388Dが形成さ
れている。該導体回路388Dの上層には、層間樹脂絶
縁層390を貫通するバイアホール380Dが形成さ
れ、該バイアホール380Dには半田バンプ376Dが
形成されている。即ち、本実施形態では、電源層を形成
する導体回路388Dに取り付けられたバイアホール3
80Dに半田バンプ376Dが形成され、外部のバンプ
(図示せず)に直接該電源層を接続できるように構成さ
れている。On the other hand, the upper surface of the ground (inner copper pattern) 234D on the lower surface side of the substrate 230 (here, the upper layer means the upper surface with respect to the substrate 230 and the lower surface means the lower surface of the substrate). Is the interlayer resin insulation layer 25
A conductor circuit 258D serving as a signal line via 0 is formed. On the upper layer of the conductor circuit 258D, a conductor circuit 388D serving as a power supply layer is formed via an interlayer resin insulating layer 350. In the upper layer of the conductor circuit 388D, a via hole 380D penetrating the interlayer resin insulating layer 390 is formed, and a solder bump 376D is formed in the via hole 380D. That is, in the present embodiment, the via hole 3 attached to the conductor circuit 388D forming the power supply layer is used.
A solder bump 376D is formed on 80D so that the power supply layer can be directly connected to an external bump (not shown).
【0044】電源層を形成する導体回路388Dの平面
図を図25(A)に示す。この第2実施形態の多層プリ
ント配線板では、図23を参照して上述した第1実施形
態と同様に、電源層を構成する導体回路388Dを、導
体非形成部分359を有するメッシュパターンに形成し
てある。但し、第1実施形態では、導体非形成部分35
が円形に形成されていたのに対して、該第2実施形態で
は、導体非形成部分359が楕円形状に形成されてい
る。FIG. 25A is a plan view of a conductor circuit 388D forming a power supply layer. In the multilayer printed wiring board according to the second embodiment, similarly to the first embodiment described above with reference to FIG. 23, the conductor circuit 388D forming the power supply layer is formed in a mesh pattern having a conductor non-forming portion 359. It is. However, in the first embodiment, the conductor non-formed portion 35
Is formed in a circular shape, whereas in the second embodiment, the conductor non-formed portion 359 is formed in an elliptical shape.
【0045】第2実施形態の多層プリント配線板におい
ては、導体非形成部分359が、楕円状に形成され、図
26及び図27(E)を参照して上述した従来技術の導
体回路のような角部がないため、該角部にて応力が集中
することがなく、層間樹脂絶縁層350を介して形成さ
れた導体配線358D及び層間樹脂絶縁層390を介し
て形成されたバイアホール380Dに断線を生じさせな
い。In the multilayer printed wiring board according to the second embodiment, the conductor non-formed portion 359 is formed in an elliptical shape, and is similar to the conventional conductor circuit described above with reference to FIGS. 26 and 27 (E). Since there is no corner portion, stress is not concentrated at the corner portion, and disconnection occurs in the conductor wiring 358D formed through the interlayer resin insulation layer 350 and the via hole 380D formed through the interlayer resin insulation layer 390. Does not occur.
【0046】図25(B)は、第2実施形態の改変例に
係る導体回路388Dの平面図を示す。この第2実施形
態の改変例の多層プリント配線板では、角部が面取りさ
れた矩形形状の導体非形成部分359を有するメッシュ
パターンに形成されている。この第2実施形態の改変例
に係る多層プリント配線板においては、上述した従来技
術の導体回路のような角部がないため、該角部にて応力
が集中することがなく、導体配線358D及びバイアホ
ール380Dに断線を生じさせることがない。FIG. 25B is a plan view of a conductor circuit 388D according to a modification of the second embodiment. The multilayer printed wiring board according to the modified example of the second embodiment is formed in a mesh pattern having a rectangular conductor-free portion 359 whose corners are chamfered. In the multilayer printed wiring board according to the modification of the second embodiment, since there is no corner as in the above-described conductor circuit of the related art, stress is not concentrated at the corner, and the conductor wiring 358D and No disconnection occurs in the via hole 380D.
【0047】なお、上述した実施形態では、セミアディ
ティブ法により形成する多層プリント配線板を例示した
が、本発明の構成は、フルアディティブ法により形成す
る多層プリント配線板にも適用し得ることは言うまでも
ない。In the above-described embodiment, the multilayer printed wiring board formed by the semi-additive method is exemplified. However, it is needless to say that the structure of the present invention can be applied to the multilayer printed wiring board formed by the full-additive method. No.
【0048】[0048]
【発明の効果】以上説明したように請求項1の多層プリ
ント配線板においては、メッシュパターンの導体回路の
有する導体非形成部分が、円形状に形成され、角部がな
いため、応力が集中することがなく、導体配線に断線を
生じさせない。As described above, in the multilayer printed wiring board according to the first aspect, since the conductor-free portion of the conductor circuit of the mesh pattern is formed in a circular shape and has no corners, stress concentrates. It does not cause disconnection in the conductor wiring.
【0049】[0049]
【0050】請求項2の多層プリント配線板において
は、メッシュパターンの内層導体回路又はメッシュパタ
ーンの導体回路が、粗化処理されているため、上層の層
間樹脂絶縁層との密着性が高く、層間樹脂絶縁層の剥離
が発生しない。In the multilayer printed wiring board according to the second aspect , the inner layer conductive circuit or the mesh pattern of the mesh pattern is provided.
Since the conductor circuit of the ground is roughened, the adhesiveness to the upper interlayer resin insulating layer is high, and peeling of the interlayer resin insulating layer does not occur.
【図1】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。FIG. 1 is a diagram illustrating a manufacturing process of a multilayer printed wiring board according to a first embodiment of the present invention.
【図2】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図3】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図4】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。FIG. 4 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図5】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。FIG. 5 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図6】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図7】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図8】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。FIG. 8 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図9】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。FIG. 9 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図10】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。FIG. 10 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図11】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。FIG. 11 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図12】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。FIG. 12 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図13】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。FIG. 13 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図14】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。FIG. 14 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図15】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。FIG. 15 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図16】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。FIG. 16 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図17】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。FIG. 17 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図18】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。FIG. 18 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図19】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。FIG. 19 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図20】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。FIG. 20 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図21】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。FIG. 21 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図22】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板を示す断面図である。FIG. 22 is a sectional view showing the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
【図23】図22に示す多層プリント配線板のX1−X
1横断面図である。FIG. 23 is a cross-sectional view of the multilayer printed wiring board shown in FIG.
FIG.
【図24】本発明の第2実施形態に係る多層プリント配
線板の構成を示す断面図である。FIG. 24 is a cross-sectional view illustrating a configuration of a multilayer printed wiring board according to a second embodiment of the present invention.
【図25】図25(A)、図25(B)は、図24に示
す多層プリント配線板の導体回路の平面図であり、図2
5(C)、図25(D)は、図22に示す多層プリント
配線板の導体回路の平面図である。25 (A) and 25 (B) are plan views of conductor circuits of the multilayer printed wiring board shown in FIG. 24, and FIG.
5 (C) and FIG. 25 (D) are plan views of the conductor circuit of the multilayer printed wiring board shown in FIG.
【図26】従来技術に係る多層プリント配線板のグラン
ド層の平面図である。FIG. 26 is a plan view of a ground layer of a multilayer printed wiring board according to the related art.
【図27】図27(A)、図27(B)、図27
(C)、図27(D)、図27(E)は、従来技術に係
る多層プリント配線板の製造工程を示す図である。27 (A), 27 (B), 27
(C), (D) and (E) of FIG. 27 are diagrams illustrating a manufacturing process of a multilayer printed wiring board according to a conventional technique.
30 基板 34U、34D 内層銅パターン(内層導体回路) 35 導体非形成部分 38 粗化層 40 樹脂充填剤 42 粗化層 48 バイアホール用開口 50 層間樹脂絶縁層 58U、58D 導体回路 60U、60D バイアホール 76U、76D 半田バンプ 150 層間樹脂絶縁層 DESCRIPTION OF SYMBOLS 30 Substrate 34U, 34D Inner-layer copper pattern (inner conductor circuit) 35 Non-conductor part 38 Roughened layer 40 Resin filler 42 Roughened layer 48 Via hole opening 50 Interlayer resin insulation layer 58U, 58D Conductor circuit 60U, 60D Via hole 76U, 76D solder bump 150 interlayer resin insulation layer
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H05K 3/46 H05K 1/02 H05K 3/38 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H05K 3/46 H05K 1/02 H05K 3/38
Claims (2)
樹脂絶縁層を介して導体回路が形成されてなる多層プリ
ント配線板であって、 前記内層導体回路又は導体回路が、電源層又はグランド
層として形成され、 該電源層又はグランド層として形成された内層導体回路
又は導体回路が、円形状の導体非形成部分を有するメッ
シュパターンであり、該メッシュパターンにバイアホール接続領域が形成さ
れ、 前記電源層又はグランド層の導体非形成部分に樹脂が充
填され、該充填された樹脂と前記電源層又はグランド層
とが平滑化されていることを特徴とする多層プリント配
線板。1. A multilayer printed wiring board comprising a conductor circuit formed on a substrate on which an inner conductor circuit is formed via an interlayer resin insulating layer, wherein the inner conductor circuit or the conductor circuit is a power supply layer or a ground. The inner conductor circuit or the conductor circuit formed as a power supply layer or the ground layer is a mesh pattern having a circular conductor non-formed portion, and a via hole connection region is formed in the mesh pattern.
Is, the resin is filled in the conductor non-formation portion of the power supply layer or a ground layer, a multilayer printed wiring board and the filled resin and the power supply layer or the ground layer is characterized in that it is smoothed.
びメッシュパターンの導体回路は、粗化処理されている
ことを特徴とする請求項1の多層プリント配線板。2. A conductor circuit of the inner layer conductor circuit and the mesh patterns of the mesh pattern, a multilayer printed wiring board according to claim 1, characterized in that it is roughened.
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