JP3375195B2 - 光走査装置 - Google Patents
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- WRRSFOZOETZUPG-FFHNEAJVSA-N (4r,4ar,7s,7ar,12bs)-9-methoxy-3-methyl-2,4,4a,7,7a,13-hexahydro-1h-4,12-methanobenzofuro[3,2-e]isoquinoline-7-ol;hydrate Chemical compound O.C([C@H]1[C@H](N(CC[C@@]112)C)C3)=C[C@H](O)[C@@H]1OC1=C2C3=CC=C1OC WRRSFOZOETZUPG-FFHNEAJVSA-N 0.000 description 12
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/10—Scanning systems
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ビームを被走査体に
照射して前記被走査体の走査記録または走査読取を行う
光走査装置に関する。
照射して前記被走査体の走査記録または走査読取を行う
光走査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ビーム発生手段から導出された光ビー
ムを光ビーム偏向手段および走査レンズ等の走査光学手
段を介して被走査体上に主走査方向に走査させる光走査
装置が、前記被走査体に所定の画像等を記録する記録装
置や、該被走査体に予め担持されている画像情報を光電
的に読み取る読取装置として広く使用されている。
ムを光ビーム偏向手段および走査レンズ等の走査光学手
段を介して被走査体上に主走査方向に走査させる光走査
装置が、前記被走査体に所定の画像等を記録する記録装
置や、該被走査体に予め担持されている画像情報を光電
的に読み取る読取装置として広く使用されている。
【０００３】この種の光走査装置では、光ビーム偏向手
段として共振型光偏向器、回転多面鏡またはガルバノメ
ータミラー等が用いられているが、この光ビーム偏向手
段は、それ自体の製造誤差や取り付け誤差等に起因して
反射面が傾斜するおそれがある。この反射面が傾斜する
と、光ビームが被走査体上に主走査方向に走査される際
に走査線の曲がり、傾きおよび副走査方向への位置ずれ
が発生してしまう。
段として共振型光偏向器、回転多面鏡またはガルバノメ
ータミラー等が用いられているが、この光ビーム偏向手
段は、それ自体の製造誤差や取り付け誤差等に起因して
反射面が傾斜するおそれがある。この反射面が傾斜する
と、光ビームが被走査体上に主走査方向に走査される際
に走査線の曲がり、傾きおよび副走査方向への位置ずれ
が発生してしまう。
【０００４】そこで、特開平２−６４５２１号公報に開
示されているように、被走査体上の走査線の湾曲量およ
び傾斜量を測定し、次いで、この湾曲量および傾斜量に
基づいて求められた補正角だけ光ビーム偏向手段を傾斜
させた後、必要に応じて走査線の副走査方向へのオフセ
ット量の位置補正を行うことを特徴とする走査ビーム軌
跡補正方法が提案されている。
示されているように、被走査体上の走査線の湾曲量およ
び傾斜量を測定し、次いで、この湾曲量および傾斜量に
基づいて求められた補正角だけ光ビーム偏向手段を傾斜
させた後、必要に応じて走査線の副走査方向へのオフセ
ット量の位置補正を行うことを特徴とする走査ビーム軌
跡補正方法が提案されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記の従来
技術では、光ビーム偏向手段を二軸方向に傾動させて走
査線の湾曲量および傾斜量を補正した後、オフセット量
の位置補正を行うべく、走査レンズと被走査体の間に配
設されている反射ミラーを傾動させる作業が行われてい
る。このため、光ビーム偏向手段を交換する場合、この
新たな光ビーム偏向手段を二軸方向に調整するととも
に、反射ミラーを該新たな光ビーム偏向手段に対応して
傾動調整しなければならず、この種の調整作業全体が相
当に煩雑かつ時間のかかるものとなってしまうという問
題が指摘されている。
技術では、光ビーム偏向手段を二軸方向に傾動させて走
査線の湾曲量および傾斜量を補正した後、オフセット量
の位置補正を行うべく、走査レンズと被走査体の間に配
設されている反射ミラーを傾動させる作業が行われてい
る。このため、光ビーム偏向手段を交換する場合、この
新たな光ビーム偏向手段を二軸方向に調整するととも
に、反射ミラーを該新たな光ビーム偏向手段に対応して
傾動調整しなければならず、この種の調整作業全体が相
当に煩雑かつ時間のかかるものとなってしまうという問
題が指摘されている。
【０００６】本発明は、この種の問題を解決するための
ものであり、被走査体上に主走査方向に走査される光ビ
ームの曲がり、傾きおよび副走査方向への位置ずれを効
率的に補正することができ、光ビーム偏向手段の交換作
業を容易かつ迅速に遂行可能な光走査装置を提供するこ
とを目的とする。
ものであり、被走査体上に主走査方向に走査される光ビ
ームの曲がり、傾きおよび副走査方向への位置ずれを効
率的に補正することができ、光ビーム偏向手段の交換作
業を容易かつ迅速に遂行可能な光走査装置を提供するこ
とを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、本発明は、光ビーム発生手段から導出された光ビ
ームを光ビーム偏向手段および走査レンズを介して被走
査体上に走査させる光走査装置であって、前記光ビーム
発生手段から導出された光ビームを反射させて前記光ビ
ーム偏向手段に導く反射ミラーと、前記反射ミラーおよ
び前記光ビーム偏向手段が装着された走査ユニットと、
前記走査ユニット内で該反射ミラーを一軸方向に傾動調
整するための第１調整機構と、前記走査ユニット内で該
光ビーム偏向手段を二軸方向に傾動調整するための第２
調整機構と、を備え、前記被走査体上に主走査方向に走
査される前記光ビームの曲がり、傾きおよび副走査方向
への位置ずれを、前記第１および第２調整機構を介して
補正することを特徴とする。
めに、本発明は、光ビーム発生手段から導出された光ビ
ームを光ビーム偏向手段および走査レンズを介して被走
査体上に走査させる光走査装置であって、前記光ビーム
発生手段から導出された光ビームを反射させて前記光ビ
ーム偏向手段に導く反射ミラーと、前記反射ミラーおよ
び前記光ビーム偏向手段が装着された走査ユニットと、
前記走査ユニット内で該反射ミラーを一軸方向に傾動調
整するための第１調整機構と、前記走査ユニット内で該
光ビーム偏向手段を二軸方向に傾動調整するための第２
調整機構と、を備え、前記被走査体上に主走査方向に走
査される前記光ビームの曲がり、傾きおよび副走査方向
への位置ずれを、前記第１および第２調整機構を介して
補正することを特徴とする。
【０００８】
【作用】本発明に係る光走査装置では、反射ミラーが第
１調整機構を介して一軸方向に傾動調整されるととも
に、光ビーム偏向手段が第２調整機構を介して二軸方向
に傾動調整されることにより、被走査体上に主走査方向
に走査される光ビームの曲がり、傾きおよび副走査方向
への位置ずれが補正される。そして、反射ミラーおよび
光ビーム偏向手段が、同一の走査ユニットに装着されて
いるため、この走査ユニット内で前記反射ミラーおよび
光ビーム偏向手段の傾動調整を行うことができる。従っ
て、走査ユニットを交換する際には、反射ミラーおよび
光ビーム偏向手段を新たに傾動調整する必要がなく、前
記走査ユニットの交換作業が一挙に容易かつ効率的に遂
行される。
１調整機構を介して一軸方向に傾動調整されるととも
に、光ビーム偏向手段が第２調整機構を介して二軸方向
に傾動調整されることにより、被走査体上に主走査方向
に走査される光ビームの曲がり、傾きおよび副走査方向
への位置ずれが補正される。そして、反射ミラーおよび
光ビーム偏向手段が、同一の走査ユニットに装着されて
いるため、この走査ユニット内で前記反射ミラーおよび
光ビーム偏向手段の傾動調整を行うことができる。従っ
て、走査ユニットを交換する際には、反射ミラーおよび
光ビーム偏向手段を新たに傾動調整する必要がなく、前
記走査ユニットの交換作業が一挙に容易かつ効率的に遂
行される。
【０００９】
【実施例】本発明に係る光走査装置について実施例を挙
げ、添付の図面を参照しながら以下詳細に説明する。
げ、添付の図面を参照しながら以下詳細に説明する。
【００１０】図１において、参照数字１０は、本実施例
に係る光走査装置である記録装置を示す。この記録装置
１０は、レーザビーム等の光ビームＬを導出するレーザ
ダイオード（記録光源）１２およびコリメータレンズ１
３を含むＬＤユニット１４と、この光ビームＬを主走査
方向（矢印Ａ方向）に反射偏向させる共振型光偏向器
（光ビーム偏向手段）１６と、走査レンズとしてのｆθ
レンズ１８と、前記ＬＤユニット１４から導出された光
ビームＬを反射させて前記共振型光偏向器１６に導く反
射ミラー２０と、この反射ミラー２０および前記共振型
光偏向器１６が装着された走査ユニット２２と、前記走
査ユニット２２内で該反射ミラー２０をＹ軸回り（一軸
方向）に傾動調整するための第１調整機構２４と、前記
走査ユニット２２内で該共振型光偏向器１６をＹ軸回り
およびＸ軸回り（二軸方向）に傾動調整するための第２
調整機構２６と、フイルム（被走査体）Ｆを主走査方向
に略直交する副走査方向（矢印Ｂ方向）に搬送する副走
査搬送機構２８とを備える。
に係る光走査装置である記録装置を示す。この記録装置
１０は、レーザビーム等の光ビームＬを導出するレーザ
ダイオード（記録光源）１２およびコリメータレンズ１
３を含むＬＤユニット１４と、この光ビームＬを主走査
方向（矢印Ａ方向）に反射偏向させる共振型光偏向器
（光ビーム偏向手段）１６と、走査レンズとしてのｆθ
レンズ１８と、前記ＬＤユニット１４から導出された光
ビームＬを反射させて前記共振型光偏向器１６に導く反
射ミラー２０と、この反射ミラー２０および前記共振型
光偏向器１６が装着された走査ユニット２２と、前記走
査ユニット２２内で該反射ミラー２０をＹ軸回り（一軸
方向）に傾動調整するための第１調整機構２４と、前記
走査ユニット２２内で該共振型光偏向器１６をＹ軸回り
およびＸ軸回り（二軸方向）に傾動調整するための第２
調整機構２６と、フイルム（被走査体）Ｆを主走査方向
に略直交する副走査方向（矢印Ｂ方向）に搬送する副走
査搬送機構２８とを備える。
【００１１】走査ユニット２２は、ユニット本体３０を
備え、図２に示すように、このユニット本体３０に共振
型光偏向器用第１取付部３２と反射ミラー用第２取付部
３４とが設けられる。第１取付部３２は、鉛直方向に軸
方向を有する円錐面３６を有し、この円錐面３６の小径
端部側に孔部３８が形成される（図３参照）。
備え、図２に示すように、このユニット本体３０に共振
型光偏向器用第１取付部３２と反射ミラー用第２取付部
３４とが設けられる。第１取付部３２は、鉛直方向に軸
方向を有する円錐面３６を有し、この円錐面３６の小径
端部側に孔部３８が形成される（図３参照）。
【００１２】共振型光偏向器１６は、図３および図４に
示すように、駆動部４０を介して振動する平面鏡４２
と、この平面鏡４２を収容するケーシング４４とを備え
る。ケーシング４４の下部側外周面には、球面４６が形
成され、この球面４６と第１取付部３２の円錐面３６と
で球面支持構造が構成される。これにより、共振型光偏
向器１６は、第１取付部３２に対して種々の方向に傾動
可能に装着され、所定の傾動姿勢でねじ止めにより固定
される。
示すように、駆動部４０を介して振動する平面鏡４２
と、この平面鏡４２を収容するケーシング４４とを備え
る。ケーシング４４の下部側外周面には、球面４６が形
成され、この球面４６と第１取付部３２の円錐面３６と
で球面支持構造が構成される。これにより、共振型光偏
向器１６は、第１取付部３２に対して種々の方向に傾動
可能に装着され、所定の傾動姿勢でねじ止めにより固定
される。
【００１３】図５に示すように、第２取付部３４は、鉛
直方向（Ｚ軸方向）に立設されており、その側壁の下方
から上方に、順次、ピン用孔部４８、長穴５０ａおよび
５０ｂが形成される。反射ミラー２０は、保持部材５２
に所定の角度姿勢で装着されており、孔部４８に挿入さ
れたピン５４がこの保持部材５２の側部下端側に嵌合さ
れる。長穴５０ａおよび５０ｂは、Ｘ軸方向に長尺に形
成されており、この長穴５０ａ、５０ｂに遊嵌されたね
じ５６、５６が保持部材５２の側部に螺合してこの保持
部材５２を所定の傾動姿勢で固定する。
直方向（Ｚ軸方向）に立設されており、その側壁の下方
から上方に、順次、ピン用孔部４８、長穴５０ａおよび
５０ｂが形成される。反射ミラー２０は、保持部材５２
に所定の角度姿勢で装着されており、孔部４８に挿入さ
れたピン５４がこの保持部材５２の側部下端側に嵌合さ
れる。長穴５０ａおよび５０ｂは、Ｘ軸方向に長尺に形
成されており、この長穴５０ａ、５０ｂに遊嵌されたね
じ５６、５６が保持部材５２の側部に螺合してこの保持
部材５２を所定の傾動姿勢で固定する。
【００１４】ユニット本体３０は、反射ミラー２０およ
び共振型光偏向器１６の傾動調整が行われる際に第１治
具５８ａ乃至第３治具５８ｃに配設されており（図２参
照）、この第１治具５８ａに第１調整機構２４を構成す
る第１マイクロメータヘッド６０が水平姿勢で保持され
る。この第１マイクロメータヘッド６０のスピンドル６
２は、矢印Ｘ方向に延びており、保持部材５２の上端側
に係合している（図２および図４参照）。
び共振型光偏向器１６の傾動調整が行われる際に第１治
具５８ａ乃至第３治具５８ｃに配設されており（図２参
照）、この第１治具５８ａに第１調整機構２４を構成す
る第１マイクロメータヘッド６０が水平姿勢で保持され
る。この第１マイクロメータヘッド６０のスピンドル６
２は、矢印Ｘ方向に延びており、保持部材５２の上端側
に係合している（図２および図４参照）。
【００１５】第２調整機構２６は、第１治具５８ａに直
交する方向に延在する第２治具５８ｂおよびこの第２治
具５８ｂに直交する方向に延在する第３治具５８ｃにそ
れぞれ水平姿勢で保持された第２マイクロメータヘッド
６８および第３マイクロメータヘッド７０を備える。第
２マイクロメータヘッド６８のスピンドル７２は、矢印
Ｘ方向に直交する矢印Ｙ方向に延びて共振型光偏向器１
６の上端側に係合するとともに、第３マイクロメータヘ
ッド７０のスピンドル７４は、矢印Ｘ方向に延びて前記
共振型光偏向器１６の上端側に係合する（図２乃至図４
参照）。
交する方向に延在する第２治具５８ｂおよびこの第２治
具５８ｂに直交する方向に延在する第３治具５８ｃにそ
れぞれ水平姿勢で保持された第２マイクロメータヘッド
６８および第３マイクロメータヘッド７０を備える。第
２マイクロメータヘッド６８のスピンドル７２は、矢印
Ｘ方向に直交する矢印Ｙ方向に延びて共振型光偏向器１
６の上端側に係合するとともに、第３マイクロメータヘ
ッド７０のスピンドル７４は、矢印Ｘ方向に延びて前記
共振型光偏向器１６の上端側に係合する（図２乃至図４
参照）。
【００１６】図１に示すように、副走査搬送機構２８
は、図示しないモータによって回転駆動される比較的大
径な搬送ドラム７６と、この搬送ドラム７６にフイルム
Ｆを挟持するためのニップローラ７８、８０とを備え、
このフイルムＦを主走査方向（矢印Ａ方向）に略直交す
る副走査方向（矢印Ｂ方向）に搬送する。
は、図示しないモータによって回転駆動される比較的大
径な搬送ドラム７６と、この搬送ドラム７６にフイルム
Ｆを挟持するためのニップローラ７８、８０とを備え、
このフイルムＦを主走査方向（矢印Ａ方向）に略直交す
る副走査方向（矢印Ｂ方向）に搬送する。
【００１７】次に、このように構成される記録装置１０
の動作を説明する。
の動作を説明する。
【００１８】まず、ＬＤユニット１４が駆動されると、
このＬＤユニット１４から出力された光ビームＬは、反
射ミラー２０で反射されて共振型光偏向器１６に導かれ
る。この共振型光偏向器１６では、駆動部４０の作用下
に平面鏡４２が振動されており、この平面鏡４２で主走
査方向（矢印Ａ方向）に振られた光ビームＬは、ｆθレ
ンズ１８を介してフイルムＦに導かれる。
このＬＤユニット１４から出力された光ビームＬは、反
射ミラー２０で反射されて共振型光偏向器１６に導かれ
る。この共振型光偏向器１６では、駆動部４０の作用下
に平面鏡４２が振動されており、この平面鏡４２で主走
査方向（矢印Ａ方向）に振られた光ビームＬは、ｆθレ
ンズ１８を介してフイルムＦに導かれる。
【００１９】一方、副走査搬送機構２８では、搬送ドラ
ム７６が矢印Ｂ方向に回転されており、この搬送ドラム
７６とニップローラ７８、８０とを介してフイルムＦが
矢印Ｂ方向に副走査搬送されている。このため、フイル
ムＦには二次元的に画像が露光記録される。
ム７６が矢印Ｂ方向に回転されており、この搬送ドラム
７６とニップローラ７８、８０とを介してフイルムＦが
矢印Ｂ方向に副走査搬送されている。このため、フイル
ムＦには二次元的に画像が露光記録される。
【００２０】ところで、共振型光偏向器１６では、それ
自体の製造誤差や取り付け誤差等に起因して平面鏡４２
が傾斜するおそれがある。この平面鏡４２が傾斜する
と、光ビームＬがフイルムＦに主走査方向に走査される
際、図６乃至図８に示すように、走査線８２の湾曲（以
下、ＢＯＷという）、走査線８２の主走査方向に対する
傾き（以下、ＬＥＡＮという）および走査線８２の副走
査方向への位置ずれ（以下、ＯＦＦＳＥＴという）が発
生してしまう。
自体の製造誤差や取り付け誤差等に起因して平面鏡４２
が傾斜するおそれがある。この平面鏡４２が傾斜する
と、光ビームＬがフイルムＦに主走査方向に走査される
際、図６乃至図８に示すように、走査線８２の湾曲（以
下、ＢＯＷという）、走査線８２の主走査方向に対する
傾き（以下、ＬＥＡＮという）および走査線８２の副走
査方向への位置ずれ（以下、ＯＦＦＳＥＴという）が発
生してしまう。
【００２１】その際、本実施例では、走査ユニット２２
内で第１および第２調整機構２４、２６を操作すること
により、走査線８２のＢＯＷ、ＬＥＡＮおよびＯＦＦＳ
ＥＴを０にすることができる。以下にその作業について
説明する。
内で第１および第２調整機構２４、２６を操作すること
により、走査線８２のＢＯＷ、ＬＥＡＮおよびＯＦＦＳ
ＥＴを０にすることができる。以下にその作業について
説明する。
【００２２】まず、図９に示すように、反射ミラー２０
のＹ軸回りの傾動角をφmyとするとともに、平面鏡４２
のＸ軸回りの傾動角およびＹ軸回りの傾動角をφsx、φ
syとする。また、平面鏡４２のＺ軸回りの回転角をθs
とする。そして、それぞれの傾動角φmy、φsxおよびφ
syを０とした時、反射ミラー２０の入射ベクトルＩ1、
反射ミラー２０の法線ベクトルＭ1 および平面鏡４２の
法線ベクトルＭ2 を、
のＹ軸回りの傾動角をφmyとするとともに、平面鏡４２
のＸ軸回りの傾動角およびＹ軸回りの傾動角をφsx、φ
syとする。また、平面鏡４２のＺ軸回りの回転角をθs
とする。そして、それぞれの傾動角φmy、φsxおよびφ
syを０とした時、反射ミラー２０の入射ベクトルＩ1、
反射ミラー２０の法線ベクトルＭ1 および平面鏡４２の
法線ベクトルＭ2 を、
【００２３】
【数１】
【００２４】とすると、反射ミラー２０の反射ベクトル
Ｒ1 は、Ｒ1 ＝Ｉ1 −２（Ｉ1 ・Ｍ1）Ｍ1 （但し、Ｉ
1 ・Ｍ1 はベクトルの内積）と表すことができる。ま
た、平面鏡４２の反射ベクトルＲ2 （すなわち、ｆθレ
ンズ１８の入射ベクトル）は、Ｒ 2 ＝Ｒ1 −２（Ｒ1 ・
Ｍ2 ）Ｍ2 と表すことができる。
Ｒ1 は、Ｒ1 ＝Ｉ1 −２（Ｉ1 ・Ｍ1）Ｍ1 （但し、Ｉ
1 ・Ｍ1 はベクトルの内積）と表すことができる。ま
た、平面鏡４２の反射ベクトルＲ2 （すなわち、ｆθレ
ンズ１８の入射ベクトル）は、Ｒ 2 ＝Ｒ1 −２（Ｒ1 ・
Ｍ2 ）Ｍ2 と表すことができる。
【００２５】そこで、反射ベクトルＲ2 を、
【００２６】
【数２】
【００２７】とし、反射ベクトルＲ2 をＸＹ平面、ＹＺ
平面に写像した像とＹ軸とのなす角をそれぞれθ、ψと
すると（図１０参照）、ｒX ＝ｒY ・ｔａｎθおよびｒ
Z ＝ｒ Y ・ｔａｎψとなる。
平面に写像した像とＹ軸とのなす角をそれぞれθ、ψと
すると（図１０参照）、ｒX ＝ｒY ・ｔａｎθおよびｒ
Z ＝ｒ Y ・ｔａｎψとなる。
【００２８】従って、ｆθレンズ１８による結像点の位
置は、
置は、
【００２９】
【数３】
【００３０】から計算することができる。
【００３１】ここで、反射ミラー２０が微小傾動角φmy
だけ傾動したとすると、この反射ミラー２０の法線ベク
トルＭ1 ′は、
だけ傾動したとすると、この反射ミラー２０の法線ベク
トルＭ1 ′は、
【００３２】
【数４】
【００３３】から計算することができる。
【００３４】また、平面鏡４２が微小傾動角φsxおよび
φsyだけ傾動したとすると、この平面鏡４２の法線ベク
トルＭ2 ′は、
φsyだけ傾動したとすると、この平面鏡４２の法線ベク
トルＭ2 ′は、
【００３５】
【数５】
【００３６】から計算することができる。これによっ
て、ｆθレンズ１８による結像点の位置が、同様に計算
可能となる。
て、ｆθレンズ１８による結像点の位置が、同様に計算
可能となる。
【００３７】以上の考え方を利用して、平面鏡４２が振
動した時の結像面での走査位置を求め、走査線８２のＢ
ＯＷ、ＬＥＡＮおよびＯＦＦＳＥＴを補正する方法を説
明する。
動した時の結像面での走査位置を求め、走査線８２のＢ
ＯＷ、ＬＥＡＮおよびＯＦＦＳＥＴを補正する方法を説
明する。
【００３８】まず、図１１に示すように、走査線８２の
画角の左、中央および右のＺ方向の位置をそれぞれ
Ｚ1 、Ｚ2 およびＺ3 とし、ＢＯＷ＝（Ｚ1 ＋Ｚ3 ）／
２−Ｚ2、ＬＥＡＮ＝Ｚ3 −Ｚ1 、ＯＦＦＳＥＴ＝Ｚ2
と定義する。
画角の左、中央および右のＺ方向の位置をそれぞれ
Ｚ1 、Ｚ2 およびＺ3 とし、ＢＯＷ＝（Ｚ1 ＋Ｚ3 ）／
２−Ｚ2、ＬＥＡＮ＝Ｚ3 −Ｚ1 、ＯＦＦＳＥＴ＝Ｚ2
と定義する。
【００３９】このように定義すると、例えば、反射ミラ
ー２０の傾動角をφmyとしかつ平面鏡４２の倒れを０と
した時のＢＯＷ、ＬＥＡＮおよびＯＦＦＳＥＴは、前述
の方法で計算することができる。その値をＢ1 、Ｌ1 お
よびＯ1 とすると、傾動角φ myに対するＢＯＷ、ＬＥＡ
ＮおよびＯＦＦＳＥＴの関係は、
ー２０の傾動角をφmyとしかつ平面鏡４２の倒れを０と
した時のＢＯＷ、ＬＥＡＮおよびＯＦＦＳＥＴは、前述
の方法で計算することができる。その値をＢ1 、Ｌ1 お
よびＯ1 とすると、傾動角φ myに対するＢＯＷ、ＬＥＡ
ＮおよびＯＦＦＳＥＴの関係は、
【００４０】
【数６】
【００４１】と表すことができる。
【００４２】同様に、平面鏡４２の傾動角φsx≠０でか
つφmy＝φsy＝０の時のＢＯＷ、ＬＥＡＮおよびＯＦＦ
ＳＥＴの値をＢ2 、Ｌ2 およびＯ2 とするとともに、平
面鏡４２の傾動角φsy≠０でかつφmy＝φsx＝０の時の
ＢＯＷ、ＬＥＡＮおよびＯＦＦＳＥＴの値をＢ3 、Ｌ3
およびＯ3 とすると、
つφmy＝φsy＝０の時のＢＯＷ、ＬＥＡＮおよびＯＦＦ
ＳＥＴの値をＢ2 、Ｌ2 およびＯ2 とするとともに、平
面鏡４２の傾動角φsy≠０でかつφmy＝φsx＝０の時の
ＢＯＷ、ＬＥＡＮおよびＯＦＦＳＥＴの値をＢ3 、Ｌ3
およびＯ3 とすると、
【００４３】
【数７】
【００４４】と表すことができる。
【００４５】従って、各傾動角φmy、φsxおよびφsyが
未調整のユニット本体３０が第１治具５８ａ乃至第３治
具５８ｃ上に取り付けられ、Ｚ1 、Ｚ2 およびＺ3 を測
定することによって求めたＢＯＷ、ＬＥＡＮおよびＯＦ
ＦＳＥＴの値をＢ0 、Ｌ0 およびＯ0 とすると、これを
０にするように調整するための調整角φ′my、φ′sxお
よびφ′syは、
未調整のユニット本体３０が第１治具５８ａ乃至第３治
具５８ｃ上に取り付けられ、Ｚ1 、Ｚ2 およびＺ3 を測
定することによって求めたＢＯＷ、ＬＥＡＮおよびＯＦ
ＦＳＥＴの値をＢ0 、Ｌ0 およびＯ0 とすると、これを
０にするように調整するための調整角φ′my、φ′sxお
よびφ′syは、
【００４６】
【数８】
【００４７】から計算することができる。これにより、
反射ミラー２０のＹ軸回りの傾動角をφ′myだけ調整す
るとともに、平面鏡４２のＸ軸回りおよびＹ軸回りの傾
動角をφ′sxおよびφ′syだけ調整することにより、走
査ユニット２２内でＢＯＷ、ＬＥＡＮおよびＯＦＦＳＥ
Ｔの値を０にすることが可能になる。
反射ミラー２０のＹ軸回りの傾動角をφ′myだけ調整す
るとともに、平面鏡４２のＸ軸回りおよびＹ軸回りの傾
動角をφ′sxおよびφ′syだけ調整することにより、走
査ユニット２２内でＢＯＷ、ＬＥＡＮおよびＯＦＦＳＥ
Ｔの値を０にすることが可能になる。
【００４８】次いで、走査ユニット２２内で反射ミラー
２０および平面鏡４２の傾動角を実際に調整する作業に
ついて説明する。
２０および平面鏡４２の傾動角を実際に調整する作業に
ついて説明する。
【００４９】図２および図４に示すように、ユニット本
体３０が第１治具５８ａ乃至第３治具５８ｃに取り付け
られた後、第１調整機構２４を構成する第１マイクロメ
ータヘッド６０が操作されると、スピンドル６２が回転
しながら矢印Ｘ方向に進退移動して保持部材５２の上端
側を押圧する。このため、保持部材５２は、その下端側
に挿入されたピン５４を支点にして揺動し、反射ミラー
２０がＹ軸回りに傾動する（図５参照）。この反射ミラ
ー２０の傾動角がφ′myだけ調整されると、第１マイク
ロメータヘッド６０の操作が終了するとともに、ねじ５
６、５６が締め付けられて保持部材５２がその調整角度
姿勢で固定される。
体３０が第１治具５８ａ乃至第３治具５８ｃに取り付け
られた後、第１調整機構２４を構成する第１マイクロメ
ータヘッド６０が操作されると、スピンドル６２が回転
しながら矢印Ｘ方向に進退移動して保持部材５２の上端
側を押圧する。このため、保持部材５２は、その下端側
に挿入されたピン５４を支点にして揺動し、反射ミラー
２０がＹ軸回りに傾動する（図５参照）。この反射ミラ
ー２０の傾動角がφ′myだけ調整されると、第１マイク
ロメータヘッド６０の操作が終了するとともに、ねじ５
６、５６が締め付けられて保持部材５２がその調整角度
姿勢で固定される。
【００５０】一方、図２および図３に示されるように、
第２調整機構２６を構成する第２マイクロメータヘッド
６８が操作されると、スピンドル７２の押圧作用下に共
振型光偏向器１６を構成するケーシング４４が、その下
端に設けられた球面４６および円錐面３６の案内作用下
にＸ軸回りに傾動し、φ′sxの調整が行われる。また、
図２および図４に示されるように、第３マイクロメータ
ヘッド７０が操作されると、スピンドル７４の押圧作用
下にケーシング４４がＹ軸回りに傾動し、φ′ syの調整
が行われる。そして、ケーシング４４は、第１取付部３
２にねじ止めによって固定される。上記調整作業終了
後、ユニット本体３０が第１治具５８ａ乃至第３治具５
８ｃから取り外される。
第２調整機構２６を構成する第２マイクロメータヘッド
６８が操作されると、スピンドル７２の押圧作用下に共
振型光偏向器１６を構成するケーシング４４が、その下
端に設けられた球面４６および円錐面３６の案内作用下
にＸ軸回りに傾動し、φ′sxの調整が行われる。また、
図２および図４に示されるように、第３マイクロメータ
ヘッド７０が操作されると、スピンドル７４の押圧作用
下にケーシング４４がＹ軸回りに傾動し、φ′ syの調整
が行われる。そして、ケーシング４４は、第１取付部３
２にねじ止めによって固定される。上記調整作業終了
後、ユニット本体３０が第１治具５８ａ乃至第３治具５
８ｃから取り外される。
【００５１】このように本実施例では、反射ミラー２０
および共振型光偏向器１６が走査ユニット２２に装着さ
れており、この反射ミラー２０を一軸方向（Ｙ軸回り）
に調整するとともに、この共振型光偏向器１６を二軸方
向（Ｙ軸回りおよびＸ軸回り）に調整するだけで、前記
走査ユニット２２内で走査線８２のＢＯＷ、ＬＥＡＮお
よびＯＦＦＳＥＴの値を０にすることができる。
および共振型光偏向器１６が走査ユニット２２に装着さ
れており、この反射ミラー２０を一軸方向（Ｙ軸回り）
に調整するとともに、この共振型光偏向器１６を二軸方
向（Ｙ軸回りおよびＸ軸回り）に調整するだけで、前記
走査ユニット２２内で走査線８２のＢＯＷ、ＬＥＡＮお
よびＯＦＦＳＥＴの値を０にすることができる。
【００５２】従って、各走査ユニット２２毎にＢＯＷ、
ＬＥＡＮおよびＯＦＦＳＥＴを０にする調整を予め個別
に行うことが可能になり、記録装置１０において、走査
ユニット２２を新たな走査ユニット２２と交換する際、
この新たな走査ユニット２２を前記記録装置１０に装着
した後にＢＯＷ、ＬＥＡＮおよびＯＦＦＳＥＴを０にす
る調整を再度行う必要がない。これにより、作業工数が
大幅に削減されて走査ユニット２２の交換作業が一挙に
簡単かつ迅速に遂行されるという効果が得られる。
ＬＥＡＮおよびＯＦＦＳＥＴを０にする調整を予め個別
に行うことが可能になり、記録装置１０において、走査
ユニット２２を新たな走査ユニット２２と交換する際、
この新たな走査ユニット２２を前記記録装置１０に装着
した後にＢＯＷ、ＬＥＡＮおよびＯＦＦＳＥＴを０にす
る調整を再度行う必要がない。これにより、作業工数が
大幅に削減されて走査ユニット２２の交換作業が一挙に
簡単かつ迅速に遂行されるという効果が得られる。
【００５３】なお、本実施例では、光ビーム偏向手段と
して共振型光偏向器１６を使用したが、これに限定され
るものではなく、回転多面鏡やガルバノメータミラーを
用いることができる。また、走査装置として記録装置１
０を用いて説明したが、読取装置を採用することも可能
である。
して共振型光偏向器１６を使用したが、これに限定され
るものではなく、回転多面鏡やガルバノメータミラーを
用いることができる。また、走査装置として記録装置１
０を用いて説明したが、読取装置を採用することも可能
である。
【００５４】
【発明の効果】本発明に係る光走査装置によれば、以下
の効果が得られる。
の効果が得られる。
【００５５】反射ミラーおよび光ビーム偏向手段が、同
一の走査ユニットに装着されており、前記反射ミラーが
一軸方向に傾動調整されるとともに、前記光ビーム偏向
手段が二軸方向に傾動調整され、被走査体上に主走査方
向に走査される光ビームの曲がり、傾きおよび副走査方
向への位置ずれが補正される。このため、走査ユニット
内で反射ミラーおよび光ビーム偏向手段の傾動調整を予
め行うことができ、走査ユニットを交換する際に前記反
射ミラーおよび光ビーム偏向手段の傾動調整を新たに行
う必要がない。従って、光走査位置において、走査ユニ
ットの交換作業が一挙に容易かつ効率的に遂行される。
一の走査ユニットに装着されており、前記反射ミラーが
一軸方向に傾動調整されるとともに、前記光ビーム偏向
手段が二軸方向に傾動調整され、被走査体上に主走査方
向に走査される光ビームの曲がり、傾きおよび副走査方
向への位置ずれが補正される。このため、走査ユニット
内で反射ミラーおよび光ビーム偏向手段の傾動調整を予
め行うことができ、走査ユニットを交換する際に前記反
射ミラーおよび光ビーム偏向手段の傾動調整を新たに行
う必要がない。従って、光走査位置において、走査ユニ
ットの交換作業が一挙に容易かつ効率的に遂行される。
【図１】本発明の実施例に係る記録装置の構成を説明す
る概略斜視図である。
る概略斜視図である。
【図２】前記記録装置を構成する走査ユニットの平面図
である。
である。
【図３】図２中、 III−III 線縦断面図である。
【図４】図２中、IV−IV線縦断面図である。
【図５】前記走査ユニットを構成する反射ミラーの取り
付け状態を説明する一部斜視図である。
付け状態を説明する一部斜視図である。
【図６】走査線のＢＯＷ（湾曲）の説明図である。
【図７】走査線のＬＥＡＮ（傾き）の説明図である。
【図８】走査線のＯＦＦＳＥＴ（位置ずれ）の説明図で
ある。
ある。
【図９】反射ミラー、平面鏡およびｆθレンズの位置関
係図である。
係図である。
【図１０】平面鏡の法線ベクトルの説明図である。
【図１１】結像位置での走査線の位置の説明図である。
１０…記録装置 １２…レーザダ
イオード １４…ＬＤユニット １６…共振型光
偏向器 １８…ｆθレンズ ２０…反射ミラ
ー ２２…走査ユニット ２４、２６…調
整機構 ２８…副走査搬送機構 ３０…ユニット
本体 ３２、３４…取付部 ３６…円錐面 ４２…平面鏡 ４４…ケーシン
グ ４６…球面 ５２…保持部材 ５８ａ〜５８ｃ…治具 ６０、６８、７０…マイクロメータヘッド ７６…搬送ドラム
イオード １４…ＬＤユニット １６…共振型光
偏向器 １８…ｆθレンズ ２０…反射ミラ
ー ２２…走査ユニット ２４、２６…調
整機構 ２８…副走査搬送機構 ３０…ユニット
本体 ３２、３４…取付部 ３６…円錐面 ４２…平面鏡 ４４…ケーシン
グ ４６…球面 ５２…保持部材 ５８ａ〜５８ｃ…治具 ６０、６８、７０…マイクロメータヘッド ７６…搬送ドラム
Claims (2)
- 【請求項１】光ビーム発生手段から導出された光ビーム
を光ビーム偏向手段および走査レンズを介して被走査体
上に走査させる光走査装置であって、 前記光ビーム発生手段から導出された光ビームを反射さ
せて前記光ビーム偏向手段に導く反射ミラーと、 前記反射ミラーおよび前記光ビーム偏向手段が装着され
た走査ユニットと、 前記走査ユニット内で該反射ミラーを一軸方向に傾動調
整するための第１調整機構と、 前記走査ユニット内で該光ビーム偏向手段を二軸方向に
傾動調整するための第２調整機構と、 を備え、 前記被走査体上に主走査方向に走査される前記光ビーム
の曲がり、傾きおよび副走査方向への位置ずれを、前記
第１および第２調整機構を介して補正することを特徴と
する光走査装置。 - 【請求項２】請求項１記載の光走査装置において、前記
光ビーム偏向手段は、前記走査ユニットを構成するユニ
ット本体に対して球面支持構造で傾動可能に装着される
ことを特徴とする光走査装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07198494A JP3375195B2 (ja) | 1994-04-11 | 1994-04-11 | 光走査装置 |
| US08/402,694 US5555122A (en) | 1994-04-11 | 1995-03-13 | Light scanning device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07198494A JP3375195B2 (ja) | 1994-04-11 | 1994-04-11 | 光走査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07281115A JPH07281115A (ja) | 1995-10-27 |
| JP3375195B2 true JP3375195B2 (ja) | 2003-02-10 |
Family
ID=13476246
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP07198494A Expired - Fee Related JP3375195B2 (ja) | 1994-04-11 | 1994-04-11 | 光走査装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5555122A (ja) |
| JP (1) | JP3375195B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5812179A (en) * | 1995-09-08 | 1998-09-22 | Presstek, Inc. | Apparatus for laser-discharge imaging including beam-guiding assemblies |
| JP5001969B2 (ja) * | 2008-04-03 | 2012-08-15 | 株式会社東芝 | 画像読み取り装置の製造方法、それに用いる画像読取調整装置およびレンズベース調整方法 |
| JP2012058465A (ja) * | 2010-09-08 | 2012-03-22 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置及び画像形成装置 |
| GB2566695A (en) * | 2017-09-20 | 2019-03-27 | Stratec Biomedical Ag | Scanning device and method for use in an automated analyzer |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0264521A (ja) * | 1988-08-30 | 1990-03-05 | Fuji Photo Film Co Ltd | 走査ビーム軌跡補正方法 |
-
1994
- 1994-04-11 JP JP07198494A patent/JP3375195B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-03-13 US US08/402,694 patent/US5555122A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5555122A (en) | 1996-09-10 |
| JPH07281115A (ja) | 1995-10-27 |
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