JP3373626B2 - 光記録媒体 - Google Patents
光記録媒体Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光記録媒体に関する。
より詳しくは、光吸収層に有機色素を用いた追記型のコ
ンパクトディスクに好適な光記録媒体に関する。
より詳しくは、光吸収層に有機色素を用いた追記型のコ
ンパクトディスクに好適な光記録媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスクは従来の記録媒体と比べて記
録容量が大きく、ランダムアクセスも可能なことから、
オーディオソフト、コンピュータソフト、ゲームソフ
ト、電子出版用等の再生専用の媒体として広く用いられ
ている。また、、種々の記録原理に基づいた有機記録層
や無機記録層を備えた追記型や書換型の記録可能光ディ
スクが開発され一部は実用化に至っている。
録容量が大きく、ランダムアクセスも可能なことから、
オーディオソフト、コンピュータソフト、ゲームソフ
ト、電子出版用等の再生専用の媒体として広く用いられ
ている。また、、種々の記録原理に基づいた有機記録層
や無機記録層を備えた追記型や書換型の記録可能光ディ
スクが開発され一部は実用化に至っている。
【０００３】その中のひとつに記録可能コンパクトディ
スク（ＣＤ−ＷＯ）があり、追記記録が可能であると共
に、再生専用コンパクトディスクと同等の反射率を示す
ため、記録後に再生専用コンパクトディスクプレイヤ
ー、ドライブで再生可能であるという特徴を持つ。この
記録可能コンパクトディスクは、通常、案内溝を有する
透明基板上に有機色素を含有する光吸収層、金属からな
る光反射層、及び紫外線硬化樹脂からなる保護層を順次
設けることにより作製され、記録は、１μｍ程度に絞り
込まれたレーザービームを用いたヒートモードによる光
吸収層及びそれに隣接する層の変形・変質等により行わ
れている。
スク（ＣＤ−ＷＯ）があり、追記記録が可能であると共
に、再生専用コンパクトディスクと同等の反射率を示す
ため、記録後に再生専用コンパクトディスクプレイヤ
ー、ドライブで再生可能であるという特徴を持つ。この
記録可能コンパクトディスクは、通常、案内溝を有する
透明基板上に有機色素を含有する光吸収層、金属からな
る光反射層、及び紫外線硬化樹脂からなる保護層を順次
設けることにより作製され、記録は、１μｍ程度に絞り
込まれたレーザービームを用いたヒートモードによる光
吸収層及びそれに隣接する層の変形・変質等により行わ
れている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】すでに実用化・市販さ
れている記録可能コンパクトディスクでは、光反射層の
材質として、読み出しレーザー光の波長に対して６５％
以上の高反射率を得るために金が使用されている。しか
し、金を光反射層に用いた場合、記録レーザーパワーに
対するマージンが充分にとれず、最適記録レーザーパワ
ー（Ｐo ）を超えたレーザーパワーで記録した場合の再
生信号波形に歪みが発生しやすくジッターやエラー増加
の原因となっていた。また、こうした再生信号悪化の傾
向は２倍や４倍といった高線速度で記録した場合に一層
顕著となるため問題となっていた。
れている記録可能コンパクトディスクでは、光反射層の
材質として、読み出しレーザー光の波長に対して６５％
以上の高反射率を得るために金が使用されている。しか
し、金を光反射層に用いた場合、記録レーザーパワーに
対するマージンが充分にとれず、最適記録レーザーパワ
ー（Ｐo ）を超えたレーザーパワーで記録した場合の再
生信号波形に歪みが発生しやすくジッターやエラー増加
の原因となっていた。また、こうした再生信号悪化の傾
向は２倍や４倍といった高線速度で記録した場合に一層
顕著となるため問題となっていた。
【０００５】本発明は、上記従来の問題点を解決し、記
録パワーマージンが広く、且つ記録線速度依存性が小さ
い記録可能コンパクトディスクに好適な光記録媒体を提
供することを目的としている。
録パワーマージンが広く、且つ記録線速度依存性が小さ
い記録可能コンパクトディスクに好適な光記録媒体を提
供することを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上述したように、従来の
記録可能コンパクトディスクのように金を光反射層に用
いた場合には、記録レーザーパワーに対するマージンが
充分にとれず、最適記録レーザーパワー（Ｐo ）を超え
たレーザーパワーで記録した場合の再生信号波形に歪み
が発生しやすくジッターやエラー増加の原因ともなるた
め問題となっていた。
記録可能コンパクトディスクのように金を光反射層に用
いた場合には、記録レーザーパワーに対するマージンが
充分にとれず、最適記録レーザーパワー（Ｐo ）を超え
たレーザーパワーで記録した場合の再生信号波形に歪み
が発生しやすくジッターやエラー増加の原因ともなるた
め問題となっていた。
【０００７】そこで、記録レーザーパワーによる光反射
層の変形と再生信号波形の相関について鋭意検討した結
果、金の光反射層は記録時に過度の変形を受けやすく、
特にピット長記録方式で長ピットを記録した場合の変形
が大きくなり、最適記録パワーを超えたレーザーパワー
で記録した場合には、記録部前後での非対称な変形が起
こるようになり、再生信号の波形歪の原因となるという
知見を得るに至った。
層の変形と再生信号波形の相関について鋭意検討した結
果、金の光反射層は記録時に過度の変形を受けやすく、
特にピット長記録方式で長ピットを記録した場合の変形
が大きくなり、最適記録パワーを超えたレーザーパワー
で記録した場合には、記録部前後での非対称な変形が起
こるようになり、再生信号の波形歪の原因となるという
知見を得るに至った。
【０００８】こうした問題点を克服するために、光反射
層の材質について検討を行ったところ、銀を使用するこ
とにより、金を使用した場合と同等の反射率、記録感度
や信号変調度を保ったまま、記録時の光反射層の過度な
変形が抑えられ、波形歪みの発生を抑制できることが明
かとなった。特に、銀の光反射層は、基板面に対する入
射角をθとしてθ−２θ法で測定したＸ線回折スペクト
ルにおいて、（１１１）面によるＸ線回折強度をＩ
111 、（２００）面によるＸ線回折強度をＩ200 とした
とき、Ｉ200 ／Ｉ111 ≦０．２となるような銀の多結晶
薄膜とすると、記録時の光反射層の変形が適度で且つ対
称なものとなり、再生信号の波形歪みと共にジッターの
増加も抑えられ、記録パワーマージンが広く、且つ記録
線速度依存性が小さくなることを見い出し、本発明を完
成させた。
層の材質について検討を行ったところ、銀を使用するこ
とにより、金を使用した場合と同等の反射率、記録感度
や信号変調度を保ったまま、記録時の光反射層の過度な
変形が抑えられ、波形歪みの発生を抑制できることが明
かとなった。特に、銀の光反射層は、基板面に対する入
射角をθとしてθ−２θ法で測定したＸ線回折スペクト
ルにおいて、（１１１）面によるＸ線回折強度をＩ
111 、（２００）面によるＸ線回折強度をＩ200 とした
とき、Ｉ200 ／Ｉ111 ≦０．２となるような銀の多結晶
薄膜とすると、記録時の光反射層の変形が適度で且つ対
称なものとなり、再生信号の波形歪みと共にジッターの
増加も抑えられ、記録パワーマージンが広く、且つ記録
線速度依存性が小さくなることを見い出し、本発明を完
成させた。
【０００９】即ち、本発明の要旨は、透明基板上に有機
色素を含有する光吸収層、金属よりなる光反射層及び保
護層を順次積層してなる光記録媒体において、光反射層
が、基板面に対する入射角をθとしてθ−２θ法で測定
したＸ線回折スペクトルにおいて、（１１１）面による
Ｘ線回折強度をＩ111 、（２００）面によるＸ線回折強
度をＩ200 としたとき、Ｉ200 ／Ｉ111 ≦０．２である
銀の多結晶薄膜であることを特徴とする光記録媒体に存
する。
色素を含有する光吸収層、金属よりなる光反射層及び保
護層を順次積層してなる光記録媒体において、光反射層
が、基板面に対する入射角をθとしてθ−２θ法で測定
したＸ線回折スペクトルにおいて、（１１１）面による
Ｘ線回折強度をＩ111 、（２００）面によるＸ線回折強
度をＩ200 としたとき、Ｉ200 ／Ｉ111 ≦０．２である
銀の多結晶薄膜であることを特徴とする光記録媒体に存
する。
【００１０】以下に、本発明の光記録媒体を詳細に説明
する。本発明に用いられる透明基板としては、ポリカー
ボネート、ポリメタクリル酸メチル、非晶性ポリオレフ
ィン等のプラスチックが挙げられる。これらの透明基板
は、通常、厚み１．２ｍｍでスパイラル状に案内溝を形
成したものが用いられる。
する。本発明に用いられる透明基板としては、ポリカー
ボネート、ポリメタクリル酸メチル、非晶性ポリオレフ
ィン等のプラスチックが挙げられる。これらの透明基板
は、通常、厚み１．２ｍｍでスパイラル状に案内溝を形
成したものが用いられる。
【００１１】光吸収層の材質としては、有機色素である
シアニン系色素、スクアリリウム系色素、クロコニウム
系色素、アズレニウム系色素、トリアリールアミン系色
素、アントラキノン系色素、含金属アゾ色素、ジチオー
ル金属錯塩系色素、インドアニリン金属錯体色素、フタ
ロシアニン系色素、ナフタロシアニン系色素、分子間型
ＣＴ色素等が用いられるが、特に含金属アゾ色素が好適
である。これらの色素は、それぞれ、単独であるいは混
合して、さらには劣化防止剤、バインダー等を添加した
形で用いられる。
シアニン系色素、スクアリリウム系色素、クロコニウム
系色素、アズレニウム系色素、トリアリールアミン系色
素、アントラキノン系色素、含金属アゾ色素、ジチオー
ル金属錯塩系色素、インドアニリン金属錯体色素、フタ
ロシアニン系色素、ナフタロシアニン系色素、分子間型
ＣＴ色素等が用いられるが、特に含金属アゾ色素が好適
である。これらの色素は、それぞれ、単独であるいは混
合して、さらには劣化防止剤、バインダー等を添加した
形で用いられる。
【００１２】有機色素を含有するの光吸収層の形成法と
しては、有機色素等の被塗物を有機溶媒に溶解して前記
透明基板上にスピンコートする方法が好ましく用いられ
るが、フタロシアニン系色素のように昇華性を有する色
素については蒸着法を用いることもできる。光吸収層の
膜厚は、レーザ光等の記録光のパワーに対する記録感
度、性能係数等を考慮して、使用する波長、反射層の光
学定数、光吸収層の材質等に応じて適宜選択され、通
常、１００Å〜５μｍの範囲である。光吸収層は、透明
基板の両面に設けてもよいし、片面に設けてもよい。
しては、有機色素等の被塗物を有機溶媒に溶解して前記
透明基板上にスピンコートする方法が好ましく用いられ
るが、フタロシアニン系色素のように昇華性を有する色
素については蒸着法を用いることもできる。光吸収層の
膜厚は、レーザ光等の記録光のパワーに対する記録感
度、性能係数等を考慮して、使用する波長、反射層の光
学定数、光吸収層の材質等に応じて適宜選択され、通
常、１００Å〜５μｍの範囲である。光吸収層は、透明
基板の両面に設けてもよいし、片面に設けてもよい。
【００１３】本発明において、光反射層である銀薄膜
は、基板主面に対する入射角をθとしてθ−２θ法で測
定したＸ線回折スペクトルにおいて、銀の面心立方格子
の（１１１）面によるＸ線回折強度をＩ111 、（２０
０）面によるＸ線回折強度をＩ200 としたとき、Ｉ200
／Ｉ111 ≦０．２、より好ましくはＩ200 ／Ｉ111 ≦
０．１５となるような銀の多結晶薄膜として形成され、
５０〜２００ｎｍの膜厚とするのが好適である。さら
に、（１１１）面のＸ線回折ピークの半値幅を０．４以
下の多結晶薄膜とするのがより好ましい。光反射層の成
膜にはスパッタリング法、真空蒸着法等の手法が用いら
れるが、特にスパッタリング法が好ましく用いられ、成
膜圧力１０Ｐａ以下、及び／又は、成膜パワー３ｋＷ以
上のスパッタリング条件とすると良好な光反射層を形成
しやすい。
は、基板主面に対する入射角をθとしてθ−２θ法で測
定したＸ線回折スペクトルにおいて、銀の面心立方格子
の（１１１）面によるＸ線回折強度をＩ111 、（２０
０）面によるＸ線回折強度をＩ200 としたとき、Ｉ200
／Ｉ111 ≦０．２、より好ましくはＩ200 ／Ｉ111 ≦
０．１５となるような銀の多結晶薄膜として形成され、
５０〜２００ｎｍの膜厚とするのが好適である。さら
に、（１１１）面のＸ線回折ピークの半値幅を０．４以
下の多結晶薄膜とするのがより好ましい。光反射層の成
膜にはスパッタリング法、真空蒸着法等の手法が用いら
れるが、特にスパッタリング法が好ましく用いられ、成
膜圧力１０Ｐａ以下、及び／又は、成膜パワー３ｋＷ以
上のスパッタリング条件とすると良好な光反射層を形成
しやすい。
【００１４】また、光反射層の耐食性向上のために、銀
薄膜にロジウム、パラジウム、白金、チタン、モリブデ
ン、ジルコニウム、タンタル、タングステン、バナジウ
ム等の添加元素を５原子％以下の範囲で含有させてもよ
く、あるいは、トリアジンチオール系化合物、トリアジ
ンアミン系化合物、メルカプトベンゾイミダゾール系化
合物、チオジプロピオン酸エステル系化合物及びジチオ
カルバミン酸塩よりなる群から選ばれる少なくとも１種
の化合物による表面処理を施してもよい。
薄膜にロジウム、パラジウム、白金、チタン、モリブデ
ン、ジルコニウム、タンタル、タングステン、バナジウ
ム等の添加元素を５原子％以下の範囲で含有させてもよ
く、あるいは、トリアジンチオール系化合物、トリアジ
ンアミン系化合物、メルカプトベンゾイミダゾール系化
合物、チオジプロピオン酸エステル系化合物及びジチオ
カルバミン酸塩よりなる群から選ばれる少なくとも１種
の化合物による表面処理を施してもよい。
【００１５】光反射層上に形成する保護層の材質として
は、紫外線硬化樹脂、特にアクリル系の紫外線硬化樹脂
を用いるのが好適であり、通常、スピンコート法により
厚み２〜２０μｍで塗布した後、紫外線照射により硬化
させて形成される。また、紫外線硬化樹脂には、光反射
層防食剤として、トリアジンチオール系化合物、トリア
ジンアミン系化合物、メルカプトベンゾイミダゾール系
化合物、チオジプロピオン酸エステル系化合物及びジチ
オカルバミン酸塩よりなる群から選ばれる少なくとも１
種の化合物を含有させて用いてもよい。
は、紫外線硬化樹脂、特にアクリル系の紫外線硬化樹脂
を用いるのが好適であり、通常、スピンコート法により
厚み２〜２０μｍで塗布した後、紫外線照射により硬化
させて形成される。また、紫外線硬化樹脂には、光反射
層防食剤として、トリアジンチオール系化合物、トリア
ジンアミン系化合物、メルカプトベンゾイミダゾール系
化合物、チオジプロピオン酸エステル系化合物及びジチ
オカルバミン酸塩よりなる群から選ばれる少なくとも１
種の化合物を含有させて用いてもよい。
【００１６】
【実施例】以下に、実施例及び比較例を挙げて本発明を
より具体的に説明するが、本発明はその要旨を超えない
限り、以下の実施例に限定されるものではない。 実施例１ 透明基板として、記録可能コンパクトディスク用に周期
的に蛇行したトラッキング溝を設けた直径１２０ｍｍ、
厚さ１．２ｍｍのポリカーボネート基板を用いた。
より具体的に説明するが、本発明はその要旨を超えない
限り、以下の実施例に限定されるものではない。 実施例１ 透明基板として、記録可能コンパクトディスク用に周期
的に蛇行したトラッキング溝を設けた直径１２０ｍｍ、
厚さ１．２ｍｍのポリカーボネート基板を用いた。
【００１７】光吸収層は、下記構造式で示される含金
属アゾ色素を２．２重量％（対溶媒重量）でメチルセロ
ソルブに溶解して、濾過した後、前記基板上にスピンコ
ート法により成膜した。色素層を塗布した後、色素層中
の溶媒を完全に蒸発させるために８０℃のオーブン中で
１０分間乾燥を行った。色素層の膜厚は、反射率が高く
なるように選んで、１２０ｎｍとした。
属アゾ色素を２．２重量％（対溶媒重量）でメチルセロ
ソルブに溶解して、濾過した後、前記基板上にスピンコ
ート法により成膜した。色素層を塗布した後、色素層中
の溶媒を完全に蒸発させるために８０℃のオーブン中で
１０分間乾燥を行った。色素層の膜厚は、反射率が高く
なるように選んで、１２０ｎｍとした。
【００１８】
【化１】
【００１９】次いで、光吸収層の上に光反射層として、
平均厚さ１００ｎｍの銀膜を、成膜アルゴンガス圧力
１．３Ｐａ、成膜パワー６ｋＷ、ターゲット−基板間距
離５５ｍｍ、成膜時間４秒の条件で枚葉式スパッタリン
グ装置を用いたＤＣマグネトロンスパッタ法により形成
した。
平均厚さ１００ｎｍの銀膜を、成膜アルゴンガス圧力
１．３Ｐａ、成膜パワー６ｋＷ、ターゲット−基板間距
離５５ｍｍ、成膜時間４秒の条件で枚葉式スパッタリン
グ装置を用いたＤＣマグネトロンスパッタ法により形成
した。
【００２０】この条件で成膜した銀薄膜についてＸ線回
折スペクトルより求めたＩ 200 ／Ｉ 111 値は０．０９であ
った。測定には、理学電機(株)製リガクＲＩＮＴ１５０
０を用い、測定条件は使用Ｘ線に管電圧５０ｋＶ、管電
流２００ｍＡで発生させ単色化したＣｕ−ｋα線、ゴニ
オメーターに広角ゴニオメーターで発散スリットの発散
角を１／２゜、散乱スリットの発散角を１／２゜、受光
スリットの幅を０．１５ｍｍ、走査速度を２．４０゜／
ｍｉｎ、計数はサンプリング幅を０．０４０゜とした。
折スペクトルより求めたＩ 200 ／Ｉ 111 値は０．０９であ
った。測定には、理学電機(株)製リガクＲＩＮＴ１５０
０を用い、測定条件は使用Ｘ線に管電圧５０ｋＶ、管電
流２００ｍＡで発生させ単色化したＣｕ−ｋα線、ゴニ
オメーターに広角ゴニオメーターで発散スリットの発散
角を１／２゜、散乱スリットの発散角を１／２゜、受光
スリットの幅を０．１５ｍｍ、走査速度を２．４０゜／
ｍｉｎ、計数はサンプリング幅を０．０４０゜とした。
【００２１】さらに、光反射層の上に紫外線硬化剤ＳＤ
−３１８（大日本インキ化学(株)製）をスピンコート法
により３μｍの厚さで塗布し、紫外線照射装置で紫外線
を照射して硬化させて、保護層を形成した。得られた記
録可能コンパクトディスクについて、光ディスク評価装
置ＤＤＵ−１０００（(株)パルステック工業製）を用
い、線速度１．２ｍ／ｓｅｃでＥＦＭ信号の最適記録レ
ーザーパワー（ＰO ）を評価したところ６．５ｍＷであ
った。そこで、記録レーザーパワーを、ＰO に対して＋
１５％の範囲で変化させて記録し、再生信号の波形及び
３Ｔ信号のランドジッターを評価したところ、オーバー
パワーで記録しても波形歪みは見られず、ジッターの増
加はわずかであった。結果を図１及び表−１に示した。
また、図４はＰO に対して＋１５％の範囲で変化させて
記録した場合の再生信号の波形信号を示すオシロ波形の
写真である。縦軸は電圧０．２Ｖ／ＤＩＶ、横軸は時間
０．５μｓｅｃ／ＤＩＶを示す。
−３１８（大日本インキ化学(株)製）をスピンコート法
により３μｍの厚さで塗布し、紫外線照射装置で紫外線
を照射して硬化させて、保護層を形成した。得られた記
録可能コンパクトディスクについて、光ディスク評価装
置ＤＤＵ−１０００（(株)パルステック工業製）を用
い、線速度１．２ｍ／ｓｅｃでＥＦＭ信号の最適記録レ
ーザーパワー（ＰO ）を評価したところ６．５ｍＷであ
った。そこで、記録レーザーパワーを、ＰO に対して＋
１５％の範囲で変化させて記録し、再生信号の波形及び
３Ｔ信号のランドジッターを評価したところ、オーバー
パワーで記録しても波形歪みは見られず、ジッターの増
加はわずかであった。結果を図１及び表−１に示した。
また、図４はＰO に対して＋１５％の範囲で変化させて
記録した場合の再生信号の波形信号を示すオシロ波形の
写真である。縦軸は電圧０．２Ｖ／ＤＩＶ、横軸は時間
０．５μｓｅｃ／ＤＩＶを示す。
【００２２】実施例２
光反射層の成膜パワーを４ｋＷ、成膜時間を６秒とした
こと以外は、実施例１と同様にして記録可能コンパクト
ディスクの作製を行った。得られたディスクについて、
実施例１と同様に試験を行ったところ、光反射層のＩ
200 ／Ｉ111 値は０．１１であったがＰO 及びＰO で記
録したディスクの特性は実施例１と同等であり、オーバ
ーパワーで記録しても波形歪みは見られず、ジッターの
増加はわずかであった。結果を図１及び表−１に示し
た。
こと以外は、実施例１と同様にして記録可能コンパクト
ディスクの作製を行った。得られたディスクについて、
実施例１と同様に試験を行ったところ、光反射層のＩ
200 ／Ｉ111 値は０．１１であったがＰO 及びＰO で記
録したディスクの特性は実施例１と同等であり、オーバ
ーパワーで記録しても波形歪みは見られず、ジッターの
増加はわずかであった。結果を図１及び表−１に示し
た。
【００２３】実施例３
光反射層の成膜アルゴンガス圧力を２．６Ｐａとしたこ
と以外は、実施例１と同様にして記録可能コンパクトデ
ィスクの作製を行った。得られたディスクについて、実
施例１と同様に試験を行ったところ、光反射層のＩ200
／Ｉ111 値は０．１４であったがＰO 及びＰO で記録し
たディスクの特性は実施例１と同等であり、オーバーパ
ワーで記録しても波形歪みは見られず、ジッターの増加
はわずかであった。結果を図１及び表−１に示した。
と以外は、実施例１と同様にして記録可能コンパクトデ
ィスクの作製を行った。得られたディスクについて、実
施例１と同様に試験を行ったところ、光反射層のＩ200
／Ｉ111 値は０．１４であったがＰO 及びＰO で記録し
たディスクの特性は実施例１と同等であり、オーバーパ
ワーで記録しても波形歪みは見られず、ジッターの増加
はわずかであった。結果を図１及び表−１に示した。
【００２４】実施例４
光反射層の成膜アルゴンガス圧力を６．７Ｐａ、成膜時
間５秒としたこと以外は、実施例１と同様にして記録可
能コンパクトディスクの作製を行った。得られたディス
クについて、実施例１と同様に試験を行ったところ、光
反射層のＩ200 ／Ｉ111 値は０．１８であったがＰO 及
びＰO で記録したディスクの特性は実施例１と同等であ
り、オーバーパワーで記録しても波形歪みは見られず、
ジッターの増加はわずかであった。結果を図１及び表−
１に示した。
間５秒としたこと以外は、実施例１と同様にして記録可
能コンパクトディスクの作製を行った。得られたディス
クについて、実施例１と同様に試験を行ったところ、光
反射層のＩ200 ／Ｉ111 値は０．１８であったがＰO 及
びＰO で記録したディスクの特性は実施例１と同等であ
り、オーバーパワーで記録しても波形歪みは見られず、
ジッターの増加はわずかであった。結果を図１及び表−
１に示した。
【００２５】実施例５
実施例１と同様にして作製した記録可能コンパクトディ
スクについて、光ディスク評価装置ＤＤＵ−１０００
（(株)パルステック工業製）を用い、線速度２．４ｍ／
ｓｅｃでＥＦＭ信号の最適記録レーザーパワー（ＰO ）
を評価したところ９．２ｍＷであった。そこで、記録レ
ーザーパワーを、ＰO に対して＋１５％の範囲で変化さ
せて記録し、再生信号の波形及び３Ｔ信号のランドジッ
ターを評価したところ、オーバーパワーで記録しても波
形歪みは見られず、ジッターの増加はわずかであった。
結果を図３及び表−１に示した。
スクについて、光ディスク評価装置ＤＤＵ−１０００
（(株)パルステック工業製）を用い、線速度２．４ｍ／
ｓｅｃでＥＦＭ信号の最適記録レーザーパワー（ＰO ）
を評価したところ９．２ｍＷであった。そこで、記録レ
ーザーパワーを、ＰO に対して＋１５％の範囲で変化さ
せて記録し、再生信号の波形及び３Ｔ信号のランドジッ
ターを評価したところ、オーバーパワーで記録しても波
形歪みは見られず、ジッターの増加はわずかであった。
結果を図３及び表−１に示した。
【００２６】比較例１
光反射層の成膜アルゴンガス圧力を８．１Ｐａ、成膜時
間を５秒としたこと以外は、実施例１と同様にして記録
可能コンパクトディスクの作製を行った。得られたディ
スクについて、実施例１と同様に試験を行ったところ、
光反射層のＩ200 ／Ｉ111 値は０．２２、ＰO 及びＰO
で記録したディスクの特性は実施例１と同等であり、オ
ーバーパワーで記録しても波形歪みは見られなかった
が、ジッターの増加が起こった。結果を図２及び表−１
に示した。
間を５秒としたこと以外は、実施例１と同様にして記録
可能コンパクトディスクの作製を行った。得られたディ
スクについて、実施例１と同様に試験を行ったところ、
光反射層のＩ200 ／Ｉ111 値は０．２２、ＰO 及びＰO
で記録したディスクの特性は実施例１と同等であり、オ
ーバーパワーで記録しても波形歪みは見られなかった
が、ジッターの増加が起こった。結果を図２及び表−１
に示した。
【００２７】比較例２
光反射層の成膜アルゴンガス圧力を９．５Ｐａとしたこ
と以外は、比較例１と同様にして記録可能コンパクトデ
ィスクの作製を行った。得られたディスクについて、実
施例１と同様に試験を行ったところ、光反射層のＩ200
／Ｉ111 値は０．２５、ＰO 及びＰO で記録したディス
クの特性は実施例１と同等であったが、オーバーパワー
で記録すると波形歪みの発生が見られ、ジッターの増加
が起こった。結果を図２及び表−１に示した。
と以外は、比較例１と同様にして記録可能コンパクトデ
ィスクの作製を行った。得られたディスクについて、実
施例１と同様に試験を行ったところ、光反射層のＩ200
／Ｉ111 値は０．２５、ＰO 及びＰO で記録したディス
クの特性は実施例１と同等であったが、オーバーパワー
で記録すると波形歪みの発生が見られ、ジッターの増加
が起こった。結果を図２及び表−１に示した。
【００２８】比較例３
光反射層の材質として金を用いたことこと以外は、実施
例１と同様にして記録可能コンパクトディスクの作製を
行った。得られたディスクについて、実施例１と同様に
試験を行ったところ、光反射層のＩ200 ／Ｉ111 値は
０．０２、ＰO 及びＰO で記録したディスクの特性は実
施例１と同等であったが、オーバーパワーで記録すると
大きな波形歪みが見られ、ジッターの増加が起こった。
結果を図２及び表−１に示した。また、図５は、ＰO に
対して＋１５％の範囲で変化させて記録した場合の再生
信号の波形信号を示すオシロ波形の写真である。縦軸は
電圧０．２Ｖ／ＤＩＶ、横軸は時間０．５μｓｅｃ／Ｄ
ＩＶを示す。
例１と同様にして記録可能コンパクトディスクの作製を
行った。得られたディスクについて、実施例１と同様に
試験を行ったところ、光反射層のＩ200 ／Ｉ111 値は
０．０２、ＰO 及びＰO で記録したディスクの特性は実
施例１と同等であったが、オーバーパワーで記録すると
大きな波形歪みが見られ、ジッターの増加が起こった。
結果を図２及び表−１に示した。また、図５は、ＰO に
対して＋１５％の範囲で変化させて記録した場合の再生
信号の波形信号を示すオシロ波形の写真である。縦軸は
電圧０．２Ｖ／ＤＩＶ、横軸は時間０．５μｓｅｃ／Ｄ
ＩＶを示す。
【００２９】比較例４
光反射層の材質として金を用いたことこと以外は、実施
例４と同様にして記録可能コンパクトディスクの作製を
行った。得られたディスクについて、実施例１と同様に
試験を行ったところ、光反射層のＩ200 ／Ｉ111 値は
０．１６、ＰO 及びＰO で記録したディスクの特性は実
施例１と同等であったが、オーバーパワーで記録すると
大きな波形歪みが見られ、ジッターの増加が起こった。
結果を図２及び表−１に示した。
例４と同様にして記録可能コンパクトディスクの作製を
行った。得られたディスクについて、実施例１と同様に
試験を行ったところ、光反射層のＩ200 ／Ｉ111 値は
０．１６、ＰO 及びＰO で記録したディスクの特性は実
施例１と同等であったが、オーバーパワーで記録すると
大きな波形歪みが見られ、ジッターの増加が起こった。
結果を図２及び表−１に示した。
【００３０】比較例５
比較例３と同様にして作製した記録可能コンパクトディ
スクについて、実施例５と同様に試験を行ったところ、
ＰO 及びＰO で記録したディスクの特性は実施例５と同
等であったが、オーバーパワーで記録すると大きな波形
歪みが見られ、ジッターの増加が起こった。結果を図３
及び表−１に示した。
スクについて、実施例５と同様に試験を行ったところ、
ＰO 及びＰO で記録したディスクの特性は実施例５と同
等であったが、オーバーパワーで記録すると大きな波形
歪みが見られ、ジッターの増加が起こった。結果を図３
及び表−１に示した。
【００３１】
【表１】
＊） ○は良好、×は不良を表す。
＊＊） 記録レーザーパワー１．１５ＰO で記録した信
号に関する再生信号特性を示す。
号に関する再生信号特性を示す。
【００３２】表−１及び図１〜３より次のことが明らか
である。比較例３、比較例４では、光反射層に金を用い
ているためＩ200 ／Ｉ111 値は小さめの値となっている
が、光反射層の結晶構造を変えても波形歪みやジッター
増加は抑制されていない。比較例１、比較例２では、光
反射層に銀を用いているため波形歪みは多少改善されて
いるが、Ｉ200 ／Ｉ111 値が大きいためジッターが大き
くなっている。また、２倍線速度記録を行った比較例５
も、やはり波形歪みやジッター増加が起こっている。こ
れに対して、本発明を適用した実施例１〜５では、再生
信号に波形歪みは現れず、且つジッター増加も抑制さ
れ、記録パワーマージン及び記録線速度依存性に優れて
いることがわかる。
である。比較例３、比較例４では、光反射層に金を用い
ているためＩ200 ／Ｉ111 値は小さめの値となっている
が、光反射層の結晶構造を変えても波形歪みやジッター
増加は抑制されていない。比較例１、比較例２では、光
反射層に銀を用いているため波形歪みは多少改善されて
いるが、Ｉ200 ／Ｉ111 値が大きいためジッターが大き
くなっている。また、２倍線速度記録を行った比較例５
も、やはり波形歪みやジッター増加が起こっている。こ
れに対して、本発明を適用した実施例１〜５では、再生
信号に波形歪みは現れず、且つジッター増加も抑制さ
れ、記録パワーマージン及び記録線速度依存性に優れて
いることがわかる。
【００３３】
【発明の効果】本発明によれば、記録パワーマージンが
広く、記録線速度依存性が小さい記録可能コンパクトデ
ィスクに好適な光記録媒体を提供することができるた
め、工業的に有用である。。
広く、記録線速度依存性が小さい記録可能コンパクトデ
ィスクに好適な光記録媒体を提供することができるた
め、工業的に有用である。。
【図１】実施例１〜４で得られた記録可能コンパクトデ
ィスクについて、記録レーザーパワーと３Ｔ信号のラン
ドジッターの相関を測定した結果を示した図である。
ィスクについて、記録レーザーパワーと３Ｔ信号のラン
ドジッターの相関を測定した結果を示した図である。
【図２】比較例１〜４で得られた記録可能コンパクトデ
ィスクについて、記録レーザーパワーと３Ｔ信号のラン
ドジッターの相関を測定した結果を示した図である。
ィスクについて、記録レーザーパワーと３Ｔ信号のラン
ドジッターの相関を測定した結果を示した図である。
【図３】実施例５及び比較例５で得られた記録可能コン
パクトディスクについて、記録レーザーパワーと３Ｔ信
号のランドジッターの相関を測定した結果を示した図で
ある。
パクトディスクについて、記録レーザーパワーと３Ｔ信
号のランドジッターの相関を測定した結果を示した図で
ある。
【図４】実施例１で得られた記録可能コンパクトディス
クに最適記録レーザーパワーの１．１５倍のレーザーパ
ワーで記録した場合の再生信号を示すオシロ波形の写真
である。
クに最適記録レーザーパワーの１．１５倍のレーザーパ
ワーで記録した場合の再生信号を示すオシロ波形の写真
である。
【図５】比較例３で得られた記録可能コンパクトディス
クに最適記録レーザーパワーの１．１５倍のレーザーパ
ワーで記録した場合の再生信号を示すオシロ波形の写真
であり、波形の底部に歪みが発生している。縦軸は電圧
０．２Ｖ／ＤＩＶ、横軸は時間０．５μｓｅｃ／ＤＩＶ
を示す。
クに最適記録レーザーパワーの１．１５倍のレーザーパ
ワーで記録した場合の再生信号を示すオシロ波形の写真
であり、波形の底部に歪みが発生している。縦軸は電圧
０．２Ｖ／ＤＩＶ、横軸は時間０．５μｓｅｃ／ＤＩＶ
を示す。
フロントページの続き
(72)発明者 関 義則
神奈川県横浜市緑区鴨志田町1000番地
三菱化成株式会社総合研究所内
(72)発明者 栗和田 健
神奈川県横浜市緑区鴨志田町1000番地
三菱化成株式会社総合研究所内
(56)参考文献 特開 平３−165344（ＪＰ，Ａ)
特開 平３−156744（ＪＰ，Ａ)
特開 平４−337534（ＪＰ，Ａ)
Claims (2)
- 【請求項１】 透明基板上に有機色素を含有する光吸収
層、金属よりなる光反射層および保護層を順次積層して
なる光記録媒体において、光反射層が、基板面に対する
入射角をθとしてθ−２θ法で測定したＸ線回折スペク
トルにおいて、（１１１）面によるＸ線回折強度をＩ
111 、（２００）面によるＸ線回折強度をＩ200 とした
とき、Ｉ200 ／Ｉ111 ≦０．２である銀の多結晶薄膜で
あることを特徴とする光記録媒体。 - 【請求項２】 請求項１の光記録媒体において、有機色
素として含金属アゾ色素を用いたことを特徴とする光記
録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27780993A JP3373626B2 (ja) | 1993-10-08 | 1993-10-08 | 光記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27780993A JP3373626B2 (ja) | 1993-10-08 | 1993-10-08 | 光記録媒体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07110964A JPH07110964A (ja) | 1995-04-25 |
| JP3373626B2 true JP3373626B2 (ja) | 2003-02-04 |
Family
ID=17588572
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27780993A Expired - Lifetime JP3373626B2 (ja) | 1993-10-08 | 1993-10-08 | 光記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3373626B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005088627A1 (en) * | 2004-03-16 | 2005-09-22 | Ricoh Company, Ltd. | Optical recording medium |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6852384B2 (en) | 1998-06-22 | 2005-02-08 | Han H. Nee | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| EP1139340B1 (en) * | 2000-03-29 | 2004-06-16 | TDK Corporation | Optical recording medium having an oriented silver reflecting layer |
| US7572517B2 (en) | 2002-07-08 | 2009-08-11 | Target Technology Company, Llc | Reflective or semi-reflective metal alloy coatings |
-
1993
- 1993-10-08 JP JP27780993A patent/JP3373626B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005088627A1 (en) * | 2004-03-16 | 2005-09-22 | Ricoh Company, Ltd. | Optical recording medium |
| EP1735787A4 (en) * | 2004-03-16 | 2009-01-07 | Ricoh Kk | OPTICAL RECORDING MEDIUM |
| US7815990B2 (en) | 2004-03-16 | 2010-10-19 | Ricoh Company, Ltd. | Optical recording medium |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07110964A (ja) | 1995-04-25 |
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Legal Events
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