JP3363808B2 - シミュレーション装置及び方法並びにプログラム記録媒体 - Google Patents
シミュレーション装置及び方法並びにプログラム記録媒体Info
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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- G01R29/0807—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by the application
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- G—PHYSICS
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、周波数領域の解析
処理に従って、電子機器の各要素に流れる電流、あるい
は、電子機器の放射する電磁界強度を算出するシミュレ
ーション装置及び方法と、そのシミュレーション装置の
実現に用いられるプログラムが格納されるプログラム記
録媒体とに関し、特に、解析対象となる電子機器が角度
変調される波源を持つときに、高速にシミュレート処理
を実行できるようにするシミュレーション装置及び方法
と、そのシミュレーション装置の実現に用いられるプロ
グラムが格納されるプログラム記録媒体とに関する。
処理に従って、電子機器の各要素に流れる電流、あるい
は、電子機器の放射する電磁界強度を算出するシミュレ
ーション装置及び方法と、そのシミュレーション装置の
実現に用いられるプログラムが格納されるプログラム記
録媒体とに関し、特に、解析対象となる電子機器が角度
変調される波源を持つときに、高速にシミュレート処理
を実行できるようにするシミュレーション装置及び方法
と、そのシミュレーション装置の実現に用いられるプロ
グラムが格納されるプログラム記録媒体とに関する。
【０００２】電子機器に対する社会的規制として、一定
のレベル以上の不要な電波やノイズを放射してはならな
いということがあり、各国の規格で厳しく規定されるよ
うになってきた。
のレベル以上の不要な電波やノイズを放射してはならな
いということがあり、各国の規格で厳しく規定されるよ
うになってきた。
【０００３】このような電波規格を満足させるために、
シールド技術やフィルタ技術等のような種々の対策技術
が用いられるが、これらの対策技術の採用に当たって、
それらがどの程度電波を減少できるのかを定量的に算出
できるようにするシミュレート技術の開発が必要であ
る。
シールド技術やフィルタ技術等のような種々の対策技術
が用いられるが、これらの対策技術の採用に当たって、
それらがどの程度電波を減少できるのかを定量的に算出
できるようにするシミュレート技術の開発が必要であ
る。
【０００４】このようなことを背景にして、本発明者ら
は、モーメント法を使って、電子機器の放射する電磁界
強度を算出するシミュレート技術の発明を開示してき
た。このシミュレート技術を実用的なものとしていくに
は、シミュレート処理を高速に実行できるようにする技
術を構築していく必要がある。
は、モーメント法を使って、電子機器の放射する電磁界
強度を算出するシミュレート技術の発明を開示してき
た。このシミュレート技術を実用的なものとしていくに
は、シミュレート処理を高速に実行できるようにする技
術を構築していく必要がある。
【０００５】
【従来の技術】物体の放射する電磁界強度は、物体各部
に流れる電流や磁流を求めて、それを公知の電磁波放射
の理論式に代入することでシミュレートできる。この物
体各部に流れる電流や磁流は、理論的には、マックスウ
ェルの電磁波方程式を与えられた境界条件の下に解くこ
とで得られる。
に流れる電流や磁流を求めて、それを公知の電磁波放射
の理論式に代入することでシミュレートできる。この物
体各部に流れる電流や磁流は、理論的には、マックスウ
ェルの電磁波方程式を与えられた境界条件の下に解くこ
とで得られる。
【０００６】これを解くものとしてモーメント法があ
る。モーメント法は、マックスウェルの電磁波方程式か
ら導かれる積分方程式の解法の１つで、物体を小さな要
素に分割して電流や磁流の計算を行う手法であり、３次
元の任意形状物体を扱うことができる。このモーメント
法についての参考文献としては、「H.N.Wang, J.H.Rich
mond and M.C.Gilreath:"Sinusoidal reaction formula
tion for radiation andscattering from cond-ucting
surface" IEEE TRANSACTIONS ANTENNAS PROPAGATION vo
l.AP-23 1975 」がある。
る。モーメント法は、マックスウェルの電磁波方程式か
ら導かれる積分方程式の解法の１つで、物体を小さな要
素に分割して電流や磁流の計算を行う手法であり、３次
元の任意形状物体を扱うことができる。このモーメント
法についての参考文献としては、「H.N.Wang, J.H.Rich
mond and M.C.Gilreath:"Sinusoidal reaction formula
tion for radiation andscattering from cond-ucting
surface" IEEE TRANSACTIONS ANTENNAS PROPAGATION vo
l.AP-23 1975 」がある。
【０００７】このモーメント法では、シミュレート対象
となる電子機器の構造をメッシュ化し、処理対象の周波
数を選択すると、その周波数について、メッシュ化され
た要素間の相互インピーダンスや相互アドミッタンスや
相互リアクションを所定の計算処理によって求めて、そ
の求めた相互インピーダンスなどと構造情報で指定され
る波源とをモーメント法の連立方程式に代入し、それを
解くことで、各要素に流れる電流や磁流を求めることに
なる。
となる電子機器の構造をメッシュ化し、処理対象の周波
数を選択すると、その周波数について、メッシュ化され
た要素間の相互インピーダンスや相互アドミッタンスや
相互リアクションを所定の計算処理によって求めて、そ
の求めた相互インピーダンスなどと構造情報で指定され
る波源とをモーメント法の連立方程式に代入し、それを
解くことで、各要素に流れる電流や磁流を求めることに
なる。
【０００８】すなわち、金属対象物を扱うときには、金
属部分を解析対象としてメッシュ化し、メッシュ化した
金属要素間の相互インピーダンスＺij（処理対象の周波
数での値）を求めて、この相互インピーダンスＺijと、
その周波数成分の波源Ｖi と、メッシュ化した金属要素
に流れる電流Ｉi との間に成立するモーメント法の連立
方程式 [Ｚij][Ｉi]＝[Ｖi ] 但し、[ ] はマトリックス を解くことで電流Ｉi を求めて、この結果から電磁界強
度を算出する方法を採っている。
属部分を解析対象としてメッシュ化し、メッシュ化した
金属要素間の相互インピーダンスＺij（処理対象の周波
数での値）を求めて、この相互インピーダンスＺijと、
その周波数成分の波源Ｖi と、メッシュ化した金属要素
に流れる電流Ｉi との間に成立するモーメント法の連立
方程式 [Ｚij][Ｉi]＝[Ｖi ] 但し、[ ] はマトリックス を解くことで電流Ｉi を求めて、この結果から電磁界強
度を算出する方法を採っている。
【０００９】なお、相互インピーダンスは、ある要素の
電流が誘起する電界と、他の要素の電流との間の関係を
表し、相互アドミッタンスは、誘電体の存在を考慮する
ときに必要となるものであって、ある要素の磁流が誘起
する磁界と、他の要素の磁流との間の関係を表し、相互
リアクションは、誘電体の存在を考慮するときに必要と
なるものであって、ある要素の電流（磁流）が誘起する
電界（磁界）と、他の要素の磁流（電流）との間の関係
を表す。ここで、金属には電流が流れ、誘電体の表面に
は電流及び磁流が流れる。
電流が誘起する電界と、他の要素の電流との間の関係を
表し、相互アドミッタンスは、誘電体の存在を考慮する
ときに必要となるものであって、ある要素の磁流が誘起
する磁界と、他の要素の磁流との間の関係を表し、相互
リアクションは、誘電体の存在を考慮するときに必要と
なるものであって、ある要素の電流（磁流）が誘起する
電界（磁界）と、他の要素の磁流（電流）との間の関係
を表す。ここで、金属には電流が流れ、誘電体の表面に
は電流及び磁流が流れる。
【００１０】このモーメント法を使って電子機器の放射
する電磁界強度をシミュレートする場合、電子機器の持
つ波源の周波数を特定して、その特定した周波数毎に、
モーメント法の連立方程式を解いていく必要がある。
する電磁界強度をシミュレートする場合、電子機器の持
つ波源の周波数を特定して、その特定した周波数毎に、
モーメント法の連立方程式を解いていく必要がある。
【００１１】これから、従来では、電子機器が波源とし
てクロック源を持つときには、そのクロック源の発振す
るクロック信号をフーリエ変換することで、解析対象と
なる周波数を特定して、その特定した周波数毎に、モー
メント法の連立方程式を解いていくことで、電子機器の
放射する電磁界強度をシミュレートするという方法を採
っていた。
てクロック源を持つときには、そのクロック源の発振す
るクロック信号をフーリエ変換することで、解析対象と
なる周波数を特定して、その特定した周波数毎に、モー
メント法の連立方程式を解いていくことで、電子機器の
放射する電磁界強度をシミュレートするという方法を採
っていた。
【００１２】モーメント法以外にも、電子機器の放射す
る電磁界強度をシミュレートするものとして、有限要素
法などのような周波数領域の解析処理のシミュレート技
法があるが、このようなシミュレート技法を用いる場合
にも、従来では、電子機器が波源としてクロック源を持
つときには、そのクロック源の発振するクロック信号を
フーリエ変換することで、解析対象となる周波数を特定
して、その特定した周波数毎に、周波数領域の解析処理
を実行することで、電子機器の放射する電磁界強度をシ
ミュレートするという方法を採っていた。
る電磁界強度をシミュレートするものとして、有限要素
法などのような周波数領域の解析処理のシミュレート技
法があるが、このようなシミュレート技法を用いる場合
にも、従来では、電子機器が波源としてクロック源を持
つときには、そのクロック源の発振するクロック信号を
フーリエ変換することで、解析対象となる周波数を特定
して、その特定した周波数毎に、周波数領域の解析処理
を実行することで、電子機器の放射する電磁界強度をシ
ミュレートするという方法を採っていた。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】最近、電子機器の持つ
クロック源の周波数を変調周波数で揺動させることで、
電子機器の放射する電磁界強度を減少させるようにする
という、図１８に示すようなスプレッド・スペクトラム
・クロッキングと呼ばれる技術（搬送波ｆc を変調周波
数ｆm で角度変調する技術と同じ技術）が用いられるよ
うになりつつある。
クロック源の周波数を変調周波数で揺動させることで、
電子機器の放射する電磁界強度を減少させるようにする
という、図１８に示すようなスプレッド・スペクトラム
・クロッキングと呼ばれる技術（搬送波ｆc を変調周波
数ｆm で角度変調する技術と同じ技術）が用いられるよ
うになりつつある。
【００１４】単一の周波数で発振するクロック源のクロ
ック信号をフーリエ変換すると、よく知られているよう
に、発振周波数（ｆc ）とその発振周波数の高調波（２
ｆc,３ｆc,４ｆc,・・・）とが現れることになるが、こ
のスプレッド・スペクトラム・クロッキングで動作する
クロック源のクロック信号をフーリエ変換すると、図１
９に示すように、その発振周波数（ｆc ）とそれらの各
高調波（２ｆc,３ｆc,４ｆc,・・・）の近傍に、変調周
波数（ｆm ）ずつずれる形式で、極めて多数の周波数
（側波帯）が現れることになる。
ック信号をフーリエ変換すると、よく知られているよう
に、発振周波数（ｆc ）とその発振周波数の高調波（２
ｆc,３ｆc,４ｆc,・・・）とが現れることになるが、こ
のスプレッド・スペクトラム・クロッキングで動作する
クロック源のクロック信号をフーリエ変換すると、図１
９に示すように、その発振周波数（ｆc ）とそれらの各
高調波（２ｆc,３ｆc,４ｆc,・・・）の近傍に、変調周
波数（ｆm ）ずつずれる形式で、極めて多数の周波数
（側波帯）が現れることになる。
【００１５】ちなみに、この側波帯の数は、
側波帯数＝２×変調指数＋１
変調指数＝（揺動させる周波数の偏位）／ｆm
で決まる。
【００１６】これから、スプレッド・スペクトラム・ク
ロッキングで動作するクロック源を持つ電子機器の放射
する電磁界強度をシミュレートする場合、従来技術に従
っていると、極めて多数の周波数を解析対象としなけれ
ばならず、電子機器の放射する電磁界強度をシミュレー
トするのに膨大な時間がかかってしまい、現実の問題と
して、シミュレートできないという問題点があった。
ロッキングで動作するクロック源を持つ電子機器の放射
する電磁界強度をシミュレートする場合、従来技術に従
っていると、極めて多数の周波数を解析対象としなけれ
ばならず、電子機器の放射する電磁界強度をシミュレー
トするのに膨大な時間がかかってしまい、現実の問題と
して、シミュレートできないという問題点があった。
【００１７】本発明はかかる事情に鑑みてなされたもの
であって、周波数領域の解析処理に従って、電子機器の
各要素に流れる電流や電子機器の放射する電磁界強度を
算出する構成を採るときにあって、解析対象となる電子
機器が角度変調される波源を持つときに、高速にシミュ
レート処理を実行できるようにする新たなシミュレーシ
ョン装置及び方法の提供と、そのシミュレーション装置
の実現に用いられるプログラムが格納される新たなプロ
グラム記録媒体の提供とを目的とする。
であって、周波数領域の解析処理に従って、電子機器の
各要素に流れる電流や電子機器の放射する電磁界強度を
算出する構成を採るときにあって、解析対象となる電子
機器が角度変調される波源を持つときに、高速にシミュ
レート処理を実行できるようにする新たなシミュレーシ
ョン装置及び方法の提供と、そのシミュレーション装置
の実現に用いられるプログラムが格納される新たなプロ
グラム記録媒体の提供とを目的とする。
【００１８】
【課題を解決するための手段】図１に本発明の原理構成
を図示する。
を図示する。
【００１９】図中、１は本発明を具備するシミュレーシ
ョン装置であって、角度変調される波源を持つ電子機器
を解析対象として、周波数領域の解析処理に従って、そ
の電子機器の各要素に流れる電流、あるいは、その電子
機器の放射する電磁界強度をシミュレートするもの、２
はシミュレーション装置１の備える電子機器データファ
イルであって、解析対象となる電子機器の構造情報を格
納するもの、３はシミュレーション装置１の備える出力
装置であって、シミュレーション装置１のシミュレート
結果を出力するものある。
ョン装置であって、角度変調される波源を持つ電子機器
を解析対象として、周波数領域の解析処理に従って、そ
の電子機器の各要素に流れる電流、あるいは、その電子
機器の放射する電磁界強度をシミュレートするもの、２
はシミュレーション装置１の備える電子機器データファ
イルであって、解析対象となる電子機器の構造情報を格
納するもの、３はシミュレーション装置１の備える出力
装置であって、シミュレーション装置１のシミュレート
結果を出力するものある。
【００２０】本発明のシミュレーション装置１は、設定
手段１０と、算出手段１１と、計算手段１２と、検出手
段１３と、分解手段１４と、特定手段１５と、出力手段
１６とを備える。
手段１０と、算出手段１１と、計算手段１２と、検出手
段１３と、分解手段１４と、特定手段１５と、出力手段
１６とを備える。
【００２１】この設定手段１０は、解析対象となる電子
機器の持つ角度変調される波源の周波数スペクトラムの
中から処理対象周波数スペクトラムを選択して、その中
から、例えば中心周波数をサンプル周波数として設定す
ることで、１つのサンプル周波数を設定したり、例えば
中心周波数を中心として、上側周波数領域のサンプル周
波数と下側周波数領域のサンプル周波数とが対称となる
形態を示すサンプル周波数を設定することで、複数のサ
ンプル周波数を設定する。
機器の持つ角度変調される波源の周波数スペクトラムの
中から処理対象周波数スペクトラムを選択して、その中
から、例えば中心周波数をサンプル周波数として設定す
ることで、１つのサンプル周波数を設定したり、例えば
中心周波数を中心として、上側周波数領域のサンプル周
波数と下側周波数領域のサンプル周波数とが対称となる
形態を示すサンプル周波数を設定することで、複数のサ
ンプル周波数を設定する。
【００２２】算出手段１１は、設定手段１０の設定する
サンプル周波数を解析周波数として、モーメント法など
の周波数領域の解析処理を実行することで、その解析周
波数での算出対象の物理量（電流や電磁界強度）を算出
する。
サンプル周波数を解析周波数として、モーメント法など
の周波数領域の解析処理を実行することで、その解析周
波数での算出対象の物理量（電流や電磁界強度）を算出
する。
【００２３】計算手段１２は、算出手段１１の算出する
物理量と、設定手段１０の選択した処理対象周波数スペ
クトラムの波源値とから、その処理対象周波数スペクト
ラムの周波数領域におけるサンプル周波数以外の各解析
周波数での算出対象の物理量を算出する。
物理量と、設定手段１０の選択した処理対象周波数スペ
クトラムの波源値とから、その処理対象周波数スペクト
ラムの周波数領域におけるサンプル周波数以外の各解析
周波数での算出対象の物理量を算出する。
【００２４】検出手段１３は、解析対象となる電子機器
が複数の波源を持つときに、周波数領域の解析処理で用
いられるマトリックスが算出手段１１により再利用され
ることになるのか否かを検出する。分解手段１４は、検
出手段１３により検出される再利用可能なマトリックス
をＬＵ分解又はＬＤＵ分解する。
が複数の波源を持つときに、周波数領域の解析処理で用
いられるマトリックスが算出手段１１により再利用され
ることになるのか否かを検出する。分解手段１４は、検
出手段１３により検出される再利用可能なマトリックス
をＬＵ分解又はＬＤＵ分解する。
【００２５】特定手段１５は、算出手段１１及び計算手
段１２の算出する物理量の包絡線を特定する。出力手段
１６は、特定手段１５の特定する包絡線を出力装置３に
出力する。
段１２の算出する物理量の包絡線を特定する。出力手段
１６は、特定手段１５の特定する包絡線を出力装置３に
出力する。
【００２６】ここで、本発明のシミュレーション装置１
の持つ機能は具体的にはプログラムで実現されるもので
あり、このプログラムは、フロッピィディスクなどに格
納されたり、サーバなどのディスクなどに格納され、そ
れらからシミュレーション装置１にインストールされて
メモリ上で動作することで、本発明を実現することにな
る。
の持つ機能は具体的にはプログラムで実現されるもので
あり、このプログラムは、フロッピィディスクなどに格
納されたり、サーバなどのディスクなどに格納され、そ
れらからシミュレーション装置１にインストールされて
メモリ上で動作することで、本発明を実現することにな
る。
【００２７】このように構成される本発明のシミュレー
ション装置１では、設定手段１０が処理対象周波数スペ
クトラムを選択してその中から１つ又は複数のサンプル
周波数を設定すると、算出手段１１は、設定されたサン
プル周波数を解析周波数として、モーメント法などの周
波数領域の解析処理を実行することで、その解析周波数
での算出対象の物理量（電流や電磁界強度）を算出す
る。
ション装置１では、設定手段１０が処理対象周波数スペ
クトラムを選択してその中から１つ又は複数のサンプル
周波数を設定すると、算出手段１１は、設定されたサン
プル周波数を解析周波数として、モーメント法などの周
波数領域の解析処理を実行することで、その解析周波数
での算出対象の物理量（電流や電磁界強度）を算出す
る。
【００２８】この算出手段１１の算出処理を受けて、計
算手段１２は、設定手段１０が１つのサンプル周波数を
設定するときには、サンプル周波数の波源値と処理対象
周波数スペクトラムの持つそれ以外の周波数の波源値と
の比率値を求めて、その比率値と算出手段１１の算出し
た物理量とを演算することで、処理対象周波数スペクト
ラムの周波数領域におけるサンプル周波数以外の各解析
周波数での算出対象の物理量を算出する。
算手段１２は、設定手段１０が１つのサンプル周波数を
設定するときには、サンプル周波数の波源値と処理対象
周波数スペクトラムの持つそれ以外の周波数の波源値と
の比率値を求めて、その比率値と算出手段１１の算出し
た物理量とを演算することで、処理対象周波数スペクト
ラムの周波数領域におけるサンプル周波数以外の各解析
周波数での算出対象の物理量を算出する。
【００２９】また、この算出手段１１の算出処理を受け
て、計算手段１２は、設定手段１０が複数のサンプル周
波数を設定するときには、隣同士のサンプル周波数に挟
まれる周波数の波源値と、サンプル周波数の波源値を直
線補間することで導出される対応の直線補間値との比率
値を求めて、その比率値と、算出手段１１の算出した物
理量を直線補間することで導出される対応の直線補間値
とを演算することで、処理対象周波数スペクトラムの周
波数領域におけるサンプル周波数以外の各解析周波数で
の算出対象の物理量を算出する。
て、計算手段１２は、設定手段１０が複数のサンプル周
波数を設定するときには、隣同士のサンプル周波数に挟
まれる周波数の波源値と、サンプル周波数の波源値を直
線補間することで導出される対応の直線補間値との比率
値を求めて、その比率値と、算出手段１１の算出した物
理量を直線補間することで導出される対応の直線補間値
とを演算することで、処理対象周波数スペクトラムの周
波数領域におけるサンプル周波数以外の各解析周波数で
の算出対象の物理量を算出する。
【００３０】そして、特定手段１５は、算出手段１１及
び計算手段１２の算出した離散的な物理量の包絡線を特
定し、これを受けて、出力手段１６は、特定手段１５の
特定した包絡線を波源によりもたらされる物理量として
出力装置３に出力することで、実際の測定器で得られる
物理量と同一の形態に従う形式でシミュレート結果を出
力する。
び計算手段１２の算出した離散的な物理量の包絡線を特
定し、これを受けて、出力手段１６は、特定手段１５の
特定した包絡線を波源によりもたらされる物理量として
出力装置３に出力することで、実際の測定器で得られる
物理量と同一の形態に従う形式でシミュレート結果を出
力する。
【００３１】この構成を採るときに、解析対象となる電
子機器が複数の波源を持つときにあって、それらの波源
が異なる角度変調モード（角度変調されない場合も含
む）に従うとともに、それらの波源の周波数領域が重な
るときには、各波源が１つずつ存在するとしたシミュレ
ート処理を行い、そのシミュレート結果を重ね合わせて
いくというシミュレート処理を実行する必要がある。
子機器が複数の波源を持つときにあって、それらの波源
が異なる角度変調モード（角度変調されない場合も含
む）に従うとともに、それらの波源の周波数領域が重な
るときには、各波源が１つずつ存在するとしたシミュレ
ート処理を行い、そのシミュレート結果を重ね合わせて
いくというシミュレート処理を実行する必要がある。
【００３２】そこで、検出手段１３は、この場合に、重
ね合わされる周波数が一致することで、周波数領域の解
析処理で用いられるマトリックスが再利用されることに
なるのか否かを検出し、これを受けて、分解手段１４
は、検出手段１３により再利用可能なマトリックスが検
出される場合に、その再利用可能なマトリックスをＬＵ
分解したりＬＤＵ分解する。そして、これを受けて、算
出手段１１は、分解手段１４によりＬＵ分解やＬＤＵ分
解されたマトリックスを使って周波数領域の解析処理を
実行することで、算出すべき物理量を高速に算出する。
ね合わされる周波数が一致することで、周波数領域の解
析処理で用いられるマトリックスが再利用されることに
なるのか否かを検出し、これを受けて、分解手段１４
は、検出手段１３により再利用可能なマトリックスが検
出される場合に、その再利用可能なマトリックスをＬＵ
分解したりＬＤＵ分解する。そして、これを受けて、算
出手段１１は、分解手段１４によりＬＵ分解やＬＤＵ分
解されたマトリックスを使って周波数領域の解析処理を
実行することで、算出すべき物理量を高速に算出する。
【００３３】このようにして、本発明のシミュレーショ
ン装置１では、角度変調される波源を持つ電子機器を解
析対象として、モーメント法などのような周波数領域の
解析処理に従って、その電子機器の各要素に流れる電流
や、その電子機器の放射する電磁界強度をシミュレート
するという構成を採るときにあって、ある程度狭い周波
数領域の中では、周波数領域の解析処理で用いられるマ
トリックス（モーメント法の場合の相互インピーダンス
など）がほとんど変化しないことで、算出する物理量の
間に比例関係が成立することに着目して、サンプル周波
数でのみ正確なシミュレート処理を行うことでシミュレ
ート結果を得て、それ以外の周波数については、そのシ
ミュレート結果を使い比例演算に従ってシミュレート結
果を得るようにする構成を採ることから、極めて高速に
シミュレート処理を実行できるようになる。
ン装置１では、角度変調される波源を持つ電子機器を解
析対象として、モーメント法などのような周波数領域の
解析処理に従って、その電子機器の各要素に流れる電流
や、その電子機器の放射する電磁界強度をシミュレート
するという構成を採るときにあって、ある程度狭い周波
数領域の中では、周波数領域の解析処理で用いられるマ
トリックス（モーメント法の場合の相互インピーダンス
など）がほとんど変化しないことで、算出する物理量の
間に比例関係が成立することに着目して、サンプル周波
数でのみ正確なシミュレート処理を行うことでシミュレ
ート結果を得て、それ以外の周波数については、そのシ
ミュレート結果を使い比例演算に従ってシミュレート結
果を得るようにする構成を採ることから、極めて高速に
シミュレート処理を実行できるようになる。
【００３４】これにより、角度変調される波源を持つ電
子機器に流れる電流や、角度変調される波源を持つ電子
機器の放射する電磁界強度を、実用的な時間内にシミュ
レートできるようになる。
子機器に流れる電流や、角度変調される波源を持つ電子
機器の放射する電磁界強度を、実用的な時間内にシミュ
レートできるようになる。
【００３５】更に、本発明のシミュレーション装置１で
は、このシミュレート処理により得られる周波数領域上
での離散的な電流や電磁界強度をそのまま出力するので
はなくて、実際の測定器で得られるものと同一の形態と
なる包絡線の形態で出力する構成を採ることから、違和
感を与えることなく、そのシミュレート結果をユーザに
見せることができるようになる。
は、このシミュレート処理により得られる周波数領域上
での離散的な電流や電磁界強度をそのまま出力するので
はなくて、実際の測定器で得られるものと同一の形態と
なる包絡線の形態で出力する構成を採ることから、違和
感を与えることなく、そのシミュレート結果をユーザに
見せることができるようになる。
【００３６】
【発明の実施の形態】以下、実施の形態に従って本発明
を詳細に説明する。
を詳細に説明する。
【００３７】図２に、本発明を具備する放射電磁界強度
算出装置１ａの一実施例を図示する。
算出装置１ａの一実施例を図示する。
【００３８】この実施例に従う本発明の放射電磁界強度
算出装置１ａは、角度変調されるクロック源を持つ電子
機器の放射する電磁界強度をシミュレートするものであ
って、シミュレート対象となる電子機器の構造情報を格
納する電子機器データファイル２と、シミュレート結果
を表示するディスプレイ装置３ａと、シミュレーション
プログラム１００と、周波数スペクトラム算出プログラ
ム１０１と、マトリックス分解プログラム１０２と、こ
れらのプログラムの作業用として用意される作業用メモ
リ１０３とを備える。
算出装置１ａは、角度変調されるクロック源を持つ電子
機器の放射する電磁界強度をシミュレートするものであ
って、シミュレート対象となる電子機器の構造情報を格
納する電子機器データファイル２と、シミュレート結果
を表示するディスプレイ装置３ａと、シミュレーション
プログラム１００と、周波数スペクトラム算出プログラ
ム１０１と、マトリックス分解プログラム１０２と、こ
れらのプログラムの作業用として用意される作業用メモ
リ１０３とを備える。
【００３９】このシミュレーションプログラム１００
は、フロッピィディスクや回線などを介してインストー
ルされて、モーメント法に従ってシミュレート対象とな
る電子機器の放射する電磁界強度を算出する。周波数ス
ペクトラム算出プログラム１０１は、フロッピィディス
クや回線などを介してインストールされて、シミュレー
ト対象となる電子機器の持つクロック源の周波数スペク
トラムを算出する。マトリックス分解プログラム１０２
は、フロッピィディスクや回線などを介してインストー
ルされて、シミュレーションプログラム１００の算出す
るモーメント法の相互インピーダンスなどをＬＵ分解
（あるいはＬＤＵ分解）する。
は、フロッピィディスクや回線などを介してインストー
ルされて、モーメント法に従ってシミュレート対象とな
る電子機器の放射する電磁界強度を算出する。周波数ス
ペクトラム算出プログラム１０１は、フロッピィディス
クや回線などを介してインストールされて、シミュレー
ト対象となる電子機器の持つクロック源の周波数スペク
トラムを算出する。マトリックス分解プログラム１０２
は、フロッピィディスクや回線などを介してインストー
ルされて、シミュレーションプログラム１００の算出す
るモーメント法の相互インピーダンスなどをＬＵ分解
（あるいはＬＤＵ分解）する。
【００４０】ここで、説明の便宜上、本発明の放射電磁
界強度算出装置１ａは、シミュレーションプログラム１
００／周波数スペクトラム算出プログラム１０１／マト
リックス分解プログラム１０２という３種類のプログラ
ムを展開する構成を採ったが、これらのプログラムの機
能を１つのプログラムとして用意する構成を採ることも
可能である。また、周波数スペクトラム算出プログラム
１０１の算出する周波数スペクトラムを予めテーブルと
して用意することで、周波数スペクトラム算出プログラ
ム１０１を展開しない構成を採ることも可能である。
界強度算出装置１ａは、シミュレーションプログラム１
００／周波数スペクトラム算出プログラム１０１／マト
リックス分解プログラム１０２という３種類のプログラ
ムを展開する構成を採ったが、これらのプログラムの機
能を１つのプログラムとして用意する構成を採ることも
可能である。また、周波数スペクトラム算出プログラム
１０１の算出する周波数スペクトラムを予めテーブルと
して用意することで、周波数スペクトラム算出プログラ
ム１０１を展開しない構成を採ることも可能である。
【００４１】シミュレーションプログラム１００は、シ
ミュレート対象となる電子機器の構造をメッシュ化し
て、解析対象となる周波数を設定する。そして、その解
析対象の周波数について、メッシュ化した要素間の相互
インピーダンスや相互アドミッタンスや相互リアクショ
ンを所定の計算処理によって求めて、その求めた相互イ
ンピーダンスなどと構造情報で指定される波源とをモー
メント法の連立方程式に代入し、それを解くことで各要
素に流れる電流や磁流を求める。そして、その求めた電
流や磁流から、シミュレート対象となる電子機器の放射
する電磁界強度を算出する処理を行う。
ミュレート対象となる電子機器の構造をメッシュ化し
て、解析対象となる周波数を設定する。そして、その解
析対象の周波数について、メッシュ化した要素間の相互
インピーダンスや相互アドミッタンスや相互リアクショ
ンを所定の計算処理によって求めて、その求めた相互イ
ンピーダンスなどと構造情報で指定される波源とをモー
メント法の連立方程式に代入し、それを解くことで各要
素に流れる電流や磁流を求める。そして、その求めた電
流や磁流から、シミュレート対象となる電子機器の放射
する電磁界強度を算出する処理を行う。
【００４２】金属対象物を扱うときには、金属部分を解
析対象としてメッシュ化し、このメッシュ化した金属要
素間の相互インピーダンスＺij（解析対象の周波数にお
ける値）を求めて、この相互インピーダンスＺijと、そ
の周波数成分の波源Ｖi と、メッシュ化した金属要素に
流れるその周波数成分の電流Ｉi との間に成立する図３
に示すモーメント法の連立方程式を解くことで、金属要
素に流れる電流Ｉi を求めることになる。
析対象としてメッシュ化し、このメッシュ化した金属要
素間の相互インピーダンスＺij（解析対象の周波数にお
ける値）を求めて、この相互インピーダンスＺijと、そ
の周波数成分の波源Ｖi と、メッシュ化した金属要素に
流れるその周波数成分の電流Ｉi との間に成立する図３
に示すモーメント法の連立方程式を解くことで、金属要
素に流れる電流Ｉi を求めることになる。
【００４３】ここで、誘電体の存在を考慮するときに
は、図４に示すモーメント法の連立方程式を解くことに
なる。図中、Ｙijは要素間の相互アドミッタンス、Ｂij
は要素間の相互リアクション、Ｉc,n は金属に流れる電
流、Ｉd,n は誘電体の表面に流れる電流、Ｍn は誘電体
の表面に流れる磁流、肩付き文字０は空気中での値、肩
付き文字ｄは誘電体中での値、添字ｃは金属、添字ｄは
誘電体を表している。
は、図４に示すモーメント法の連立方程式を解くことに
なる。図中、Ｙijは要素間の相互アドミッタンス、Ｂij
は要素間の相互リアクション、Ｉc,n は金属に流れる電
流、Ｉd,n は誘電体の表面に流れる電流、Ｍn は誘電体
の表面に流れる磁流、肩付き文字０は空気中での値、肩
付き文字ｄは誘電体中での値、添字ｃは金属、添字ｄは
誘電体を表している。
【００４４】このとき算出する相互インピーダンスは、
具体的には、図５に示すようなモノポール（図中の〜
）を想定することで実行される。
具体的には、図５に示すようなモノポール（図中の〜
）を想定することで実行される。
【００４５】すなわち、要素ｉと要素ｊとの間の相互イ
ンピーダンスＺijの一般式は、図６（ａ）に図示する数
式で表される。図中、ωは角周波数、ｋは波数、ｒはモ
ノポール間の距離、Ｊ1,Ｊ2 はモノポール上の電流分布
の形状、φはモノポール間の傾きを表し、ρ1 ＝（−１
／ｊω）×〔∂Ｊ1 ／∂ｔ〕、ρ2 ＝（−１／ｊω）×
〔∂Ｊ2 ／∂ｔ〕である。
ンピーダンスＺijの一般式は、図６（ａ）に図示する数
式で表される。図中、ωは角周波数、ｋは波数、ｒはモ
ノポール間の距離、Ｊ1,Ｊ2 はモノポール上の電流分布
の形状、φはモノポール間の傾きを表し、ρ1 ＝（−１
／ｊω）×〔∂Ｊ1 ／∂ｔ〕、ρ2 ＝（−１／ｊω）×
〔∂Ｊ2 ／∂ｔ〕である。
【００４６】モノポール上の電流分布Ｊ1,Ｊ2 として、
電流モノポール Ｊ1＝sink(z-z0)/sinkd1
電流モノポール Ｊ1＝sink(z2-z)/sinkd2
電流モノポール Ｊ2＝sink(t-t0)/sinkd3
電流モノポール Ｊ2＝sink(t2-t)/sinkd4
d1：モノポールの長さ、d2：モノポールの長さ
d3：モノポールの長さ、d4：モノポールの長さ
を想定すると、モノポールとモノポールの相互イン
ピーダンスＺ13と、モノポールとモノポールの相互
インピーダンスＺ14とは、図６（ｂ）に図示する数式の
ように表される。
ピーダンスＺ13と、モノポールとモノポールの相互
インピーダンスＺ14とは、図６（ｂ）に図示する数式の
ように表される。
【００４７】モノポールとモノポールの相互インピ
ーダンスＺ23と、モノポールとモノポールの相互イ
ンピーダンスＺ24とについても同様の数式で表される。
これから、要素ｉと要素ｊとの間の相互インピーダンス
Ｚij（＝Ｚ13＋Ｚ14＋Ｚ23＋Ｚ24）が求まる。
ーダンスＺ23と、モノポールとモノポールの相互イ
ンピーダンスＺ24とについても同様の数式で表される。
これから、要素ｉと要素ｊとの間の相互インピーダンス
Ｚij（＝Ｚ13＋Ｚ14＋Ｚ23＋Ｚ24）が求まる。
【００４８】一方、周波数スペクトラム算出プログラム
１０１は、電子機器データファイル２から、角度変調さ
れるクロック源の角度変調情報である搬送波周波数（発
振周波数）ｆc 及び変調周波数ｆm を読み出し、その読
み出した角度変調情報を使って、クロック源の周波数ス
ペトラムを算出して、それを作業用メモリ１０３に格納
する処理を行う。
１０１は、電子機器データファイル２から、角度変調さ
れるクロック源の角度変調情報である搬送波周波数（発
振周波数）ｆc 及び変調周波数ｆm を読み出し、その読
み出した角度変調情報を使って、クロック源の周波数ス
ペトラムを算出して、それを作業用メモリ１０３に格納
する処理を行う。
【００４９】角度変調されるクロック源の発振信号ｖ
（ｔ）は、 ｖ（ｔ）＝Ａ×ｅｘｐ〔ｊωcｔ〕×ｅｘｐ〔ｊｍfsin
(ωmt)〕 但し、 ωc ＝２πｆc ωm ＝２πｆm ｍf ＝Δω／ωm （変調指数） と表され、ここで、第１種のｎ次のＢessel 関数Ｊ
n（ｍf）を用いると、 ｅｘｐ〔ｊｍfsin(ωmt)〕＝ΣＪn（ｍf）×ｅｘｐ〔ｊ
ｎωmｔ〕 但し、Σはｎ＝−∞〜＋∞についての総和 と表される。
（ｔ）は、 ｖ（ｔ）＝Ａ×ｅｘｐ〔ｊωcｔ〕×ｅｘｐ〔ｊｍfsin
(ωmt)〕 但し、 ωc ＝２πｆc ωm ＝２πｆm ｍf ＝Δω／ωm （変調指数） と表され、ここで、第１種のｎ次のＢessel 関数Ｊ
n（ｍf）を用いると、 ｅｘｐ〔ｊｍfsin(ωmt)〕＝ΣＪn（ｍf）×ｅｘｐ〔ｊ
ｎωmｔ〕 但し、Σはｎ＝−∞〜＋∞についての総和 と表される。
【００５０】従って、角度変調されるクロック源の発振
信号ｖ（ｔ）は、 ｖ（ｔ）＝Ａ×ｅｘｐ〔ｊωcｔ〕 ×ΣＪn（ｍf）×ｅｘｐ〔ｊｎωmｔ〕 但し、Σはｎ＝−∞〜＋∞についての総和 と表され、これから、ｖ（ｔ）の実数部分は、 ｖ（ｔ）＝Ａ×ΣＪn（ｍf)・cos(ωc＋ｎωm)t 但し、Σはｎ＝−∞〜＋∞についての総和 と表されるので、周波数スペクトラム算出プログラム１
０１は、この式を計算することで、図１９に示したよう
なクロック源の周波数スペトラムを算出して、それを作
業用メモリ１０３に格納するのである。
信号ｖ（ｔ）は、 ｖ（ｔ）＝Ａ×ｅｘｐ〔ｊωcｔ〕 ×ΣＪn（ｍf）×ｅｘｐ〔ｊｎωmｔ〕 但し、Σはｎ＝−∞〜＋∞についての総和 と表され、これから、ｖ（ｔ）の実数部分は、 ｖ（ｔ）＝Ａ×ΣＪn（ｍf)・cos(ωc＋ｎωm)t 但し、Σはｎ＝−∞〜＋∞についての総和 と表されるので、周波数スペクトラム算出プログラム１
０１は、この式を計算することで、図１９に示したよう
なクロック源の周波数スペトラムを算出して、それを作
業用メモリ１０３に格納するのである。
【００５１】一方、マトリックス分解プログラム１０２
は、シミュレーションプログラム１００により算出され
た相互インピーダンスなどのマトリックスがシミュレー
ションプログラム１００により再利用される場合には、
それらのマトリックスをＬＵ分解する。
は、シミュレーションプログラム１００により算出され
た相互インピーダンスなどのマトリックスがシミュレー
ションプログラム１００により再利用される場合には、
それらのマトリックスをＬＵ分解する。
【００５２】すなわち、図７に示すように相互インピー
ダンスＺ（ｚij）をＬＵ分解するのである。ここで、マ
トリックスＬ（ｌij）と、マトリックスＵ（ｕij）とに
ついて、 ｕij＝ｚij−Σｌikｕkj 但し、Σはｋ＝１〜(i−1)についての総和 ｊ＝１〜ｎ、ｉ＝１〜ｊ、ｉ≦ｊ ｌij＝〔ｚij−Σｌikｕkj〕／ｕjj 但し、Σはｋ＝１〜(j−1)についての総和 ｉ＝１〜ｎ、ｊ＝１〜(i−1)、ｊ＜ｉ ｌii＝１ 但し、ｉ＝１〜ｎ が成立する。
ダンスＺ（ｚij）をＬＵ分解するのである。ここで、マ
トリックスＬ（ｌij）と、マトリックスＵ（ｕij）とに
ついて、 ｕij＝ｚij−Σｌikｕkj 但し、Σはｋ＝１〜(i−1)についての総和 ｊ＝１〜ｎ、ｉ＝１〜ｊ、ｉ≦ｊ ｌij＝〔ｚij−Σｌikｕkj〕／ｕjj 但し、Σはｋ＝１〜(j−1)についての総和 ｉ＝１〜ｎ、ｊ＝１〜(i−1)、ｊ＜ｉ ｌii＝１ 但し、ｉ＝１〜ｎ が成立する。
【００５３】このように相互インピーダンスＺがＬＵ分
解されていると、モーメント法の連立方程式は、 [ＬＵ][Ｉ]＝[Ｖ] と定義される。これから、モーメント法の連立方程式
は、 [Ｕ][Ｉ]＝[Ｘ] [Ｌ][Ｘ]＝[Ｖ] を解くことと等価となるが、この式は、マトリックスが
三角分解されていることから高速に解くことが可能であ
る。
解されていると、モーメント法の連立方程式は、 [ＬＵ][Ｉ]＝[Ｖ] と定義される。これから、モーメント法の連立方程式
は、 [Ｕ][Ｉ]＝[Ｘ] [Ｌ][Ｘ]＝[Ｖ] を解くことと等価となるが、この式は、マトリックスが
三角分解されていることから高速に解くことが可能であ
る。
【００５４】マトリックス分解プログラム１０２は、相
互インピーダンスなどのマトリックスをＬＤＵ分解する
こともある。
互インピーダンスなどのマトリックスをＬＤＵ分解する
こともある。
【００５５】すなわち、図８に示すように相互インピー
ダンスＺ（ｚij）をＬＤＵ分解することもある。ここ
で、マトリックスＤ（ｄij）と、マトリックスＬ
（ｌij）について、 ｄii＝ｚii−Σｄkkｌik 2 但し、Σはｋ＝１〜(i−1)についての総和、ｉ＝１〜ｎ ｌij＝〔ｚij−Σｄkkｌikｌjk〕／ｄjj 但し、Σはｋ＝１〜(j−1)についての総和、ｉ＝１〜
ｎ、ｊ＜ｉ ｌii＝１ 但し、ｉ＝１〜ｎ が成立する。
ダンスＺ（ｚij）をＬＤＵ分解することもある。ここ
で、マトリックスＤ（ｄij）と、マトリックスＬ
（ｌij）について、 ｄii＝ｚii−Σｄkkｌik 2 但し、Σはｋ＝１〜(i−1)についての総和、ｉ＝１〜ｎ ｌij＝〔ｚij−Σｄkkｌikｌjk〕／ｄjj 但し、Σはｋ＝１〜(j−1)についての総和、ｉ＝１〜
ｎ、ｊ＜ｉ ｌii＝１ 但し、ｉ＝１〜ｎ が成立する。
【００５６】このように相互インピーダンスＺがＬＤＵ
分解されていると、モーメント法の連立方程式は、 [ＬＤtＬ][Ｉ]＝[Ｖ] と定義される。これから、モーメント法の連立方程式
は、 [ＤtＬ][Ｉ]＝[Ｘ] [Ｌ][Ｘ]＝[Ｖ] を解くことと等価となるが、この式は、マトリックスが
三角分解されていることから高速に解くことが可能であ
る。
分解されていると、モーメント法の連立方程式は、 [ＬＤtＬ][Ｉ]＝[Ｖ] と定義される。これから、モーメント法の連立方程式
は、 [ＤtＬ][Ｉ]＝[Ｘ] [Ｌ][Ｘ]＝[Ｖ] を解くことと等価となるが、この式は、マトリックスが
三角分解されていることから高速に解くことが可能であ
る。
【００５７】図９に、シミュレーションプログラム１０
０が本発明を実現すべく実行する処理フローの一実施例
を図示する。次に、この処理フローに従って、本発明に
ついて詳細に説明する。
０が本発明を実現すべく実行する処理フローの一実施例
を図示する。次に、この処理フローに従って、本発明に
ついて詳細に説明する。
【００５８】以下の説明では、説明の便宜上、シミュレ
ート対象となる電子機器は、同一の角度変調モード（同
一の搬送周波数ｆc 及び変調周波数ｆm を持つ）で角度
変調される複数のクロック源（１つのこともある）を持
つことを想定しており、周波数スペクトラム算出プログ
ラム１０１は、この処理フローの実行に先立って、この
クロック源の周波数スペトラムを算出して、それを作業
用メモリ１０３に格納しておくことを想定する。
ート対象となる電子機器は、同一の角度変調モード（同
一の搬送周波数ｆc 及び変調周波数ｆm を持つ）で角度
変調される複数のクロック源（１つのこともある）を持
つことを想定しており、周波数スペクトラム算出プログ
ラム１０１は、この処理フローの実行に先立って、この
クロック源の周波数スペトラムを算出して、それを作業
用メモリ１０３に格納しておくことを想定する。
【００５９】シミュレーションプログラム１００は、電
子機器のシミュレート要求が発行されると、この図９の
処理フローに示すように、先ず最初に、ステップ１で、
電子機器データファイル２から電子機器の構造情報を読
み込み、それを要素に分割する。
子機器のシミュレート要求が発行されると、この図９の
処理フローに示すように、先ず最初に、ステップ１で、
電子機器データファイル２から電子機器の構造情報を読
み込み、それを要素に分割する。
【００６０】続いて、ステップ２で、作業用メモリ１０
３から、周波数スペクトラム算出プログラム１０１の算
出した周波数スペクトラムを読み込む。すなわち、周波
数スペクトラム算出プログラム１０１が、搬送周波数
（発振周波数）ｆc とそれらの各高調波（ｎ×ｆc ）の
近傍に現れる図１９に示したような周波数スペクトラム
を算出して、それを作業用メモリ１０３に格納しておく
ので、作業用メモリ１０３から、その周波数スペクトラ
ムを読み込むのである。
３から、周波数スペクトラム算出プログラム１０１の算
出した周波数スペクトラムを読み込む。すなわち、周波
数スペクトラム算出プログラム１０１が、搬送周波数
（発振周波数）ｆc とそれらの各高調波（ｎ×ｆc ）の
近傍に現れる図１９に示したような周波数スペクトラム
を算出して、それを作業用メモリ１０３に格納しておく
ので、作業用メモリ１０３から、その周波数スペクトラ
ムを読み込むのである。
【００６１】続いて、ステップ３で、読み込んだ周波数
スペクトラムの中から、処理対象の周波数スペクトラム
を１つ選択し、続くステップ４で、全ての周波数スペク
トラムを選択したのか否かを判断する。
スペクトラムの中から、処理対象の周波数スペクトラム
を１つ選択し、続くステップ４で、全ての周波数スペク
トラムを選択したのか否かを判断する。
【００６２】このステップ４の判断処理で、全ての周波
数スペクトラムを選択していないことを判断するとき、
すなわち、ステップ３で処理対象の周波数スペクトラム
を選択できたことを判断するときには、ステップ６に進
んで、その処理対象の周波数スペクトラムの中から、１
つ又は複数のサンプル周波数を設定する。
数スペクトラムを選択していないことを判断するとき、
すなわち、ステップ３で処理対象の周波数スペクトラム
を選択できたことを判断するときには、ステップ６に進
んで、その処理対象の周波数スペクトラムの中から、１
つ又は複数のサンプル周波数を設定する。
【００６３】このサンプル周波数の設定処理では、１つ
のサンプル周波数を設定したり、複数のサンプル周波数
を設定することになるが、１つのサンプル周波数を設定
するときには、例えば、図１０に示すように、処理対象
の周波数スペクトラムの中心位置に位置する周波数（搬
送周波数ｆc あるいはその高調波）をサンプル周波数と
して設定する。また、複数のサンプル周波数を設定する
ときには、例えば、図１１に示すように、上側周波数領
域のサンプル周波数と下側周波数領域のサンプル周波数
とが対称となるようにとサンプル周波数を設定する。
のサンプル周波数を設定したり、複数のサンプル周波数
を設定することになるが、１つのサンプル周波数を設定
するときには、例えば、図１０に示すように、処理対象
の周波数スペクトラムの中心位置に位置する周波数（搬
送周波数ｆc あるいはその高調波）をサンプル周波数と
して設定する。また、複数のサンプル周波数を設定する
ときには、例えば、図１１に示すように、上側周波数領
域のサンプル周波数と下側周波数領域のサンプル周波数
とが対称となるようにとサンプル周波数を設定する。
【００６４】続いて、ステップ７で、サンプル周波数を
解析周波数としてモーメント法を解くことで、メッシュ
に分割した電子機器の各要素に流れる電流（サンプル周
波数の周波数を持つ電流）を算出し、その電流の値を公
知の電磁理論式に代入することで、電子機器の放射する
電磁界強度（サンプル周波数の周波数を持つ電磁界強
度）を算出する。
解析周波数としてモーメント法を解くことで、メッシュ
に分割した電子機器の各要素に流れる電流（サンプル周
波数の周波数を持つ電流）を算出し、その電流の値を公
知の電磁理論式に代入することで、電子機器の放射する
電磁界強度（サンプル周波数の周波数を持つ電磁界強
度）を算出する。
【００６５】すなわち、図３に示した
[Ｚij][Ｉi]＝[Ｖi]
というモーメント法の連立方程式（誘電体を考慮する場
合には、図４に示したモーメント法の連立方程式）を解
くことで、メッシュに分割した電子機器の各要素に流れ
る電流を算出（誘電体を考慮する場合には、磁流も算出
する）し、その電流の値を公知の電磁理論式に代入する
ことで、電子機器の放射する電磁界強度を算出するので
ある。
合には、図４に示したモーメント法の連立方程式）を解
くことで、メッシュに分割した電子機器の各要素に流れ
る電流を算出（誘電体を考慮する場合には、磁流も算出
する）し、その電流の値を公知の電磁理論式に代入する
ことで、電子機器の放射する電磁界強度を算出するので
ある。
【００６６】電流のもたらす電磁界強度については、公
知であるのでその詳細については省略するが、例えば、
図１２に示すような波源と観測点との関係を想定すると
ともに、波源の電流分布として図中に示すＪ+ を想定す
ると、電流Ｊ+ による電界のｚ方向成分Ｅz + とρ方向
成分Ｅρ+ とは、図１３に示す算出式に従って算出され
ることになる。
知であるのでその詳細については省略するが、例えば、
図１２に示すような波源と観測点との関係を想定すると
ともに、波源の電流分布として図中に示すＪ+ を想定す
ると、電流Ｊ+ による電界のｚ方向成分Ｅz + とρ方向
成分Ｅρ+ とは、図１３に示す算出式に従って算出され
ることになる。
【００６７】続いて、ステップ８で、処理対象の周波数
スペクトラムの持つサンプル周波数以外の周波数の電磁
界強度について、比例演算の手法を用いて算出すること
で、モーメント法を用いずにその算出を行う。
スペクトラムの持つサンプル周波数以外の周波数の電磁
界強度について、比例演算の手法を用いて算出すること
で、モーメント法を用いずにその算出を行う。
【００６８】本発明では、相互インピーダンス〔Ｚij〕
（誘電体を考慮する場合には、相互アドミッタンス〔Ｙ
ij〕や相互リアクション〔Ｂij〕についても）が周波数
に対してなだらかな特性を示し、周波数の小区間（ｆa
〜ｆb ）では、 〔Ｚij(fa)〕≒〔Ｚij(fb)〕 と近似しても実用上問題がないことで、〔Ｉi (fa)〕と
〔Ｉi (fb)〕との間の関係は、ほぼ、〔Ｖi (fa)〕と
〔Ｖi (fb)〕との間の関係に比例することに着目して、
処理対象の周波数スペクトラムの持つサンプル周波数以
外の周波数の電磁界強度については、モーメント法を用
いずに比例演算の手法を用いて算出する構成を採ってい
る。
（誘電体を考慮する場合には、相互アドミッタンス〔Ｙ
ij〕や相互リアクション〔Ｂij〕についても）が周波数
に対してなだらかな特性を示し、周波数の小区間（ｆa
〜ｆb ）では、 〔Ｚij(fa)〕≒〔Ｚij(fb)〕 と近似しても実用上問題がないことで、〔Ｉi (fa)〕と
〔Ｉi (fb)〕との間の関係は、ほぼ、〔Ｖi (fa)〕と
〔Ｖi (fb)〕との間の関係に比例することに着目して、
処理対象の周波数スペクトラムの持つサンプル周波数以
外の周波数の電磁界強度については、モーメント法を用
いずに比例演算の手法を用いて算出する構成を採ってい
る。
【００６９】すなわち、１つのサンプル周波数を設定す
るときには、処理対象の周波数スペクトラムのような周
波数の小区間（ｆa 〜ｆb ）では、「〔Ｚij(fa)〕≒
〔Ｚij(fb)〕」と近似しても実用上問題がないことに着
目して、図１４（ａ）に示すように、サンプル周波数ｆ
s の周波数スペクトラム強度ｒs と、それ以外の周波数
ｆn の周波数スペクトラム強度ｒn との比率値Ｒn （＝
ｒn ／ｒs ）を求めて、図１４（ｂ）に示すように、こ
の比率値Ｒn とステップ７で求めたサンプル周波数ｆs
の電磁界強度ａs との乗算値を求めることで、モーメン
ト法を用いずに、処理対象の周波数スペクトラムの持つ
サンプル周波数以外の周波数ｆn の電磁界強度ａn を算
出する構成を採っている。
るときには、処理対象の周波数スペクトラムのような周
波数の小区間（ｆa 〜ｆb ）では、「〔Ｚij(fa)〕≒
〔Ｚij(fb)〕」と近似しても実用上問題がないことに着
目して、図１４（ａ）に示すように、サンプル周波数ｆ
s の周波数スペクトラム強度ｒs と、それ以外の周波数
ｆn の周波数スペクトラム強度ｒn との比率値Ｒn （＝
ｒn ／ｒs ）を求めて、図１４（ｂ）に示すように、こ
の比率値Ｒn とステップ７で求めたサンプル周波数ｆs
の電磁界強度ａs との乗算値を求めることで、モーメン
ト法を用いずに、処理対象の周波数スペクトラムの持つ
サンプル周波数以外の周波数ｆn の電磁界強度ａn を算
出する構成を採っている。
【００７０】また、１つのサンプル周波数を設定するよ
りも精度を高めるべく、複数のサンプル周波数を設定す
るときには、処理対象の周波数スペクトラムから分割さ
れる周波数の小区間（ｆa 〜ｆb ）では、「〔Ｚij(f
a)〕≒〔Ｚij(fb)〕」と近似しても実用上問題がないこ
とに着目して、図１５（ａ）に示すように、両端に位置
するサンプル周波数ｆs1の周波数スペクトラム強度ｒs1
と、サンプル周波数ｆs2の周波数スペクトラム強度ｒs2
との間を直線補間することで、その２つのサンプル周波
数に挟まれる周波数ｆn の直線補間値ｉn を求めて、そ
の直線補間値ｉnと、その周波数ｆn の周波数スペクト
ラム強度ｒn との比率値Ｒn （＝ｒn ／ｉn ）を求め
る。
りも精度を高めるべく、複数のサンプル周波数を設定す
るときには、処理対象の周波数スペクトラムから分割さ
れる周波数の小区間（ｆa 〜ｆb ）では、「〔Ｚij(f
a)〕≒〔Ｚij(fb)〕」と近似しても実用上問題がないこ
とに着目して、図１５（ａ）に示すように、両端に位置
するサンプル周波数ｆs1の周波数スペクトラム強度ｒs1
と、サンプル周波数ｆs2の周波数スペクトラム強度ｒs2
との間を直線補間することで、その２つのサンプル周波
数に挟まれる周波数ｆn の直線補間値ｉn を求めて、そ
の直線補間値ｉnと、その周波数ｆn の周波数スペクト
ラム強度ｒn との比率値Ｒn （＝ｒn ／ｉn ）を求め
る。
【００７１】そして、図１５（ｂ）に示すように、ステ
ップ７で求めたサンプル周波数ｆs1の電磁界強度ａs1
と、ステップ７で求めたサンプル周波数ｆs2の電磁界強
度ａs2との間を直線補間することで、その２つのサンプ
ル周波数に挟まれる周波数ｆnの直線補間値ａn を求め
て、この直線補間値ａn と比率値Ｒn との乗算値を求め
ることで、モーメント法を用いずに、処理対象の周波数
スペクトラムの持つサンプル周波数以外の周波数ｆn の
電磁界強度ｂn を算出する構成を採っている。
ップ７で求めたサンプル周波数ｆs1の電磁界強度ａs1
と、ステップ７で求めたサンプル周波数ｆs2の電磁界強
度ａs2との間を直線補間することで、その２つのサンプ
ル周波数に挟まれる周波数ｆnの直線補間値ａn を求め
て、この直線補間値ａn と比率値Ｒn との乗算値を求め
ることで、モーメント法を用いずに、処理対象の周波数
スペクトラムの持つサンプル周波数以外の周波数ｆn の
電磁界強度ｂn を算出する構成を採っている。
【００７２】この比例演算の手法を用いることで、処理
対象の周波数スペクトラムの持つサンプル周波数以外の
周波数の電磁界強度については、モーメント法を解くこ
となく極めて高速に電磁界強度を算出できるようにな
る。
対象の周波数スペクトラムの持つサンプル周波数以外の
周波数の電磁界強度については、モーメント法を解くこ
となく極めて高速に電磁界強度を算出できるようにな
る。
【００７３】なお、本発明の放射電磁界強度算出装置１
ａでは、電子機器の放射する電磁界強度を算出する処理
を行うことから、ステップ７では、モーメント法を解く
ことで電子機器に流れる電流をシミュレートした後、そ
の電流によりもたらされる電磁界強度について算出する
という構成を採った。
ａでは、電子機器の放射する電磁界強度を算出する処理
を行うことから、ステップ７では、モーメント法を解く
ことで電子機器に流れる電流をシミュレートした後、そ
の電流によりもたらされる電磁界強度について算出する
という構成を採った。
【００７４】これから、ステップ８では、ステップ７で
算出した電磁界強度に比例演算を施すことで、処理対象
の周波数スペクトラムの持つサンプル周波数以外の周波
数の電磁界強度を求めるという構成を採ったが、電子機
器に流れる電流をシミュレートしたいという要求に対し
ては、ステップ７で算出した電流に比例演算を施すこと
で、処理対象の周波数スペクトラムの持つサンプル周波
数以外の周波数の電流を求める構成を採ることになる。
算出した電磁界強度に比例演算を施すことで、処理対象
の周波数スペクトラムの持つサンプル周波数以外の周波
数の電磁界強度を求めるという構成を採ったが、電子機
器に流れる電流をシミュレートしたいという要求に対し
ては、ステップ７で算出した電流に比例演算を施すこと
で、処理対象の周波数スペクトラムの持つサンプル周波
数以外の周波数の電流を求める構成を採ることになる。
【００７５】このようにして、ステップ３で処理対象の
周波数スペクトラムを選択した後、ステップ７で、モー
メント法の連立方程式を解くことで、処理対象の周波数
スペクトラムの持つサンプル周波数の電磁界強度を算出
し、ステップ８で、比例演算の手法を使って、処理対象
の周波数スペクトラムの持つサンプル周波数以外の周波
数の電磁界強度を算出することで、処理対象の周波数ス
ペクトラムの持つ周波数の電磁界強度を算出すると、ス
テップ３に戻って、次の周波数スペクトラムを処理対象
として選択していくことで、この処理を繰り返してい
く。
周波数スペクトラムを選択した後、ステップ７で、モー
メント法の連立方程式を解くことで、処理対象の周波数
スペクトラムの持つサンプル周波数の電磁界強度を算出
し、ステップ８で、比例演算の手法を使って、処理対象
の周波数スペクトラムの持つサンプル周波数以外の周波
数の電磁界強度を算出することで、処理対象の周波数ス
ペクトラムの持つ周波数の電磁界強度を算出すると、ス
テップ３に戻って、次の周波数スペクトラムを処理対象
として選択していくことで、この処理を繰り返してい
く。
【００７６】そして、ステップ４で、周波数スペクトラ
ム算出プログラム１０１の算出した全ての周波数スペク
トラムの選択終了を判断すると、ステップ５に進んで、
図１６に示すように、離散的な周波数で求めた周波数領
域上の電磁界強度の包絡線を求めて、それをディスプレ
イ装置３ａに表示して、処理を終了する。ここで、処理
を簡略化するために、包絡線を直線補間の形態で求める
こともある。
ム算出プログラム１０１の算出した全ての周波数スペク
トラムの選択終了を判断すると、ステップ５に進んで、
図１６に示すように、離散的な周波数で求めた周波数領
域上の電磁界強度の包絡線を求めて、それをディスプレ
イ装置３ａに表示して、処理を終了する。ここで、処理
を簡略化するために、包絡線を直線補間の形態で求める
こともある。
【００７７】このように、本発明の放射電磁界強度算出
装置１ａは、角度変調された波源を持つ電子機器の放射
する電磁界強度を算出するときに、サンプル周波数での
み正確なシミュレート処理を行うことで電磁界強度を算
出し、それ以外の周波数については、その算出結果を使
い比例演算に従って電磁界強度を算出する構成を採るこ
とから、角度変調された波源を持つ電子機器の放射する
電磁界強度を実用的な時間内に算出できるようになる。
装置１ａは、角度変調された波源を持つ電子機器の放射
する電磁界強度を算出するときに、サンプル周波数での
み正確なシミュレート処理を行うことで電磁界強度を算
出し、それ以外の周波数については、その算出結果を使
い比例演算に従って電磁界強度を算出する構成を採るこ
とから、角度変調された波源を持つ電子機器の放射する
電磁界強度を実用的な時間内に算出できるようになる。
【００７８】図９の処理フローの説明にあたって、説明
の便宜上、シミュレート対象となる電子機器が、同一の
角度変調モードで角度変調される複数のクロック源（１
つのこともある）を持つことを想定したが、例えば、角
度変調される波源と角度変調されない波源とを持つとと
もに、それらの波源の周波数が重なるというような場合
や、異なる角度変調モードで角度変調される波源を持つ
とともに、それらの波源の周波数が重なるというような
場合には、１つ１つの波源しか存在しないことを仮定し
てシミュレート処理を行い、そのシミュレート結果を重
ね合わせていくという重ね合わせの原理を使って、電子
機器の放射する電磁界強度を算出する必要がある。
の便宜上、シミュレート対象となる電子機器が、同一の
角度変調モードで角度変調される複数のクロック源（１
つのこともある）を持つことを想定したが、例えば、角
度変調される波源と角度変調されない波源とを持つとと
もに、それらの波源の周波数が重なるというような場合
や、異なる角度変調モードで角度変調される波源を持つ
とともに、それらの波源の周波数が重なるというような
場合には、１つ１つの波源しか存在しないことを仮定し
てシミュレート処理を行い、そのシミュレート結果を重
ね合わせていくという重ね合わせの原理を使って、電子
機器の放射する電磁界強度を算出する必要がある。
【００７９】上述した比例演算を用いることができるの
は、全てのクロック源が同一の角度変調モードで角度変
調されているからであり、そのような条件が成立しない
ときには、重ね合わせの原理を用いる必要がある。
は、全てのクロック源が同一の角度変調モードで角度変
調されているからであり、そのような条件が成立しない
ときには、重ね合わせの原理を用いる必要がある。
【００８０】この重ね合わせの原理を使う場合、図９の
処理フローのステップ７の処理で求める相互インピーダ
ンスＺij（誘電体を考慮する場合には、相互アドミッタ
ンス〔Ｙij〕や相互リアクション〔Ｂij〕についても）
を、再利用していくことが起こる。
処理フローのステップ７の処理で求める相互インピーダ
ンスＺij（誘電体を考慮する場合には、相互アドミッタ
ンス〔Ｙij〕や相互リアクション〔Ｂij〕についても）
を、再利用していくことが起こる。
【００８１】例えば、搬送周波数（発振周波数）ｆc 及
び変調周波数ｆm の角度変調モードで角度変調される波
源と、発振周波数ｆc を持つ角度変調されない波源とが
混在するような場合に、前者の波源に対してサンプル周
波数として搬送周波数ｆc を設定すると、相互インピー
ダンス〔Ｚij(fc)〕が求まることになるが、この相互イ
ンピーダンス〔Ｚij(fc)〕は、後者の波源に対してモー
メント法を用いるときに再利用できる。
び変調周波数ｆm の角度変調モードで角度変調される波
源と、発振周波数ｆc を持つ角度変調されない波源とが
混在するような場合に、前者の波源に対してサンプル周
波数として搬送周波数ｆc を設定すると、相互インピー
ダンス〔Ｚij(fc)〕が求まることになるが、この相互イ
ンピーダンス〔Ｚij(fc)〕は、後者の波源に対してモー
メント法を用いるときに再利用できる。
【００８２】そこで、シミュレーションプログラム１０
０は、図１７の処理フローに示すように、先ず最初に、
ステップ１で、電子機器データファイル２から電子機器
の構造情報を読み込み、それを要素に分割し、続くステ
ップ２で、作業用メモリ１０３から、周波数スペクトラ
ム算出プログラム１０１の算出した周波数スペクトラム
を読み込むと、続くステップ３で、同一の角度変調モー
ドで角度変調される波源を１つのグループとするととも
に、同一の発振周波数を持つ波源を１つのグループとす
ることで、波源をグループ化する。
０は、図１７の処理フローに示すように、先ず最初に、
ステップ１で、電子機器データファイル２から電子機器
の構造情報を読み込み、それを要素に分割し、続くステ
ップ２で、作業用メモリ１０３から、周波数スペクトラ
ム算出プログラム１０１の算出した周波数スペクトラム
を読み込むと、続くステップ３で、同一の角度変調モー
ドで角度変調される波源を１つのグループとするととも
に、同一の発振周波数を持つ波源を１つのグループとす
ることで、波源をグループ化する。
【００８３】続いて、ステップ４で、周波数の重ならな
い波源グループを処理対象として、相互インピーダンス
ＺijなどをＬＵ分解（ＬＤＵ分解）することなくモーメ
ント法を解きながら、図９の処理フローに従って、電子
機器の放射する電磁界強度を算出する。
い波源グループを処理対象として、相互インピーダンス
ＺijなどをＬＵ分解（ＬＤＵ分解）することなくモーメ
ント法を解きながら、図９の処理フローに従って、電子
機器の放射する電磁界強度を算出する。
【００８４】続いて、ステップ５で、周波数の重なる波
源グループを処理対象として、最初に、相互インピーダ
ンスＺijなどを算出するときに、マトリックス分解プロ
グラム１０２を起動することで、その相互インピーダン
スＺijなどをＬＵ分解（ＬＤＵ分解）し、その後、その
相互インピーダンスＺijなどを用いるときには、マトリ
ックス分解プログラム１０２によりＬＵ分解（ＬＤＵ分
解）されたものを用いてモーメント法を解きながら、図
９の処理フローに従って、電子機器の放射する電磁界強
度を算出する。
源グループを処理対象として、最初に、相互インピーダ
ンスＺijなどを算出するときに、マトリックス分解プロ
グラム１０２を起動することで、その相互インピーダン
スＺijなどをＬＵ分解（ＬＤＵ分解）し、その後、その
相互インピーダンスＺijなどを用いるときには、マトリ
ックス分解プログラム１０２によりＬＵ分解（ＬＤＵ分
解）されたものを用いてモーメント法を解きながら、図
９の処理フローに従って、電子機器の放射する電磁界強
度を算出する。
【００８５】そして、最後に、ステップ６で、このよう
にして算出した電磁界強度を重ね合わせて、シミュレー
ト結果を表示して、処理を終了する。
にして算出した電磁界強度を重ね合わせて、シミュレー
ト結果を表示して、処理を終了する。
【００８６】このようにして、シミュレーションプログ
ラム１００は、図９の処理フローに従ってシミュレート
処理を実行する構成を採るときにあって、角度変調され
る波源と角度変調されない波源とが混在するような場合
や、異なる角度変調モードで角度変調される波源が混在
するときにあって、それらの波源の周波数が重なるとき
には、相互インピーダンスＺijなどをＬＵ分解（ＬＤＵ
分解）することで、高速にモーメント法を解いていくこ
とで、電子機器の放射する電磁界強度を高速に算出する
ように処理するのである。
ラム１００は、図９の処理フローに従ってシミュレート
処理を実行する構成を採るときにあって、角度変調され
る波源と角度変調されない波源とが混在するような場合
や、異なる角度変調モードで角度変調される波源が混在
するときにあって、それらの波源の周波数が重なるとき
には、相互インピーダンスＺijなどをＬＵ分解（ＬＤＵ
分解）することで、高速にモーメント法を解いていくこ
とで、電子機器の放射する電磁界強度を高速に算出する
ように処理するのである。
【００８７】図示実施例に従って本発明を説明したが、
本発明はこれに限定されるものではない。例えば、実施
例では、パルス周波数変調の角度変調波源を想定した
が、本発明は、パルス幅変調（周波数については揺動さ
せず、パルス幅を揺動させる変調方式）の角度変調波源
に対してもそのまま適用できる。
本発明はこれに限定されるものではない。例えば、実施
例では、パルス周波数変調の角度変調波源を想定した
が、本発明は、パルス幅変調（周波数については揺動さ
せず、パルス幅を揺動させる変調方式）の角度変調波源
に対してもそのまま適用できる。
【００８８】また、実施例では、モーメント法を用いる
シミュレート技法を想定したが、本発明は、有限要素法
などの別のシミュレート技法を用いる場合にもそのまま
適用できる。
シミュレート技法を想定したが、本発明は、有限要素法
などの別のシミュレート技法を用いる場合にもそのまま
適用できる。
【００８９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のシミュレ
ーション装置では、角度変調される波源を持つ電子機器
を解析対象として、モーメント法などのような周波数領
域の解析処理に従って、その電子機器の各要素に流れる
電流や、その電子機器の放射する電磁界強度をシミュレ
ートするという構成を採るときにあって、ある程度狭い
周波数領域の中では、周波数領域の解析処理で用いられ
るマトリックス（モーメント法の場合の相互インピーダ
ンスなど）がほとんど変化しないことで、算出する物理
量の間に比例関係が成立することに着目して、サンプル
周波数でのみ正確なシミュレート処理を行うことでシミ
ュレート結果を得て、それ以外の周波数については、そ
のシミュレート結果を使い比例演算に従ってシミュレー
ト結果を得るようにするという構成を採ることから、極
めて高速にシミュレート処理を実行できるようになる。
ーション装置では、角度変調される波源を持つ電子機器
を解析対象として、モーメント法などのような周波数領
域の解析処理に従って、その電子機器の各要素に流れる
電流や、その電子機器の放射する電磁界強度をシミュレ
ートするという構成を採るときにあって、ある程度狭い
周波数領域の中では、周波数領域の解析処理で用いられ
るマトリックス（モーメント法の場合の相互インピーダ
ンスなど）がほとんど変化しないことで、算出する物理
量の間に比例関係が成立することに着目して、サンプル
周波数でのみ正確なシミュレート処理を行うことでシミ
ュレート結果を得て、それ以外の周波数については、そ
のシミュレート結果を使い比例演算に従ってシミュレー
ト結果を得るようにするという構成を採ることから、極
めて高速にシミュレート処理を実行できるようになる。
【００９０】これにより、角度変調される波源を持つ電
子機器に流れる電流や、角度変調される波源を持つ電子
機器の放射する電磁界強度を、実用的な時間内にシミュ
レートできるようになる。
子機器に流れる電流や、角度変調される波源を持つ電子
機器の放射する電磁界強度を、実用的な時間内にシミュ
レートできるようになる。
【００９１】更に、本発明のシミュレーション装置で
は、このシミュレート処理により得られる周波数領域上
での離散的なシミュレート結果をそのまま出力するので
はなくて、実際の測定器で得られるものと同一の形態と
なる包絡線の形態で出力する構成を採ることから、違和
感を与えることなく、そのシミュレート結果をユーザに
見せることができるようになる。
は、このシミュレート処理により得られる周波数領域上
での離散的なシミュレート結果をそのまま出力するので
はなくて、実際の測定器で得られるものと同一の形態と
なる包絡線の形態で出力する構成を採ることから、違和
感を与えることなく、そのシミュレート結果をユーザに
見せることができるようになる。
【図１】本発明の原理構成図である。
【図２】本発明の一実施例である。
【図３】モーメント法の連立方程式の説明図である。
【図４】モーメント法の連立方程式の説明図である。
【図５】相互インピーダンスの算出方法の説明図であ
る。
る。
【図６】相互インピーダンスの算出方法の説明図であ
る。
る。
【図７】ＬＵ分解の説明図である。
【図８】ＬＤＵ分解の説明図である。
【図９】シミュレーションプログラムの処理フローの一
実施例である。
実施例である。
【図１０】サンプル周波数の設定処理の説明図である。
【図１１】サンプル周波数の設定処理の説明図である。
【図１２】波源と観測点との関係図である。
【図１３】電界の算出式の説明図である。
【図１４】シミュレーションプログラムの実行処理の説
明図である。
明図である。
【図１５】シミュレーションプログラムの実行処理の説
明図である。
明図である。
【図１６】シミュレーションプログラムの実行処理の説
明図である。
明図である。
【図１７】シミュレーションプログラムの処理フローの
他の実施例である。
他の実施例である。
【図１８】スプレッド・スペクトラム・クロッキングの
説明図である。
説明図である。
【図１９】スプレッド・スペクトラム・クロッキングの
説明図である。
説明図である。
１ シミュレーション装置
２ 電子機器データファイル
３ 出力装置
１０ 設定手段
１１ 算出手段
１２ 計算手段
１３ 検出手段
１４ 分解手段
１５ 特定手段
１６ 出力手段
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01R 29/08
G01R 29/10
G06F 17/50
Claims (12)
- 【請求項１】 角度変調される波源を持つ電子機器を解
析対象として、周波数領域の解析処理に従って、該電子
機器の各要素に流れる電流、あるいは、該電子機器の放
射する電磁界強度を算出対象として、該算出対象の物理
量を算出するシミュレーション装置であって、 上記波源の持つ周波数スペクトラムの中から処理対象周
波数スペクトラムを選択し、その中から１つのサンプル
周波数を設定する設定手段と、 上記サンプル周波数を解析周波数として周波数領域の解
析処理を実行することで、該解析周波数での算出対象の
物理量を算出する算出手段と、 上記算出手段の算出する物理量と、上記サンプル周波数
の波源値と、上記サンプル周波数を除く上記処理対象周
波数スペクトラムの波源値とから、上記処理対象周波数
スペクトラムの周波数領域における上記サンプル周波数
以外の各解析周波数での算出対象の物理量を算出する計
算手段とを備えることを、 特徴とするシミュレーション装置。 - 【請求項２】 請求項１記載のシミュレーション装置に
おいて、 計算手段は、サンプル周波数の波源値とそれ以外の周波
数の波源値との比率値を求めて、該比率値と算出手段の
算出する物理量とを演算することで、算出対象の物理量
を算出することを、 特徴とするシミュレーション装置。 - 【請求項３】 請求項１又は２記載のシミュレーション
装置において、 設定手段は、処理対象周波数スペクトラムの中心周波数
をサンプル周波数として設定することを、 特徴とするシミュレーション装置。 - 【請求項４】 角度変調される波源を持つ電子機器を解
析対象として、周波数領域の解析処理に従って、該電子
機器の各要素に流れる電流、あるいは、該電子機器の放
射する電磁界強度を算出対象として、該算出対象の物理
量を算出するシミュレーション装置であって、 上記波源の持つ周波数スペクトラムの中から処理対象周
波数スペクトラムを選択し、その中から複数のサンプル
周波数を設定する設定手段と、 上記サンプル周波数毎に、それぞれを解析周波数として
周波数領域の解析処理を実行することで、該解析周波数
での算出対象の物理量を算出する算出手段と、 上記算出手段の算出する物理量と、上記サンプル周波数
の波源値と、上記サンプル周波数に挟まれる上記処理対
象周波数スペクトラムの波源値とから、上記処理対象周
波数スペクトラムの周波数領域における上記サンプル周
波数以外の各解析周波数での算出対象の物理量を算出す
る計算手段とを備えることを、 特徴とするシミュレーション装置。 - 【請求項５】 請求項４記載のシミュレーション装置に
おいて、 計算手段は、隣同士のサンプル周波数に挟まれる周波数
の波源値と、該サンプル周波数の波源値を直線補間する
ことで導出される対応の直線補間値との比率値を求め
て、該比率値と、算出手段の算出する物理量を直線補間
することで導出される対応の直線補間値とを演算するこ
とで、算出対象の物理量を算出することを、 特徴とするシミュレーション装置。 - 【請求項６】 請求項４又は５記載のシミュレーション
装置において、 設定手段は、処理対象周波数スペクトラムの中心周波数
を中心として、上側周波数領域のサンプル周波数と下側
周波数領域のサンプル周波数とが対称となる形態を示す
サンプル周波数を設定することを、 特徴とするシミュレーション装置。 - 【請求項７】 請求項１〜６に記載されるいずれかのシ
ミュレーション装置において、 算出手段は、周波数領域の解析処理としてモーメント法
を用いることを、 特徴とするシミュレーション装置。 - 【請求項８】 請求項１〜７に記載されるいずれかのシ
ミュレーション装置において、 電子機器が複数の波源を持つときに、周波数領域の解析
処理で用いられるマトリックスが算出手段により再利用
されることになるのか否かを検出する検出手段と、 上記検出手段により検出される再利用可能なマトリック
スをＬＵ分解又はＬＤＵ分解する分解手段とを備えるこ
とを、 特徴とするシミュレーション装置。 - 【請求項９】 角度変調される波源を持つ電子機器を解
析対象として、周波数領域の解析処理に従って、該電子
機器の各要素に流れる電流、あるいは、該電子機器の放
射する電磁界強度を算出対象として、該算出対象の物理
量を算出するシミュレーション方法であって、 上記波源の持つ周波数スペクトラムの中から処理対象周
波数スペクトラムを選択し、その中から１つのサンプル
周波数を設定する第１の処理過程と、 上記サンプル周波数を解析周波数として周波数領域の解
析処理を実行することで、該解析周波数での算出対象の
物理量を算出する第２の処理過程と、 第２の処理過程で算出した物理量と、上記サンプル周波
数の波源値と、上記サンプル周波数を除く上記処理対象
周波数スペクトラムの波源値とから、上記処理対象周波
数スペクトラムの周波数領域における上記サンプル周波
数以外の各解析周波数での算出対象の物理量を算出する
第３の処理過程とを備えることを、 特徴とするシミュレーション方法。 - 【請求項１０】 角度変調される波源を持つ電子機器を
解析対象として、周波数領域の解析処理に従って、該電
子機器の各要素に流れる電流、あるいは、該電子機器の
放射する電磁界強度を算出対象として、該算出対象の物
理量を算出するシミュレーション方法であって、 上記波源の持つ周波数スペクトラムの中から処理対象周
波数スペクトラムを選択し、その中から複数のサンプル
周波数を設定する第１の処理過程と、 上記サンプル周波数毎に、それぞれを解析周波数として
周波数領域の解析処理を実行することで、該解析周波数
での算出対象の物理量を算出する第２の処理過程と、 第２の処理過程で算出した物理量と、上記サンプル周波
数の波源値と、上記サンプル周波数に挟まれる上記処理
対象周波数スペクトラムの波源値とから、上記処理対象
周波数スペクトラムの周波数領域における上記サンプル
周波数以外の各解析周波数での算出対象の物理量を算出
する第３の処理過程とを備えることを、 特徴とするシミュレーション方法。 - 【請求項１１】 角度変調される波源を持つ電子機器を
解析対象として、周波数領域の解析処理に従って、該電
子機器の各要素に流れる電流、あるいは、該電子機器の
放射する電磁界強度を算出対象として、該算出対象の物
理量を算出するシミュレーション装置の実現に用いられ
るプログラムが記録されるプログラム記録媒体であっ
て、 上記波源の持つ周波数スペクトラムの中から処理対象周
波数スペクトラムを選択し、その中から１つのサンプル
周波数を設定する設定処理と、 上記サンプル周波数を解析周波数として周波数領域の解
析処理を実行することで、該解析周波数での算出対象の
物理量を算出する算出処理と、 上記算出処理の算出する物理量と、上記サンプル周波数
の波源値と、上記サンプル周波数を除く上記処理対象周
波数スペクトラムの波源値とから、上記処理対象周波数
スペクトラムの周波数領域における上記サンプル周波数
以外の各解析周波数での算出対象の物理量を算出する計
算処理とをコンピュータに実行させるプログラムが記録
されることを、 特徴とするプログラム記録媒体。 - 【請求項１２】 角度変調される波源を持つ電子機器を
解析対象として、周波数領域の解析処理に従って、該電
子機器の各要素に流れる電流、あるいは、該電子機器の
放射する電磁界強度を算出対象として、該算出対象の物
理量を算出するシミュレーション装置の実現に用いられ
るプログラムが記録されるプログラム記録媒体であっ
て、 上記波源の持つ周波数スペクトラムの中から処理対象周
波数スペクトラムを選択し、その中から複数のサンプル
周波数を設定する設定処理と、 上記サンプル周波数毎に、それぞれを解析周波数として
周波数領域の解析処理を実行することで、該解析周波数
での算出対象の物理量を算出する算出処理と、 上記算出処理の算出する物理量と、上記サンプル周波数
の波源値と、上記サンプル周波数に挟まれる上記処理対
象周波数スペクトラムの波源値とから、上記処理対象周
波数スペクトラムの周波数領域における上記サンプル周
波数以外の各解析周波数での算出対象の物理量を算出す
る計算処理とをコンピュータに実行させるプログラムが
記録されることを、 特徴とするプログラム記録媒体。
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