JP2003296395A - 相互インミッタンス計算プログラム、相互インミッタンス計算装置、相互インミッタンス計算方法および電磁界強度計算プログラム - Google Patents

相互インミッタンス計算プログラム、相互インミッタンス計算装置、相互インミッタンス計算方法および電磁界強度計算プログラム

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JP2003296395A
JP2003296395A JP2002098862A JP2002098862A JP2003296395A JP 2003296395 A JP2003296395 A JP 2003296395A JP 2002098862 A JP2002098862 A JP 2002098862A JP 2002098862 A JP2002098862 A JP 2002098862A JP 2003296395 A JP2003296395 A JP 2003296395A
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mutual immittance
calculation
immittance
mutual
patches
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Kenji Nagase
健二 長瀬
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 計算量を削減して高速に計算すること。 【解決手段】 電磁界強度の解析対象となる電気回路装
置のモデルであって複数のパッチに分割されたモデルの
データを入力する入力部１０１と、本体部分に対応する
パッチ間の組み合わせについて相互インミッタンスを計
算するとともに、追加部分に対応するパッチ間の組み合
わせについて相互インミッタンスを計算する相互インミ
ッタンス計算部１０４とを備え、相互インミッタンス計
算部１０４は、本体部分に対応する相互インミッタンス
の計算結果を記憶部１０７に保存した後、追加部分のみ
を変更したモデルに関する２回目以降の計算について、
保存された計算結果を利用し、変更した追加部分に対応
する相互インミッタンスを再計算する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、モーメント法に基
づいて電気回路装置における相互インミッタンスや電磁
界強度の計算に用いられる相互インミッタンスを計算す
る相互インミッタンス計算プログラム、相互インミッタ
ンス計算装置、相互インミッタンス計算方法および電磁
界強度計算プログラムに関するものであり、特に、計算
量を削減して高速に計算できるようにした相互インミッ
タンス計算プログラム、相互インミッタンス計算装置、
相互インミッタンス計算方法および電磁界強度計算プロ
グラムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、電気回路装置から不要放射さ
れる電波は、テレビやラジオ等の他の電波と干渉するこ
とから、各国で厳しく規制されている。このような電波
の規制を満足させるためには、シールド技術やフィルタ
技術等のような種々の対策技術を使う必要があり、これ
らの対策技術がどの程度電波を減少させるかを定量的に
シミュレートする技術が必要となる。
【０００３】このような電磁波解析のシミュレーション
には、膨大な計算機の処理時間が必要になるので、高速
に電気回路装置の放射する電磁界強度を計算する装置が
要求される。
【０００４】ここで、任意形状の物体から放射される電
磁界強度は、物体各部に流れる電流がわかれば、公知の
理論式を用いて容易に計算することができる。理論的に
は、マックスウェルの電磁波動方程式を与えられた境界
条件の下で解くと、電流の値が得られる。しかしなが
ら、現時点において、任意形状物体を対象とした複雑な
境界条件の下での直接的な数式解は知られていない。
【０００５】したがって、かかる電磁界強度計算装置で
用いられている電流を求める解法は、難易の程度はある
にせよ、すべて近似的なものである。現在、この近似的
な解法の代表的なものとして、モーメント法が知られて
いる。
【０００６】このモーメント法は、マックスウェルの電
磁波動方程式から導かれる積分方程式の解法の１つであ
り、３次元の任意形状物体を扱うことができる。具体的
には、物体を小さな要素に分割して電流の計算を行うも
のである。
【０００７】このように、モーメント法が３次元の任意
形状物体を扱えることから、電磁界強度計算装置では、
モーメント法を使って、電気回路装置の放射する電磁界
強度を計算するという構成が有力である。
【０００８】このモーメント法を用いる方式では、金属
対象物を扱うときには、金属部分を解析対象としてメッ
シュ化し、分割した金属間の相互インミッタンスＺi,j
を求め、この相互インミッタンスＺi,j と、波源Ｖi
と、分割した金属に流れる電流Ｉi との間に成立するモ
ーメント法の連立方程式〔Ｚi,j〕〔Ｉi 〕＝〔Ｖi 〕
を解いて電流Ｉi を求め、この結果から放射される電磁
界強度を計算するという方法を採る。ここで、
「〔 〕」はマトリクスを表している。
【０００９】なお、モーメント法についての参考文献と
しては、以下のものがある。 〔参考文献１〕H.N.Wang、 J.H.Richmond and M.C.Gilr
eath ：“Sinusoidal reaction formulation for radia
tion and scattering from conducting surface”IEEE
TRANSACTIONS ON ANTENNAS AND PROPAGATION vol.AP-2
3、1975
【００１０】ここで、実機（電気回路装置）を対象とし
て電磁波解析を行う場合には、通常、解析モデルの一部
を変更しながら類似モデルを繰り返し解析している。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前述したよ
うに、従来の電磁界強度計算装置においては、たとえ、
軽微な解析モデルの変更であっても、全要素の組み合わ
せについて相互インミッタンスを計算しているため、膨
大な計算量が必要となる。この相互インミッタンスの計
算は、電磁波解析に要する時間の半分近くを占める。
【００１２】従って、実機を対象として電磁波解析を行
った場合には、解析モデルの一部を変更した回数分だけ
計算量が膨大となり、数時間から数十時間もの時間がか
かるという問題があった。
【００１３】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
計算量を削減して高速に計算することができる相互イン
ミッタンス計算プログラム、相互インミッタンス計算装
置、相互インミッタンス計算方法および電磁界強度計算
プログラムを提供することを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、コンピュータを、電磁界強度の解析対象
となる電気回路装置のモデルであって複数のパッチに分
割されたモデルのデータを入力する入力手段、前記複数
のパッチにおいて本体部分と追加部分とを区別する区別
手段、前記本体部分に対応するパッチ間の組み合わせに
ついて相互インミッタンスを計算するとともに、前記追
加部分に対応するパッチ間の組み合わせについて相互イ
ンミッタンスを計算する相互インミッタンス計算手段、
前記本体部分に対応する相互インミッタンスの計算結果
を保存する保存手段、として機能させるための相互イン
ミッタンス計算プログラムであって、前記相互インミッ
タンス計算手段は、前記追加部分のみを変更したモデル
に関する２回目以降の計算について、前記保存手段によ
り保存された計算結果を利用し、変更した追加部分に対
応する相互インミッタンスを再計算することを特徴とす
る相互インミッタンス計算プログラムである。
【００１５】また、本発明は、電磁界強度の解析対象と
なる電気回路装置のモデルであって複数のパッチに分割
されたモデルのデータを入力する入力手段と、前記複数
のパッチにおいて本体部分と追加部分とを区別する区別
手段と、前記本体部分に対応するパッチ間の組み合わせ
について相互インミッタンスを計算するとともに、前記
追加部分に対応するパッチ間の組み合わせについて相互
インミッタンスを計算する相互インミッタンス計算手段
と、前記本体部分に対応する相互インミッタンスの計算
結果を保存する保存手段と、を備え、前記相互インミッ
タンス計算手段は、前記追加部分のみを変更したモデル
に関する２回目以降の計算について、前記保存手段によ
り保存された計算結果を利用し、変更した追加部分に対
応する相互インミッタンスを再計算することを特徴とす
る。
【００１６】また、本発明は、電磁界強度の解析対象と
なる電気回路装置のモデルであって複数のパッチに分割
されたモデルのデータを入力する入力工程と、前記複数
のパッチにおいて本体部分と追加部分とを区別する区別
工程と、前記本体部分に対応するパッチ間の組み合わせ
について相互インミッタンスを計算するとともに、前記
追加部分に対応するパッチ間の組み合わせについて相互
インミッタンスを計算する相互インミッタンス計算工程
と、前記本体部分に対応する相互インミッタンスの計算
結果を保存する保存工程と、を含み、前記相互インミッ
タンス計算工程では、前記追加部分のみを変更したモデ
ルに関する２回目以降の計算について、前記保存工程で
保存された計算結果を利用し、変更した追加部分に対応
する相互インミッタンスを再計算することを特徴とす
る。
【００１７】かかる発明によれば、本体部分に対応する
相互インミッタンスの計算結果を保存しておき、追加部
分のみを変更したモデルに関する２回目以降の計算につ
いて、保存された計算結果を利用し、変更した追加部分
に対応する相互インミッタンスを再計算することとした
ので、計算量を削減して高速に相互インミッタンスを計
算することができる。
【００１８】また、本発明は、コンピュータを、電磁界
強度の解析対象となる電気回路装置のモデルであって複
数のパッチに分割されたモデルのデータを入力する入力
手段、前記複数のパッチにおいて本体部分と追加部分と
を区別する区別手段、前記本体部分に対応するパッチ間
の組み合わせについて相互インミッタンスを計算すると
ともに、前記追加部分に対応するパッチ間の組み合わせ
について相互インミッタンスを計算する相互インミッタ
ンス計算手段、前記本体部分に対応する相互インミッタ
ンスの計算結果を保存する保存手段、前記相互インミッ
タンスの計算結果に基づいて、前記電磁界強度を計算す
る電磁界強度計算手段として機能させるための電磁界強
度計算プログラムであって、前記相互インミッタンス計
算手段は、前記追加部分のみを変更したモデルに関する
２回目以降の計算について、前記保存手段により保存さ
れた計算結果を利用し、変更した追加部分に対応する相
互インミッタンスを再計算することを特徴とする電磁界
強度計算プログラムである。
【００１９】この発明によれば、本体部分に対応する相
互インミッタンスの計算結果を保存しておき、追加部分
のみを変更したモデルに関する２回目以降の計算につい
て、保存された計算結果を利用し、変更した追加部分に
対応する相互インミッタンスを再計算し、相互インミッ
タンスの計算結果に基づいて、電磁界強度を計算するこ
ととしたので、計算量を削減して高速に相互インミッタ
ンス、電磁界強度を計算することができる。
【００２０】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明にか
かる相互インミッタンス計算プログラム、相互インミッ
タンス計算装置、相互インミッタンス計算方法および電
磁界強度計算プログラムの一実施の形態について詳細に
説明する。
【００２１】図１は、本発明にかかる一実施の形態の構
成を示すブロック図である。この図において、電磁界強
度計算装置１００は、前述したモーメント法を用いて、
金属部分を解析対象としてメッシュ化されたモデルにつ
いて、分割された金属間の相互インミッタンスＺ
i,j と、波源Ｖi と、分割した金属に流れる電流Ｉi と
の間に成立するモーメント法の連立方程式〔Ｚi,j〕
〔Ｉi 〕＝〔Ｖi 〕を解いて電流Ｉi を求め、この結果
から放射される電磁界強度を計算する装置である。
【００２２】ここで、一実施の形態の動作原理について
図２〜図５を参照して説明する。図２（ａ）には、メッ
シュ化されたモデル２００が図示されている。このモデ
ル２００では、本体部分２００ａに追加部分２００ｂが
追加されている。また、モデル２００の解析が終了する
と、モデル２００は、図２（ｃ）に示したモデル２０
０’に変更される。このモデル２００’においては、本
体部分２００ａに変更がなく、追加部分２００ｂが追加
部分２００ｂ’に変更されている。
【００２３】なお、一実施の形態では、メッシュ状に分
割された領域（四角形または三角形）をパッチと称し、
パッチを構成する辺をそれぞれエッジと称し、エッジの
端部をポイントと称する。
【００２４】ここで、図２（ａ）に示したモデル２００
の各パッチに対して、同図に示した１〜２４までの番号
を付けたダイポール間の相互インミッタンス行列〔Ｚ
i,j］（図２（ｂ）参照）について考察する。
【００２５】はじめに、上記ダイポールは、図４（ａ）
に示したように２本のモノポールから構成されている。
同図において、例えば、ダイポール１は、モノポール１
とモノポール２から構成されている。１本のモノポール
は、１枚のパッチに対応づけられている。従って、２本
のモノポールからなるダイポールは、隣接する２枚のパ
ッチにまたがるように対応付けられている。
【００２６】また、図４（ａ）において、本体部分（パ
ッチ）に追加部分（パッチ）が追加された場合には、追
加部分に対応するモノポール３および４が追加されると
ともに、ダイポール２および３も追加される。この場
合、ダイポール間の相互インミッタンスを計算する上
で、ダイポール１〜３のそれぞれが、本体要素、追加要
素うちいずれかであるかが問題となる。
【００２７】まず、図４（ａ）に示したダイポール１〜
３のうち、図４（ｂ）に示したダイポール１は、本体部
分に対応するモノポール１および２から構成されている
ため、本体要素である。また、図４（ａ）に示したダイ
ポール１〜３のうち、図４（ｃ）に示したダイポール３
は、追加部分に対応するモノポール３および４から構成
されているため、追加要素である。
【００２８】これらに対して、図４（ｃ）に示したダイ
ポール２は、本体部分に対応するモノポール２と、追加
部分に対応するモノポール３とから構成されているた
め、本体要素、追加要素のうちいずれかであるという区
別を付けることができない。そこで、一実施の形態で
は、ダイポール２は、追加要素として扱う。
【００２９】つぎに、相互インミッタンス行列
［Ｚi,j］は、図２（ｂ）に示したようにｉ行（１〜２
４）×ｊ列（１〜２４）の要素（相互インミッタンスＺ
i,j）からなる行列式であり、図３に示したモーメント
法の連立方程式に用いられる。以下では、ｉおよびｊを
モードと称する。
【００３０】この連立方程式〔Ｚi,j〕〔Ｉi 〕＝〔Ｖi
〕においては、波源Ｖ1 〜Ｖ24が既知として与えら
れ、相互インミッタンスＺ1,1 〜Ｚ24,24 および電流Ｉ
1 〜Ｉ 24 が計算される。
【００３１】例えば、Ｚ1,1 は、図２（ａ）に示したダ
イポール１とダイポール１との相互イミッタンスであ
る。Ｚ1,2 は、図２（ａ）に示したダイポール１とダイ
ポール２との相互インミッタンスである。以下同様にし
て、Ｚ24,24 は、図２（ａ）に示したダイポール２４と
ダイポール２４との相互インミッタンスである。
【００３２】ここで、解析対象のモデルが、図２（ａ）
に示したモデル２００から図２（ｃ）に示したモデル２
００’に変更された場合の相互インミッタンス行列［Ｚ
i,j］について考察する。モデル２００’においては、
本体部分２００ａに変更がなく、追加部分２００ｂ’が
変更されている。
【００３３】図２（ｃ）に示した相互インミッタンス行
列［Ｚi,j］において、Ｚ1,1 〜Ｚ1 7,17 は、図２
（ａ）および図２（ｃ）に示した本体部分２００ａにお
けるダイポール１〜１７の組み合わせに対応している。
図５は、相互インミッタンス行列［Ｚi,j］の配列（モ
ードｉ（１〜ｍ）、モードｊ（１〜ｍ））を模式的に表
している。
【００３４】従って、図５に示したＸ領域は、図２
（ｂ）に示したＺ1,1 〜Ｚ17,17 に対応しており、モデ
ル変更の前後においても変化しない。
【００３５】これに対して、図２（ｂ）に示したＹ領域
（図５参照）は、図２（ａ）および図２（ｃ）に示した
本体部分２００ａにおけるダイポール１〜１７と、追加
部分２００ｂ（または追加部分２００ｂ’）におけるダ
イポール１８〜２４の組み合わせに対応しており、モデ
ル変更の前後において変化する。
【００３６】また、図２（ｂ）に示したＺ領域（図５参
照）は、図２（ａ）および図２（ｃ）に示した追加部分
２００ｂ（または追加部分２００ｂ’）におけるダイポ
ール１８〜２４の組み合わせに対応しており、モデル変
更の前後において変化する。
【００３７】このように、相互インミッタンス行列［Ｚ
i,j］においては、モデル変更の前後で、Ｘ領域が変化
せず、Ｙ領域およびＺ領域が変化する。一実施の形態で
は、この点に着目しており、変化しないＸ領域の相互イ
ンミッタンスの計算結果を保存しておき、モデル変更の
度に、上記計算結果を読み出し、変化するＹ領域および
Ｚ領域の相互インミッタンスのみを再計算することで、
全体の計算量を減らしている。
【００３８】図１に戻り、入力部１０１は、例えば、図
９（ａ）に示したメッシュ化されたモデル２１０や、図
１０（ａ）に示したメッシュ化されたモデル２１０’に
関するモデルデータを入力する。ここで、図９（ａ）お
よび図１０（ａ）に示したモデル２１０、２１０’は、
ノート型パーソナルコンピュータの形状に対応してお
り、メッシュ状に分割されている。
【００３９】また、図１に示したモード設定部１０２
は、図５に示したように、相互インミッタンス行列［Ｚ
i,j］をＸ領域、Ｙ領域およびＺ領域に分離するため
に、上述したモードを設定する機能を備えている。この
モード設定のアルゴリズムについては、後述する。周波
数設定部１０３は、相互インミッタンスを計算する際の
所定の周波数を設定する機能を備えている。
【００４０】相互インミッタンス計算部１０４は、相互
インミッタンス行列［Ｚi,j］における各相互インミッ
タンスＺi,j を計算する機能を備えている。電流計算部
１０５は、図３に示した連立方程式〔Ｚi,j〕〔Ｉi 〕
＝〔Ｖi 〕を解いて、電流Ｉiを計算する機能を備えて
いる。
【００４１】電磁界強度計算部１０６は、電流Ｉi に基
づいて、放射される電磁界強度を計算する機能を備えて
いる。記憶部１０７は、上述したＸ領域（図５参照）に
対応する相互インミッタンスＺi,j の計算結果等を記憶
する。出力部１０８は、電磁界強度の計算結果を出力す
る機能を備えている。
【００４２】つぎに、一実施の形態の動作について、図
６〜図８に示したフローチャート、図９〜図１３を参照
しつつ説明する。以下では、初回で、図９（ａ）に示し
たモデル２１０を解析対象として電磁界強度の計算を行
った後、２回目以降で図１０（ａ）に示したモデル２１
０’を解析対象として電磁界強度の計算を行う例につい
て説明する。
【００４３】図９（ａ）に示したモデル２１０では、本
体部分２１０ａに追加部分２１０ｂが追加されている。
また、モデル２１０の解析が終了すると、モデル２１０
は、図１０（ａ）に示したモデル２１０’に変更され
る。このモデル２１０’においては、本体部分２１０ａ
に変更がなく、追加部分２１０ｂが追加部分２１０ｂ’
に変更されている。
【００４４】図６に示したステップＳＡ１では、初回計
算処理が実行される。具体的には、図７に示したステッ
プＳＢ１では、入力部１０１は、図９（ａ）に示したモ
デル２１０（本体部分２１０ａ、追加部分２１０ｂ）を
表すモデルデータを入力する。
【００４５】ステップＳＢ２では、モード設定部１０２
は、モデル２１０についてエッジ表を作成する。このエ
ッジ表は、例えば、図１１（ｂ）に示したように、モデ
ルを構成するエッジ、ポイント、パッチの対応関係を表
す。
【００４６】以下では、説明を簡単にするために、図１
１（ａ）に示した４枚のパッチ（田型）からなるモデル
に対応するエッジ表を作成する場合について説明する。
図１１（ａ）において、ｐ１〜ｐ９は、各パッチの隅で
ある各ポイントに対応するポイント番号を表す。ｑ１〜
ｑ４は、各パッチに対応するパッチ番号を表す。ｅ１〜
ｅ１２は、ポイント間を結ぶエッジ（辺）に対応するエ
ッジ番号を表す。
【００４７】また、上記モデルにおいては、パッチ番号
ｑ１およびｑ３に対応するパッチが本体部分であり、パ
ッチ番号ｑ２およびｑ４に対応するパッチが追加部分で
ある。
【００４８】モード設定部１０２は、上記モデルにおい
て、最も若いエッジ番号（この場合、ｅ１）を図１１
（ｂ）に示したエッジ表の「エッジ番号」に登録する。
但し、エッジ表においては、「エッジ番号」、「ポイン
ト番号１」、「ポイント番号２」、「パッチ番号１」お
よび「パッチ番号２」のそれぞれに番号のみが登録され
る（ｅ、ｐ、ｑは省略）。
【００４９】つぎに、モード設定部１０２は、「エッジ
番号」に登録されたエッジ番号（この場合、ｅ１）に対
応するエッジの両端のポイント番号（この場合、ｐ２、
ｐ１）を「ポイント番号１」および「ポイント番号２」
に登録する。つぎに、モード設定部１０２は、「エッジ
番号」に登録されたエッジ番号（この場合、ｅ１）に対
応するエッジ（２枚存在する場合は若いパッチ番号のほ
う）を含むパッチのパッチ番号（この場合、ｑ１）を
「パッチ番号１」に登録する。
【００５０】また、上記エッジを挟むように、パッチが
２枚存在する場合には、「パッチ番号１」に登録されて
ないパッチ番号を「パッチ番号２」に登録する。一方、
当該エッジを含むパッチが１枚しか存在しない場合、
「パッチ番号２」には、０が登録される。
【００５１】そして、上述した「エッジ番号」、「ポイ
ント番号１」、「ポイント番号２」、「パッチ番号１」
および「パッチ番号２」への登録が終了すると、つぎの
エッジ番号（この場合、ｅ２）から最終のエッジ番号
（この場合、ｅ１２）まで順次登録が実行され、エッジ
表が作成される。
【００５２】図７に示したステップＳＢ３では、モード
設定部１０２は、ステップＳＢ２で作成されたエッジ表
のエッジ番号が若い順に、「パッチ番号１」および「パ
ッチ番号２」の双方に０以外のパッチ番号が登録されて
いるか否かをチェックし、登録されている場合、本体部
分のモードを設定する。このモードは、図５に示したモ
ードｉ（本体部分）およびモードｊ（本体部分）に対応
している。
【００５３】但し、「パッチ番号１」および「パッチ番
号２」に登録された２つのパッチ番号（０以外）のう
ち、少なくとも一方のパッチ番号が、追加部分のパッチ
を表している場合には、モード設定部１０２は、モード
を設定しない。
【００５４】具体的には、図１１（ｂ）に示したエッジ
表の例では、「エッジ番号」＝３の場合、「パッチ番号
１」＝１、「パッチ番号２」＝２の双方にパッチ番号が
登録されているが、「パッチ番号」＝２に対応するパッ
チが追加部分であるため、モード（本体部分）が設定さ
れない。
【００５５】これに対して、「エッジ番号」＝４の場
合、「パッチ番号１」＝１、「パッチ番号２」＝３の双
方にパッチ番号が登録されており、しかも両パッチ番号
に対応する両パッチ（ｐ１、ｐ３）が共に追加部分でな
いため、モードとしてｍ１（図１２参照）が設定され
る。
【００５６】このｍ１は、図５に示したモードｉ（＝
１）、モードｊ（＝１）に対応している。以後、本体部
分のモードが順次設定される。ここで、本体部分で最後
に設定されたモードは、図５に示したモードｉ（＝ｍ
０）、モードｊ（＝ｍ０）に対応している。
【００５７】図７に示したステップＳＢ４では、モード
設定部１０２は、追加部分のモードを設定する。具体的
には、モード設定部１０２は、図１１（ｂ）に示したエ
ッジ表で「パッチ番号１」および「パッチ番号２」の双
方に０以外のパッチ番号が登録されており、かつ本体部
分のモードが設定されなかったものについて、エッジ番
号が若い順に、追加部分のモードを順次設定する。
【００５８】図１１（ｂ）に示したエッジ表の例では、
「エッジ番号」＝３の場合、「パッチ番号１」＝１、
「パッチ番号２」＝２の双方にパッチ番号が登録されて
おり、かつ本体部分のモードが設定されていないため、
モード（追加部分）としてｍ２（図１２参照）が設定さ
れる。
【００５９】このｍ２は、図５に示したモードｉ（＝ｍ
０＋１）、モードｊ（＝ｍ０＋１）に対応している。以
後、追加部分のモードが順次設定される。ここで、追加
部分で最後に設定されたモードは、図５に示したモード
ｉ（＝ｍ）、モードｊ（＝ｍ）に対応している。
【００６０】ここで、図９（ａ）に示したモデル２１０
の場合、ステップＳＢ３では、図９（ｂ）に示した本体
部分のモードｉおよびｊが１〜８５に設定される。モー
ドｉおよびｊ（１〜８５）は、図９（ａ）に示した本体
部分２１０ａの各ダイポール（図示略）に対応してい
る。
【００６１】また、モデル２１０の場合、ステップＳＢ
４では、図９（ｂ）に示した追加部分のモードｉおよび
ｊが８６〜９２に設定される。モードｉおよびｊ（８６
〜９２）は、図９（ａ）に示した追加部分２１０ｂの各
ダイポール８６〜９２に対応している。
【００６２】図７に示したステップＳＢ５では、周波数
設定部１０３は、所定の周波数を設定する。ステップＳ
Ｂ６では、相互インミッタンス計算部１０４は、図９
（ｂ）に示した相互インミッタンス行列［Ｚi,j］（ｉ
＝１〜９２、ｊ＝１〜９２）の各相互インミッタンスＺ
i、j （Ｘ領域（本体部分）、Ｙ領域およびＺ領域（追加
部分））をそれぞれ計算する。ここで、相互インミッタ
ンス行列［Ｚi,j］において、Ｘ領域、Ｙ領域およびＺ
領域は、図５に示したＸ領域、Ｙ領域およびＺ領域に対
応している。
【００６３】ステップＳＢ７では、相互インミッタンス
計算部１０４は、本体部分（Ｘ領域）の相互インミッタ
ンスＺi、j の計算結果を記憶部１０７に保存する。ステ
ップＳＢ８では、電流計算部１０５は、モーメント法の
連立方程式〔Ｚi,j〕〔Ｉi〕＝〔Ｖi 〕（図３参照）を
解いて電流Ｉi を計算する。ステップＳＢ９では、電磁
界強度計算部１０６は、上記計算結果から、モデル２１
０で放射される電磁界強度を計算する。ステップＳＢ１
０では、出力部１０８は、計算結果を出力する。
【００６４】図６に示したステップＳＡ２では、２回目
以降計算処理が実行される。具体的には、図８に示した
ステップＳＣ１では、入力部１０１は、図１０（ａ）に
示したモデル２１０’（本体部分２１０ａ、追加部分２
１０ｂ’）を表すモデルデータを入力する。
【００６５】このモデル２１０’においては、図９
（ａ）に示した追加部分２１０ｂが追加部分２１０ｂ’
に変更されており、本体部分２１０ａが変更されていな
い。
【００６６】ステップＳＣ２では、モード設定部１０２
は、ステップＳＢ２（図７参照）と同様にして、モデル
２１０’についてエッジ表を作成する。
【００６７】ステップＳＣ３では、モード設定部１０２
は、ステップＳＢ３（図７参照）と同様にして、図１０
（ｂ）に示した本体部分のモードｉおよびｊが１〜８５
に設定される。モードｉおよびｊ（１〜８５）は、図１
０（ａ）に示した本体部分２１０ａの各ダイポール（図
示略）に対応している。
【００６８】ステップＳＣ４では、モード設定部１０２
は、ステップＳＢ４（図７参照）と同様にして、図１０
（ｂ）に示した追加部分のモードｉおよびｊが８６〜９
５に設定される。モードｉおよびｊ（８６〜９５）は、
図１０（ａ）に示した追加部分２１０ｂ’の各ダイポー
ル８６〜９５に対応している。
【００６９】ステップＳＣ５では、周波数設定部１０３
は、所定の周波数を設定する。ステップＳＣ６では、相
互インミッタンス計算部１０４は、記憶部１０７から、
ステップＳＢ７で保存された本体部分（Ｘ領域）の相互
インミッタンスＺi、j の計算結果を記憶部１０７から読
み込む。
【００７０】ステップＳＣ７では、相互インミッタンス
計算部１０４は、図１０（ｂ）に示した各相互インミッ
タンスＺi、j （Ｙ領域およびＺ領域（追加部分））をそ
れぞれ計算する。また、図１０（ｂ）に示した本体部分
に対応する相互インミッタンス行列［Ｚi,j］（Ｘ領
域）としては、ステップＳＣ６で読み込まれた計算結果
が用いられる。
【００７１】ステップＳＣ８では、電流計算部１０５
は、モーメント法の連立方程式〔Ｚi, j〕〔Ｉi 〕＝
〔Ｖi 〕（図３参照）を解いて電流Ｉi を計算する。ス
テップＳＣ９では、電磁界強度計算部１０６は、上記計
算結果から、モデル２１０’で放射される電磁界強度を
計算する。ステップＳＣ１０では、出力部１０８は、計
算結果を出力する。
【００７２】図６に示したステップＳＡ３では、モデル
の追加部分の変更が最終回であるか否かが判断され、こ
の判断結果が「Ｎｏ」である場合、すなわち、モデルの
追加部分がさらに変更された場合、ステップＳＡ２が実
行される。そして、ステップＳＡ３の判断結果が「Ｙｅ
ｓ」である場合、一連の処理が終了する。
【００７３】以上説明したように、一実施の形態によれ
ば、ステップＳＢ７（図７参照）で本体部分に対応する
相互インミッタンスの計算結果を記憶部１０７に保存し
ておき、図８に示したように、追加部分のみを変更した
モデルに関する２回目以降の計算について、ステップＳ
Ｃ６で、保存された計算結果を利用し、変更した追加部
分に対応する相互インミッタンスを再計算することとし
たので、計算量を削減して高速に相互インミッタンス、
電磁界強度を計算することができる。
【００７４】また、一実施の形態よれば、図４（ｃ）を
参照して説明したように、本体部分と追加部分との境界
部分において、本体部分のモノポール（パッチ）と追加
部分のモノポール（パッチ）との間の組み合わせを追加
部分に対応するパッチ間の組み合わせとすることとした
ので、計算量を削減しつつ追加部分の相互インミッタン
スを正確に計算することができる。
【００７５】また、一実施の形態によれば、図４（ａ）
〜図４（ｃ）を参照して説明したように、隣接する２つ
のパッチをまたがって存在するダイポールを対象として
計算されることとしたので、本体部分のパッチと追加部
分のパッチとの間の組み合わせについての相互インミッ
タンスを追加部分として正確に計算することができる。
【００７６】ここで、図１３（ａ）に示した相互インミ
ッタンス行列［Ｚi、j］ において、本体部分のモードｉ
およびモードｊの数をＡとし、追加部分のモードｉおよ
びモードｊの数をＢとした場合、初回の計算時における
要素の組み合わせは、（Ａ＊（Ａ＋１）／２＋Ａ＊Ｂ＋
Ｂ＊（Ｂ＋１）／２）である。一方、２回目以降の要素
の組み合わせは、（Ａ＊Ｂ＋Ｂ＊（Ｂ＋１）／２）であ
る。
【００７７】図１３（ｂ）には、ＡＢ比（ＡとＢとの
比）と、組み合わせ数比（初回の組み合わせと２回目以
降の組み合わせとの比）とが図示されている。この図か
らわかるように、ＡＢ比が大きいほど、組み合わせ数比
が小さくなるため、計算量が減り、高速化の効果が大き
くなる。
【００７８】以上本発明にかかる一実施の形態について
図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成例はこの
一実施の形態に限られるものではなく、本発明の要旨を
逸脱しない範囲の設計変更等があっても本発明に含まれ
る。
【００７９】例えば、前述した一実施の形態において
は、電磁界強度計算装置１００の機能を実現するための
プログラムを図１４に示したコンピュータ読み取り可能
な記録媒体４００に記録して、この記録媒体４００に記
録されたプログラムを同図に示したコンピュータ３００
に読み込ませ、実行することにより各機能を実現しても
よい。
【００８０】同図に示したコンピュータ３００は、上記
プログラムを実行するＣＰＵ（Central Processing Uni
t）３１０と、キーボード、マウス等の入力装置３２０
と、各種データを記憶するＲＯＭ（Read Only Memory）
３３０と、演算パラメータ等を記憶するＲＡＭ（Random
Access Memory）３４０と、記録媒体４００からプログ
ラムを読み取る読取装置３５０と、ディスプレイ、プリ
ンタ等の出力装置３６０と、装置各部を接続するバス３
７０とから構成されている。
【００８１】ＣＰＵ３１０は、読取装置３５０を経由し
て記録媒体４００に記録されているプログラムを読み込
んだ後、プログラムを実行することにより、前述した機
能を実現する。なお、記録媒体４００としては、光ディ
スク、フレキシブルディスク、ハードディスク等が挙げ
られる。
【００８２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
本体部分に対応する相互インミッタンスの計算結果を保
存しておき、追加部分のみを変更したモデルに関する２
回目以降の計算について、保存された計算結果を利用
し、変更した追加部分に対応する相互インミッタンスを
再計算することとしたので、計算量を削減して高速に相
互インミッタンスを計算することができるという効果を
奏する。
【００８３】また、本発明によれば、本体部分と追加部
分との境界部分において、本体部分のパッチと追加部分
のパッチとの間の組み合わせを追加部分に対応するパッ
チ間の組み合わせとすることとしたので、計算量を削減
しつつ追加部分の相互インミッタンスを正確に計算する
ことができるという効果を奏する。
【００８４】また、本発明によれば、隣接する２つのパ
ッチをまたがって存在するダイポールを対象として計算
されることとしたので、本体部分のパッチと追加部分の
パッチとの間の組み合わせについての相互インミッタン
スを追加部分として正確に計算することができるという
効果を奏する。
【００８５】また、本発明によれば、本体部分に対応す
る相互インミッタンスの計算結果を保存しておき、追加
部分のみを変更したモデルに関する２回目以降の計算に
ついて、保存された計算結果を利用し、変更した追加部
分に対応する相互インミッタンスを再計算し、相互イン
ミッタンスの計算結果に基づいて、電磁界強度を計算す
ることとしたので、計算量を削減して高速に相互インミ
ッタンス、電磁界強度を計算することができるという効
果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明にかかる一実施の形態の構成を示すブロ
ック図である。
【図２】同一実施の形態における動作原理を説明する図
である。
【図３】モーメント法における連立方程式を示す図であ
る。
【図４】同一実施の形態における動作原理を説明する図
である。
【図５】同一実施の形態における動作原理を説明する図
である。
【図６】同一実施の形態の動作を説明するフローチャー
トである。
【図７】図６に示した初回計算処理を説明するフローチ
ャートである。
【図８】図６に示した２回目以降計算処理を説明するフ
ローチャートである。
【図９】図７に示した初回計算処理を説明する図であ
る。
【図１０】図８に示した２回目以降計算処理を説明する
図である。
【図１１】同一実施の形態におけるモード設定を説明す
る図である。
【図１２】同一実施の形態におけるモード設定を説明す
る図である。
【図１３】同一実施の形態の効果を説明する図である。
【図１４】同一実施の形態の変形例の構成を示すブロッ
ク図である。
【符号の説明】
１００ 電磁界強度計算装置 １０１ 入力部 １０２ モード設定部 １０３ 周波数設定部 １０４ 相互インミッタンス計算部 １０５ 電流計算部 １０６ 電磁界強度計算部 １０７ 記憶部 １０８ 出力部

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 コンピュータを、 電磁界強度の解析対象となる電気回路装置のモデルであ
    って複数のパッチに分割されたモデルのデータを入力す
    る入力手段、 前記複数のパッチにおいて本体部分と追加部分とを区別
    する区別手段、 前記本体部分に対応するパッチ間の組み合わせについて
    相互インミッタンスを計算するとともに、前記追加部分
    に対応するパッチ間の組み合わせについて相互インミッ
    タンスを計算する相互インミッタンス計算手段、 前記本体部分に対応する相互インミッタンスの計算結果
    を保存する保存手段、 として機能させるための相互インミッタンス計算プログ
    ラムであって、 前記相互インミッタンス計算手段は、前記追加部分のみ
    を変更したモデルに関する２回目以降の計算について、
    前記保存手段により保存された計算結果を利用し、変更
    した追加部分に対応する相互インミッタンスを再計算す
    ることを特徴とする相互インミッタンス計算プログラ
    ム。
  2. 【請求項２】 前記相互インミッタンス計算手段は、前
    記本体部分と前記追加部分との境界部分において、前記
    本体部分のパッチと前記追加部分のパッチとの間の組み
    合わせを前記追加部分に対応するパッチ間の組み合わせ
    とすることを特徴とする請求項１に記載の相互インミッ
    タンス計算プログラム。
  3. 【請求項３】 前記相互インミッタンスは、隣接する２
    つのパッチをまたがって存在するダイポールを対象とし
    て計算されることを特徴とする請求項１または２に記載
    の相互インミッタンス計算プログラム。
  4. 【請求項４】 電磁界強度の解析対象となる電気回路装
    置のモデルであって複数のパッチに分割されたモデルの
    データを入力する入力手段と、 前記複数のパッチにおいて本体部分と追加部分とを区別
    する区別手段と、 前記本体部分に対応するパッチ間の組み合わせについて
    相互インミッタンスを計算するとともに、前記追加部分
    に対応するパッチ間の組み合わせについて相互インミッ
    タンスを計算する相互インミッタンス計算手段と、 前記本体部分に対応する相互インミッタンスの計算結果
    を保存する保存手段と、を備え、 前記相互インミッタンス計算手段は、前記追加部分のみ
    を変更したモデルに関する２回目以降の計算について、
    前記保存手段により保存された計算結果を利用し、変更
    した追加部分に対応する相互インミッタンスを再計算す
    ることを特徴とする相互インミッタンス計算装置。
  5. 【請求項５】 電磁界強度の解析対象となる電気回路装
    置のモデルであって複数のパッチに分割されたモデルの
    データを入力する入力工程と、 前記複数のパッチにおいて本体部分と追加部分とを区別
    する区別工程と、 前記本体部分に対応するパッチ間の組み合わせについて
    相互インミッタンスを計算するとともに、前記追加部分
    に対応するパッチ間の組み合わせについて相互インミッ
    タンスを計算する相互インミッタンス計算工程と、 前記本体部分に対応する相互インミッタンスの計算結果
    を保存する保存工程と、を含み、 前記相互インミッタンス計算工程では、前記追加部分の
    みを変更したモデルに関する２回目以降の計算につい
    て、前記保存工程で保存された計算結果を利用し、変更
    した追加部分に対応する相互インミッタンスを再計算す
    ることを特徴とする相互インミッタンス計算方法。
  6. 【請求項６】 コンピュータを、 電磁界強度の解析対象となる電気回路装置のモデルであ
    って複数のパッチに分割されたモデルのデータを入力す
    る入力手段、 前記複数のパッチにおいて本体部分と追加部分とを区別
    する区別手段、 前記本体部分に対応するパッチ間の組み合わせについて
    相互インミッタンスを計算するとともに、前記追加部分
    に対応するパッチ間の組み合わせについて相互インミッ
    タンスを計算する相互インミッタンス計算手段、 前記本体部分に対応する相互インミッタンスの計算結果
    を保存する保存手段、 前記相互インミッタンスの計算結果に基づいて、前記電
    磁界強度を計算する電磁界強度計算手段、 として機能させるための電磁界強度計算プログラムであ
    って、 前記相互インミッタンス計算手段は、前記追加部分のみ
    を変更したモデルに関する２回目以降の計算について、
    前記保存手段により保存された計算結果を利用し、変更
    した追加部分に対応する相互インミッタンスを再計算す
    ることを特徴とする電磁界強度計算プログラム。
  7. 【請求項７】 前記相互インミッタンス計算手段は、前
    記本体部分と前記追加部分との境界部分において、前記
    本体部分のパッチと前記追加部分のパッチとの間の組み
    合わせを前記追加部分に対応するパッチ間の組み合わせ
    とすることを特徴とする請求項６に記載の電磁界強度計
    算プログラム。
  8. 【請求項８】 前記相互インミッタンスは、隣接する２
    つのパッチをまたがって存在するダイポールを対象とし
    て計算されることを特徴とする請求項６または７に記載
    の電磁界強度計算プログラム。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007099640A1 (ja) * 2006-03-03 2007-09-07 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha 電磁界分布計算方法、電磁界分布計算装置、および電磁界分布計算プログラム
JP2008112268A (ja) * 2006-10-30 2008-05-15 Fujitsu Ltd タイミング検証方法、タイミング検証装置及びタイミング検証プログラム
JP2009266219A (ja) * 2008-04-03 2009-11-12 Panasonic Corp 回路基板の解析装置および解析方法
WO2013051131A1 (ja) 2011-10-06 2013-04-11 富士通株式会社 データ処理方法、分散処理システムおよびプログラム

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5313398A (en) * 1992-07-23 1994-05-17 Carnegie Mellon University Method and apparatus for simulating a microelectronic circuit
JP3091815B2 (ja) * 1994-02-25 2000-09-25 富士通株式会社 電磁界強度算出装置
DE19616772A1 (de) * 1995-04-28 1996-10-31 Fujitsu Ltd Berechnungsgerät für eine elektromagnetische Feldintensität
JP3363657B2 (ja) 1995-04-28 2003-01-08 富士通株式会社 電磁界強度算出装置
JP3428232B2 (ja) * 1995-06-16 2003-07-22 富士通株式会社 電磁界強度算出装置
JPH09245076A (ja) 1996-03-12 1997-09-19 Mitsubishi Electric Corp 配線板設計装置
JP3825133B2 (ja) * 1997-04-30 2006-09-20 富士通株式会社 電磁界強度算出装置及び方法並びにプログラム記録媒体
EP0884690A3 (de) 1997-06-11 2002-07-24 Infineon Technologies AG Rechnergestütztes Simulationsverfahren zur Bestimmung eines elektromagnetischen Feldes eines Körpers
US5966524A (en) * 1997-07-24 1999-10-12 Lucent Technologies Inc. 3-D electromagnetic infinite element
JP3405905B2 (ja) * 1997-08-12 2003-05-12 富士通株式会社 電磁界強度算出装置及び方法並びにプログラム記憶媒体
JP3363808B2 (ja) * 1998-11-24 2003-01-08 富士通株式会社 シミュレーション装置及び方法並びにプログラム記録媒体
JP2000214191A (ja) * 1999-01-27 2000-08-04 Fujitsu Ltd シミュレ―ション装置及び方法並びにプログラム記録媒体
US6289298B1 (en) * 1999-04-01 2001-09-11 Agere Systems Guardian Corp. Method and apparatus for quasi full-wave modeling of interactions in circuits
US6397171B1 (en) * 1999-04-01 2002-05-28 Agere Systems Guardian Corp. Method and apparatus for modeling electromagnetic interactions in electrical circuit metalizations to simulate their electrical characteristics
US6353801B1 (en) * 1999-04-09 2002-03-05 Agilent Technologies, Inc. Multi-resolution adaptive solution refinement technique for a method of moments-based electromagnetic simulator
JP3652168B2 (ja) * 1999-04-28 2005-05-25 富士通株式会社 電磁界強度算出方法及びプログラム記録媒体
JP2001013184A (ja) 1999-06-30 2001-01-19 Fujitsu Ltd 電磁界強度算出装置および記録媒体
JP3980811B2 (ja) 1999-10-20 2007-09-26 富士通株式会社 電磁界強度算出装置、電磁界強度算出方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
US6711511B2 (en) * 2000-07-06 2004-03-23 Fujitsu Limited Electromagnetic wave analyzing apparatus and computer readable storage medium
US6834380B2 (en) * 2000-08-03 2004-12-21 Qualcomm, Incorporated Automated EMC-driven layout and floor planning of electronic devices and systems
US6523154B2 (en) * 2000-12-14 2003-02-18 International Business Machines Corporation Method for supply voltage drop analysis during placement phase of chip design
JP3853602B2 (ja) * 2001-03-27 2006-12-06 富士通株式会社 電磁界強度算出装置への入力データ作成方法および作成装置
US7149666B2 (en) * 2001-05-30 2006-12-12 University Of Washington Methods for modeling interactions between massively coupled multiple vias in multilayered electronic packaging structures
JP4647886B2 (ja) * 2003-03-26 2011-03-09 富士通株式会社 電磁界強度算出装置、電磁界強度算出方法および電磁界強度算出プログラム
US7222033B1 (en) * 2003-08-18 2007-05-22 Steven Lynn Newson Electromagnetic emissions and susceptibility calculating method and apparatus
KR100531218B1 (ko) * 2003-08-27 2006-01-10 한국전자통신연구원 유전체 기판의 양면에 형성된 슬롯을 구비하는 슬롯 안테나

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007099640A1 (ja) * 2006-03-03 2007-09-07 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha 電磁界分布計算方法、電磁界分布計算装置、および電磁界分布計算プログラム
JP2008112268A (ja) * 2006-10-30 2008-05-15 Fujitsu Ltd タイミング検証方法、タイミング検証装置及びタイミング検証プログラム
JP2009266219A (ja) * 2008-04-03 2009-11-12 Panasonic Corp 回路基板の解析装置および解析方法
WO2013051131A1 (ja) 2011-10-06 2013-04-11 富士通株式会社 データ処理方法、分散処理システムおよびプログラム
US9910821B2 (en) 2011-10-06 2018-03-06 Fujitsu Limited Data processing method, distributed processing system, and program

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