JP3345424B2 - プロセス機械において使用されるテスト装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、請求の範囲第１項の前文に記載されるタイ
プのプロセス機械において使用されるテスト装置に関す
る。

位置決めテストは、これまでに、様々な押圧装置によ
って実施されてきた。例えば、切符や磁気カードを磁気
カードリーダに送る装置は、ドイツ国特許第4122916号
に開示されている。所定案内用のローラ及び押圧バネ
が、ここで使用される。フリーサポート接触及び測定ロ
ーラなどの同様なガイドは、ドイツ国特許第4016961号
に使用されている。この特許において、金属ストリップ
の電気シート抵抗を測定する装置及び測定方法が開示さ
れている。

周知の押圧装置は、摩耗したり引き裂かれ易く、テス
ト物体の摩耗や引き裂きを増大させる。ドイツ国特許第
3513635号は、収納装置、テストと貴重な文書の保存、
ロールスリットによる行われるテストの位置決めを記載
する。ここで、再び上述の問題が生じた。ドイツ国特許
第4037333号は、固定及び可動接触部品と空気圧可動接
触ピンとを使用して、能動部品を測定・テスト装置に接
触させるアダプタを記載する。このタイプのテスト物体
の位置決めは、非常に困難であり、2,3のプロセス機械
においてのみ使用されるだけである。

本発明の目的は、所定距離や所定接触方法でテスト装
置を通過するテスト物体を案内するために必要な押圧装
置をやめて前記装置がエレクトロニクステストシステム
に堅実に接続されて容易な操作を確実にするように、テ
スト物体の安全確保の特徴を検出するプロセス装置にお
ける装置を設計することである。

本発明により、テストすべき物体における安全確保の
特徴を検出する装置は、コンパクトな装置として次のも
の、すなわち、様々な着脱自在なセンサを保持するセン
サキャリアと、既存のまたは新規なプロセス機械への装
着用の保持・固定装置と、テストされる物体のタイプや
用途に依存するとともにセンサへの接続素子と評価回路
とを含むボードと、交換自在なカバーと、からなる。多
数の各部品の組み合わせ、本発明による様々なセンサの
交換可能性、１のコンパクトな部品におけるセンサ及び
エレクトロニク評価システムの操作及び用途の多様性
は、本発明の装置のマルチコンパクトセンサの有効性を
証明する。

動作中、テストされる物体は、搬送装置によって所定
位置に所定速度でマルチコンパクトセンサに送られる。
許容しがたい偏りがセンサによって検出されて、通常の
動作プロセスの中断を生じる。本発明の装置とテスト物
体との間の所定接触による移動の方向と向きが平行でな
いテスト物体に作用する力を利用することによって、テ
ストが所定距離で所定の接触方法でセンサによる作用を
受けるように、テスト物体が強制された状態に案内され
る。前記テストは、前記装置において組み立てられたセ
ンサによる作用を受ける。前記装置は、テスト物体に適
用される所定の作業原理に基づき互いに別々にまたは組
み合わせて作動する。センサ信号は、エレクトロニクス
評価システムによって変換され、用途に応じて、プロセ
ス機械の所定機能を始動せしめる機械固有信号へと装置
において供給される。

本発明の特徴を、請求の範囲に加え、発明の説明及び
図面から明らかにする。サブコンビネーションの形式を
とる各特徴は、センサキャリアと前記センサキャリアの
センサの構成との両方を表し、保護が請求される特許性
のある実施例を表す。本発明の実施例を図面に示す。本
発明を、添付図面に示された以下の実施例を参照しなが
ら詳細に説明する。

図１は、マルチコンパクトセンサの断面図である。

図２は、センサカバーを備えた押し込み及びロッキン
グホルダの断面図である。

図３は、押し込みセンサを備えたボード及びセンサキ
ャリアの断面図である。

図４は、埋め込みセンサの断面図である。

図１に示すように、テストすべき物体における安全性
確保の特徴を検出するテスト装置は、マルチコンパクト
センサ20と称され、プロセス機械の一部の開口部９に、
押し込みホルダ３やロッキングホルダ４などの保持装置
によって、案内プレート５に取り付けられているセンサ
キャリア１及びボード２からなる。テスト面８は、テス
ト物体16の搬送方向Ａから所定角度αだけ傾斜してお
り、故に、テスト物体16は、センサ11に向けて所定位置
に強制された状態に案内される。押し込みホルダ３及び
ロッキングホルダ４は、組立の間に角度αが調整装置17
によって変えられるように、窪み部18によって案内プレ
ート５の開口縁部に一致している。角度αは、プロセス
機械の条件とセンサ11の機能とに依存し、５−30゜の範
囲内で変化する。案内プレート５は、テスト物体16の捻
れや押し潰し、折曲、回転が防止されるように、Ｖ溝に
よって面取りが施されている。押し込みホルダ３及びロ
ッキングホルダ４は、好ましくはほぞ方式のロッキング
装置19などのロッキング装置によって、分離ラインB,C
に沿ってセンサキャリア１に接続されている。

センサキャリア１は、テスト面８に向けて閉じている
センサソケット部６と、テスト面８に向けて開いている
センサプラグイン区画部14とを有する。前記センサソケ
ット６及びセンサプラグイン区画部14は、貫通孔、窪
み、溝などによって作製されている。搬送方向Ａから見
えるセンサプラグイン区画部14の後端縁部12は、締結、
折曲、回転、引き裂きによるテスト物体の形状の捻れや
押し潰し、変化を防止するように、面取りがなされてい
る。開いているセンサプラグイン区画部14は、カバー７
（図４参照）によって閉じられる。カバー７は、ガラス
やポリカーボネートなどの、測定結果をゆがめるような
作用をしない材料から作製され、故に、テスト面９は、
摺動面に形成されて、テスト物体16の位置や形状に対す
る不要な変化を防止している。センサソケット部６やセ
ンサプラグイン区画部14は、縦列並行に数列に亘り配列
されたり、タンデム対角状（tandem diagonally）やス
トリップ状に数列に亘り配列され、その長手方向が搬送
方向Ａを横切っている。センサソケット部６やセンサプ
ラグイン区画部14に収容されるセンサ11は、１つまたは
複数のリードスルーダクト13（図２参照）を介してボー
ド２に電気的に接続される。接続は、接触バネを使用し
て分離自在であったり、または半永久的に接続されてい
る。センサソケット部６やセンサプラグイン区画部14
は、電気センサ、磁気センサ、オプトエレクトロニクス
センサを別々に又は互いに組み合わせて収容することを
狙いとしている。湿度や圧力センサなどの用途に関係し
た他のセンサも、対象になる。エレクトロニクス評価シ
ステムを含むボード２は、保護スクリーン15によって包
囲されている。保護スクリーン15は、ネジ及びバネ接続
などの固定手段10を使用して、ボード２やセンサキャリ
ア１のホルダと一致している。

図２に、押し込みホルダ３と割り込み区画ホルダ４と
センサカバー７とを、センサキャリア１の無い状態で示
す。故に、インジェクションモールドによって作製され
たこれらのホルダの交換可能性の容易さが得られ、様々
なホルダを、様々なプロセス機械への多様な装着に対し
て使用することができる。

図３に、マルチコンパクトセンサ20を詳細に示す。こ
のセンサ20は、プリアセンブリ時にセンサ11が固定され
た保護スクリーン15の無いボード２と、センサソケット
部６及びセンサプラグイン区画部14を備えたセンサキャ
リア１とからなり、搬送方向Ａから見えるセンサプラグ
イン区画部14の後端縁部12は、面取りが施されている。

図４にマルチコンパクトセンサ20の一部を示す。この
センサ20は、ボード２からなり、センサ11が、センサキ
ャリア１のみならずセンサソケット部６にも押し込まれ
ている。センサ11は、リードスルーダクト13及び摺動ま
たはバネ接点によってボード２に接続されている。セン
サカバー７用に、センサに作用して測定結果をゆがめな
いようにする材料が使用される。この目的故に、ガラス
やポリカーボネートが特に適している。センサが同一タ
イプのプロセス機械で使用される場合、顧客の需要は、
別のテスト方法用に別のセンサ構成を要求する。つま
り、押し込みホルダ３及び押し潰しホルダ４は、除去さ
れ、下にボード２が配置されているセンサキャリア１が
交換される。

フロントページの続き (56)参考文献 実開 平３−49242（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01D 21/00 B65H 7/00 B65H 43/00

Claims (12)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】テストすべき物体の安全性確保の特徴を検
   出するセンサを備えたプロセス機械におけるテスト装置
   であって、 ボード（２）及び着脱自在センサ（11）を備えてコンパ
   クトな形態に接続されたセンサキャリア（１）を有し、 前記センサ（11）は、押圧手段を使用しないテスト物体
   （16）の強制案内用に搬送方向に上昇するテスト面
   （８）を備えたマルチコンパクトセンサ（20）として、
   プロセス機械の一部の開口部（９）において、テスト物
   体（16）の搬送方向（Ａ）に対して角度（α）でホルダ
   によって配置されていることを特徴とするテスト装置。
2. 【請求項２】テスト面（８）に向けて閉じているセンサ
   ソケット部（６）と、テスト面（８）に向けて開いてい
   るセンサ押し込み区画部（１）とが、センサキャリア
   （１）に配置されていることを特徴とする請求の範囲第
   １項記載のテスト装置。
3. 【請求項３】センサ押し込み区画部（14）の搬送方向
   （Ａ）から見える後端縁部（12）は、面取りが施されて
   いることを特徴とする請求の範囲第２項記載のテスト装
   置。
4. 【請求項４】センサソケット部（６）及びセンサ押し込
   み区画部（14）は、縦列平行に数列に亘り配置された
   り、またはタンデム対角状やストリップ状に数列に亘り
   センサキャリア（１）に配置され、長手方向が搬送方向
   （Ａ）を横切ることを特徴とする請求の範囲第１項及び
   第２項記載のテスト装置。
5. 【請求項５】接続端子を備えたセンサ（11）は、センサ
   押し込み区画部（14）へと押し下げられるように配置さ
   れ、前記端子は、リードスルーダクト（13）の内部に配
   置されて接触バネによってボード（２）と接触すること
   を特徴とする請求の範囲第１項記載のテスト装置。
6. 【請求項６】テストセンサ（11）は、ボード（２）に永
   久に接続され（ハンダ付けされ）、ボード（２）上に、
   センサ（11）は直立してセンサキャリア（１）のセンサ
   ソケット部（６）に押し込まれていることを特徴とする
   請求の範囲第１項記載のテスト装置。
7. 【請求項７】電気センサと磁気センサとオプトエレクト
   ロニクスセンサと湿度センサと圧力センサとの少なくと
   も１つを収容するセンサキャリア（１）のセンサソケッ
   ト部（６）及びセンサ押し込み区画部（14）は、サイズ
   及び形状が異なることを特徴とする請求の範囲第１項乃
   至第６項記載のテスト装置。
8. 【請求項８】ボード（２）は、保護スクリーン（15）に
   よって包囲され、前記保護スクリーンは、固定手段（1
   0）を使用してボード（２）及びセンサキャリア（１）
   のホルダと一致していることを特徴とする請求の範囲第
   １項記載のテスト装置。
9. 【請求項９】センサキャリア（１）の表面によって形成
   されたテスト面（８）は、案内面（５）に対して、５−
   30゜の範囲内の角度（α）で、好ましくは15゜の角度
   （α）で配置されていることを特徴とする請求の範囲第
   １項記載のテスト装置。
10. 【請求項１０】センサキャリア（１）のホルダは、好ま
    しくはほぞ方式のロッキング装置（19）などのロッキン
    グ手段によって分離ライン（B,C）でセンサキャリア
    （１）に接続している押し込みホルダ（３）とロッキン
    グホルダ（４）とからなることを特徴とする請求の範囲
    第１項記載のテスト装置。
11. 【請求項１１】押し込みホルダ（３）及びロッキングホ
    ルダ（４）には、調整装置（17）及び窪み部（18）が設
    けられて、使用されるプロセス機械及びテストされる貨
    幣に応じてテスト面（８）の角度（α）を変更すること
    を特徴とする請求の範囲第１項及び第10項記載のテスト
    装置。
12. 【請求項１２】センサソケット部（６）と、センサ押し
    込み区画部（14）と、センサキャリア（１）と、押し込
    みホルダ（３）及びロッキングホルダ（４）を備えたセ
    ンサキャリア（１）とは、テスト面（８）に向けてカバ
    ーで被覆され、前記カバーは、好ましくはガラスやポリ
    カーボネートなどの測定結果をゆがめるような作用はし
    ない材料にて作製されていることを特徴とする請求の範
    囲第１項乃至第11項記載のテスト装置。