TWI567379B - Small element detection device - Google Patents

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TWI567379B
TWI567379B TW104100126A TW104100126A TWI567379B TW I567379 B TWI567379 B TW I567379B TW 104100126 A TW104100126 A TW 104100126A TW 104100126 A TW104100126 A TW 104100126A TW I567379 B TWI567379 B TW I567379B
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Jian-Zhao Ji
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All Ring Tech Co Ltd
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微小元件檢測裝置
本發明係有關於一種檢測裝置，尤指一種在微小電子元件進行檢測其物理特性後，予以分選分類後排出的路徑中，對其進行檢測之微小元件檢測方法及裝置。
按，一般電子元件由於具有不同的物理特性，故常需經由檢測、分選的程序來進行包裝或分類，由於電子元件的微細化及量大屬性，用於作檢測、分選的裝置必須提供迅速而精確的搬送，這些被檢測、分選的電子元件例如被動元件或LED發光二極體。
先前技術在進行檢測時，常採用可作間歇旋轉的測盤，在測盤周緣環列佈設等間距凹設之載槽，藉以自震動送料機的輸送槽道承載受檢測元件以間歇性旋轉流路搬送，歷經多個檢測站之程序後依其檢測出之物理特性，並經由一分選機構依受檢測元件的檢測結果進行分類，並予以排出至不同的分類管，以輸送至特定的收集容器進行收集；受檢測元件在分類管中落入收集容器時必須受到檢測計數，以確定落入該特定收集容器的受檢測元件數量，另一方面，藉由檢測計數來確認排料是否順暢。
習知檢測的方法及裝置例如申請人曾取得的第M377579號「微小元件檢測裝置」專利，該專利案用以檢知料件是否通過，主要係設有兩組相對應且具有一光束(光纖)傳輸器、一光束(光纖)接收器，於兩檢測模組之區間設有一檢知器，於檢知器中設有小於光束直徑的導槽道來供檢測 模組之光束通過，利用導槽道規範縮小受測區域，讓微小元件經過穿射導槽道的光束時受到感測來進行檢測。
然而，該先前技術因採用光束(光纖)傳輸器及光束(光纖)接收器進行檢知該檢知器中通過的光束，由於供光束通過的導槽道小於光束直徑，其微小的縫隙使光束的發射及接收信號相當微弱及不穩定，在通過的受檢測元件速度相當快且體積相當微小的情況下，檢測效果仍未理想！因此其必需以兩組光束(光纖)傳輸器及光束(光纖)接收器呈交錯方式來進行檢知，故其成本相當高而不符經濟效益！再者，由於通過的受檢測元件常帶有粉塵，該等粉塵容易阻塞該微小的縫隙，影響發射及接收的效果，且在清潔上要深入該等縫隙極為困難，往往需將各光電感測器與通道分別拆卸清潔，清潔完成再組裝，相當麻煩，且重新組裝又須分別調校，耗時費工！
爰是，本發明之目的，在於提供一種使檢測成本降低的微小元件檢測裝置。
依據本發明目的之微小元件檢測裝置，包括：一移載座，其與一分類管一端連結，該分類管將料件藉氣體推送輸經移載座，移載座上設有與分類管相通之入料通道；一檢測座，設於移載座下方，其設有一檢測區間，檢測區間一端與該移載座上的入料通道相通，另一端與檢測座一排出通道相通；一發射器，設於檢測區間一側，其提供一信號經由檢測座上一遮罩向檢測區間另一側發射；一接收器，設於檢測區間另一側，其經由檢測座上一遮罩接收所述發射器發射的信號。
本發明實施例之微小元件檢測裝置，在實施於採用LED光源 投射，以光纖進行信號接收，故可大幅降低裝置的成本；而第一遮罩、第二遮罩除形成發射器光源投射透經及接收器上光纖之光束感應的媒介，同時二者恰圍隔出檢測區間，可以避免受檢測元件卡入第一容室或第二容室，而其光滑表面可減輕污塵的沾附，即使一旦沾附亦可輕易自排出通道以棉花棒伸入清潔；而因LED光源、光纖、第一遮罩、第二遮罩皆固設於檢測座上，將個別元件皆安裝定位後再將檢測座整體固設於移載座下方，在維修時可將檢測座整體拆下而不變動原LED光源、光纖、第一遮罩、第二遮罩的設定，使其具有模組化便利。
1‧‧‧移載座
11‧‧‧固定座
12‧‧‧入料通道
2‧‧‧分類管
21‧‧‧接頭
3‧‧‧檢測座
31‧‧‧排出通道
32‧‧‧檢測區間
321‧‧‧圍牆
322‧‧‧圍牆
323‧‧‧第一閘口
324‧‧‧第二閘口
33‧‧‧第一容室
331‧‧‧第一嵌穴
332‧‧‧第一膠穴
34‧‧‧第二容室
341‧‧‧第二嵌穴
342‧‧‧第二膠穴(圖中未示)
35‧‧‧LED光源
351‧‧‧第一遮罩
352‧‧‧第一墊片
36‧‧‧光纖
361‧‧‧第二遮罩
362‧‧‧第二墊片
第一圖係本發明實施例之立體之示意圖。
第二圖係本發明實施例臥置時之底側立體示意圖。
第三圖係本發明實施例之立體分解示意圖。
第四圖係本發明實施例中檢測座構造示意圖。
請閱第一、二圖所示，本發明實施例可以應用於如圖所示的檢測裝置，包括：一移載座1，其一側設有固定座11，用以供驅動移載座1位移進行分配之驅動機構與其聯結固設，以使移載座1受移動在一2D或3D的路徑上，該驅動機構及移載座1的位移控制由於非本發明特徵，故不贅述；移載座1位於上方的一側與一分類管2一端之接頭21連結，該分類管2係將完成量測準備分類之LED等細小料件自上而下地藉氣體之推送由量測裝置輸送經移載座1，以藉分移載座1下端一檢測座3之排出通道31排出，而被分配至預先設定的收集盒，有關分類管2前段之量測裝置及排出通道31後之收集盒，因非本發明特徵，故不贅述。
請參閱第二、三圖所示，該移載座1上設有一鏤空並與分類管2相通之入料通道12，其與下方固設的該檢測座3之排出通道31對應。
請參閱第三、四圖所示，該檢測座3設有一檢測區間32，其為一方形之鏤空區間，其由包括一組相對向呈壁面的圍牆321、322，以及一組相對向呈開放狀之第一、二閘口323、324所圍設形成；檢測區間32一端與該移載座1上的入料通道12相通，另一端與檢測座3之排出通道31相通；該組相對向呈開放狀之第一閘口323側與一第一容室33相通，另一側之第二閘口324與一第二容室34相通；所述第一容室33及第二容室34分別各相對第一、二閘口323、324的另一側各呈開放狀，而分別各與第一、二閘口323、324相貼靠的一側則各形成一分別較第一容室33、第二容室34小且淺的第一、二嵌穴331、341；在第一、二嵌穴331、341下方各設有二微凹之第一、二膠穴332、342(圖中僅示332)；在所述第一容室33中設有一LED光源35作為發射器提供一發射信號，其前方第一嵌穴331中設有一透明材質例如玻璃構成並與LED光源35保持一適當間距的的第一遮罩351，第一遮罩351以黏膠立置黏設於該第一膠穴332處，其上方則設有一撓性之第一墊片352以緩衝其上方構件之碰觸；該LED光源35的發射信號經第一遮罩351、第一閘口323、檢測區間32、第二閘口324向第二容室34投射；在所述第二容室34中設有一光纖36(例如由多數光纖編排形成通稱光纖密排之光纖元件)作為接收器，其前方第二嵌穴341中設有一透明材質例如玻璃構成並與光纖36保持一適當間距的第二遮罩361，第二遮罩361以黏膠立置黏設於該第二膠穴342(圖中未示)處，其上方則設有一撓性之第二墊片362以緩衝其上方構件之碰觸；該光纖36經第二遮罩361、第二閘口324、檢測區間32、第一閘口323從第一容室33的LED光源35接收光線能量； 所述第一遮罩351、第二遮罩361相互平行並與圍牆321、322將檢測區間32的四周圍設成封閉的區間。
本發明實施例之微小元件檢測方法在於執行：一入料步驟：使受檢測元件經入料通道12進入移載座1後落經檢測座3所形成的檢測區間32；一檢測步驟，以LED光源35經第一遮罩351對落經檢測區間32的受檢測元件投射，及以光纖36經第二遮罩361進行信號接收，以進行檢測計數；一排料步驟，使完成檢測步驟的受檢測元件由排出通道31排出被收集。
本發明實施例之微小元件檢測裝置，在實施上，由於採用以LED光源35投射光源信號，並採用以光纖36進行光源信號接收，故可大幅降低裝置的成本；而第一遮罩351、第二遮罩361除提供作為LED光源35光源投射透經及光纖36之光束透經接收媒介，同時二者恰與圍牆321、322將檢測區間32的四周圍設成封閉的區間，可以避免受檢測元件4卡入第一容室33或第二容室34，而其光滑表面可減輕污塵的沾附，即使一旦沾附亦可輕易自排出通道31以棉花棒伸入清潔；而因LED光源35、光纖36、第一遮罩351、第二遮罩361皆固設於檢測座3上，將個別元件皆安裝定位後，再將檢測座3整體固設於移載座1下方，在維修時可將檢測座3整體拆下而不變動原LED光源35、光纖36、第一遮罩351、第二遮罩361的設定，使其具有模組化便利。
惟以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，當不能以此限定本發明實施之範圍，即大凡依本發明申請專利範圍及發明說明內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。
1‧‧‧移載座
12‧‧‧入料通道
3‧‧‧檢測座
31‧‧‧排出通道
321‧‧‧圍牆
322‧‧‧圍牆
323‧‧‧第一閘口
324‧‧‧第二閘口
33‧‧‧第一容室
331‧‧‧第一嵌穴
332‧‧‧第一膠穴
34‧‧‧第二容室
341‧‧‧第二嵌穴
35‧‧‧LED光源
351‧‧‧第一遮罩
352‧‧‧第一墊片
36‧‧‧光纖
361‧‧‧第二遮罩
362‧‧‧第二墊片

Claims (8)

  1. 一種微小元件檢測裝置，包括：一移載座，其與一分類管一端連結，該分類管將料件藉氣體推送輸經移載座，移載座上設有與分類管相通之入料通道；一檢測座，設於移載座下方，其設有一檢測區間，檢測區間一端與該移載座上的入料通道相通，另一端與檢測座一排出通道相通；一發射器，設於檢測區間一側，其提供一信號經由檢測座上一遮罩向檢測區間另一側發射；一接收器，設於檢測區間另一側，其經由檢測座上一遮罩接收所述發射器發射的信號。
  2. 如申請專利範圍第1項所述微小元件檢測裝置，其中，該檢測區間為一方形之鏤空區間，其由包括一組相對向呈壁面的圍牆，以及一組相對向呈開放狀之第一、二閘口所圍設形成。
  3. 如申請專利範圍第2項所述微小元件檢測裝置，其中，該組相對向呈開放狀之第一閘口側與一第一容室相通，另一側之第二閘口與一第二容室相通。
  4. 如申請專利範圍第3項所述微小元件檢測裝置，其中，該所述第一容室、第二容室任一者各相對第一、二閘口任一者的另一側呈開放狀。
  5. 如申請專利範圍第3項所述微小元件檢測裝置，其中，該所述第一容室、第二容室任一者中，供設置該發射器、接收器任一者。
  6. 如申請專利範圍第3項所述微小元件檢測裝置，其中，該所述第一容室及第二容室任一者，其分別各與第一、二感應閘口任一者相貼靠的一側，形成分別較第一容室、第二容室任一者小且淺的嵌穴。
  7. 如申請專利範圍第1項所述微小元件檢測裝置，其中，該發射的信號採用LED光源，並以光纖進行信號接收。
  8. 如申請專利範圍第1項所述微小元件檢測裝置，其中，該遮罩為透明材質所構成。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW300983B (en) * 1996-11-01 1997-03-21 Ind Tech Res Inst Plane detecting method and device for illegal coin
CN1212757A (zh) * 1996-01-10 1999-03-31 基德防火有限公司 颗粒的分离和检测设备
TW201124327A (en) * 2010-01-06 2011-07-16 Marketech Int Corp Thread conveyance status detection system.
CN102788775A (zh) * 2012-07-31 2012-11-21 华中科技大学 一种便携式高通量荧光检测仪
CN103033518A (zh) * 2012-12-28 2013-04-10 福建工程学院 微小环型磁性元件的视觉检测方法及其设备

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19518229A1 (de) * 1995-05-12 1996-11-14 Lfp Elektronische Spezialsiche Prüfvorrichtung in Bearbeitungsmaschinen
CN101683648A (zh) * 2008-09-26 2010-03-31 三星科技股份有限公司 具反射镜的分检机
TWM377579U (en) * 2009-11-05 2010-04-01 All Ring Tech Co Ltd Microdevice detecting apparatus
KR101175891B1 (ko) * 2011-01-27 2012-08-22 삼성전기주식회사 레이저를 이용한 소형 전자부품 카운터 장치 및 방법
CN102590224A (zh) * 2012-01-18 2012-07-18 肇庆市宏华电子科技有限公司 一种片式电子元件外观检测机
CN104180880A (zh) * 2013-05-21 2014-12-03 浙江托普仪器有限公司 一种全自动计数与称重装置
CN103612777B (zh) * 2013-10-24 2016-04-27 广州珐玛珈智能设备股份有限公司 数粒机上的下料装置
CN203949627U (zh) * 2014-06-03 2014-11-19 精湛光学科技股份有限公司 元件检测装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1212757A (zh) * 1996-01-10 1999-03-31 基德防火有限公司 颗粒的分离和检测设备
TW300983B (en) * 1996-11-01 1997-03-21 Ind Tech Res Inst Plane detecting method and device for illegal coin
TW201124327A (en) * 2010-01-06 2011-07-16 Marketech Int Corp Thread conveyance status detection system.
CN102788775A (zh) * 2012-07-31 2012-11-21 华中科技大学 一种便携式高通量荧光检测仪
CN103033518A (zh) * 2012-12-28 2013-04-10 福建工程学院 微小环型磁性元件的视觉检测方法及其设备

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