TWI567409B - Blanking detection method and device - Google Patents

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TWI567409B TW104100124A TW104100124A TWI567409B TW I567409 B TWI567409 B TW I567409B TW 104100124 A TW104100124 A TW 104100124A TW 104100124 A TW104100124 A TW 104100124A TW I567409 B TWI567409 B TW I567409B
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落料檢知方法及裝置
本發明係有關於一種檢知方法及裝置，尤指一種對落經一通道中的微小電子元件進行檢知之落料檢知方法及裝置。
按，一般電子元件由於具有不同的物理特性，故常需經由檢測、分選的程序來進行包裝或分類，由於電子元件的微細化及量大屬性，用於作檢測、分選的裝置必須提供迅速而精確的搬送，這些被檢測、分選的電子元件例如被動元件或LED發光二極體。
先前技術在進行檢測時，常採用可作間歇旋轉的測盤，在測盤周緣環列佈設等間距凹設之載槽，藉以自震動送料機的輸送槽道承載受檢測元件以間歇性旋轉流路搬送，歷經多個檢測站之程序後依其檢測出之物理特性，並經由一分選機構依受檢測元件的檢測結果進行分類，並予以排出至不同的分類管，以輸送至特定的收集容器進行收集；受檢測元件在分類管中落入收集容器時必須受到檢知計數，以確定落入該特定收集容器的受檢測元件數量，另一方面，藉由檢知計數來確認排料是否順暢。
習知檢知的方法及裝置例如申請人曾取得的第M377579號「微小元件檢測裝置」專利，該專利案用以檢知料件是否通過，主要係設有兩組相對應且具有一光束(光纖)傳輸器、一光束(光纖)接收器，於兩檢測模組之區間設有一檢知器，於檢知器中設有小於光束直徑的導槽道來供檢測模組之光束通過，利用導槽道規範縮小受測區域，讓微小元件經過穿射導槽道的光束時受到感測來進行檢測。
然而，該先前技術因採用光束(光纖)傳輸器及光束(光纖)接收器進行檢知該檢知器中通過的光束，由於供光束通過的導槽道小於光束直徑，其微小的縫隙使光束的發射及接收信號相當微弱及不穩定，在通過的受檢測元件速度相當快且體積相當微小的情況下，檢測效果仍未理想！因此其必需以兩組光束(光纖)傳輸器及光束(光纖)接收器呈交錯方式來進行檢知，故其成本相當高而不符經濟效益！
爰是，本發明之目的，在於提供一種成本低、穩定性及靈敏性較高之落料檢知方法。
本發明之另一目的，在於提供一種用以執行如所述落料檢知方法之裝置。
依據本發明目的之落料檢知方法，包括：提供一落料通道，其內形成一檢測區；該檢測區設於一可受驅動位移之移載座上所固設之一檢測座中，受檢測元件在落料通道中時移載座被位移；提供一檢知路徑，在該路徑中以一LED光源提供一光源發射信號，並經由光纖將LED光源的光線能量導引傳遞給光電感測器以進行信號接收；所述落料通道與檢知路徑交匯在該檢測區間，使受檢測元件在落料通道中落經該檢測區間時受檢知。
依據本發明另一目的之落料檢知裝置，包括：用以執行如所述落料檢知方法之裝置。
本發明實施例之落料檢知方法及裝置，因僅在檢測區相對應的兩側向檢測區作檢知，而分別於一側採用一個LED光源投射光源信號，並於另一側由光纖接收後，將LED光源的光線能量導引傳遞給光電感測器，除可大幅降低成本外，亦可不必於狹縫中進行檢知，對於補捉快速落 經落料通道的受檢測元件4可以更靈敏而充分掌握；而經由定電流電路以穩定之電流驅動LED光源、通帶濾波信號放大器進行信號過濾、感度調整電路比較信號的大小，可使LED光源更加穩定及依照實際需求調整敏感度，以達到檢測功能的最佳化；而照度檢測電路更可監測LED光源照度是否衰減，以幫助及時查覺及對第一遮罩、第二遮罩進行清潔，該第一遮罩、第二遮罩除可供LED光源投射透經及光纖透經進行光源信號接收外，亦具有防止受檢測元件卡人檢知路徑之第一容室、第二容室中的阻擋功用。
1‧‧‧移載座
11‧‧‧固定座
12‧‧‧入料通道
2‧‧‧分類管
21‧‧‧接頭
3‧‧‧檢測座
31‧‧‧排出孔
32‧‧‧檢測區間
321‧‧‧圍牆
322‧‧‧圍牆
323‧‧‧第一閘口
324‧‧‧第二閘孔
33‧‧‧第一容室
34‧‧‧第二容室
35‧‧‧LED光源
351‧‧‧定電流電路
36‧‧‧第一遮罩
37‧‧‧光纖
371‧‧‧光電感測器
372‧‧‧光電信號放大器
373‧‧‧通帶濾波信號放大器
374‧‧‧信號比較器
375‧‧‧感度調整電路
376‧‧‧信號觸發處理電路
377‧‧‧開集極電路
378‧‧‧照度檢測電路
38‧‧‧第二遮罩
4‧‧‧受檢測元件
第一圖係本發明實施例中落料檢知裝置之立體外觀示意圖。
第二圖係本發明實施例中落料之示意圖。
第三圖係本發明實施例中檢知電路示意圖。
請閱第一、二圖所示，本發明實施例可以應用於如圖所示的檢測裝置，包括：一移載座1，其一側設有固定座11，用以供驅動移載座1位移進行分配之驅動機構與其聯結固設，以使移載座1受移動在一X、Y路徑上，該驅動機構及移載座1的位移控制由於非本發明特徵，故不贅述；移載座1位於上方的一側與一分類管2一端之接頭21連結，該分類管2係將完成量測準備分類之LED等細小料件自上而下地藉氣體之推送由量測裝置輸送經移載座1，以藉移載座1下端一檢測座3之排出通道31排出，而被分配至預先設定的收集盒，有關分類管2前段之量測裝置及排出通道31後之收集盒，因非本發明特徵，故不贅述。
請參閱第二、三圖所示，該移載座1上設有一鏤空並與分類管 2相通之入料通道12，其與下方固設的該檢測座3之排出孔31對應；該檢測座3設有一檢測區間32，其為一方形截面之鏤空區間，並由包括一組相對向呈壁面的圍牆321、322，以及一組相對向呈開放狀之第一、二閘口323、324所圍設形成；檢測區間32一端與該分類管2相通，另一端與檢測座3之排出通道31相通，三者共同貫通形成供受檢測元件4落經之一由上而下鏤空的落料通道受檢測元件4藉氣體之推送經落料通道由檢測座之排出通道31排出，由於受檢測元件4在落料通道中時移載座1被位移至預先設定的收集盒，自排出通道31排出的受檢測元件4將落入該預先設定的收集盒；該檢測區間32一側藉第一閘口323與一第一容室33相通，另一側藉第二閘口324與一第二容室34相通，使檢測區間32、第一容室33、第二容室34間，三者共同貫通形成一由一側向另一側鏤空的光源信號檢知路徑；所述落料通道與檢知路徑交匯在該在檢測區間32；所述檢知路徑中的第一容室33中設有一LED光源35提供一光源發射信號，其前方第一閘口323處設有一透明材質例如玻璃構成的第一遮罩36；在所述第二容室34中設有一光纖37(例如由多數光纖編排形成通稱光纖密排之光纖元件)，光纖37前方第二閘口324處設有一透明材質例如玻璃構成的第二遮罩38；第一遮罩36、第二遮罩38分別各封閉該第一閘口323、第二閘口324，使該組相對向呈壁面的圍牆321、322與第一遮罩36、第二遮罩38將檢測區間32圍設成一四周封閉的區間；而該LED光源35僅能經第一遮罩36向檢測區間32投射；該光纖37僅能經第二遮罩38自檢測區間32接收LED光源35的光線能量。
請參閱第三圖，本發明採用LED光源35投射，以光纖37進行信號接收的檢知方法，其係以可依實際需求作微量調整的定電流電路351以穩定之電流驅動LED光源35對檢測區間32投射光源，而光纖37接收後，將LED光源35的光線能量導引傳遞給光電感測器371，再以光電信號放大器 372將信號放大，並經通帶濾波信號放大器373進行信號過濾，再以信號比較器374經由感度調整電路375的控制進行信號大小的比較，取得並轉換0、1之信號進行數位控制，並以信號觸發處理電路376依照實際需求調整輸出脈波時間長度，以開集極電路377輸出觸發外部主控制器；而在光電信號放大器372與通帶濾波信號放大器373間則以照度檢測電路378對光電感測器371接收的照度感應能量進行比較，以監測LED光源35亮度變化，如有因污塵或LED老化影響光源亮度可及時查覺。
本發明實施例之落料檢知方法及裝置，因僅在檢測區32相對應的兩側向檢測區32作檢知，而分別於一側採用一個LED光源35投射光源信號，並於另一側由光纖37接收後，將LED光源35的光線能量導引傳遞給光電感測器371，除可大幅降低成本外，亦可不必於狹縫中進行檢知，對於補捉快速落經落料通道的受檢測元件4可以更靈敏而充分掌握；而經由定電流電路355以穩定之電流驅動LED光源35、通帶濾波信號放大器373進行信號過濾、以信號比較器374經由感度調整電路375的控制比較信號的大小，可使LED光源35更加穩定及依照實際需求調整敏感度，以達到檢測功能的最佳化；而照度檢測電路377更可監測LED光源照度是否衰減，以幫助及時查覺及對第一遮罩36、第二遮罩38進行清潔，該第一遮罩36、第二遮罩38除可供LED光源35投射透經及光纖37透經進行光源信號接收外，亦具有防止受檢測元件4卡入檢知路徑之第一容室33、第二容室34中的阻擋功用。
惟以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，當不能以此限定本發明實施之範圍，即大凡依本發明申請專利範圍及發明說明內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。
32‧‧‧檢測區間
321‧‧‧圍牆
322‧‧‧圍牆
35‧‧‧LED光源
351‧‧‧定電流電路
36‧‧‧第一遮罩
37‧‧‧光纖
371‧‧‧光電感測器
372‧‧‧光電信號放大器
373‧‧‧通帶濾波信號放大器
374‧‧‧信號比較器
375‧‧‧感度調整電路
376‧‧‧信號觸發處理電路
377‧‧‧開集極電路
378‧‧‧照度檢測電路
38‧‧‧第二遮罩

Claims (9)

  1. 一種落料檢知方法，包括：提供一落料通道，其內形成一檢測區；該檢測區設於一可受驅動位移之移載座上所固設之一檢測座中，受檢測元件在落料通道中時移載座被位移；提供一檢知路徑，在該路徑中以一LED光源提供一光源發射信號，並經由光纖將LED光源的光線能量導引傳遞給光電感測器以進行信號接收；所述落料通道與檢知路徑交匯在該檢測區間，使受檢測元件在落料通道中落經該檢測區間時受檢知。
  2. 如申請專利範圍第1項所述落料檢知方法，其中，該LED光源係以定電流電路驅動，而光電感測器接收後，以光電信號放大器將信號放大，並經通帶濾波信號放大器進行信號過濾，再以感度調整電路比較信號的大小，轉換取成0、1之信號進行數位控制。
  3. 如申請專利範圍第2項所述落料檢知方法，其中，並以信號觸發處理電路調整輸出脈波時間長度，以開集極電路輸出觸發外部主控制器。
  4. 如申請專利範圍第2項所述落料檢知方法，其中，該光電信號放大器與通帶濾波信號放大器間以照度檢測電路對光電感測器接收的照度感應能量進行比較，以監測LED光源亮度變化。
  5. 如申請專利範圍第1項所述落料檢知方法，其中，該落料通道係由檢測區間一端與一分類管相通，另一端與檢測座之一排出通道相通，三者共同貫通形成，受檢測元件藉氣體之推送經落料通道由檢測座之排出通道排出。
  6. 如申請專利範圍第1項所述落料檢知方法，其中，該檢知路徑係由檢測座上之該檢測區間、檢測區間一側的一第一容室、檢測區間另一側的一第二容室，三者貫通形成。
  7. 如申請專利範圍第1項所述落料檢知方法，其中，該LED光源經一第一遮罩向檢測區間投射；該光纖經一第二遮罩自檢測區間接收LED光源的光線能量。
  8. 如申請專利範圍第7項所述落料檢知方法，其中，該第一遮罩、第二遮罩任一者為透明材質所構成。
  9. 一種落料檢知裝置，包括：用以執行如申請專利範圍第1至8項任一項所述落料檢知方法之裝置。
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