CN201615746U - 成品测试机 - Google Patents

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刘卫华
闫光忻
陈�峰
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Abstract

本实用新型涉及一种石英晶体振荡器测试机,包括供给、操作、检测、调整、搬送、弃料、控制、残检、收纳9部。供给部中2个气缸与2个气动吸取单元连接,圆型振动盘与直线型振动盘连接,取料台与直线型振动盘连接,大、小尺寸一次排除装置,大、小尺寸二次排除装置安装于圆形振盘处,二次排除位于一次排除后;操作部中圆盘操作台安装在DD马达上,检测架台I穿过圆盘操作台和DD马达安装在整体设备台上,直线电机安装在纵横调整台上,测试仪安装台安装在3个直线电机上,派板安装在测试仪安装台上,探针共12根,工作台共24个。本实用新型克服了现有装置速度慢且易致产品受损、无法监测和转换电极方位,对应产品单一,测试项目局限的技术问题。

Description

成品测试机
技术领域
[0001] 本实用新型涉及一种石英晶体振荡器测试机,属于石英晶体振荡器、谐振器的制 造检测技术领域。
背景技术
[0002] 目前,通行的同类检测装置,该设备不具备产品方位检测和转换的功能,若产品托 盘内出现了产品电极反向的情况,设备无法自行识别和调整,导致产品在检测过程中探针 无法准确刺到产品电极,而判为不合格品被丢弃;检测项目单一,同一时间内只能进行一项 检测,若要更换项目必须换下现有测试项目的测试卡,更换一种新的测试项目的测试卡,而 之前所用的测试卡所进行的测试项目则不能进行;对应产品单一,该设备仅能对应单一尺 寸产品,更改尺寸时需进行改造。
实用新型内容
[0003] 为了克服现有同类装置速度慢、且易致产品受损的不足,无法监测和转换电极方 位,对应产品单一,测试项目局限等不足,本实用新型提供一种石英晶体振荡器测试机。
[0004] 为了解决以上技术问题,本实用新型所采用的技术方案是:本新型包括供给部、操 作部、检测部、调整部、搬送部、弃料部、控制部、残检部、收纳部,其供给部中气缸I与导轨I 位置相平行装载在供给架台上,小尺寸一次排除装置、小尺寸二次排除装置、大尺寸一次排 除装置、大尺寸二次排除装置安装于圆形振盘靠近直线型振盘入口处;其操作部中圆盘操 作台安装在DD马达之上,检测架台I穿过圆盘操作台和DD马达的中孔安装在整体设备的 台面上,直线电机安装在纵横调整台上,测试仪安装台安装在直线电机上,派板安装在测试 仪安装台上,探针共12根,工作台共24个。
[0005] 直线电机、测试仪安装台、直线电机、派板均为3个,小尺寸一次排除装置、小尺寸 二次排除装置、大尺寸一次排除装置、大尺寸二次排查装置,2个二次排除装置位于两个一 次排除装置后,大尺寸位于小尺寸后。12根探针每两个一组,每两组安装在一个派板上,探 针均垂直指向圆盘操作台。24个工作台依次环列于圆盘操作台外沿。
[0006] 检测部包括影像基座、气缸II、微型导轨II、影像、斜照式LED灯,气缸II与微型 导轨II位置相平行,分别装载在检测架台II的上层台上,气缸II位于下表面,微型导轨II 位于上表面,影像基座装载于微型导轨II之上,影像装载在影像基座上,斜照式LED灯装载 在影像基座上位置位于影像下方。弃料部由不合格品收纳盒、不合格品收纳盒支撑架、不合 格品收纳盒基座、不合格品收纳台、补料台、气缸III、微型导轨IV组成。不合格品收纳盒盛 放于不合格品收纳盒支撑架上,补料台安放在不合格品收纳盒支撑架上,不合格品收纳盒 支撑架安放在不合品收纳台上,不合格品收纳台装载于微型导轨IV上,微型导轨IV安装于 不合格品收纳基座上,气缸III安装于不合格品收纳基座的下方,不合格品收纳台与气缸 III连接。微型导轨IV与气缸III平行。
[0007] 控制部由1台工业控制计算机和一台计算机组成,位于设备的下端。残检部由残
3检基座、残检支柱、对射式传感器组成。残检基座为2个,安装在残检支柱上;对射式传感器 为两套安装在两个残检基座上。
[0008] 该测试机供给量大,不仅能测出被测物是否合格,而且能方便地自动排除不合格 产品,并能自动填补空位,直至全部测试完毕,同时兼备产品电极方位监测和调整的功能, 提高了生产效率、节约了资源。
附图说明
[0009] 下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步的说明。
[0010] 图1是本实用新型的主视图。
[0011] 图2是本实用新型的各部组成俯视图。
[0012] 图3是本实用新型的俯视图。
[0013] 图4是本实用新型的振盘结构示意图。
[0014] 图5是本实用新型的控制部结构示意图。
[0015] 图6是本实用新型的检测部结构示意图。
[0016] 图7、图8是本实用新型的残检部结构示意图。
[0017] 其中,1、供给部,2、检测部,3、操作部,4、调整部,5、收纳部,6、弃料部,7、搬送部, 8、残检部,9、控制部,10、交流电机I,11、机械臂I,12、供给架台,13、气动吸取单元I,14、影 像基座,15、影像,16、微型导轨II,17、皮带轮传动机构,18、调整架台,19、交流电机II,20、 凸轮传动机构I,21、摆动气缸,22、工作台,23、圆盘操作台,24、测试仪安装台,25、直线电 机,26、检测架台I,29、交流电机IV,31、气缸III,36、补料台,37、不合格品收纳盒,38、搬送 架台,45、取料台,46、圆形振动盘,47、直线形振动盘,48、气动吸取装置,49、导轨II,50、拉 伸弹簧1,51、DD马达,54、不合格品收纳盒基座,55、微型导轨IV,62、不合格品收纳盒支撑 架,63、气动吸取单元11,64、微型导轨111,66、微型气缸111,68、纵横调整台,69、探针,70、 微型导轨I,71、微型气缸1,72、导轨1,73、气缸I,75、检测架台II,76、检测支柱,77、斜照 式LED灯,78、气缸II,79、残检基座,80、对射式传感器,81、残检支柱,82、小尺寸一次排除 装置,83、小尺寸二次排除装置,84、大尺寸一次排除装置,85、大尺寸二次排除装置,86、计 算机,88、派板,90、调整基座,91、不合格品收纳台,92工业控制计算机。
具体实施方式
[0018] 如图1至图8所示,本实用新型的具体实施方式如下:
[0019] 本实用新型的供给部1包括:交流电机I 10,机械臂I 11,气缸I 73,供给架台 12,气动吸取单元113,微型气缸I 71,微型导轨I 70,导轨I 72,圆形振动盘46,直线形振 动盘47,取料台45,小尺寸一次排除装置82,小尺寸二次排除装置83,大尺寸一次排除装置 84,大尺寸二次排查装置85。其中交流电机I 10与机械臂I 11连接,供给架台12装载在 机械臂I 11上,气缸I 73与导轨I 72位置相平行装载在供给架台12上,气缸I 73与气动 吸取组(气动吸取组包括2个气动吸取单元I 13)连接,气动吸取组装载在导轨I 72上。 微型气缸I 71为2个并分别与2个气动吸取单元I 13连接,圆型振动盘46与直线型振动 盘47连接,取料台45与直线型振动盘47连接,小尺寸一次排除装置82、小尺寸二次排除装 置83、大尺寸一次排除装置84、大尺寸二次排除装置85安装于圆形振盘46靠近直线型振盘47入口处,2个二次排除装置位于两个一次排除装置后,大尺寸位于小尺寸后。
[0020] 其操作部3包括:圆盘操作台23,DD马达51,检测架台I 26,直线电机25,测试仪 安装台24,纵横调整台68,派板88,探针69,工作台22。其中圆盘操作台23安装在DD马 达51之上,检测架台I 26穿过圆盘操作台23和DD马达51的中孔安装在整体设备的台面 上,纵横调整台68倒装在检测架台I 26上,3个直线电机25安装在纵横调整台68上,3个 测试仪安装台24安装在3个直线电机25上,3个派极88分别安装在3个测试仪安装台24 上,探针69共12根、12根探针每两个一组,每两组安装在一个派板88上,探针69垂直指向 圆盘操作台23。工作台22共24个依次环列于圆盘操作台23的外沿,圆盘操作台23上有 两个槽位,用于盛放产品,其中心位置有一通孔。 [0021] 其检测部2包括:影像基座14,气缸II 78,微型导轨II 16,影像15,斜照式LED 灯77,检测支柱76,检测架台II 75。检测架台II 75装载在检测支柱76上,气缸II 78与 微型导轨II 16位置相平行,分别装载在检测架台II 75的上层台上,气缸II 78位于下表 面,微型导轨II 16位于上表面,气缸II 78与影像基座14连接,影像基座14装载于微型 导轨II 16之上。影像15装载在影像基座14上,斜照式LED灯77装载在影像基座14上 位置位于影像15下方。
[0022] 其中搬送部7包括:交流电机IV29,微型导轨11164,搬送架台38,气动吸取单元 1163,微型气缸11166。
[0023] 其中弃料部6包括:不合格品收纳盒37,不合格品收纳盒支撑架62,不合格品收纳 盒基座54,不合格品收纳台91,补料台36,气缸11131,微型导轨IV55。不合格品收纳盒37 盛放于不合格品收纳盒支撑架62上,补料台36安放在不合格品收纳盒支撑架62上,不合 格品收纳盒支撑架62安放在不合品收纳台91上,不合格品收纳台91装载于微型导轨IV55 上,微型导轨IV55安装于不合格品收纳基座54上,气缸III31安装于不合格品收纳基座54 的下方,微型导轨IV与气缸III31平行,不合格品收纳台91与气缸III31连接。
[0024] 其中残检部8包括:残检基座79,残检支柱81,对射式传感器80。2个残检基座 79安装在残检支柱81上,两者的上下位置为可使圆盘操作台和工作台叠加的厚度自由的 通过其间,两套对射式传感器80安装在两个残检基座79上。
[0025] 其中控制部,1台工业控制计算机92和一台计算机86位于设备的下端。工业控制 计算机用于操作整个设备的运行,计算机用于处理测试数据。以上各部除控制部外,以操作 部为中心,供给部,检测部,调整部,收纳部环列于其外围,控制部被设置与设备的底层空间 内。
[0026] 当使用本实用新型进行产品检测时,设备启动后DD马达51驱动圆盘操作台23转 动被测产品,残检部8将对通过其对射式传感器80的工作台22检查其上是否残留产品或 其它杂物,被确定无残留物的工作台22转到供给部1。供给部的交流电动机I 10驱动机械 臂I 11载着供给架台12移动到取料台45上方,产品在圆形振动盘46中被振动输送到直 线型振动盘47,再由直线型振动盘输送到取料台、等待被吸取。圆形整动盘内设有小尺寸产 品一次排除装置82、小尺寸产品二次排除装置83,大尺寸产品一次排除装置84,大尺寸产 品二次排除装置85,两个一次排除装置可以检测将要输送到直线型振盘内的产品有无立放 的,若有则将其原地吹倒,两个二次排除装置可以检测产品是否有反面向上的现象,若有则 将其吹落回圆形振动盘46。微型气缸I 71驱动气动吸取单元I 13沿导轨I 72下降,从取料台45取出一个产品,微型气缸驱动气动吸取单元在导轨上滑动,使另一个气动吸取单元 移动到取料位置,取料。随后产品被机械臂I 11送到操作部3,气动吸取单元下降,放产品 到工作台22上。产品随着圆盘操作台23旋转到检测部2,气缸驱动气缸II 78影像基座 14在微型导轨II 16上滑动,使影像15可以分别对工作台22上的两个产品的电极方向进 行监测,并将判断的数据输送给控制部9。检测后的产品随圆盘操作台23转动到调整部4。 若工作台上无电极反向产品,则该工位不动作;若存在电极反向产品,则摆动气缸21通过 凸轮传动机构I 20降下调整架台18,气动吸取装置48通过控制部传达的指令,吸取电极反 向的产品,正常产品不进行吸取。吸住产品后,调整架台上升,交流电机II 19通过皮带轮 传动机构17转动气动吸取装置,从而调整产品电极方向,调整后,调整架台下降放下产品。 通过调整部后的产品,随圆盘操作台23旋转逐一经过检测架台I 26上所设立的检测位置, 该位置的直线电机25降下测试仪安装台24,使其上的探针69可以刺到产品。其上的纵横 调整台68用于测试仪安装台,用以改变探针的位置对应产品的电极位置。测试仪安装台24 在生产使用中可根据不同的需求,安装不同的测试仪器或测试卡。
[0027] 测试结束后的产品,随圆盘操作台23转动到产品搬送部7,搬送架台38上的气动 吸取单元11 63由其上的微型气缸II166驱动,沿微型导轨II164上升,再由交流电机IV29 驱动搬送架台38运送产品,若此时补料台36为空,则系统优先将产品送到补料台,若补料 台为非空则产品被送到收纳部5。若检测过程中发现有不合格品,则产品会被丢弃到弃料部 6的不合格品收纳盒内37,随后气缸驱动不合格品收纳基座54沿导轨运行,以对应气动吸 取单元的吸取位置,使其可以从不合格品收纳盒支撑架62上的补料台36吸取合格品。
[0028] 经过工作台22随圆盘操作台23转到残检部8,在该部工作台被残检的两套对射式 传感器检测,以确定其上的放产品用的槽位内无产品残留。若其上有残留则系统报警并停 机!至此完成一个产品的循环!
[0029] 本实用新型克服了现有同类装置速度慢且易致产品受损的、无法监测和转换电极 方位、供给量小或供给不方便、对应产品单一、测试项目局限等不足,且使用方便,提高了生 产效率。

Claims (8)

  1. 一种石英晶体振荡器测试机,包括供给部、操作部、检测部、调整部、搬送部、弃料部、控制部、残检部、收纳部,其特征在于:所述供给部其中气缸I与导轨I位置相平行装载在供给架台上,小尺寸一次排除装置、小尺寸二次排除装置、大尺寸一次排除装置、大尺寸二次排除装置安装于圆形振盘靠近直线型振盘入口处;所述操作部其中圆盘操作台安装在DD马达之上,检测架台I穿过圆盘操作台和DD马达的中孔安装在整体设备的台面上,直线电机安装在纵横调整台上,测试仪安装台安装在直线电机上,派板安装在测试仪安装台上,探针共12根,工作台共24个。
  2. 2.根据权利要求1所述的石英晶体振荡器测试机,其特征在于:所述的直线电机、测试 仪安装台、直线电机、派板均为3个。
  3. 3.根据权利要求1所述的石英晶体振荡器测试机,其特征在于:所述的小尺寸一次排 除装置、小尺寸二次排除装置、大尺寸一次排除装置、大尺寸二次排查装置,2个二次排除装 置位于两个一次排除装置后,大尺寸位于小尺寸后。
  4. 4.根据权利要求1所述的石英晶体振荡器测试机,其特征在于:所述的12根探针每两 个一组,每两组安装在一个派板上,探针均垂直指向圆盘操作台;所述的24个工作台依次 环列于圆盘操作台外沿。
  5. 5.根据权利要求1所述的石英晶体振荡器测试机,其特征在于:所述的检测部包括影 像基座、气缸II、微型导轨II、影像、斜照式LED灯,气缸II与微型导轨II位置相平行,分 别装载在检测架台II的上层台上,气缸II位于下表面,微型导轨II位于上表面,影像基座 装载于微型导轨II之上,影像装载在影像基座上,斜照式LED灯装载在影像基座上位置位 于影像下方。
  6. 6.根据权利要求1所述的石英晶体振荡器测试机,其特征在于:所述的弃料部由不合 格品收纳盒、不合格品收纳盒支撑架、不合格品收纳盒基座、不合格品收纳台、补料台、气缸 III、微型导轨IV组成;不合格品收纳盒盛放于不合格品收纳盒支撑架上,补料台安放在不 合格品收纳盒支撑架上,不合格品收纳盒支撑架安放在不合品收纳台上,不合格品收纳台 装载于微型导轨IV上,微型导轨IV安装于不合格品收纳基座上,气缸III安装于不合格品 收纳基座的下方,不合格品收纳台与气缸III连接;所述的微型导轨IV与气缸III平行。
  7. 7.根据权利要求1所述的石英晶体振荡器测试机,其特征在于:所述的控制部由1台 工业控制计算机和一台计算机组成,位于设备的下端。
  8. 8.根据权利要求1所述的石英晶体振荡器测试机,其特征在于:所述的残检部由残检 基座、残检支柱、对射式传感器组成;残检基座为2个,安装在残检支柱上;对射式传感器为 两套安装在两个残检基座上。
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