JP3332714B2 - 画像読取装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、画素毎に原稿から
の光を光電変換素子で受光し、画像データに光電変換し
て原稿の画像を読み取る画像読取装置に関し、詳細に
は、光電変換素子の原稿からの距離や入射光に対する傾
きを容易に調整することのできる画像読取装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】ＣＣＤ（Charge Coupled Device ）等の
光電変換素子を用いた画像読取装置、例えば、複写機、
スキャナ及びファクシミリ装置等は、原稿面に照射され
た光の反射光を縮小光学系統を用いて光電変換素子に導
入して、光電変換素子により光電変換して、原稿の画像
を読み取っている。

【０００３】このような画像読取装置においては、原稿
の画像を適切に読み取るためには、光電変換素子の位置
調整や角度調整が必要となる。すなわち、光電変換素子
の位置が光電変換素子で読み取った画像と原稿の画像が
等倍となる等倍位置に設定されていないと、原稿の画素
位置と光電変換素子の画素位置とが一致せず、精度よく
原稿の画像を読み取ることができない。

【０００４】そこで、従来、この等倍度の調整を容易に
するために、主走査方向所定位置の色彩が異にされたテ
スト原稿から少なくとも１主走査線分の画像信号を記憶
する記憶手段と、該記憶手段の画像信号から少なくとも
レベル変化点を表示するとともに、予め定めた基準値に
対応する表示画面所定位置にマークを表示する表示手段
とを備えた画像形成装置の等倍度表示装置（特開平３−
１５４４７７号公報参照）が提案されている。この画像
形成装置の等倍度表示装置によれば、テスト原稿を読み
取ったときの画像信号のレベル変化点と基準値を示すマ
ークを表示手段に表示して、マークとレベル変化点が一
致するように撮像手段の位置調整を行う。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の画像形成装置の等倍度表示装置にあっては、
テスト原稿を読み取ったときの画像信号のレベル変化点
と基準値を示すマークを表示手段に表示して、マークと
レベル変化点が一致するように撮像手段の位置調整を行
うようになっていたため、表示手段の狭い表示画面内で
マークとレベル変化点を一致させるのは、困難であり、
精度よく等倍度を調整することができないという問題が
あった。また、画像読取装置の等倍度を調整するため
に、この特別の等倍度表示装置を取り付ける必要があ
り、作業性が悪いとともに、コストが高くつくという問
題があった。

【０００６】そこで、請求項１記載の発明は、光電変換
素子で光電変換した際の信号レベルが異なる２種類の画
像が１画素毎に交互に記載された所定のテスト原稿を光
電変換素子で光電変換した奇数番目と偶数番目の画像デ
ータは、光電変換素子の等倍度が適切に調整されている
と、それぞれ常に同じ信号レベルを有しているが、等倍
度がずれていると、等倍度のずれに応じて、１主走査線
の間に上記信号レベルが順次変化することに着目して、
テスト原稿を読み取った画像データの奇数番目と偶数番
目の信号レベルを比較して、奇数番目の信号レベルと偶
数番目の信号レベルの大小関係が逆転する回数を算出
し、この回数を表示出力することにより、等倍度のずれ
量を数値として適切に把握できるようにして、特別な測
定器具を用いることなく、精度よく光電変換素子の位置
調整を行って、等倍度を精度よく調整することのできる
画像読取装置を提供することを目的としている。

【０００７】

【０００８】請求項２記載の発明は、テスト原稿を光電
変換素子で読み取った画像データの奇数番目と偶数番目
の信号レベルをそれぞれ線画として表示することによ
り、等倍度のずれ量を視覚により映像としてより一層適
切に把握できるようにして、より一層精度よく光電変換
素子の位置調整を行って、等倍度をより一層精度よく調
整することのできる画像読取装置を提供することを目的
としている。

【０００９】

【００１０】

【００１１】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明の画
像読取装置は、原稿からの光を、前記原稿から所定距離
離れた位置に入射光に対して所定角度で配設された光電
変換素子で、画素毎に画像データに光電変換して前記原
稿の画像を読み取る画像読取装置において、前記光電変
換素子で光電変換した画像データを少なくとも１主走査
線分記憶する画像データ記憶手段と、前記画像データ記
憶手段に記憶されている前記画像データの隣接する奇数
番目の画像データと偶数番目の画像データの信号レベル
を比較する信号レベル比較手段と、前記信号レベル比較
手段の比較結果を所定の出力形式で出力する出力手段
と、を備え、前記光電変換素子で光電変換した際の信号
レベルが異なる２種類の画像が１画素毎に交互に記載さ
れた所定のテスト原稿を前記光電変換素子で光電変換し
て、前記画像データ記憶手段に記憶し、前記信号レベル
比較手段が、前記隣接する奇数番目の画像データと偶数
番目の画像データの信号レベルを比較して、奇数番目の
画像データと偶数番目の画像データの信号レベルの大小
関係が逆転する回数を算出し、前記出力手段が、前記信
号レベル比較手段の算出した前記大小関係が逆転する回
数を表示出力することにより、上記目的を達成してい
る。

【００１２】ここで、テスト原稿は、光電変換素子で光
電変換した際の信号レベルが異なる２種類の画像が１画
素毎に交互に記載されている。したがって、このテスト
原稿の画像を光電変換素子で光電変換した奇数番目と偶
数番目の画像データは、光電変換素子の等倍度が適切に
調整されていると、それぞれ常に同じ信号レベルである
が、等倍度がずれていると、等倍度のずれに応じて、１
主走査線の間にその信号レベルが順次変化する。

【００１３】上記構成によれば、光電変換素子で光電変
換した際の信号レベルが異なる２種類の画像が１画素毎
に交互に記載されたテスト原稿を光電変換素子で変換し
た少なくとも１主走査線分の画像データの隣接する奇数
番目の画像データと偶数番目の画像データの信号レベル
を比較して、奇数番目の画像データと偶数番目の画像デ
ータの信号レベルの大小関係が逆転する回数を算出し、
その回数を表示出力するので、等倍度のずれ量を数値と
して適切に把握することができ、特別な測定器具を用い
ることなく、精度よく光電変換素子の位置調整を行うこ
とができる。その結果、光電変換素子の等倍度を安価
に、かつ、精度よく調整することができる。

【００１４】

【００１５】

【００１６】

【００１７】請求項２記載の発明の画像読取装置は、原
稿からの光を、前記原稿から所定距離離れた位置に入射
光に対して所定角度で配設された光電変換素子で、画素
毎に画像データに光電変換して前記原稿の画像を読み取
る画像読取装置において、前記光電変換素子で光電変換
した画像データを少なくとも１主走査線分記憶する画像
データ記憶手段と、所定のドット数で画像を表示する表
示手段と、を備え、前記光電変換素子で光電変換した際
の信号レベルが異なる２種類の画像が１画素毎に交互に
記載された所定のテスト原稿を前記光電変換素子で光電
変換して、前記画像データ記憶手段に記憶し、当該画像
データ記憶手段に記憶した前記テスト原稿の奇数番目の
画像データの信号レベルと偶数番目の画像データの信号
レベルをそれぞれ前記表示手段に線画として表示出力す
ることにより、上記目的を達成している。

【００１８】上記構成によれば、テスト原稿を光電変換
素子で読み取った画像データの奇数番目と偶数番目の信
号レベルをそれぞれ線画として表示するので、等倍度の
ずれ量を視覚により映像としてより一層適切に把握する
ことができ、より一層精度よく光電変換素子の位置調整
を行って、等倍度をより一層精度よく調整することがで
きる。

【００１９】

【００２０】

【００２１】

【００２２】

【００２３】

【００２４】

【００２５】

【００２６】

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
を、添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に
述べる実施の形態は、本発明の好適な実施の形態である
から、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、
本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定
する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるもの
ではない。

【００２７】図１〜図７は、本発明の画像読取装置の一
実施の形態を適用した画像読取装置を示す図であり、図
１は、本発明の画像読取装置の一実施の形態を適用した
画像読取装置のブロック図である。

【００２８】図１において、画像読取装置１は、光源
２、光受光素子（光電変換素子）３、画像データ処理部
４、ＣＰＵ（Central Processing Unit）５、信号レベ
ル比較部６、画像データ記憶部７及び操作表示部８等を
備えており、上記画像データ処理部４、ＣＰＵ（Centra
l Processing Unit）５、信号レベル比較部６、画像デ
ータ記憶部７及び操作表示部８は、バス９により接続さ
れている。この画像読取装置１は、例えば、ファクシミ
リ装置等に適用される。

【００２９】光源２は、原稿１０の原稿面に光を照射
し、原稿面で反射された反射光は、図示しないレンズや
ミラー等の縮小光学系により縮小されて、光受光素子３
に入射される。

【００３０】光受光素子３は、例えば、ＣＣＤ（Charge
Coupled Device ）等が利用され、少なくとも主走査方
向に最大原稿の１主走査線分（ライン分）以上の長さに
わたって配設されている。光受光素子３は、原稿１０か
らの１主走査線分の反射光を複数の画素に分割して、光
電変換し、画像データとして画像データ処理部４に出力
する。

【００３１】画像データ処理部４は、光受光素子３から
入力される画像データをディジタル変換して、ディジタ
ルの画像データとして画像データ記憶部７に出力する。

【００３２】画像データ記憶部７は、例えば、ＲＡＭ
（Random Access Memory）等で形成され、少なくとも１
主走査線分の画像データを記憶する。

【００３３】ＣＰＵ５は、ＲＯＭやＲＡＭ等を内蔵し、
ＲＯＭ内のプログラムに基づいてＲＡＭをワークメモリ
として使用して画像読取装置１の各部を制御し、画像読
取装置１としての基本処理を行うとともに、後述する信
号レベル比較・出力処理を行う。

【００３４】信号レベル比較部６は、ＣＰＵ５の制御下
で動作して、光受光素子３の位置調整時や角度調整時
に、光受光素子３で光電変換したテスト原稿１１の画像
の画像データの信号レベルを比較する。テスト原稿１１
は、図３及び図５に示すように、光受光素子３で光電変
換した際にその信号レベルが１画素毎に交互に異なる２
種類の画像（例えば、白黒画像）が記載された原稿であ
る。信号レベル比較部６は、光受光素子３の位置調整時
（等倍度の調整時）には、テスト原稿１１を読み取った
画像データの信号レベルを相隣接する画素の画像データ
（奇数番目と偶数番目の画素の画像データ）の信号レベ
ルと比較して、比較結果をＣＰＵ５に出力し、光受光素
子３の入射光に対する傾きを調整する際（角度調整時）
には、テスト原稿１１を光受光素子３で読み取った画像
データの信号レベルを、テスト原稿１１の先端と後端の
画像の信号レベルを識別するための予め設定されている
基準の信号レベルと比較して、比較結果をＣＰＵ５に出
力する。

【００３５】操作表示部（出力手段、表示手段）８は、
種々の操作キーを備えるとともに、ディスプレイを備
え、操作キーからは、画像読取装置１に原稿の読み取り
動作等の各種動作を行わせるためのキー操作が行われ、
特に、光受光素子３の位置調整や角度調整を行う調整モ
ードの選択が行われる。また、操作表示部８のディスプ
レイ（表示手段）には、画像読取装置１からオペレータ
に通知する各種情報、特に、上記調整モードにおいて信
号レベル比較部６の比較結果が、各種表示形式で表示出
力する。ディスプレイは、例えば、ＬＣＤ（Liquid Cry
stal Display）等で形成されており、所定の表示ドット
数を有している。

【００３６】次に、作用を説明する。画像読取装置１
は、光受光素子３の位置調整及び角度調整を特別の測定
機器を使用することなく、簡単に、かつ、精度よく行え
るところにその特徴がある。

【００３７】以下、この光受光素子３の位置調整及び角
度調整について、図２〜図７に基づいて、説明する。

【００３８】画像読取装置１のＣＰＵ５は、図２に示す
ように、テスト原稿１１が読取部の読取位置にセットさ
れ、操作表示部８のキー操作により調整モードに設定さ
れ、テスト開始の所定のキー操作が行われると（ステッ
プＳ１）、テスト原稿の画像を読み取らせ、光受光素子
３で光電変換した画像データを画像データ処理部４でデ
ィジタル変換して、１主走査線分の画像データを画像デ
ータ記憶部７に一旦記憶させる（ステップＳ２）。そし
て、テスト原稿１１は、例えば、読取部の最大原稿幅と
最大原稿長の大きさを有している。

【００３９】したがって、このテスト原稿１１を光受光
素子３で読み取ったとき、光受光素子３の等倍度が１０
０％で、光受光素子３の角度ずれがなく正規の角度で配
設されていると、図３に示すように、テスト原稿１１の
白黒の画像で反射された光が光受光素子３の各画素に正
確に入射し、テスト原稿１１の白黒の画像を、位置ずれ
することなく、光受光素子３で正確に読み取ることがで
きる。

【００４０】その結果、光受光素子３でテスト原稿１１
を読み取って画像データ記憶部７に記憶された画像デー
タは、その１画素おきの画像データ、例えば、奇数デー
タが白画像を読み取った画像データとなり、偶数データ
が黒画素を読み取った画像データとなる。したがって、
光受光素子３の等倍度が１００％で、光受光素子３の角
度ずれがないと、画像データ記憶部７に記憶されたテス
ト原稿１１の画像データは、その奇数データが、例え
ば、白画素を読み取ったときの画像データであると、図
４に示すように、その信号レベルが一定して、高い信号
レベルを示して、その偶数データが、例えば、黒画素を
読み取ったときの画像データであると、その信号レベル
が一定して、低い信号レベルを示して、奇数番目の画像
データ（以下、奇数データという。）と偶数番目の画像
データ（以下、偶数データという。）の信号レベルが、
図４に示すように、主走査方向において交差することが
ない。

【００４１】ところが、光受光素子３の取り付け位置に
位置ずれがあり、等倍度が１００％からずれていると、
図５に示すように、テスト原稿１１の白黒の画像が光受
光素子３の各画素に正確に入射せず、等倍度のずれ量に
応じて、テスト原稿１１の白黒の画像が光受光素子３に
順次位置ずれして入射し、光受光素子３は、この位置ず
れして入射する入射光を光電変換することとなる。

【００４２】その結果、光受光素子３でテスト原稿１１
を読み取って画像データ記憶部７に記憶された画像デー
タは、図５に示すように、その１画素おきの画像デー
タ、例えば、奇数データがテスト原稿１１の白画像から
光受光素子３の位置ずれ量に応じて順次黒画像へと位置
ずれする画像を読み取った画像データとなり、偶数デー
タがテスト原稿１１の黒画像から光受光素子３の位置ず
れ量に応じて順次白画像へと位置ずれする画像を読み取
った画像データとなる。したがって、光受光素子３の等
倍度が１００％からずれていると、画像データ記憶部７
に記憶されたテスト原稿１１の画像データは、その奇数
データが、例えば、白画素を読み取ったときの画像デー
タであると、図６に示すように、その信号レベルが高い
信号レベルから低い信号レベルに変化し、また、高い信
号レベルに変化するというレベル変化を、光受光素子３
の位置ずれ量に応じて繰り返し、その偶数データが、例
えば、黒画素を読み取ったときの画像データであると、
その信号レベルが低い信号レベルから高い信号レベルに
変化し、また、低い信号レベルに変化するというレベル
変化を、光受光素子３の位置ずれ量に応じて繰り返す。
そして、この奇数データと偶数データの信号レベルの変
化に応じて、奇数データと偶数データの信号レベルが、
図６に示すように、光受光素子３の位置ずれ量に応じた
回数だけ、交差する、すなわち、大小関係が逆転するこ
ととなる。

【００４３】そこで、画像読取装置１は、この光受光素
子３の位置ずれ量に応じて、奇数データと偶数データの
信号レベルの交差回数を、光受光素子３の光電変換した
奇数番目と偶数番目の画像データの信号レベルを比較す
ることにより、算出して、操作表示部８のディスプレイ
に表示出力し、光受光素子３のずれ量を的確に把握でき
るようにしている。

【００４４】すなわち、画像読取装置１のＣＰＵ５は、
上記テスト原稿１１を読み取って、１主走査線分の画像
データを画像データ記憶部７に記憶させると、奇数ビッ
ト（奇数データ）と偶数ビット（偶数データ）のそれぞ
れの先端ビットを読み出して、信号レベル比較部６に奇
数ビットと偶数ビットの信号レベル（出力レベル）を比
較させ（ステップＳ３）、奇数ビットが偶数ビットより
も大きいかどうかチェックする（ステップＳ４）。

【００４５】ステップＳ４で、奇数ビットの信号レベル
が偶数ビットの信号レベルよりも大きいときには、ＣＰ
Ｕ５は、奇数ビットと偶数ビットそれぞれの読み込みビ
ットを２ビット分インクリメントして（ステップＳ
５）、インクリメントしたビットが後端ビットである
か、すなわち、１主走査線分比較処理を行ったかどうか
チェックし（ステップＳ６）、後端ビットでないときに
は、インクリメントした各奇数ビットと偶数ビットの信
号レベルを比較して、偶数ビットの信号レベルが奇数ビ
ットの信号レベルと同じかそれ以上大きいかをチェック
する（ステップＳ７）。

【００４６】ステップＳ７で、奇数ビットの信号レベル
の方が偶数ビットの信号レベルよりも大きいときには、
ＣＰＵ５は、奇数ビットの信号レベルと偶数ビットの信
号レベルの交差がないと判断して、ステップＳ５に戻っ
て、奇数ビット及び偶数ビットそれぞれの読み込みビッ
トを２ビット分インクリメントして、上記同様に比較処
理を行う（ステップＳ５〜ステップＳ７）。

【００４７】上記処理を順次行って、ステップＳ７で、
偶数ビットの信号レベルが奇数ビットの信号レベルと同
じかそれ以上大きいときには、ＣＰＵ５は、奇数ビット
の信号レベルと偶数ビットの信号レベルの交差が発生し
たと判断して、奇数ビットと偶数ビットの信号レベルの
交差回数をカウントする交点カウンタＡを「１」だけイ
ンクリメントし（ステップＳ８）、奇数ビット及び偶数
ビットそれぞれの読み込みビットを２ビット分インクリ
メントして（ステップＳ９）、後端ビットであるかどう
かチェックする（ステップＳ１０）。

【００４８】ステップＳ１０で、後端ビットでないとき
には、ＣＰＵ５は、奇数ビットの信号レベルが偶数ビッ
トの信号レベルより大きいかチェックし（ステップＳ１
１）、ステップＳ１１で、ＮＯのときには、ステップＳ
９に戻って、奇数ビット及び偶数ビットそれぞれの読み
込みビットを２ビット分インクリメントして（ステップ
Ｓ９）、上記同様に比較処理を行う（ステップＳ９〜ス
テップＳ１１）。

【００４９】ステップＳ１１で、奇数ビットの信号レベ
ルが偶数ビットの信号レベルより大きいと、ＣＰＵ５
は、奇数ビットの信号レベルと偶数ビットの信号レベル
の交差が発生したと判断して、交点カウンタＡを１だけ
インクリメントし（ステップＳ１２）、ステップＳ５に
移行して、上記同様に、奇数ビット及び偶数ビットそれ
ぞれの読み込みビットを２ビット分インクリメントして
（ステップＳ５）、比較処理を行う（ステップＳ５〜ス
テップＳ７）。

【００５０】上記比較処理を順次行い、ステップＳ６あ
るいはステップＳ１０で、後端ビットになると、ＣＰＵ
５は、１主走査線分の比較処理を完了したと判断して、
交点カウンタＡのカウント値を操作表示部８のディスプ
レイに表示出力し（ステップＳ１３）、調整モード処理
を終了する。

【００５１】上記ステップＳ４で、ＮＯの場合、すなわ
ち、偶数ビットの信号レベルが奇数ビットの信号レベル
より大きいか同じであるときには、ＣＰＵ５は、ステッ
プＳ９に移行して、上記同様に比較処理を行い（ステッ
プＳ９〜ステップＳ１２、ステップＳ５〜ステップＳ
８）、後端ビットまで比較処理を行うと、交点カウンタ
Ａのカウント値を操作表示部８のディスプレイに表示し
て（ステップＳ１３）、比較処理を終了する（ステップ
Ｓ１３）。

【００５２】また、上記比較処理を順次行って、上記ス
テップＳ７あるいはステップＳ１１で、比較処理の最初
からＮＯが続き、奇数ビットの信号レベルと偶数ビット
の信号レベルの逆転が発生することなく、ステップＳ６
あるいはステップＳ１０で後端ビットになると、ＣＰＵ
５は、交点カウンタＡのインクリメントを行うことな
く、交点カウンタＡのカウント値、すなわち、交差回数
が「０」であることを、操作表示部８のディスプレイに
表示出力して、調整モード処理を終了する（ステップＳ
１３）。

【００５３】したがって、光受光素子３の位置が等倍度
１００％からずれていると、そのずれ量に応じた奇数ビ
ットの信号レベルと偶数ビットの信号レベルの交差が発
生して、この交差回数を操作表示部８のディスプレイに
表示出力することができ、画像読取装置１のオペレータ
は、光受光素子３に位置ずれがどの程度発生しているか
を認識することができるとともに、この交差回数が減少
する方向に光受光素子３を移動調整することにより、適
切に光受光素子３の位置調整を行うことができる。その
結果、奇数ビットと偶数ビットの信号レベルの交差回数
が「０」になるように光受光素子３の位置調整を行うこ
とにより、光受光素子３を等倍度の位置に精度よく位置
調整することができ、従来のように、特別な測定機器を
用いることなく、安価で、簡単かつ精度よく光受光素子
３の位置調整を行うことができる。

【００５４】なお、上記の場合、操作表示部８のディス
プレイに、奇数ビットの信号レベルと偶数ビットの信号
レベルの交差回数を表示するものに限るものではなく、
例えば、図４及び図６に示したように、奇数ビットの信
号レベルと偶数ビットの信号レベルを、それぞれ表示す
るようにしてもよい。このように、信号レベルを表示す
ると、光受光素子３の位置ずれを視覚により映像として
視認することができ、より一層光受光素子３の位置ずれ
を精度よく表示することができる。その結果、光受光素
子３を等倍度の位置により一層簡単かつ精度よく位置調
整することができる。

【００５５】次に、光受光素子３の角度調整について説
明する。光受光素子３の角度調整においては、画像読取
装置１の読取最大幅及び読取最大長に合わせて、テスト
原稿１１をセットして、テスト原稿１１を上記同様にし
て読み取り、光受光素子３で光電変換した画像データを
画像データ処理部４でディジタル変換した後、画像デー
タ記憶部７に記憶させる。テスト原稿１１が正規位置に
正確にセットされ、光受光素子３に角度ずれがなく、位
置ずれがない場合に、当該テスト原稿１１の先端及び後
端の画素の画像の光受光素子３への入射画素位置は、予
め分かっており、この入射画素位置の情報が予めＣＰＵ
５のＲＯＭ等に格納されている。そして、ＣＰＵ５は、
後述するように、角度調整モードに設定されると、この
入射画素位置の情報を読み出して、操作表示部８のディ
スプレイの表示ドット数に対応させて変換して、テスト
原稿１１の先端位置と後端位置を所定の表示形式（例え
ば、矢印表示等）で表示出力させる。

【００５６】そして、テスト原稿１１の先端及び後端の
画像は、予め分かっており、また、これらのテスト原稿
１１の先端及び後端の画像を判別（認識）するための基
準信号レベルが、ＣＰＵ５のＲＯＭあるいは信号レベル
比較部６に予め格納されている。

【００５７】すなわち、光受光素子３に角度ずれがある
と、テスト原稿１１を読み取ったときの１主走査線分の
奇数データと偶数データは、図７に示すように、その先
端ビットが、光受光素子３の角度ずれがないときの正規
位置から始まらず、光受光素子３の角度ずれ量に応じた
画素分だけ（図７では、この画素分をディスプレイの表
示ドット数に合わせて変換されている。）位置ずれた位
置から開始し、また、主走査方向後端ビットが、光受光
素子３の角度ずれ量に応じた画素分だけ位置ずれた状態
で終了する。

【００５８】そこで、ＣＰＵ５は、操作表示部８のキー
操作により角度調整モードに設定されると、テスト原稿
１１を光受光素子３により読み取らせ、光受光素子３の
光電変換した画像データを画像データ処理部４でディジ
タル変換させて画像データ記憶部７に記憶させる。ＣＰ
Ｕ５は、この画像データ記憶部７に記憶されているテス
ト原稿１１の画像データの信号レベルを、信号レベル比
較部６により、予め設定されている上記基準信号レベル
と順次比較させ、その信号レベル差を数値に変換して、
操作表示部８のディスプレイに表示出力させる。

【００５９】したがって、光受光素子３の角度調整をす
る際、この操作表示部８のディスプレイに表示される信
号レベル差が「０」になるように、角度調整することに
より、特別の測定機器を用いることなく、安価に、か
つ、精度よく光受光素子３の角度調整を行うことができ
る。

【００６０】なお、この場合、操作表示部８のディスプ
レイに表示する内容としては、信号レベル差を表示する
ものに限るものではなく、例えば、図７に示したよう
に、奇数ビットの信号レベルと偶数ビットの信号レベル
のレベル値を線画として表示出力してもよく、また、こ
れらの線画とともに、上記正規画素位置を矢印等で表示
させるようにしてもよい。

【００６１】このようにすると、テスト原稿１１を光受
光素子３で読み取ったときの信号レベルの立ち上がりあ
るいは立ち下がり位置を上記正規画素位置に合わせるよ
うに、光受光素子３の角度調整を行うことにより、光受
光素子３を正規の角度に容易に調整することができる。

【００６２】以上、本発明者によってなされた発明を好
適な実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は
上記のものに限定されるものではなく、その要旨を逸脱
しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもな
い。

【００６３】例えば、上記実施の形態においては、角度
調整においても、位置調整の場合と同じテスト原稿１１
を使用しているが、角度調整においては、上記テスト原
稿１１に限るものではなく、例えば、真っ白のテスト原
稿１１であってもよい。要は、角度調整時のテスト原稿
としては、光受光素子３で光電変換した際に所定の信号
レベルの画像データを提供するものであればよい。

【００６４】

【発明の効果】請求項１記載の発明の画像読取装置によ
れば、光電変換素子で光電変換した際の信号レベルが異
なる２種類の画像が１画素毎に交互に記載されたテスト
原稿を読み取った画像データの奇数番目と偶数番目の信
号レベルを比較して、奇数番目の信号レベルと偶数番目
の信号レベルの大小関係が逆転する回数を算出し、この
回数を表示出力するので、等倍度のずれ量を数値として
適切に把握することができ、特別な測定器具を用いるこ
となく、精度よく光電変換素子の位置調整を行うことが
できる。その結果、光電変換素子の等倍度を安価に、か
つ、精度よく調整することができる。

【００６５】

【００６６】請求項２記載の発明の画像読取装置によれ
ば、テスト原稿を光電変換素子で読み取った画像データ
の奇数番目と偶数番目の信号レベルをそれぞれ線画とし
て表示するので、等倍度のずれ量を視覚により映像とし
てより一層適切に把握することができ、より一層精度よ
く光電変換素子の位置調整を行って、等倍度をより一層
精度よく調整することができる。

【００６７】

【００６８】

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の画像読取装置の一実施の形態を適用し
た画像読取装置の要部ブロック構成図。

【図２】図１の画像読取装置による位置調整処理を示す
フローチャート。

【図３】光受光素子の位置調整が適切な場合のテスト原
稿の画像と光受光素子の各読取画素との対応関係を示す
図。

【図４】光受光素子の位置調整が適切な場合のテスト原
稿を光受光素子で読み取った場合の１主走査線分の画像
データの奇数ビットデータと偶数ビットデータの信号レ
ベルを示す図。

【図５】光受光素子の位置調整が不適切な場合のテスト
原稿の画像と光受光素子の各読取画素との対応関係を示
す図。

【図６】光受光素子の位置調整が不適切な場合のテスト
原稿を光受光素子で読み取った場合の１主走査線分の画
像データの奇数ビットデータと偶数ビットデータの信号
レベルを示す図。

【図７】光受光素子の角度調整が不適切な場合のテスト
原稿を光受光素子で読み取った場合の１主走査線分の画
像データの奇数ビットデータと偶数ビットデータの信号
レベルを示す図。

【符号の説明】

１ 画像読取装置 ２ 光源 ３ 光受光素子 ４ 画像データ処理部 ５ ＣＰＵ ６ 信号レベル比較部 ７ 画像データ記憶部 ８ 操作表示部 ９ バス １０ 原稿 １１ テスト原稿

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】原稿からの光を、前記原稿から所定距離離
   れた位置に入射光に対して所定角度で配設された光電変
   換素子で、画素毎に画像データに光電変換して前記原稿
   の画像を読み取る画像読取装置において、前記光電変換
   素子で光電変換した画像データを少なくとも１主走査線
   分記憶する画像データ記憶手段と、前記画像データ記憶
   手段に記憶されている前記画像データの隣接する奇数番
   目の画像データと偶数番目の画像データの信号レベルを
   比較する信号レベル比較手段と、前記信号レベル比較手
   段の比較結果を所定の出力形式で出力する出力手段と、
   を備え、前記光電変換素子で光電変換した際の信号レベ
   ルが異なる２種類の画像が１画素毎に交互に記載された
   所定のテスト原稿を前記光電変換素子で光電変換して、
   前記画像データ記憶手段に記憶し、前記信号レベル比較
   手段は、前記隣接する奇数番目の画像データと偶数番目
   の画像データの信号レベルを比較して、奇数番目の画像
   データと偶数番目の画像データの信号レベルの大小関係
   が逆転する回数を算出し、前記出力手段は、前記信号レ
   ベル比較手段の算出した前記大小関係が逆転する回数を
   表示出力することを特徴とする画像読取装置。
2. 【請求項２】原稿からの光を、前記原稿から所定距離離
   れた位置に入射光に対して所定角度で配設された光電変
   換素子で、画素毎に画像データに光電変換して前記原稿
   の画像を読み取る画像読取装置において、前記光電変換
   素子で光電変換した画像データを少なくとも１主走査線
   分記憶する画像データ記憶手段と、所定のドット数で画
   像を表示する表示手段と、を備え、前記光電変換素子で
   光電変換した際の信号レベルが異なる２種類の画像が１
   画素毎に交互に記載された所定のテスト原稿を前記光電
   変換素子で光電変換して、前記画像データ記憶手段に記
   憶し、当該画像データ記憶手段に記憶した前記テスト原
   稿の奇数番目の画像データの信号レベルと偶数番目の画
   像データの信号レベルをそれぞれ前記表示手段に線画と
   して表示出力することを特徴とする画像読取装置。