JP3312140B2 - 光電スイッチ - Google Patents
光電スイッチInfo
- Publication number
- JP3312140B2 JP3312140B2 JP12557792A JP12557792A JP3312140B2 JP 3312140 B2 JP3312140 B2 JP 3312140B2 JP 12557792 A JP12557792 A JP 12557792A JP 12557792 A JP12557792 A JP 12557792A JP 3312140 B2 JP3312140 B2 JP 3312140B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- output
- level
- circuit
- light receiving
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
- Switches Operated By Changes In Physical Conditions (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光電スイッチに関し、特
に投光素子の劣化や内部回路の異常を検知するための構
成に特徴を有する光電スイッチに関するものである。
に投光素子の劣化や内部回路の異常を検知するための構
成に特徴を有する光電スイッチに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光電スイッチは投光部より光を照射しそ
の光を直接又は物体からの反射光を受光することによっ
て物体の有無を判別している。従って投光素子の投光レ
ベルが一定である必要があり、そのレベルが低下した場
合にはあらかじめそれを識別する必要がある。このため
例えば実願平２-66467号に示されるように、投光素子の
投光レベルを検出し、劣化を予知するための装置が提案
されている。これは図６に示すように発振回路１より周
期的に投光パルスを発生し、投光回路２を介して投光素
子３を駆動する。このとき投光素子３の光ビームが反射
物体により反射して受光素子４により受光される。受光
素子４の出力は増幅器５を介しコンパレータ６によって
所定の閾値で弁別され、信号処理回路７によって信号処
理を行って物体検知信号を出力回路８より出力してい
る。そして投光素子３の光ビームの一部は劣化検知用の
受光素子９に与えられる。受光素子９の出力は増幅器１
０を介してコンパレータ１１によって弁別され、所定の
閾値以下であればＬＥＤ劣化予知信号出力回路１２によ
って劣化が予知され、表示器１３によって表示するよう
にしている。
の光を直接又は物体からの反射光を受光することによっ
て物体の有無を判別している。従って投光素子の投光レ
ベルが一定である必要があり、そのレベルが低下した場
合にはあらかじめそれを識別する必要がある。このため
例えば実願平２-66467号に示されるように、投光素子の
投光レベルを検出し、劣化を予知するための装置が提案
されている。これは図６に示すように発振回路１より周
期的に投光パルスを発生し、投光回路２を介して投光素
子３を駆動する。このとき投光素子３の光ビームが反射
物体により反射して受光素子４により受光される。受光
素子４の出力は増幅器５を介しコンパレータ６によって
所定の閾値で弁別され、信号処理回路７によって信号処
理を行って物体検知信号を出力回路８より出力してい
る。そして投光素子３の光ビームの一部は劣化検知用の
受光素子９に与えられる。受光素子９の出力は増幅器１
０を介してコンパレータ１１によって弁別され、所定の
閾値以下であればＬＥＤ劣化予知信号出力回路１２によ
って劣化が予知され、表示器１３によって表示するよう
にしている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
な従来の光源劣化を予知する方法では、物体検知用の受
光素子４に加えて投光レベルをモニタするための他の受
光素子９及びその出力を処理するための受光信号処理部
が必要となる。従って反射光用の受光信号処理部に異常
が発生し光電スイッチが誤動作しても、その異常を検知
することができないという欠点があった。
な従来の光源劣化を予知する方法では、物体検知用の受
光素子４に加えて投光レベルをモニタするための他の受
光素子９及びその出力を処理するための受光信号処理部
が必要となる。従って反射光用の受光信号処理部に異常
が発生し光電スイッチが誤動作しても、その異常を検知
することができないという欠点があった。
【０００４】本発明はこのような従来の問題点に鑑みて
なされたものであって、投光レベルのモニタ用の受光信
号処理部と反射光用受光信号処理部とを共通にすること
によってこのような問題点を解決することを目的とす
る。
なされたものであって、投光レベルのモニタ用の受光信
号処理部と反射光用受光信号処理部とを共通にすること
によってこのような問題点を解決することを目的とす
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は投光素子を有す
る投光部と、投光素子より照射された光のうち物体から
の反射光を受光すると共に、投光素子の光の一部を直接
受光する受光素子と、受光素子の受光出力を第１の閾値
レベルで弁別する第１のレベル弁別手段と、受光素子の
受光出力を第１の閾値レベルより高い第２の閾値レベル
で弁別する第２のレベル弁別手段と、第１のレベル弁別
手段の出力が得られないときに異常信号を出力する診断
信号処理手段と、第２のレベル弁別手段からの出力に基
づいて物体の有無を検知する検出信号処理手段と、を具
備することを特徴とするものである。
る投光部と、投光素子より照射された光のうち物体から
の反射光を受光すると共に、投光素子の光の一部を直接
受光する受光素子と、受光素子の受光出力を第１の閾値
レベルで弁別する第１のレベル弁別手段と、受光素子の
受光出力を第１の閾値レベルより高い第２の閾値レベル
で弁別する第２のレベル弁別手段と、第１のレベル弁別
手段の出力が得られないときに異常信号を出力する診断
信号処理手段と、第２のレベル弁別手段からの出力に基
づいて物体の有無を検知する検出信号処理手段と、を具
備することを特徴とするものである。
【０００６】
【作用】このような特徴を有する本発明によれば、投光
素子から光を物体検知領域に照射しており、受光素子に
よってその反射光及び投光素子の光の一部を直接受光し
ている。そして物体が検知されない状態では受光素子の
出力が第１の閾値レベルを越える場合に投光素子が正常
なレベルと判別し、このレベル以下となれば診断信号処
理手段により回路の異常を検知している。又物体からの
反射光が受光され第２の閾値レベルを越えるので、第２
のレベル弁別手段の出力に基づいて物体を検知してい
る。
素子から光を物体検知領域に照射しており、受光素子に
よってその反射光及び投光素子の光の一部を直接受光し
ている。そして物体が検知されない状態では受光素子の
出力が第１の閾値レベルを越える場合に投光素子が正常
なレベルと判別し、このレベル以下となれば診断信号処
理手段により回路の異常を検知している。又物体からの
反射光が受光され第２の閾値レベルを越えるので、第２
のレベル弁別手段の出力に基づいて物体を検知してい
る。
【０００７】
【実施例】図１は本発明の一実施例による光電スイッチ
の構成を示すブロック図、図２はその構成を示す回路図
である。これらの図において２１は所定の周期で投光パ
ルスを発生する発振回路であり、その出力は投光回路２
２に与えられる。投光回路２２は投光パルスに基づいて
投光素子である発光ダイオード２３を駆動するものであ
る。そしてこの投光素子の光の一部及び物体からの反射
光を受光するために受光素子２４が設けられる。受光素
子２４の受光出力は増幅回路２５を介して、第１，第２
のレベル弁別手段であるコンパレータ２６，２７に与え
られる。コンパレータ２６は第１の閾値Ｖth1 、コンパ
レータ２７は第２の閾値Ｖth2 （Ｖth1 ＜Ｖth2 ）のレ
ベルで入力信号を弁別するものであって、その出力は夫
々診断信号処理回路２８及び検出信号処理回路２９に与
えられる。可変抵抗２７Ｒはコンパレータ２７の閾値Ｖ
th2 を調整するための可変抵抗である。又発振回路２１
からの投光パルスは遅延回路３０を介して診断信号処理
回路２８及び検出信号処理回路２９に与えられている。
検出信号処理回路２９は所定周期連続してコンパレータ
２７から信号が得られたときに物体を判別するものであ
って、その出力は検出出力回路３１を介して物体検知信
号として出力される。又診断信号処理回路２８は連続し
てコンパレータ２６から出力が得られないときに、内部
回路の異常を判別するものである。その出力は診断出力
回路３２を介して外部に出力される。
の構成を示すブロック図、図２はその構成を示す回路図
である。これらの図において２１は所定の周期で投光パ
ルスを発生する発振回路であり、その出力は投光回路２
２に与えられる。投光回路２２は投光パルスに基づいて
投光素子である発光ダイオード２３を駆動するものであ
る。そしてこの投光素子の光の一部及び物体からの反射
光を受光するために受光素子２４が設けられる。受光素
子２４の受光出力は増幅回路２５を介して、第１，第２
のレベル弁別手段であるコンパレータ２６，２７に与え
られる。コンパレータ２６は第１の閾値Ｖth1 、コンパ
レータ２７は第２の閾値Ｖth2 （Ｖth1 ＜Ｖth2 ）のレ
ベルで入力信号を弁別するものであって、その出力は夫
々診断信号処理回路２８及び検出信号処理回路２９に与
えられる。可変抵抗２７Ｒはコンパレータ２７の閾値Ｖ
th2 を調整するための可変抵抗である。又発振回路２１
からの投光パルスは遅延回路３０を介して診断信号処理
回路２８及び検出信号処理回路２９に与えられている。
検出信号処理回路２９は所定周期連続してコンパレータ
２７から信号が得られたときに物体を判別するものであ
って、その出力は検出出力回路３１を介して物体検知信
号として出力される。又診断信号処理回路２８は連続し
てコンパレータ２６から出力が得られないときに、内部
回路の異常を判別するものである。その出力は診断出力
回路３２を介して外部に出力される。
【０００８】さて図２に示すように、遅延回路３０は例
えば複数のインバータを縦続接続して構成することがで
きる。又診断信号処理回路２８及び検出信号処理回路２
９は例えばＤ型フリップフロップによって構成できる。
更に検出出力回路３１及び診断出力回路３２はこのＤ型
フリップフロップのＱバー出力に基づいて駆動され表示
用の発光ダイオードを有し、又オープンコレクタ型の出
力を有するものである。
えば複数のインバータを縦続接続して構成することがで
きる。又診断信号処理回路２８及び検出信号処理回路２
９は例えばＤ型フリップフロップによって構成できる。
更に検出出力回路３１及び診断出力回路３２はこのＤ型
フリップフロップのＱバー出力に基づいて駆動され表示
用の発光ダイオードを有し、又オープンコレクタ型の出
力を有するものである。
【０００９】次に投受光素子の光学系の構成について図
３を参照しつつ説明する。図３（ａ）は光学系の構成を
示す部分断面図である。本図において投光素子２３及び
受光素子２４の前面に一体化した凸レンズ３３が配置さ
れ、投光素子２３の光をレンズ部３３ａにより平行光と
して物体検知領域に照射している。又図示しない物体か
らの反射光はレンズ３３の受光素子側レンズ部２３ｂで
集光され、受光素子２４に集束される。さて投受光素子
２３，２４の間には図示のように遮蔽板３４が設けら
れ、通常はこの間が遮蔽されている。しかし本実施例で
は遮蔽板３４に図示のように貫通孔３４ａを設け、その
内壁を反射面としておく。こうすれば投光素子２３から
照射された光の一部が、図示のように貫通孔３４ａ内を
反射して受光素子２４に入射することとなる。
３を参照しつつ説明する。図３（ａ）は光学系の構成を
示す部分断面図である。本図において投光素子２３及び
受光素子２４の前面に一体化した凸レンズ３３が配置さ
れ、投光素子２３の光をレンズ部３３ａにより平行光と
して物体検知領域に照射している。又図示しない物体か
らの反射光はレンズ３３の受光素子側レンズ部２３ｂで
集光され、受光素子２４に集束される。さて投受光素子
２３，２４の間には図示のように遮蔽板３４が設けら
れ、通常はこの間が遮蔽されている。しかし本実施例で
は遮蔽板３４に図示のように貫通孔３４ａを設け、その
内壁を反射面としておく。こうすれば投光素子２３から
照射された光の一部が、図示のように貫通孔３４ａ内を
反射して受光素子２４に入射することとなる。
【００１０】図３（ｂ）は投光素子２３の光の一部を受
光素子２４に入射させるための他の構成例を示す図であ
る。この例では遮蔽板３５に貫通孔を設けず、その先端
面と一体化レンズ３３との当接面を細くしている。そし
て図３（ｃ）に円形部Ａの拡大図を示すように、投光素
子２３からの光の一部が一体化レンズ３３の表面で反射
して受光素子２４側に入射するように構成している。
光素子２４に入射させるための他の構成例を示す図であ
る。この例では遮蔽板３５に貫通孔を設けず、その先端
面と一体化レンズ３３との当接面を細くしている。そし
て図３（ｃ）に円形部Ａの拡大図を示すように、投光素
子２３からの光の一部が一体化レンズ３３の表面で反射
して受光素子２４側に入射するように構成している。
【００１１】次に本実施例の動作について図４を参照し
つつ説明する。図４（ａ）〜（ｉ）は図２のａ〜ｉの各
部の波形を示す波形図である。図４（ａ）は発振回路２
１から出力される投光パルスを示しており、（ｂ）はこ
の投光パルスに同期して駆動される投光素子２３の光量
レベルである。そして光電スイッチに対向する反射物体
がない期間Ｔ１には、物体からの反射光が得られないた
め、図４（ｃ）に示すように投光素子２３の光の一部の
みが図３（ａ）に示す遮光板３４の貫通孔３４ａ等を通
過して受光素子２４に与えられる。従って受光素子２４
の出力は図４の期間Ｔ１のように投光パルスに対応して
低いレベルの出力が得られる。投光素子２３が劣化して
いない状態でこの受光レベルが閾値Ｖth1 とＶth2 の間
になるようにしておけば、コンパレータ２６のみから図
４（ｇ）に示す信号が得られる。そして遅延回路３０に
よって遅延した図４（ｅ）に示す信号によってこの出力
が診断信号処理回路２８のＤ型フリップフロップによっ
て保持される。従ってＱバー出力はＬレベルとなり、光
源の劣化を示す診断出力は診断出力回路３２より出力さ
れない。
つつ説明する。図４（ａ）〜（ｉ）は図２のａ〜ｉの各
部の波形を示す波形図である。図４（ａ）は発振回路２
１から出力される投光パルスを示しており、（ｂ）はこ
の投光パルスに同期して駆動される投光素子２３の光量
レベルである。そして光電スイッチに対向する反射物体
がない期間Ｔ１には、物体からの反射光が得られないた
め、図４（ｃ）に示すように投光素子２３の光の一部の
みが図３（ａ）に示す遮光板３４の貫通孔３４ａ等を通
過して受光素子２４に与えられる。従って受光素子２４
の出力は図４の期間Ｔ１のように投光パルスに対応して
低いレベルの出力が得られる。投光素子２３が劣化して
いない状態でこの受光レベルが閾値Ｖth1 とＶth2 の間
になるようにしておけば、コンパレータ２６のみから図
４（ｇ）に示す信号が得られる。そして遅延回路３０に
よって遅延した図４（ｅ）に示す信号によってこの出力
が診断信号処理回路２８のＤ型フリップフロップによっ
て保持される。従ってＱバー出力はＬレベルとなり、光
源の劣化を示す診断出力は診断出力回路３２より出力さ
れない。
【００１２】さてこの光電スイッチの前面に物体が近接
した期間Ｔ２では、投光素子２３から照射された光ビー
ムが物体によって反射され受光素子２４に入光する。従
って図４（ｃ）に示すようにその反射光レベルは高くな
る。この受光レベルが閾値Ｖth2 を越えたときにはコン
パレータ２７から図４（ｄ）に示す出力が得られること
となる。従って検出信号処理回路２９によってその出力
が保持され、図４（ｆ）に示す物体検知信号が得られ
る。そして光電スイッチの前面から物体が移動した期間
Ｔ３には受光レベルが閾値Ｖth2 以下となるため、図４
（ｆ）に示すように物体が検知されない状態に変化す
る。
した期間Ｔ２では、投光素子２３から照射された光ビー
ムが物体によって反射され受光素子２４に入光する。従
って図４（ｃ）に示すようにその反射光レベルは高くな
る。この受光レベルが閾値Ｖth2 を越えたときにはコン
パレータ２７から図４（ｄ）に示す出力が得られること
となる。従って検出信号処理回路２９によってその出力
が保持され、図４（ｆ）に示す物体検知信号が得られ
る。そして光電スイッチの前面から物体が移動した期間
Ｔ３には受光レベルが閾値Ｖth2 以下となるため、図４
（ｆ）に示すように物体が検知されない状態に変化す
る。
【００１３】さて期間Ｔ４に示すように、投光素子２３
の光量レベルが低下したものとする。そうすれば図４
（ｃ）に示すように受光素子２４の受光レベルも低下
し、閾値Ｖth1 以下となる。この場合にはコンパレータ
２６の出力はＬレベルであるため、遅延回路３０の出力
によってラッチされ、Ｑバー出力は図４（ｈ）に示すよ
うにＨレベルとなる。従って投光素子の劣化が検知され
診断出力回路３２内の表示素子が点灯し、外部に診断信
号を出力することができる。
の光量レベルが低下したものとする。そうすれば図４
（ｃ）に示すように受光素子２４の受光レベルも低下
し、閾値Ｖth1 以下となる。この場合にはコンパレータ
２６の出力はＬレベルであるため、遅延回路３０の出力
によってラッチされ、Ｑバー出力は図４（ｈ）に示すよ
うにＨレベルとなる。従って投光素子の劣化が検知され
診断出力回路３２内の表示素子が点灯し、外部に診断信
号を出力することができる。
【００１４】又期間Ｔ５に示すように、投光パルスに対
応して投光素子が発光し、その投光レベルが正常な状態
であっても、受光素子２４の破損や増幅器２５の故障に
よって図４（ｃ）に示すように出力が得られなければ、
診断信号が出力される。従って本発明では投光素子の光
量レベルの低下だけでなく、受光素子やその増幅器等の
異常及び投光素子自体の異常を同時に診断することがで
きる。
応して投光素子が発光し、その投光レベルが正常な状態
であっても、受光素子２４の破損や増幅器２５の故障に
よって図４（ｃ）に示すように出力が得られなければ、
診断信号が出力される。従って本発明では投光素子の光
量レベルの低下だけでなく、受光素子やその増幅器等の
異常及び投光素子自体の異常を同時に診断することがで
きる。
【００１５】次に本発明の第２実施例について説明す
る。図５は本発明の第２実施例による光電スイッチの構
成を示すブロック図であり、図１と同一部分は同一符号
を付して詳細な説明を省略する。本実施例においても発
振回路２１の出力が投光回路２２に与えられ、投光素子
２３を周期的に駆動するようにしており、受光系の構成
についても第１実施例と同様である。本実施例では外部
からの診断信号を受入れる外部診断回路４１を有してい
る。この外部診断回路４１の出力は投光素子２３の両端
を短絡するスイッチ４２及びＥＯＲ回路４３の一方の入
力端に与えられる。診断信号処理回路２８の出力端はＥ
ＯＲ回路４３の他方の入力端に接続され、ＥＯＲ回路４
３の出力は診断出力回路３２に接続されている。
る。図５は本発明の第２実施例による光電スイッチの構
成を示すブロック図であり、図１と同一部分は同一符号
を付して詳細な説明を省略する。本実施例においても発
振回路２１の出力が投光回路２２に与えられ、投光素子
２３を周期的に駆動するようにしており、受光系の構成
についても第１実施例と同様である。本実施例では外部
からの診断信号を受入れる外部診断回路４１を有してい
る。この外部診断回路４１の出力は投光素子２３の両端
を短絡するスイッチ４２及びＥＯＲ回路４３の一方の入
力端に与えられる。診断信号処理回路２８の出力端はＥ
ＯＲ回路４３の他方の入力端に接続され、ＥＯＲ回路４
３の出力は診断出力回路３２に接続されている。
【００１６】次に本実施例の動作について説明する。外
部診断回路４１に外部から診断信号が入力されなければ
スイッチ４２はオフ状態であり、ＥＯＲ回路４３の一方
の入力は常にＬレベルであるため第１実施例と同様の動
作をする。そして外部診断信号が入力されれば投光素子
２３の両端が短絡されるため、投光が停止する。この状
態では、内部回路の異常が診断できる。この場合には増
幅器２５の出力は常にＬレベルとなり、コンパレータ２
６，２７の出力もＬレベルとなり、診断信号処理回路２
０の出力は遅延出力によってラッチされてＨレベルとな
る。従ってその論理を反転するためＥＯＲ回路４３が設
けられており、その出力によってＬレベルの信号が診断
出力回路３２に与えられる。そのため正常であれば異常
診断信号は出されない。しかし内部回路に何らかの異常
があればその論理が反転するため、診断出力回路３２に
Ｈレベルの出力が与えられ、異常が検知される。従って
受光素子２４や増幅器２５，コンパレータ２６等の異常
を検知することができる。
部診断回路４１に外部から診断信号が入力されなければ
スイッチ４２はオフ状態であり、ＥＯＲ回路４３の一方
の入力は常にＬレベルであるため第１実施例と同様の動
作をする。そして外部診断信号が入力されれば投光素子
２３の両端が短絡されるため、投光が停止する。この状
態では、内部回路の異常が診断できる。この場合には増
幅器２５の出力は常にＬレベルとなり、コンパレータ２
６，２７の出力もＬレベルとなり、診断信号処理回路２
０の出力は遅延出力によってラッチされてＨレベルとな
る。従ってその論理を反転するためＥＯＲ回路４３が設
けられており、その出力によってＬレベルの信号が診断
出力回路３２に与えられる。そのため正常であれば異常
診断信号は出されない。しかし内部回路に何らかの異常
があればその論理が反転するため、診断出力回路３２に
Ｈレベルの出力が与えられ、異常が検知される。従って
受光素子２４や増幅器２５，コンパレータ２６等の異常
を検知することができる。
【００１７】尚前述した第１，第２実施例では２つのコ
ンパレータ２６，２７と診断信号処理回路２８，検出信
号処理回路２９をハードウェアで構成しているが、増幅
出力をＡ／Ｄ変換しその処理をマイクロコンピュータに
よって実現することも可能である。
ンパレータ２６，２７と診断信号処理回路２８，検出信
号処理回路２９をハードウェアで構成しているが、増幅
出力をＡ／Ｄ変換しその処理をマイクロコンピュータに
よって実現することも可能である。
【００１８】
【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明によれ
ば、投光素子の光の一部を直接受光素子に与えるように
している。そのためモニタ用の受光素子やその増幅回路
が不要となる。従って図６に示す従来例よりも回路構成
を簡略化することができる。そして本発明では光電スイ
ッチの投光素子の劣化や異常だけでなく、受光素子を含
む全ての回路の異常を診断することができるという優れ
た効果が得られる。
ば、投光素子の光の一部を直接受光素子に与えるように
している。そのためモニタ用の受光素子やその増幅回路
が不要となる。従って図６に示す従来例よりも回路構成
を簡略化することができる。そして本発明では光電スイ
ッチの投光素子の劣化や異常だけでなく、受光素子を含
む全ての回路の異常を診断することができるという優れ
た効果が得られる。
【図１】本発明の第１実施例による光電スイッチの構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図２】本発明の第１実施例による光電スイッチの回路
図である。
図である。
【図３】（ａ）は本実施例の投受光部の光学系の構成例
を示す断面図、（ｂ）は他の構成例を示す断面図、
（ｃ）はその一点鎖線部分Ａの拡大断面図である。
を示す断面図、（ｂ）は他の構成例を示す断面図、
（ｃ）はその一点鎖線部分Ａの拡大断面図である。
【図４】第１実施例の動作を示すタイムチャートであ
る。
る。
【図５】本発明の第２実施例による光電スイッチの全体
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図６】従来の光電スイッチの一例を示すブロック図で
ある。
ある。
２１ 発振回路 ２２ 投光回路 ２３ 投光素子 ２４ 受光素子 ２５ 増幅器 ２６，２７ コンパレータ ２８ 診断信号処理回路 ２９ 検出信号処理回路 ３０ 遅延回路 ３１ 検出出力回路 ３２ 診断出力回路 ３３ 一体型レンズ ３４ 遮蔽板 ３４ａ 貫通孔 ４１ 外部診断回路 ４２ スイッチ ４３ ＥＯＲ回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平２−186715（ＪＰ，Ａ) 特開 昭52−122876（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−311721（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−169519（ＪＰ，Ａ) 実開 平４−25325（ＪＰ，Ｕ) 実開 平５−6937（ＪＰ，Ｕ) 実開 平２−82132（ＪＰ，Ｕ) 実開 平１−7431（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H03K 17/78 G01S 7/48 H01H 35/00
Claims (1)
- 【請求項１】 投光素子を有する投光部と、 前記投光素子より照射された光のうち物体からの反射光
を受光すると共に、前記投光素子の光の一部を直接受光
する受光素子と、 前記受光素子の受光出力を第１の閾値レベルで弁別する
第１のレベル弁別手段と、 前記受光素子の受光出力を前記第１の閾値レベルより高
い第２の閾値レベルで弁別する第２のレベル弁別手段
と、 前記第１のレベル弁別手段の出力が得られないときに異
常信号を出力する診断信号処理手段と、 前記第２のレベル弁別手段からの出力に基づいて物体の
有無を検知する検出信号処理手段と、を具備することを
特徴とする光電スイッチ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12557792A JP3312140B2 (ja) | 1992-04-17 | 1992-04-17 | 光電スイッチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12557792A JP3312140B2 (ja) | 1992-04-17 | 1992-04-17 | 光電スイッチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05299997A JPH05299997A (ja) | 1993-11-12 |
| JP3312140B2 true JP3312140B2 (ja) | 2002-08-05 |
Family
ID=14913629
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12557792A Expired - Fee Related JP3312140B2 (ja) | 1992-04-17 | 1992-04-17 | 光電スイッチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3312140B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006188301A (ja) * | 2004-12-28 | 2006-07-20 | Toshiba Elevator Co Ltd | 乗客コンベアの乗客検出装置 |
| JP5231118B2 (ja) * | 2008-07-24 | 2013-07-10 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 受光アンプ回路 |
-
1992
- 1992-04-17 JP JP12557792A patent/JP3312140B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05299997A (ja) | 1993-11-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4891624A (en) | Rearward vehicle obstruction detector using modulated light from the brake light elements | |
| JPH0244385B2 (ja) | ||
| KR920005759A (ko) | 발광 어레이의 진단장치 | |
| JP3312140B2 (ja) | 光電スイッチ | |
| JPH08139583A (ja) | タッチキー | |
| JP3484781B2 (ja) | ダストセンサ | |
| JPS62293400A (ja) | 赤外線式侵入者検知器 | |
| JP3062265B2 (ja) | 光電スイッチ | |
| JP3341025B2 (ja) | 光電スイッチ | |
| JP3392908B2 (ja) | 光エリアセンサ | |
| JP3198528B2 (ja) | 光センサおよびその動作方法 | |
| SU1668852A1 (ru) | Датчик касани | |
| JP3050426B2 (ja) | マルチビームセンサ | |
| JP3293044B2 (ja) | 光電スイッチ | |
| JPH06140901A (ja) | 光電スイッチ | |
| JPH08292260A (ja) | 自己診断機能を有する光電センサ | |
| JPS6126886A (ja) | 物体検知装置 | |
| JP2726888B2 (ja) | レーザ照射検知器 | |
| JPS61218978A (ja) | 距離限定型光センサ | |
| JPS61269522A (ja) | 光電スイツチ | |
| JPS5852516Y2 (ja) | 光電式煙感知器 | |
| SU1453173A1 (ru) | Фотоэлектрический датчик положени | |
| JP3402046B2 (ja) | 寸法測定装置 | |
| JP2522622B2 (ja) | 薄板状物検数器 | |
| JPH0936725A (ja) | 光電センサ |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |