JP3310016B2 - 円形被検査物の検査装置 - Google Patents

円形被検査物の検査装置

Info

Publication number
JP3310016B2
JP3310016B2 JP14990792A JP14990792A JP3310016B2 JP 3310016 B2 JP3310016 B2 JP 3310016B2 JP 14990792 A JP14990792 A JP 14990792A JP 14990792 A JP14990792 A JP 14990792A JP 3310016 B2 JP3310016 B2 JP 3310016B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
inspection object
pattern
edge
circular
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP14990792A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH05322519A (ja
Inventor
憲敬 斎藤
正樹 布施
忠 須賀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Chemical Corp
Mitsubishi Rayon Co Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Chemical Corp
Mitsubishi Rayon Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Chemical Corp, Mitsubishi Rayon Co Ltd filed Critical Mitsubishi Chemical Corp
Priority to JP14990792A priority Critical patent/JP3310016B2/ja
Publication of JPH05322519A publication Critical patent/JPH05322519A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3310016B2 publication Critical patent/JP3310016B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Inking, Control Or Cleaning Of Printing Machines (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、瓶その他の容器のキャ
ップ等の円形の被検査物上の印刷パターンが正常印刷位
置に印刷されているか否かを検査する円形被検査物の検
査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】被検査物上の印刷パターン等の位置ずれ
を検査する装置としては、CCD(電荷結合素子)と画
像処理装置を組み合わせたものが数多く提案されてい
る。このような検査装置では、被検査物のエッジを検出
するとともに、投影パターンから印刷パターンの位置ず
れを検出するように構成されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな検査装置では、被検査物のエッジを検出するので矩
形の被検査物を検査することができるが、円形の被検査
物が検査位置においてXY方向にずれていたり、図2
(c)に示すように被検査物がXY平面において回転し
ている場合には角度に応じてエッジ座標や投影パターン
の形状が異なるので、円形の被検査物を検査することが
できないという問題点がある。
【0004】本発明は上記従来の問題点に鑑み、円形の
被検査物上の印刷パターンの位置ずれを検査することが
できる検査装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、被検査物の検査位置における中心位置の位
置ずれを補正した後、被検査物の外周とパターンの正常
印刷位置の最外周位置の間の画素数をカウントするよう
にしている。すなわち本発明によれば、パターンが印刷
された円形の被検査物を撮像する撮像手段と、前記撮像
手段により撮像された画像から被検査物のXY平面にお
ける2ヶ所のエッジ座標を検出するエッジ検出手段と、
前記エッジ検出手段により検出されたエッジ座標と被検
査物の正常検査位置のエッジ座標に基づいて被検査物の
検査位置における中心位置の位置ずれを補正する補正手
段と、前記補正手段により補正された被検査物の外周と
パターンの正常印刷位置の最外周位置の間の画素数をカ
ウントし、そのカウント値を所定値と比較することによ
り、パターンが被検査物の正常印刷位置に印刷されてい
るか否かを判定する判定手段とを有する円形被検査物の
検査装置が提供される。
【0006】
【作用】本発明は上記構成を有するので、検査位置にお
ける中心位置の位置ずれが補正された被検査物の外周と
パターンの正常印刷位置の最外周位置の間の画素数がカ
ウントされ、パターンが被検査物の正常位置に印刷され
ているか否かが判定される。被検査物の検査位置におけ
る中心位置の位置ずれが補正されているので、被検査物
が検査位置において回転していても、被検査物の外周と
パターンの正常印刷位置の最外周位置の間の画素数をカ
ウントし、そのカウント値を所定値と比較することによ
りパターンが被検査物の正常印刷位置に印刷されている
か否かを判定することができる。
【0007】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図1は、本発明に係る円形被検査物の検査装置の
一実施例を示すブロック図、図2は、円形被検査物上の
印刷パターンの判定方法を示す説明図、図3は、図1の
検査装置における中心位置の位置ずれ補正方法を示す説
明図である。
【0008】図1において、例えば瓶のキャップ等の円
形の被検査物1は送り機構2により1個毎に図中円形の
点線で示す検査位置に搬送され、被検査物1が検査位置
にセットされたときに送り機構2から画像処理装置3に
対して検査スタート信号が出力される。なお、被検査物
1のサイズは例えば数十mmφであり、図2に示すよう
なパターン11が印刷されているものとする。また、画
像処理装置3としては、一例として三菱レイヨン社製の
オプティカルエリアチェッカFSC−100型が用いら
れている。
【0009】検査位置の上方にはCCDカメラ4が固定
され、CCDカメラ4のCマウントアダプタには一例と
してf=50mmのマクロレンズ4aが取り付けられて
いる。検査位置の上方にはまた、被検査物1を全周に渡
って均一に照明するためのリング状ライトガイド7が固
定され、このライトガイド7には光源8の光が導かれ
る。なお、ライトガイド7の出射角度は、CCDカメラ
4が被検査物1の正反射光を受光しないように、一例と
して70°に設定されている。
【0010】設定ユニット5は予め、画像処理装置3の
検査条件を設定したり、プログラムを作成することがで
き、また、画像処理装置3により処理された画像や判定
結果等は、モニタTV6を介してモニタ可能である。画
像処理装置3はまず、設定ユニット5を介して設定され
た所定の閾値でCCDカメラ4により撮像された画像を
2値化することにより被検査物1の外周部(エッジ)
と、その上の印刷パターンと背景部に分離する。分離さ
れたデータは図示しないメモリに格納される。画像処理
装置3は、まず図3に示すようにこのエッジとウインド
ウ9、10に基づいて被検査物1の検査位置における中
心位置の位置ずれを補正する。その後図2に示すような
円形のウインドウ12、13を用いて被検査物1の外周
とパターン11の正常印刷位置の最外周位置の間の画素
数をカウントし、カウント値が所定値より大きいか否か
を判断することにより、パターン11が被検査物1の正
常印刷位置に印刷されているか否かを判定する
【0011】つぎに、図3を参照して上記検査位置にお
ける中心位置の位置ずれの補正方法を説明する。ここで
はX方向の位置ずれ検出用ウインドウ9とY方向の位置
ずれ検出用ウインドウ10が用いられる。すなわち、こ
れらの2つのウインドウ9、10は細長いスリット状で
その長手方向は互いに直交している。検査位置において
位置ずれがない被検査物1の上記2つのウインドウ9、
10におけるエッジ座標を(x,0)、(0,
)、中心座標を()として、位置ずれがある
被検査物1’のエッジ座標が(x’,0)、(0,y
’)、中心座標が(x’,y’)の場合、被検査
物1の半径をrとすると、被検査物1’の中心座標(x
’,y’)は次式により求めることができる。 x’=−{r−(x’/2)−(y’/2)1/2 ・cos(tan−1(y’/x’)) y’=−{r−(x’/2)−(y’/2)1/2 ・sin(tan−1(y’/x’))
【0012】従って被検査物1'は正常位置に対して
(x0' ,y0')だけxy平面上でずれているのである
から、これを補正する必要がある。補正方法としては、
被検査物1'またはCCDカメラ4を相対的にxy方向
に移動することもできるが、ここでは前述のメモリ上で
補正する方法を用いている。すなわち、2値化されてメ
モリの各アドレスにデータが格納されているわけである
が、読み出し時のアドレスを上記補正すべき座標(x0'
,y0')に応じて変更することにより、被検査物1'の
位置ずれ補正を行うことができる。このことにより被検
査物1'自体の位置ずれ補正が終了し、次の印刷パター
ン11の位置ずれ検査に移ることとなる。
【0013】図2に示すように被検査物1上にパターン
11(図示「A」)が印刷されている場合、被検査物1
の外周とパターン11の最外周部の間の2値画像を測定
するために、図2(a)に示すように半径が異なる2つ
の円形ウインドウ12、13が用いられる。外側のウイ
ンドウ12は、被検査物1の外周の内側に近接するよう
に設定され、内側のウインドウ13は、パターン11の
最外周部の外側に近接するように設定されている。
【0014】図2(a)に示すようにパターン11の位
置ずれがない理想的な印刷状態のときにはウインドウ1
2と13の間のエリアにはパターン11に対応する画素
数は理論的には「0」である。一方、図2(b)に示す
ようにパターン11の位置ずれがある場合にはウインド
ウ12と13の間のエリアに位置するパターン11に対
応する画素数は位置ずれ量に応じて増加する。また、こ
れは、図2(c)に示すように被検査物1が回転してい
ても、被検査物1の中心位置が既に補正されているので
同様である。なお、カウントされた画素数は所定値と比
較され、この所定値以上のときは印刷ズレと判断しNG
信号が出力される。この所定値はゴミ等によるノイズ成
分やCCDカメラ4の精度等を考慮して決定される。
【0015】このようにして画像処理装置3は送り機構
2に対して、欠陥パターンと判定するとNG信号を出力
し、正常パターンと判定するとOK信号を出力する。送
り機構2はこのNG信号とOK信号に基づいて被検査物
1を振り分ける。従って、印刷のズレた円形被検査物は
製造ラインから正確に除外されることとなる。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、検
査位置における中心位置の位置ずれが補正された被検査
物の外周とパターンの正常印刷位置の最外周位置の間の
画素数がカウントされ、パターンが被検査物の正常位置
に印刷されているか否かが判定されるので、被検査物が
検査位置において回転していても、被検査物の外周とパ
ターンの正常印刷位置の最外周位置の間の画素数をカウ
ントすることによりパターンが被検査物の正常印刷位置
に印刷されているか否かを判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る円形被検査物の検査装置の一実施
例を示すブロック図である。
【図2】円形被検査物上の印刷パターンの判定方法を示
す説明図である。
【図3】図1の検査装置における中心位置の位置ずれ補
正方法を示す説明図である。
【符号の説明】
1 被検査物 3 画像処理装置(エッジ検出手段、補正手段、判定手
段) 4 CCDカメラ(撮像手段) 11 印刷パターン 9,10,12,13 ウインドウ
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平3−41577(JP,A) 特開 昭62−208180(JP,A) 特開 平4−276508(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 11/00 - 11/30 G06T 7/00 - 7/60

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パターンが印刷された円形の被検査物を
    撮像する撮像手段と、 前記撮像手段により撮像された画像から被検査物のXY
    平面における2ヶ所のエッジ座標を検出するエッジ検出
    手段と、 前記エッジ検出手段により検出されたエッジ座標と被検
    査物の正常検査位置のエッジ座標に基づいて被検査物の
    検査位置における中心位置の位置ずれを補正する補正手
    段と、 前記補正手段により補正された被検査物の外周とパター
    ンの正常印刷位置の最外周位置の間の画素数をカウント
    し、そのカウント値を所定値と比較することにより、パ
    ターンが被検査物の正常印刷位置に印刷されているか否
    かを判定する判定手段とを有する円形被検査物の検査装
    置。
  2. 【請求項2】 前記エッジ検出手段が長手方向が互いに
    直交する位置関係にある細長い2つのウインドウのそれ
    ぞれにおけるエッジ座標を1つずつ検出するよう構成さ
    れ、前記補正手段が前記被検査物の前記検査位置におけ
    る中心位置の位置ずれを下記式で与えられるx0’、
    0’だけxy平面上で補正するよう構成されている請
    求項1記載の円形被検査物の検査装置。 x0’=−{r2−(x1’/2)2−(y1’/2)21/2 ・cos(tan-1(y1’/x1’)) y0’=−{r2−(x1’/2)2−(y1’/2)21/2 ・sin(tan-1(y1’/x1’)) 但し、前記2つのウインドウにおいて位置ずれがない前
    記被検査物の前記2ヶ所のエッジ座標を(x1,0)、
    (0,y1)とし、同様に位置ずれのある前記被検査物
    の前記2ヶ所のエッジ座標を(x1’,0)、(0,
    1’)とし、その中心座標を(x0’,y0’)とし、
    更に前記被検査物の半径をrとする。
JP14990792A 1992-05-18 1992-05-18 円形被検査物の検査装置 Expired - Fee Related JP3310016B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14990792A JP3310016B2 (ja) 1992-05-18 1992-05-18 円形被検査物の検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14990792A JP3310016B2 (ja) 1992-05-18 1992-05-18 円形被検査物の検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05322519A JPH05322519A (ja) 1993-12-07
JP3310016B2 true JP3310016B2 (ja) 2002-07-29

Family

ID=15485205

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14990792A Expired - Fee Related JP3310016B2 (ja) 1992-05-18 1992-05-18 円形被検査物の検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3310016B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107174132A (zh) * 2017-06-29 2017-09-19 苏州美杯信息科技有限公司 拉花打印机、拉花打印调整装置及方法和计算机可读介质

Also Published As

Publication number Publication date
JPH05322519A (ja) 1993-12-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5305391A (en) Method of and apparatus for inspecting bottle or the like
KR100472129B1 (ko) 결함 검사 장치 및 결함 검사 방법
EP1560017A1 (en) Glass bottle inspection device
EP0930498A2 (en) Inspection apparatus and method for detecting defects
US20030164876A1 (en) Procedure and device for measuring positions of continuous sheets
US20060038142A1 (en) Wafer prealignment apparatus, its method for judging wafer presence, method for sensing wafer edge position, computer-readable record medium with recorded program for executing this position sensing method, apparatus for sensing wafer edge position, and prealignment sensor
JP3310016B2 (ja) 円形被検査物の検査装置
JP3887084B2 (ja) 光学部材検査装置
JPH07103740A (ja) 円筒形物体の検出装置およびその検出方法
JPH07286968A (ja) 表面欠陥検査装置
JP3360795B2 (ja) 光学部材検査装置
JPH0721301A (ja) 金型番号読取り装置
JP2006112930A (ja) 対象物の形状判別方法及び装置
JP2601232B2 (ja) Icリードずれ検査装置
JP3207974B2 (ja) フォトマスクの欠陥検査方法
JPH0341577A (ja) 円形物の判別方法
KR0158372B1 (ko) 무게중심법과 최외각 중심법에 의한 칩부품의 흡착 중심 인식방법
JP3831498B2 (ja) 光学部材検査装置
JPH06281411A (ja) 孔位置の計測方法
JPH0486956A (ja) パターン検査装置
JP3108076B2 (ja) 認識装置
JPS642992B2 (ja)
JP2694819B2 (ja) リード位置検出装置
JP2005010039A (ja) 外観検査装置
JPS6057929A (ja) パターン欠陥検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20020412

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees