JP3309709B2 - バンプ付チップの搭載方法 - Google Patents

バンプ付チップの搭載方法

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  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、チップの下面に形
成されたバンプに、フラックスを転写し、チップを基板
に搭載するバンプ付チップの搭載方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】基板にチップを接合する工法の一つとし
て、チップの下面にバンプを形成しておき、このバンプ
にペーストを転写して基板に搭載するプロセスを含むも
のがある。
【0003】このような転写を行う際、ペーストの粘度
によっては、種々の問題が発生する。まずペーストの粘
度が高すぎる場合について図4を参照しながら説明す
る。
【0004】図4において、1はペースト2をためた水
平な容器、3はチップであってその下面にはバンプ4が
下向きに突設されている。5はチップ3を保持して移載
する移載ヘッドである。
【0005】さてバンプ4にペースト2を転写する過程
では、まず図4(a)に示すように、移載ヘッド5を移
動してバンプ4を容器1内のペースト2上に位置させ
る。次に、図4(b)に示すように、移載ヘッド5を下
降させ、バンプの下部をペースト2に接触させる。そし
て、図4(c)に示すように、移載ヘッド5を上昇さ
せ、図4(c)の破線で示すようにバンプ4を容器1の
上方へ到来させる。しかしながら、ペースト2の粘度が
高すぎると、移載ヘッド5を上昇させる際、移載ヘッド
5の保持力がペースト2の粘着力に負けて、図4(c)
の実線で示すように、チップ3が移載ヘッド5から外れ
て容器1内にとどまってしまうことがある。これでは、
チップ3を移載できなくなってしまい、転写ミスとな
る。
【0006】次に、ペースト2の粘度が低すぎる場合の
問題を説明する。ペースト2の粘度を下げておくと、次
のようにチップ3を基板6に搭載した後に問題を生じや
すい。
【0007】即ち、図5(a)に示すように、バンプ4
にペースト2を転写後、移載ヘッド5を基板6上へ移動
させ、次に移載ヘッド5を下降させて、図5(b)の破
線で示すように、バンプ4が基板6の回路パターン7上
に載るように、チップ3を移載する。
【0008】しかし、この後、例えば基板6を次のステ
ーションへ搬送するような場合、チップ3に慣性力(矢
印N1)が作用することがある。ここで、バンプ4は、
ペースト2の粘着力のみによって回路パターン7に保持
されており、ペースト2の粘度が低すぎると、ペースト
2の粘着力が慣性力に負けて、図5(b)の実線で示す
ように、チップ3が位置ズレを生じてしまうことがあ
る。この位置ズレを生じると、次工程が円滑に行えなく
なってしまう。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】以上説明したように、
従来のバンプ付チップの搭載方法では、転写ミスを生じ
やすいという問題点があった。
【0010】そこで本発明は、転写ミス及びチップ搭載
ミスを抑制できるバンプ付チップの搭載方法を提供する
ことを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明のバンプ付チップ
の搭載方法は、下面にバンプが突設されたチップを溶剤
を含むフラックスにより基板に搭載するバンプ付チップ
の搭載方法であって、フラックスをバンプに転写して前
記チップを基板に搭載するにあたり、フラックスを加熱
することにより溶剤を飛ばしてフラックスの粘度を前記
転写時の粘度よりも増加させるようにしたものである。
【0012】
【0013】
【0014】
【発明の実施の形態】 (実施の形態1) 次に図面を参照しながら、本発明の実施の形態を説明
する。なお図中、従来の構成を示す図4、図5と同様の
構成要素については同一符号を付すことにより説明を省
略する。
【0015】図1に示すように、本発明の実施の形態1
バンプ付チップの搭載方法は、図示していないチップ
供給部からチップ3を移載ヘッド5でピックアップする
ステップと、次に移載ヘッド5を容器1へ移動させて容
器1内のフラックス2をバンプ4に転写するステップ
と、次にフラックス2を付けたチップ3を基板6に搭載
するステップとを備える。
【0016】本実施の形態では、図2に示すように、
移載ヘッド5にヒータ8を設け、このヒータ8の設定温
度を変えることで、フラックス2の粘度を変化させるこ
ととしている。
【0017】ここで、チップ3が移載ヘッド5に保持さ
れているとき、ヒータ8による熱は、チップ3を介して
バンプ4へ伝わり、バンプ4は所定の温度に加熱され
る。
【0018】さてフラックスは、ブチルセロソルブ,
ブチルカルビトールなどの溶剤を含む。そして、図2
(a)に示すように、フラックス2の転写を行う際ヒー
タ8の設定温度を低くしてバンプ4の温度を、溶剤が飛
ばない温度(例えば40°C程度)にしておく。する
と、転写時にフラックス2中には十分な溶剤が残ってい
るから、フラックス2の粘度は低い状態となり、図4に
示したようなチップ3の落下による転写ミスを防止でき
る。
【0019】そして、図2(b)に示すように、チップ
3の基板6への搭載を行う前に、ヒータ8の設定温度を
上げバンプ4を溶剤が飛ぶ温度(例えば、150°C程
度)まで加熱する。すると、バンプ4に付着したフラッ
クス2中の溶剤の量が減ってこのフラックス2の粘度が
高くなる。したがって、チップ3の搭載後、チップ3は
強い粘着力で基板6に接着していることになり、位置ズ
レ等を防止することができる。
【0020】(実施の形態2) 本形態は、実施の形態に対して、フラックス2の加熱
要領を変更している。即ち、図3(a)に示すように、
移載ヘッド5にヒータを設けるのではなく、フラックス
2をためる容器1をヒータ9で温めている。このとき、
フラックス2の温度は溶剤が飛ばない温度(例えば40
°C程度)としておく。
【0021】また図3(b)に示すようにチップ3の基
板6への、搭載時に、基板6を保持するステージ10を
ヒータ11で加熱し、その結果、回路パターン7が溶剤
が飛ぶ温度(例えば150°C程度)にしておく。こう
すれば、搭載時にバンプ4に付着したフラックス2が回
路パターン7により溶剤が飛ぶ温度まで加熱される。
【0022】実施の形態における作用効果は、実施の
形態と同様である。即ち、転写時にはフラックス2中
に溶剤が十分含まれており粘度が低いので、チップ3の
落下を防止できるし、搭載後には溶剤が飛んで増粘した
フラックス2によって位置ズレを回避できる。
【0023】
【発明の効果】本発明のバンプ付チップの搭載方法は
フラックスをバンプに転写してチップを基板に搭載する
にあたり、フラックスを加熱してその溶剤を飛ばすこと
によりフラックスの粘度を前記転写時の粘度よりも増加
させるようにしているので、粘度の高いフラックスによ
りチップを位置ズレなく確実に基板に搭載することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態におけるバンプ付チップ
の搭載方法のフローチャート
【図2】(a)本発明の第1の実施の形態におけるバン
プ付チップの搭載方法の工程説明図 (b)本発明の第1の実施の形態におけるバンプ付チッ
プの搭載方法の工程説明図
【図3】(a)本発明の第2の実施の形態におけるバン
プ付チップの搭載方法の工程説明図 (b)本発明の第2の実施の形態におけるバンプ付チッ
プの搭載方法の工程説明図
【図4】(a)従来のバンプ付チップの搭載方法の工程
説明図 (b)従来のバンプ付チップの搭載方法の工程説明図 (c)従来のバンプ付チップの搭載方法の工程説明図
【図5】(a)従来のバンプ付チップの搭載方法の工程
説明図 (b)従来のバンプ付チップの搭載方法の工程説明図
【符号の説明】
フラックス 3 チップ 4 バンプ 6 基板

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】下面にバンプが突設されたチップを溶剤を
    含むフラックスにより基板に搭載するバンプ付チップの
    搭載方法であって、フラックスをバンプに転写してチッ
    プを基板に搭載するにあたり、フラックスを加熱するこ
    とにより溶剤を飛ばしてフラックスの粘度を前記転写時
    の粘度よりも増加させることを特徴とするバンプ付チッ
    プの搭載方法。
  2. 【請求項2】前記加熱は、チップを保持する移載ヘッド
    に設けられたヒータにより行われることを特徴とする請
    求項1記載のバンプ付チップの搭載方法。
  3. 【請求項3】前記加熱は、基板を加熱するヒータによっ
    て行われることを特徴とする請求項1記載のバンプ付チ
    ップの搭載方法。
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