JP3289678B2 - 測定装置 - Google Patents

測定装置

Info

Publication number
JP3289678B2
JP3289678B2 JP16202398A JP16202398A JP3289678B2 JP 3289678 B2 JP3289678 B2 JP 3289678B2 JP 16202398 A JP16202398 A JP 16202398A JP 16202398 A JP16202398 A JP 16202398A JP 3289678 B2 JP3289678 B2 JP 3289678B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lid
support shaft
measuring device
link lever
support
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP16202398A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11194100A (ja
Inventor
章二 桑原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP16202398A priority Critical patent/JP3289678B2/ja
Priority to US09/179,592 priority patent/US6055875A/en
Publication of JPH11194100A publication Critical patent/JPH11194100A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3289678B2 publication Critical patent/JP3289678B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/20008Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
    • G01N23/20025Sample holders or supports therefor

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Power-Operated Mechanisms For Wings (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、試料の表面状態や
組成を分析して検査する測定装置、例えば、蛍光X線分
析装置のような測定装置に係り、詳しくは、試料をセッ
トして測定を行う際における蓋を簡便かつ安全に開閉操
作するための構造に関する。
【0002】
【従来の技術】測定装置のうちには、真空中で試料にレ
ーザ光やX線等を照射し、試料から発生する光や2次X
線を検出したうえで試料の表面状態や組成を分析するも
のがある。そして、このような測定装置では、図示省略
しているが、装置本体に設けられた試料台上に試料をセ
ットし、セットされた試料を蓋でもって覆った後、蓋の
内部を真空排気したうえで試料に対してレーザ光等が照
射されることになっている。
【0003】従って、測定を行うに際しては蓋を開操作
したうえで試料を所定位置にセットする必要があること
になるが、従来の測定装置における蓋はヒンジ機構を介
したうえで装置本体に対して開閉自在に取り付けられて
いるのが一般的であるため、測定を行うオペレータが手
動によって蓋を開操作したうえで試料を所定位置にセッ
トした後、この蓋を手動で閉操作するのが通常作業であ
ることになっていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ヒンジ
機構を利用して蓋を開閉操作する構成とされた測定装置
においては、蓋が水平姿勢から円弧状を描きながら傾い
て動作するため、最大限まで蓋を開操作しても、試料台
上に試料をセットするのに十分な開口スペースを確保し
にくいことになり、特に、高さの高い試料である場合に
はセットが困難になっている。
【0005】そして、このような不都合を解消するに
は、ヒンジ機構そのものを大型化して蓋の開口スペース
を確保すればよいと考えられるが、このような構成を採
用したのでは、円弧状となる蓋の動作を許容し得る広い
スペースを装置本体の周囲に確保しておく必要があるた
め、測定装置の小型化を求める要望に反する結果を招い
てしまう。また、蓋の開閉操作を自動化する要求も従来
から強いのであるが、ヒンジ機構を利用している限り
は、自動化に伴う構造や制御が複雑となるため、実現で
きていないのが現状である。
【0006】本発明はこれらの不都合に鑑みて創案され
たものであり、蓋の開口スペースを十分に広く確保する
ことが可能であるとともに、自動化を図ることも容易な
構成とされた測定装置の提供を目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に係る
測定装置は、図8で示した構造に基づいて創案されたも
のであって、蓋を水平姿勢のままで昇降動作させる昇降
機構が、蓋の昇降方向に沿って立設されたうえで回転駆
動される雄ネジ軸と、前記蓋を支持する昇降台に付設さ
れたうえで回転駆動に伴って昇降動作する雌ネジ体と、
前記雄ネジ軸と並設されたうえで前記昇降台の昇降動作
をガイドするガイドロッドとから構成される測定装置に
おいて、前記蓋は前記昇降台でもって前後傾斜自在に支
持されており、前記蓋の前後傾斜を検出するセンサと、
このセンサによる傾斜検出に応答して前記雄ネジ軸の回
転駆動を停止する制御部とが設けられている。そして、
このような構成を採用しておいた際には、蓋と試料台と
の間にオペレータの手や試料等が挟み込まれると、その
障害を避けるように蓋が前後に軽く傾斜し、ある程度ま
で傾斜した以降の開閉動作が停止されてしまうので、安
全性を確保しながら昇降機構の動作不良や故障が発生す
ることを未然に防止し得ることになる。
【0008】しかしながら、図8で例示したような構造
を採用しただけでは、蓋22の重心位置を探し出したう
えで重心の横位置に対して支軸27を設ける必要があ
り、その設定が狂えば、蓋22が自然と前側または後側
へと傾斜することになって水平姿勢を保つことができな
くなる。すなわち、このような構造では、蓋22の前後
バランスを正確にとらなければならず、製作の上でもメ
ンテナンスの上でも大変に面倒であることになってしま
う。
【0009】なお、このような不都合に対しては、蓋2
2と昇降台24との間にバネを設けておき、この付勢弾
力によって蓋22の姿勢が水平のまま維持されるように
することも可能であるが、このようにした際には、蓋2
2の動作が重くなってオペレータの手等を挟み込んだ場
合の回避動作が遅くなる。さらにまた、前側もしくは後
側へと傾きやすい蓋22の一部を昇降台24のような部
材で受け止めるようにしてもよいが、そうすると、受け
止め部材のために蓋22の前後傾斜の一方の動きが制限
されてしまうことが起こる。以上の例からも分かるよう
に、蓋を常時は水平姿勢で昇降動作させながら、障害が
ある場合にのみ傾斜するように支持することは、必ずし
も容易ではないのが実情である。
【0010】本発明の請求項2に係る測定装置は、この
ような問題に対処すべく創案されたものであって、前記
蓋と前記昇降台との間には該蓋の重心から前後に外れた
うえで前記蓋を前後傾斜自在に支持する支持手段が介装
されており、かつ、この支持手段は前記蓋の重心の前後
に配された2本の支軸と、1本の係止ピンと、これらの
支軸及び係止ピン間に設けられた連係レバーとから構成
されているとともに、前記2本の支軸の一方である端部
支軸は前記昇降台と一体化された起立板に前記連係レバ
ーの基部を枢着するものであり、他方の支軸である貫通
支軸は前記蓋の側部に突設されて前記連係レバーの中間
部を貫通したうえで前記起立板の長孔に対して上下動自
在に嵌合するものである一方、前記係止ピンは前記蓋の
側部に突設されて前記連係レバーの先端を離接自在に受
け止めるものであることになっている。
【0011】そのため、このような構成とされた測定装
置においては、蓋の重心位置を正確に探し出したり、蓋
の前後バランスの調整をしなくても、蓋を前後傾斜可能
で、かつ、水平姿勢を保たれるようにしながら製作の上
やメンテナンス上での面倒をなくし、故障を避ける動作
を確実にすることが可能になる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る実施の形態を
図面に基づいて説明する。
【0013】図1ないし図6の各々は本実施の形態に係
る測定装置の要部を簡略化して示すものであり、図1は
測定装置の一側部分(右側部分)のみを一部断面して示
す正面図、図2は図1中の(ii)−(ii)線に沿って断
面した状態を示す平面図、図3は図2中の(iii)−(i
ii)線に沿って断面した状態を拡大して示す側面図、図
4は図3で示した構成を分解して示す斜視図、図5は昇
降機構の動作を制御する回路構成を示す説明図、図6
(A),(B)は蓋と昇降台との間に設けられた支持手
段の動作を示す説明図である。なお、図6(A)は蓋の
前部が持ち上がった状態を、また、図6(B)は蓋の後
部が持ち上がった状態をそれぞれ示している。
【0014】本実施の形態に係る測定装置は、図1で示
すように、下向きカップ状の蓋2を水平姿勢のままで昇
降動作させる昇降機構3を装置本体1の両側部に設けて
なるものであり、この際における昇降機構3は、蓋2の
昇降方向に沿って立設されたうえでモータ4によって回
転駆動される雄ネジ軸5と、後述する支持手段9を介し
て蓋2を支持する昇降台6に付設されたうえで雄ネジ軸
5の回転駆動に伴って昇降動作するナットである雌ネジ
体7と、雄ネジ軸5と並設されたうえで昇降台6の昇降
動作をガイドするガイドロッド8とから構成されてい
る。そして、ここでの昇降台6は、軸受であるボールブ
ッシュ6aを介したうえでガイドロッド8によってガイ
ドされている。なお、図1では右側の昇降機構3のみを
示しているが、このような昇降機構3が装置本体1の左
側にも設けられていることは勿論である。
【0015】また、昇降機構3を構成する雄ネジ軸5は
下端部に設けられたプーリ5aがベルト4aを介して正
逆回転可能なモータ4と連結されたものであり、この雄
ネジ軸5の回転駆動に伴っては雌ネジ体7が昇降動作
し、かつ、この雌ネジ体7に伴っては昇降台6が昇降動
作する結果、昇降台6でもって支持された蓋2は水平姿
勢を保ったままで昇降動作させられることとなる。な
お、この際、左右両側に設けられた雄ネジ軸5のそれぞ
れは、ベルト4aを介したうえでモータ4と連結されて
いることによって同期して回転駆動されている。また、
図示していないが、蓋2の最大開口位置及び閉塞位置と
対応する位置それぞれには、昇降台6に付設されたドグ
等によってオン動作させられるリミットスイッチ等のよ
うな位置検出センサが配設されており、これらの位置検
出センサがオン動作した際にはマイクロコンピュータで
もってモータ4の回転動作が停止される結果として蓋2
の昇降動作が停止させられる。
【0016】さらに、本実施の形態に係る測定装置で
は、水平姿勢で昇降動作させられる蓋2が左右の昇降台
6の間において前後方向に沿って傾斜しうるよう、支軸
や連係レバー等を用いて構成された支持手段9が昇降台
6と蓋2との間に介装されており、この支持手段9は、
蓋2の重心M(図2で図示している)から前後に外れた
位置で蓋2を前後傾斜自在として支持するものとなって
いる。すなわち、これら支持手段9の詳細な構造は図2
ないし図4において示す通りであり、支持手段9のそれ
ぞれは、昇降台6と一体化して立設された起立板10
と、前後2本の支軸(端部支軸11及び貫通支軸12)
と、連係レバー13と、係止ピン14とから構成され、
連係レバー13は支軸11,12及び係止ピン14間に
設けられている。
【0017】そして、この際における前後2本の支軸の
うちの端部支軸11は、蓋2の重心Mよりも前方(図2
では下側)に位置しており、連係レバー13が上下に揺
動しうるようにしながら連係レバー13の基部を起立板
10に対して枢着したものとなっている。また、他方の
支軸である貫通支軸12は、蓋2の重心Mよりも後方
(図2では上側)の位置でもって蓋2の側部から突設さ
れており、連係レバー13の中間部を貫通したうえで起
立板10の側にまで突出したものとなっている。さらに
また、起立板10において貫通支軸12の突出部分と対
応する位置には、図3及び図4で明示するように、上下
方向に沿って長い長孔15が形成されており、貫通支軸
12の突出端部は長孔15と嵌合している。そこで、貫
通支軸12と、これが貫通している連係レバー13の中
間部とは、長孔15の範囲内で上下方向に沿って変位し
得ることとなる。
【0018】一方、連係レバー13は、貫通支軸12よ
りも後方にまで延出されており、端部支軸11から係止
ピン14にまで至る長さを有している。また、係止ピン
14は、連係レバー13の延出先端13aに対応する位
置でもって蓋2の側部に突設されており、連係レバー1
3の延出先端13aの下縁を離接自在に受け止めるもの
となっている。さらに、この際における測定装置におい
ては、図4及び図5で概略的に示すように、係止ピン1
4の先端に蓋2の前後傾斜を検出するための被検出部材
としてのスリット板16が取り付けられ、かつ、昇降台
6にはスリット板16を介して蓋2の前後傾斜を検出す
るフォトセンサ17が設置されており、これらによって
制御系が構成されている。そして、図5における符号1
8はマイクロコンピュータからなる制御部であり、この
制御部18へはフォトセンサ17の検出信号が入力する
ことになり、この検出信号に応答して雄ネジ軸5を回転
駆動するモータ4へと停止信号が出力されることになっ
ている。
【0019】次に、以上のような構成とされた測定装置
の動作を説明する。まず、モータ4の正回転駆動に伴っ
て雄ネジ軸5が正回転動作すると、昇降台6が上昇動作
することになる。そして、この昇降台6とともに蓋2が
上昇動作することになり、装置本体1における試料台が
開放される。そこで、オペレータが試料台上の所定位置
に対して試料をセットすることになるが、蓋2と昇降台
6とは、上記したような構成とされた支持手段9を介し
たうえで連結されているため、試料台上に試料をセット
する都合上から最大限にまで開操作された蓋2を上側へ
とより一層押し開いて傾斜させることも可能であり、こ
の場合にも雄ネジ軸5の回転駆動は停止させられるの
で、安全上の問題が生じることは起こらない。
【0020】引き続き、試料をセットした後に雄ネジ軸
5が逆回転駆動されると、雄ネジ軸5が逆回転動作する
結果として蓋2が下降動作することになり、この蓋2で
もって試料が覆われてしまう。そして、この間、蓋2の
下側に障害物がなければ、蓋2は水平姿勢を保ったまま
で下降動作することになり、支持手段9は以下のような
動作を実行している。すなわち、蓋2自体の荷重は貫通
支軸12を介して昇降台6の側へと加わることになり、
図3でも示すように、貫通支軸12の端部が起立板10
の長孔15と嵌合しているため、貫通支軸12は下限位
置まで下降したうえで長孔15の下縁によって受け止め
られる。つまり、この際、貫通支軸12は下限位置にあ
り、この貫通支軸12が貫通している連係レバー13の
中間部も下限位置にあることになるので、連係レバー1
3は全体として水平の向きのままとなる。
【0021】そして、この場合には、蓋2の重心が貫通
支軸12よりも前方(図3では左側)にあるから、蓋2
は貫通支軸12を中心として前傾しようとするが、貫通
支軸12の後方でもって蓋2と一体になった係止ピン1
4が連係レバー13の延出先端13aによって受け止め
られているから、蓋2全体としては前傾せず、水平姿勢
を保つことになる。なお、蓋2を前傾させようとする力
は、係止ピン14、連係レバー13、端部支軸11を介
したうえで起立板10へと加わることになり、蓋2の荷
重はその重心の前後にある貫通支軸12と端部支軸11
とで分担されたうえで昇降台6の側でもって支えられて
いる。
【0022】一方、下降動作している蓋2前部の下側に
オペレータの手や試料等が挟み込まれると、蓋2には前
部を持ち上げる方向の外力が作用することになるが、こ
の場合における連係レバー13は、図6(A)で示すよ
うに、その中間部が貫通支軸12によって長孔15の下
限位置へと押さえ付けられており、かつ、その基部は起
立板10へと枢着されているから、蓋2はその前部が持
ち上がる方向に沿って揺動できないこととなる。これに
対し、蓋2を着目すると、この蓋2から突出されている
貫通支軸12は、連係レバー13の中間部を貫通してい
るだけであって連係レバー13に対しては自由に回転し
得るし、蓋2の後部では係止ピン14が連係レバー13
の延出先端13aから離れる方向へ動き得ることになっ
ている。そのため、この際における蓋2は、連係レバー
13を水平姿勢としたまま、貫通支軸12を中心にしな
がら前部が持ち上がる方向に沿って後傾することとな
る。
【0023】ところが、このようにして蓋2の前部が持
ち上がり、後部の係止ピン14が下がると、係止ピン1
4に取り付けられたスリット板16が昇降台6上のフォ
トセンサ17に対して変位するから、フォトセンサ17
によって蓋2の傾斜が検出されることになる。そして、
この際の検出信号は制御部18に対して入力することに
なり、制御部18からは傾斜検出に対応した停止信号が
出力されるので、この停止信号によってモータ4の回転
駆動は停止させられてしまう。これで、雄ネジ軸5の回
転動作が停止され、さらなる蓋2の下降動作が停止され
る。そのため、蓋2の前部と試料台との間に挟み込まれ
た障害物に対しては、過大な押し付け力が作用しないこ
とになる。
【0024】さらにまた、蓋2の下降動作中において、
蓋2の後部で障害物を挟み込むようなことが起こり、蓋
2の後部を持ち上げる方向に外力が作用した場合には、
その外力によって蓋2は前傾しようとすることになる。
この場合、蓋2の後部では、図6(B)で示すように、
係止ピン14が連係レバー13の延出先端13aによっ
て受け止められるので、連係レバー13にはその延出先
端13aを持ち上げる方向の力が加わることになる。そ
して、このような持ち上げ力が加わると、連係レバー1
3の中間部は起立板10の長孔15の範囲内で上方へ変
位することになり、連係レバー13は全体として端部支
軸11を中心としながら上方へ向かって揺動する。
【0025】ところが、このときの蓋2は、貫通支軸1
2と係止ピン14とを介したうえで連係レバー13によ
って支持されており、この連係レバー13と一体化して
いるから、蓋2は連係レバー13とともに端部支軸11
を中心として前傾することになる。そして、この場合も
蓋2の後部の係止ピン14が昇降台6に対して変位する
から、フォトセンサ17によって蓋2の傾斜が検出され
ることになり、その傾斜検出に応答して雄ネジ軸5の回
転動作が停止させられ、かつ、以降における蓋2の下降
動作が停止されてしまうことになる。
【0026】なお、本実施の形態では、端部支軸11を
蓋2の重心よりも前方に配し、連係レバー13を後方に
延出させるとしているが、これらの前後の向きが逆であ
ってもよいことは勿論である。そして、この場合、図6
(A),(B)で示した動作は前後逆となる。また、傾
斜検出のためのフォトセンサ17を左右一方の昇降台6
に設けるとしているが、このようなセンサを左右の昇降
台6それぞれに設けておいてもよく、この場合には左右
のセンサからの検出信号の相違に基づいて蓋2の左右方
向における傾斜を検出することも可能となる。
【0027】さらに、傾斜検出用のセンサは、蓋2の前
後傾斜に伴って変位する部分と、昇降台6のような傾斜
しない部分との間に設けておけばよいのであり、フォト
センサ17に限られず、近接スイッチやマイクロスイッ
チ等を使用することも可能である。さらにまた、昇降機
構3が雄ネジ軸5を用いて構成されたものに限定される
ことはないのであり、例えば、エアシリンダ及び電磁弁
を用いてなる構成や、上下方向に沿って回送されるワイ
ヤを使用してなる構成とされていてもよいことは勿論で
ある。
【0028】ところで、本実施の形態にあっては、2本
の支軸11,12や連係レバー13等からなる支持手段
9を蓋2及び昇降台6間に介在させており、この支持手
段9によって蓋2をその重心Mから前後に外れた位置で
前後傾斜自在に支持するようにしているが、下降動作す
る蓋2がその下側に障害物を挟み込んだ場合の不都合を
回避するためには、原理的には蓋2が前後傾斜自在に支
持されていればよいのであるから図8で示したような支
持構造を採用することも可能である。
【0029】
【発明の効果】本発明に係る測定装置によれば、蓋が円
弧状を描きながら動作することはなくなるので、試料台
上に試料をセットするのに十分な蓋の開口スペースを確
保しながらも測定装置の小型化を図ることが可能にな
る。そして、雄ネジ軸の回転駆動に伴って蓋を昇降動作
させる構成であり、ヒンジ機構による蓋の開閉操作を自
動化するよりも簡単かつ安価な構造及び制御が採用可能
であるため、自動化を容易に実現し得ることとなる。ま
た、蓋と試料台との間にオペレータの手や試料等が挟み
込まれると、その障害を避けるように蓋が前後に軽く傾
斜し、ある程度まで傾斜した以降の開閉操作が停止され
てしまうので、安全性を確保しながら昇降機構の動作不
良や故障が発生することを未然に防止し得るという効果
も得られる。
【0030】さらには、試料台上に試料をセットする都
合上から、最大限にまで開操作された蓋を上側へとより
一層押し開くことによって開口スペースを確保したいと
いう要求に応えることもできる。さらにまた、蓋の重心
位置を正確に探し出したり、蓋の前後バランスの調整を
する必要がなくなり、製作の上やメンテナンス上での面
倒をなくしながら障害を避ける動作を確実にすることが
可能になるという効果も確保される。
【図面の簡単な説明】
【図1】測定装置の一側部分(右側部分)のみを一部断
面して示す正面図である。
【図2】図1中の(ii)−(ii)線に沿って断面した状
態を示す平面図である。
【図3】図2中の(iii)−(iii)線に沿って断面した
状態を拡大して示す側面図である。
【図4】図3で示した構成を分解して示す斜視図であ
る。
【図5】昇降機構の動作を制御する回路構成を示す説明
図である。
【図6】蓋と昇降台との間に設けられた支持手段の動作
を示す説明図である。
【図7】昇降機構の原理的な構成を示す説明図である。
【図8】支持手段の原理的な構成を示す説明図である。
【符号の説明】
1 装置本体 2 蓋 3 昇降機構 5 雄ネジ軸 6 昇降台 7 雌ネジ体 8 ガイドロッド 9 支持手段 10 起立板 11 端部支軸 12 貫通支軸 13 連係レバー 14 係止ピン 15 長孔 17 フォトセンサ(センサ) 18 制御部

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 蓋を水平姿勢のままで昇降動作させる昇
    降機構が、蓋の昇降方向に沿って立設されたうえで回転
    駆動される雄ネジ軸と、前記蓋を支持する昇降台に付設
    されたうえで回転駆動に伴って昇降動作する雌ネジ体
    と、前記雄ネジ軸と並設されたうえで前記昇降台の昇降
    動作をガイドするガイドロッドとから構成される測定装
    置において、 前記蓋は前記昇降台でもって前後傾斜自在に支持されて
    おり、前記蓋の前後傾斜を検出するセンサと、このセン
    サによる傾斜検出に応答して前記雄ネジ軸の回転駆動を
    停止する制御部とが設けられていることを特徴とする測
    定装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載した測定装置であって、 前記蓋と前記昇降台との間には該蓋の重心から前後に外
    れたうえで前記蓋を前後傾斜自在に支持する支持手段が
    介装されており、かつ、この支持手段は前記蓋の重心の
    前後に配された2本の支軸と、1本の係止ピンと、これ
    らの支軸及び係止ピン間に設けられた連係レバーとから
    構成されているとともに、前記2本の支軸の一方である
    端部支軸は前記昇降台と一体化された起立板に前記連係
    レバーの基部を枢着するものであり、他方の支軸である
    貫通支軸は前記蓋の側部に突設されて前記連係レバーの
    中間部を貫通したうえで前記起立板の長孔に対して上下
    動自在に嵌合するものである一方、前記係止ピンは前記
    蓋の側部に突設されて前記連係レバーの先端を離接自在
    に受け止めるものであることを特徴とする測定装置。
JP16202398A 1997-10-29 1998-06-10 測定装置 Expired - Lifetime JP3289678B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16202398A JP3289678B2 (ja) 1997-10-29 1998-06-10 測定装置
US09/179,592 US6055875A (en) 1997-10-29 1998-10-27 Measuring apparatus

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9-296978 1997-10-29
JP29697897 1997-10-29
JP16202398A JP3289678B2 (ja) 1997-10-29 1998-06-10 測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11194100A JPH11194100A (ja) 1999-07-21
JP3289678B2 true JP3289678B2 (ja) 2002-06-10

Family

ID=26487955

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16202398A Expired - Lifetime JP3289678B2 (ja) 1997-10-29 1998-06-10 測定装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6055875A (ja)
JP (1) JP3289678B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101017577B1 (ko) 2010-11-26 2011-02-28 한국지질자원연구원 압력코아 저장용기 이동 장치

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3535914A (en) * 1969-02-07 1970-10-27 Goodrich Co B F Continuous shear dynamometer
FR2668828B1 (fr) * 1990-11-06 1995-03-10 Alcatel Espace Dispositif de test d'equipements en mouvement.
US5281535A (en) * 1992-06-30 1994-01-25 Ronghua Wei Method and apparatus for testing parts and materials in a controlled environment such as an atomic oxygen atmosphere
JPH07128343A (ja) * 1993-11-04 1995-05-19 Tosoh Corp ピペット装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11194100A (ja) 1999-07-21
US6055875A (en) 2000-05-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5401089A (en) Display unit lifter
KR101747102B1 (ko) 보안성이 강화된 게이트장치
JP3289678B2 (ja) 測定装置
US20230051762A1 (en) Compact in-line heat press
JPH05201647A (ja) エレベータ装置
JPH01314637A (ja) 荷台の位置決め装置と安全装置
KR20010048688A (ko) 골프공 티업장치
KR102376213B1 (ko) 자동 피치 조절이 가능한 픽커장치
JP2509778B2 (ja) 跳ね上げ式扉
GB2323585A (en) Monitor positioning apparatus
WO2019150682A1 (ja) X線撮影装置
JP2019156558A (ja) 搬器ユニット、及び、エレベータ
JPH09285584A (ja) ゴルフ練習機のティーアップ装置
JPH04166555A (ja) 可動式天井収納庫
JP4973951B2 (ja) 車両用昇降装置
JP2002241087A (ja) 昇降装置
JP2552878Y2 (ja) 傾斜検出式昇降装置
KR102628835B1 (ko) 시트 검사 장치
CN114534821B (zh) 一种带有便于玻璃门启闭结构的超净工作台
US20230340739A1 (en) Ice leveling system
JP2007261731A (ja) ワーク移動装置
JP4134060B2 (ja) コンロッドの表裏判別装置
KR19990039550A (ko) 낙하 시험장치
JP3312866B2 (ja) ワーク傾斜装置及び該ワーク傾斜装置を利用したエンジンのバルブ組付け装置
JPS62230523A (ja) ワ−ク重ね上げ装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080322

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090322

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100322

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100322

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110322

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110322

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120322

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120322

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130322

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140322

Year of fee payment: 12

EXPY Cancellation because of completion of term