JP3282297B2 - 異常検出装置 - Google Patents
異常検出装置Info
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- JP3282297B2 JP3282297B2 JP16346393A JP16346393A JP3282297B2 JP 3282297 B2 JP3282297 B2 JP 3282297B2 JP 16346393 A JP16346393 A JP 16346393A JP 16346393 A JP16346393 A JP 16346393A JP 3282297 B2 JP3282297 B2 JP 3282297B2
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- Japan
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- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Combined Controls Of Internal Combustion Engines (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は異常検出装置に関し、特
に内燃機関の制御系の異常を検出する異常検出装置に関
する。
に内燃機関の制御系の異常を検出する異常検出装置に関
する。
【０００２】
【従来技術】従来、車両用内燃機関の制御系（例えば、
点火系、燃料系、ＥＧＲ等）の異常検出では、図１０に
示すように対象制御系に関連したセンサの異常検出結果
が正常か否かをセンサ毎に順次検出し、関連センサの全
ての異常検出結果が正常である場合に制御系の異常検出
処理を実行している。なお、センサの異常検出は所定の
タイミングで実行され、その結果はメモリに記憶されて
いる。
点火系、燃料系、ＥＧＲ等）の異常検出では、図１０に
示すように対象制御系に関連したセンサの異常検出結果
が正常か否かをセンサ毎に順次検出し、関連センサの全
ての異常検出結果が正常である場合に制御系の異常検出
処理を実行している。なお、センサの異常検出は所定の
タイミングで実行され、その結果はメモリに記憶されて
いる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】通常、制御系毎に関連
するセンサが異なるため前述のような方法では、各制御
系毎に、関連するセンサの異常検出結果をセンサ毎に順
次検出するプログラムを作成する必要があり、プログラ
ムが複雑化するという問題点がある。また、開発段階や
設計変更時に関連するセンサ組合せが変更になった場合
は制御系の異常検出ロジック自体を変更する必要があり
開発効率が低下するという問題点がある。
するセンサが異なるため前述のような方法では、各制御
系毎に、関連するセンサの異常検出結果をセンサ毎に順
次検出するプログラムを作成する必要があり、プログラ
ムが複雑化するという問題点がある。また、開発段階や
設計変更時に関連するセンサ組合せが変更になった場合
は制御系の異常検出ロジック自体を変更する必要があり
開発効率が低下するという問題点がある。
【０００４】本発明は、上記問題点に鑑み、制御系の異
常検出処理に関連するセンサの組合せを容易に変更でき
る異常検出装置を提供することを目的とする。
常検出処理に関連するセンサの組合せを容易に変更でき
る異常検出装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、個々の制御系の異常を検出する異常検出処
理を実行する異常検出装置において、複数のセンサの異
常情報を記憶するセンサ異常記憶部と、前記制御系の異
常検出処理において制御系毎に関連するセンサの異常情
報のみを前記センサ異常記憶部から抽出するために、前
記制御系毎に前記制御系とその制御系に係わるセンサと
を関連付けるように設定された抽出情報を含んだテーブ
ルが記憶された抽出情報記憶部と、制御系毎に関連する
センサの前記異常情報のみを前記テーブルの前記抽出情
報に従って前記センサ異常記憶部から抽出し、その抽出
された前記異常情報が全て正常を示しているか、あるい
はいずれかで異常を示しているかを各制御系毎にそれぞ
れ判別する判別手段と、 この判別手段にて、抽出された
前記異常情報が全て正常と示していると判別された制御
系のみ異常検出処理の実行を許可する許可手段とを備え
ていることを特徴とする異常検出装置という技術的手段
を採用する。
するために、個々の制御系の異常を検出する異常検出処
理を実行する異常検出装置において、複数のセンサの異
常情報を記憶するセンサ異常記憶部と、前記制御系の異
常検出処理において制御系毎に関連するセンサの異常情
報のみを前記センサ異常記憶部から抽出するために、前
記制御系毎に前記制御系とその制御系に係わるセンサと
を関連付けるように設定された抽出情報を含んだテーブ
ルが記憶された抽出情報記憶部と、制御系毎に関連する
センサの前記異常情報のみを前記テーブルの前記抽出情
報に従って前記センサ異常記憶部から抽出し、その抽出
された前記異常情報が全て正常を示しているか、あるい
はいずれかで異常を示しているかを各制御系毎にそれぞ
れ判別する判別手段と、 この判別手段にて、抽出された
前記異常情報が全て正常と示していると判別された制御
系のみ異常検出処理の実行を許可する許可手段とを備え
ていることを特徴とする異常検出装置という技術的手段
を採用する。
【０００６】
【作用】以上に述べた本発明に異常検出装置の構成によ
ると、センサ異常記憶部には、複数のセンサの異常情報
が記憶される。また、抽出情報記憶部には、個々の制御
系の異常検出処理において制御系毎に関連するセンサの
異常情報のみを上記センサ異常記憶部から抽出するため
に、前記制御系毎に前記制御系とその制御系に係わるセ
ンサとを関連付けるように設定された抽出情報を含んだ
テーブルが記憶される。
ると、センサ異常記憶部には、複数のセンサの異常情報
が記憶される。また、抽出情報記憶部には、個々の制御
系の異常検出処理において制御系毎に関連するセンサの
異常情報のみを上記センサ異常記憶部から抽出するため
に、前記制御系毎に前記制御系とその制御系に係わるセ
ンサとを関連付けるように設定された抽出情報を含んだ
テーブルが記憶される。
【０００７】そして、許可手段は、上記抽出情報によっ
てセンサ異常記憶部から抽出された異常情報が全て正常
と示していると判別された制御系のみ異常検出処理の実
行を許可する。このように構成することにより、個々の
制御系の異常検出処理において関連するセンサが変更さ
れても、この変更に応じた新たな抽出情報を記憶させる
ことによって、簡単にその変更に対応することが可能と
なる。
てセンサ異常記憶部から抽出された異常情報が全て正常
と示していると判別された制御系のみ異常検出処理の実
行を許可する。このように構成することにより、個々の
制御系の異常検出処理において関連するセンサが変更さ
れても、この変更に応じた新たな抽出情報を記憶させる
ことによって、簡単にその変更に対応することが可能と
なる。
【０００８】
【実施例】図１は車両用内燃機関の制御装置１００に関
する構成図である。制御装置１００は車両状態を示す各
種センサからの信号に基づいて内燃機関を所定状態に制
御する各種アクチュエータに駆動信号を出力するもので
ある。また、制御装置１００はセンサ、アクチュエー
タ、制御系等の異常検出（以下、ダイアグと記す）もお
こなっている。
する構成図である。制御装置１００は車両状態を示す各
種センサからの信号に基づいて内燃機関を所定状態に制
御する各種アクチュエータに駆動信号を出力するもので
ある。また、制御装置１００はセンサ、アクチュエー
タ、制御系等の異常検出（以下、ダイアグと記す）もお
こなっている。
【０００９】１１０は内燃機関の回転信号である基準気
筒センサ（Ｇセンサ）、クランク角センサ（Ｎｅセン
サ）、あるいは車速センサ（ＳＰＤセンサ）を波形整形
する波形整形回路、１２０は各種ディジタルセンサ、例
えばスタータスイッチ（ＳＴＡ），アイドルスイッチ
（ＩＤＬ），ニュートラルスイッチ（ＮＳＷ）等からの
入力信号が入力される入力バッファ、１３０は各種アナ
ログセンサ、例えば酸素センサであるＯｘセンサ（Ｏ
ｘ），エアフロメータ（ＡＦＭ），水温センサ（ＴＨ
Ｗ），スロットル開度センサ（ＴＡ），吸気温センサ
（ＴＨＡ）等からのアナログ入力信号をディジタル信号
に変換するＡ／Ｄ変換器である。
筒センサ（Ｇセンサ）、クランク角センサ（Ｎｅセン
サ）、あるいは車速センサ（ＳＰＤセンサ）を波形整形
する波形整形回路、１２０は各種ディジタルセンサ、例
えばスタータスイッチ（ＳＴＡ），アイドルスイッチ
（ＩＤＬ），ニュートラルスイッチ（ＮＳＷ）等からの
入力信号が入力される入力バッファ、１３０は各種アナ
ログセンサ、例えば酸素センサであるＯｘセンサ（Ｏ
ｘ），エアフロメータ（ＡＦＭ），水温センサ（ＴＨ
Ｗ），スロットル開度センサ（ＴＡ），吸気温センサ
（ＴＨＡ）等からのアナログ入力信号をディジタル信号
に変換するＡ／Ｄ変換器である。
【００１０】１４０は前述の各種入力信号に基づく制御
信号の演算や各種のダイアグを実行するマイコンであ
り、ＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭ等（図示せず）を内蔵して
いる。１５０はマイコン１４０で演算した制御信号を各
種アクチュエータ（イグナイタ、インジェクタ、ＥＧＲ
バルブ等）に出力する出力バッファである。次に、ダイ
アグ処理に関する説明をする。
信号の演算や各種のダイアグを実行するマイコンであ
り、ＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭ等（図示せず）を内蔵して
いる。１５０はマイコン１４０で演算した制御信号を各
種アクチュエータ（イグナイタ、インジェクタ、ＥＧＲ
バルブ等）に出力する出力バッファである。次に、ダイ
アグ処理に関する説明をする。
【００１１】制御系のダイアグでは、対象制御系に関連
するセンサが異常でない場合のみダイアグ処理を実行す
る。例えば、失火のダイアグ処理はＮｅセンサ、ＡＦ
Ｍ、ＳＰＤセンサ、水温センサが異常でない場合のみ実
行される。図２に、個々の制御系のダイアグ処理禁止フ
ラグＸＫ＊＊と、各種センサの異常フラグＸＷ＊＊との
関連を表す禁止データマトリックスを示す。この図で、
１は関連センサ（即ち、そのセンサが異常である場合は
対象制御系のダイアグ処理を禁止する）、０は無関係セ
ンサ（即ち、そのセンサが異常であっても対象制御系の
ダイアグ処理を実行する）を示している。なお、本実施
例では、各種の制御系として、失火（ＭＦ）、燃料系
（ＦＫＧ）、排気ガス還流系であるＥＧＲ、触媒（ＣＡ
Ｔ）、アイドルスピードコントロールであるＩＳＣ（ｉ
ｓｃ）があり、上記ダイアグ処理禁止フラグＸＫ＊＊の
＊＊には、上記制御系を示すアルファベットが記述され
ている。また、各種センサの異常フラグＸＷ＊＊の＊＊
にも、各種センサを示すアルファベットが記述されてい
る。
するセンサが異常でない場合のみダイアグ処理を実行す
る。例えば、失火のダイアグ処理はＮｅセンサ、ＡＦ
Ｍ、ＳＰＤセンサ、水温センサが異常でない場合のみ実
行される。図２に、個々の制御系のダイアグ処理禁止フ
ラグＸＫ＊＊と、各種センサの異常フラグＸＷ＊＊との
関連を表す禁止データマトリックスを示す。この図で、
１は関連センサ（即ち、そのセンサが異常である場合は
対象制御系のダイアグ処理を禁止する）、０は無関係セ
ンサ（即ち、そのセンサが異常であっても対象制御系の
ダイアグ処理を実行する）を示している。なお、本実施
例では、各種の制御系として、失火（ＭＦ）、燃料系
（ＦＫＧ）、排気ガス還流系であるＥＧＲ、触媒（ＣＡ
Ｔ）、アイドルスピードコントロールであるＩＳＣ（ｉ
ｓｃ）があり、上記ダイアグ処理禁止フラグＸＫ＊＊の
＊＊には、上記制御系を示すアルファベットが記述され
ている。また、各種センサの異常フラグＸＷ＊＊の＊＊
にも、各種センサを示すアルファベットが記述されてい
る。
【００１２】次に、各種センサのダイアグ結果は図３に
示すようにＸＷＣＯＤＥ１の各ビット毎に割り付けら
る。そして、正常時対応ビットが０、異常時対応ビット
が１としてイグニッションスイッチオフ後もその記憶内
容が保持されるスタンバイＲＡＭ（ＳＲＡＭ）に記憶さ
れる。図４に各制御系毎に関連するセンサの異常情報の
みを上記ＸＷＣＯＤＥ１から抽出するためのマスクテー
ブルＴ＊＊ＭＳＫ１を示す。なお、このＴ＊＊ＭＳＫ１
の＊＊に記述される文字は、個々の制御系を示してい
る。
示すようにＸＷＣＯＤＥ１の各ビット毎に割り付けら
る。そして、正常時対応ビットが０、異常時対応ビット
が１としてイグニッションスイッチオフ後もその記憶内
容が保持されるスタンバイＲＡＭ（ＳＲＡＭ）に記憶さ
れる。図４に各制御系毎に関連するセンサの異常情報の
みを上記ＸＷＣＯＤＥ１から抽出するためのマスクテー
ブルＴ＊＊ＭＳＫ１を示す。なお、このＴ＊＊ＭＳＫ１
の＊＊に記述される文字は、個々の制御系を示してい
る。
【００１３】さらに、図５にＸＷＣＯＤＥ１とマスクテ
ーブルとから演算される各制御系毎のダイアグ処理禁止
フラグＸＫＣＯＤＥ１の構成を示す。このＸＫＣＯＤＥ
１には、各種制御系のダイアグ処理禁止フラグが各ビッ
トに割りつけられる。図６はダイアグ処理禁止検出処理
を示すフローチャートである。
ーブルとから演算される各制御系毎のダイアグ処理禁止
フラグＸＫＣＯＤＥ１の構成を示す。このＸＫＣＯＤＥ
１には、各種制御系のダイアグ処理禁止フラグが各ビッ
トに割りつけられる。図６はダイアグ処理禁止検出処理
を示すフローチャートである。
【００１４】ステップ２００で制御系毎のマスクテーブ
ルとセンサの異常フラグとにより制御系毎のダイアグ処
理禁止フラグを生成する。そして、ステップ２１０で制
御系毎のダイアグ処理禁止フラグをＸＫＣＯＤＥ１に設
定し本処理を終了する。この処理を図７、および図８に
基づいて具体的に説明する。例えば、ＯｘセンサとＴＨ
Ａセンサが異常の場合、異常フラグＸＷＣＯＤＥ１はビ
ット１とビット５が１にセットされ、その他のビットは
０にセットされる。一方、失火ダイアグのマスクテーブ
ルＴＭＦＭＳＫ１は上述の図４のマスクテーブルに予め
設定されている。そして、このマスクテーブルＴＭＦＭ
ＳＫ１と異常フラグＸＷＣＯＤＥ１とのＡＮＤ演算を行
うと演算結果は全ビットが０、即ち失火ダイアグに関連
する関連センサは全て正常であるため、ＸＫＣＯＤＥ１
の失火ダイアグ処理禁止フラグＸＫＭＦに対応する対応
ビットを０に設定する。
ルとセンサの異常フラグとにより制御系毎のダイアグ処
理禁止フラグを生成する。そして、ステップ２１０で制
御系毎のダイアグ処理禁止フラグをＸＫＣＯＤＥ１に設
定し本処理を終了する。この処理を図７、および図８に
基づいて具体的に説明する。例えば、ＯｘセンサとＴＨ
Ａセンサが異常の場合、異常フラグＸＷＣＯＤＥ１はビ
ット１とビット５が１にセットされ、その他のビットは
０にセットされる。一方、失火ダイアグのマスクテーブ
ルＴＭＦＭＳＫ１は上述の図４のマスクテーブルに予め
設定されている。そして、このマスクテーブルＴＭＦＭ
ＳＫ１と異常フラグＸＷＣＯＤＥ１とのＡＮＤ演算を行
うと演算結果は全ビットが０、即ち失火ダイアグに関連
する関連センサは全て正常であるため、ＸＫＣＯＤＥ１
の失火ダイアグ処理禁止フラグＸＫＭＦに対応する対応
ビットを０に設定する。
【００１５】同様に、燃料系ダイアグのマスクテーブル
ＴＦＫＧＭＳＫ１と異常フラグＸＷＣＯＤＥ１とのＡＮ
Ｄ演算を行うとビット２の結果が１となり、全ビットが
０でなくなる。このため、燃料系ダイアグに関連する関
連センサに異常があるため、ＸＫＣＯＤＥ１の燃料系ダ
イアグ処理禁止フラグＸＫＦＫＧに対応する対応ビット
を１に設定する。
ＴＦＫＧＭＳＫ１と異常フラグＸＷＣＯＤＥ１とのＡＮ
Ｄ演算を行うとビット２の結果が１となり、全ビットが
０でなくなる。このため、燃料系ダイアグに関連する関
連センサに異常があるため、ＸＫＣＯＤＥ１の燃料系ダ
イアグ処理禁止フラグＸＫＦＫＧに対応する対応ビット
を１に設定する。
【００１６】なお、このようにＯｘセンサとＴＨＡセン
サが異常の場合のときの他の制御系のダイアグ処理禁止
フラグの生成については、図７、８に示したものと同様
であるため省略する。参考までに、ＯｘセンサとＴＨＡ
センサが異常の場合、ＥＧＲダイアグ処理禁止フラグＸ
ＫＥＧＲ＝１、触媒ダイアグ処理禁止フラグＸＫＣＡＴ
＝１、ＩＳＣダイアグ処理禁止フラグＸＫｉｓｃ＝０と
なる。
サが異常の場合のときの他の制御系のダイアグ処理禁止
フラグの生成については、図７、８に示したものと同様
であるため省略する。参考までに、ＯｘセンサとＴＨＡ
センサが異常の場合、ＥＧＲダイアグ処理禁止フラグＸ
ＫＥＧＲ＝１、触媒ダイアグ処理禁止フラグＸＫＣＡＴ
＝１、ＩＳＣダイアグ処理禁止フラグＸＫｉｓｃ＝０と
なる。
【００１７】次に、図９にて、各種制御系のダイアグ処
理を説明する。図９（ａ）は制御系のダイアグ処理の一
例である失火ダイアグ処理を示すフローチャートであ
る。ステップ３００で対応するダイアグ処理禁止フラグ
ＸＫＭＦの状態を検出する。ダイアグ処理禁止フラグＸ
ＫＭＦが１、即ち関連センサのいづれかが異常の場合は
本処理を終了する。一方、ダイアグ処理禁止フラグＸＫ
ＭＦが０、即ち関連センサの全てが正常の場合は所定の
失火ダイアグロジックの実行が許可される。そして、ス
テップ３１０でこのロジックを実行して本処理を終了す
る。
理を説明する。図９（ａ）は制御系のダイアグ処理の一
例である失火ダイアグ処理を示すフローチャートであ
る。ステップ３００で対応するダイアグ処理禁止フラグ
ＸＫＭＦの状態を検出する。ダイアグ処理禁止フラグＸ
ＫＭＦが１、即ち関連センサのいづれかが異常の場合は
本処理を終了する。一方、ダイアグ処理禁止フラグＸＫ
ＭＦが０、即ち関連センサの全てが正常の場合は所定の
失火ダイアグロジックの実行が許可される。そして、ス
テップ３１０でこのロジックを実行して本処理を終了す
る。
【００１８】なお、図９（ｂ）、図９（ｃ）にそれぞれ
燃料系ダイアグ処理を示すフローチャート、ＥＧＲダイ
アグ処理を示すフローチャートを示す。これらは図９
（ａ）の処理とほとんど同様であるので説明を省略す
る。以上説明したように、上記実施例では、各制御系の
ダイアグ処理を実行する前に各種のセンサの異常を一括
して処理し、その各制御系のダイアグ処理において対応
するセンサの異常を上記処理結果を参照することにより
制御系のダイアグ処理を実行するか禁止するかを決定し
ている。したがって、開発段階、あるいは設計変更等に
よって、各制御系のダイアグ処理において関連するセン
サの組合せが変更したときでも、図４のマスクテーブル
で対応する制御系のマスクテーブルにおいて新たに必要
とされるセンサに該当するビットを１、あるいは不要と
なったセンサに該当するビットを０とすれば簡単にその
変更に対応することができる。
燃料系ダイアグ処理を示すフローチャート、ＥＧＲダイ
アグ処理を示すフローチャートを示す。これらは図９
（ａ）の処理とほとんど同様であるので説明を省略す
る。以上説明したように、上記実施例では、各制御系の
ダイアグ処理を実行する前に各種のセンサの異常を一括
して処理し、その各制御系のダイアグ処理において対応
するセンサの異常を上記処理結果を参照することにより
制御系のダイアグ処理を実行するか禁止するかを決定し
ている。したがって、開発段階、あるいは設計変更等に
よって、各制御系のダイアグ処理において関連するセン
サの組合せが変更したときでも、図４のマスクテーブル
で対応する制御系のマスクテーブルにおいて新たに必要
とされるセンサに該当するビットを１、あるいは不要と
なったセンサに該当するビットを０とすれば簡単にその
変更に対応することができる。
【００１９】したがって、センサの組合せの変更を容易
に行うことができ、開発効率等を大幅に向上させること
ができる。
に行うことができ、開発効率等を大幅に向上させること
ができる。
【００２０】
【発明の効果】以上に述べた本発明の異常検出装置の構
成および作用によると、抽出情報記憶部に記憶される抽
出情報によって個々の制御系に対応するセンサのみの異
常情報をセンサ異常記憶部から抽出できる。そして、こ
の異常情報によって、制御系の異常検出処理の実行の許
可が判断される。
成および作用によると、抽出情報記憶部に記憶される抽
出情報によって個々の制御系に対応するセンサのみの異
常情報をセンサ異常記憶部から抽出できる。そして、こ
の異常情報によって、制御系の異常検出処理の実行の許
可が判断される。
【００２１】このため、開発段階で、個々の制御系の異
常検出処理に関連するセンサが変更となっても、抽出情
報を変更するのみで容易にその変更に対応できる。従っ
て、開発効率の大幅な向上を図ることができる。
常検出処理に関連するセンサが変更となっても、抽出情
報を変更するのみで容易にその変更に対応できる。従っ
て、開発効率の大幅な向上を図ることができる。
【図１】車両用内燃機関の制御装置の構成図である。
【図２】ダイアグ処理禁止フラグＸＫ＊＊と、異常フラ
グＸＷ＊＊との関連を表す禁止データマトリックスであ
る。
グＸＷ＊＊との関連を表す禁止データマトリックスであ
る。
【図３】各種センサのダイアグ結果を示す異常フラグＸ
ＷＣＯＤＥ１を示す図である。
ＷＣＯＤＥ１を示す図である。
【図４】マスクテーブルＴ＊＊ＭＳＫ１を示す図であ
る。
る。
【図５】ダイアグ処理禁止フラグＸＫＣＯＤＥ１の構成
を示す図である。
を示す図である。
【図６】ダイアグ処理禁止検出処理を示すフローチャー
トである。
トである。
【図７】図６の処理を具体的に説明する説明図である。
【図８】図６の処理を具体的に説明する説明図である。
【図９】各種制御系のダイアグ処理を示すフローチャー
トである。
トである。
【図１０】従来の各種の制御系の異常検出処理を示すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
１００ 制御装置 １４０ マイコン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭59−16011（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−301718（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G05B 23/02 F02B 77/08 F02D 45/00
Claims (5)
- 【請求項１】 個々の制御系の異常を検出する異常検出
処理を実行する異常検出装置において、 複数のセンサの異常情報を記憶するセンサ異常記憶部
と、 前記制御系の異常検出処理において制御系毎に関連する
センサの異常情報のみを前記センサ異常記憶部から抽出
するために、前記制御系毎に前記制御系とその制御系に
係わるセンサとを関連付けるように設定された抽出情報
を含んだテーブルが記憶された抽出情報記憶部と、制御系毎に関連するセンサの前記異常情報のみを前記テ
ーブルの前記抽出情報に従って前記センサ異常記憶部か
ら抽出し、その抽出された前記異常情報が全て正常を示
しているか、あるいはいずれかで異常を示しているかを
各制御系毎にそれぞれ判別する判別手段と、 この判別手段にて、抽出された前記異常情報が全て正常
と示していると判別された制御系のみ異常検出処理の実
行を許可する許可手段とを 備えていることを特徴とする
異常検出装置。 - 【請求項２】 前記複数のセンサの異常情報は、前記セ
ンサ異常記憶部において各センサに対応して予め定めら
れた記憶位置に記憶されると共に、 前記抽出情報記憶部における前記テーブルには、制御系
毎に関連するセンサの異常情報が記憶される前記センサ
異常記憶部の前記記憶位置に対応した情報が予め設定さ
れていることを特徴とする請求項１記載の異常検出装
置。 - 【請求項３】 前記判別手段では、制御系毎にその判別
結果を示す判別結果情報を生成すると共に、 前記許可手段は、前記判別手段で生成された判別結果情
報に基づいて、各制御系毎の異常検出処理の実行を許可
することを特徴とする請求項１又は２記載の異常検出装
置。 - 【請求項４】 前記センサ異常記憶部における前記複数
のセンサの異常情報は各センサに対応してビット毎に割
り付けられており、 また前記抽出情報記憶部における前記テーブルは、制御
系毎に関連するセンサの異常情報が抽出されるように前
記センサ異常記憶部の各センサに対応して割り 付けられ
たビット位置に対応した情報が予め設定されていること
を特徴とする請求項２記載の異常検出装置。 - 【請求項５】 前記抽出情報記憶部における前記テーブ
ルは、制御系毎に関連するセンサのビット位置と同じビ
ット位置に前記異常情報を抽出させる為のビット情報が
設定されており、 前記判別手段では、前記センサ異常記憶部と前記抽出情
報記憶部の前記テーブルとの同一ビットを論理比較する
ことで各制御系に関連するセンサの前記異常情報のみを
抽出することを特徴とする請求項４記載の異常検出装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16346393A JP3282297B2 (ja) | 1993-07-01 | 1993-07-01 | 異常検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16346393A JP3282297B2 (ja) | 1993-07-01 | 1993-07-01 | 異常検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0720935A JPH0720935A (ja) | 1995-01-24 |
| JP3282297B2 true JP3282297B2 (ja) | 2002-05-13 |
Family
ID=15774359
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16346393A Expired - Lifetime JP3282297B2 (ja) | 1993-07-01 | 1993-07-01 | 異常検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3282297B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11213422A (ja) * | 1998-01-29 | 1999-08-06 | Olympus Optical Co Ltd | 半導体レーザ装置の高周波シールドケース |
| US20020183971A1 (en) * | 2001-04-10 | 2002-12-05 | Wegerich Stephan W. | Diagnostic systems and methods for predictive condition monitoring |
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-
1993
- 1993-07-01 JP JP16346393A patent/JP3282297B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| JPH0720935A (ja) | 1995-01-24 |
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