JP3279393B2 - 雑音指数算出方法および雑音指数計測装置 - Google Patents
雑音指数算出方法および雑音指数計測装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光増幅器の雑音指数を
得る雑音指数算出方法および雑音指数計測装置に関す
る。
得る雑音指数算出方法および雑音指数計測装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】エルビウム添加ファイバをレーザ光その
他でポンピングして増幅作用を得る光増幅器では、一般
に、入射される信号光のショット雑音と、その信号光と
共に入射される自然放出光（以下、「ＡＳＥ光」とい
う。）との間のビート雑音とが出力端に得られる雑音エ
ネルギーの大半を占めるものとして扱うことができる。
他でポンピングして増幅作用を得る光増幅器では、一般
に、入射される信号光のショット雑音と、その信号光と
共に入射される自然放出光（以下、「ＡＳＥ光」とい
う。）との間のビート雑音とが出力端に得られる雑音エ
ネルギーの大半を占めるものとして扱うことができる。
【０００３】図９は、従来の雑音指数計測装置の構成例
を示す図である。図において、信号光源である分布帰還
型のレーザダイオード９１の出力は伝送ファイバ９２1
を介して一段目の光増幅器（ＥＤＦＡ）９３の入力に接
続され、その出力は光フィルタ（ＢＰＦ）９４および伝
送ファイバ９２2 を介して雑音指数の測定対象となる二
段目の光増幅器９５の入力に接続される。光増幅器９５
の出力は雑音指数計測装置９６を介して後段に接続され
る。
を示す図である。図において、信号光源である分布帰還
型のレーザダイオード９１の出力は伝送ファイバ９２1
を介して一段目の光増幅器（ＥＤＦＡ）９３の入力に接
続され、その出力は光フィルタ（ＢＰＦ）９４および伝
送ファイバ９２2 を介して雑音指数の測定対象となる二
段目の光増幅器９５の入力に接続される。光増幅器９５
の出力は雑音指数計測装置９６を介して後段に接続され
る。
【０００４】光増幅器９５では、その入力端は従属接続
された光アイソレータ９７、ファイバカプラ９８および
エルビウム添加ファイバ９９を介して出力端に接続され
る。なお、エルビウム添加ファイバ９９は、エルビウム
に併せてアルミニューム化合物Al2Ｏ3を添加して構成さ
れる。ファイバカプラ９８の第一の合成入力にはレーザ
ダイオード１００が光学的に結合され、エルビウム添加
ファイバ９９は雑音指数計測装置９６に光学的に結合さ
れる。
された光アイソレータ９７、ファイバカプラ９８および
エルビウム添加ファイバ９９を介して出力端に接続され
る。なお、エルビウム添加ファイバ９９は、エルビウム
に併せてアルミニューム化合物Al2Ｏ3を添加して構成さ
れる。ファイバカプラ９８の第一の合成入力にはレーザ
ダイオード１００が光学的に結合され、エルビウム添加
ファイバ９９は雑音指数計測装置９６に光学的に結合さ
れる。
【０００５】雑音指数計測装置９６では、光フィルタ
（ＯＦ）１０１を介してフォトダイオード１０２1 がエ
ルビウム添加ファイバ９９に光学的に結合し、そのフォ
トダイオード１０２1 は演算部１０３の一方の入力に電
気的に接続される。エルビウム添加ファイバ９９の出力
端は、従属接続された光アイソレータ１０４、ファイバ
モニタ１０５および光フィルタ（ＢＰＦ）１０６1 を介
して後段に接続される。ファイバモニタ１０５の第一の
分岐出力は光フィルタ（ＢＰＦ）１０６2 を介してフォ
トダイオード１０２2 に光学的に結合する。なお、光フ
ィルタ１０６1 、１０６2 は、ガラス板に誘電体多層膜
を蒸着して構成され、フォトダイオード１０２1 、１０
２2 は長波帯に適合したInGaAs化合物半導体を用いて構
成される。フォトダイオード１０２2 は演算部１０３の
他方の入力に電気的に接続され、その出力には雑音指数
Ｆ* APRが得られる。
（ＯＦ）１０１を介してフォトダイオード１０２1 がエ
ルビウム添加ファイバ９９に光学的に結合し、そのフォ
トダイオード１０２1 は演算部１０３の一方の入力に電
気的に接続される。エルビウム添加ファイバ９９の出力
端は、従属接続された光アイソレータ１０４、ファイバ
モニタ１０５および光フィルタ（ＢＰＦ）１０６1 を介
して後段に接続される。ファイバモニタ１０５の第一の
分岐出力は光フィルタ（ＢＰＦ）１０６2 を介してフォ
トダイオード１０２2 に光学的に結合する。なお、光フ
ィルタ１０６1 、１０６2 は、ガラス板に誘電体多層膜
を蒸着して構成され、フォトダイオード１０２1 、１０
２2 は長波帯に適合したInGaAs化合物半導体を用いて構
成される。フォトダイオード１０２2 は演算部１０３の
他方の入力に電気的に接続され、その出力には雑音指数
Ｆ* APRが得られる。
【０００６】演算部１０３では、フォトダイオード１０
２1 、１０２2 の出力はそれぞれＡ／Ｄ変換器１０
７1 、１０７2 を介してディジタル演算回路１０８の対
応した入力に接続され、その出力にはＤ／Ａ変換器１０
９を介して上述した雑音指数が得られる。
２1 、１０２2 の出力はそれぞれＡ／Ｄ変換器１０
７1 、１０７2 を介してディジタル演算回路１０８の対
応した入力に接続され、その出力にはＤ／Ａ変換器１０
９を介して上述した雑音指数が得られる。
【０００７】このような構成の雑音指数計測装置では、
信号光源であるレーザダイオード９１から出射された所
定波長λS(＝1.5515μｍ）の信号光は、伝送ファイバ９
２1を介して一定の減衰を受け、規定のレベル（＝−15d
B）で光増幅器９３に与えられる。光増幅器９３は、こ
のようにして与えられる信号光を所定の利得（＝24.9d
B）で増幅する。光フィルタ９４は、中心波長が信号光
の波長λS に等しく透過半値幅がその信号光の主要エネ
ルギーを通過させる値（＝2.7nm)に設定され、光増幅器
９３によって増幅された信号光を取り込み、ＡＳＥ光の
成分を減衰させることによりそのＡＳＥ光と信号光との
間のビート雑音を抑圧して伝送ファイバ９２2 を介し光
増幅器９５に与える。
信号光源であるレーザダイオード９１から出射された所
定波長λS(＝1.5515μｍ）の信号光は、伝送ファイバ９
２1を介して一定の減衰を受け、規定のレベル（＝−15d
B）で光増幅器９３に与えられる。光増幅器９３は、こ
のようにして与えられる信号光を所定の利得（＝24.9d
B）で増幅する。光フィルタ９４は、中心波長が信号光
の波長λS に等しく透過半値幅がその信号光の主要エネ
ルギーを通過させる値（＝2.7nm)に設定され、光増幅器
９３によって増幅された信号光を取り込み、ＡＳＥ光の
成分を減衰させることによりそのＡＳＥ光と信号光との
間のビート雑音を抑圧して伝送ファイバ９２2 を介し光
増幅器９５に与える。
【０００８】光増幅器９５では、アイソレータ９７を介
して与えられる信号光は、レーザダイオード１００から
出射される所定波長（＝0.98μｍ）の励起光とファイバ
カプラ９８を介して合波され、図１０(a) に示すよう
に、光フィルタ９４を通過して与えられる伝搬ＡＳＥ光
の成分と共に利得媒質であるエルビウム添加ファイバ９
９に与えられる。なお、図１０では、縦軸の光のパワー
レベルについては、簡単のためエルビウム添加ファイバ
９９の出力に得られる信号光のパワーレベルで正規化し
て示す。
して与えられる信号光は、レーザダイオード１００から
出射される所定波長（＝0.98μｍ）の励起光とファイバ
カプラ９８を介して合波され、図１０(a) に示すよう
に、光フィルタ９４を通過して与えられる伝搬ＡＳＥ光
の成分と共に利得媒質であるエルビウム添加ファイバ９
９に与えられる。なお、図１０では、縦軸の光のパワー
レベルについては、簡単のためエルビウム添加ファイバ
９９の出力に得られる信号光のパワーレベルで正規化し
て示す。
【０００９】エルビウム添加ファイバ９９は上述した励
起光によってポンピングされて信号光を増幅し、その出
力端には、図１０(b) に示すように、増幅された信号光
および伝搬ＡＳＥ光に併せて、エルビウム添加ファイバ
９９で新たに発生した発生ＡＳＥ光の成分が得られる。
起光によってポンピングされて信号光を増幅し、その出
力端には、図１０(b) に示すように、増幅された信号光
および伝搬ＡＳＥ光に併せて、エルビウム添加ファイバ
９９で新たに発生した発生ＡＳＥ光の成分が得られる。
【００１０】雑音指数計測装置９６では、光フィルタ１
０１は、高波長域透過特性を有し、エルビウム添加ファ
イバ９９から外部に放射されるＡＳＥ光（その主要な波
長成分は約３ｎｍの近傍に分布する。）から上述した励
起光の波長（＝0.98μｍ）の成分を除去する。フォトダ
イオード１０２1 は、このようにして光フィルタ１０１
を介して得られるＡＳＥ光のパワーを光−電気変換する
ことにより取得して演算部１０３に与える。
０１は、高波長域透過特性を有し、エルビウム添加ファ
イバ９９から外部に放射されるＡＳＥ光（その主要な波
長成分は約３ｎｍの近傍に分布する。）から上述した励
起光の波長（＝0.98μｍ）の成分を除去する。フォトダ
イオード１０２1 は、このようにして光フィルタ１０１
を介して得られるＡＳＥ光のパワーを光−電気変換する
ことにより取得して演算部１０３に与える。
【００１１】一方、光アイソレータ１０４の入力端に
は、エルビウム添加ファイバ９９から図１０(b) に示す
信号光、伝搬ＡＳＥ光および発生ＡＳＥ光に併せて、上
述した励起光が与えられる。しかし、このような励起光
の成分については、その一部が既にファイバカプラ９８
で吸収され、さらに、光アイソレータ１０４を通過する
際にほぼ完全に吸収される。したがって、ファイバモニ
タ１０５は、信号光、伝搬ＡＳＥ光および発生ＡＳＥ光
を所定の比率(＝２０：１)で分岐させる。
は、エルビウム添加ファイバ９９から図１０(b) に示す
信号光、伝搬ＡＳＥ光および発生ＡＳＥ光に併せて、上
述した励起光が与えられる。しかし、このような励起光
の成分については、その一部が既にファイバカプラ９８
で吸収され、さらに、光アイソレータ１０４を通過する
際にほぼ完全に吸収される。したがって、ファイバモニ
タ１０５は、信号光、伝搬ＡＳＥ光および発生ＡＳＥ光
を所定の比率(＝２０：１)で分岐させる。
【００１２】光フィルタ１０６1 は、図１１(a) に示す
ように、信号光の波長λs(＝1.5515μｍ）に透過域の中
心が設定された帯域透過特性を有し、その信号光の成分
を透過させると共に、伝搬ＡＳＥ光および発生ＡＳＥ光
の成分を抑圧して後段に与える。
ように、信号光の波長λs(＝1.5515μｍ）に透過域の中
心が設定された帯域透過特性を有し、その信号光の成分
を透過させると共に、伝搬ＡＳＥ光および発生ＡＳＥ光
の成分を抑圧して後段に与える。
【００１３】また、光フィルタ１０６2 は、図１１(b)
に示すように、信号光の波長λs の近傍の波長λc2(＝
1.542μｍ＜λs ）に透過域の中心が設定された帯域透
過特性（透過半値幅＝1.5ｎｍ)を有し、光フィルタ１０
６1 とは反対に発生ＡＳＥ光の成分を透過させて信号光
の成分を抑圧する（図１０(c))。なお、伝搬ＡＳＥ光に
ついては、図１０(b) に示すように、光フィルタ１０６
2 の透過域では発生ＡＳＥ光に対して４０dB程度小さな
レベルとなるので、無視される。
に示すように、信号光の波長λs の近傍の波長λc2(＝
1.542μｍ＜λs ）に透過域の中心が設定された帯域透
過特性（透過半値幅＝1.5ｎｍ)を有し、光フィルタ１０
６1 とは反対に発生ＡＳＥ光の成分を透過させて信号光
の成分を抑圧する（図１０(c))。なお、伝搬ＡＳＥ光に
ついては、図１０(b) に示すように、光フィルタ１０６
2 の透過域では発生ＡＳＥ光に対して４０dB程度小さな
レベルとなるので、無視される。
【００１４】フォトダイオード１０２2 は、このように
して光フィルタ１０６2 を透過した発生ＡＳＥ光のパワ
ーＰASE(λc2）を光−電気変換することにより取得して
演算部１０３に与える。
して光フィルタ１０６2 を透過した発生ＡＳＥ光のパワ
ーＰASE(λc2）を光−電気変換することにより取得して
演算部１０３に与える。
【００１５】演算部１０３では、Ａ／Ｄ変換器１０７1
はフォトダイオード１０２1 を介して得られたＡＳＥ光
のパワーレベルをディジタル変換し、ディジタル演算回
路１０８はこのようにしてディジタル変換されたＡＳＥ
光のパワーレベルに、例えば、特願平３−１３１３２６
号や特願平５−５３４３０号に開示された演算を施すこ
とにより、エルビウム添加ファイバ９９の利得Ｇ（＞＞
１）を算出する。
はフォトダイオード１０２1 を介して得られたＡＳＥ光
のパワーレベルをディジタル変換し、ディジタル演算回
路１０８はこのようにしてディジタル変換されたＡＳＥ
光のパワーレベルに、例えば、特願平３−１３１３２６
号や特願平５−５３４３０号に開示された演算を施すこ
とにより、エルビウム添加ファイバ９９の利得Ｇ（＞＞
１）を算出する。
【００１６】さらに、ディジタル演算回路１０８では、
一般に、信号光の波長λs における発生ＡＳＥ光のパワ
ーＰASE(λs ）、信号光の周波数ｖ、発生ＡＳＥ光のパ
ワーの周波数軸上の分布幅Δｖおよびプランク定数ｈに
対して光増幅器９５の雑音指数Ｆを与える
一般に、信号光の波長λs における発生ＡＳＥ光のパワ
ーＰASE(λs ）、信号光の周波数ｖ、発生ＡＳＥ光のパ
ワーの周波数軸上の分布幅Δｖおよびプランク定数ｈに
対して光増幅器９５の雑音指数Ｆを与える
【００１７】
【数１】
【００１８】の式に、予め決められた定数Ｃ（＜０）を
用いて波長λs に近傍の波長λc2との間に成立する ＰASE(λs ）≒ＰASE(λc2）・10(-C/10) ・・・(2) の近似式を代入して両辺の対数をとることにより得られ
る
用いて波長λs に近傍の波長λc2との間に成立する ＰASE(λs ）≒ＰASE(λc2）・10(-C/10) ・・・(2) の近似式を代入して両辺の対数をとることにより得られ
る
【００１９】
【数２】
【００２０】の式に示す算術演算を行うことにより、デ
シベル単位の近似雑音指数Ｆ* PREを求める。なお、上式
(2) 、(3) に示すＰASE(λc2）の値については、Ａ／Ｄ
変換器１０７2 を介してフォトダイオード１０２2 の出
力をディジタル変換することにより得られる。
シベル単位の近似雑音指数Ｆ* PREを求める。なお、上式
(2) 、(3) に示すＰASE(λc2）の値については、Ａ／Ｄ
変換器１０７2 を介してフォトダイオード１０２2 の出
力をディジタル変換することにより得られる。
【００２１】また、このようにして求められた近似雑音
指数Ｆ* PREの値（図１２）には、エルビウム添加ファ
イバ９９に固有の利得Ｇの飽和特性とその特性に付随す
る利得Ｇの変動分に対する発生ＡＳＥ光のレベル変動と
に起因して、上式(1) によって与えられるデシベル単位
の雑音指数Ｆ* の真値（図１２）との間に信号光パワ
ーレベルに応じて変動する誤差ΔＰが生じる。このよう
な誤差は、上式(1) 、(3) から ΔＰ＝Ｆ* PRE−Ｆ*＝ＰASE(λc2)−ＰASE(λs ） ・・・(4) の式で与えられ、図１３に太線で示すようにデシベル単
位の利得Ｇ* に応じて変動する。
指数Ｆ* PREの値（図１２）には、エルビウム添加ファ
イバ９９に固有の利得Ｇの飽和特性とその特性に付随す
る利得Ｇの変動分に対する発生ＡＳＥ光のレベル変動と
に起因して、上式(1) によって与えられるデシベル単位
の雑音指数Ｆ* の真値（図１２）との間に信号光パワ
ーレベルに応じて変動する誤差ΔＰが生じる。このよう
な誤差は、上式(1) 、(3) から ΔＰ＝Ｆ* PRE−Ｆ*＝ＰASE(λc2)−ＰASE(λs ） ・・・(4) の式で与えられ、図１３に太線で示すようにデシベル単
位の利得Ｇ* に応じて変動する。
【００２２】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
従来の雑音指数計測装置では、演算部１０３が行う算術
演算の内容が上式(3) に示されるように複雑であるにも
かかわらず、その演算によって求められる近似雑音指数
Ｆ* PREに含まれる誤差ΔＰは、上式(2) に示す近似に基
づいて上式(4) が ΔＰ＝Ｃ ・・・(4) ′ と変形されるように一定値と見なされ、図１３に示す利
得Ｇ* に応じた依存性が無視されていたために、信号光
パワーレベルの変動に応じて大きな値になる場合があっ
た。
従来の雑音指数計測装置では、演算部１０３が行う算術
演算の内容が上式(3) に示されるように複雑であるにも
かかわらず、その演算によって求められる近似雑音指数
Ｆ* PREに含まれる誤差ΔＰは、上式(2) に示す近似に基
づいて上式(4) が ΔＰ＝Ｃ ・・・(4) ′ と変形されるように一定値と見なされ、図１３に示す利
得Ｇ* に応じた依存性が無視されていたために、信号光
パワーレベルの変動に応じて大きな値になる場合があっ
た。
【００２３】また、このような誤差ΔＰの利得Ｇ* に対
する変動分を低減する方法としては、光フィルタ１０６
2 の透過域の中心となる波長λc2を信号光の波長λs に
近い値に設定する方法がある。しかし、このような方法
は、光フィルタ１０６1 、１０６2 の出力端における信
号光と発生ＡＳＥ光とのレベル差を所定の下限値以上と
するためには、これらの光フィルタの選択透過性を急峻
に設定しなければならず、実際には技術的な限界やコス
ト面の制約から適用できない場合が多かった。
する変動分を低減する方法としては、光フィルタ１０６
2 の透過域の中心となる波長λc2を信号光の波長λs に
近い値に設定する方法がある。しかし、このような方法
は、光フィルタ１０６1 、１０６2 の出力端における信
号光と発生ＡＳＥ光とのレベル差を所定の下限値以上と
するためには、これらの光フィルタの選択透過性を急峻
に設定しなければならず、実際には技術的な限界やコス
ト面の制約から適用できない場合が多かった。
【００２４】本発明は、簡単な算術演算により精度よく
雑音指数を得る雑音指数算出方法および雑音指数計測装
置を提供することを目的とする。
雑音指数を得る雑音指数算出方法および雑音指数計測装
置を提供することを目的とする。
【００２５】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明で
は、デシベル単位の利得Ｇ* で波長λS の信号光を増幅
し、かつ波長λC （≠λS ）を中心波長とする波長帯域
にデシベル単位の強度Ｐ* ASE(λC）で自然放出光を発生
する光増幅器について、雑音指数Ｆ* を求める雑音指数
算出方法において、利得Ｇ* および強度Ｐ* ASE(λC）の
一次式で近似される雑音指数Ｆ* について、これらの利
得、強度および雑音指数の既知の値に基づいて予め求め
られた定数Ａおよび係数Ｂを適用して得られるＦ*≒Ｐ*
ASE(λC)＋Ａ＋Ｂ・Ｇ* の式による算術演算を行い、雑
音指数Ｆ* の近似値を得る近似演算手段を備えたことを
特徴とする。
は、デシベル単位の利得Ｇ* で波長λS の信号光を増幅
し、かつ波長λC （≠λS ）を中心波長とする波長帯域
にデシベル単位の強度Ｐ* ASE(λC）で自然放出光を発生
する光増幅器について、雑音指数Ｆ* を求める雑音指数
算出方法において、利得Ｇ* および強度Ｐ* ASE(λC）の
一次式で近似される雑音指数Ｆ* について、これらの利
得、強度および雑音指数の既知の値に基づいて予め求め
られた定数Ａおよび係数Ｂを適用して得られるＦ*≒Ｐ*
ASE(λC)＋Ａ＋Ｂ・Ｇ* の式による算術演算を行い、雑
音指数Ｆ* の近似値を得る近似演算手段を備えたことを
特徴とする。
【００２６】請求項２に記載の発明では、デシベル単位
の利得Ｇ* で波長λS の信号光を増幅する光増幅器の雑
音指数Ｆ* を求める雑音指数計測装置において、光増幅
器の稼働状態を監視し、その監視の結果に基づいて利得
Ｇ* を検出する利得検出手段と、光増幅器から出射され
る自然放出光の内、波長λC(≠λS)を中心波長とする波
長帯域の自然放出光を抽出し、その自然放出光のデシベ
ル単位の強度Ｐ* ASE（λC)を検出する強度検出手段と、
利得検出手段によって検出された利得Ｇ* と強度検出手
段によって検出された強度Ｐ* ASE(λC）とに、請求項１
に記載の発明に基づく算術演算を施して雑音指数Ｆ* の
近似値を得る近似演算手段とを備えたことを特徴とす
る。
の利得Ｇ* で波長λS の信号光を増幅する光増幅器の雑
音指数Ｆ* を求める雑音指数計測装置において、光増幅
器の稼働状態を監視し、その監視の結果に基づいて利得
Ｇ* を検出する利得検出手段と、光増幅器から出射され
る自然放出光の内、波長λC(≠λS)を中心波長とする波
長帯域の自然放出光を抽出し、その自然放出光のデシベ
ル単位の強度Ｐ* ASE（λC)を検出する強度検出手段と、
利得検出手段によって検出された利得Ｇ* と強度検出手
段によって検出された強度Ｐ* ASE(λC）とに、請求項１
に記載の発明に基づく算術演算を施して雑音指数Ｆ* の
近似値を得る近似演算手段とを備えたことを特徴とす
る。
【００２７】
【作用】請求項１に記載の雑音指数算出方法では、近似
演算手段が、利得Ｇ* および強度Ｐ* ASE(λC）に対する
一次式 Ｆ*≒Ｐ* ASE(λC)＋Ａ＋Ｂ・Ｇ* で雑音指数Ｆ* を近似し、その式に既知の強度Ｐ
* ASE(λC）、利得Ｇ* および雑音指数Ｆ* に基づいて予
め求められた定数Ａおよび係数Ｂを適用して算術演算を
行うことにより、雑音指数Ｆ* の近似値を算出する。
演算手段が、利得Ｇ* および強度Ｐ* ASE(λC）に対する
一次式 Ｆ*≒Ｐ* ASE(λC)＋Ａ＋Ｂ・Ｇ* で雑音指数Ｆ* を近似し、その式に既知の強度Ｐ
* ASE(λC）、利得Ｇ* および雑音指数Ｆ* に基づいて予
め求められた定数Ａおよび係数Ｂを適用して算術演算を
行うことにより、雑音指数Ｆ* の近似値を算出する。
【００２８】このような近似値には、光増幅器に固有の
利得Ｇ* の飽和特性とその特性に付随する利得Ｇ* の変
動分に応じた自然放出光のレベルの変動とに起因する誤
差ΔＰが含まれる。しかし、上式はこのような誤差ΔＰ
の利得Ｇ* に応じた変動分を直線近似して得られたもの
であるため、その変動分を一定値と見なしていた従来の
雑音指数算出方法に比べて近似の精度が高められ、かつ
複雑な関数演算を含まないので演算処理が簡略化され
る。
利得Ｇ* の飽和特性とその特性に付随する利得Ｇ* の変
動分に応じた自然放出光のレベルの変動とに起因する誤
差ΔＰが含まれる。しかし、上式はこのような誤差ΔＰ
の利得Ｇ* に応じた変動分を直線近似して得られたもの
であるため、その変動分を一定値と見なしていた従来の
雑音指数算出方法に比べて近似の精度が高められ、かつ
複雑な関数演算を含まないので演算処理が簡略化され
る。
【００２９】請求項２に記載の雑音指数計測装置では、
近似演算手段は、利得検出手段によって検出された利得
Ｇ* と強度検出手段によって検出された強度Ｐ
* ASE(λC）とを取り込み、これらの値から請求項１に記
載の発明に基づく算術演算を行って雑音指数Ｆ* の近似
値を求める。
近似演算手段は、利得検出手段によって検出された利得
Ｇ* と強度検出手段によって検出された強度Ｐ
* ASE(λC）とを取り込み、これらの値から請求項１に記
載の発明に基づく算術演算を行って雑音指数Ｆ* の近似
値を求める。
【００３０】したがって、従来例に比べて演算処理の内
容を簡略化しつつ上述した近似値に含まれる誤差ΔＰの
利得Ｇ* に対する変動分を抑圧して計測精度が高められ
るので、強度検出手段では、自然放出光を抽出する光学
的な選択透過特性の急峻性が従来例に比べて小さな値に
設定可能となり、かつ近似演算手段では、その手段を構
成するハードウエアやソフトウエアの規模が低減され
る。
容を簡略化しつつ上述した近似値に含まれる誤差ΔＰの
利得Ｇ* に対する変動分を抑圧して計測精度が高められ
るので、強度検出手段では、自然放出光を抽出する光学
的な選択透過特性の急峻性が従来例に比べて小さな値に
設定可能となり、かつ近似演算手段では、その手段を構
成するハードウエアやソフトウエアの規模が低減され
る。
【００３１】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の実施例につい
て詳細に説明する。図１は、本発明の第一の実施例を示
す図である。
て詳細に説明する。図１は、本発明の第一の実施例を示
す図である。
【００３２】図において、図９に示すものと構成が同じ
ものについては、同じ参照番号を付与して示し、ここで
はその説明を省略する。本発明の特徴とする構成は、本
実施例では、演算部１０３に代えてアナログ演算回路１
１からなる演算部１２を備えた点にある。
ものについては、同じ参照番号を付与して示し、ここで
はその説明を省略する。本発明の特徴とする構成は、本
実施例では、演算部１０３に代えてアナログ演算回路１
１からなる演算部１２を備えた点にある。
【００３３】以下、本実施例の動作を説明する。上式
(1) は、その両辺の対数をとって雑音指数Ｆ、信号光の
波長λs における発生ＡＳＥ光のパワーＰASE(λs ）お
よび利得Ｇの単位をそれぞれデシベルに変換したＦ* 、
Ｐ* ASE(λs) 、Ｇ* によって
(1) は、その両辺の対数をとって雑音指数Ｆ、信号光の
波長λs における発生ＡＳＥ光のパワーＰASE(λs ）お
よび利得Ｇの単位をそれぞれデシベルに変換したＦ* 、
Ｐ* ASE(λs) 、Ｇ* によって
【００３４】
【数３】
【００３５】の近似式に変換される。一方、従来例にお
ける誤差ΔＰの利得Ｇ* に対する依存性に着目すると、
図１３に示される誤差ΔＰの曲線とその曲線の接線との
差分を示すFunc(Ｇ)、その接線の縦軸の図示されない切
片ａおよび接線の傾きｂを上式(4) に代入することによ
り、
ける誤差ΔＰの利得Ｇ* に対する依存性に着目すると、
図１３に示される誤差ΔＰの曲線とその曲線の接線との
差分を示すFunc(Ｇ)、その接線の縦軸の図示されない切
片ａおよび接線の傾きｂを上式(4) に代入することによ
り、
【００３６】
【数４】
【００３７】の関係式が成立する。したがって、上式
(5) に上式(6) を代入することにより、雑音指数Ｆ* の
新たな近似値Ｆ* APRは、
(5) に上式(6) を代入することにより、雑音指数Ｆ* の
新たな近似値Ｆ* APRは、
【００３８】
【数５】
【００３９】の近似式で与えられるが、さらに、上述し
た差分Func(Ｇ)を無視すると、 Ｆ* APR ≒Ｋ2 ＋ＰASE *(λc2)−Ｋ3 Ｇ* ・・・(7) ′ の式で与えられる。
た差分Func(Ｇ)を無視すると、 Ｆ* APR ≒Ｋ2 ＋ＰASE *(λc2)−Ｋ3 Ｇ* ・・・(7) ′ の式で与えられる。
【００４０】また、利得Ｇ* は、エルビウム添加ファイ
バ９９から出射される自然放出光に応じてフォトダイオ
ード１０２1 から出力される光電流Ｉphおよびそのフォ
トダイオードに固有の定数ｃ、ｄに対して Ｇ* ＝ｃ＋ｄＩph ・・・(8) の式で与えられる。さらに、フォトダイオード１０２2
に受光される発生ＡＳＥ光のパワーレベルＰ
ASEm *(λc2）は、エルビウム添加ファイバ９９の出力端
から光アイソレータ１０４、ファイバモニタ１０５およ
び光フィルタ１０６2 を介してフォトダイオード１０２
2 に至る光学的な損失（単位はデシベル）Ｊ(＜０)に対
して、 ＰASEm *(λc2）＝ＰASE *(λc2)＋Ｊ ・・・(9) の式で与えられる。
バ９９から出射される自然放出光に応じてフォトダイオ
ード１０２1 から出力される光電流Ｉphおよびそのフォ
トダイオードに固有の定数ｃ、ｄに対して Ｇ* ＝ｃ＋ｄＩph ・・・(8) の式で与えられる。さらに、フォトダイオード１０２2
に受光される発生ＡＳＥ光のパワーレベルＰ
ASEm *(λc2）は、エルビウム添加ファイバ９９の出力端
から光アイソレータ１０４、ファイバモニタ１０５およ
び光フィルタ１０６2 を介してフォトダイオード１０２
2 に至る光学的な損失（単位はデシベル）Ｊ(＜０)に対
して、 ＰASEm *(λc2）＝ＰASE *(λc2)＋Ｊ ・・・(9) の式で与えられる。
【００４１】したがって、上式(7) ′に示す近似値Ｆ*
APRは、同式に上式(8) 、(9) を代入することにより
APRは、同式に上式(8) 、(9) を代入することにより
【００４２】
【数６】
【００４３】の式で与えられる。また、このような定係
数α、βについては、上述した差分Func(Ｇ)を無視した
場合には、予め実測により取得された２通りの
Ｆ* APR 、ＰASEm *（λc2）およびＩphの各値を上式(10)
に代入することにより、未知数として算出される。
数α、βについては、上述した差分Func(Ｇ)を無視した
場合には、予め実測により取得された２通りの
Ｆ* APR 、ＰASEm *（λc2）およびＩphの各値を上式(10)
に代入することにより、未知数として算出される。
【００４４】アナログ演算回路１１は、フォトダイオー
ド１０２1 によって実測される光電流Ｉphと、フォトダ
イオード１０２2 によって実測される発生ＡＳＥ光のパ
ワーレベルＰASEm *(λc2）とを取り込み、これらの値と
上述したように予め求められた定係数α、βとに基づい
て上式(10)に示す算術演算を行うことにより、雑音指数
Ｆ* APRを求める。
ド１０２1 によって実測される光電流Ｉphと、フォトダ
イオード１０２2 によって実測される発生ＡＳＥ光のパ
ワーレベルＰASEm *(λc2）とを取り込み、これらの値と
上述したように予め求められた定係数α、βとに基づい
て上式(10)に示す算術演算を行うことにより、雑音指数
Ｆ* APRを求める。
【００４５】ところで、このような近似により得られる
雑音指数Ｆ* APRの誤差ΔＰについては、上式(5) に示す
ように、信号光の波長λs における発生ＡＳＥ光のパワ
ーＰ ASE(λs)に代えて、波長λC2における発生ＡＳＥ光
のパワーＰASE(λC2）を用いたことに起因する誤差ΔＰ
に着目すると、図２に実線で示される計算値と、▲印、
○印、□印（それぞれエルビウム添加ファイバ９９に与
えられる励起光のパワーレベルＰp が１０ｍＷ、２０ｍ
Ｗ、３０ｍＷの値をとる場合に対応する。）で示される
実測値とで示されるように、上式(6) は利得Ｇ* の値の
広い範囲で成立する。なお、図２では、誤差ΔＰは、そ
の最大値を０dBm に正規化して示す。また、上式(7) か
ら求められる雑音指数Ｆ* APRは入力信号光パワーレベル
および上述した励起光のパワーレベルＰp に対して図３
に示されるように推移するが、その雑音指数と上式(1)
から求められる雑音指数の真値Ｆ* との差ΔＦは、図４
に示すように、入力信号光のパワーに対して−0.06〜＋
0.03dBと小さな値をとり、エルビウム添加ファイバ９９
の広い動作範囲で高い精度が確保される。
雑音指数Ｆ* APRの誤差ΔＰについては、上式(5) に示す
ように、信号光の波長λs における発生ＡＳＥ光のパワ
ーＰ ASE(λs)に代えて、波長λC2における発生ＡＳＥ光
のパワーＰASE(λC2）を用いたことに起因する誤差ΔＰ
に着目すると、図２に実線で示される計算値と、▲印、
○印、□印（それぞれエルビウム添加ファイバ９９に与
えられる励起光のパワーレベルＰp が１０ｍＷ、２０ｍ
Ｗ、３０ｍＷの値をとる場合に対応する。）で示される
実測値とで示されるように、上式(6) は利得Ｇ* の値の
広い範囲で成立する。なお、図２では、誤差ΔＰは、そ
の最大値を０dBm に正規化して示す。また、上式(7) か
ら求められる雑音指数Ｆ* APRは入力信号光パワーレベル
および上述した励起光のパワーレベルＰp に対して図３
に示されるように推移するが、その雑音指数と上式(1)
から求められる雑音指数の真値Ｆ* との差ΔＦは、図４
に示すように、入力信号光のパワーに対して−0.06〜＋
0.03dBと小さな値をとり、エルビウム添加ファイバ９９
の広い動作範囲で高い精度が確保される。
【００４６】さらに、このような本実施例の精度につい
ては、図５(a) に示す正確な実測値(J.Aspel et al; Op
tical Fiber Communication Conference,ThA4, pp189-1
90,1992に記載された方法による。）を基準として図５
(b) に示す従来例における実測値と対比すると、本実施
例において励起光のパワーレベルＰp が２０ｍＷの場合
に最小二乗法適用して求められる定係数α（＝89.453d
B）およびβ(＝0.22266dB／nA）と、実測される発生Ａ
ＳＥ光のパワーレベルＰASEm *(λc2)(＝−57.2dBm 〜−
42.1dBm)と、さらに、同様にして実測される光電流Ｉ
p(＝120nA〜198nA）とによって上式(10)から算出される
雑音指数Ｆ* APRは、図５(C) に示すように、−0.06dB〜
＋0.07dBの差がある。しかし、このような差は、図５
(b) に示す従来例による実測値と図５(a) に示す実測値
との差（＝−0.7dB 〜＋0.06dB) に比べて大幅に小さな
値となる。
ては、図５(a) に示す正確な実測値(J.Aspel et al; Op
tical Fiber Communication Conference,ThA4, pp189-1
90,1992に記載された方法による。）を基準として図５
(b) に示す従来例における実測値と対比すると、本実施
例において励起光のパワーレベルＰp が２０ｍＷの場合
に最小二乗法適用して求められる定係数α（＝89.453d
B）およびβ(＝0.22266dB／nA）と、実測される発生Ａ
ＳＥ光のパワーレベルＰASEm *(λc2)(＝−57.2dBm 〜−
42.1dBm)と、さらに、同様にして実測される光電流Ｉ
p(＝120nA〜198nA）とによって上式(10)から算出される
雑音指数Ｆ* APRは、図５(C) に示すように、−0.06dB〜
＋0.07dBの差がある。しかし、このような差は、図５
(b) に示す従来例による実測値と図５(a) に示す実測値
との差（＝−0.7dB 〜＋0.06dB) に比べて大幅に小さな
値となる。
【００４７】また、本実施例によって得られる雑音指数
Ｆ* APRの精度は、８時間以内の同じ条件下における計測
の結果に比べると、わずかに±0.03dBと極めて安定であ
る。このように本実施例によれば、図１３に示すよう
に、光増幅器９５の利得Ｇ*に応じて非直線的に推移す
る誤差ΔＰの値を直線近似して得られる上式(7) ′、(1
0)を用いることにより、その式に示す算術演算を行う演
算部１２を従来例の演算部１０３に比べて大幅に簡単な
構成とし、かつ確実に高い精度が得られる。
Ｆ* APRの精度は、８時間以内の同じ条件下における計測
の結果に比べると、わずかに±0.03dBと極めて安定であ
る。このように本実施例によれば、図１３に示すよう
に、光増幅器９５の利得Ｇ*に応じて非直線的に推移す
る誤差ΔＰの値を直線近似して得られる上式(7) ′、(1
0)を用いることにより、その式に示す算術演算を行う演
算部１２を従来例の演算部１０３に比べて大幅に簡単な
構成とし、かつ確実に高い精度が得られる。
【００４８】図６は、本発明の第二の実施例を示す図で
ある。本実施例と図１に示す実施例との構成上の相違点
は、レーザダイオード９１に代えて出射されるレーザ光
の波長が 1.300μｍの分布帰還型のレーザダイオード６
０を備え、光増幅器９３に代えて半導体レーザ増幅器
（ＳＬＡ）６１を備え、ファイバカプラ９８およびエル
ビウム添加ファイバ９９に代えて半導体レーザ増幅器６
２（ＳＬＡ）を備え、レーザダイオード１００に代えて
電流駆動回路６３を備えた点にある。
ある。本実施例と図１に示す実施例との構成上の相違点
は、レーザダイオード９１に代えて出射されるレーザ光
の波長が 1.300μｍの分布帰還型のレーザダイオード６
０を備え、光増幅器９３に代えて半導体レーザ増幅器
（ＳＬＡ）６１を備え、ファイバカプラ９８およびエル
ビウム添加ファイバ９９に代えて半導体レーザ増幅器６
２（ＳＬＡ）を備え、レーザダイオード１００に代えて
電流駆動回路６３を備えた点にある。
【００４９】なお、本実施例は、レーザダイオード６０
から出射されるレーザ光の波長（＝1.300μｍ）に対応
させて、フォトダイオード１０２1 に受光直径が１ｍｍ
のものを採用し、光フィルタ１０６1 に透過半値幅が３
ｎｍのものを採用し、光フィルタ１０６2 に透過半値幅
が２ｎｍであって透過波長域の中心λC2が 1.285μｍで
あるものを採用した点でも図１に示す実施例と異なる
が、これらのフォトダイオードおよび光フィルタについ
ては、簡単のため、同じ参照番号を付与して示す。さら
に、半導体レーザ増幅器６２には、駆動電流の値が 100
mAであるときに２５dBの未飽和利得を有するものを採用
する。
から出射されるレーザ光の波長（＝1.300μｍ）に対応
させて、フォトダイオード１０２1 に受光直径が１ｍｍ
のものを採用し、光フィルタ１０６1 に透過半値幅が３
ｎｍのものを採用し、光フィルタ１０６2 に透過半値幅
が２ｎｍであって透過波長域の中心λC2が 1.285μｍで
あるものを採用した点でも図１に示す実施例と異なる
が、これらのフォトダイオードおよび光フィルタについ
ては、簡単のため、同じ参照番号を付与して示す。さら
に、半導体レーザ増幅器６２には、駆動電流の値が 100
mAであるときに２５dBの未飽和利得を有するものを採用
する。
【００５０】本実施例では、アナログ演算回路１１は図
１に示す実施例と同様の演算を行って雑音指数の近似値
Ｆ* APRを求めるので、その近似値(図７)の入力信号光
のパワーに依存した変動幅は、同図に示す真値(図７)
を基準とすると、−0.6dB 〜＋0.4dB の相対値をとって
いた従来例の実測値(図７)に比べて−0.1dB〜＋0.1dB
程度と大幅に軽減される。
１に示す実施例と同様の演算を行って雑音指数の近似値
Ｆ* APRを求めるので、その近似値(図７)の入力信号光
のパワーに依存した変動幅は、同図に示す真値(図７)
を基準とすると、−0.6dB 〜＋0.4dB の相対値をとって
いた従来例の実測値(図７)に比べて−0.1dB〜＋0.1dB
程度と大幅に軽減される。
【００５１】図８は、本発明の第三の実施例を示す図で
ある。本実施例と図１に示す実施例との構成上の相違点
は、エルビウム添加ファイバ９９と光アイソレータ１０
４との間にファイバカプラ８１を配置し、フォトダイオ
ード１０２1 にはファイバカプラ８１を介して分岐され
た励起光を与え、レーザダイオード１００に光学的に結
合したフォトダイオード８２を付加し、さらに、フォト
ダイオード１０２1 、８２の出力を並列に演算部１２の
対応する入力に接続した点にある。
ある。本実施例と図１に示す実施例との構成上の相違点
は、エルビウム添加ファイバ９９と光アイソレータ１０
４との間にファイバカプラ８１を配置し、フォトダイオ
ード１０２1 にはファイバカプラ８１を介して分岐され
た励起光を与え、レーザダイオード１００に光学的に結
合したフォトダイオード８２を付加し、さらに、フォト
ダイオード１０２1 、８２の出力を並列に演算部１２の
対応する入力に接続した点にある。
【００５２】本実施例では、エルビウム添加ファイバ９
９の利得Ｇ* の求め方のみに特徴があり、その利得に応
じて雑音指数を求める算術演算の内容については、図１
に示す実施例と全く同じであるから、以下ではその説明
を省略する。
９の利得Ｇ* の求め方のみに特徴があり、その利得に応
じて雑音指数を求める算術演算の内容については、図１
に示す実施例と全く同じであるから、以下ではその説明
を省略する。
【００５３】フォトダイオード８２はレーザダイオード
１００から出射される励起光のパワーレベルを検出し、
フォトダイオード１０２1 はファイバカプラ８１を介し
てエルビウム添加ファイバ９９を通過した励起光のパワ
ーレベルを検出する。演算部１２は、このようにしてフ
ォトダイオード８２、１０２1 から個別に励起光のパワ
ーレベルに応じて出力される光電流の差分に基づいてエ
ルビウム添加ファイバ９９の励起光に対する損失Ｌp を
求める。さらに、演算部１２は、このような損失Ｌp に
特願平４−１２９８９号や特願平４−９１２１８号に開
示された処理を施すことにより、定数ｅ、ｆに対して Ｇ* ＝ｅ＋ｆ・Ｌp の式で与えられる利得Ｇ* を求める。
１００から出射される励起光のパワーレベルを検出し、
フォトダイオード１０２1 はファイバカプラ８１を介し
てエルビウム添加ファイバ９９を通過した励起光のパワ
ーレベルを検出する。演算部１２は、このようにしてフ
ォトダイオード８２、１０２1 から個別に励起光のパワ
ーレベルに応じて出力される光電流の差分に基づいてエ
ルビウム添加ファイバ９９の励起光に対する損失Ｌp を
求める。さらに、演算部１２は、このような損失Ｌp に
特願平４−１２９８９号や特願平４−９１２１８号に開
示された処理を施すことにより、定数ｅ、ｆに対して Ｇ* ＝ｅ＋ｆ・Ｌp の式で与えられる利得Ｇ* を求める。
【００５４】したがって、本実施例によれば、図１に示
す実施例と同等の精度および再現性で雑音指数Ｆ* APRが
求められる。なお、上述した各実施例では、近似式(7)
′の近似式については、既知の値を複数の組合せで代
入することにより未知数として係数および定数項の値を
求めたが、本発明では、このような方法に限定されず、
例えば、最小二乗法その他の方法を用いて求めてもよ
い。
す実施例と同等の精度および再現性で雑音指数Ｆ* APRが
求められる。なお、上述した各実施例では、近似式(7)
′の近似式については、既知の値を複数の組合せで代
入することにより未知数として係数および定数項の値を
求めたが、本発明では、このような方法に限定されず、
例えば、最小二乗法その他の方法を用いて求めてもよ
い。
【００５５】さらに、上述した各実施例では、近似式
(7) のFunc(Ｇ)項については、無視されるものとして扱
われているが、本発明は、このような方法に限定され
ず、例えば、コンピュータシミュレーションその他の手
法を用いてその項が簡単な算術演算により近似でき、か
つその近似に必要な係数や定数が予め確実に取得できる
ならば、雑音指数を求める近似式に含めてもよい。
(7) のFunc(Ｇ)項については、無視されるものとして扱
われているが、本発明は、このような方法に限定され
ず、例えば、コンピュータシミュレーションその他の手
法を用いてその項が簡単な算術演算により近似でき、か
つその近似に必要な係数や定数が予め確実に取得できる
ならば、雑音指数を求める近似式に含めてもよい。
【００５６】
【本発明の効果】以上説明したように本発明では、光増
幅器に固有の利得Ｇ* の飽和特性と、その特性に付随す
る利得Ｇ* の変動分に応じた自然放出光の放出レベルの
変動とによる誤差ΔＰの利得Ｇ* に対する変動分を直線
近似し、その近似によって得られた近似式に、利得Ｇ*
と光増幅器から放出される自然放出光の強度Ｐ
* ASE(λC）との実測値を代入してその光増幅器の雑音指
数の近似値を算出する。
幅器に固有の利得Ｇ* の飽和特性と、その特性に付随す
る利得Ｇ* の変動分に応じた自然放出光の放出レベルの
変動とによる誤差ΔＰの利得Ｇ* に対する変動分を直線
近似し、その近似によって得られた近似式に、利得Ｇ*
と光増幅器から放出される自然放出光の強度Ｐ
* ASE(λC）との実測値を代入してその光増幅器の雑音指
数の近似値を算出する。
【００５７】このような近似式に基づく算術演算は、上
述した変動分を一定値と見なしていた従来例に比べて近
似の精度が高く、かつ複雑な関数演算を含まないので演
算処理が簡略化される。
述した変動分を一定値と見なしていた従来例に比べて近
似の精度が高く、かつ複雑な関数演算を含まないので演
算処理が簡略化される。
【００５８】すなわち、上述した近似値の誤差ΔＰの利
得Ｇ* に対する変動分を抑圧して計測精度が高められる
ので、強度検出手段に自然放出光を抽出する際に要求さ
れる光学的な選択透過特性の急峻性は従来例に比べて小
さな値に設定可能となり、近似演算手段を構成するハー
ドウエアやソフトウエアの規模が低減される。
得Ｇ* に対する変動分を抑圧して計測精度が高められる
ので、強度検出手段に自然放出光を抽出する際に要求さ
れる光学的な選択透過特性の急峻性は従来例に比べて小
さな値に設定可能となり、近似演算手段を構成するハー
ドウエアやソフトウエアの規模が低減される。
【００５９】したがって、本発明によれば雑音指数の計
測誤差が低減され、かつ装置の小型化および低廉化がは
かられる。
測誤差が低減され、かつ装置の小型化および低廉化がは
かられる。
【図１】本発明の第一の実施例を示す図である。
【図２】本実施例における誤差ΔＰの利得依存性を示す
図である。
図である。
【図３】本実施例における雑音指数の実測値を示す図で
ある。
ある。
【図４】本実施例の計測誤差を示す図である。
【図５】本実施例の効果を示す図である。
【図６】本発明の第二の実施例を示す図である。
【図７】本実施例の入力信号光パワーレベル依存性を示
す図である。
す図である。
【図８】本発明の第三の実施例を示す図である。
【図９】従来の雑音指数計測装置の構成例を示す図であ
る。
る。
【図１０】従来例の動作を説明する図である。
【図１１】光フィルタの透過率特性を示す図である。
【図１２】本実施例の入力信号光パワーレベル依存性を
示す図である。
示す図である。
【図１３】誤差ΔＰの利得依存性を示す図である。
１１ アナログ演算回路 １２，１０３ 演算部 ６１，６２ 半導体レーザ増幅器（ＳＬＡ） ６３ 電流駆動回路 ８１，９８ ファイバカプラ ８２，１０２ フォトダイオード ９１，１００ レーザダイオード ９２ 伝送ファイバ ９３ 光増幅器（ＥＤＦＡ） ９４，１０６ 光フィルタ ９５ 光増幅器 ９６ 雑音指数計測装置 ９７，１０４ 光アイソレータ ９９ エルビウム添加ファイバ １０１ 光フィルタ（ＯＦ） １０５ ファイバモニタ １０７ Ａ／Ｄ変換器 １０８ ディジタル演算回路 １０９ Ｄ／Ａ変換器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平５−133841（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−365386（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−9634（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01M 11/00 G02F 1/35 501 H01S 3/00
Claims (2)
- 【請求項１】 デシベル単位の利得Ｇ* で波長λS の信
号光を増幅し、かつ波長λC(≠λS)を中心波長とする波
長帯域にデシベル単位の強度Ｐ* ASE(λC）で自然放出光
を発生する光増幅器について、雑音指数Ｆ* を求める雑
音指数算出方法において、 前記利得Ｇ* および前記強度Ｐ* ASE(λC）の一次式で近
似される雑音指数Ｆ*について、これらの利得、強度お
よび雑音指数の既知の値に基づいて予め求められた定数
Ａおよび係数Ｂを適用して得られる Ｆ* ≒Ｐ* ASE(λC）＋Ａ＋Ｂ・Ｇ* の式による算術演算を行い、前記雑音指数Ｆ* の近似値
を得る近似演算手段を備えたことを特徴とした雑音指数
算出方法。 - 【請求項２】 デシベル単位の利得Ｇ* で波長λS の信
号光を増幅する光増幅器の雑音指数Ｆ* を求める雑音指
数計測装置において、 前記光増幅器の稼働状態を監視し、その監視の結果に基
づいて前記利得Ｇ* を検出する利得検出手段と、 前記光増幅器から出射される自然放出光の内、波長λ
C(≠λS)を中心波長とする波長帯域の自然放出光を抽出
し、その自然放出光のデシベル単位の強度Ｐ* ASE(λC）
を検出する強度検出手段と、 前記利得検出手段によって検出された利得Ｇ* と前記強
度検出手段によって検出された強度Ｐ* ASE(λC）とに、
請求項１に記載の発明に基づく算術演算を施して前記雑
音指数Ｆ* の近似値を得る近似演算手段とを備えたこと
を特徴とする雑音指数計測装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14770693A JP3279393B2 (ja) | 1993-06-18 | 1993-06-18 | 雑音指数算出方法および雑音指数計測装置 |
| US08/139,227 US5471334A (en) | 1992-10-21 | 1993-10-19 | Method and apparatus for monitoring noise figure of optical amplifier |
| EP93117095A EP0594178B1 (en) | 1992-10-21 | 1993-10-21 | Method and apparatus for monitoring noise figure of optical amplifier |
| DE69331797T DE69331797T2 (de) | 1992-10-21 | 1993-10-21 | Verfahren und Gerät zur Überwachung der Rauschzahl eines optischen Verstärkers |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14770693A JP3279393B2 (ja) | 1993-06-18 | 1993-06-18 | 雑音指数算出方法および雑音指数計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH075070A JPH075070A (ja) | 1995-01-10 |
| JP3279393B2 true JP3279393B2 (ja) | 2002-04-30 |
Family
ID=15436395
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14770693A Expired - Fee Related JP3279393B2 (ja) | 1992-10-21 | 1993-06-18 | 雑音指数算出方法および雑音指数計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
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Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3065980B2 (ja) * | 1998-01-07 | 2000-07-17 | 日本電気株式会社 | 光増幅器 |
| JP2002168691A (ja) * | 2000-11-28 | 2002-06-14 | Ando Electric Co Ltd | 雑音指数測定装置、及び、雑音指数測定方法 |
-
1993
- 1993-06-18 JP JP14770693A patent/JP3279393B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH075070A (ja) | 1995-01-10 |
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