JP3264619B2 - 画像処理装置および方法 - Google Patents
画像処理装置および方法Info
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- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T11/00—2D [Two Dimensional] image generation
- G06T11/40—Filling a planar surface by adding surface attributes, e.g. colour or texture
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は画像処理装置および
方法に関し、特に、１つの文字が複数のストロークで構
成され、ストローク単位でパラメータ表現されているア
ウトラインフォントを生成する画像処理装置および方法
に関するものである。
方法に関し、特に、１つの文字が複数のストロークで構
成され、ストローク単位でパラメータ表現されているア
ウトラインフォントを生成する画像処理装置および方法
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図２１は従来の画像処理装置の一例を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【０００３】図２１に示す画像処理装置は、輪郭座標生
成部１１と輪郭データ生成部１２とアドレス発生部１３
と輪郭バッファ１４と塗り潰し部１５とビットマップメ
モリ１６とで構成されている。
成部１１と輪郭データ生成部１２とアドレス発生部１３
と輪郭バッファ１４と塗り潰し部１５とビットマップメ
モリ１６とで構成されている。
【０００４】図２１に示す画像処理装置では、以下のよ
うに画像処理を行っていた。まず、１つのストローク分
のパラメータデータ群１０から、輪郭座標生成部１１で
輪郭座標を生成する。輪郭データ生成部１２は、この輪
郭座標を基に塗り潰しのための輪郭データとして同一ｙ
座標上の塗り潰し開始点と終了点を生成する。そしてア
ドレス発生部１３は、このｙ座標を輪郭バッファ１４の
アドレスとして発生し、同一ｙ座標上の塗り潰し開始点
および終了点はアドレス発生部１３が発生した輪郭バッ
ファ１４上のアドレスに格納される。この操作を１つの
ストローク分全てについて実行する。
うに画像処理を行っていた。まず、１つのストローク分
のパラメータデータ群１０から、輪郭座標生成部１１で
輪郭座標を生成する。輪郭データ生成部１２は、この輪
郭座標を基に塗り潰しのための輪郭データとして同一ｙ
座標上の塗り潰し開始点と終了点を生成する。そしてア
ドレス発生部１３は、このｙ座標を輪郭バッファ１４の
アドレスとして発生し、同一ｙ座標上の塗り潰し開始点
および終了点はアドレス発生部１３が発生した輪郭バッ
ファ１４上のアドレスに格納される。この操作を１つの
ストローク分全てについて実行する。
【０００５】次にアドレス発生部１３は、輪郭バッファ
１４に格納された同一ｙ座標上の塗り潰し開始点および
終了点に対応するビットマップメモリ１６の開始および
終了アドレスを発生する。塗り潰し部１５は、ビットマ
ップメモリ１６上のこの開始および終了アドレス間に全
て「１」を書き込む。この操作を輪郭バッファ１４に格
納された全ての開始点と終了点について実行する。この
一連の操作を全てのストロークについて行ない、各スト
ロークのビットマップデータの論理和をとることにより
文字を生成する。
１４に格納された同一ｙ座標上の塗り潰し開始点および
終了点に対応するビットマップメモリ１６の開始および
終了アドレスを発生する。塗り潰し部１５は、ビットマ
ップメモリ１６上のこの開始および終了アドレス間に全
て「１」を書き込む。この操作を輪郭バッファ１４に格
納された全ての開始点と終了点について実行する。この
一連の操作を全てのストロークについて行ない、各スト
ロークのビットマップデータの論理和をとることにより
文字を生成する。
【０００６】たとえば、図２２，図２３，図２４は文字
「Ｈ」を構成するそれぞれのストロークの輪郭座標のビ
ットマップイメージを示している。
「Ｈ」を構成するそれぞれのストロークの輪郭座標のビ
ットマップイメージを示している。
【０００７】また、図２５，図２６，図２７はそれぞれ
のビットマップイメージの輪郭座標を基に輪郭バッファ
１４の内容を示す説明図である。各図は、各ｙ座標にお
ける塗り潰し開始点（ＳｔｒａｔＸ）と終了点（Ｅｎｄ
Ｘ）の対のデータ（範囲データ）を記載したテーブルＴ
ｂを表している。
のビットマップイメージの輪郭座標を基に輪郭バッファ
１４の内容を示す説明図である。各図は、各ｙ座標にお
ける塗り潰し開始点（ＳｔｒａｔＸ）と終了点（Ｅｎｄ
Ｘ）の対のデータ（範囲データ）を記載したテーブルＴ
ｂを表している。
【０００８】そして、図２８，図２９，図３０に示すよ
うに、ストロークごとに輪郭データを基に塗り潰しを行
い、順次論理和をとることでビットマップメモリ１６上
に１つの文字を生成する。
うに、ストロークごとに輪郭データを基に塗り潰しを行
い、順次論理和をとることでビットマップメモリ１６上
に１つの文字を生成する。
【０００９】以上、図２２〜図３０は輪郭バッファ１４
のサイズが、ストロークのｙ軸方向の幅に対して十分な
場合を示している。
のサイズが、ストロークのｙ軸方向の幅に対して十分な
場合を示している。
【００１０】次に、輪郭バッファ１４のサイズがストロ
ークのｙ軸方向の幅に対して不十分であり、１度で１ス
トローク分の輪郭データを記憶できない場合は、図３１
〜図３６に示すように、複数回、一連の処理を操り返す
（以下、バンド処理という）。たとえば、図３１は輪郭
バッファ１４のｙ軸方向のサイズが文字「Ｈ」を構成す
る１ストロークの輪郭座標に対して十分でない場合のビ
ットマップイメージを示している。
ークのｙ軸方向の幅に対して不十分であり、１度で１ス
トローク分の輪郭データを記憶できない場合は、図３１
〜図３６に示すように、複数回、一連の処理を操り返す
（以下、バンド処理という）。たとえば、図３１は輪郭
バッファ１４のｙ軸方向のサイズが文字「Ｈ」を構成す
る１ストロークの輪郭座標に対して十分でない場合のビ
ットマップイメージを示している。
【００１１】この場合、輪郭バッファ１４の各ｙ座標に
おける塗り潰し開始点（ＳｔｒａｔＸ）と終了点（Ｅｎ
ｄＸ）の対のデータは図３２に示したようになり、図３
３に示すように輪郭データを基に塗り潰しを行う。次
に、図３４に示すようにストロークのｙ軸方向の座標を
シフトさせ。この場合、輪郭バッファ１４の各ｙ座標に
おける塗り潰し開始点（ＳｔｒａｔＸ）と終了点（Ｅｎ
ｄＸ）の対のデータは図３５に示したようになり、図３
６に示すように輪郭データを基に塗り潰しを行い、論理
和をとることでビットマップメモリ１６上に１つのスト
ロークを生成する。
おける塗り潰し開始点（ＳｔｒａｔＸ）と終了点（Ｅｎ
ｄＸ）の対のデータは図３２に示したようになり、図３
３に示すように輪郭データを基に塗り潰しを行う。次
に、図３４に示すようにストロークのｙ軸方向の座標を
シフトさせ。この場合、輪郭バッファ１４の各ｙ座標に
おける塗り潰し開始点（ＳｔｒａｔＸ）と終了点（Ｅｎ
ｄＸ）の対のデータは図３５に示したようになり、図３
６に示すように輪郭データを基に塗り潰しを行い、論理
和をとることでビットマップメモリ１６上に１つのスト
ロークを生成する。
【００１２】この際、２回目以降の処理において、同一
ｙ座標上の塗り潰し開始点および終了点の輪郭バッファ
１４への格納には、この開始点および終了点のｙ座標か
ら輪郭バッファ１４のｙ軸方向のサイズを差し引いた値
をアドレスとして用いる。
ｙ座標上の塗り潰し開始点および終了点の輪郭バッファ
１４への格納には、この開始点および終了点のｙ座標か
ら輪郭バッファ１４のｙ軸方向のサイズを差し引いた値
をアドレスとして用いる。
【００１３】図３７〜図４２に別のストロークについて
のバンド処理例を示す。
のバンド処理例を示す。
【００１４】図３７〜図４２の処理の流れや、図の仕様
等は、図３１〜図３６を用いて説明したものと同じであ
る。
等は、図３１〜図３６を用いて説明したものと同じであ
る。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら図３７〜
図４２の従来例では、輪郭バッファ１４のｙ軸方向の容
量がストロークのｙ軸方向の幅に対して十分であるにも
関わらずバンド処理が発生し、処理時間が増大する。
図４２の従来例では、輪郭バッファ１４のｙ軸方向の容
量がストロークのｙ軸方向の幅に対して十分であるにも
関わらずバンド処理が発生し、処理時間が増大する。
【００１６】このように、輪郭バッファが１度で１スト
ローク分の輪郭データを記憶できない場合は、従来技術
ではバンド処理が多数発生し、処理時間が増大する。ま
た、もしバンド処理を発生させないようにするために
は、１文字のサイズに十分な容量の輪郭バッファを必要
とするため多くのメモリ容量が必要になるという課題が
あった。
ローク分の輪郭データを記憶できない場合は、従来技術
ではバンド処理が多数発生し、処理時間が増大する。ま
た、もしバンド処理を発生させないようにするために
は、１文字のサイズに十分な容量の輪郭バッファを必要
とするため多くのメモリ容量が必要になるという課題が
あった。
【００１７】本発明は、上述の点に鑑みて成されたもの
で、その目的はバンド処理の発生による処理時間の増大
を防ぎ、かつ従来より小容量の輪郭バッファにより、効
率的な文字の生成を可能とする画像処理装置および方法
を提供することにある。
で、その目的はバンド処理の発生による処理時間の増大
を防ぎ、かつ従来より小容量の輪郭バッファにより、効
率的な文字の生成を可能とする画像処理装置および方法
を提供することにある。
【００１８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１に記載の本発明の装置では、複数のストロ
ークで構成され、ストローク単位で二次元のパラメータ
データ群により表現されるアウトラインフォントについ
て、前記ストロークごとに塗り潰しを行って生成した各
ストロークの画像に基づいた画像をビットマップメモリ
に描画する画像処理装置であって、前記ストロークの始
点と終点を含む前記パラメータデータ群の少なくとも一
方向の最小座標値または最大座標値を検出するとともに
前記パラメータデータ群から輪郭座標を生成する座標処
理手段と、前記座標処理手段により生成された輪郭座標
を基に、塗り潰し用の輪郭データである塗り潰し開始点
および終了点のデータを生成する輪郭データ生成手段
と、前記輪郭データ生成手段により生成された塗り潰し
開始点および終了点のデータを所定のアドレスに格納す
る輪郭バッファと、前記輪郭座標と前記最小座標値また
は最大座標値との差分値を前記所定のアドレスとして生
成し、また前記最小座標値または最大座標値と輪郭バッ
ファのアドレスとの加算値と前記塗り潰し開始点および
終了点のデータとを基に、ビットマップメモリ上の描画
開始アドレスおよび終了アドレスを生成するアドレス発
生手段と、前記ビットマップメモリ上の開始アドレスお
よび終了アドレス間に全て同一値を書き込むことで前記
塗り潰しを行う塗り潰し手段とを具備し、前記輪郭デー
タ生成手段による輪郭座標の生成と、前記輪郭バッファ
への格納と、前記アドレス発生手段によるアドレス生成
と、前記塗り潰し手段による塗り潰しとを繰り返し実行
する構成とした。
に、請求項１に記載の本発明の装置では、複数のストロ
ークで構成され、ストローク単位で二次元のパラメータ
データ群により表現されるアウトラインフォントについ
て、前記ストロークごとに塗り潰しを行って生成した各
ストロークの画像に基づいた画像をビットマップメモリ
に描画する画像処理装置であって、前記ストロークの始
点と終点を含む前記パラメータデータ群の少なくとも一
方向の最小座標値または最大座標値を検出するとともに
前記パラメータデータ群から輪郭座標を生成する座標処
理手段と、前記座標処理手段により生成された輪郭座標
を基に、塗り潰し用の輪郭データである塗り潰し開始点
および終了点のデータを生成する輪郭データ生成手段
と、前記輪郭データ生成手段により生成された塗り潰し
開始点および終了点のデータを所定のアドレスに格納す
る輪郭バッファと、前記輪郭座標と前記最小座標値また
は最大座標値との差分値を前記所定のアドレスとして生
成し、また前記最小座標値または最大座標値と輪郭バッ
ファのアドレスとの加算値と前記塗り潰し開始点および
終了点のデータとを基に、ビットマップメモリ上の描画
開始アドレスおよび終了アドレスを生成するアドレス発
生手段と、前記ビットマップメモリ上の開始アドレスお
よび終了アドレス間に全て同一値を書き込むことで前記
塗り潰しを行う塗り潰し手段とを具備し、前記輪郭デー
タ生成手段による輪郭座標の生成と、前記輪郭バッファ
への格納と、前記アドレス発生手段によるアドレス生成
と、前記塗り潰し手段による塗り潰しとを繰り返し実行
する構成とした。
【００１９】また、請求項２に記載の本発明の装置で
は、前記パラメータデータ群は、前記ストロークの外枠
情報をさらに含む構成とした。
は、前記パラメータデータ群は、前記ストロークの外枠
情報をさらに含む構成とした。
【００２０】また、請求項３に記載の本発明の装置で
は、前記パラメータデータ群は、前記ストロークを構成
する曲線の始点と終点と制御点とを含む構成とした。
は、前記パラメータデータ群は、前記ストロークを構成
する曲線の始点と終点と制御点とを含む構成とした。
【００２１】
【００２２】
【００２３】上記目的を達成するために、請求項４に記
載の本発明の方法では、複数のストロークで構成され、
ストローク単位で二次元のパラメータデータ群により表
現されるアウトラインフォントについて、前記ストロー
クごとに塗り潰しを行って生成した各ストロークの画像
に基づいた画像をビットマップメモリに描画する画像処
理方法であって、前記ストロークの始点と終点を含む前
記パラメータデータ群の少なくとも一方向の最小座標値
または最大座標値を検出するとともに前記パラメータデ
ータ群から輪郭座標を生成する座標処理ステップと、前
記座標処理ステップにより生成された輪郭座標を基に、
塗り潰し用の輪郭データである塗り潰し開始点および終
了点のデータを生成する輪郭データ生成ステップと、前
記輪郭データ生成ステップにより生成された塗り潰し開
始点および終了点のデータを輪郭バッファの所定のアド
レスに格納する格納ステップと、前記輪郭座標と前記最
小座標値または最大座標値との差分値を前記所定のアド
レスとして生成し、また前記最小座標値または最大座標
値と輪郭バッファのアドレスとの加算値と前記塗り潰し
開始点および終了点のデータとを基に、ビットマップメ
モリ上の描画開始アドレスおよび終了アドレスを生成す
るアドレス発生ステップと、前記ビットマップメモリ上
の開始アドレスおよび終了アドレス間に全て同一値を書
き込むことで前記塗り潰しを行う塗り潰しステップとを
具備し、前記輪郭データ生成ステップによる輪郭座標の
生成と、前記格納ステップによる格納と、前記アドレス
発生ステップによるアドレス生成と、前記塗り潰しステ
ップによる塗り潰しとを繰り返し実行する構成とした。
載の本発明の方法では、複数のストロークで構成され、
ストローク単位で二次元のパラメータデータ群により表
現されるアウトラインフォントについて、前記ストロー
クごとに塗り潰しを行って生成した各ストロークの画像
に基づいた画像をビットマップメモリに描画する画像処
理方法であって、前記ストロークの始点と終点を含む前
記パラメータデータ群の少なくとも一方向の最小座標値
または最大座標値を検出するとともに前記パラメータデ
ータ群から輪郭座標を生成する座標処理ステップと、前
記座標処理ステップにより生成された輪郭座標を基に、
塗り潰し用の輪郭データである塗り潰し開始点および終
了点のデータを生成する輪郭データ生成ステップと、前
記輪郭データ生成ステップにより生成された塗り潰し開
始点および終了点のデータを輪郭バッファの所定のアド
レスに格納する格納ステップと、前記輪郭座標と前記最
小座標値または最大座標値との差分値を前記所定のアド
レスとして生成し、また前記最小座標値または最大座標
値と輪郭バッファのアドレスとの加算値と前記塗り潰し
開始点および終了点のデータとを基に、ビットマップメ
モリ上の描画開始アドレスおよび終了アドレスを生成す
るアドレス発生ステップと、前記ビットマップメモリ上
の開始アドレスおよび終了アドレス間に全て同一値を書
き込むことで前記塗り潰しを行う塗り潰しステップとを
具備し、前記輪郭データ生成ステップによる輪郭座標の
生成と、前記格納ステップによる格納と、前記アドレス
発生ステップによるアドレス生成と、前記塗り潰しステ
ップによる塗り潰しとを繰り返し実行する構成とした。
【００２４】また、請求項５に記載の本発明の方法で
は、前記パラメータデータ群は、前記ストロークの外枠
情報をさらに含む構成とした。
は、前記パラメータデータ群は、前記ストロークの外枠
情報をさらに含む構成とした。
【００２５】また、請求項６に記載の本発明の方法で
は、前記パラメータデータ群は、前記ストロークを構成
する曲線の始点と終点と制御点とを含む構成とした。
は、前記パラメータデータ群は、前記ストロークを構成
する曲線の始点と終点と制御点とを含む構成とした。
【００２６】
【００２７】
【００２８】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施の形態を詳細に説明する。
の実施の形態を詳細に説明する。
【００２９】（第１の実施の形態）図１は本発明を適用
した画像処理装置の第１の実施の形態を示すブロック図
である。
した画像処理装置の第１の実施の形態を示すブロック図
である。
【００３０】図１中、図２１と同一構成部分には同一符
号を付してある。最小座標値検出部５０が、本実施の形
態で新たに付加されたものであり、図２１のアドレス発
生部１３は、ここではアドレス発生部５１に置き換わっ
ている。以下図１の実施の形態を、図２〜図５の例を用
いながら説明する。
号を付してある。最小座標値検出部５０が、本実施の形
態で新たに付加されたものであり、図２１のアドレス発
生部１３は、ここではアドレス発生部５１に置き換わっ
ている。以下図１の実施の形態を、図２〜図５の例を用
いながら説明する。
【００３１】図２はｘ方向の１本の直線で構成されるス
トロークのパラメータデータ群を表す図である。図３は
１本の直線からなる文字たとえば「−」を構成するスト
ロークの輪郭座標のビットマップイメージを示してい
る。図４は図３のビットマップイメージの輪郭座標を基
に輪郭バッファ１４の内容（テーブルＴｂ）を示す説明
図である。図５はビットマップ上に描画された文字
「−」を示す図である。
トロークのパラメータデータ群を表す図である。図３は
１本の直線からなる文字たとえば「−」を構成するスト
ロークの輪郭座標のビットマップイメージを示してい
る。図４は図３のビットマップイメージの輪郭座標を基
に輪郭バッファ１４の内容（テーブルＴｂ）を示す説明
図である。図５はビットマップ上に描画された文字
「−」を示す図である。
【００３２】まず１ストローク分のパラメータデータ群
１０から、輪郭座標生成部１１で輪郭座標（２……１
７，８），（２，９），（１７，９），（３，１０），
（１７，１０），（２……１７，１１）を生成する（図
３）。一方、パラメータデータ群１０から、最小座標値
検出部５０で、ｙ方向の最小座標値（８）を検出する
（図２）。次に、輪郭データ生成部１２で輪郭座標を基
に、塗り潰し用の輪郭データである塗り潰し開始点、終
了点を生成する。アドレス発生部５１は、輪郭座標と最
小座標値との差分値を輪郭バッファ１４のアドレスとし
て生成し、輪郭バッファ１４のこのアドレスに開始点お
よび終了点の対のデータとして格納する。図４は、各ｙ
座標における塗り潰し開始点（ＳｔｒａｔＸ）と終了点
（ＥｎｄＸ）の対のデータを記載したテーブルＴｂを表
している。このテーブルＴｂは従来と同様に記載される
ので、以下では説明を省略する。この操作を１ストロー
ク分全てについて実行する。
１０から、輪郭座標生成部１１で輪郭座標（２……１
７，８），（２，９），（１７，９），（３，１０），
（１７，１０），（２……１７，１１）を生成する（図
３）。一方、パラメータデータ群１０から、最小座標値
検出部５０で、ｙ方向の最小座標値（８）を検出する
（図２）。次に、輪郭データ生成部１２で輪郭座標を基
に、塗り潰し用の輪郭データである塗り潰し開始点、終
了点を生成する。アドレス発生部５１は、輪郭座標と最
小座標値との差分値を輪郭バッファ１４のアドレスとし
て生成し、輪郭バッファ１４のこのアドレスに開始点お
よび終了点の対のデータとして格納する。図４は、各ｙ
座標における塗り潰し開始点（ＳｔｒａｔＸ）と終了点
（ＥｎｄＸ）の対のデータを記載したテーブルＴｂを表
している。このテーブルＴｂは従来と同様に記載される
ので、以下では説明を省略する。この操作を１ストロー
ク分全てについて実行する。
【００３３】次に、アドレス発生部５１は、最小座標値
と輪郭バッファ１４のアドレスの加算値と開始点および
終了点を基に、ビットマップメモリ１６上の開始および
終了アドレスを生成する。次に塗り潰し部１５は、ビッ
トマップメモリ１６上の開始および終了アドレス間に全
て「１」を書き込む（図５）。この一連の操作を全ての
ストロークについて行ない、各ストロークのビットマッ
プデータの論理和をとることにより文字を生成する。
と輪郭バッファ１４のアドレスの加算値と開始点および
終了点を基に、ビットマップメモリ１６上の開始および
終了アドレスを生成する。次に塗り潰し部１５は、ビッ
トマップメモリ１６上の開始および終了アドレス間に全
て「１」を書き込む（図５）。この一連の操作を全ての
ストロークについて行ない、各ストロークのビットマッ
プデータの論理和をとることにより文字を生成する。
【００３４】図２〜図５に示したように、本実施の形態
では従来例で示したストローク（図３７〜図４２）につ
いてバンド処理は発生せず、１回の処理でビットマップ
データが得られる。
では従来例で示したストローク（図３７〜図４２）につ
いてバンド処理は発生せず、１回の処理でビットマップ
データが得られる。
【００３５】また、図２〜図５は輪郭バッファ１４のサ
イズがストロークのｙ軸方向の幅に対して十分な場合で
あるが、ストロークのｙ軸方向の幅がもっと大きく、１
度で１ストローク分の輪郭データを記憶できない場合に
ついて以下に説明する。
イズがストロークのｙ軸方向の幅に対して十分な場合で
あるが、ストロークのｙ軸方向の幅がもっと大きく、１
度で１ストローク分の輪郭データを記憶できない場合に
ついて以下に説明する。
【００３６】（第２の実施の形態）本実施の形態は図１
と同様のブロック構成により実現される。
と同様のブロック構成により実現される。
【００３７】図６はｙ方向の１本の直線で構成されるス
トロークのパラメータデータ群を表す図である。図７は
たとえば文字「Ｈ」を構成する複数のストロークのうち
の一ストロークの輪郭座標のビットマップイメージを示
している。図８は図７のビットマップイメージの輪郭座
標を基に輪郭バッファ１４の内容（テーブルＴｂ１）を
示す説明図である。図９はビットマップ上に描画された
ｙ方向の一ストロークの一部を示す図である。図１０は
たとえば文字「Ｈ」を構成する複数のストロークのうち
の一ストロークの輪郭座標のビットマップイメージを示
している。図１１は図１０のビットマップイメージの輪
郭座標を基に輪郭バッファ１４の内容（Ｔｂ２）を示す
説明図である。図１２はビットマップ上に描画された一
ストロークの全部を示す図である。
トロークのパラメータデータ群を表す図である。図７は
たとえば文字「Ｈ」を構成する複数のストロークのうち
の一ストロークの輪郭座標のビットマップイメージを示
している。図８は図７のビットマップイメージの輪郭座
標を基に輪郭バッファ１４の内容（テーブルＴｂ１）を
示す説明図である。図９はビットマップ上に描画された
ｙ方向の一ストロークの一部を示す図である。図１０は
たとえば文字「Ｈ」を構成する複数のストロークのうち
の一ストロークの輪郭座標のビットマップイメージを示
している。図１１は図１０のビットマップイメージの輪
郭座標を基に輪郭バッファ１４の内容（Ｔｂ２）を示す
説明図である。図１２はビットマップ上に描画された一
ストロークの全部を示す図である。
【００３８】本実施の形態では、図６〜図１２に示すバ
ンド処理を行なう。図７〜図９の一回目の処理におい
て、文字「Ｈ」を構成する一ストロークのｙ方向の最小
座標値（２）から輪郭バッファ１４のｙ方向の最大範囲
までについて、第１の実施の形態と同様の処理を行い、
図９に示したとおりにｙ方向の一ストロークの一部が描
画される。
ンド処理を行なう。図７〜図９の一回目の処理におい
て、文字「Ｈ」を構成する一ストロークのｙ方向の最小
座標値（２）から輪郭バッファ１４のｙ方向の最大範囲
までについて、第１の実施の形態と同様の処理を行い、
図９に示したとおりにｙ方向の一ストロークの一部が描
画される。
【００３９】図１０〜図１２の２回目以降の処理におい
て、開始点および終了点の輪郭バッファ１４への格納に
は、輪郭座標と最小座標値との差分値から輪郭バッファ
１４のｙ方向のサイズを差し引いた値のアドレスを用い
る。すなわち、図１０に示した文字「Ｈ」を構成する一
ストロークの残りの部分についてのテーブルＴｂ２は図
１１のとおりとなり、輪郭座標と最小座標値との差分値
から輪郭バッファ１４のｙ方向のサイズを差し引いた値
のアドレスを用いてビットマップメモリ１６に描画する
ことで、図１２に示したとおりに一ストロークの全部が
描画される。
て、開始点および終了点の輪郭バッファ１４への格納に
は、輪郭座標と最小座標値との差分値から輪郭バッファ
１４のｙ方向のサイズを差し引いた値のアドレスを用い
る。すなわち、図１０に示した文字「Ｈ」を構成する一
ストロークの残りの部分についてのテーブルＴｂ２は図
１１のとおりとなり、輪郭座標と最小座標値との差分値
から輪郭バッファ１４のｙ方向のサイズを差し引いた値
のアドレスを用いてビットマップメモリ１６に描画する
ことで、図１２に示したとおりに一ストロークの全部が
描画される。
【００４０】このように本実施の形態によれば、文字サ
イズよりも小さい輪郭バッファを用いた場合、従来に比
ベ、バンド処理の回数を少なくすることができるという
効果がある。
イズよりも小さい輪郭バッファを用いた場合、従来に比
ベ、バンド処理の回数を少なくすることができるという
効果がある。
【００４１】なお、本実施の形態では処理回数は２回で
あるが、文字のサイズ、輪郭バッファの容量に応じて３
回以上のバンド処理を行ってもよい。
あるが、文字のサイズ、輪郭バッファの容量に応じて３
回以上のバンド処理を行ってもよい。
【００４２】（第３の実施の形態）本実施の形態は図１
と同様のブロック構成により実現される。本実施の形態
では、処理対象のパラメータデータ群は曲線の始点と終
点と制御点とを含んでいる。
と同様のブロック構成により実現される。本実施の形態
では、処理対象のパラメータデータ群は曲線の始点と終
点と制御点とを含んでいる。
【００４３】図１３は１本のベジェ曲線とｘ方向の１本
の直線で構成されるストロークのパラメータデータ群を
表す図である。図１３において、黒塗りの丸はベジェ曲
線と水平直線が共有する始点、終点であり、白抜きの丸
はベジェ曲線の制御点である。
の直線で構成されるストロークのパラメータデータ群を
表す図である。図１３において、黒塗りの丸はベジェ曲
線と水平直線が共有する始点、終点であり、白抜きの丸
はベジェ曲線の制御点である。
【００４４】図１４はベジェ曲線のパラメータデータ群
に対する輪郭座標のビットマップイメージを示す説明図
である。図１５は図１４のビットマップイメージの輪郭
座標を基に輪郭バッファ１４の内容（テーブルＴｂ）を
示す説明図である。図１６はベジェ曲線とｘ方向の１本
の直線で囲まれた範囲に塗り潰しを行ったビットマップ
上の描画図である。
に対する輪郭座標のビットマップイメージを示す説明図
である。図１５は図１４のビットマップイメージの輪郭
座標を基に輪郭バッファ１４の内容（テーブルＴｂ）を
示す説明図である。図１６はベジェ曲線とｘ方向の１本
の直線で囲まれた範囲に塗り潰しを行ったビットマップ
上の描画図である。
【００４５】まず、これらの１つのストローク分のパラ
メータデータ群１０を用いて、輪郭座標生成部１１で輪
郭座標を生成する（図１４）。このとき、制御点は輪郭
バッファ１４の領域に含まれる。
メータデータ群１０を用いて、輪郭座標生成部１１で輪
郭座標を生成する（図１４）。このとき、制御点は輪郭
バッファ１４の領域に含まれる。
【００４６】一方、パラメータデータ１０から最小座標
値検出部５０で、ｙ方向の最小座標値（５）を検出す
る。図１３では、ベジェ曲線の制御点のｙ座標を最小座
標値として検出している。これ以降の図１５，図１６に
示す処理は、図４，図５を用いて説明した処理と同様で
ある。
値検出部５０で、ｙ方向の最小座標値（５）を検出す
る。図１３では、ベジェ曲線の制御点のｙ座標を最小座
標値として検出している。これ以降の図１５，図１６に
示す処理は、図４，図５を用いて説明した処理と同様で
ある。
【００４７】すなわち、輪郭データ生成部１２で輪郭座
標を基に、塗り潰し用の輪郭データである塗り潰し開始
点、終了点を生成する。アドレス発生部５１は、輪郭座
標と最小座標値との差分値を輪郭バッファ１４のアドレ
スとして生成し、輪郭バッファ１４のこのアドレスに開
始点および終了点の対のデータとして格納する。図１５
は、各ｙ座標における塗り潰し開始点（ＳｔｒａｔＸ）
と終了点（ＥｎｄＸ）の対のデータを記載したテーブル
Ｔｂを表している。この操作を１ストローク分全てにつ
いて実行する。
標を基に、塗り潰し用の輪郭データである塗り潰し開始
点、終了点を生成する。アドレス発生部５１は、輪郭座
標と最小座標値との差分値を輪郭バッファ１４のアドレ
スとして生成し、輪郭バッファ１４のこのアドレスに開
始点および終了点の対のデータとして格納する。図１５
は、各ｙ座標における塗り潰し開始点（ＳｔｒａｔＸ）
と終了点（ＥｎｄＸ）の対のデータを記載したテーブル
Ｔｂを表している。この操作を１ストローク分全てにつ
いて実行する。
【００４８】次に、アドレス発生部５１は、最小座標値
と輪郭バッファ１４のアドレスの加算値と開始点および
終了点を基に、ビットマップメモリ１６上の開始および
終了アドレスを生成する。次に塗り潰し部１５は、ビッ
トマップメモリ１６上の開始および終了アドレス間に全
て「１」を書き込む（図１６）。この一連の操作を全て
のストロークについて行ない、各ストロークのビットマ
ップデータの論理和をとることによりビットマップメモ
リ１６に文字を生成する。
と輪郭バッファ１４のアドレスの加算値と開始点および
終了点を基に、ビットマップメモリ１６上の開始および
終了アドレスを生成する。次に塗り潰し部１５は、ビッ
トマップメモリ１６上の開始および終了アドレス間に全
て「１」を書き込む（図１６）。この一連の操作を全て
のストロークについて行ない、各ストロークのビットマ
ップデータの論理和をとることによりビットマップメモ
リ１６に文字を生成する。
【００４９】（第４の実施の形態）本実施の形態は図１
と同様のブロック構成により実現される。本実施の形態
では、処理対象のパラメータデータ群は外枠情報を含ん
でいる。
と同様のブロック構成により実現される。本実施の形態
では、処理対象のパラメータデータ群は外枠情報を含ん
でいる。
【００５０】図１７は４本の直線で構成されるストロー
クのパラメータデータ群を表す図である。図１７におい
て、黒塗りの丸は直線の始点、終点であり、白抜きの丸
は外枠情報を示す点である。図１８は図１７のパラメー
タデータ群に対する輪郭座標のビットマップイメージを
示す説明図である。図１９は図１８のビットマップイメ
ージの輪郭座標を基に輪郭バッファ１４の内容（テーブ
ルＴｂ）を示す説明図である。図２０は４本の直線で囲
まれた範囲に塗り潰しを行ったビットマップ上の描画図
である。
クのパラメータデータ群を表す図である。図１７におい
て、黒塗りの丸は直線の始点、終点であり、白抜きの丸
は外枠情報を示す点である。図１８は図１７のパラメー
タデータ群に対する輪郭座標のビットマップイメージを
示す説明図である。図１９は図１８のビットマップイメ
ージの輪郭座標を基に輪郭バッファ１４の内容（テーブ
ルＴｂ）を示す説明図である。図２０は４本の直線で囲
まれた範囲に塗り潰しを行ったビットマップ上の描画図
である。
【００５１】まず、図１７の１つのストローク分のパラ
メータデータ群１０を用いて、図１８のとおり輪郭座標
生成部１１で輪郭座標を生成する。このとき、ｙ方向の
最小座標値（４）の外枠情報は輪郭バッファ１４の領域
に含まれる。ｙ方向の座標値（１４）の外枠情報は輪郭
バッファ１４の領域に含まれない。一方、最小座標値検
出部５０では、外枠情報の中から、ｙ方向の最小座標値
を検出する（図１７）。この場合には、全てのパラメー
タデータ群を評価することなく、最小座標値検出が可能
である。これ以降の図１９，図２０に示す処理は、図
４，図５を用いて説明した処理と同様である。
メータデータ群１０を用いて、図１８のとおり輪郭座標
生成部１１で輪郭座標を生成する。このとき、ｙ方向の
最小座標値（４）の外枠情報は輪郭バッファ１４の領域
に含まれる。ｙ方向の座標値（１４）の外枠情報は輪郭
バッファ１４の領域に含まれない。一方、最小座標値検
出部５０では、外枠情報の中から、ｙ方向の最小座標値
を検出する（図１７）。この場合には、全てのパラメー
タデータ群を評価することなく、最小座標値検出が可能
である。これ以降の図１９，図２０に示す処理は、図
４，図５を用いて説明した処理と同様である。
【００５２】すなわち、輪郭データ生成部１２で輪郭座
標を基に、塗り潰し用の輪郭データである塗り潰し開始
点、終了点を生成する。アドレス発生部５１は、輪郭座
標と最小座標値との差分値を輪郭バッファ１４のアドレ
スとして生成し、輪郭バッファ１４のこのアドレスに開
始点および終了点の対のデータとして格納する。図１９
は、各ｙ座標における塗り潰し開始点（ＳｔｒａｔＸ）
と終了点（ＥｎｄＸ）の対のデータを記載したテーブル
Ｔｂを表している。この操作を１ストローク分全てにつ
いて実行する。
標を基に、塗り潰し用の輪郭データである塗り潰し開始
点、終了点を生成する。アドレス発生部５１は、輪郭座
標と最小座標値との差分値を輪郭バッファ１４のアドレ
スとして生成し、輪郭バッファ１４のこのアドレスに開
始点および終了点の対のデータとして格納する。図１９
は、各ｙ座標における塗り潰し開始点（ＳｔｒａｔＸ）
と終了点（ＥｎｄＸ）の対のデータを記載したテーブル
Ｔｂを表している。この操作を１ストローク分全てにつ
いて実行する。
【００５３】次に、アドレス発生部５１は、最小座標値
と輪郭バッファ１４のアドレスの加算値と開始点および
終了点を基に、ビットマップメモリ１６上の開始および
終了アドレスを生成する。次に塗り潰し部１５は、ビッ
トマップメモリ１６上の開始および終了アドレス間に全
て「１」を書き込む（図２０）。この一連の操作を全て
のストロークについて行ない、各ストロークのビットマ
ップデータの論理和をとることによりビットマップメモ
リ１６に文字を生成する。
と輪郭バッファ１４のアドレスの加算値と開始点および
終了点を基に、ビットマップメモリ１６上の開始および
終了アドレスを生成する。次に塗り潰し部１５は、ビッ
トマップメモリ１６上の開始および終了アドレス間に全
て「１」を書き込む（図２０）。この一連の操作を全て
のストロークについて行ない、各ストロークのビットマ
ップデータの論理和をとることによりビットマップメモ
リ１６に文字を生成する。
【００５４】なお、上記の各実施の形態では最小座標値
検出部５０を用いたが、この代わりに最大座標値検出部
を用いる構成としても同様の効果を得ることができる。
また、上記の各実施の形態では文字を生成する場合につ
いて説明したが、文字に限らずその他のパターンであっ
ても本発明を適用することができることは勿論である。
検出部５０を用いたが、この代わりに最大座標値検出部
を用いる構成としても同様の効果を得ることができる。
また、上記の各実施の形態では文字を生成する場合につ
いて説明したが、文字に限らずその他のパターンであっ
ても本発明を適用することができることは勿論である。
【００５５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の画像処理
装置および方法では、複数のストロークで構成される各
ストロークの始点と終点を含むパラメータデータ群の少
なくとも一方向の最小座標値または最大座標値を検出す
るとともにパラメータデータ群から輪郭座標を生成し、
当該輪郭座標を基に塗り潰し用の輪郭データである塗り
潰し開始点および終了点のデータを生成して輪郭バッフ
ァの所定のアドレスに格納し、前記輪郭座標と前記最小
座標値または最大座標値との差分値を前記所定のアドレ
スとして生成し、また前記最小座標値または最大座標値
と輪郭バッファのアドレスとの加算値と前記塗り潰し開
始点および終了点のデータとを基に、ビットマップメモ
リ上の描画開始アドレスおよび終了アドレスを生成して
当該ビットマップメモリの描画開始アドレスと終了アド
レス間にすべて同一値を書き込むことで塗り潰しを行う
塗り潰しを繰り返し実行することで、文字サイズよりも
小さい輪郭バッファを用いた場合、従来に比ベ、バンド
処理の回数を少なくすることができる。一般的に、特に
漢字では、ストロークのサイズは文字のサイズに対して
十分小さいので、本発明装置および方法による効果は極
めて大きく、小容量の輪郭バッファでも短時間で効率良
く文字を生成することができるという効果を奏すること
ができる特徴がある。
装置および方法では、複数のストロークで構成される各
ストロークの始点と終点を含むパラメータデータ群の少
なくとも一方向の最小座標値または最大座標値を検出す
るとともにパラメータデータ群から輪郭座標を生成し、
当該輪郭座標を基に塗り潰し用の輪郭データである塗り
潰し開始点および終了点のデータを生成して輪郭バッフ
ァの所定のアドレスに格納し、前記輪郭座標と前記最小
座標値または最大座標値との差分値を前記所定のアドレ
スとして生成し、また前記最小座標値または最大座標値
と輪郭バッファのアドレスとの加算値と前記塗り潰し開
始点および終了点のデータとを基に、ビットマップメモ
リ上の描画開始アドレスおよび終了アドレスを生成して
当該ビットマップメモリの描画開始アドレスと終了アド
レス間にすべて同一値を書き込むことで塗り潰しを行う
塗り潰しを繰り返し実行することで、文字サイズよりも
小さい輪郭バッファを用いた場合、従来に比ベ、バンド
処理の回数を少なくすることができる。一般的に、特に
漢字では、ストロークのサイズは文字のサイズに対して
十分小さいので、本発明装置および方法による効果は極
めて大きく、小容量の輪郭バッファでも短時間で効率良
く文字を生成することができるという効果を奏すること
ができる特徴がある。
【図１】本発明を適用した画像処理装置の第１の実施の
形態を示すブロック図である。
形態を示すブロック図である。
【図２】ｘ方向の１本の直線で構成されるストロークの
パラメータデータ群を表す図である。
パラメータデータ群を表す図である。
【図３】１本の直線からなる文字「−」を構成するスト
ロークの輪郭座標のビットマップイメージを示す説明図
である。
ロークの輪郭座標のビットマップイメージを示す説明図
である。
【図４】図３のビットマップイメージの輪郭座標を基に
輪郭バッファ１４の内容を示す説明図である。
輪郭バッファ１４の内容を示す説明図である。
【図５】ビットマップ上に描画された文字「−」を示す
図である。
図である。
【図６】ｙ方向の１本の直線で構成されるストロークの
パラメータデータ群を表す図である。
パラメータデータ群を表す図である。
【図７】たとえば文字「Ｈ」を構成する一ストロークの
輪郭座標のビットマップイメージを示す説明図である。
輪郭座標のビットマップイメージを示す説明図である。
【図８】図７のビットマップイメージの輪郭座標を基に
輪郭バッファ１４の内容を示す説明図である。
輪郭バッファ１４の内容を示す説明図である。
【図９】ビットマップ上に描画されたｙ方向の一ストロ
ークの一部を示す図である。
ークの一部を示す図である。
【図１０】たとえば文字「Ｈ」を構成する一ストローク
の輪郭座標のビットマップイメージを示す説明図であ
る。
の輪郭座標のビットマップイメージを示す説明図であ
る。
【図１１】図１０のビットマップイメージの輪郭座標を
基に輪郭バッファ１４の内容を示す説明図である。
基に輪郭バッファ１４の内容を示す説明図である。
【図１２】ビットマップ上に描画された一ストロークの
全部を示す図である。
全部を示す図である。
【図１３】１本のベジェ曲線とｘ方向の１本の直線で構
成されるストロークのパラメータデータ群を表す図であ
る。
成されるストロークのパラメータデータ群を表す図であ
る。
【図１４】ベジェ曲線のパラメータデータ群に対する輪
郭座標のビットマップイメージを示す説明図である。
郭座標のビットマップイメージを示す説明図である。
【図１５】図１４のビットマップイメージの輪郭座標を
基に輪郭バッファ１４の内容を示す説明図である。
基に輪郭バッファ１４の内容を示す説明図である。
【図１６】ベジェ曲線とｘ方向の１本の直線で囲まれた
範囲に塗り潰しを行ったビットマップ上の描画図であ
る。
範囲に塗り潰しを行ったビットマップ上の描画図であ
る。
【図１７】４本の直線で構成されるストロークのパラメ
ータデータ群を表す図である。
ータデータ群を表す図である。
【図１８】図１７のパラメータデータ群に対する輪郭座
標のビットマップイメージを示す説明図である。
標のビットマップイメージを示す説明図である。
【図１９】図１８のビットマップイメージの輪郭座標を
基に輪郭バッファ１４の内容を示す説明図である。
基に輪郭バッファ１４の内容を示す説明図である。
【図２０】４本の直線で囲まれた範囲に塗り潰しを行っ
たビットマップ上の描画図である。
たビットマップ上の描画図である。
【図２１】従来の画像処理装置の一例を示すブロック図
である。
である。
【図２２】文字「Ｈ」を構成するそれぞれのストローク
の輪郭座標のビットマップイメージを示す説明図（その
１）である。
の輪郭座標のビットマップイメージを示す説明図（その
１）である。
【図２３】文字「Ｈ」を構成するそれぞれのストローク
の輪郭座標のビットマップイメージを示す説明図（その
２）である。
の輪郭座標のビットマップイメージを示す説明図（その
２）である。
【図２４】文字「Ｈ」を構成するそれぞれのストローク
の輪郭座標のビットマップイメージを示す説明図（その
３）である。
の輪郭座標のビットマップイメージを示す説明図（その
３）である。
【図２５】文字「Ｈ」を構成するそれぞれのビットマッ
プイメージの輪郭座標を基に輪郭バッファ１４の内容を
示す説明図（その１）である。
プイメージの輪郭座標を基に輪郭バッファ１４の内容を
示す説明図（その１）である。
【図２６】文字「Ｈ」を構成するそれぞれのビットマッ
プイメージの輪郭座標を基に輪郭バッファ１４の内容を
示す説明図（その２）である。
プイメージの輪郭座標を基に輪郭バッファ１４の内容を
示す説明図（その２）である。
【図２７】文字「Ｈ」を構成するそれぞれのビットマッ
プイメージの輪郭座標を基に輪郭バッファ１４の内容を
示す説明図（その３）である。
プイメージの輪郭座標を基に輪郭バッファ１４の内容を
示す説明図（その３）である。
【図２８】ストロークごとに輪郭データを基に塗り潰し
を行い順次論理和をとってビットマップメモリ１６上に
１つの文字が生成される過程を示す図（その１）であ
る。
を行い順次論理和をとってビットマップメモリ１６上に
１つの文字が生成される過程を示す図（その１）であ
る。
【図２９】ストロークごとに輪郭データを基に塗り潰し
を行い順次論理和をとってビットマップメモリ１６上に
１つの文字が生成される過程を示す図（その２）であ
る。
を行い順次論理和をとってビットマップメモリ１６上に
１つの文字が生成される過程を示す図（その２）であ
る。
【図３０】ストロークごとに輪郭データを基に塗り潰し
を行い順次論理和をとってビットマップメモリ１６上に
１つの文字が生成される過程を示す図（その３）であ
る。
を行い順次論理和をとってビットマップメモリ１６上に
１つの文字が生成される過程を示す図（その３）であ
る。
【図３１】バンド処理を説明する説明図（その１）であ
る。
る。
【図３２】バンド処理を説明する説明図（その２）であ
る。
る。
【図３３】バンド処理を説明する説明図（その３）であ
る。
る。
【図３４】バンド処理を説明する説明図（その４）であ
る。
る。
【図３５】バンド処理を説明する説明図（その５）であ
る。
る。
【図３６】バンド処理を説明する説明図（その６）であ
る。
る。
【図３７】別の例についてのバンド処理を説明する説明
図（その１）である。
図（その１）である。
【図３８】別の例についてのバンド処理を説明する説明
図（その２）である。
図（その２）である。
【図３９】別の例についてのバンド処理を説明する説明
図（その３）である。
図（その３）である。
【図４０】別の例についてのバンド処理を説明する説明
図（その４）である。
図（その４）である。
【図４１】別の例についてのバンド処理を説明する説明
図（その５）である。
図（その５）である。
【図４２】別の例についてのバンド処理を説明する説明
図（その６）である。
図（その６）である。
１０ パラメータデータ群 １１ 輪郭座標生成部 １２ 輪郭データ生成部 １４ 輪郭バッファ １５ 塗り潰し部 １６ ビットマップメモリ ５０ 最小座標値検出部 ５１ アドレス発生部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ Ｇ０９Ｇ 5/393 Ｇ０９Ｇ 5/36 ５３０Ｅ (72)発明者 山崎 竜彦 東京都大田区下丸子３丁目30番２号 キ ヤノン株式会社内 (56)参考文献 特開 平６−12049（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−168694（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−143879（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−191275（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G09G 5/24 620 B41J 2/485 G06F 3/153 310 G06T 11/40 G09G 5/36 G09G 5/393
Claims (6)
- 【請求項１】 複数のストロークで構成され、ストロー
ク単位で二次元のパラメータデータ群により表現される
アウトラインフォントについて、前記ストロークごとに
塗り潰しを行って生成した各ストロークの画像に基づい
た画像をビットマップメモリに描画する画像処理装置で
あって、 前記ストロークの始点と終点を含む前記パラメータデー
タ群の少なくとも一方向の最小座標値または最大座標値
を検出するとともに前記パラメータデータ群から輪郭座
標を生成する座標処理手段と、 前記座標処理手段により生成された輪郭座標を基に、塗
り潰し用の輪郭データである塗り潰し開始点および終了
点のデータを生成する輪郭データ生成手段と、 前記輪郭データ生成手段により生成された塗り潰し開始
点および終了点のデータを所定のアドレスに格納する輪
郭バッファと、 前記輪郭座標と前記最小座標値または最大座標値との差
分値を前記所定のアドレスとして生成し、また前記最小
座標値または最大座標値と輪郭バッファのアドレスとの
加算値と前記塗り潰し開始点および終了点のデータとを
基に、ビットマップメモリ上の描画開始アドレスおよび
終了アドレスを生成するアドレス発生手段と、 前記ビットマップメモリ上の開始アドレスおよび終了ア
ドレス間に全て同一値を書き込むことで前記塗り潰しを
行う塗り潰し手段とを具備し、 前記輪郭データ生成手段による輪郭座標の生成と、前記
輪郭バッファへの格納と、前記アドレス発生手段による
アドレス生成と、前記塗り潰し手段による塗り潰しとを
繰り返し実行することを特徴とする画像処理装置。 - 【請求項２】 前記パラメータデータ群は、前記ストロ
ークの外枠情報をさらに含むことを特徴とする請求項１
に記載の画像処理装置。 - 【請求項３】 前記パラメータデータ群は、前記ストロ
ークを構成する曲線の始点と終点と制御点とを含むこと
を特徴とする請求項１または２に記載の画像処理装置。 - 【請求項４】 複数のストロークで構成され、ストロー
ク単位で二次元のパラメータデータ群により表現される
アウトラインフォントについて、前記ストロークごとに
塗り潰しを行って生成した各ストロークの画像に基づい
た画像をビットマップメモリに描画する画像処理方法で
あって、 前記ストロークの始点と終点を含む前記パラメータデー
タ群の少なくとも一方向の最小座標値または最大座標値
を検出するとともに前記パラメータデータ群から輪郭座
標を生成する座標処理ステップと、 前記座標処理ステップにより生成された輪郭座標を基
に、塗り潰し用の輪郭データである塗り潰し開始点およ
び終了点のデータを生成する輪郭データ生成ステップ
と、 前記輪郭データ生成ステップにより生成された塗り潰し
開始点および終了点のデータを輪郭バッファの所定のア
ドレスに格納する格納ステップと、 前記輪郭座標と前記最小座標値または最大座標値との差
分値を前記所定のアドレスとして生成し、また前記最小
座標値または最大座標値と輪郭バッファのアドレスとの
加算値と前記塗り潰し開始点および終了点のデータとを
基に、ビットマップメモリ上の描画開始アドレスおよび
終了アドレスを生成するアドレス発生ステップと、 前記ビットマップメモリ上の開始アドレスおよび終了ア
ドレス間に全て同一値を書き込むことで前記塗り潰しを
行う塗り潰しステップとを具備し、 前記輪郭データ生成ステップによる輪郭座標の生成と、
前記格納ステップによる格納と、前記アドレス発生ステ
ップによるアドレス生成と、前記塗り潰しステップによ
る塗り潰しとを繰り返し実行することを特徴とする画像
処理方法。 - 【請求項５】 前記パラメータデータ群は、前記ストロ
ークの外枠情報をさらに含むことを特徴とする請求項４
に記載の画像処理方法。 - 【請求項６】 前記パラメータデータ群は、前記ストロ
ークを構成する曲線の始点と終点と制御点とを含むこと
を特徴とする請求項４または５に記載の画像処理方法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14272096A JP3264619B2 (ja) | 1996-06-05 | 1996-06-05 | 画像処理装置および方法 |
| US08/866,113 US5872574A (en) | 1996-06-05 | 1997-05-30 | Image processing apparatus and method |
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