JP2770582B2 - 図形塗潰し装置 - Google Patents
図形塗潰し装置Info
- Publication number
- JP2770582B2 JP2770582B2 JP3046813A JP4681391A JP2770582B2 JP 2770582 B2 JP2770582 B2 JP 2770582B2 JP 3046813 A JP3046813 A JP 3046813A JP 4681391 A JP4681391 A JP 4681391A JP 2770582 B2 JP2770582 B2 JP 2770582B2
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- Japan
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- edge list
- data
- contour
- filling
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T11/00—2D [Two Dimensional] image generation
- G06T11/40—Filling a planar surface by adding surface attributes, e.g. colour or texture
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Image Generation (AREA)
- Controls And Circuits For Display Device (AREA)
- Memory System Of A Hierarchy Structure (AREA)
- Digital Computer Display Output (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、図形の屈曲点から図形
の輪郭を復元して当該図形を塗潰す図形塗潰し装置に関
する。
の輪郭を復元して当該図形を塗潰す図形塗潰し装置に関
する。
【０００２】
【従来の技術】図形の塗潰し処理は、コンピュータグラ
フィックスにおいて非常に重要な技術であり、コード情
報をラスターイメージに展開する場合には欠くことので
きない技術である。特に近年ではアウトラインフォント
を用いた場合に文字の塗潰しのために使用されている。
塗潰しの方式としては種々の方式が提案されているが、
汎用性の高い塗潰し方式としてオーダード・エッジ・リ
スト方式（Orderd EdgeList Algorithm）が知られてい
る。以下、その処理の概略を説明する。なお、本明細書
においては、図形は文字、記号等も含むものとする。
フィックスにおいて非常に重要な技術であり、コード情
報をラスターイメージに展開する場合には欠くことので
きない技術である。特に近年ではアウトラインフォント
を用いた場合に文字の塗潰しのために使用されている。
塗潰しの方式としては種々の方式が提案されているが、
汎用性の高い塗潰し方式としてオーダード・エッジ・リ
スト方式（Orderd EdgeList Algorithm）が知られてい
る。以下、その処理の概略を説明する。なお、本明細書
においては、図形は文字、記号等も含むものとする。
【０００３】図７はオーダード・エッジ・リスト方式に
よる塗潰し処理の概略のフローチャートであり、いま、
図８において〜で示す７個の頂点、即ち屈折点の座
標データが与えられたとすると、各頂点間を順に結びな
がら、輪郭を構成する直線と各スキャンラインとの交点
の座標を求め、その座標をオーダード・エッジ・リスト
（以下、エッジリストと称す）に登録する（ステップＳ
１０）。このとき、、、のようにＹ方向の極大
点、極小点となる交点については重複して２点と数え、
、のように極大点でもなく極小点でもない交点につ
いては重複することなく１点として数え、、のよう
にＸ方向の極大点、極小点となる交点については１点と
数えるルールを設ける。
よる塗潰し処理の概略のフローチャートであり、いま、
図８において〜で示す７個の頂点、即ち屈折点の座
標データが与えられたとすると、各頂点間を順に結びな
がら、輪郭を構成する直線と各スキャンラインとの交点
の座標を求め、その座標をオーダード・エッジ・リスト
（以下、エッジリストと称す）に登録する（ステップＳ
１０）。このとき、、、のようにＹ方向の極大
点、極小点となる交点については重複して２点と数え、
、のように極大点でもなく極小点でもない交点につ
いては重複することなく１点として数え、、のよう
にＸ方向の極大点、極小点となる交点については１点と
数えるルールを設ける。
【０００４】以上の処理において、輪郭を構成する直線
と各スキャンラインとの交点の座標を求める方法として
は、例えばブレゼンハムの直線補間方法を用いることが
できるが、交点の座標を求めることができる方法であれ
ばその他の方法を用いることができるものであることは
言うまでもない。なお、図８においてＸ方向は表示装置
あるいはページプリンタの主走査方向を示し、Ｙ方向は
副走査方向を示す。以下同様である。
と各スキャンラインとの交点の座標を求める方法として
は、例えばブレゼンハムの直線補間方法を用いることが
できるが、交点の座標を求めることができる方法であれ
ばその他の方法を用いることができるものであることは
言うまでもない。なお、図８においてＸ方向は表示装置
あるいはページプリンタの主走査方向を示し、Ｙ方向は
副走査方向を示す。以下同様である。
【０００５】ステップＳ１０を全ての頂点間について行
うことによって、図９の「○」印で示すように当該図形
の輪郭とスキャンラインの全ての交点の座標を求める
（ステップＳ１１）。以上の処理によりエッジリストに
は図１０Ａに示すように全ての交点の座標が登録され
る。
うことによって、図９の「○」印で示すように当該図形
の輪郭とスキャンラインの全ての交点の座標を求める
（ステップＳ１１）。以上の処理によりエッジリストに
は図１０Ａに示すように全ての交点の座標が登録され
る。
【０００６】次に、図１０Ｂに示すように、エッジリス
トに登録された座標をＹ方向の座標値について昇順に整
列化し、更に図１０Ｃに示すように、各Ｙ座標値に関し
てＸ座標値を整列化して、図１０Ｄに示すような交点の
座標リストを作成する（ステップＳ１２）。次に、整列
化されたエッジリストを先頭から見ていき、スキャンラ
イン単位で、１番目と２番目、３番目と４番目というよ
うに、隣合う奇数番目と偶数番目のＸ座標を対とし、そ
の間を所定のピクセルパターンでセットすることによっ
て塗潰し処理を行う（ステップＳ１３）。例えば、図１
０Ｄの場合にはＹ＝２のスキャンラインにおいてはＸ座
標の３から６までが塗潰され、Ｙ＝４のスキャンライン
においてはＸ座標の３から６までと８から１０までが塗
潰される。以上のようにして当該図形は図１１に示すよ
うに塗潰される。
トに登録された座標をＹ方向の座標値について昇順に整
列化し、更に図１０Ｃに示すように、各Ｙ座標値に関し
てＸ座標値を整列化して、図１０Ｄに示すような交点の
座標リストを作成する（ステップＳ１２）。次に、整列
化されたエッジリストを先頭から見ていき、スキャンラ
イン単位で、１番目と２番目、３番目と４番目というよ
うに、隣合う奇数番目と偶数番目のＸ座標を対とし、そ
の間を所定のピクセルパターンでセットすることによっ
て塗潰し処理を行う（ステップＳ１３）。例えば、図１
０Ｄの場合にはＹ＝２のスキャンラインにおいてはＸ座
標の３から６までが塗潰され、Ｙ＝４のスキャンライン
においてはＸ座標の３から６までと８から１０までが塗
潰される。以上のようにして当該図形は図１１に示すよ
うに塗潰される。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
オーダード・エッジ・リスト方式による図形塗潰しにお
いては、輪郭とスキャンラインの交点の座標データがエ
ッジリストを格納するメモリの容量を越えた場合には図
形の塗潰しができないという問題があった。
オーダード・エッジ・リスト方式による図形塗潰しにお
いては、輪郭とスキャンラインの交点の座標データがエ
ッジリストを格納するメモリの容量を越えた場合には図
形の塗潰しができないという問題があった。
【０００８】例えば、アウトラインフォントをビットマ
ップに展開する場合には、エッジリストを格納するメモ
リとしては、使用する漢字の中で最も交点の数が多い複
雑な漢字をビットマップデータに展開できる程度の容量
を有するようにするのが通常であるが、より複雑な漢字
あるいは記号、図形が作成された場合にはビットマップ
に展開することは不可能となる。勿論、非常に膨大な容
量を有するメモリを使用することによってこのような問
題を回避することはできるが、コストが非常に高いもの
となり、小規模のワードプロセッサあるいはパーソナル
コンピュータ等の図形処理装置においては上述したエッ
ジリストを格納するメモリ領域を豊富に確保できるもの
ではないので、現実的ではないものである。
ップに展開する場合には、エッジリストを格納するメモ
リとしては、使用する漢字の中で最も交点の数が多い複
雑な漢字をビットマップデータに展開できる程度の容量
を有するようにするのが通常であるが、より複雑な漢字
あるいは記号、図形が作成された場合にはビットマップ
に展開することは不可能となる。勿論、非常に膨大な容
量を有するメモリを使用することによってこのような問
題を回避することはできるが、コストが非常に高いもの
となり、小規模のワードプロセッサあるいはパーソナル
コンピュータ等の図形処理装置においては上述したエッ
ジリストを格納するメモリ領域を豊富に確保できるもの
ではないので、現実的ではないものである。
【０００９】本発明は、上記の課題を解決するものであ
って、少ないメモリ容量でオーダード・エッジ・リスト
方式による図形塗潰しを行うことができる図形塗潰し装
置を提供することを目的とするものである。
って、少ないメモリ容量でオーダード・エッジ・リスト
方式による図形塗潰しを行うことができる図形塗潰し装
置を提供することを目的とするものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段及び作用】上記の目的を達
成するために、本発明の図形塗潰し装置は、図形データ
メモリ手段と、輪郭線データ生成手段と、エッジリスト
メモリ手段と、塗潰し処理手段と、登録手段とを備え
る。図形データメモリ手段は図形における各屈折点の
（Ｘ，Ｙ）座標値を屈折点データとして記憶するもので
ある。また、輪郭線データ生成手段は図形データメモリ
手段から屈折点データを順次読み出し、各屈折点の間を
結ぶ輪郭線を形成する点の（Ｘ，Ｙ）座標値を輪郭線デ
ータとして生成するものであり、エッジリストメモリ手
段は、この輪郭線データ生成手段で生成された輪郭線デ
ータを記憶するものである。また、登録手段は塗潰し処
理を行うＹ座標値の範囲を登録するものである。そし
て、塗潰し処理手段は、エッジリストメモリ手段から同
一のＹ座標値を有する輪郭線データを読み出し、読み出
された輪郭線データの各Ｘ座標値の大きさに基づいて各
Ｙ座標値毎に線画像データを生成して当該図形の塗潰し
を行うと共に、輪郭線データ生成手段により生成された
輪郭線データのうち、そのＹ座標値が前記登録手段に登
録された範囲の輪郭線データをエッジリストメモリ手段
に記憶させ、エッジリストメモリ手段の記憶領域がオー
バーフローしたか否かを検知し、エッジリストメモリ手
段の記憶領域のオーバーフローを検知した場合には、登
録手段に登録された塗潰し処理を行うＹ座標値の範囲を
分割し、その分割した各Ｙ座標値の範囲毎に輪郭線デー
タ生成手段、エッジリストメモリ手段を起動させて塗潰
し処理を順次実行する処理を行うものである。
成するために、本発明の図形塗潰し装置は、図形データ
メモリ手段と、輪郭線データ生成手段と、エッジリスト
メモリ手段と、塗潰し処理手段と、登録手段とを備え
る。図形データメモリ手段は図形における各屈折点の
（Ｘ，Ｙ）座標値を屈折点データとして記憶するもので
ある。また、輪郭線データ生成手段は図形データメモリ
手段から屈折点データを順次読み出し、各屈折点の間を
結ぶ輪郭線を形成する点の（Ｘ，Ｙ）座標値を輪郭線デ
ータとして生成するものであり、エッジリストメモリ手
段は、この輪郭線データ生成手段で生成された輪郭線デ
ータを記憶するものである。また、登録手段は塗潰し処
理を行うＹ座標値の範囲を登録するものである。そし
て、塗潰し処理手段は、エッジリストメモリ手段から同
一のＹ座標値を有する輪郭線データを読み出し、読み出
された輪郭線データの各Ｘ座標値の大きさに基づいて各
Ｙ座標値毎に線画像データを生成して当該図形の塗潰し
を行うと共に、輪郭線データ生成手段により生成された
輪郭線データのうち、そのＹ座標値が前記登録手段に登
録された範囲の輪郭線データをエッジリストメモリ手段
に記憶させ、エッジリストメモリ手段の記憶領域がオー
バーフローしたか否かを検知し、エッジリストメモリ手
段の記憶領域のオーバーフローを検知した場合には、登
録手段に登録された塗潰し処理を行うＹ座標値の範囲を
分割し、その分割した各Ｙ座標値の範囲毎に輪郭線デー
タ生成手段、エッジリストメモリ手段を起動させて塗潰
し処理を順次実行する処理を行うものである。
【００１１】
【実施例】以下、図面を参照しつつ実施例を説明する。
図１は本発明に係る図形塗潰し装置の一実施例の構成を
示す図、図２は本発明に係る図形塗潰し装置の処理を示
すフローチャートである。図１において、図形データメ
モリ１には、図示しない図形処理装置から図形の輪郭を
示す座標データが書き込まれる。当該図形データは、例
えば図８に示すように当該図形の頂点の座標データであ
ってもよく、またアウトラインフォントのように図形の
輪郭を示すベクトルの始点と終点の集合であってもよ
い。
図１は本発明に係る図形塗潰し装置の一実施例の構成を
示す図、図２は本発明に係る図形塗潰し装置の処理を示
すフローチャートである。図１において、図形データメ
モリ１には、図示しない図形処理装置から図形の輪郭を
示す座標データが書き込まれる。当該図形データは、例
えば図８に示すように当該図形の頂点の座標データであ
ってもよく、またアウトラインフォントのように図形の
輪郭を示すベクトルの始点と終点の集合であってもよ
い。
【００１２】図形データメモリ２に図形データが書き込
まれると、塗潰し処理部１は、まず図形データを参照し
てＹ座標の最小値と最大値とを求め、当該図形のＹ座標
の範囲、即ち有効スキャンラインを設定する（ステップ
Ｓ１）。例えばいま、図３の１０で示す図形のデータが
書き込まれたとすると、図形データからＹ座標の最小値
Ｙ1 と最大値Ｙ2 を求め、Ｙ1 とＹ2 の間を有効スキャ
ンラインとして設定する。次に、従来のステップＳ１０
と同様にして当該図形の輪郭と有効スキャンラインの交
点の座標を求め、エッジリストメモリ３に登録する（ス
テップＳ２）。このとき、塗潰し処理部１は一つの交点
の座標を登録する毎にエッジリストメモリ３がオーバー
フローしたか否かを確認する（ステップＳ３）。
まれると、塗潰し処理部１は、まず図形データを参照し
てＹ座標の最小値と最大値とを求め、当該図形のＹ座標
の範囲、即ち有効スキャンラインを設定する（ステップ
Ｓ１）。例えばいま、図３の１０で示す図形のデータが
書き込まれたとすると、図形データからＹ座標の最小値
Ｙ1 と最大値Ｙ2 を求め、Ｙ1 とＹ2 の間を有効スキャ
ンラインとして設定する。次に、従来のステップＳ１０
と同様にして当該図形の輪郭と有効スキャンラインの交
点の座標を求め、エッジリストメモリ３に登録する（ス
テップＳ２）。このとき、塗潰し処理部１は一つの交点
の座標を登録する毎にエッジリストメモリ３がオーバー
フローしたか否かを確認する（ステップＳ３）。
【００１３】そして、全ての交点の座標の登録がエッジ
リストメモリ３がオーバーフローすることなく終了した
場合には、ステップＳ４からステップＳ５に分岐して、
従来のステップＳ１２、Ｓ１３と同様にしてエッジリス
トの整列化を行い、塗潰し処理を行い（ステップＳ
６）、全領域の塗潰しを完了して（ステップＳ７）処理
を終了するが、全ての交点の座標をエッジリストメモリ
３に登録する以前にエッジリストメモリ３がオーバーフ
ローした場合には、塗潰し処理部１はエッジリストメモ
リ１をクリアし、ステップＳ３からステップＳ８に分岐
して、有効スキャンラインを、例えばステップＳ１で初
期設定された有効スキャンラインの半分の範囲に再設定
する。従って、図３の場合には図４に示すように、再設
定された有効スキャンラインは、Ｙ1 から（Ｙ1＋Ｙ2）
／２の範囲になる。これで図形１０は２分割される。
リストメモリ３がオーバーフローすることなく終了した
場合には、ステップＳ４からステップＳ５に分岐して、
従来のステップＳ１２、Ｓ１３と同様にしてエッジリス
トの整列化を行い、塗潰し処理を行い（ステップＳ
６）、全領域の塗潰しを完了して（ステップＳ７）処理
を終了するが、全ての交点の座標をエッジリストメモリ
３に登録する以前にエッジリストメモリ３がオーバーフ
ローした場合には、塗潰し処理部１はエッジリストメモ
リ１をクリアし、ステップＳ３からステップＳ８に分岐
して、有効スキャンラインを、例えばステップＳ１で初
期設定された有効スキャンラインの半分の範囲に再設定
する。従って、図３の場合には図４に示すように、再設
定された有効スキャンラインは、Ｙ1 から（Ｙ1＋Ｙ2）
／２の範囲になる。これで図形１０は２分割される。
【００１４】有効スキャンラインを再設定すると、塗潰
し処理部１は、再度図形データを参照して当該図形の輪
郭とスキャンラインの全ての交点の座標を求め、再設定
した有効スキャンライン内にある交点の座標のみをエッ
ジリストメモリ３に登録する（ステップＳ２）。
し処理部１は、再度図形データを参照して当該図形の輪
郭とスキャンラインの全ての交点の座標を求め、再設定
した有効スキャンライン内にある交点の座標のみをエッ
ジリストメモリ３に登録する（ステップＳ２）。
【００１５】ステップＳ８で再設定した有効スキャンラ
インでエッジリストメモリ３がオーバーフローすること
なく交点座標の登録が終了した場合には、ステップＳ
５、Ｓ６の処理により、図５に示すように再設定された
有効スキャンラインの範囲だけが塗潰され、次にステッ
プＳ７からステップＳ８に分岐して有効スキャンライン
が残りの半分、即ち図４の場合（Ｙ1＋Ｙ2）／２からＹ
2 の範囲に設定されて同じ処理が繰り返されるが、交点
座標の登録の途中でエッジリストメモリ３がオーバーフ
ローした場合には、ステップＳ８に戻って、有効スキャ
ンラインは更に半分に狭められ、図４の場合には図６に
示すように有効スキャンラインはＹ1 から（３Ｙ1＋
Ｙ2）／４の範囲に再度設定され、上記の処理が繰り返
される。
インでエッジリストメモリ３がオーバーフローすること
なく交点座標の登録が終了した場合には、ステップＳ
５、Ｓ６の処理により、図５に示すように再設定された
有効スキャンラインの範囲だけが塗潰され、次にステッ
プＳ７からステップＳ８に分岐して有効スキャンライン
が残りの半分、即ち図４の場合（Ｙ1＋Ｙ2）／２からＹ
2 の範囲に設定されて同じ処理が繰り返されるが、交点
座標の登録の途中でエッジリストメモリ３がオーバーフ
ローした場合には、ステップＳ８に戻って、有効スキャ
ンラインは更に半分に狭められ、図４の場合には図６に
示すように有効スキャンラインはＹ1 から（３Ｙ1＋
Ｙ2）／４の範囲に再度設定され、上記の処理が繰り返
される。
【００１６】以上のようにして塗潰しが行われた図形は
キャッシュメモリ４に展開され、更に図示しないページ
メモリに書き込まれて、表示装置での表示あるいはペー
ジプリンタでのハードコピーに使用される。
キャッシュメモリ４に展開され、更に図示しないページ
メモリに書き込まれて、表示装置での表示あるいはペー
ジプリンタでのハードコピーに使用される。
【００１７】以上、本発明の一実施例について説明した
が、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種
々の変形が可能である。例えば上記実施例では有効スキ
ャンラインの再設定は前回設定された範囲の半分に設定
するものとしたが、これは分割数をできるだけ少なくす
るためであって、１／３あるいは１／４に設定するよう
にしてもよいことは当業者に明らかである。
が、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種
々の変形が可能である。例えば上記実施例では有効スキ
ャンラインの再設定は前回設定された範囲の半分に設定
するものとしたが、これは分割数をできるだけ少なくす
るためであって、１／３あるいは１／４に設定するよう
にしてもよいことは当業者に明らかである。
【００１８】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、エッジリストメモリの容量としては、最小限
１スキャンラインの画素数の座標データを全て格納でき
るだけの容量を備えていれば、どのように複雑且つ大き
な図形でも１スキャンライン毎に分割して塗潰しを行う
ことができるので、従来のように大容量のメモリを備え
る必要はなく、従ってコストを低減することができるば
かりでなく、ピン数も減らせるので信頼性を向上させる
ことができる。
によれば、エッジリストメモリの容量としては、最小限
１スキャンラインの画素数の座標データを全て格納でき
るだけの容量を備えていれば、どのように複雑且つ大き
な図形でも１スキャンライン毎に分割して塗潰しを行う
ことができるので、従来のように大容量のメモリを備え
る必要はなく、従ってコストを低減することができるば
かりでなく、ピン数も減らせるので信頼性を向上させる
ことができる。
【図１】 本発明に係る図形塗潰し装置の一実施例の構
成を示す図である。
成を示す図である。
【図２】 本発明に係る図形塗潰し装置の処理を示すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図３】 有効スキャンラインの初期設定を説明するた
めの図である。
めの図である。
【図４】 有効スキャンラインの再設定を説明するため
の図である。
の図である。
【図５】 分割されて塗潰された様子を示す図である。
【図６】 図４の状態から更に有効スキャンラインを再
設定した様子を示す図である。
設定した様子を示す図である。
【図７】 オーダード・エッジ・リスト方式による塗潰
し処理を示すフローチャートである。
し処理を示すフローチャートである。
【図８】 入力される図形データの例を示す図である。
【図９】 直線補間により求められた図形の輪郭とスキ
ャンラインの交点を示す図である。
ャンラインの交点を示す図である。
【図１０】 エッジリストの整列化を説明するための図
である。
である。
【図１１】 塗潰された図形を示す図である。
１…塗潰し処理部、２…図形データメモリ、３…エッジ
リストメモリ、４…キャッシュメモリ。
リストメモリ、４…キャッシュメモリ。
Claims (1)
- 【請求項１】図形における各屈折点の（Ｘ，Ｙ）座標値
を屈折点データとして記憶する図形データメモリ手段
と、 前記図形データメモリ手段から屈折点データを順次読み
出し、各屈折点の間を結ぶ輪郭線を形成する点の（Ｘ，
Ｙ）座標値を輪郭線データとして生成する輪郭線データ
生成手段と、 前記輪郭線データ生成手段で生成した輪郭線データを記
憶するエッジリストメモリ手段と、 前記エッジリストメモリ手段から同一のＹ座標値を有す
る輪郭線データを読み出し、読み出された輪郭線データ
の各Ｘ座標値の大きさに基づいて各Ｙ座標値毎に線画像
データを生成して当該図形の塗潰しを行う塗潰し処理手
段と、 前記塗潰し処理を行うＹ座標値の範囲を登録する登録手
段とを備え、 前記塗潰し処理手段は、前記輪郭線データ生成手段によ
り生成された輪郭線データのうち、そのＹ座標値が前記
登録手段に登録された範囲の輪郭線データを前記エッジ
リストメモリ手段に記憶させると共に、前記エッジリス
トメモリ手段の記憶領域がオーバーフローしたか否かを
検知し、前記エッジリストメモリ手段の記憶領域のオー
バーフローを検知した場合には、前記登録手段に登録さ
れた塗潰し処理を行うＹ座標値の範囲を分割し、その分
割した各Ｙ座標値の範囲毎に前記輪郭線データ生成手
段、エッジリストメモリ手段を起動させて塗潰し処理を
順次実行することを特徴とする図形塗潰し装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3046813A JP2770582B2 (ja) | 1991-03-12 | 1991-03-12 | 図形塗潰し装置 |
| US07/849,580 US5355451A (en) | 1991-03-12 | 1992-03-11 | Graphic processing unit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3046813A JP2770582B2 (ja) | 1991-03-12 | 1991-03-12 | 図形塗潰し装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05258073A JPH05258073A (ja) | 1993-10-08 |
| JP2770582B2 true JP2770582B2 (ja) | 1998-07-02 |
Family
ID=12757775
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3046813A Expired - Fee Related JP2770582B2 (ja) | 1991-03-12 | 1991-03-12 | 図形塗潰し装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5355451A (ja) |
| JP (1) | JP2770582B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0816144A (ja) * | 1994-06-29 | 1996-01-19 | Fujitsu Ltd | アウトラインフォント展開方法およびアウトラインフォント展開装置 |
| JP3403707B2 (ja) * | 2000-09-29 | 2003-05-06 | 松下電器産業株式会社 | 描画装置 |
| JP4858883B2 (ja) * | 2008-11-07 | 2012-01-18 | Ｎｅｃシステムテクノロジー株式会社 | ベクター画像描画装置、ベクター画像描画方法およびプログラム |
| WO2010134124A1 (ja) * | 2009-05-19 | 2010-11-25 | 三菱電機株式会社 | ベクトル図形描画装置 |
| JP5523002B2 (ja) | 2009-07-29 | 2014-06-18 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置及び画像処理方法 |
| US10930040B2 (en) * | 2019-05-20 | 2021-02-23 | Adobe Inc. | Graphic object modifications |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6373486A (ja) * | 1986-09-17 | 1988-04-04 | Fujitsu Ltd | 図形塗潰し方式 |
| JPS63271585A (ja) * | 1987-04-28 | 1988-11-09 | Fuji Xerox Co Ltd | 図形出力制御装置 |
| JPH01196675A (ja) * | 1988-01-30 | 1989-08-08 | Toshiba Corp | パターンデータ生成方式 |
| JP2634851B2 (ja) * | 1988-04-28 | 1997-07-30 | シャープ株式会社 | 画像処理装置 |
-
1991
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1992
- 1992-03-11 US US07/849,580 patent/US5355451A/en not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5355451A (en) | 1994-10-11 |
| JPH05258073A (ja) | 1993-10-08 |
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