JPH05258073A - 図形塗潰し装置 - Google Patents
図形塗潰し装置Info
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- JPH05258073A JPH05258073A JP3046813A JP4681391A JPH05258073A JP H05258073 A JPH05258073 A JP H05258073A JP 3046813 A JP3046813 A JP 3046813A JP 4681391 A JP4681391 A JP 4681391A JP H05258073 A JPH05258073 A JP H05258073A
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- painting
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- scan line
- graphic
- memory
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T11/00—2D [Two Dimensional] image generation
- G06T11/40—Filling a planar surface by adding surface attributes, e.g. colour or texture
Abstract
(57)【要約】
【目的】 少ないメモリ容量でオーダード・エッジ・リ
スト方式による図形塗潰しを行う。 【構成】 ステップＳ１で図形データの副走査方向の最
小値と最大値を求めて有効スキャンラインを初期設定す
る。ステップＳ２では図形データを参照して、図形の輪
郭とスキャンラインの交点の座標を求めて順次エッジリ
ストに登録していく。そのときエッジリストがオーバー
フローしたか否かを判断し、オーバーフローしなければ
全ての交点を登録した後エッジリストを整列化して塗潰
しを行うが、オーバーフローした場合には、ステップＳ
８で図形を分割し、有効スキャンラインを初期設定の半
分の範囲に再設定する。その後、再度全ての交点の座標
を求めて、再設定された有効スキャンラインの範囲内の
交点の座標値のみをエッジリストに登録し、オーバーフ
ローがなければ再設定された有効スキャンラインの範囲
のみの分割図形を塗潰す。
スト方式による図形塗潰しを行う。 【構成】 ステップＳ１で図形データの副走査方向の最
小値と最大値を求めて有効スキャンラインを初期設定す
る。ステップＳ２では図形データを参照して、図形の輪
郭とスキャンラインの交点の座標を求めて順次エッジリ
ストに登録していく。そのときエッジリストがオーバー
フローしたか否かを判断し、オーバーフローしなければ
全ての交点を登録した後エッジリストを整列化して塗潰
しを行うが、オーバーフローした場合には、ステップＳ
８で図形を分割し、有効スキャンラインを初期設定の半
分の範囲に再設定する。その後、再度全ての交点の座標
を求めて、再設定された有効スキャンラインの範囲内の
交点の座標値のみをエッジリストに登録し、オーバーフ
ローがなければ再設定された有効スキャンラインの範囲
のみの分割図形を塗潰す。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、図形の屈曲点から図形
の輪郭を復元して当該図形を塗潰す図形塗潰し方式に関
する。
の輪郭を復元して当該図形を塗潰す図形塗潰し方式に関
する。
【０００２】
【従来の技術】図形の塗潰し処理は、コンピュータグラ
フィックスにおいて非常に重要な技術であり、コード情
報をラスターイメージに展開する場合には欠くことので
きない技術である。特に近年ではアウトラインフォント
を用いた場合に文字の塗潰しのために使用されている。
塗潰しの方式としては種々の方式が提案されているが、
汎用性の高い塗潰し方式としてオーダード・エッジ・リ
スト方式（Orderd EdgeList Algorithm）が知られてい
る。以下、その処理の概略を説明する。なお、本明細書
においては、図形は文字、記号等も含むものとする。
フィックスにおいて非常に重要な技術であり、コード情
報をラスターイメージに展開する場合には欠くことので
きない技術である。特に近年ではアウトラインフォント
を用いた場合に文字の塗潰しのために使用されている。
塗潰しの方式としては種々の方式が提案されているが、
汎用性の高い塗潰し方式としてオーダード・エッジ・リ
スト方式（Orderd EdgeList Algorithm）が知られてい
る。以下、その処理の概略を説明する。なお、本明細書
においては、図形は文字、記号等も含むものとする。
【０００３】図７はオーダード・エッジ・リスト方式に
よる塗潰し処理の概略のフローチャートであり、いま、
図８において〜で示す７個の頂点、即ち屈折点の座
標データが与えられたとすると、各頂点間を順に結びな
がら、輪郭を構成する直線と各スキャンラインとの交点
の座標を求め、その座標をオーダード・エッジ・リスト
（以下、エッジリストと称す）に登録する（ステップＳ
１０）。このとき、、、のようにＹ方向の極大
点、極小点となる交点については重複して２点と数え、
、のように極大点でもなく極小点でもない交点につ
いては重複することなく１点として数え、、のよう
にＸ方向の極大点、極小点となる交点については１点と
数えるルールを設ける。
よる塗潰し処理の概略のフローチャートであり、いま、
図８において〜で示す７個の頂点、即ち屈折点の座
標データが与えられたとすると、各頂点間を順に結びな
がら、輪郭を構成する直線と各スキャンラインとの交点
の座標を求め、その座標をオーダード・エッジ・リスト
（以下、エッジリストと称す）に登録する（ステップＳ
１０）。このとき、、、のようにＹ方向の極大
点、極小点となる交点については重複して２点と数え、
、のように極大点でもなく極小点でもない交点につ
いては重複することなく１点として数え、、のよう
にＸ方向の極大点、極小点となる交点については１点と
数えるルールを設ける。
【０００４】以上の処理において、輪郭を構成する直線
と各スキャンラインとの交点の座標を求める方法として
は、例えばブレゼンハムの直線補間方法を用いることが
できるが、交点の座標を求めることができる方法であれ
ばその他の方法を用いることができるものであることは
言うまでもない。なお、図８においてＸ方向は表示装置
あるいはページプリンタの主走査方向を示し、Ｙ方向は
副走査方向を示す。以下同様である。
と各スキャンラインとの交点の座標を求める方法として
は、例えばブレゼンハムの直線補間方法を用いることが
できるが、交点の座標を求めることができる方法であれ
ばその他の方法を用いることができるものであることは
言うまでもない。なお、図８においてＸ方向は表示装置
あるいはページプリンタの主走査方向を示し、Ｙ方向は
副走査方向を示す。以下同様である。
【０００５】ステップＳ１０を全ての頂点間について行
うことによって、図９の「○」印で示すように当該図形
の輪郭とスキャンラインの全ての交点の座標を求める
（ステップＳ１１）。以上の処理によりエッジリストに
は図１０Ａに示すように全ての交点の座標が登録され
る。
うことによって、図９の「○」印で示すように当該図形
の輪郭とスキャンラインの全ての交点の座標を求める
（ステップＳ１１）。以上の処理によりエッジリストに
は図１０Ａに示すように全ての交点の座標が登録され
る。
【０００６】次に、図１０Ｂに示すように、エッジリス
トに登録された座標をＹ方向の座標値について昇順に整
列化し、更に図１０Ｃに示すように、各Ｙ座標値に関し
てＸ座標値を整列化して、図１０Ｄに示すような交点の
座標リストを作成する（ステップＳ１２）。次に、整列
化されたエッジリストを先頭から見ていき、スキャンラ
イン単位で、１番目と２番目、３番目と４番目というよ
うに、隣合う奇数番目と偶数番目のＸ座標を対とし、そ
の間を所定のピクセルパターンでセットすることによっ
て塗潰し処理を行う（ステップＳ１３）。例えば、図１
０Ｄの場合にはＹ＝２のスキャンラインにおいてはＸ座
標の３から６までが塗潰され、Ｙ＝４のスキャンライン
においてはＸ座標の３から６までと８から１０までが塗
潰される。以上のようにして当該図形は図１１に示すよ
うに塗潰される。
トに登録された座標をＹ方向の座標値について昇順に整
列化し、更に図１０Ｃに示すように、各Ｙ座標値に関し
てＸ座標値を整列化して、図１０Ｄに示すような交点の
座標リストを作成する（ステップＳ１２）。次に、整列
化されたエッジリストを先頭から見ていき、スキャンラ
イン単位で、１番目と２番目、３番目と４番目というよ
うに、隣合う奇数番目と偶数番目のＸ座標を対とし、そ
の間を所定のピクセルパターンでセットすることによっ
て塗潰し処理を行う（ステップＳ１３）。例えば、図１
０Ｄの場合にはＹ＝２のスキャンラインにおいてはＸ座
標の３から６までが塗潰され、Ｙ＝４のスキャンライン
においてはＸ座標の３から６までと８から１０までが塗
潰される。以上のようにして当該図形は図１１に示すよ
うに塗潰される。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
オーダード・エッジ・リスト方式による図形塗潰しにお
いては、輪郭とスキャンラインの交点の座標データがエ
ッジリストを格納するメモリの容量を越えた場合には図
形の塗潰しができないという問題があった。
オーダード・エッジ・リスト方式による図形塗潰しにお
いては、輪郭とスキャンラインの交点の座標データがエ
ッジリストを格納するメモリの容量を越えた場合には図
形の塗潰しができないという問題があった。
【０００８】例えば、アウトラインフォントをビットマ
ップに展開する場合には、エッジリストを格納するメモ
リとしては、使用する漢字の中で最も交点の数が多い複
雑な漢字をビットマップデータに展開できる程度の容量
を有するようにするのが通常であるが、より複雑な漢字
あるいは記号、図形が作成された場合にはビットマップ
に展開することは不可能となる。勿論、非常に膨大な容
量を有するメモリを使用することによってこのような問
題を回避することはできるが、コストが非常に高いもの
となり、小規模のワードプロセッサあるいはパーソナル
コンピュータ等の図形処理装置においては上述したエッ
ジリストを格納するメモリ領域を豊富に確保できるもの
ではないので、現実的ではないものである。
ップに展開する場合には、エッジリストを格納するメモ
リとしては、使用する漢字の中で最も交点の数が多い複
雑な漢字をビットマップデータに展開できる程度の容量
を有するようにするのが通常であるが、より複雑な漢字
あるいは記号、図形が作成された場合にはビットマップ
に展開することは不可能となる。勿論、非常に膨大な容
量を有するメモリを使用することによってこのような問
題を回避することはできるが、コストが非常に高いもの
となり、小規模のワードプロセッサあるいはパーソナル
コンピュータ等の図形処理装置においては上述したエッ
ジリストを格納するメモリ領域を豊富に確保できるもの
ではないので、現実的ではないものである。
【０００９】本発明は、上記の課題を解決するものであ
って、少ないメモリ容量でオーダード・エッジ・リスト
方式による図形塗潰しを行うことができる図形塗潰し方
式を提供することを目的とするものである。
って、少ないメモリ容量でオーダード・エッジ・リスト
方式による図形塗潰しを行うことができる図形塗潰し方
式を提供することを目的とするものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段及び作用】塗潰し書部１
は、図形データを参照して、その副走査方向の最小値と
最大値とから有効スキャンラインを初期設定し、当該図
形の輪郭とスキャンラインとの交点の座標を求めてエッ
ジリストメモリ３に書き込んでいく。その途中でエッジ
リストメモリ３がオーバーフローして全ての交点の座標
値を書き込めなくなった場合には、初期設定した有効ス
キャンラインを分割し、例えば上半分の範囲に再設定
し、再度全ての交点を求めて、再設定された有効スキャ
ンラインの範囲にある交点の座標値のみをエッジリスト
メモリ３に書き込み、エッジリストメモリ３がオーバー
フローしなかった場合には当該再設定された有効スキャ
ンラインの範囲のみを塗潰す処理を繰り返す。
は、図形データを参照して、その副走査方向の最小値と
最大値とから有効スキャンラインを初期設定し、当該図
形の輪郭とスキャンラインとの交点の座標を求めてエッ
ジリストメモリ３に書き込んでいく。その途中でエッジ
リストメモリ３がオーバーフローして全ての交点の座標
値を書き込めなくなった場合には、初期設定した有効ス
キャンラインを分割し、例えば上半分の範囲に再設定
し、再度全ての交点を求めて、再設定された有効スキャ
ンラインの範囲にある交点の座標値のみをエッジリスト
メモリ３に書き込み、エッジリストメモリ３がオーバー
フローしなかった場合には当該再設定された有効スキャ
ンラインの範囲のみを塗潰す処理を繰り返す。
【００１１】
【実施例】以下、図面を参照しつつ実施例を説明する。
図１は本発明に係る図形塗潰し方式の一実施例の構成を
示す図、図２は本発明に係る図形塗潰し方式の処理を示
すフローチャートである。図１において、図形データメ
モリ１には、図示しない図形処理装置から図形の輪郭を
示す座標データが書き込まれる。当該図形データは、例
えば図８に示すように当該図形の頂点の座標データであ
ってもよく、またアウトラインフォントのように図形の
輪郭を示すベクトルの始点と終点の集合であってもよ
い。
図１は本発明に係る図形塗潰し方式の一実施例の構成を
示す図、図２は本発明に係る図形塗潰し方式の処理を示
すフローチャートである。図１において、図形データメ
モリ１には、図示しない図形処理装置から図形の輪郭を
示す座標データが書き込まれる。当該図形データは、例
えば図８に示すように当該図形の頂点の座標データであ
ってもよく、またアウトラインフォントのように図形の
輪郭を示すベクトルの始点と終点の集合であってもよ
い。
【００１２】図形データメモリ２に図形データが書き込
まれると、塗潰し処理部１は、まず図形データを参照し
てＹ座標の最小値と最大値とを求め、当該図形のＹ座標
の範囲、即ち有効スキャンラインを設定する（ステップ
Ｓ１）。例えばいま、図３の１０で示す図形のデータが
書き込まれたとすると、図形データからＹ座標の最小値
Ｙ1 と最大値Ｙ2 を求め、Ｙ1 とＹ2 の間を有効スキャ
ンラインとして設定する。次に、従来のステップＳ１０
と同様にして当該図形の輪郭と有効スキャンラインの交
点の座標を求め、エッジリストメモリ３に登録する（ス
テップＳ２）。このとき、塗潰し処理部１は一つの交点
の座標を登録する毎にエッジリストメモリ３がオーバー
フローしたか否かを確認する（ステップＳ３）。
まれると、塗潰し処理部１は、まず図形データを参照し
てＹ座標の最小値と最大値とを求め、当該図形のＹ座標
の範囲、即ち有効スキャンラインを設定する（ステップ
Ｓ１）。例えばいま、図３の１０で示す図形のデータが
書き込まれたとすると、図形データからＹ座標の最小値
Ｙ1 と最大値Ｙ2 を求め、Ｙ1 とＹ2 の間を有効スキャ
ンラインとして設定する。次に、従来のステップＳ１０
と同様にして当該図形の輪郭と有効スキャンラインの交
点の座標を求め、エッジリストメモリ３に登録する（ス
テップＳ２）。このとき、塗潰し処理部１は一つの交点
の座標を登録する毎にエッジリストメモリ３がオーバー
フローしたか否かを確認する（ステップＳ３）。
【００１３】そして、全ての交点の座標の登録がエッジ
リストメモリ３がオーバーフローすることなく終了した
場合には、ステップＳ４からステップＳ５に分岐して、
従来のステップＳ１２、Ｓ１３と同様にしてエッジリス
トの整列化を行い、塗潰し処理を行い（ステップＳ
６）、全領域の塗潰しを完了して（ステップＳ７）処理
を終了するが、全ての交点の座標をエッジリストメモリ
３に登録する以前にエッジリストメモリ３がオーバーフ
ローした場合には、塗潰し処理部１はエッジリストメモ
リ１をクリアし、ステップＳ３からステップＳ８に分岐
して、有効スキャンラインを、例えばステップＳ１で初
期設定された有効スキャンラインの半分の範囲に再設定
する。従って、図３の場合には図４に示すように、再設
定された有効スキャンラインは、Ｙ1 から（Ｙ1＋Ｙ2）
／２の範囲になる。これで図形１０は２分割される。
リストメモリ３がオーバーフローすることなく終了した
場合には、ステップＳ４からステップＳ５に分岐して、
従来のステップＳ１２、Ｓ１３と同様にしてエッジリス
トの整列化を行い、塗潰し処理を行い（ステップＳ
６）、全領域の塗潰しを完了して（ステップＳ７）処理
を終了するが、全ての交点の座標をエッジリストメモリ
３に登録する以前にエッジリストメモリ３がオーバーフ
ローした場合には、塗潰し処理部１はエッジリストメモ
リ１をクリアし、ステップＳ３からステップＳ８に分岐
して、有効スキャンラインを、例えばステップＳ１で初
期設定された有効スキャンラインの半分の範囲に再設定
する。従って、図３の場合には図４に示すように、再設
定された有効スキャンラインは、Ｙ1 から（Ｙ1＋Ｙ2）
／２の範囲になる。これで図形１０は２分割される。
【００１４】有効スキャンラインを再設定すると、塗潰
し処理部１は、再度図形データを参照して当該図形の輪
郭とスキャンラインの全ての交点の座標を求め、再設定
した有効スキャンライン内にある交点の座標のみをエッ
ジリストメモリ３に登録する（ステップＳ２）。
し処理部１は、再度図形データを参照して当該図形の輪
郭とスキャンラインの全ての交点の座標を求め、再設定
した有効スキャンライン内にある交点の座標のみをエッ
ジリストメモリ３に登録する（ステップＳ２）。
【００１５】ステップＳ８で再設定した有効スキャンラ
インでエッジリストメモリ３がオーバーフローすること
なく交点座標の登録が終了した場合には、ステップＳ
５、Ｓ６の処理により、図５に示すように再設定された
有効スキャンラインの範囲だけが塗潰され、次にステッ
プＳ７からステップＳ８に分岐して有効スキャンライン
が残りの半分、即ち図４の場合（Ｙ1＋Ｙ2）／２からＹ
2 の範囲に設定されて同じ処理が繰り返されるが、交点
座標の登録の途中でエッジリストメモリ３がオーバーフ
ローした場合には、ステップＳ８に戻って、有効スキャ
ンラインは更に半分に狭められ、図４の場合には図６に
示すように有効スキャンラインはＹ1 から（３Ｙ1＋
Ｙ2）／４の範囲に再度設定され、上記の処理が繰り返
される。
インでエッジリストメモリ３がオーバーフローすること
なく交点座標の登録が終了した場合には、ステップＳ
５、Ｓ６の処理により、図５に示すように再設定された
有効スキャンラインの範囲だけが塗潰され、次にステッ
プＳ７からステップＳ８に分岐して有効スキャンライン
が残りの半分、即ち図４の場合（Ｙ1＋Ｙ2）／２からＹ
2 の範囲に設定されて同じ処理が繰り返されるが、交点
座標の登録の途中でエッジリストメモリ３がオーバーフ
ローした場合には、ステップＳ８に戻って、有効スキャ
ンラインは更に半分に狭められ、図４の場合には図６に
示すように有効スキャンラインはＹ1 から（３Ｙ1＋
Ｙ2）／４の範囲に再度設定され、上記の処理が繰り返
される。
【００１６】以上のようにして塗潰しが行われた図形は
キャッシュメモリ４に展開され、更に図示しないページ
メモリに書き込まれて、表示装置での表示あるいはペー
ジプリンタでのハードコピーに使用される。
キャッシュメモリ４に展開され、更に図示しないページ
メモリに書き込まれて、表示装置での表示あるいはペー
ジプリンタでのハードコピーに使用される。
【００１７】以上、本発明の一実施例について説明した
が、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種
々の変形が可能である。例えば上記実施例では有効スキ
ャンラインの再設定は前回設定された範囲の半分に設定
するものとしたが、これは分割数をできるだけ少なくす
るためであって、１／３あるいは１／４に設定するよう
にしてもよいことは当業者に明らかである。
が、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種
々の変形が可能である。例えば上記実施例では有効スキ
ャンラインの再設定は前回設定された範囲の半分に設定
するものとしたが、これは分割数をできるだけ少なくす
るためであって、１／３あるいは１／４に設定するよう
にしてもよいことは当業者に明らかである。
【００１８】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、エッジリストメモリの容量としては、最小限
１スキャンラインの画素数の座標データを全て格納でき
るだけの容量を備えていれば、どのように複雑且つ大き
な図形でも１スキャンライン毎に分割して塗潰しを行う
ことができるので、従来のように大容量のメモリを備え
る必要はなく、従ってコストを低減することができるば
かりでなく、ピン数も減らせるので信頼性を向上させる
ことができる。
によれば、エッジリストメモリの容量としては、最小限
１スキャンラインの画素数の座標データを全て格納でき
るだけの容量を備えていれば、どのように複雑且つ大き
な図形でも１スキャンライン毎に分割して塗潰しを行う
ことができるので、従来のように大容量のメモリを備え
る必要はなく、従ってコストを低減することができるば
かりでなく、ピン数も減らせるので信頼性を向上させる
ことができる。
【図１】 本発明に係る図形塗潰し方式の一実施例の構
成を示す図である。
成を示す図である。
【図２】 本発明に係る図形塗潰し方式の処理を示すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図３】 有効スキャンラインの初期設定を説明するた
めの図である。
めの図である。
【図４】 有効スキャンラインの再設定を説明するため
の図である。
の図である。
【図５】 分割されて塗潰された様子を示す図である。
【図６】 図４の状態から更に有効スキャンラインを再
設定した様子を示す図である。
設定した様子を示す図である。
【図７】 オーダード・エッジ・リスト方式による塗潰
し処理を示すフローチャートである。
し処理を示すフローチャートである。
【図８】 入力される図形データの例を示す図である。
【図９】 直線補間により求められた図形の輪郭とスキ
ャンラインの交点を示す図である。
ャンラインの交点を示す図である。
【図１０】 エッジリストの整列化を説明するための図
である。
である。
【図１１】 塗潰された図形を示す図である。
【符号の説明】 １…塗潰し処理部、２…図形データメモリ、３…エッジ
リストメモリ、４…キャッシュメモリ。
リストメモリ、４…キャッシュメモリ。
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成４年４月２０日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正内容】
【発明の名称】 図形塗潰し装置
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項１
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の詳細な説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、図形の屈曲点から図形
の輪郭を復元して当該図形を塗潰す図形塗潰し装置に関
する。
の輪郭を復元して当該図形を塗潰す図形塗潰し装置に関
する。
【０００２】
【従来の技術】図形の塗潰し処理は、コンピュータグラ
フィックスにおいて非常に重要な技術であり、コード情
報をラスターイメージに展開する場合には欠くことので
きない技術である。特に近年ではアウトラインフォント
を用いた場合に文字の塗潰しのために使用されている。
塗潰しの方式としては種々の方式が提案されているが、
汎用性の高い塗潰し方式としてオーダード・エッジ・リ
スト方式（Orderd EdgeList Algorithm）が知られてい
る。以下、その処理の概略を説明する。なお、本明細書
においては、図形は文字、記号等も含むものとする。
フィックスにおいて非常に重要な技術であり、コード情
報をラスターイメージに展開する場合には欠くことので
きない技術である。特に近年ではアウトラインフォント
を用いた場合に文字の塗潰しのために使用されている。
塗潰しの方式としては種々の方式が提案されているが、
汎用性の高い塗潰し方式としてオーダード・エッジ・リ
スト方式（Orderd EdgeList Algorithm）が知られてい
る。以下、その処理の概略を説明する。なお、本明細書
においては、図形は文字、記号等も含むものとする。
【０００３】図８はオーダード・エッジ・リスト方式に
よる塗潰し処理の概略のフローチャートであり、いま、
図９において〜で示す７個の頂点の座標データのリ
ストが与えられたとすると、各頂点間を順に結びなが
ら、輪郭を構成する輪郭点と、メモリ上でのＹ座標値が
Ｎ（但し、Ｎは０以上の整数である）である直線（以
下、これを有効スキャンラインと称す）との交点のＸ座
標値を求め、そのＸ座標値をＹ座標値に対応させてオー
ダード・エッジ・リスト（以下、エッジリストと称す）
に登録する（ステップＳ２０）。このとき、、、
のようにＹ方向の極大点、極小点となる交点については
重複して２点と数え、、のように極大点でもなく極
小点でもない交点については重複することなく１点とし
て数え、、のようにＸ方向の極大点、極小点となる
交点については１点と数えるルールを設ける。
よる塗潰し処理の概略のフローチャートであり、いま、
図９において〜で示す７個の頂点の座標データのリ
ストが与えられたとすると、各頂点間を順に結びなが
ら、輪郭を構成する輪郭点と、メモリ上でのＹ座標値が
Ｎ（但し、Ｎは０以上の整数である）である直線（以
下、これを有効スキャンラインと称す）との交点のＸ座
標値を求め、そのＸ座標値をＹ座標値に対応させてオー
ダード・エッジ・リスト（以下、エッジリストと称す）
に登録する（ステップＳ２０）。このとき、、、
のようにＹ方向の極大点、極小点となる交点については
重複して２点と数え、、のように極大点でもなく極
小点でもない交点については重複することなく１点とし
て数え、、のようにＸ方向の極大点、極小点となる
交点については１点と数えるルールを設ける。
【０００４】以上の処理において、与えられる頂点の座
標データから当該図形の輪郭点を順次追跡する手法とし
ては、例えばブレゼンハムの直線補間法を用いることが
できるが、図形の輪郭点を求めることができる方法であ
ればその他のいかなる方法を用いることができるもので
あることは言うまでもない。なお、図９においてＸ方向
は表示装置、ページプリンタ等においては主走査方向を
示し、Ｙ方向は副走査方向を示す。以下同様である。
標データから当該図形の輪郭点を順次追跡する手法とし
ては、例えばブレゼンハムの直線補間法を用いることが
できるが、図形の輪郭点を求めることができる方法であ
ればその他のいかなる方法を用いることができるもので
あることは言うまでもない。なお、図９においてＸ方向
は表示装置、ページプリンタ等においては主走査方向を
示し、Ｙ方向は副走査方向を示す。以下同様である。
【０００５】ステップＳ２０を全ての頂点間について行
うことによって、図１０の「○」印で示すように当該図
形の輪郭と有効スキャンラインとの全ての交点のＸ座標
値を求める（ステップＳ２１）。以上の処理によりエッ
ジリストには図１１Ａに示すように全ての交点のＸ座標
値がＹ座標の値に対応して登録される。
うことによって、図１０の「○」印で示すように当該図
形の輪郭と有効スキャンラインとの全ての交点のＸ座標
値を求める（ステップＳ２１）。以上の処理によりエッ
ジリストには図１１Ａに示すように全ての交点のＸ座標
値がＹ座標の値に対応して登録される。
【０００６】次に、図１１Ｂに示すように、エッジリス
トに登録されたＸ座標値をＹ座標値について昇順に整列
化し、更に図１１Ｃに示すように、各Ｙ座標値に関して
Ｘ座標値を整列化して、図１１Ｄに示すような交点の座
標リストを作成する（ステップＳ２２）。次に、整列化
されたエッジリストを先頭から見ていき、各Ｙ座標値の
単位で、１番目と２番目、３番目と４番目というよう
に、隣合う奇数番目と偶数番目のＸ座標値を対とし、そ
のＸ座標値対の間に所定のピクセルパターンをセットす
ることによって塗潰し処理を行う（ステップＳ２３）。
例えば、図１１Ｄにおいて、Ｙ＝２の位置ではＸ座標の
３から６までが塗潰され、Ｙ＝４の位置ではＸ座標が３
から６までの部分、及び８から１０までの部分が塗潰さ
れる。以上のようにして当該図形は図１２に示すように
塗潰される。
トに登録されたＸ座標値をＹ座標値について昇順に整列
化し、更に図１１Ｃに示すように、各Ｙ座標値に関して
Ｘ座標値を整列化して、図１１Ｄに示すような交点の座
標リストを作成する（ステップＳ２２）。次に、整列化
されたエッジリストを先頭から見ていき、各Ｙ座標値の
単位で、１番目と２番目、３番目と４番目というよう
に、隣合う奇数番目と偶数番目のＸ座標値を対とし、そ
のＸ座標値対の間に所定のピクセルパターンをセットす
ることによって塗潰し処理を行う（ステップＳ２３）。
例えば、図１１Ｄにおいて、Ｙ＝２の位置ではＸ座標の
３から６までが塗潰され、Ｙ＝４の位置ではＸ座標が３
から６までの部分、及び８から１０までの部分が塗潰さ
れる。以上のようにして当該図形は図１２に示すように
塗潰される。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
オーダード・エッジ・リスト方式による図形塗潰しにお
いては、輪郭と有効スキャンラインとの交点のＸ座標値
のデータがエッジリストを格納するメモリの容量を越え
た場合には図形の塗潰しができないという問題があっ
た。
オーダード・エッジ・リスト方式による図形塗潰しにお
いては、輪郭と有効スキャンラインとの交点のＸ座標値
のデータがエッジリストを格納するメモリの容量を越え
た場合には図形の塗潰しができないという問題があっ
た。
【０００８】例えば、アウトラインフォントをビットマ
ップに展開する場合には、エッジリストを格納するメモ
リとしては、使用する漢字の中で輪郭と有効スキャンラ
インの交点の数が最も多い複雑な漢字をビットマップデ
ータに展開できる程度の容量を有するようにするのが通
常であるが、より複雑な漢字あるいは記号、図形が作成
された場合にはビットマップに展開することは不可能と
なる。勿論、非常に膨大な容量を有するメモリを使用す
ることによってこのような問題を回避することはできる
が、コストが非常に高いものとなり、小規模のワードプ
ロセッサあるいはパーソナルコンピュータ等の図形処理
装置においては上述したエッジリストを格納するメモリ
領域を豊富に確保できるものではないので、現実的では
ないものである。
ップに展開する場合には、エッジリストを格納するメモ
リとしては、使用する漢字の中で輪郭と有効スキャンラ
インの交点の数が最も多い複雑な漢字をビットマップデ
ータに展開できる程度の容量を有するようにするのが通
常であるが、より複雑な漢字あるいは記号、図形が作成
された場合にはビットマップに展開することは不可能と
なる。勿論、非常に膨大な容量を有するメモリを使用す
ることによってこのような問題を回避することはできる
が、コストが非常に高いものとなり、小規模のワードプ
ロセッサあるいはパーソナルコンピュータ等の図形処理
装置においては上述したエッジリストを格納するメモリ
領域を豊富に確保できるものではないので、現実的では
ないものである。
【０００９】本発明は、上記の課題を解決するものであ
って、少ないメモリ容量でオーダード・エッジ・リスト
方式による図形塗潰しを行うことができる図形塗潰し装
置を提供することを目的とするものである。
って、少ないメモリ容量でオーダード・エッジ・リスト
方式による図形塗潰しを行うことができる図形塗潰し装
置を提供することを目的とするものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段及び作用】上記の目的を達
成するために、本発明の図形塗潰し装置は、屈折点デー
タ記憶手段と、輪郭線データ生成手段と、輪郭線データ
記憶手段と、塗潰し手段とを備える図形塗潰し装置にお
いて、登録手段と、記憶管理手段と、分割処理手段とを
備えることを特徴とする。ここで、屈折点データ記憶手
段は図形における各屈折点の（Ｘ，Ｙ）座標値を屈折点
データとして記憶するものであり、輪郭線データ生成手
段は前記屈折点データ記憶手段から屈折点データを順次
読み出し、各屈折点の間を結ぶ輪郭線を形成する点の
（Ｘ，Ｙ）座標値を輪郭線データとして生成するもので
あり、輪郭線データ記憶手段は前記輪郭線データ生成手
段で生成した輪郭線データを記憶するものであり、塗潰
し手段は前記輪郭線データ記憶手段から同一のＹ座標値
を有する輪郭線データを読み出し、読み出された輪郭線
データの各Ｘ座標値の大きさに基づいて各Ｙ座標値毎に
線画像データを生成して当該図形の塗潰しを行うもので
ある。また、登録手段は前記塗潰し処理を行うＹ座標値
の範囲を登録するものであり、記憶管理手段は前記輪郭
線データ生成手段により生成された輪郭線データのう
ち、そのＹ座標値が前記登録手段に登録された範囲の輪
郭線データのみを前記輪郭線データ記憶手段に記憶させ
ると共に、前記輪郭線データ記憶手段の記憶領域がオー
バーフローしたか否かを検知する。そして、分割処理手
段は、前記記憶管理手段が前記輪郭線データ記憶手段の
記憶領域のオーバーフローを検知した場合には、前記登
録手段に登録された塗潰し処理を行うＹ座標値の範囲を
分割すると共に、分割した各Ｙ座標値の範囲毎に前記輪
郭線データ生成手段、輪郭線データ記憶手段及び塗潰し
手段を起動させて塗潰し処理を順次実行させる。
成するために、本発明の図形塗潰し装置は、屈折点デー
タ記憶手段と、輪郭線データ生成手段と、輪郭線データ
記憶手段と、塗潰し手段とを備える図形塗潰し装置にお
いて、登録手段と、記憶管理手段と、分割処理手段とを
備えることを特徴とする。ここで、屈折点データ記憶手
段は図形における各屈折点の（Ｘ，Ｙ）座標値を屈折点
データとして記憶するものであり、輪郭線データ生成手
段は前記屈折点データ記憶手段から屈折点データを順次
読み出し、各屈折点の間を結ぶ輪郭線を形成する点の
（Ｘ，Ｙ）座標値を輪郭線データとして生成するもので
あり、輪郭線データ記憶手段は前記輪郭線データ生成手
段で生成した輪郭線データを記憶するものであり、塗潰
し手段は前記輪郭線データ記憶手段から同一のＹ座標値
を有する輪郭線データを読み出し、読み出された輪郭線
データの各Ｘ座標値の大きさに基づいて各Ｙ座標値毎に
線画像データを生成して当該図形の塗潰しを行うもので
ある。また、登録手段は前記塗潰し処理を行うＹ座標値
の範囲を登録するものであり、記憶管理手段は前記輪郭
線データ生成手段により生成された輪郭線データのう
ち、そのＹ座標値が前記登録手段に登録された範囲の輪
郭線データのみを前記輪郭線データ記憶手段に記憶させ
ると共に、前記輪郭線データ記憶手段の記憶領域がオー
バーフローしたか否かを検知する。そして、分割処理手
段は、前記記憶管理手段が前記輪郭線データ記憶手段の
記憶領域のオーバーフローを検知した場合には、前記登
録手段に登録された塗潰し処理を行うＹ座標値の範囲を
分割すると共に、分割した各Ｙ座標値の範囲毎に前記輪
郭線データ生成手段、輪郭線データ記憶手段及び塗潰し
手段を起動させて塗潰し処理を順次実行させる。
【００１１】
【実施例】以下、図面を参照しつつ実施例を説明する。
図１は本発明に係る図形塗潰し装置の一実施例の構成を
示す図、図２は本発明に係る図形塗潰し装置における処
理を示すフローチャートである。図１において、塗潰し
処理部１はＣＰＵ及びその周辺回路で構成され、図２に
示す処理を実行するものである。図形データメモリ２
は、図示しない図形処理装置から塗り潰しの対象となる
図形のデータが書き込まれるものである。当該図形デー
タは、例えば図９に示すように当該図形の頂点の座標デ
ータであってもよく、またアウトラインフォントのよう
に当該図形の輪郭を示すベクトルの始点と終点の集合で
あってもよいが、ここでは図形の頂点の座標リストが与
えられるものとする。
図１は本発明に係る図形塗潰し装置の一実施例の構成を
示す図、図２は本発明に係る図形塗潰し装置における処
理を示すフローチャートである。図１において、塗潰し
処理部１はＣＰＵ及びその周辺回路で構成され、図２に
示す処理を実行するものである。図形データメモリ２
は、図示しない図形処理装置から塗り潰しの対象となる
図形のデータが書き込まれるものである。当該図形デー
タは、例えば図９に示すように当該図形の頂点の座標デ
ータであってもよく、またアウトラインフォントのよう
に当該図形の輪郭を示すベクトルの始点と終点の集合で
あってもよいが、ここでは図形の頂点の座標リストが与
えられるものとする。
【００１２】次に、塗潰し処理部１の動作について説明
する。図形データメモリ２に頂点座標リストが書き込ま
れると、塗潰し処理部１は、まず頂点座標リストを参照
して、当該図形の輪郭のＹ座標の最小値と最大値を求め
（ステップＳ１）、その最小値と最大値の範囲を有効ス
キャンラインとして設定する（ステップＳ２）。例えば
いま、図４の１０で示す図形の頂点座標リストが図形デ
ータメモリ２に書き込まれたとすると、頂点座標リスト
からＹ座標の最小値Ｙ1 と最大値Ｙ2 を求め、Ｙ1 とＹ
2 の間を有効スキャンラインとして設定する。有効スキ
ャンラインを設定すると塗り潰し処理部１は、設定した
有効スキャンラインの高さ幅に応じて、エッジリストメ
モリ３に形成するエッジリストの行と列のサイズを設定
する（ステップＳ３）。
する。図形データメモリ２に頂点座標リストが書き込ま
れると、塗潰し処理部１は、まず頂点座標リストを参照
して、当該図形の輪郭のＹ座標の最小値と最大値を求め
（ステップＳ１）、その最小値と最大値の範囲を有効ス
キャンラインとして設定する（ステップＳ２）。例えば
いま、図４の１０で示す図形の頂点座標リストが図形デ
ータメモリ２に書き込まれたとすると、頂点座標リスト
からＹ座標の最小値Ｙ1 と最大値Ｙ2 を求め、Ｙ1 とＹ
2 の間を有効スキャンラインとして設定する。有効スキ
ャンラインを設定すると塗り潰し処理部１は、設定した
有効スキャンラインの高さ幅に応じて、エッジリストメ
モリ３に形成するエッジリストの行と列のサイズを設定
する（ステップＳ３）。
【００１３】エッジリストメモリ３は、図３に示すよう
に、その総容量は固定であるが、行と列の数を可変でき
る２次元バッファメモリで構成されている。従って、行
数と列数は互いに反比例の関係にある。そして、行数は
ステップＳ２で設定された有効スキャンライン数により
決定され、それによって列数、即ち１スキャンラインに
おける当該図形の輪郭と当該有効スキャンラインとの交
点として登録できるＸ座標値の最大数が定まる。従って
例えば、ある図形の有効スキャンライン数が５０であっ
た場合にはエッジリストメモリ３の行数は５０であり、
このときエッジリストメモリ３の列数が２０であったと
すると、有効スキャンライン数が４０の図形の場合に
は、エッジリストメモリ３の行数は４０、列数は２５と
なる。エッジリストメモリ３の各行の先頭、即ち０列目
はインデックス領域となされており、その行中に登録さ
れているＸ座標値の数が書き込まれる。例えば、ある有
効スキャンラインにおいて、図形の輪郭と当該有効スキ
ャンラインの交点が３個である場合には、当該有効スキ
ャンラインに対応する行のインデックス領域には「３」
が書き込まれ、それに続く１〜３列目にはそれぞれの交
点のＸ座標値が書き込まれる。また、塗り潰し処理部１
は輪郭追跡の処理の過程において、輪郭と有効スキャン
ラインとの交点を求める度毎に、エッジリストの対応す
る行にその交点のＸ座標値を書き込むが、そのときにイ
ンデックス領域の値も更新する。その際、塗り潰し処理
部１は、更新したインデックス領域の値がステップＳ３
で設定した列数を越えたと判断した場合にはエッジリス
トメモリ３はオーバーフローしたものと判断する。な
お、エッジリストメモリ３に書き込まれている全ての内
容を無効とする場合には、塗り潰し処理部１はインデッ
クス領域に「０」を書き込む。ステップＳ３の処理が終
了すると、塗り潰し処理部１は、与えられた頂点座標リ
ストから当該図形の頂点間の次の輪郭点を１点求め（ス
テップＳ４）、その求めた輪郭点と有効スキャンライン
との交点のＸ座標値をエッジリストメモリ３の対応する
行に書き込むと共に当該行のインデックス領域の値を更
新し（ステップＳ５）、更新したインデックス領域の値
からエッジリストメモリ３がオーバーフローしたか否か
を判断する（ステップＳ６）。エッジリストメモリ３が
オーバーフローしていないと判断すると、塗り潰し処理
部１は、次に当該図形の全ての輪郭の追跡が完了したか
否かを判断し（ステップＳ７）、完了した場合にはステ
ップＳ８の処理を行うが、完了していない場合にはステ
ップＳ４以下の処理を繰り返す。即ち、ステップＳ４〜
Ｓ７の処理は輪郭追跡の過程で輪郭点が一つ求められる
度毎に行われるものである。しかし、ステップＳ６でエ
ッジリストメモリ３がオーバーフローしたと判断する
と、塗り潰し処理部１は、エッジリストメモリ３の全て
の行のインデックス領域に「０」を書き込んでこれまで
書き込まれた内容を無効とし、ステップＳ６からステッ
プＳ１１に分岐して、有効スキャンラインを、ステップ
Ｓ２で設定した有効スキャンラインの上半分の範囲に再
設定する。例えば、図４に示す図形１０について上述し
た処理を行っている途中でエッジリストメモリ３がオー
バーフローした場合には、ステップＳ１１で再設定され
る有効スキャンラインは、図５に示すように、Ｙ1 から
（Ｙ1＋Ｙ2）／２の範囲になる。即ち、図形１０は２分
割される。
に、その総容量は固定であるが、行と列の数を可変でき
る２次元バッファメモリで構成されている。従って、行
数と列数は互いに反比例の関係にある。そして、行数は
ステップＳ２で設定された有効スキャンライン数により
決定され、それによって列数、即ち１スキャンラインに
おける当該図形の輪郭と当該有効スキャンラインとの交
点として登録できるＸ座標値の最大数が定まる。従って
例えば、ある図形の有効スキャンライン数が５０であっ
た場合にはエッジリストメモリ３の行数は５０であり、
このときエッジリストメモリ３の列数が２０であったと
すると、有効スキャンライン数が４０の図形の場合に
は、エッジリストメモリ３の行数は４０、列数は２５と
なる。エッジリストメモリ３の各行の先頭、即ち０列目
はインデックス領域となされており、その行中に登録さ
れているＸ座標値の数が書き込まれる。例えば、ある有
効スキャンラインにおいて、図形の輪郭と当該有効スキ
ャンラインの交点が３個である場合には、当該有効スキ
ャンラインに対応する行のインデックス領域には「３」
が書き込まれ、それに続く１〜３列目にはそれぞれの交
点のＸ座標値が書き込まれる。また、塗り潰し処理部１
は輪郭追跡の処理の過程において、輪郭と有効スキャン
ラインとの交点を求める度毎に、エッジリストの対応す
る行にその交点のＸ座標値を書き込むが、そのときにイ
ンデックス領域の値も更新する。その際、塗り潰し処理
部１は、更新したインデックス領域の値がステップＳ３
で設定した列数を越えたと判断した場合にはエッジリス
トメモリ３はオーバーフローしたものと判断する。な
お、エッジリストメモリ３に書き込まれている全ての内
容を無効とする場合には、塗り潰し処理部１はインデッ
クス領域に「０」を書き込む。ステップＳ３の処理が終
了すると、塗り潰し処理部１は、与えられた頂点座標リ
ストから当該図形の頂点間の次の輪郭点を１点求め（ス
テップＳ４）、その求めた輪郭点と有効スキャンライン
との交点のＸ座標値をエッジリストメモリ３の対応する
行に書き込むと共に当該行のインデックス領域の値を更
新し（ステップＳ５）、更新したインデックス領域の値
からエッジリストメモリ３がオーバーフローしたか否か
を判断する（ステップＳ６）。エッジリストメモリ３が
オーバーフローしていないと判断すると、塗り潰し処理
部１は、次に当該図形の全ての輪郭の追跡が完了したか
否かを判断し（ステップＳ７）、完了した場合にはステ
ップＳ８の処理を行うが、完了していない場合にはステ
ップＳ４以下の処理を繰り返す。即ち、ステップＳ４〜
Ｓ７の処理は輪郭追跡の過程で輪郭点が一つ求められる
度毎に行われるものである。しかし、ステップＳ６でエ
ッジリストメモリ３がオーバーフローしたと判断する
と、塗り潰し処理部１は、エッジリストメモリ３の全て
の行のインデックス領域に「０」を書き込んでこれまで
書き込まれた内容を無効とし、ステップＳ６からステッ
プＳ１１に分岐して、有効スキャンラインを、ステップ
Ｓ２で設定した有効スキャンラインの上半分の範囲に再
設定する。例えば、図４に示す図形１０について上述し
た処理を行っている途中でエッジリストメモリ３がオー
バーフローした場合には、ステップＳ１１で再設定され
る有効スキャンラインは、図５に示すように、Ｙ1 から
（Ｙ1＋Ｙ2）／２の範囲になる。即ち、図形１０は２分
割される。
【００１４】有効スキャンラインを再設定すると、塗潰
し処理部１は、ステップＳ３に戻って、ステップＳ１１
で再設定した有効スキャンラインの高さ幅に応じて、エ
ッジリストメモリ３に形成するエッジリストの行と列の
サイズを設定する。例えば最初にステップＳ３の処理で
設定したときには５０行×２０列であったとすると、次
にステップＳ１１からステップＳ３に戻って設定される
エッジリストのサイズは２５行×４０列となり、これに
よって各行にはより多くの交点のＸ座標値が書き込める
ようになる。その後、塗り潰し処理部１は、再度与えら
れた頂点座標リストから当該図形の頂点間の次の輪郭点
を１点求め（ステップＳ４）、その求めた輪郭点とステ
ップＳ１１で設定した有効スキャンラインの範囲内にあ
る有効スキャンラインとの交点のＸ座標値のみをエッジ
リストメモリ３の対応する行に書き込むと共に当該行の
インデックス領域の値を更新し（ステップＳ５）、更新
したインデックス領域の値からエッジリストメモリ３が
オーバーフローしたか否かを判断する（ステップＳ
６）。そして再びステップＳ６でエッジリストメモリ３
がオーバーフローしたと判断すると、ステップＳ１１で
有効スキャンラインを、前回設定した有効スキャンライ
ンの上半分に設定する。例えば、エッジリストメモリ３
が２回オーバーフローを生じたとすると、そのときには
ステップＳ１１では有効スキャンラインの幅は更に半分
に狭められ、図５の場合には図７に示すように有効スキ
ャンラインはＹ1 から（３Ｙ1＋Ｙ2）／４の範囲に再度
設定され、上記の処理が繰り返される。即ちこの場合に
はステップＳ１１で設定される有効スキャンラインは当
該図形の高さの上側の１／４となる。
し処理部１は、ステップＳ３に戻って、ステップＳ１１
で再設定した有効スキャンラインの高さ幅に応じて、エ
ッジリストメモリ３に形成するエッジリストの行と列の
サイズを設定する。例えば最初にステップＳ３の処理で
設定したときには５０行×２０列であったとすると、次
にステップＳ１１からステップＳ３に戻って設定される
エッジリストのサイズは２５行×４０列となり、これに
よって各行にはより多くの交点のＸ座標値が書き込める
ようになる。その後、塗り潰し処理部１は、再度与えら
れた頂点座標リストから当該図形の頂点間の次の輪郭点
を１点求め（ステップＳ４）、その求めた輪郭点とステ
ップＳ１１で設定した有効スキャンラインの範囲内にあ
る有効スキャンラインとの交点のＸ座標値のみをエッジ
リストメモリ３の対応する行に書き込むと共に当該行の
インデックス領域の値を更新し（ステップＳ５）、更新
したインデックス領域の値からエッジリストメモリ３が
オーバーフローしたか否かを判断する（ステップＳ
６）。そして再びステップＳ６でエッジリストメモリ３
がオーバーフローしたと判断すると、ステップＳ１１で
有効スキャンラインを、前回設定した有効スキャンライ
ンの上半分に設定する。例えば、エッジリストメモリ３
が２回オーバーフローを生じたとすると、そのときには
ステップＳ１１では有効スキャンラインの幅は更に半分
に狭められ、図５の場合には図７に示すように有効スキ
ャンラインはＹ1 から（３Ｙ1＋Ｙ2）／４の範囲に再度
設定され、上記の処理が繰り返される。即ちこの場合に
はステップＳ１１で設定される有効スキャンラインは当
該図形の高さの上側の１／４となる。
【００１５】塗り潰し処理部１は上記の処理を繰り返し
実行し、ステップＳ７で当該図形の全ての輪郭の追跡が
完了したと判断すると、図８に示す従来の塗り潰し処理
のステップＳ２２、Ｓ２３と同様にしてエッジリストの
整列化を行い（ステップＳ８）、塗潰し処理を行って
（ステップＳ９）、塗り残した領域があるか否かを判断
する（ステップＳ１０）。ステップＳ６の判断において
エッジリストメモリ３のオーバーフローが１回も検知さ
れない場合にはステップＳ９では当該図形の全領域が塗
り潰されるから、ステップＳ１０では塗り残し領域はな
いものと判断され、塗り潰し処理部１はこの塗り潰し処
理を終了するが、塗り残した領域がある場合には、塗り
潰し処理部１は、既に塗り潰した領域の下側の領域を新
たな図形輪郭とし、その図形の輪郭のＹ座標の最小値と
最大値を求め（ステップＳ１２）、その最小値と最大値
の範囲を新たな有効スキャンラインとして設定して（ス
テップＳ２）、上述した処理を繰り返す。
実行し、ステップＳ７で当該図形の全ての輪郭の追跡が
完了したと判断すると、図８に示す従来の塗り潰し処理
のステップＳ２２、Ｓ２３と同様にしてエッジリストの
整列化を行い（ステップＳ８）、塗潰し処理を行って
（ステップＳ９）、塗り残した領域があるか否かを判断
する（ステップＳ１０）。ステップＳ６の判断において
エッジリストメモリ３のオーバーフローが１回も検知さ
れない場合にはステップＳ９では当該図形の全領域が塗
り潰されるから、ステップＳ１０では塗り残し領域はな
いものと判断され、塗り潰し処理部１はこの塗り潰し処
理を終了するが、塗り残した領域がある場合には、塗り
潰し処理部１は、既に塗り潰した領域の下側の領域を新
たな図形輪郭とし、その図形の輪郭のＹ座標の最小値と
最大値を求め（ステップＳ１２）、その最小値と最大値
の範囲を新たな有効スキャンラインとして設定して（ス
テップＳ２）、上述した処理を繰り返す。
【００１６】例えば、ステップＳ１１で再設定した有効
スキャンラインでエッジリストメモリ３がオーバーフロ
ーすることなく輪郭点と有効スキャンラインの交点のＸ
座標値の登録が終了した場合には、ステップＳ８、Ｓ９
の処理により、図６に示すように再設定された有効スキ
ャンラインの範囲だけが塗潰され、次にステップＳ１０
からステップＳ１２に分岐して有効スキャンラインが残
りの半分、即ち図６の場合（Ｙ1＋Ｙ2）／２からＹ2 の
範囲が新たな有効スキャンラインとして設定され、以下
上述した処理が繰り返される。以上のようにして塗り潰
しの処理が施された図形はキャッシュメモリ４に展開さ
れ、更に図示しないページメモリに書き込まれて、表示
装置での表示あるいはページプリンタでのハードコピー
等に使用される。
スキャンラインでエッジリストメモリ３がオーバーフロ
ーすることなく輪郭点と有効スキャンラインの交点のＸ
座標値の登録が終了した場合には、ステップＳ８、Ｓ９
の処理により、図６に示すように再設定された有効スキ
ャンラインの範囲だけが塗潰され、次にステップＳ１０
からステップＳ１２に分岐して有効スキャンラインが残
りの半分、即ち図６の場合（Ｙ1＋Ｙ2）／２からＹ2 の
範囲が新たな有効スキャンラインとして設定され、以下
上述した処理が繰り返される。以上のようにして塗り潰
しの処理が施された図形はキャッシュメモリ４に展開さ
れ、更に図示しないページメモリに書き込まれて、表示
装置での表示あるいはページプリンタでのハードコピー
等に使用される。
【００１７】以上、本発明の一実施例について説明した
が、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種
々の変形が可能である。例えば上記実施例では有効スキ
ャンラインの再設定は前回設定された範囲の半分に設定
するものとしたが、これは分割数をできるだけ少なくす
るためであって、１／３あるいは１／４に設定するよう
にしてもよい。また、エッジリストメモリがオーバーフ
ローして有効スキャンラインを再設定した場合は、図形
の頂点を結ぶ線がこの有効スキャンラインに含まれるか
否かを判断する手段を設け、含まれない場合はステップ
Ｓ４の輪郭点を求める演算を省略して次の図形の頂点を
結ぶ線を処理するようにして処理時間を短縮してもよい
ものである。更に、エッジリストメモリがオーバーフロ
ーして有効スキャンラインを再設定する場合において、
エッジリストメモリにそれまで展開していたエッジリス
トを他の記憶手段に一次的に退避させ、その退避させた
エッジリストから再設定した有効スキャンラインに該当
するエッジリストのみを記憶させるようにすれば、それ
まで得た図形の頂点を結ぶ輪郭点をそのまま利用できる
ので、継続して処理を行うことができる。なお、エッジ
リストメモリにそれまで展開していたエッジリストを再
設定した有効スキャンラインに応じて取捨し、エッジリ
ストメモリ内のみで再配置するようにすれば、前記の他
の記憶手段は不要である。また、エッジリストメモリに
エッジリストをシーケンシャルに記憶させ、その後各ス
キャンラインに対応したエッジリストを順次選択するよ
うにすれば、エッジリストメモリにおいて実際に使用さ
れない無駄な領域が少なくなり、エッジリストメモリを
効率よく使用できる。この場合もエッジリストメモリが
オーバーフローした場合に再設定後の有効スキャンライ
ンに応じてエッジリストを取捨して再配置すれば継続し
て処理を行うことができる。以上の変形を必要に応じて
実施できることは当業者に明らかである。
が、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種
々の変形が可能である。例えば上記実施例では有効スキ
ャンラインの再設定は前回設定された範囲の半分に設定
するものとしたが、これは分割数をできるだけ少なくす
るためであって、１／３あるいは１／４に設定するよう
にしてもよい。また、エッジリストメモリがオーバーフ
ローして有効スキャンラインを再設定した場合は、図形
の頂点を結ぶ線がこの有効スキャンラインに含まれるか
否かを判断する手段を設け、含まれない場合はステップ
Ｓ４の輪郭点を求める演算を省略して次の図形の頂点を
結ぶ線を処理するようにして処理時間を短縮してもよい
ものである。更に、エッジリストメモリがオーバーフロ
ーして有効スキャンラインを再設定する場合において、
エッジリストメモリにそれまで展開していたエッジリス
トを他の記憶手段に一次的に退避させ、その退避させた
エッジリストから再設定した有効スキャンラインに該当
するエッジリストのみを記憶させるようにすれば、それ
まで得た図形の頂点を結ぶ輪郭点をそのまま利用できる
ので、継続して処理を行うことができる。なお、エッジ
リストメモリにそれまで展開していたエッジリストを再
設定した有効スキャンラインに応じて取捨し、エッジリ
ストメモリ内のみで再配置するようにすれば、前記の他
の記憶手段は不要である。また、エッジリストメモリに
エッジリストをシーケンシャルに記憶させ、その後各ス
キャンラインに対応したエッジリストを順次選択するよ
うにすれば、エッジリストメモリにおいて実際に使用さ
れない無駄な領域が少なくなり、エッジリストメモリを
効率よく使用できる。この場合もエッジリストメモリが
オーバーフローした場合に再設定後の有効スキャンライ
ンに応じてエッジリストを取捨して再配置すれば継続し
て処理を行うことができる。以上の変形を必要に応じて
実施できることは当業者に明らかである。
【００１８】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、エッジリストメモリの容量としては、最小限
１スキャンラインの画素数の座標データを全て格納でき
るだけの容量を備えていれば、どのように複雑且つ大き
な図形でも１スキャンライン毎に分割して塗潰しを行う
ことができるので、従来のように大容量のメモリを備え
る必要はなく、従ってコストを低減することができるば
かりでなく、ピン数も減らせるので信頼性を向上させる
ことができる。
によれば、エッジリストメモリの容量としては、最小限
１スキャンラインの画素数の座標データを全て格納でき
るだけの容量を備えていれば、どのように複雑且つ大き
な図形でも１スキャンライン毎に分割して塗潰しを行う
ことができるので、従来のように大容量のメモリを備え
る必要はなく、従ってコストを低減することができるば
かりでなく、ピン数も減らせるので信頼性を向上させる
ことができる。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図面の簡単な説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明に係る図形塗潰し装置の一実施例の構
成を示す図である。
成を示す図である。
【図２】 本発明に係る図形塗潰し装置の処理を示すフ
ローチャート。
ローチャート。
【図３】 エッジリストメモリの構造を示す図である。
【図４】 有効スキャンラインの初期設定を説明するた
めの図である。
めの図である。
【図５】 有効スキャンラインの再設定を説明するため
の図である。
の図である。
【図６】 分割塗り潰しを説明するための図である。
【図７】 図５の状態から更に有効スキャンラインを再
設定した様子を示す図である。
設定した様子を示す図である。
【図８】 オーダード・エッジ・リスト方式による塗潰
し処理を示すフローチャート。
し処理を示すフローチャート。
【図９】 入力される図形データの例を示す図である。
【図１０】 直線補間により求められた図形の輪郭とス
キャンラインの交点を示す図である。
キャンラインの交点を示す図である。
【図１１】 エッジリストの整列化を説明するための図
である。
である。
【図１２】 塗潰された図形を示す図である。
【符号の説明】 １…塗潰し処理部、２…図形データメモリ、３…エッジ
リストメモリ、４…キャッシュメモリ。
リストメモリ、４…キャッシュメモリ。
【手続補正５】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図２
【補正方法】変更
【補正内容】
【図２】
【手続補正６】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図３
【補正方法】変更
【補正内容】
【図３】
【手続補正７】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図４
【補正方法】変更
【補正内容】
【図４】
【手続補正８】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図５
【補正方法】変更
【補正内容】
【図５】
【手続補正９】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図６
【補正方法】変更
【補正内容】
【図６】
【手続補正１０】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図７
【補正方法】変更
【補正内容】
【図７】
【手続補正１１】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図８
【補正方法】変更
【補正内容】
【図８】
【手続補正１２】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図９
【補正方法】変更
【補正内容】
【図９】
【手続補正１３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１０
【補正方法】変更
【補正内容】
【図１０】
【手続補正１４】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１１
【補正方法】変更
【補正内容】
【図１１】
【手続補正１５】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１２
【補正方法】追加
【補正内容】
【図１２】
Claims (1)
- 【請求項１】 屈折点の座標データから図形の輪郭を復
元して当該図形を塗潰す図形塗潰し方式において、輪郭
を定める座標点のデータ量が当該輪郭座標点を格納する
メモリの容量を越えた場合に限り、当該図形を走査方向
と直交する方向で当該図形を分割して塗潰しを繰り返す
ことを特徴とする図形塗潰し方式。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3046813A JP2770582B2 (ja) | 1991-03-12 | 1991-03-12 | 図形塗潰し装置 |
| US07/849,580 US5355451A (en) | 1991-03-12 | 1992-03-11 | Graphic processing unit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3046813A JP2770582B2 (ja) | 1991-03-12 | 1991-03-12 | 図形塗潰し装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05258073A true JPH05258073A (ja) | 1993-10-08 |
| JP2770582B2 JP2770582B2 (ja) | 1998-07-02 |
Family
ID=12757775
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3046813A Expired - Fee Related JP2770582B2 (ja) | 1991-03-12 | 1991-03-12 | 図形塗潰し装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5355451A (ja) |
| JP (1) | JP2770582B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010134124A1 (ja) * | 2009-05-19 | 2010-11-25 | 三菱電機株式会社 | ベクトル図形描画装置 |
| US8736871B2 (en) | 2009-07-29 | 2014-05-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus and image processing method |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0816144A (ja) * | 1994-06-29 | 1996-01-19 | Fujitsu Ltd | アウトラインフォント展開方法およびアウトラインフォント展開装置 |
| JP3403707B2 (ja) * | 2000-09-29 | 2003-05-06 | 松下電器産業株式会社 | 描画装置 |
| JP4858883B2 (ja) * | 2008-11-07 | 2012-01-18 | Ｎｅｃシステムテクノロジー株式会社 | ベクター画像描画装置、ベクター画像描画方法およびプログラム |
| US10930040B2 (en) * | 2019-05-20 | 2021-02-23 | Adobe Inc. | Graphic object modifications |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6373486A (ja) * | 1986-09-17 | 1988-04-04 | Fujitsu Ltd | 図形塗潰し方式 |
| JPS63271585A (ja) * | 1987-04-28 | 1988-11-09 | Fuji Xerox Co Ltd | 図形出力制御装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01196675A (ja) * | 1988-01-30 | 1989-08-08 | Toshiba Corp | パターンデータ生成方式 |
| JP2634851B2 (ja) * | 1988-04-28 | 1997-07-30 | シャープ株式会社 | 画像処理装置 |
-
1991
- 1991-03-12 JP JP3046813A patent/JP2770582B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-03-11 US US07/849,580 patent/US5355451A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6373486A (ja) * | 1986-09-17 | 1988-04-04 | Fujitsu Ltd | 図形塗潰し方式 |
| JPS63271585A (ja) * | 1987-04-28 | 1988-11-09 | Fuji Xerox Co Ltd | 図形出力制御装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010134124A1 (ja) * | 2009-05-19 | 2010-11-25 | 三菱電機株式会社 | ベクトル図形描画装置 |
| JP5159949B2 (ja) * | 2009-05-19 | 2013-03-13 | 三菱電機株式会社 | ベクトル図形描画装置 |
| US8736871B2 (en) | 2009-07-29 | 2014-05-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus and image processing method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2770582B2 (ja) | 1998-07-02 |
| US5355451A (en) | 1994-10-11 |
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|---|---|---|---|
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