JP3244852B2 - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JP3244852B2 JP3244852B2 JP7184493A JP7184493A JP3244852B2 JP 3244852 B2 JP3244852 B2 JP 3244852B2 JP 7184493 A JP7184493 A JP 7184493A JP 7184493 A JP7184493 A JP 7184493A JP 3244852 B2 JP3244852 B2 JP 3244852B2
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- Japan
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- time
- mode
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- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、赤外線を投光し、その
反射光により被写体までの距離を測定するアクティブ方
式の測距装置に関するものである。
反射光により被写体までの距離を測定するアクティブ方
式の測距装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、被写体に向け、投光レンズにより
集光した赤外光を投光し、被写体よりの反射光を、受光
レンズにより、半導体位置検出装置（いわゆるＰＳＤ）
に結像し、その出力より被写体までの距離情報を得る、
いわゆるアクティブ方式の測距装置においては、ＰＳＤ
上に結像された被写体からの反射光による光電流とその
光電流の電流−電圧変換を行う初段のアンプにより発生
するノイズの比によって、測距精度がほぼ決定される。
従って、光電流とノイズの比、即ちＳ／Ｎ比を向上する
ことによって、測距精度を向上することができる。その
ために、従来は、光電流を所定の利得をもった、増幅器
により増幅した後、そのノイズおよび信号である光電流
の重畳された出力を積分器に入力し、所定の期間積分
し、Ｓ／Ｎ比を向上させ、測距精度を上げていた。
集光した赤外光を投光し、被写体よりの反射光を、受光
レンズにより、半導体位置検出装置（いわゆるＰＳＤ）
に結像し、その出力より被写体までの距離情報を得る、
いわゆるアクティブ方式の測距装置においては、ＰＳＤ
上に結像された被写体からの反射光による光電流とその
光電流の電流−電圧変換を行う初段のアンプにより発生
するノイズの比によって、測距精度がほぼ決定される。
従って、光電流とノイズの比、即ちＳ／Ｎ比を向上する
ことによって、測距精度を向上することができる。その
ために、従来は、光電流を所定の利得をもった、増幅器
により増幅した後、そのノイズおよび信号である光電流
の重畳された出力を積分器に入力し、所定の期間積分
し、Ｓ／Ｎ比を向上させ、測距精度を上げていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例においては、低反射率の被写体や遠距離の被写体に
対して、被写体からの反射光が微弱になるため、低反射
率および遠距離の被写体になるほど、初段アンプにおけ
るＳ／Ｎ比が悪化し、測距精度が悪くなる。従って、こ
のような場合、前記の積分器における積分の時間を長く
して、初段におけるＳ／Ｎ比の悪化による測距精度の精
度不足を改善していた。しかし、上述のように、積分時
間を長くすると、結果として測距時間が長くなり、フィ
ルム面に露光を開始するまでの時間、レリーズタイムラ
グが増加し、シャッターチャンスをのがすという欠点が
あった。また、積分時間は、前述のようなレリーズタイ
ムラグを考慮し、ある所定の期間を最大値として、ある
程度の測距精度内におさまるようなレベルに設定され
る。しかし、被写体が移動物体のような場合には、前記
の最大積分時間によるレリーズタイムラグによって、い
わゆるピンボケ写真になるという欠点を有している。
来例においては、低反射率の被写体や遠距離の被写体に
対して、被写体からの反射光が微弱になるため、低反射
率および遠距離の被写体になるほど、初段アンプにおけ
るＳ／Ｎ比が悪化し、測距精度が悪くなる。従って、こ
のような場合、前記の積分器における積分の時間を長く
して、初段におけるＳ／Ｎ比の悪化による測距精度の精
度不足を改善していた。しかし、上述のように、積分時
間を長くすると、結果として測距時間が長くなり、フィ
ルム面に露光を開始するまでの時間、レリーズタイムラ
グが増加し、シャッターチャンスをのがすという欠点が
あった。また、積分時間は、前述のようなレリーズタイ
ムラグを考慮し、ある所定の期間を最大値として、ある
程度の測距精度内におさまるようなレベルに設定され
る。しかし、被写体が移動物体のような場合には、前記
の最大積分時間によるレリーズタイムラグによって、い
わゆるピンボケ写真になるという欠点を有している。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明では、カメラの撮
影モードが移動物体を撮影するモード（例えば複数枚を
連続して、撮影するような連写モード、移動する被写体
の移動速度を検知して、予め、フォーカスレンズを移動
速度に合わせて、フォーカシングするようないわゆる予
測撮影モードなど）に設定された場合、積分時間を、通
常の撮影モードの時よりも短く設定することにより、測
距時間の短縮をはかり、レリーズタイムラグを減少させ
るようにしたものである。
影モードが移動物体を撮影するモード（例えば複数枚を
連続して、撮影するような連写モード、移動する被写体
の移動速度を検知して、予め、フォーカスレンズを移動
速度に合わせて、フォーカシングするようないわゆる予
測撮影モードなど）に設定された場合、積分時間を、通
常の撮影モードの時よりも短く設定することにより、測
距時間の短縮をはかり、レリーズタイムラグを減少させ
るようにしたものである。
【０００５】
【実施例】図１は本発明の特徴を最もよく表わす図面で
あり、同図において、１は被写体に向けてカメラより投
光される赤外光を集光するためのレンズ、２は被写体に
向け赤外光を射出する赤外発光ダイオード（以下ＩＲＥ
Ｄと記す）、３は公知のＩＲＥＤ駆動回路で、２０のシ
ーケンス制御回路により、所定の周波数により変調され
てＩＲＥＤを駆動する。４は、被写体から、反射してく
る２のＩＲＥＤの反射光を集光し、５の半導体位置検出
素子（以下ＰＳＤと記す）上に結像する受光レンズ、５
は公知の半導体位置検出素子（ＰＳＤ）、６は５のＰＳ
Ｄの片側の電流（以下ＩＡと記す）を電流−電圧変換す
るアンプ、７はＩ／Ｖ変換用の６のアンプのフィードバ
ック抵抗、８は５のＰＳＤのもう一方の電極より発生す
る電流（以下ＩＢと記す）を電流−電圧変換するアン
プ、９はＩ／Ｖ変換用の８のアンプのフィードバック抵
抗、１０および１１は、６および７のアンプの出力の直
流成分（太陽光線）をカットするコンデンサ、１２およ
び１３の抵抗は、１０および１１のコンデンサと組みあ
わされ所定のカットオフ周波数を有するハイパスフィル
ターを構成する。１４は、ＩＡとＩＢの電流を加算する
加算器出力と、ＩＡの電流を出力するモードに切り換え
られるようにする切換回路を有し、２０のシーケンス制
御回路により制御される。１５は１４の切換回路の出力
をＶ／Ｉ変換するための抵抗、１６は、所定の周波数に
より同期積分を行うためのサンプリングスイッチ、１７
は積分用のアンプ、１８は積分用のコンデンサ、１９は
積分器のゼロクロスを検出するためのコンパレータ、２
０はカメラのシーケンスを制御するためのマイクロコン
ピュータ、２１は公知の測光回路、２２はフォーカス用
のレンズを駆動するモーターを駆動する公知の駆動回
路、２３はフォーカスレンズを駆動するモーター、２４
は、カメラのレリーズスイッチを第１ストロークまで押
し込んだときオンし、測距、および測光を行うためのス
イッチＳＷ１、２５はカメラのレリーズスイッチを第２
ストロークまで押し込んだときオンし、フォーカスレン
ズの駆動および露光を行なわせるスイッチＳＷ２、２６
は、カメラの撮影モードが動体撮影モードにあることを
検知するＭＯＤＥスイッチである。
あり、同図において、１は被写体に向けてカメラより投
光される赤外光を集光するためのレンズ、２は被写体に
向け赤外光を射出する赤外発光ダイオード（以下ＩＲＥ
Ｄと記す）、３は公知のＩＲＥＤ駆動回路で、２０のシ
ーケンス制御回路により、所定の周波数により変調され
てＩＲＥＤを駆動する。４は、被写体から、反射してく
る２のＩＲＥＤの反射光を集光し、５の半導体位置検出
素子（以下ＰＳＤと記す）上に結像する受光レンズ、５
は公知の半導体位置検出素子（ＰＳＤ）、６は５のＰＳ
Ｄの片側の電流（以下ＩＡと記す）を電流−電圧変換す
るアンプ、７はＩ／Ｖ変換用の６のアンプのフィードバ
ック抵抗、８は５のＰＳＤのもう一方の電極より発生す
る電流（以下ＩＢと記す）を電流−電圧変換するアン
プ、９はＩ／Ｖ変換用の８のアンプのフィードバック抵
抗、１０および１１は、６および７のアンプの出力の直
流成分（太陽光線）をカットするコンデンサ、１２およ
び１３の抵抗は、１０および１１のコンデンサと組みあ
わされ所定のカットオフ周波数を有するハイパスフィル
ターを構成する。１４は、ＩＡとＩＢの電流を加算する
加算器出力と、ＩＡの電流を出力するモードに切り換え
られるようにする切換回路を有し、２０のシーケンス制
御回路により制御される。１５は１４の切換回路の出力
をＶ／Ｉ変換するための抵抗、１６は、所定の周波数に
より同期積分を行うためのサンプリングスイッチ、１７
は積分用のアンプ、１８は積分用のコンデンサ、１９は
積分器のゼロクロスを検出するためのコンパレータ、２
０はカメラのシーケンスを制御するためのマイクロコン
ピュータ、２１は公知の測光回路、２２はフォーカス用
のレンズを駆動するモーターを駆動する公知の駆動回
路、２３はフォーカスレンズを駆動するモーター、２４
は、カメラのレリーズスイッチを第１ストロークまで押
し込んだときオンし、測距、および測光を行うためのス
イッチＳＷ１、２５はカメラのレリーズスイッチを第２
ストロークまで押し込んだときオンし、フォーカスレン
ズの駆動および露光を行なわせるスイッチＳＷ２、２６
は、カメラの撮影モードが動体撮影モードにあることを
検知するＭＯＤＥスイッチである。
【０００６】尚、該ＭＯＤＥスイッチ２６がオンとなる
動体撮影モードとしては例えば予測オートフォーカス、
連写モード、サーボオートフォーカスモード等のモード
である。
動体撮影モードとしては例えば予測オートフォーカス、
連写モード、サーボオートフォーカスモード等のモード
である。
【０００７】図２は、カメラの測距時のＩＲＥＤの駆動
波形および積分器の出力を示している。
波形および積分器の出力を示している。
【０００８】次に図１および図２を用いて、本発明の動
作を説明する。２６のＭＯＤＥスイッチがＯＦＦの場合
撮影者によりカメラのレリーズスイッチが第１ストロー
クまで押し込まれると、２４のスイッチＳＷ１がオン
し、２０のシーケンス制御回路が３のＩＲＥＤ駆動回路
を駆動するパルスをＩＲＯＮ端子より出力する。それに
よって、２のＩＲＥＤが所定の周波数と所定のデューテ
ィをもったパルスにより発光し、被写体に向け１のレン
ズで集光されたＩＲＥＤの光が投光される。被写体に投
光された光は被写体上で反射し、４の受光レンズで再び
集光され、５のＰＳＤ上に結像される。５のＰＳＤは結
像された赤外光のスポットの位置に対応した光をＡ電
極、Ｂ電極から出力する。ＰＳＤの長さをＬとし、Ａ電
極から光スポットの重心位置までをｘとすると、
作を説明する。２６のＭＯＤＥスイッチがＯＦＦの場合
撮影者によりカメラのレリーズスイッチが第１ストロー
クまで押し込まれると、２４のスイッチＳＷ１がオン
し、２０のシーケンス制御回路が３のＩＲＥＤ駆動回路
を駆動するパルスをＩＲＯＮ端子より出力する。それに
よって、２のＩＲＥＤが所定の周波数と所定のデューテ
ィをもったパルスにより発光し、被写体に向け１のレン
ズで集光されたＩＲＥＤの光が投光される。被写体に投
光された光は被写体上で反射し、４の受光レンズで再び
集光され、５のＰＳＤ上に結像される。５のＰＳＤは結
像された赤外光のスポットの位置に対応した光をＡ電
極、Ｂ電極から出力する。ＰＳＤの長さをＬとし、Ａ電
極から光スポットの重心位置までをｘとすると、
【０００９】
【外１】 という関係が成立する。Ａ電極、Ｂ電極からの電流
ＩＡ，ＩＢはそれぞれ所定の増幅度をもつアンプにより
増幅される。このとき、アンプが飽和しないように図示
しない公知の回路によって、アンプの利得およびＩＲＥ
Ｄの駆動電流が可変されることはいうまでもない。次に
それぞれの電流ＩＡ，ＩＢは１４の切換え回路に入力さ
れ、まずＩＡが出力され、１５のＶ／Ｉ変換抵抗によっ
て、電流変換され、積分器により、所定時間Ｔだけ積分
される。所定時間Ｔは図示しないコンパレータが反転す
る時間Ｔ′と、そのコンパレータのレベルより、積分ア
ンプが飽和しない範囲に設定される。
ＩＡ，ＩＢはそれぞれ所定の増幅度をもつアンプにより
増幅される。このとき、アンプが飽和しないように図示
しない公知の回路によって、アンプの利得およびＩＲＥ
Ｄの駆動電流が可変されることはいうまでもない。次に
それぞれの電流ＩＡ，ＩＢは１４の切換え回路に入力さ
れ、まずＩＡが出力され、１５のＶ／Ｉ変換抵抗によっ
て、電流変換され、積分器により、所定時間Ｔだけ積分
される。所定時間Ｔは図示しないコンパレータが反転す
る時間Ｔ′と、そのコンパレータのレベルより、積分ア
ンプが飽和しない範囲に設定される。
【００１０】即ち、上記ＩＡの積分値が所定レベルに達
した時に反転するコンパレータを設け、このコンパレー
タの反転するまでに要した時間Ｔ′をカウントし、この
カウント値Ｔ′に基づいて、上記ＩＡに対する積分時間
Ｔを決定する。又、この積分時間Ｔを決定するための他
の方法としては、ＩＡの積分開始から短時間ＴＳ経過し
た時の積分値を検知し、この積分値に基づいてＴを決定
したり、積分開始前のＩＡの値を直接検知し、Ｔを決定
しても良く、ＰＳＤの出力値に基づいたＴを決定すれば
良い。
した時に反転するコンパレータを設け、このコンパレー
タの反転するまでに要した時間Ｔ′をカウントし、この
カウント値Ｔ′に基づいて、上記ＩＡに対する積分時間
Ｔを決定する。又、この積分時間Ｔを決定するための他
の方法としては、ＩＡの積分開始から短時間ＴＳ経過し
た時の積分値を検知し、この積分値に基づいてＴを決定
したり、積分開始前のＩＡの値を直接検知し、Ｔを決定
しても良く、ＰＳＤの出力値に基づいたＴを決定すれば
良い。
【００１１】又、ＩAの積分に際してのサンプリングス
イッチ１６の位相はＩＲＯＮのタイミングと同等であ
る。次に２０のシーケンスコントローラの図示しないタ
イマが、所定時間Ｔをカウントしおわると、１４の切換
え回路の出力をＩAからＩA＋ＩBに切り換え、かつ、１
６のサンプリングの位相を１８０°反転し、逆方向にＩ
Aの積分量と同じだけ積分する。このときタイマーをス
タートし、逆方向の積分を開始した時点から１９のコン
パレータが反転し、ＩA＋ＩBが所定量積分されたと判定
されるまでの時間ｔの計測を行なう。コンパレータ１９
が反転し、ＩA＋ＩBが所定量積分されたときのタイマー
のデータｔは図示しないシーケンス制御回路内のメモリ
にストアされる。そして、制御回路２０内の演算回路に
より上記データーｔとＴをｘ／Ｌ＝ｔ／Ｔの関係式を用
いて、ｘを演算し被写体までの距離を求める。また上記
の如く所定期間Ｔは、ＰＳＤの出力値により変化するの
で被写体までの距離、被写体の反射率、ＩＲＥＤのパワ
ーによって、変化し、遠距離、低反射率、低パワーでは
ＰＳＤの出力値が小であるためＴは長くセットされる。
したがって、ＩAに対する積分の打切りの時間Ｔｍａｘ
が設定されている。図２（ａ）（ｂ）にＴｍａｘ時のＩ
ＲＥＤ駆動波形、および積分波形を示す。その後、測光
動作を行ない撮影準備動作が完了する。次にレリーズボ
タンの第２ストロークまで撮影者によって押し込まれる
とスイッチＳＷ２がオンし、測距結果に応じて、フォー
カスレンズを駆動し、図示しない公知の回路によって、
露光され、その後巻上げを行ない撮影が完了する。
イッチ１６の位相はＩＲＯＮのタイミングと同等であ
る。次に２０のシーケンスコントローラの図示しないタ
イマが、所定時間Ｔをカウントしおわると、１４の切換
え回路の出力をＩAからＩA＋ＩBに切り換え、かつ、１
６のサンプリングの位相を１８０°反転し、逆方向にＩ
Aの積分量と同じだけ積分する。このときタイマーをス
タートし、逆方向の積分を開始した時点から１９のコン
パレータが反転し、ＩA＋ＩBが所定量積分されたと判定
されるまでの時間ｔの計測を行なう。コンパレータ１９
が反転し、ＩA＋ＩBが所定量積分されたときのタイマー
のデータｔは図示しないシーケンス制御回路内のメモリ
にストアされる。そして、制御回路２０内の演算回路に
より上記データーｔとＴをｘ／Ｌ＝ｔ／Ｔの関係式を用
いて、ｘを演算し被写体までの距離を求める。また上記
の如く所定期間Ｔは、ＰＳＤの出力値により変化するの
で被写体までの距離、被写体の反射率、ＩＲＥＤのパワ
ーによって、変化し、遠距離、低反射率、低パワーでは
ＰＳＤの出力値が小であるためＴは長くセットされる。
したがって、ＩAに対する積分の打切りの時間Ｔｍａｘ
が設定されている。図２（ａ）（ｂ）にＴｍａｘ時のＩ
ＲＥＤ駆動波形、および積分波形を示す。その後、測光
動作を行ない撮影準備動作が完了する。次にレリーズボ
タンの第２ストロークまで撮影者によって押し込まれる
とスイッチＳＷ２がオンし、測距結果に応じて、フォー
カスレンズを駆動し、図示しない公知の回路によって、
露光され、その後巻上げを行ない撮影が完了する。
【００１２】次に２６のＭＯＤＥスイッチがＯＮし、移
動体撮影モードに設定された場合、シーケンスは上述の
ＭＯＤＥスイッチがＯＦＦの場合とおなじであるが、所
定の積分時間Ｔｍａｘを、ＭＯＤＥスイッチ２６がオフ
のときよりも短い時間Ｔ′ｍａｘに設定し、測距時間を
短くする。図２（ｃ）（ｄ）にＭＯＤＥスイッチオン時
のＩＲＥＤの駆動波形、および積分波形をしめす。
動体撮影モードに設定された場合、シーケンスは上述の
ＭＯＤＥスイッチがＯＦＦの場合とおなじであるが、所
定の積分時間Ｔｍａｘを、ＭＯＤＥスイッチ２６がオフ
のときよりも短い時間Ｔ′ｍａｘに設定し、測距時間を
短くする。図２（ｃ）（ｄ）にＭＯＤＥスイッチオン時
のＩＲＥＤの駆動波形、および積分波形をしめす。
【００１３】尚、上記実施例では５の半導体位置検出素
子を用いているが、それにかわり、２分割のフォトダイ
オードなどを用いてもよいことはいうまでもない。ま
た、本実施例の図１では、ＩAおよびＩA＋ＩBの積分器
を時系列で兼用しているが、２系列で積分し、両者の積
分レベルで距離を演算するものにも適用されるのはいう
までもない。
子を用いているが、それにかわり、２分割のフォトダイ
オードなどを用いてもよいことはいうまでもない。ま
た、本実施例の図１では、ＩAおよびＩA＋ＩBの積分器
を時系列で兼用しているが、２系列で積分し、両者の積
分レベルで距離を演算するものにも適用されるのはいう
までもない。
【００１４】この場合の積分時間の決め方としても、上
記の実施例と同様にＩA又はＩA＋ＩBを一定時間積分し
た時の積分値や、ＩA又はＩA＋ＩBが積分値が一定レベ
ルに達するに要するまでの時間や、積分前のＩA又はＩA
＋ＩBの値に基づいて決定する方法がとられる。
記の実施例と同様にＩA又はＩA＋ＩBを一定時間積分し
た時の積分値や、ＩA又はＩA＋ＩBが積分値が一定レベ
ルに達するに要するまでの時間や、積分前のＩA又はＩA
＋ＩBの値に基づいて決定する方法がとられる。
【００１５】又、他の実施例としては、２６のＭＯＤＥ
スイッチがオフの時のシーケンスは先の実施例と同一に
作動させ一方、２６のＭＯＤＥスイッチがオンのとき
は、レリーズスイッチの第１のストロークまで押し込ま
れ２４のＳＷ７がオンすると、公知の測光回路により測
光を行い、その後、このときの測光値より、被写界深度
を計算し、Ｔ′ｍａｘ時間を設定する様にしても良い。
即ち、被写界深度が深いほどＴ′ｍａｘ時間を短く設定
する様にしてその後前述の測距動作を行なわせる様にす
る構成としても良い。
スイッチがオフの時のシーケンスは先の実施例と同一に
作動させ一方、２６のＭＯＤＥスイッチがオンのとき
は、レリーズスイッチの第１のストロークまで押し込ま
れ２４のＳＷ７がオンすると、公知の測光回路により測
光を行い、その後、このときの測光値より、被写界深度
を計算し、Ｔ′ｍａｘ時間を設定する様にしても良い。
即ち、被写界深度が深いほどＴ′ｍａｘ時間を短く設定
する様にしてその後前述の測距動作を行なわせる様にす
る構成としても良い。
【００１６】又、この様な構成をとる場合は２６のＭＯ
ＤＥスイッチのオン、オフに関係なく、測光値により積
分時間を可変してもよい。
ＤＥスイッチのオン、オフに関係なく、測光値により積
分時間を可変してもよい。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように本発明によればカメ
ラが移動物体を撮影するモード（予測オートフォーカス
モード）、また移動物体を撮影する確率が高いと思われ
るモード（例えば連写モード）に設定された場合、カメ
ラの測距の積分の打ち切り秒時を通常より短く設定する
ことでレリーズタイムラグの短縮をはかることができ、
移動体撮影時のレリーズタイムラグによるピントズレを
軽減することができる。
ラが移動物体を撮影するモード（予測オートフォーカス
モード）、また移動物体を撮影する確率が高いと思われ
るモード（例えば連写モード）に設定された場合、カメ
ラの測距の積分の打ち切り秒時を通常より短く設定する
ことでレリーズタイムラグの短縮をはかることができ、
移動体撮影時のレリーズタイムラグによるピントズレを
軽減することができる。
【００１８】
【図１】本発明を実施したカメラの回路図。
【図２】図１に示した回路による測距シーケンスの動作
を説明する波形図。
を説明する波形図。
５ ＰＳＤ １７ 積分アンプ １８ コンデンサ １９ コンパレータ ２０ シーケンス制御回路
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平１−123109（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−249477（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−69010（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−16178（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−219512（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−66811（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−66116（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−42959（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01C 3/06 G02B 7/32 G03B 13/36
Claims (1)
- 【請求項１】 投光による対象からの反射光を測距セン
サーにて受光し、該センサー出力を積分回路にて積分
し、積分時間に基づいて距離情報を得るアクティブ測距
装置において、撮影モードが移動体を撮影するに適した
モードの時に前記積分時間を通常撮影モード時の積分時
間よりも短く設定したことを特徴とする測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7184493A JP3244852B2 (ja) | 1993-03-30 | 1993-03-30 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7184493A JP3244852B2 (ja) | 1993-03-30 | 1993-03-30 | 測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06288765A JPH06288765A (ja) | 1994-10-18 |
| JP3244852B2 true JP3244852B2 (ja) | 2002-01-07 |
Family
ID=13472261
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7184493A Ceased JP3244852B2 (ja) | 1993-03-30 | 1993-03-30 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3244852B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7365766B2 (ja) | 2018-11-16 | 2023-10-20 | 住友重機械工業株式会社 | 偏心揺動型減速装置 |
| JP7450364B2 (ja) | 2019-11-01 | 2024-03-15 | 住友重機械工業株式会社 | 減速装置 |
-
1993
- 1993-03-30 JP JP7184493A patent/JP3244852B2/ja not_active Ceased
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7365766B2 (ja) | 2018-11-16 | 2023-10-20 | 住友重機械工業株式会社 | 偏心揺動型減速装置 |
| JP7450364B2 (ja) | 2019-11-01 | 2024-03-15 | 住友重機械工業株式会社 | 減速装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06288765A (ja) | 1994-10-18 |
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