JP2528116B2 - 自動露出カメラ - Google Patents
自動露出カメラInfo
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- JP2528116B2 JP2528116B2 JP62092753A JP9275387A JP2528116B2 JP 2528116 B2 JP2528116 B2 JP 2528116B2 JP 62092753 A JP62092753 A JP 62092753A JP 9275387 A JP9275387 A JP 9275387A JP 2528116 B2 JP2528116 B2 JP 2528116B2
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- light intensity
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- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は自動露出カメラ、更に詳しくは、被写体に赤
外光等の光束を投射し、その反射光強度に基づいて、適
正な露光を得るように自動制御する自動露出カメラに関
する。
外光等の光束を投射し、その反射光強度に基づいて、適
正な露光を得るように自動制御する自動露出カメラに関
する。
［従来の技術］ 一般に、従来の自動露出カメラにおける露出演算は、
被写体の光反射率をほぼ一定と仮定することにより、成
り立っている。
被写体の光反射率をほぼ一定と仮定することにより、成
り立っている。
具体的には、一般の被写体に見られる最も高い反射率
90％と最も低い反射率３％との幾何平均である18％付近
を想定して露出制御が行なわれるように設計されてい
る。
90％と最も低い反射率３％との幾何平均である18％付近
を想定して露出制御が行なわれるように設計されてい
る。
従って一般に自動露出カメラでは白色の被写体を撮影
しても、黒色の被写体を撮影しても灰色に写るといわれ
てきた。
しても、黒色の被写体を撮影しても灰色に写るといわれ
てきた。
また、これを解消するために、撮影画面の微小部分を
測光、所謂スポット測光をし、撮影者の作画意図によ
り、それが黒く、または白く撮影できるように露出制御
をする自動露出カメラも、すでに特開昭58−215637号公
報に提案されている。
測光、所謂スポット測光をし、撮影者の作画意図によ
り、それが黒く、または白く撮影できるように露出制御
をする自動露出カメラも、すでに特開昭58−215637号公
報に提案されている。
［発明が解決しようとする問題点］ ところが、明暗比の大きな被写体を撮影する場合、単
にレリーズ釦を押すだけで、白い被写体は白く、黒い被
写体は黒く撮影できるように露出制御を自動的に行なう
自動露出カメラは従来、存在しなかった。
にレリーズ釦を押すだけで、白い被写体は白く、黒い被
写体は黒く撮影できるように露出制御を自動的に行なう
自動露出カメラは従来、存在しなかった。
また、ストロボ撮影の際、被写体から反射してくるス
トロボ光の光量を検出して、規定露光量に達したら、そ
の発光を停止する自動ストロボにおいても、被写体反射
率の差によ露出制御の誤差が大きかった。
トロボ光の光量を検出して、規定露光量に達したら、そ
の発光を停止する自動ストロボにおいても、被写体反射
率の差によ露出制御の誤差が大きかった。
そこで、本発明の目的は、上記従来の問題点に鑑み、
CPUによるモード切換えにより測距と被写体からの反射
光強度の測定が可能なAF（オートフォーカス）用ICを用
い、カメラのレリーズ動作に伴い、被写体までの測距デ
ータと被写体からの反射光強度データとから、被写体の
適正な反射率をCPUで演算して撮影時の露出制御値を補
正する自動露出カメラを提供するにある。
CPUによるモード切換えにより測距と被写体からの反射
光強度の測定が可能なAF（オートフォーカス）用ICを用
い、カメラのレリーズ動作に伴い、被写体までの測距デ
ータと被写体からの反射光強度データとから、被写体の
適正な反射率をCPUで演算して撮影時の露出制御値を補
正する自動露出カメラを提供するにある。
［問題点を解決するための手段および作用］ 本発明に係る自動露出カメラは、被写体の明るさを測
光してカメラの露出制御を行う露出制御手段と、上記被
写体に向けて測距用光を投射する光投射手段と、上記被
写体からの上記測距用光に基づく反射光を受光して、上
記被写体までの距離信号と上記被写体の反射光強度信号
とを出力する受光手段とを有するカメラにおいて、 特定の平均反射率の被写体における被写体距離と平均
反射光強度との関係を記憶する記憶手段と、上記受光手
段の出力結果から被写体距離と反射光強度を求め、これ
らを上記記憶手段に予め記憶しておいた被写体距離と平
均反射光強度との関係と比較し、この比較結果に基づい
て上記露出制御手段に補正を与える補正手段とを具備し
たことを特徴とするものである。
光してカメラの露出制御を行う露出制御手段と、上記被
写体に向けて測距用光を投射する光投射手段と、上記被
写体からの上記測距用光に基づく反射光を受光して、上
記被写体までの距離信号と上記被写体の反射光強度信号
とを出力する受光手段とを有するカメラにおいて、 特定の平均反射率の被写体における被写体距離と平均
反射光強度との関係を記憶する記憶手段と、上記受光手
段の出力結果から被写体距離と反射光強度を求め、これ
らを上記記憶手段に予め記憶しておいた被写体距離と平
均反射光強度との関係と比較し、この比較結果に基づい
て上記露出制御手段に補正を与える補正手段とを具備し
たことを特徴とするものである。
［実 施 例］ 以下、図面を参照して本発明を具体的に説明する。第
１図は、本発明に係る自動露出カメラの要部の構成を示
すブロック図であって、IRED（赤外発光ダイオード）１
で発光した光は、投光レンズ２で集光されて被写体３に
向けて照射され、その反射光は受光レンズ４により半導
体からなる周知の位置検出装置（以下、PSDと略記す
る）５上に結像される。このPSD5はその結像位置に応じ
て光電流I1およびI2が分流され、この分流する光電流I1
およびI2はAF（オートフォーカス）用IC6に供給され
る。このAF用IC6は、IRED制御用トランジスタ1Aを介し
上記IRED1をパルス駆動すると共に、上記PSD5からの光
電流I1,I2に基づく測距データおよび反射光強度データ
をCPU7に供給する。
１図は、本発明に係る自動露出カメラの要部の構成を示
すブロック図であって、IRED（赤外発光ダイオード）１
で発光した光は、投光レンズ２で集光されて被写体３に
向けて照射され、その反射光は受光レンズ４により半導
体からなる周知の位置検出装置（以下、PSDと略記す
る）５上に結像される。このPSD5はその結像位置に応じ
て光電流I1およびI2が分流され、この分流する光電流I1
およびI2はAF（オートフォーカス）用IC6に供給され
る。このAF用IC6は、IRED制御用トランジスタ1Aを介し
上記IRED1をパルス駆動すると共に、上記PSD5からの光
電流I1,I2に基づく測距データおよび反射光強度データ
をCPU7に供給する。
一方、被写体の明るさを電気信号に変換する露出制御
（以下、EEと略記する）用受光素子８は、EE用IC9と組
み合わされて適正露出を制御するが、この制御の際、上
記CPU7の指令により後述する反射率の補正を行なう。ま
た上記CPU7は、カメラ全体のシーケンスをつかさどりシ
ャッタの開口時間や、ピント調節用のレンズを駆動する
ための演算等も行なうものである。CPU7の出力は、ドラ
イバ10によってシャッタやフィルム巻き上げレンズ繰り
出しを行なう動力源となるモータ11を駆動する。
（以下、EEと略記する）用受光素子８は、EE用IC9と組
み合わされて適正露出を制御するが、この制御の際、上
記CPU7の指令により後述する反射率の補正を行なう。ま
た上記CPU7は、カメラ全体のシーケンスをつかさどりシ
ャッタの開口時間や、ピント調節用のレンズを駆動する
ための演算等も行なうものである。CPU7の出力は、ドラ
イバ10によってシャッタやフィルム巻き上げレンズ繰り
出しを行なう動力源となるモータ11を駆動する。
ここで、上記PSD5によって被写体距離を測る赤外光ア
クティブ式三角測距方式の動作原理について述べる。受
光レンズ４の光軸をPSD5の中心線に一致せしめて、これ
を原点としたとき、反射光入射位置をx,投光レンズ２と
受光レンズ４との主点間距離、即ち、基線長をｓ、受光
レンズ４の焦点距離をｆとすれば、被写体距離ｌは ｌ＝ｓ・f/x ………（１） で与えられる。
クティブ式三角測距方式の動作原理について述べる。受
光レンズ４の光軸をPSD5の中心線に一致せしめて、これ
を原点としたとき、反射光入射位置をx,投光レンズ２と
受光レンズ４との主点間距離、即ち、基線長をｓ、受光
レンズ４の焦点距離をｆとすれば、被写体距離ｌは ｌ＝ｓ・f/x ………（１） で与えられる。
PSD5で発生する光電流I1,I2は、共に入射光強度に比
例するが、光電流比I1/I2は入射光強度には依存せず、
入射光位置ｘのみで決定される。PSD5の全長をｔとすれ
ば となる。上式に（１）式を代入すれば となるから、PSD5の光電流I1/I2が求まれば、被写体距
離ｌが一義的に決定されることになる。
例するが、光電流比I1/I2は入射光強度には依存せず、
入射光位置ｘのみで決定される。PSD5の全長をｔとすれ
ば となる。上式に（１）式を代入すれば となるから、PSD5の光電流I1/I2が求まれば、被写体距
離ｌが一義的に決定されることになる。
第２図は、上記AF用IC6のブロック回路図である。第
２図にて、PSD5からの光電流I1,I2は、それぞれ低入力
インピーダンスの電流−電圧変換回路12,13で電圧信号V
1およびV2、即ちPSD5への入射光の光量重心位置に応じ
た電圧に変換されたのち、チャンネル切換スイッチ14,1
5にそれぞれ供給される。このチャンネル切換スイッチ1
4,15は、それぞれアナログスイッチ等で構成され、スイ
ッチ14は直接に、スイッチ15はインバータ27を介して後
記するチャンネル切換回路20からのチャンネル切換信号
ｄで制御されるようになっており、該チャンネル切換信
号ｄの論理レベルに応じて時分割的に上記電圧信号V1,V
2の何れかをバンドパスフィルタ（以下、Ｂ・Ｐ・Ｆと
略記する）16に供給する。このＢ・Ｐ・F16は、ある周
波数成分のみを選択的に通過させるようになっており、
この周波数は発振器25の発振周波数、即ち、ドライバ26
を介し前記IRED1を連続パルス発光させる駆動パルス信
号ａの周波数と同じになるように選んである。従ってＢ
・Ｐ・F16は、PSD5の光電流から背景光を除去し被写体
３からの反射光のみを光電変換した信号成分が選択的に
増幅通過されることになる。積分スイッチ17はアナログ
スイッチ等から構成され、Ｂ・Ｐ・F16のフィルタ出力
ｂを積分タイミングパルス回路30からの信号に同期して
積分器18に供給する。積分器18の積分出力VIは、コンパ
レータ19の反転入力端子に供給される。このコンパレー
タ19の非反転入力端子には、電源電圧VDDを抵抗R1〜R3
とトランジスタ28とからなる基準電圧設定回路で設定し
た第１の基準電圧Vrefが印加されている。コンパレータ
19の比較出力ｃは、Ｄ型フリップフロップ等で構成され
るチャンネル切換回路20に供給され、同回路20から出力
されるチャンネル切換信号ｄによって、上記チャンネル
切換スイッチ14,15が制御される。また、この切換信号
ｄは正積分回数カウンタ22の入力パルスを制御するアン
ドゲート21および積分タイミングパルス回路30にもそれ
ぞれ供給される。上記正積分回数カウンタ22は、シフト
レジスタを兼用していて、チャンネル切換回路20からの
チャンネル切換信号ｄが“H"レベルとなってゲート21が
開き、チャンネル切換スイッチ14がオンしているときの
正積分時の同期積分回数をカウントするもので、AF動作
終了後、内蔵シフトレジスタより第１図に示すCPU7にAF
データを転送する。また、プリセットカウンタ等で構成
される全積分回数カウンタ23は、同期積分の全回数、即
ち、積分タイミングパルス回路30からのタイミングパル
スｅをカウントし、設定回数に達するとAF処理を終了す
る終了回路24に、終了信号を供給する。なお、モード選
択端子29は、この端子に第１図に示すCPU7から“H"レベ
ルの信号が印加されたときAFモードに、“L"レベルの信
号が印加されたとき反射光強度測定モードに切換えるモ
ード切換端子である。
２図にて、PSD5からの光電流I1,I2は、それぞれ低入力
インピーダンスの電流−電圧変換回路12,13で電圧信号V
1およびV2、即ちPSD5への入射光の光量重心位置に応じ
た電圧に変換されたのち、チャンネル切換スイッチ14,1
5にそれぞれ供給される。このチャンネル切換スイッチ1
4,15は、それぞれアナログスイッチ等で構成され、スイ
ッチ14は直接に、スイッチ15はインバータ27を介して後
記するチャンネル切換回路20からのチャンネル切換信号
ｄで制御されるようになっており、該チャンネル切換信
号ｄの論理レベルに応じて時分割的に上記電圧信号V1,V
2の何れかをバンドパスフィルタ（以下、Ｂ・Ｐ・Ｆと
略記する）16に供給する。このＢ・Ｐ・F16は、ある周
波数成分のみを選択的に通過させるようになっており、
この周波数は発振器25の発振周波数、即ち、ドライバ26
を介し前記IRED1を連続パルス発光させる駆動パルス信
号ａの周波数と同じになるように選んである。従ってＢ
・Ｐ・F16は、PSD5の光電流から背景光を除去し被写体
３からの反射光のみを光電変換した信号成分が選択的に
増幅通過されることになる。積分スイッチ17はアナログ
スイッチ等から構成され、Ｂ・Ｐ・F16のフィルタ出力
ｂを積分タイミングパルス回路30からの信号に同期して
積分器18に供給する。積分器18の積分出力VIは、コンパ
レータ19の反転入力端子に供給される。このコンパレー
タ19の非反転入力端子には、電源電圧VDDを抵抗R1〜R3
とトランジスタ28とからなる基準電圧設定回路で設定し
た第１の基準電圧Vrefが印加されている。コンパレータ
19の比較出力ｃは、Ｄ型フリップフロップ等で構成され
るチャンネル切換回路20に供給され、同回路20から出力
されるチャンネル切換信号ｄによって、上記チャンネル
切換スイッチ14,15が制御される。また、この切換信号
ｄは正積分回数カウンタ22の入力パルスを制御するアン
ドゲート21および積分タイミングパルス回路30にもそれ
ぞれ供給される。上記正積分回数カウンタ22は、シフト
レジスタを兼用していて、チャンネル切換回路20からの
チャンネル切換信号ｄが“H"レベルとなってゲート21が
開き、チャンネル切換スイッチ14がオンしているときの
正積分時の同期積分回数をカウントするもので、AF動作
終了後、内蔵シフトレジスタより第１図に示すCPU7にAF
データを転送する。また、プリセットカウンタ等で構成
される全積分回数カウンタ23は、同期積分の全回数、即
ち、積分タイミングパルス回路30からのタイミングパル
スｅをカウントし、設定回数に達するとAF処理を終了す
る終了回路24に、終了信号を供給する。なお、モード選
択端子29は、この端子に第１図に示すCPU7から“H"レベ
ルの信号が印加されたときAFモードに、“L"レベルの信
号が印加されたとき反射光強度測定モードに切換えるモ
ード切換端子である。
このように構成された本実施例の動作を第３図〜第５
図のタイミングチャートを用いて説明する。
図のタイミングチャートを用いて説明する。
第３図は、測距モードにおけるタイミングチャート
で、AF動作はAF用IC6がCPU7よりAF開始信号および基本
クロック信号を受けることにより開始される。このとき
モード選択端子29は、CPU7から“H"レベルの信号を受
け、トランジスタ28はオンされ、抵抗R3が短絡されるの
で、第１の基準電圧Vrefは｛R2/（R1＋R2）｝VDDに設定
される。IRED1は、例えば16KHzでデューティ比50％のパ
ルス信号ａで駆動されパルス発光を開始し、被写体光を
受光したPSD5からの光電流I1,I2の供給された電流−電
圧変換回路12,13の出力電圧V1,V2は第３図に示すような
波形となる。この２つの電圧波形V1,V2のピーク値の比
は、前述のI1/I2に等しい。また、AF開始信号を受ける
と、チャンネル切換回路20,正積分回数カウンタ22およ
び全積分回数カウンタ23はリセットされる。従って、チ
ャンネル切換回路20からのチャンネル切換信号ｄは“L"
レベルなので、チャンネル切換スイッチ14がオフとな
り、スイッチ15がオンとなるから、光電流I2に比例した
電圧V2がＢ・Ｐ・F16に印加される。そこで、まず積分
タイミングパルス回路30よりタイミングパルスｅを、第
３図に示すように駆動パルス信号ａの“H"レベルのほぼ
中央で“H"レベルとなるタイミングで送出すると、積分
スイッチ17がオンし、このとき、Ｂ・Ｐ・F16の出力は
スイッチ15がオンしているので光電流I2に比例した電圧
を出力しており、積分器18の積分出力VIは、Ｂ・Ｐ・F1
6のフィルタ出力信号ｂの正のピークb1で積分が行なわ
れるため、負方向に積分、即ち逆積分したVI-1のように
変化し、この積分動作は第１の基準電圧Vrefより低下す
るまで繰り返される。積分出力VIが基準電圧Vrefより低
下すると、コンパレータ19の比較出力ｃが“L"→“H"と
なり、チャンネル切換回路20からのチャンネル切換信号
ｄは、タイミングパルスｅの立下がりe1に同期して“L"
→“H"となるので、今度はチャンネル切換スイッチ14が
オンし、スイッチ15がオフとなる。すると、Ｂ・Ｐ・F1
6には光電流I2にかわって光電流I1による電圧信号が入
力されるが、このとき、積分タイミングパルス回路30
は、タイミングパルスｅとして、チャンネル切換スイッ
チ15のオンのときに比べ、IRED駆動パルス信号ａの周波
数の半周期遅らせたタイミングパルスe2を出力する。従
って、Ｂ・Ｐ・F16から出力されるフィルタ出力信号ｂ
の負のピークb2で積分が行なわれるため、今度は、正方
向に積分、即ち、正積分が行なわれる。このように、積
分出力VIが第１の基準電圧Vrefを超えるごとに、第１の
基準電圧Vrefに近づく方向で光電流I1,I2に比例した信
号が互いに逆方向に積分される。
で、AF動作はAF用IC6がCPU7よりAF開始信号および基本
クロック信号を受けることにより開始される。このとき
モード選択端子29は、CPU7から“H"レベルの信号を受
け、トランジスタ28はオンされ、抵抗R3が短絡されるの
で、第１の基準電圧Vrefは｛R2/（R1＋R2）｝VDDに設定
される。IRED1は、例えば16KHzでデューティ比50％のパ
ルス信号ａで駆動されパルス発光を開始し、被写体光を
受光したPSD5からの光電流I1,I2の供給された電流−電
圧変換回路12,13の出力電圧V1,V2は第３図に示すような
波形となる。この２つの電圧波形V1,V2のピーク値の比
は、前述のI1/I2に等しい。また、AF開始信号を受ける
と、チャンネル切換回路20,正積分回数カウンタ22およ
び全積分回数カウンタ23はリセットされる。従って、チ
ャンネル切換回路20からのチャンネル切換信号ｄは“L"
レベルなので、チャンネル切換スイッチ14がオフとな
り、スイッチ15がオンとなるから、光電流I2に比例した
電圧V2がＢ・Ｐ・F16に印加される。そこで、まず積分
タイミングパルス回路30よりタイミングパルスｅを、第
３図に示すように駆動パルス信号ａの“H"レベルのほぼ
中央で“H"レベルとなるタイミングで送出すると、積分
スイッチ17がオンし、このとき、Ｂ・Ｐ・F16の出力は
スイッチ15がオンしているので光電流I2に比例した電圧
を出力しており、積分器18の積分出力VIは、Ｂ・Ｐ・F1
6のフィルタ出力信号ｂの正のピークb1で積分が行なわ
れるため、負方向に積分、即ち逆積分したVI-1のように
変化し、この積分動作は第１の基準電圧Vrefより低下す
るまで繰り返される。積分出力VIが基準電圧Vrefより低
下すると、コンパレータ19の比較出力ｃが“L"→“H"と
なり、チャンネル切換回路20からのチャンネル切換信号
ｄは、タイミングパルスｅの立下がりe1に同期して“L"
→“H"となるので、今度はチャンネル切換スイッチ14が
オンし、スイッチ15がオフとなる。すると、Ｂ・Ｐ・F1
6には光電流I2にかわって光電流I1による電圧信号が入
力されるが、このとき、積分タイミングパルス回路30
は、タイミングパルスｅとして、チャンネル切換スイッ
チ15のオンのときに比べ、IRED駆動パルス信号ａの周波
数の半周期遅らせたタイミングパルスe2を出力する。従
って、Ｂ・Ｐ・F16から出力されるフィルタ出力信号ｂ
の負のピークb2で積分が行なわれるため、今度は、正方
向に積分、即ち、正積分が行なわれる。このように、積
分出力VIが第１の基準電圧Vrefを超えるごとに、第１の
基準電圧Vrefに近づく方向で光電流I1,I2に比例した信
号が互いに逆方向に積分される。
今、全積分回数をN0とすると、正積分回数NS,逆積分
回数NGとの関係は N0＝NS＋NG ………（３） となる。また正積分回数NSと全積分回数N0との関係は NS＝｛I2/（I1＋I2）｝N0 ……（４） となる。（４）式に（２）式を代入すると NS＝（1/2−ｓ・f/ｌ・ｔ）N0 ………（５） となる。従って、全積分回数カウンタ23においてカウン
トされる全積分回数N0は、終了回路24により常に一定に
保たれるから正積分回数カウンタ22においてカウントさ
れる正積分回数NSより被写体距離ｌが求められる。
回数NGとの関係は N0＝NS＋NG ………（３） となる。また正積分回数NSと全積分回数N0との関係は NS＝｛I2/（I1＋I2）｝N0 ……（４） となる。（４）式に（２）式を代入すると NS＝（1/2−ｓ・f/ｌ・ｔ）N0 ………（５） となる。従って、全積分回数カウンタ23においてカウン
トされる全積分回数N0は、終了回路24により常に一定に
保たれるから正積分回数カウンタ22においてカウントさ
れる正積分回数NSより被写体距離ｌが求められる。
このようにして測距動作が終了すると、本発明では次
に、反射光強度の測定が上記AF用IC6を用いて行なわれ
る。即ち、被写体からの反射光強度を求めるについて第
４図と第５図のタイミングチャートを用いて説明する
と、この反射光強度モードでは、上記測距処理のあと、
CPU7の命令によりAF用IC6が作動する。このとき正積分
回数カウンタ22と全積分回数カウンタ23とはリセットさ
れる。反射光強度測定モードでは、モード選択端子29
は、CPU7により“L"レベルとなるので、トランジスタ28
はオフし、第１の基準電圧Vrefは第２の基準電圧Vref′
＝｛（R2＋R3）／（R1＋R2＋R3）｝VDD に変化する。また、モード選択端子29を“L"レベルにす
ることにより積分タイミングパルス回路30は、正方向へ
の積分のみが行なわれ、負方向への積分は行なわれない
ようにタイミングパルスｅを出す。またVref＜Vref′と
なるのでコンパレータ19の比較出力信号ｃは“H"レベル
となって、積分出力VIは、第１の基準電圧Vref付近か
ら、第２の基準電圧Vref′に向かって、光電流I1をもと
に正方向に積分する出力となる。つまり、同一の距離で
あれば、第５図に示すように、被写体の反射率が高いも
のほど（イ）のように積分電圧V1は早く第２の基準電圧
Vref′に達し、反射率の低いものほど（ロ）のようにな
かなか第２の基準電圧Vref′に達しない。このように反
射率の高低は、積分電圧VIが第２の基準電圧Vref′に達
するまでの積分回路によってディジタル的に表現される
ことになる。そして、積分電圧VIが、第２の基準電圧Vr
ef′を超えるとコンパレータ19は反転するのでチャンネ
ル切換回路20からのチャンネル切換信号ｄも反転するた
め、正積分回路カウンタ22には、積分電圧V1が第２の基
準電圧Vref′に達するまでの積分回数のみがカウントさ
れる。
に、反射光強度の測定が上記AF用IC6を用いて行なわれ
る。即ち、被写体からの反射光強度を求めるについて第
４図と第５図のタイミングチャートを用いて説明する
と、この反射光強度モードでは、上記測距処理のあと、
CPU7の命令によりAF用IC6が作動する。このとき正積分
回数カウンタ22と全積分回数カウンタ23とはリセットさ
れる。反射光強度測定モードでは、モード選択端子29
は、CPU7により“L"レベルとなるので、トランジスタ28
はオフし、第１の基準電圧Vrefは第２の基準電圧Vref′
＝｛（R2＋R3）／（R1＋R2＋R3）｝VDD に変化する。また、モード選択端子29を“L"レベルにす
ることにより積分タイミングパルス回路30は、正方向へ
の積分のみが行なわれ、負方向への積分は行なわれない
ようにタイミングパルスｅを出す。またVref＜Vref′と
なるのでコンパレータ19の比較出力信号ｃは“H"レベル
となって、積分出力VIは、第１の基準電圧Vref付近か
ら、第２の基準電圧Vref′に向かって、光電流I1をもと
に正方向に積分する出力となる。つまり、同一の距離で
あれば、第５図に示すように、被写体の反射率が高いも
のほど（イ）のように積分電圧V1は早く第２の基準電圧
Vref′に達し、反射率の低いものほど（ロ）のようにな
かなか第２の基準電圧Vref′に達しない。このように反
射率の高低は、積分電圧VIが第２の基準電圧Vref′に達
するまでの積分回路によってディジタル的に表現される
ことになる。そして、積分電圧VIが、第２の基準電圧Vr
ef′を超えるとコンパレータ19は反転するのでチャンネ
ル切換回路20からのチャンネル切換信号ｄも反転するた
め、正積分回路カウンタ22には、積分電圧V1が第２の基
準電圧Vref′に達するまでの積分回数のみがカウントさ
れる。
このようにAF用IC6を以上のように使用することによ
り、１ケのAF用IC6を用いて、測距と反射光強度測定と
を行なうことができる。即ち、CPU7の命令によりモード
切換端子29を切換えて、端子29の論理レベルが“H"レベ
ルのとき測距モードとして作動させて距離データを、端
子29の論理レベルが“L"レベルのとき反射光強度測定モ
ードとして作動させて反射光強度データを得ることがで
きる。そのデータはシフトレジスタを兼用する正積分回
数カウンタ22でカウントし、ディジタルデータとして記
憶する。そして、CPU7から読み出しクロックパルスをAF
用IC6の正積分回数カウンタ22のシフトレジスタに送出
することにより、測距モードで測定した測距データと反
射光強度測定モードで測定した反射光強度データとを時
分割で読み出し、CPU7のメモリ領域内にとりこむ。
り、１ケのAF用IC6を用いて、測距と反射光強度測定と
を行なうことができる。即ち、CPU7の命令によりモード
切換端子29を切換えて、端子29の論理レベルが“H"レベ
ルのとき測距モードとして作動させて距離データを、端
子29の論理レベルが“L"レベルのとき反射光強度測定モ
ードとして作動させて反射光強度データを得ることがで
きる。そのデータはシフトレジスタを兼用する正積分回
数カウンタ22でカウントし、ディジタルデータとして記
憶する。そして、CPU7から読み出しクロックパルスをAF
用IC6の正積分回数カウンタ22のシフトレジスタに送出
することにより、測距モードで測定した測距データと反
射光強度測定モードで測定した反射光強度データとを時
分割で読み出し、CPU7のメモリ領域内にとりこむ。
一方、CPU7のメモリ領域内の別の格納場所には、平均
反射率が18％の被写体を測定した場合の、被写体距離に
対応した平均反射光強度データの表を、予じめ格納され
ていて、上記測距データおよび上記反射光強度測定デー
タから、CPU7は、当該被写体の反射率が平均反射率18％
より高いか低いか、また高い場合、低い場合にはそのズ
レがどの程度かを直ちに判定する。
反射率が18％の被写体を測定した場合の、被写体距離に
対応した平均反射光強度データの表を、予じめ格納され
ていて、上記測距データおよび上記反射光強度測定デー
タから、CPU7は、当該被写体の反射率が平均反射率18％
より高いか低いか、また高い場合、低い場合にはそのズ
レがどの程度かを直ちに判定する。
即ち、ある被写体の反射光強度データが、平均反射光
強度データの例えば、２倍以上の場合、その被写体は白
いと判断できるので、このとき、CPU7から前記EE用IC9
にハイライトコントロールの命令が送出され、EE用IC9
は、自動露出カメラの露出を２段オーバーに補正する。
また、ある被写体の反射光強度データが、平均反射光強
度データの例えば、1/3以下の場合、その被写体は黒い
と判断できるので、CPU7からEE用IC9にシャドウコント
ロールの命令が送出され、EE用IC9は、自動露出カメラ
の露出を２・2/3段アンダーに補正する。
強度データの例えば、２倍以上の場合、その被写体は白
いと判断できるので、このとき、CPU7から前記EE用IC9
にハイライトコントロールの命令が送出され、EE用IC9
は、自動露出カメラの露出を２段オーバーに補正する。
また、ある被写体の反射光強度データが、平均反射光強
度データの例えば、1/3以下の場合、その被写体は黒い
と判断できるので、CPU7からEE用IC9にシャドウコント
ロールの命令が送出され、EE用IC9は、自動露出カメラ
の露出を２・2/3段アンダーに補正する。
なお、上記測距および反射光強度検出は、自動露出カ
メラのレリーズボタンの押下動作に連動して連続して行
なわれるものである。
メラのレリーズボタンの押下動作に連動して連続して行
なわれるものである。
また、自動ストロボの場合も、TTLダイレクト調光の
ストロボであれば、反射光強度を測定することにより、
同様の効果を得ることができる。
ストロボであれば、反射光強度を測定することにより、
同様の効果を得ることができる。
［発明の効果］ 以上述べたように本発明によれば撮影者は、レリーズ
ボタンを押すだけで、黒い被写体は黒く、白い被写体は
白く写った写真を撮ることができる。従って、白色の被
写体を撮影しても、黒色の被写体を撮影しても灰色に写
るといわれている従来の自動露出カメラの欠点を除去
し、適正露出の美しい写真を撮影することができる。し
かも、撮影者は単にレリーズボタンを押すだけで事た
り、、また、自動露出カメラの内部機構も反射光強度検
出は測距手段を兼用しているから何等の追加回路をも必
要としない等の顕著な効果を有する。
ボタンを押すだけで、黒い被写体は黒く、白い被写体は
白く写った写真を撮ることができる。従って、白色の被
写体を撮影しても、黒色の被写体を撮影しても灰色に写
るといわれている従来の自動露出カメラの欠点を除去
し、適正露出の美しい写真を撮影することができる。し
かも、撮影者は単にレリーズボタンを押すだけで事た
り、、また、自動露出カメラの内部機構も反射光強度検
出は測距手段を兼用しているから何等の追加回路をも必
要としない等の顕著な効果を有する。
第１図は、本発明の一実施例を示す自動露出カメラの要
部のブロック構成図、 第２図は、上記第１図中のAF用ICの構成を示すブロック
回路図、 第３図は、測距モード時の動作を示すタイミングチャー
ト、 第４図と第５図は、反射光強度測定モード時のタイミン
グチャートである。 １……IRED（測距手段，反射光強度検出手段） ２……投光レンズ（測距手段，反射光強度検出手段） ３……被写体 ４……受光レンズ（測距手段，反射光強度検出手段） ５……PSD（測距手段，反射光強度検出手段） ６……AF用IC（測距手段，反射光強度検出手段） ７……CPU（測距手段，反射光強度検出手段，反射率検
出手段，補正手段） ８……露出制御用受光素子（露出制御回路） ９……EE用IC（露出制御回路）
部のブロック構成図、 第２図は、上記第１図中のAF用ICの構成を示すブロック
回路図、 第３図は、測距モード時の動作を示すタイミングチャー
ト、 第４図と第５図は、反射光強度測定モード時のタイミン
グチャートである。 １……IRED（測距手段，反射光強度検出手段） ２……投光レンズ（測距手段，反射光強度検出手段） ３……被写体 ４……受光レンズ（測距手段，反射光強度検出手段） ５……PSD（測距手段，反射光強度検出手段） ６……AF用IC（測距手段，反射光強度検出手段） ７……CPU（測距手段，反射光強度検出手段，反射率検
出手段，補正手段） ８……露出制御用受光素子（露出制御回路） ９……EE用IC（露出制御回路）
Claims (3)
- 【請求項１】被写体の明るさを測光してカメラの露出制
御を行う露出制御手段と、 上記被写体に向けて測距用光を投射する光投射手段と、 上記被写体からの上記測距用光に基づく反射光を受光し
て、上記被写体までの距離信号と上記被写体の反射光強
度信号とを出力する受光手段と、 を有するカメラにおいて、 特定の平均反射率の被写体における被写体距離と平均反
射光強度との関係を記憶する記憶手段と、 上記受光手段の出力結果から被写体距離と反射光強度を
求め、これらを上記記憶手段に予め記憶しておいた被写
体距離と平均反射光強度との関係と比較し、この比較結
果に基づいて上記露出制御手段に補正を与える補正手段
と、 を具備することを特徴とする自動露出カメラ。 - 【請求項２】上記補正手段は、上記被写体距離における
上記反射光強度が、上記平均反射光強度の略1/3以下、
または略２倍以上のときに、補正を行うことを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載の自動露出カメラ。 - 【請求項３】上記受光手段は、位置検出装置（PSD）か
らなることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の自
動露出カメラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62092753A JP2528116B2 (ja) | 1987-04-14 | 1987-04-14 | 自動露出カメラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62092753A JP2528116B2 (ja) | 1987-04-14 | 1987-04-14 | 自動露出カメラ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63256934A JPS63256934A (ja) | 1988-10-24 |
| JP2528116B2 true JP2528116B2 (ja) | 1996-08-28 |
Family
ID=14063177
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62092753A Expired - Fee Related JP2528116B2 (ja) | 1987-04-14 | 1987-04-14 | 自動露出カメラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2528116B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5740481A (en) * | 1991-01-08 | 1998-04-14 | Nikon Corporation | Exposure calculation device for camera |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62169134A (ja) * | 1986-01-21 | 1987-07-25 | Canon Inc | 状況自動判別装置 |
-
1987
- 1987-04-14 JP JP62092753A patent/JP2528116B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63256934A (ja) | 1988-10-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |