JP3244716B2 - X線ct装置 - Google Patents
X線ct装置Info
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/14—Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
- H01J35/153—Spot position control
Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
被検体の任意のスライス面の断層像を再構成するX線C
T装置に関する。
体3を支持する寝台部1と、X線管4と検出器5から成
るX線撮影機構を内蔵する架台部2とから構成されてい
る。寝台部1は被検体3を直接支持して水平方向Xに移
動可能な天板6、この天板6の高さ位置を垂直方向Zに
調整する高さ調整部7を備えている。また架台部2は天
板6によって水平方向Xに移動された被検体3を案内す
るドーム8を備え、このドーム8内に案内された被検体
3の撮影面(スライス面)Lの周囲を、前記撮影機構を
構成するX線管4と検出器5を一体的に回転させながら
X線曝射を行ってCT撮影が開始される。この場合天板
6を水平方向Xにずらすことにより、任意のスライス面
を選択してこの断層像を撮影することができる。すなわ
ち被検体3の周囲を撮影機構を回転して得られたX線投
影データを基に、コンピュータにより演算処理を施して
画像再構成を行って断層像を再構成している。
すように前記水平方向Xと直交する方向Yに沿って単位
検出器5Yが多数配置されて成る1次元検出器から構成
されている。またこのようなX線CT装置における撮影
時のX線管4の焦点は固定されているので、この焦点か
ら検出器5に向けて発生されるX線はファンビーム状と
なり、図7に示すようにX線ビーム幅は被検体3のX線
管4側(W1 とする)と検出器5側(W2 とする)とで
は異なった値となる(W1 <W2 )。
X,Yの2次元方向に沿って各々単位検出器5X,5Y
が多数配置されて成る2次元検出器から構成されたもの
を備えた、図8に示すようなボリューム(Volume)CT
装置が知られている。このボリュームCT装置によれば
前記CT装置に比べて2次元検出器を用いることによ
り、X方向のみならずY方向にもデータ収集が行えると
いう利点がある。このボリュームCT装置においてもX
線管4の焦点は固定されているので、前記と同じくX線
ビーム幅は被検体の上下側で異なった値となる。
T装置では、被検体の上下側でX線ビーム幅が異なるこ
とによってデータ収集が不完全となるので、正確なCT
画像が得られないという問題がある。
れたもので、被検体の上下側でX線ビーム幅がほぼ等し
くなるようにしたX線CT装置を提供することを目的と
するものである。
の請求項1記載の発明はX線発生源を回転させて被検体
の周囲にX線を曝射し、X線検出器によってX線投影デ
ータを収集し、任意のスライス面の断層像を再構成する
X線CT装置において、1枚の断層像を再構成するのに
必要なX線投影データを収集するための角度範囲を前記
X線発生源が回転する間に、前記X線発生源が前記角度
範囲より小さい所定回転角度回転する毎に前記X線発生
源のX線を発生する焦点位置を前記スライス幅方向に電
子的にシフト可能な焦点シフト手段を具えたことを特徴
とするものであり、また請求項2の発明は、前記X線検
出器を2次元検出器としたことを特徴とするものであ
る。
必要なX線投影データを収集するための角度範囲をX線
発生源が回転する間にX線発生源の焦点位置をスライス
幅方向に電子的にシフト可能な焦点シフト手段を備える
ようにしたので、被検体の上下側におけるX線ビーム幅
をほぼ等しくすることができ、完全なデータ収集が可能
となり正確なCT画像を得ることができる。また、X線
検出器を2次元検出器とすることによって広い範囲での
データを採集が行えると共に正確なCT画像を得ること
ができる。
る。
例を示す構成図で、11はX線管4の陽極、12はこの
陽極11の端部に設けられたタングステン板等から成る
ターゲット、13はX線管4の陰極となる筒状の集束電
極、14は集束電極13内に設けられたフィラメントで
ある。このフィラメント14は通電されるとRのような
経路で熱電子を発生して前記ターゲット12に衝突させ
ることによりX線が発生する。
た磁場発生手段で前記熱電子の経路Rをスライス方向に
変更させるためのものである。この経路Rを変更させる
ことによりターゲット12のスライス方向に沿う異なっ
た位置a,bに熱電子を衝突させて、これら位置a,b
をX線発生の焦点とすることができる。16は磁場コン
トローラで前記磁場発生手段15を制御して前記2つの
焦点位置a,bを切換えるためのものである。5は検出
器で1次元検出器から構成されている。3はX線管4と
検出器5との間に配置された被検体である。なお説明を
理解するため被検体3と他の要素との大小関係は実際の
比を反映していない。
ようにターゲット12の焦点位置aを選択するように磁
場コントローラ16によって磁場発生手段15を制御し
た状態で、X線曝射を開始する。これによって被検体3
を介して検出器5にはファンビームFB1 が入射されて
これに基いたX線投影データが収集される。次にX線管
4が一定角度回転したとき例えば90°回転したタイミ
ングで、図3のように磁場コントローラ16によって磁
場発生手段15を制御させてターゲット12の焦点位置
を今迄のaからbへと切換えることにより、X線曝射を
続行させる。これによって被検体3を介して検出器5に
は、ファンビームFB2 が入射されてこれに基いたX線
投影データが収集される。X線管4が1回転した時点で
1枚の断層像を再構成するに必要なX線投影データが得
られることになる。但し原理的にはX線管4によるX線
曝射の回転角度は180°+α(ファン角度)で良い。
所望のスライス面の1枚の断層像を撮影するにあたり、
X線曝射中X線管4の焦点位置はaからbへと切換えら
れることにより、被検体3にはファンビームFB1 とF
B2 とが合成されたX線ビーム幅でX線曝射が行われる
ことになる。この結果従来の固定焦点(例えばaとす
る)の場合に比べて、焦点bに基いてX線曝射が行われ
た分のX線ビーム幅が補われることになる。
側と検出器5側におけるX線ビーム幅をほぼ等しくする
ことができるようになる。これにより完全なデータ収集
が可能となり、正確なCT画像を得ることができる。
で、ターゲット12の焦点位置aに熱電子を衝突させる
第1のフィラメント17A及び焦点位置bに熱電子を衝
突させる第2のフィラメント17Bを各々設けた例を示
すものである。18は各フィラメント17A,17Bの
切換えを行う切換手段、19は切換手段18を制御する
切換コントローラである。
施例と同様に、X線曝射中切換コントローラ19によっ
て切換手段18を制御して所定タイミングで各フィラメ
ント17A,17Bを切換えることにより、同様な効果
を得ることができる。
で、ボリュームCT装置に適用した例を示すものであ
る。X線管4に対して焦点位置a,bを設定し、検出器
5としては2次元検出器を用いる。20は焦点切換手
段、21は切換コントローラである。この実施例の場合
切換コントローラ21によって焦点位置a,bを切換え
たときは、各位置a,bでそれぞれα/2の角度でファ
ンビームFB1 ,FB2 が形成されるように制御する。
これによって各ファンビームFB1 ,FB2 を合成すれ
ば従来の固定焦点でX線曝射が行われた場合と等しいフ
ァン角度αを得ることができる。
様な効果が得られる他に、特に2次元検出器を用いてい
ることにより、ボリュームCT装置の利点を生かして広
い範囲での断層像の再構成が可能となる。
の断層像を再構成するのに必要なX線投影データを収集
するための角度範囲をX線発生源が回転する間にX線発
生源の焦点位置をスライス幅方向に電子的にシフト可能
な焦点シフト手段を備えるようにしたので、被検体の上
下側におけるX線ビーム幅をほぼ等しくすることがで
き、完全なデータ収集が可能となって正確なCT画像を
得ることができる。また、2次元検出器を用いることに
よって広範囲のデータを採集できると共に、正確なCT
画像を得ることができる。
成図である。
ある。
ある。
す斜視図である。
的に示す斜視図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 X線発生源を回転させて被検体の周囲に
X線を曝射し、X線検出器によってX線投影データを収
集し、任意のスライス面の断層像を再構成するX線CT
装置において、1枚の断層像を再構成するのに必要なX
線投影データを収集するための角度範囲を前記X線発生
源が回転する間に、前記X線発生源が前記角度範囲より
小さい所定回転角度回転する毎に前記X線発生源のX線
を発生する焦点位置を前記スライス幅方向に電子的にシ
フト可能な焦点シフト手段を具えたことを特徴とするX
線CT装置。 - 【請求項2】 前記X線検出器を2次元検出器としたこ
とを特徴とする請求項1記載のX線CT装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP09175291A JP3244716B2 (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP09175291A JP3244716B2 (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | X線ct装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04303429A JPH04303429A (ja) | 1992-10-27 |
JP3244716B2 true JP3244716B2 (ja) | 2002-01-07 |
Family
ID=14035273
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP09175291A Expired - Lifetime JP3244716B2 (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | X線ct装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3244716B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008515513A (ja) * | 2004-10-06 | 2008-05-15 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | コンピュータ断層撮影方法 |
-
1991
- 1991-03-29 JP JP09175291A patent/JP3244716B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH04303429A (ja) | 1992-10-27 |
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