JPH0458944A - X線断層撮影装置 - Google Patents

X線断層撮影装置

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JPH0458944A
JPH0458944A JP2169382A JP16938290A JPH0458944A JP H0458944 A JPH0458944 A JP H0458944A JP 2169382 A JP2169382 A JP 2169382A JP 16938290 A JP16938290 A JP 16938290A JP H0458944 A JPH0458944 A JP H0458944A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明はX線断層撮影装置(以下「X線CT装置」とい
う。)に関する。
(従来の技術) 近年、X線CT装置で予断層像データを効率良く収集す
る螺旋状走査(以下「ヘリカルスキャン」という。)が
行われている。このヘリカルスキャンは、撮影面内で形
成される扇状X線を連続回転させつつ、天板に載置した
被検体(通常は患者)を撮影面に挿通させ、患者につい
てヘリカルスキャンデータを収集するもので、この収集
したデータを再構成して予断層像を得ていた。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、得られた断層像と患者の撮影位置との対
応付けができていないという問題があった。
また再構成を行った全ての断層像が診断に必要なもので
はなく、無駄に再構成を行でいたため診断効率が悪いと
いう問題があった。
更にヘリカルスキャンを行った領域全てが診断に必要な
ものではなく、無駄なデータを収集することがあり、こ
のため患者に不必要なX線を被曝させるという問題があ
った。
そこで本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり
、診断能向」二を図ったX線断層撮影装置を提供するこ
とを目的としている。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 上記目的を解決するための請求項1一記載の発明は、撮
影面に対する天板位置を検出する位置検出手段と、位置
検出手段が検出した天板位置情報に対応した螺旋状デー
タ及び透視像データを収集するように各収集手段を制御
する制御手段と、前記透視像データに基づく透視像上で
指定された位置情報に対応する断層像を前記螺旋状デー
タに基づいて再構成する再構成手段とを有することを特
徴とするものである。
また請求項2記載の発明は、撮影面に対する天板位置を
検出する位置検出手段と、位置検出手段が検出した天板
位置情報に対応した透視像データを収集するように透視
像データ収集手段を制御すると共に、収集された透視像
データに基づく透視像上で指定された領域について前記
位置検出手段が検出した天板位置情報に対応した螺旋状
データを収集するように前記螺旋状データ収集手段を制
御する制御手段と、前記螺旋状データに基づいて断層像
を再構成する再構成手段とを有することを特徴とするも
のである。
(作 用) 上記構成の装置の作用を特徴する 請求項1記載の装置においては、制御手段が各収集手段
を制御して各データを収集すると、天板位置情報に対応
した螺旋状データ及び透視像データが得られる。得られ
る透視像データに基づく透視像上で位置設定すると、再
構成手段は、この指定された位置に対応する前記被検体
の断層像を再構成する。被検体撮影位置に対応した断層
像が得られ、診断能向上が図れる。
請求項2記載の装置においては、収集された透視像デー
タに基づく透視像上で領域指定すると、螺旋状データ収
集手段は、制御手段の制御の下に、この指定された領域
の螺旋状データを収集し、再構成手段により断層像が再
構成される。必要な部位についてデータ収集が行われ、
診断能向上及び被検体の被曝線量低減が図れる。
(実施例) 以下に本発明の一実施例装置1を図面を参照して詳述す
る。
第1図は本装置1の概略構成図を示すものである。
本装置]−は、被検体Mを配置し得る撮影孔2゜撮影面
2a内で扇状X線4aを検出器3に向けて発生するX線
管4を備えた撮影架台10と、撮影孔2内で被検体Mを
載置した天板Tを移動する寝台部20と、X線管4の回
転を制御するX線管回転制御部5と、X線管4からのX
線照射を制御する高圧発生部6と、検出器3が検出した
プロジェクションデータを収集、再構成を行う処理系4
0と、断層像又は透視像等の表示を行う表示部7と、ヘ
リカルスキャンモード、透視モード等の撮影モードの選
択、断層像形成の位置設定等の操作を行う入力部8と、
この装置1各部を制御してヘリカルスキャンモード又は
透視モード等の撮影モードを実行するシステム制御部9
とを有している。
前記X線検出器3は、斜めに配置された円筒状の保持部
材の円周面に沿って単体検出器が複数個アレイ状に配列
されて構成されており、X線管4からの被検体透過X線
を常に検出器3の一部で受けるようになっている。
前記X線管回転制御部5は、システム制御部9の制御の
下に、ヘリカルスキャンモードにおいては、X線管4が
撮影孔2の周囲を同一方向に連続回転するように制御し
、透視モードにおいては、X線管4を所定の位置に停止
するように制御するものである。
前記寝台部20は、天板Tを移動する移動部21と、天
板Tの撮影面2aに対する位置を検出する位置検出部2
2とを有している。
前記処理系40は、ヘリカルスキャンモードの際に、ヘ
リカルスキャンデータを収集するヘリカルスキャンデー
タ収集部41と、透視像モードの際に、透視像データを
収集する透視像データ収集部42と、ヘリカルスキャン
データに基づいて断層画像を再構成する画像再構成部4
3とを有している。ヘリカルスキャンデータ収集部41
には、位置検出部22からの天板Tの位置情報に対応さ
せてヘリカル状のスキャンデータDhが収集、記憶され
る。画像再構成部43は、第2図に示すように、指定さ
れた断層面Fs近傍の2/3乃至1周期のプロジェクシ
ョンデータDsと、このデータDsの前後の各1周期前
後のプロジェクションデータDCを補正用データとして
、ヘリカルスキャンデータ収集部41より取り込み、再
構成処理を行って、指定された断層面Fsについての断
層像Gsを得るものである。
前記表示部7は、入力部8の選択操作により、透視像デ
ータ収集部42が収集したデータに基づく透視像又は、
画像再構成部43の再構成処理に基づく断層像を表示で
きるものである。
前記システム制御部9は、入力部8の撮影モード選択操
作に基づきヘリカルスキャンモード又は透視モードを実
行するものであり、ヘリカルスキャンモードにおいては
、X線管4が1回転する間に天板Tが所定長S連続的に
移動するようX線管回転制御部5.移動部21を制御す
るものである。
このように構成すれは、例えは静止した被検体Mに対し
扇状X線4aが回転しつつ体軸方向に並進運動したのと
等価となり、扇状X線4aが第2図にLxで示すように
、被検体Mの体軸Lcを中心に螺旋状に運動することに
なり、ヘリカルスキャンデータDhが検出器3より得ら
れ、ヘリカルスキャンデータ収集部41に収集、記憶さ
れる。透視モードにおいては、X線管4が被検体Mの真
上又は真横等の所定の位置に停止するようX線管回転制
御部5を制御し、天板Tが連続的に移動するよう移動部
21を制御するものである。
次に上記構成の装置1の作用を第2図及び第3図をも参
照して説明する。
第2図はヘリカルスキャンモード、透視モードを実行後
断層像を得る場合についての流れを示す図、第3図は透
視モード実行後、ヘリカルスキャンモードを実行する場
合についての流れを示す図である。
ヘリカルスキャンモード、透視モードを実行後断層像を
得る場合について第2図を参照して説明する。
操作者が入力部8を操作してヘリカルスキャンモードを
選択すると、システム制御部9は、入力部8からのヘリ
カルスキャンモード選択情報に基づき各部を制御してヘ
リカルスキャンを実行する。
撮影架台10.X線管回転制御部5.寝台部20はシス
テム制御部9の制御の下に、被検体Mについてヘリカル
スキャンデータの収集を行い、ヘリカルスキャンデータ
収集部4]、に天板Tの位置に対応したヘリカルスキャ
ンデータが収集、記憶される。
次に操作者が入力部8を操作して透視モードを選択する
と、システム制御部9は、入力部8からの透視モード選
択情報に基づき各部を制御して透視撮影を実行する。撮
影架台10.X線管回転制御部5.寝台部20は、シス
テム制御部9の制御の下に、被検体Mについて透視像デ
ータの収集を行い、透視像データ収集部42に天板Tの
位置に対応した透視像データが収集、記憶される。尚、
透視モード選択後、ヘリカルスキャンモードを選択して
もよい。
操作者が入力部8を操作し、透視像表示を要求すると、
第2図に示すように表示部7に透視像Gpが表示される
操作者は、表示部7に表示された透視像Gpに重畳表示
される断層像作成用ラインL sを移動させて設定する
と、画像再構成部43は、設定された断層像作成用ライ
ンLsに基づき、この位置に対応するデータDs、Dc
をヘリカルスキャンデータ収集部41より読み出して、
再構成処理を行い、表示部7に指定したラインLsに対
応する断層面Fsについての断層像Gsが表示される。
このように撮影した場合は、所望する被検体撮影位置に
対応する断層像を高精度で得ることができる。
次に透視モード実行後、ヘリカルスキャンモードを実行
する場合について第3図をも参照して説明する。
システム制御部9が、操作者の選択操作に基づいて透視
モードを実行すると、透視像データ収集部42には、上
述したように被検体Mについての透視像データが収集、
記憶され、第3図に示すように表示部7に透視像Gpが
表示される。
操作者は、表示部7に表示された透視像cpに重畳表示
される断層像作成用ラインLSI+  LS2を移動さ
せ、このラインLS□+  LS2に挟まれた領域を断
層像を得たい断層像形成範囲Eとして指定したとすると
、システム制御部9は、入力部8により指定された範囲
情報(E)に基づき、撮影架台10、X線管回転制御部
5.寝台部2oを制御し、その指定された範囲Eと、こ
の範囲Eの前後の補正データDc収集範囲Ecとの両範
囲E、Ecについてのへリカルスキャンデータ収集を実
行する。
ヘリカルスキャンデータ収集部41には、上記両範囲E
、Ecついての天板Tの位置に対応したヘリカルスキャ
ンデータが収集、記憶され、続いて画像再構成部43は
、指定された範囲E内で所定間隔毎の断層像G81乃至
Gsnを再構成し、表示部7に転送する。入力部8の操
作に基づき、被検体撮影位置に対応した各所層像G、1
乃至Gsnが表示部7に順次表示される。
このように撮影した場合に、必要な範囲についてヘリカ
ルスキャンが行われるので、被検体の被爆線量低減が図
れる。
尚、本発明は上記実施例に限定されずその要旨を変更し
ない範囲で種々変形実施できる。
例えば、スキャンはヘリカルスキャンモード。
透視モードを行えるものならば、X線管と検出器とを相
対位置を保ちながら連続回転する第3世代のスキャナと
してもよい。
[発明の効果] 以上詳述した請求項1記載の発明によれば、天板位置に
対応した螺旋状データ及び透視像データが得られるので
、被検体撮影位置に対応した断層像が得られ、診断能向
上を図ったX線断層撮影装置を提供することができる。
また請求項2記載の発明によれば、必要な螺旋状データ
のみ収集するようにしているので、診断能向上及び被曝
線量低減を図ったX線断層撮影装置を提供することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例装置の概略構成図、第2図及
び第3図はこの装置の作用を示す図である。 1・・・X線断層撮影装置、  2a・・・撮影面、4
a・・・扇状X線、  9・・・システム制御部、10
・・・撮影架台、   22・・・位置検出部、41・
・・ヘリカルスキャンデータ収集部、42・・・透視像
データ収集部、 43・・・画像再構成部、M・・・被検体、T・・・天
板。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)天板に載置された被検体を撮影面に挿通させなが
    らこの撮影面内で形成された扇状X線を連続回転させて
    前記被検体についての螺旋状データを収集する螺旋状デ
    ータ収集手段と、前記天板に載置された前記被検体を前
    記撮影面に挿通させながら前記撮影面内で形成された扇
    状X線を回転停止状態で前記被検体についての透視像デ
    ータを収集する透視像データ収集手段とを備えたX線断
    層撮影装置において、前記撮影面に対する前記天板位置
    を検出する位置検出手段と、前記位置検出手段が検出し
    た天板位置情報に対応した前記各データを収集するよう
    に前記各収集手段を制御する制御手段と、前記透視像デ
    ータに基づく透視像上で指定された位置情報に対応する
    断層像を前記螺旋状データに基づいて再構成する再構成
    手段とを有することを特徴とするX線断層撮影装置。
  2. (2)天板に載置された被検体を撮影面に挿通させなが
    らこの撮影面内で形成された扇状X線を連続回転させて
    前記被検体についての螺旋状データを収集する螺旋状デ
    ータ収集手段と、前記天板に載置された前記被検体を前
    記撮影面に挿通させながら前記撮影面内で形成された扇
    状X線を回転停止状態で前記被検体についての透視像デ
    ータを収集する透視像データ収集手段とを備えたX線断
    層撮影装置において、前記撮影面に対する前記天板位置
    を検出する位置検出手段と、前記位置検出手段が検出し
    た天板位置情報に対応した前記透視像データを収集する
    ように前記透視像データ収集手段を制御すると共に、収
    集された前記透視像データに基づく透視像上で指定され
    た領域について前記位置検出手段が検出した天板位置情
    報に対応した前記螺旋状データを収集するように前記螺
    旋状データ収集手段を制御する制御手段と、前記螺旋状
    データに基づいて断層像を再構成する再構成手段とを有
    することを特徴とするX線断層撮影装置。
JP2169382A 1990-06-27 1990-06-27 X線断層撮影装置 Expired - Lifetime JPH0787835B2 (ja)

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