JP3241283B2 - 自己調整方法 - Google Patents
自己調整方法Info
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- JP3241283B2 JP3241283B2 JP33114596A JP33114596A JP3241283B2 JP 3241283 B2 JP3241283 B2 JP 3241283B2 JP 33114596 A JP33114596 A JP 33114596A JP 33114596 A JP33114596 A JP 33114596A JP 3241283 B2 JP3241283 B2 JP 3241283B2
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- Japan
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- target
- adjustment
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- Feedback Control In General (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ミニデイスク（Ｍ
Ｄ）プレーヤ等において、記録媒体の記録領域にアクセ
スするためのサーボ機構の自己調整方法に関する。
Ｄ）プレーヤ等において、記録媒体の記録領域にアクセ
スするためのサーボ機構の自己調整方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の自己調整方法についてＭＤプレー
ヤを例に説明する。ＭＤプレーヤ等は、デイスク特性の
バラツキや機器の経年変化を補正するため、そのサーボ
機構は自己調整機能を有している。また、ＭＤにはレコ
ーダブル・デイスクと呼ばれるユーザーが記録可能なデ
イスクと、プリマスタード・デイスクと呼ばれる記録で
きないデイスクがある。図１（ａ）は、ユーザーが記録
できないプリマスタード・デイスクを示したもので、コ
ンパクト・デイスク（ＣＤ）とと同じようにピットと呼
ばれる機械的凹凸によって情報が記録されている。図１
（ｂ）はユーザーが録音可能なレコーダブル・デイスク
を示したもので、ＴＯＣと呼ばれる情報はデイスクの内
側にピットで記録されており、ユーザーが記録する音
声、タイトル、録音曲数等は外側の磁気記録可能領域に
記録されており、一枚のデイスクに二種類の記録方法が
混在している。このように一枚の記録媒体内に複数の記
録方法が混在する場合、記録領域により光の反射量等の
特性は異なっていることが多く、記録領域毎にサーボ機
構の調整を行う必要がある。また同じ記録方法による領
域でもデイスクによってその特性は異なっているため、
ディスク毎にサーボ機構の調整を行う必要がある。
ヤを例に説明する。ＭＤプレーヤ等は、デイスク特性の
バラツキや機器の経年変化を補正するため、そのサーボ
機構は自己調整機能を有している。また、ＭＤにはレコ
ーダブル・デイスクと呼ばれるユーザーが記録可能なデ
イスクと、プリマスタード・デイスクと呼ばれる記録で
きないデイスクがある。図１（ａ）は、ユーザーが記録
できないプリマスタード・デイスクを示したもので、コ
ンパクト・デイスク（ＣＤ）とと同じようにピットと呼
ばれる機械的凹凸によって情報が記録されている。図１
（ｂ）はユーザーが録音可能なレコーダブル・デイスク
を示したもので、ＴＯＣと呼ばれる情報はデイスクの内
側にピットで記録されており、ユーザーが記録する音
声、タイトル、録音曲数等は外側の磁気記録可能領域に
記録されており、一枚のデイスクに二種類の記録方法が
混在している。このように一枚の記録媒体内に複数の記
録方法が混在する場合、記録領域により光の反射量等の
特性は異なっていることが多く、記録領域毎にサーボ機
構の調整を行う必要がある。また同じ記録方法による領
域でもデイスクによってその特性は異なっているため、
ディスク毎にサーボ機構の調整を行う必要がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】図２に示されているよ
うに、ＭＤプレーヤでは記録媒体であるＭＤの面に光レ
ンズを通してレーザ光を当て、その反射光を読み取って
記録を再生しており、光レンズと記録媒体の面との間隔
ｄは常に一定に保つようにされている。例えば、デイス
クが回転するときブレたり、あるいは外から振動が加わ
り光レンズ自体が揺れた場合、光レンズと媒体の表面の
間隔ｄを一定に保つためサーボ機構が動作する。その場
合サーボ機構のゲインが低いと、焦点誤差が大きくなっ
てしまい焦点がずれてデータが読めなくなってしまう。
一方、サーボ機構のゲインが大きいと焦点誤差は小さい
が、媒体の表面に傷やゴミが付いてた場合反射光量が急
に少なくなり、実際は焦点はずれていないのに焦点がず
れたとして光レンズを動かして誤動作をしてしまう。そ
のため、ＭＤプレーヤ等において適切なサーボ機構のゲ
インを設定することが必要である。
うに、ＭＤプレーヤでは記録媒体であるＭＤの面に光レ
ンズを通してレーザ光を当て、その反射光を読み取って
記録を再生しており、光レンズと記録媒体の面との間隔
ｄは常に一定に保つようにされている。例えば、デイス
クが回転するときブレたり、あるいは外から振動が加わ
り光レンズ自体が揺れた場合、光レンズと媒体の表面の
間隔ｄを一定に保つためサーボ機構が動作する。その場
合サーボ機構のゲインが低いと、焦点誤差が大きくなっ
てしまい焦点がずれてデータが読めなくなってしまう。
一方、サーボ機構のゲインが大きいと焦点誤差は小さい
が、媒体の表面に傷やゴミが付いてた場合反射光量が急
に少なくなり、実際は焦点はずれていないのに焦点がず
れたとして光レンズを動かして誤動作をしてしまう。そ
のため、ＭＤプレーヤ等において適切なサーボ機構のゲ
インを設定することが必要である。
【０００４】従来のＭＤプレーヤのサーボ機構において
は、サーボのゲインを予め適切な値に調整してから出荷
していた。しかし、デイスクが変わると反射光量が変わ
り、これによりサーボ機構のゲインが変わってしまう。
従って本発明の目的は、出荷時にサーボ機構のゲインを
調整するのではなく、プレーヤを動作させる際にデイス
ク毎にゲインを適切な値に調整できる自己調整方法を提
供することである。また，異なった記録方法がデイスク
に混在する場合でも、ゲインを適正に調整できる自己調
整方法を提供することである。
は、サーボのゲインを予め適切な値に調整してから出荷
していた。しかし、デイスクが変わると反射光量が変わ
り、これによりサーボ機構のゲインが変わってしまう。
従って本発明の目的は、出荷時にサーボ機構のゲインを
調整するのではなく、プレーヤを動作させる際にデイス
ク毎にゲインを適切な値に調整できる自己調整方法を提
供することである。また，異なった記録方法がデイスク
に混在する場合でも、ゲインを適正に調整できる自己調
整方法を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明によれば、駆動時にディスク毎にゲインを測定
し、該測定値をゲインの目標範囲または目標値と比較
し、比較結果に基づきゲインを決める調整値を設定す
る、ディスク状媒体を用いて記録及び／又は再生する装
置のサーボ機構のゲインを自己調整する方法を提供する
ものである。本発明によれば、前記測定値が前記目標範
囲または目標値にならない場合、所定の回数ゲインの測
定及び調整値の設定を繰り返してこれら測定値及び設定
値を記憶し、前記所定の回数の測定値の内前記目標範囲
または目標値に最も近い測定値を与え、かつゲインが該
目標範囲または目標値より低い調整値を当該ディスクの
調整値として設定するものである。 また本発明では、前
記測定値が前記目標範囲または目標値にならない場合、
所定の回数ゲインの測定及び調整値の設定を繰り返し、
前記目標範囲または目標値に最も近くかつ該目標範囲ま
たは目標値より低い測定値及び設定値を仮の最適地とし
て記憶し、所定回数終了後前記仮の最適値として記憶さ
れている調整値を当該ディスクの調整値として設定する
ものである。 そして、駆動時にディスクの異なった記録
方法による記録領域毎にゲインを測定し、また、前記測
定値が前記目標範囲または目標値になった場合、当該測
定値を与えた調整値を当該ディスクの設定値として設定
する。
め本発明によれば、駆動時にディスク毎にゲインを測定
し、該測定値をゲインの目標範囲または目標値と比較
し、比較結果に基づきゲインを決める調整値を設定す
る、ディスク状媒体を用いて記録及び／又は再生する装
置のサーボ機構のゲインを自己調整する方法を提供する
ものである。本発明によれば、前記測定値が前記目標範
囲または目標値にならない場合、所定の回数ゲインの測
定及び調整値の設定を繰り返してこれら測定値及び設定
値を記憶し、前記所定の回数の測定値の内前記目標範囲
または目標値に最も近い測定値を与え、かつゲインが該
目標範囲または目標値より低い調整値を当該ディスクの
調整値として設定するものである。 また本発明では、前
記測定値が前記目標範囲または目標値にならない場合、
所定の回数ゲインの測定及び調整値の設定を繰り返し、
前記目標範囲または目標値に最も近くかつ該目標範囲ま
たは目標値より低い測定値及び設定値を仮の最適地とし
て記憶し、所定回数終了後前記仮の最適値として記憶さ
れている調整値を当該ディスクの調整値として設定する
ものである。 そして、駆動時にディスクの異なった記録
方法による記録領域毎にゲインを測定し、また、前記測
定値が前記目標範囲または目標値になった場合、当該測
定値を与えた調整値を当該ディスクの設定値として設定
する。
【０００６】
【０００７】
【０００８】
【発明の実施の形態】図３は、ＭＤプレーヤ等において
レンズと記録媒体の面との間隔が焦点距離からずれた場
合のエラー信号の波形を示したものである。サーボのゲ
インが大きい場合は波形の振幅は高くなり、その傾斜が
急になってわずかに焦点がずれても大きなエラー電圧が
発生する。一方、サーボのゲインが小さい場合は波形の
振幅は低くなり、その傾斜が緩やかになって焦点がずれ
ても大きなエラー電圧は発生しない。
レンズと記録媒体の面との間隔が焦点距離からずれた場
合のエラー信号の波形を示したものである。サーボのゲ
インが大きい場合は波形の振幅は高くなり、その傾斜が
急になってわずかに焦点がずれても大きなエラー電圧が
発生する。一方、サーボのゲインが小さい場合は波形の
振幅は低くなり、その傾斜が緩やかになって焦点がずれ
ても大きなエラー電圧は発生しない。
【０００９】図４は、サーボ機構のゲインをデイスク毎
に適切な値に設定するための回路構成の概要を示したも
のである。図４において、１は光レンズ、２１と２２は
光レンズ１からの反射光を受ける受光素子であり、光レ
ンズ１からの距離が同じ位置に配置されている。３１と
３２は電圧制御増幅器（ＶＣＡ）、４は誤差検出回路、
５は位相補償器、６はドライバ、７はフォーカス用ボイ
スコイル、８はマイコン等の制御装置である。ＶＣＡ３
１はＯＰアンプＯＰ１、抵抗Ｒ11とＲ12、及びスイッチ
ＳＷ1 で構成され、ＯＰ１の受光素子からの出力が入力
する入力端子と出力端子が抵抗Ｒ11とＲ12で接続され、
抵抗Ｒ11とＲ12の接続点はＳＷ１を介して接地されてい
る。ＶＣＡ３２はＯＰアンプＯＰ２、抵抗Ｒ21とＲ22、
及びスイッチＳＷ2 で構成され、ＶＣＡ３１と同じ接続
構成となっている。
に適切な値に設定するための回路構成の概要を示したも
のである。図４において、１は光レンズ、２１と２２は
光レンズ１からの反射光を受ける受光素子であり、光レ
ンズ１からの距離が同じ位置に配置されている。３１と
３２は電圧制御増幅器（ＶＣＡ）、４は誤差検出回路、
５は位相補償器、６はドライバ、７はフォーカス用ボイ
スコイル、８はマイコン等の制御装置である。ＶＣＡ３
１はＯＰアンプＯＰ１、抵抗Ｒ11とＲ12、及びスイッチ
ＳＷ1 で構成され、ＯＰ１の受光素子からの出力が入力
する入力端子と出力端子が抵抗Ｒ11とＲ12で接続され、
抵抗Ｒ11とＲ12の接続点はＳＷ１を介して接地されてい
る。ＶＣＡ３２はＯＰアンプＯＰ２、抵抗Ｒ21とＲ22、
及びスイッチＳＷ2 で構成され、ＶＣＡ３１と同じ接続
構成となっている。
【００１０】図４の構成において、設定されたあるゲイ
ンにおいて焦点が合っていれば、これらの受光素子に光
レンズ１からの反射光が均等に当たり、受光素子からの
出力はそれぞれＶＣＡ３１、３２に入力するが、受光素
子からの出力が同じであるためＶＣＡ３１と３２の出力
は等しく、誤差検出回路４の出力は０となりフォーカス
用ボイスコイル７は動作しない。
ンにおいて焦点が合っていれば、これらの受光素子に光
レンズ１からの反射光が均等に当たり、受光素子からの
出力はそれぞれＶＣＡ３１、３２に入力するが、受光素
子からの出力が同じであるためＶＣＡ３１と３２の出力
は等しく、誤差検出回路４の出力は０となりフォーカス
用ボイスコイル７は動作しない。
【００１１】焦点がずれていると光レンズ１からの反射
光は受光素子２１と２２に均等に当たらず、受光素子か
らの出力に差が生ずる。そのためＶＣＡ３１と３２から
の出力に差が生じ、誤差検出回路４が出力を発生する。
この出力は位相補償器５とドライバ回路６を経てフォー
カス用ボイスコイル７に電流を流し、このコイル７の駆
動力により光レンズ１を焦点を合わせるために駆動す
る。一方、誤差検出回路４からの出力をゲインの測定値
として制御装置８に入力する。制御装置８にはゲインの
目標範囲または目標値（以下目標値等と記す）が設定さ
れており、測定値はこの目標値等と比較され、測定値と
目標値等の差に基づきゲインの調整値を出力する。この
調整値はＶＣＡ３１と３２のＳＷ1 とＳＷ2 のオン・オ
フ制御部（図示なし）に出力され、調整値に基づいてＳ
Ｗ1 とＳＷ2 のオン・オフが制御され、そのデユーテイ
比によりＶＣＡ３１と３２の増幅度が変化する。焦点を
合わせる過程で、上記出力された調整値に基づく誤差検
出回路の出力を測定値として制御装置８に入力し、目標
値等と比較して調整値を出力し、ＯＰ１とＯＰ２の電圧
増幅度を変える動作を測定値が目標値に一致し，または
目標値の範囲内になるまで繰り返す。
光は受光素子２１と２２に均等に当たらず、受光素子か
らの出力に差が生ずる。そのためＶＣＡ３１と３２から
の出力に差が生じ、誤差検出回路４が出力を発生する。
この出力は位相補償器５とドライバ回路６を経てフォー
カス用ボイスコイル７に電流を流し、このコイル７の駆
動力により光レンズ１を焦点を合わせるために駆動す
る。一方、誤差検出回路４からの出力をゲインの測定値
として制御装置８に入力する。制御装置８にはゲインの
目標範囲または目標値（以下目標値等と記す）が設定さ
れており、測定値はこの目標値等と比較され、測定値と
目標値等の差に基づきゲインの調整値を出力する。この
調整値はＶＣＡ３１と３２のＳＷ1 とＳＷ2 のオン・オ
フ制御部（図示なし）に出力され、調整値に基づいてＳ
Ｗ1 とＳＷ2 のオン・オフが制御され、そのデユーテイ
比によりＶＣＡ３１と３２の増幅度が変化する。焦点を
合わせる過程で、上記出力された調整値に基づく誤差検
出回路の出力を測定値として制御装置８に入力し、目標
値等と比較して調整値を出力し、ＯＰ１とＯＰ２の電圧
増幅度を変える動作を測定値が目標値に一致し，または
目標値の範囲内になるまで繰り返す。
【００１２】以上がサーボのゲインを自己調整するため
の構成の一例であるが、次に本発明の自己調整方法につ
いて説明する。図５は、本発明による自己調整方法の実
施形態をフローチャートで示したもので、まずＭＤプレ
ーヤ等を起動する（Ｓ１）。測定値が目標値等になるで
あろう値が初期値として記憶されており、次にこれを調
整値として設定し（Ｓ２）、図４の誤差検出回路４の出
力を測定する（Ｓ３）。次に前記測定した値が予め設定
されている目標の範囲内または目標値と同じか判断し
（Ｓ４）、Ｎｏであれば予め設定された所定の回数（例
えば５回）のリトライが終了したか判断する（Ｓ５）。
ここで目標値をａとすると、目標の範囲Ａは例えばａ−
α≦Ａ≦ａ＋α（αは任意の値）と設定できる。最初は
所定の回数に達していないのでＮｏとなり、またこの回
はリトライではないのでリトライ数は０とカウントされ
る（Ｓ６）。そして前記Ｓ２で設定された調整値と前記
Ｓ３で測定された測定値を記憶すると共に、該測定値と
前記目標値または目標の範囲との比較結果に基づき図４
の制御装置８から出力される調整値を新たな調整値とし
て出力し（Ｓ７）、Ｓ２において新たな調整値として設
定し、上記動作と同じリトライを開始する。測定値が目
標値と同じまたは目標の範囲内の値にならず、上記動作
を所定の回数繰り返すと、所定の回数リトライが終了し
た（Ｙｅｓ）と判断される（Ｓ５）。所定の回数のリト
ライにおいて得られた測定値と調整値は記憶されてお
り、この中から目標値または目標範囲に最も近かった測
定値を与えた調整値が選択され設定され（Ｓ８）、調整
値と測定値が記憶されているリトライ用メモリをクリア
し（Ｓ９）、調整値の設定が終了する（Ｓ１０）。以上
の動作は制御装置８により制御される。
の構成の一例であるが、次に本発明の自己調整方法につ
いて説明する。図５は、本発明による自己調整方法の実
施形態をフローチャートで示したもので、まずＭＤプレ
ーヤ等を起動する（Ｓ１）。測定値が目標値等になるで
あろう値が初期値として記憶されており、次にこれを調
整値として設定し（Ｓ２）、図４の誤差検出回路４の出
力を測定する（Ｓ３）。次に前記測定した値が予め設定
されている目標の範囲内または目標値と同じか判断し
（Ｓ４）、Ｎｏであれば予め設定された所定の回数（例
えば５回）のリトライが終了したか判断する（Ｓ５）。
ここで目標値をａとすると、目標の範囲Ａは例えばａ−
α≦Ａ≦ａ＋α（αは任意の値）と設定できる。最初は
所定の回数に達していないのでＮｏとなり、またこの回
はリトライではないのでリトライ数は０とカウントされ
る（Ｓ６）。そして前記Ｓ２で設定された調整値と前記
Ｓ３で測定された測定値を記憶すると共に、該測定値と
前記目標値または目標の範囲との比較結果に基づき図４
の制御装置８から出力される調整値を新たな調整値とし
て出力し（Ｓ７）、Ｓ２において新たな調整値として設
定し、上記動作と同じリトライを開始する。測定値が目
標値と同じまたは目標の範囲内の値にならず、上記動作
を所定の回数繰り返すと、所定の回数リトライが終了し
た（Ｙｅｓ）と判断される（Ｓ５）。所定の回数のリト
ライにおいて得られた測定値と調整値は記憶されてお
り、この中から目標値または目標範囲に最も近かった測
定値を与えた調整値が選択され設定され（Ｓ８）、調整
値と測定値が記憶されているリトライ用メモリをクリア
し（Ｓ９）、調整値の設定が終了する（Ｓ１０）。以上
の動作は制御装置８により制御される。
【００１３】一方、Ｓ４で測定値が目標の範囲または目
標値と同じであれば（Ｙｅｓ）、リトライ用メモリをク
リアし（Ｓ９）、調整値の設定が終了する（Ｓ１０）。
なお、上記実施形態では、リトライにおける調整値と測
定値をすべて記憶しているが、測定値がある範囲に入っ
ている場合のみ記憶するようにしてもよい。図６は、本
発明による自己調整方法の別の実施形態をフローチャー
トで示したものである。まずＭＤプレーヤ等を起動する
（Ｓ１）。測定値が目標値等になるであろう値が初期値
として記憶されており、次にこれを調整値として設定し
（Ｓ２）、図４の誤差検出回路４の出力を測定する（Ｓ
３）。次に前記測定した値が予め設定されている目標の
範囲内または目標値と同じ値か判断し（Ｓ４）、Ｎｏで
あれば予め設定された所定の回数（例えば５回）のリト
ライが終了したか判断する（Ｓ５）。ここで目標値をａ
とすると、目標の範囲Ａは例えばａ−α≦Ａ≦ａ＋α
（αは任意の値）と設定できる。最初は所定の回数に達
していないのでＮｏとなり、またこの回はリトライでは
ないのでリトライ数は０とカウントされる（Ｓ６）。こ
こまでは図５のフローと同じである。次にＳ２で設定さ
れた調整値が目標値または目標範囲に最も近い測定値を
与えたか判断される（Ｓ７）。最初は比較の対象がない
ので、前記Ｓ２で設定された調整値とその結果前記Ｓ３
で測定された測定値が仮の最適値として記憶されると共
に、該測定値と前記目標の範囲または目標値との比較結
果に基づき図４の制御装置８から出力される調整値を新
たな調整値として出力し（Ｓ８）、Ｓ２において新たな
調整値として設定し、上記動作と同じリトライを開始す
る。測定値が目標の範囲または目標値と同じにならない
場合、上記動作が繰り返され、目標の範囲または目標値
に最も近い前記Ｓ３で測定された測定値と該測定値を与
えた調整値を仮の最適値として記憶する（Ｓ８）。この
記憶される最適値は目標により近い値があれば入れ換え
られ、そうでなければＳ７でＮｏとなり入れ換えられな
い（この場合、測定値と目標値等の比較がされ、新たな
調整値が設定される）。上記動作を所定の回数繰り返
し、測定値が目標の範囲または目標値にならなかった場
合、所定の回数リトライ終了した（Ｙｅｓ）と判断され
る（Ｓ５）。所定の回数のリトライにおいて得られた測
定値と調整値の内、最適の測定値と調整値は上記のよう
に仮の最適値として記憶されており、この仮の最適値と
して記憶されている調整値が設定され（Ｓ９）、調整値
の設定が終了する（Ｓ１０）。
標値と同じであれば（Ｙｅｓ）、リトライ用メモリをク
リアし（Ｓ９）、調整値の設定が終了する（Ｓ１０）。
なお、上記実施形態では、リトライにおける調整値と測
定値をすべて記憶しているが、測定値がある範囲に入っ
ている場合のみ記憶するようにしてもよい。図６は、本
発明による自己調整方法の別の実施形態をフローチャー
トで示したものである。まずＭＤプレーヤ等を起動する
（Ｓ１）。測定値が目標値等になるであろう値が初期値
として記憶されており、次にこれを調整値として設定し
（Ｓ２）、図４の誤差検出回路４の出力を測定する（Ｓ
３）。次に前記測定した値が予め設定されている目標の
範囲内または目標値と同じ値か判断し（Ｓ４）、Ｎｏで
あれば予め設定された所定の回数（例えば５回）のリト
ライが終了したか判断する（Ｓ５）。ここで目標値をａ
とすると、目標の範囲Ａは例えばａ−α≦Ａ≦ａ＋α
（αは任意の値）と設定できる。最初は所定の回数に達
していないのでＮｏとなり、またこの回はリトライでは
ないのでリトライ数は０とカウントされる（Ｓ６）。こ
こまでは図５のフローと同じである。次にＳ２で設定さ
れた調整値が目標値または目標範囲に最も近い測定値を
与えたか判断される（Ｓ７）。最初は比較の対象がない
ので、前記Ｓ２で設定された調整値とその結果前記Ｓ３
で測定された測定値が仮の最適値として記憶されると共
に、該測定値と前記目標の範囲または目標値との比較結
果に基づき図４の制御装置８から出力される調整値を新
たな調整値として出力し（Ｓ８）、Ｓ２において新たな
調整値として設定し、上記動作と同じリトライを開始す
る。測定値が目標の範囲または目標値と同じにならない
場合、上記動作が繰り返され、目標の範囲または目標値
に最も近い前記Ｓ３で測定された測定値と該測定値を与
えた調整値を仮の最適値として記憶する（Ｓ８）。この
記憶される最適値は目標により近い値があれば入れ換え
られ、そうでなければＳ７でＮｏとなり入れ換えられな
い（この場合、測定値と目標値等の比較がされ、新たな
調整値が設定される）。上記動作を所定の回数繰り返
し、測定値が目標の範囲または目標値にならなかった場
合、所定の回数リトライ終了した（Ｙｅｓ）と判断され
る（Ｓ５）。所定の回数のリトライにおいて得られた測
定値と調整値の内、最適の測定値と調整値は上記のよう
に仮の最適値として記憶されており、この仮の最適値と
して記憶されている調整値が設定され（Ｓ９）、調整値
の設定が終了する（Ｓ１０）。
【００１４】一方、Ｓ４で測定値が目標の範囲または目
標値となれば（Ｙｅｓ）、調整値の設定が終了する（Ｓ
１０）。上記実施形態の場合、図５の実施形態と比較し
てリトライにおける調整値と測定値を記憶する容量を減
らすことができる。図７は、本発明による自己調整方法
の更に別の実施形態をフローチャートで示したもので、
まずＭＤプレーヤ等を起動する（Ｓ１）。測定値が目標
値等になるであろう値が初期値として記憶されており、
次にこれを調整値として設定し（Ｓ２）、図４の誤差検
出回路４の出力を測定する（Ｓ３）。次に前記測定した
値が予め設定されている目標の範囲内または目標値と同
じ値か判断し（Ｓ４）、Ｎｏであれば予め設定された所
定の回数（例えば５回）のリトライが終了したか判断す
る（Ｓ５）。ここで目標値をａとすると、目標の範囲Ａ
は例えばａ−α≦Ａ≦ａ＋α（αは任意の値）と設定で
きる。最初は所定の回数に達していないのでＮｏとな
り、またこの回はリトライではないのでリトライ数は０
とカウントされる（Ｓ６）。ここまでは図５のフローと
同じである。そして前記Ｓ２で設定された調整値と前記
Ｓ３で測定された測定値を記憶すると共に、該測定値と
前記目標値または目標の範囲との比較結果に基づき図４
の制御装置８から出力される値を新たな調整値として出
力し（Ｓ７）、Ｓ２において新たな調整値とし設定し、
上記動作と同じリトライを開始する。測定値が目標値と
同じまたは目標の範囲内の値にならず、上記動作を所定
の回数繰り返すと、所定の回数リトライが終了した（Ｙ
ｅｓ）と判断される（Ｓ５）。所定の回数のリトライに
おいて得られた測定値と調整値は記憶されており、この
中から目標値または目標範囲に最も近かった測定値を与
え、且つゲインが目標値より低くなる調整値が選択され
て設定され（Ｓ８）、リトライ用メモリをクリアし（Ｓ
９）、調整値の設定が終了する（Ｓ１０）。
標値となれば（Ｙｅｓ）、調整値の設定が終了する（Ｓ
１０）。上記実施形態の場合、図５の実施形態と比較し
てリトライにおける調整値と測定値を記憶する容量を減
らすことができる。図７は、本発明による自己調整方法
の更に別の実施形態をフローチャートで示したもので、
まずＭＤプレーヤ等を起動する（Ｓ１）。測定値が目標
値等になるであろう値が初期値として記憶されており、
次にこれを調整値として設定し（Ｓ２）、図４の誤差検
出回路４の出力を測定する（Ｓ３）。次に前記測定した
値が予め設定されている目標の範囲内または目標値と同
じ値か判断し（Ｓ４）、Ｎｏであれば予め設定された所
定の回数（例えば５回）のリトライが終了したか判断す
る（Ｓ５）。ここで目標値をａとすると、目標の範囲Ａ
は例えばａ−α≦Ａ≦ａ＋α（αは任意の値）と設定で
きる。最初は所定の回数に達していないのでＮｏとな
り、またこの回はリトライではないのでリトライ数は０
とカウントされる（Ｓ６）。ここまでは図５のフローと
同じである。そして前記Ｓ２で設定された調整値と前記
Ｓ３で測定された測定値を記憶すると共に、該測定値と
前記目標値または目標の範囲との比較結果に基づき図４
の制御装置８から出力される値を新たな調整値として出
力し（Ｓ７）、Ｓ２において新たな調整値とし設定し、
上記動作と同じリトライを開始する。測定値が目標値と
同じまたは目標の範囲内の値にならず、上記動作を所定
の回数繰り返すと、所定の回数リトライが終了した（Ｙ
ｅｓ）と判断される（Ｓ５）。所定の回数のリトライに
おいて得られた測定値と調整値は記憶されており、この
中から目標値または目標範囲に最も近かった測定値を与
え、且つゲインが目標値より低くなる調整値が選択され
て設定され（Ｓ８）、リトライ用メモリをクリアし（Ｓ
９）、調整値の設定が終了する（Ｓ１０）。
【００１５】一方、Ｓ４で測定値が目標の範囲または目
標値と同じであれば（Ｙｅｓ）、リトライ用メモリをク
リアし（Ｓ９）、調整値の設定が終了する（Ｓ１０）。
なお、図７に示した実施形態の自己調整方法では、Ｓ７
においてリトライにおける調整値と測定値をすべて記憶
しているが、図６のフローのように記憶すべき値を最適
値のみとしてもよい。この場合記憶容量を減らすことが
できる。
標値と同じであれば（Ｙｅｓ）、リトライ用メモリをク
リアし（Ｓ９）、調整値の設定が終了する（Ｓ１０）。
なお、図７に示した実施形態の自己調整方法では、Ｓ７
においてリトライにおける調整値と測定値をすべて記憶
しているが、図６のフローのように記憶すべき値を最適
値のみとしてもよい。この場合記憶容量を減らすことが
できる。
【００１６】
【発明の効果】本発明では媒体であるデイスク毎にサー
ボ機構のゲインの自己調整を行うので、光の反射特性の
異なる個々のデイスク、あるいは記録方法が異なる領域
に対して適切に光レンズの焦点合わせ等を行うことがで
き、的確にＭＤプレーヤで記録再生を行うことができ
る。
ボ機構のゲインの自己調整を行うので、光の反射特性の
異なる個々のデイスク、あるいは記録方法が異なる領域
に対して適切に光レンズの焦点合わせ等を行うことがで
き、的確にＭＤプレーヤで記録再生を行うことができ
る。
【００１７】また、自己調整は所定の回数を限度とし
て、測定値が目標の範囲または目標値と同じになるまで
調整値を変えていくが、所定の回数内で測定値が目標の
範囲または目標値にならない場合でも、測定値が目標の
範囲または目標値に最も近い値の調整値が採用されるの
で、サーボ機構が不安定に動作することがなくなる。ま
た、図７に示した実施形態ではサーボのゲインが低い方
にずれるようにしたので、サーボが発振する可能性が低
くなり安定度が高くなる。
て、測定値が目標の範囲または目標値と同じになるまで
調整値を変えていくが、所定の回数内で測定値が目標の
範囲または目標値にならない場合でも、測定値が目標の
範囲または目標値に最も近い値の調整値が採用されるの
で、サーボ機構が不安定に動作することがなくなる。ま
た、図７に示した実施形態ではサーボのゲインが低い方
にずれるようにしたので、サーボが発振する可能性が低
くなり安定度が高くなる。
【００１８】更に、周囲の温度変化が生じたとしても、
ゲインを適切に調整できるので安定した駆動を保つこと
ができる。なお、上記実施形態ではＭＤプレーヤを例に
説明したが、本発明はＭＤ以外のＣＤ等のデイスク状媒
体を扱うものであれば適用できる。
ゲインを適切に調整できるので安定した駆動を保つこと
ができる。なお、上記実施形態ではＭＤプレーヤを例に
説明したが、本発明はＭＤ以外のＣＤ等のデイスク状媒
体を扱うものであれば適用できる。
【図１】ＭＤの記録構造の概要を示した図である。
【図２】ＭＤプレーヤ等の記録媒体と光レンズの関係を
示す図である。
示す図である。
【図３】ＭＤプレーヤ等においてレンズと記録媒体の面
との間隔が焦点距離からずれた場合のエラー信号の波形
を示したものである。
との間隔が焦点距離からずれた場合のエラー信号の波形
を示したものである。
【図４】サーボ機構のゲインをデイスク毎に適切な値に
設定するための回路構成の概要を示したものである。
設定するための回路構成の概要を示したものである。
【図５】本発明による自己調整方法の実施形態をフロー
チャートで示したものである。
チャートで示したものである。
【図６】本発明による自己調整方法の別の実施形態をフ
ローチャートで示したものである。
ローチャートで示したものである。
【図７】本発明による自己調整方法の更に別の実施形態
をフローチャートで示したものである。
をフローチャートで示したものである。
１…光レンズ ２１、２２…受光素子 ３１、３２…電圧制御増幅器（ＶＣＡ） ４…誤差検出回路 ５…位相補償器 ６…ドライバ ７…フォーカス用ボイスコイル ８…制御装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平８−50726（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−235073（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−159326（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−77589（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−274913（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−176371（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 7/09 - 7/10 G11B 21/10 G05B 1/00 - 7/04 G05B 11/00 - 13/04 G05B 17/00 - 17/02 G05B 21/00 - 21/02
Claims (4)
- 【請求項１】 駆動時にディスク毎にゲインを測定し、
該測定値をゲインの目標範囲または目標値と比較し、比
較結果に基づきゲインを決める調整値を設定する、ディ
スク状媒体を用いて記録及び／又は再生する装置のサー
ボ機構のゲインを自己調整する方法において、前記測定
値が前記目標範囲または目標値にならない場合、所定の
回数ゲインの測定及び調整値の設定を繰り返してこれら
測定値及び設定値を記憶し、前記所定の回数の測定値の
内前記目標範囲または目標値に最も近い測定値を与え、
かつゲインが該目標範囲または目標値より低い調整値を
当該ディスクの調整値として設定する自己調整方法。 - 【請求項２】 駆動時にディスク毎にゲインを測定し、
該測定値をゲインの目標範囲または目標値と比較し、比
較結果に基づきゲインを決める調整値を設定する、ディ
スク状媒体を用いて記録及び／又は再生する装置のサー
ボ機構のゲインを自己調整する方法において、前記測定
値が前記目標範囲または目標値にならない場合、所定の
回数ゲインの測定及び調整値の設定を繰り返し、前記目
標範囲または目標値に最も近くかつ該目標範囲または目
標値より低い測定値及び設定値を仮の最適地として記憶
し、所定回数終了後前記仮の最適値として記憶されてい
る調整値を当該ディスクの調整値として設定する自己調
整方法。 - 【請求項３】 駆動時にディスクの異なった記録方法に
よる記録領域毎にゲインを測定することを特徴とする、
請求項１または２に記載の自己調整方法。 - 【請求項４】 前記測定値が前記目標範囲または目標値
になった場合、当該測定値を与えた調整値を当該ディス
クの設定値として設定する、請求項１または２に記載の
自己調整方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33114596A JP3241283B2 (ja) | 1996-12-11 | 1996-12-11 | 自己調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33114596A JP3241283B2 (ja) | 1996-12-11 | 1996-12-11 | 自己調整方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10172156A JPH10172156A (ja) | 1998-06-26 |
| JP3241283B2 true JP3241283B2 (ja) | 2001-12-25 |
Family
ID=18240384
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33114596A Expired - Fee Related JP3241283B2 (ja) | 1996-12-11 | 1996-12-11 | 自己調整方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3241283B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4413199B2 (ja) | 2006-03-23 | 2010-02-10 | 東芝ストレージデバイス株式会社 | 偏心補正方法、信号処理回路、磁気記憶装置及び垂直磁気記録媒体 |
-
1996
- 1996-12-11 JP JP33114596A patent/JP3241283B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10172156A (ja) | 1998-06-26 |
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