JP3237086B2 - 動作監視装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は動作監視装置に関し、特
に、同一の動作を同一周期で動作する複数の被検知物体
のそれぞれの動作とその被検知物体を作動させる機台を
監視する動作監視装置に関する。
に、同一の動作を同一周期で動作する複数の被検知物体
のそれぞれの動作とその被検知物体を作動させる機台を
監視する動作監視装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】複数の被検知物体、例えば、電線や紐等
の撚線の製造装置におけるそれぞれの細線や、複数並列
に配置された同一部品を一定速度で供給するパーツフィ
ダから供給される部品等は、同一の周期で供給されて製
品化されていく。このような製造工程において、初期に
設定した細線や部品等が一つでも欠落すると不良製品と
なってしまう。したがって欠落の有無を検知するために
従来より様々な装置が提供され、それを検知するための
手段として、例えば、リミットスイッチを用いたりセン
サーを用いて欠落を検知していた。
の撚線の製造装置におけるそれぞれの細線や、複数並列
に配置された同一部品を一定速度で供給するパーツフィ
ダから供給される部品等は、同一の周期で供給されて製
品化されていく。このような製造工程において、初期に
設定した細線や部品等が一つでも欠落すると不良製品と
なってしまう。したがって欠落の有無を検知するために
従来より様々な装置が提供され、それを検知するための
手段として、例えば、リミットスイッチを用いたりセン
サーを用いて欠落を検知していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】複数の被検知物を加工
する製造装置において、特に多品種少量生産の場合に
は、被検知物の増減に応じ、被監視対象物をそれぞれ特
定し、それを監視対象として監視装置に設定する必要が
ある。この設定を作業者が個々に設定することは繁雑で
あり、また時には誤って監視対象を設定することもあ
る。この場合には、人為的設定ミスの為に監視装置は当
初より全ての被検知物を監視することなく、欠落した状
態での監視装置となり、信頼できない監視装置となる。
また人為的な設定ミスが無くとも、本監視装置自体に何
らかの不備、故障があり、全ての被検知物体の検知がで
きない状態が生じていれば、同様に信頼のない監視装置
ということになる。そこで、本発明は製造に入る初期段
階において、センサー等を含む監視装置全体の動作を通
して各被検知物体の総数の確認をし、またそのときの各
被検知物体を表示し、またこれを以後の被検知物体とし
て自動設定することで、設定の繁雑さを無くすると共
に、人為的設定ミスの無い、信頼性の高い動作監視装置
を提供しようとするものである。
する製造装置において、特に多品種少量生産の場合に
は、被検知物の増減に応じ、被監視対象物をそれぞれ特
定し、それを監視対象として監視装置に設定する必要が
ある。この設定を作業者が個々に設定することは繁雑で
あり、また時には誤って監視対象を設定することもあ
る。この場合には、人為的設定ミスの為に監視装置は当
初より全ての被検知物を監視することなく、欠落した状
態での監視装置となり、信頼できない監視装置となる。
また人為的な設定ミスが無くとも、本監視装置自体に何
らかの不備、故障があり、全ての被検知物体の検知がで
きない状態が生じていれば、同様に信頼のない監視装置
ということになる。そこで、本発明は製造に入る初期段
階において、センサー等を含む監視装置全体の動作を通
して各被検知物体の総数の確認をし、またそのときの各
被検知物体を表示し、またこれを以後の被検知物体とし
て自動設定することで、設定の繁雑さを無くすると共
に、人為的設定ミスの無い、信頼性の高い動作監視装置
を提供しようとするものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の解決しようとす
る課題は以上の如くであり、次に該課題を解決するため
の手段を説明する。即ち、複数の被検知物体の動作を各
被検知物体のそれぞれに対応して、設けたセンサーにて
正常に動作しているかを監視する装置であって、初期段
階において、動作しているセンサーの数を検知し、これ
が設定どおりであれば、前記センサーをこの場合の動作
監視センサーとして記憶し、該センサーの動作で被検知
物体の動作を監視すべく構成したものである。
る課題は以上の如くであり、次に該課題を解決するため
の手段を説明する。即ち、複数の被検知物体の動作を各
被検知物体のそれぞれに対応して、設けたセンサーにて
正常に動作しているかを監視する装置であって、初期段
階において、動作しているセンサーの数を検知し、これ
が設定どおりであれば、前記センサーをこの場合の動作
監視センサーとして記憶し、該センサーの動作で被検知
物体の動作を監視すべく構成したものである。
【０００５】
【作用】上記構成において、スタート信号を出力する
と、まず使用センサーの設定数と実際に使用されている
センサーが一致するかを確認する。もし一致しないこと
がある時間継続する場合には初期不良出力を出す。一致
している場合にはその時点でのセンサーを被監視センサ
ーとして記憶回路に記憶する。この記憶状態において、
被検知物体の正常な動きに応じて出力する再トリガ型単
安定マルチバイブレータＡ１，Ａ２…Ａｎの出力をリン
グカウンターからのスキャン信号を利用して、その出力
の有無を順次判断し、前記記憶状態の中に再トリガ型単
安定マルチバイブレータ出力が、出力されていないもの
を検知した時には本監視装置は異常出力を出すととも
に、異常検知物体を特定して表示する。
と、まず使用センサーの設定数と実際に使用されている
センサーが一致するかを確認する。もし一致しないこと
がある時間継続する場合には初期不良出力を出す。一致
している場合にはその時点でのセンサーを被監視センサ
ーとして記憶回路に記憶する。この記憶状態において、
被検知物体の正常な動きに応じて出力する再トリガ型単
安定マルチバイブレータＡ１，Ａ２…Ａｎの出力をリン
グカウンターからのスキャン信号を利用して、その出力
の有無を順次判断し、前記記憶状態の中に再トリガ型単
安定マルチバイブレータ出力が、出力されていないもの
を検知した時には本監視装置は異常出力を出すととも
に、異常検知物体を特定して表示する。
【０００６】
【実施例】次に細線を撚線として電線を得る電線製造装
置の監視装置の実施例について、添付の図面より説明す
ると、図１はこの発明の一実施例の具体的な動作監視装
置のブロック図であり、図２は細線検知部を示す図であ
り、まず、センサＳ１，Ｓ２…Ｓｎはそれぞれ動きのあ
る被検知物体の動作を監視するものであり、センサＳ
１，Ｓ２…Ｓｎはそれぞれ対応する被検知物体が正常に
動作している限り、一定周期のパルス信号を発生し、被
検知物体の動作に対応した周期的パルス信号を発生する
センサーとしている。例えば、図２に示すように、細線
３がリールより引き出されて撚線とされる途中に軸５に
回転自在に支持されたプーリー２が配置され、該プーリ
ー２に細線３を掛けて、プーリー２側面には磁石６を貼
設して、該磁石６に対向した位置にホール素子よりなる
センサーＳを配置するようにしている。
置の監視装置の実施例について、添付の図面より説明す
ると、図１はこの発明の一実施例の具体的な動作監視装
置のブロック図であり、図２は細線検知部を示す図であ
り、まず、センサＳ１，Ｓ２…Ｓｎはそれぞれ動きのあ
る被検知物体の動作を監視するものであり、センサＳ
１，Ｓ２…Ｓｎはそれぞれ対応する被検知物体が正常に
動作している限り、一定周期のパルス信号を発生し、被
検知物体の動作に対応した周期的パルス信号を発生する
センサーとしている。例えば、図２に示すように、細線
３がリールより引き出されて撚線とされる途中に軸５に
回転自在に支持されたプーリー２が配置され、該プーリ
ー２に細線３を掛けて、プーリー２側面には磁石６を貼
設して、該磁石６に対向した位置にホール素子よりなる
センサーＳを配置するようにしている。
【０００７】このように構成することによって、細線３
が一定速度で引き出されるとプーリー２は回転し、セン
サーＳからは一定周期のパルス信号が発生し、細線３が
絡んだりすると引き出し速度が変化してパルスの周期も
変動する。また、細線３が切断するとバネ４にプーリー
２が引っ張り上げられてセンサーＳにはパルス信号の発
生は停止してしまう。但し、センサーＳはホール素子に
限定せず、光センサーや超音波センサーや静電センサー
等より構成することも可能である。
が一定速度で引き出されるとプーリー２は回転し、セン
サーＳからは一定周期のパルス信号が発生し、細線３が
絡んだりすると引き出し速度が変化してパルスの周期も
変動する。また、細線３が切断するとバネ４にプーリー
２が引っ張り上げられてセンサーＳにはパルス信号の発
生は停止してしまう。但し、センサーＳはホール素子に
限定せず、光センサーや超音波センサーや静電センサー
等より構成することも可能である。
【０００８】前記センサーＳは被検知物である細線３毎
に設けられ、該センサＳ１，Ｓ２…Ｓｎのそれぞれの出
力は図１に示すように再トリガ型単安定マルチバイブレ
ータＡ１，Ａ２…Ａｎにトリガ信号として与えられる。
これらの再トリガ型単安定マルチバイブレータＡ１，Ａ
２…Ａｎは、それぞれセンサＳ１，Ｓ２…Ｓｎからのト
リガ信号が与えられ、該トリガ信号が再トリガ型単安定
マルチバイブレータに設定された固有な単安定時間より
短い周期トリガ信号である場合には、それぞれのＱから
は“Ｈ”レベルを、Ｑバーからは“Ｌ”レベルの出力信
号が出される。尚、それぞれの再トリガ型単安定マルチ
バイブレータＡ１，Ａ２…Ａｎの出力パルス幅は時定数
が微妙に異なり、それを全て同一に調整することは大変
困難であるために、動作周期調整機能回路Ｇよりダイオ
ードＤ１，Ｄ２…Ｄｎを介して各再トリガ型単安定マル
チバイブレータＡ１，Ａ２…Ａｎに入力して出力パルス
幅が同一となるようにしている。
に設けられ、該センサＳ１，Ｓ２…Ｓｎのそれぞれの出
力は図１に示すように再トリガ型単安定マルチバイブレ
ータＡ１，Ａ２…Ａｎにトリガ信号として与えられる。
これらの再トリガ型単安定マルチバイブレータＡ１，Ａ
２…Ａｎは、それぞれセンサＳ１，Ｓ２…Ｓｎからのト
リガ信号が与えられ、該トリガ信号が再トリガ型単安定
マルチバイブレータに設定された固有な単安定時間より
短い周期トリガ信号である場合には、それぞれのＱから
は“Ｈ”レベルを、Ｑバーからは“Ｌ”レベルの出力信
号が出される。尚、それぞれの再トリガ型単安定マルチ
バイブレータＡ１，Ａ２…Ａｎの出力パルス幅は時定数
が微妙に異なり、それを全て同一に調整することは大変
困難であるために、動作周期調整機能回路Ｇよりダイオ
ードＤ１，Ｄ２…Ｄｎを介して各再トリガ型単安定マル
チバイブレータＡ１，Ａ２…Ａｎに入力して出力パルス
幅が同一となるようにしている。
【０００９】該再トリガ型単安定マルチバイブレータＡ
１，Ａ２…ＡｎのそれぞれのＱ出力側はＡＮＤゲートＫ
１，Ｋ２…Ｋｎの一方の入力端に接続され、Ｑバー出力
側はＡＮＤゲートＢ１，Ｂ２…Ｂｎの一方の入力端と接
続される。スキャン発振器Ｆは一定周期のクロック信号
を発生するものであって、発生されたクロック信号はリ
ングカウンタＣに与えられる。リングカウンタＣはフリ
ップフロップＣ１，Ｃ２…Ｃｎよりなり、最終段のフリ
ップフロップＣｎの出力が初段のフリップフロップＣ１
の入力に帰還されている。そして、各フリップフロップ
Ｃ１，Ｃ２…Ｃｎの出力端は前述のＡＮＤゲートＢ１，
Ｂ２…ＢｎとＫ１，Ｋ２…Ｋｎの他方にそれぞれ接続さ
れ、フリップフロップＣ１，Ｃ２…Ｃｎはそれぞれセン
サＳ１，Ｓ２…Ｓｎに対応して設けられている。また、
リングカウンタＣの出力は単安定マルチバイブレータ１
２に入力され、その出力は使用機台数カウンタ１６、Ａ
ＮＤゲート１８・１９及びカウンタＥのリセット側に接
続され、前記スキャン発振器Ｉから発生されたクロック
信号もカウンタＥに入力され、カウンタＥはそのクロッ
ク信号を計数し、リングカウンタの出力Ｃｎの出力後に
リセットする。そして、後述するように異常発生時には
カウントが停止されて、そのカウンタＥの計数出力が表
示器Ｊに与えられて、その検数値が表示されるようにし
ている。
１，Ａ２…ＡｎのそれぞれのＱ出力側はＡＮＤゲートＫ
１，Ｋ２…Ｋｎの一方の入力端に接続され、Ｑバー出力
側はＡＮＤゲートＢ１，Ｂ２…Ｂｎの一方の入力端と接
続される。スキャン発振器Ｆは一定周期のクロック信号
を発生するものであって、発生されたクロック信号はリ
ングカウンタＣに与えられる。リングカウンタＣはフリ
ップフロップＣ１，Ｃ２…Ｃｎよりなり、最終段のフリ
ップフロップＣｎの出力が初段のフリップフロップＣ１
の入力に帰還されている。そして、各フリップフロップ
Ｃ１，Ｃ２…Ｃｎの出力端は前述のＡＮＤゲートＢ１，
Ｂ２…ＢｎとＫ１，Ｋ２…Ｋｎの他方にそれぞれ接続さ
れ、フリップフロップＣ１，Ｃ２…Ｃｎはそれぞれセン
サＳ１，Ｓ２…Ｓｎに対応して設けられている。また、
リングカウンタＣの出力は単安定マルチバイブレータ１
２に入力され、その出力は使用機台数カウンタ１６、Ａ
ＮＤゲート１８・１９及びカウンタＥのリセット側に接
続され、前記スキャン発振器Ｉから発生されたクロック
信号もカウンタＥに入力され、カウンタＥはそのクロッ
ク信号を計数し、リングカウンタの出力Ｃｎの出力後に
リセットする。そして、後述するように異常発生時には
カウントが停止されて、そのカウンタＥの計数出力が表
示器Ｊに与えられて、その検数値が表示されるようにし
ている。
【００１０】前記ＡＮＤゲートＢ１，Ｂ２…Ｂｎの出力
側はＯＲゲート１０の入力側と接続され、ＡＮＤゲート
Ｋ１，Ｋ２…Ｋｎの出力はＯＲゲート１１の入力側と接
続され、ＯＲゲート１０の出力側はスイッチＳＷを介し
てＯＲゲート１３と発振制御機能回路Ｈに接続される。
発振制御機能回路ＨはＯＲゲート１０から与えられた異
常検出信号に応じて、スキャン発振器Ｆの発振を停止さ
せるものである。
側はＯＲゲート１０の入力側と接続され、ＡＮＤゲート
Ｋ１，Ｋ２…Ｋｎの出力はＯＲゲート１１の入力側と接
続され、ＯＲゲート１０の出力側はスイッチＳＷを介し
てＯＲゲート１３と発振制御機能回路Ｈに接続される。
発振制御機能回路ＨはＯＲゲート１０から与えられた異
常検出信号に応じて、スキャン発振器Ｆの発振を停止さ
せるものである。
【００１１】前記ＯＲゲート１１の出力側は使用機台数
カウンタ１６の入力側と接続され、該使用機台数カウン
タ１６の出力は比較器１５に入力され、該比較器１５に
は更に使用機台数設定器１４の信号も入力され、使用機
台数カウンタ１６と使用機台数設定器１４の値を比較し
て、いずれか一方が大きい場合にはＯＲゲート１７に出
力し、更にＡＮＤゲート１８に出力する。使用機台数カ
ウンタ１６と使用機台数設定器１４の値が同じであれば
ＡＮＤゲート１９に出力される。
カウンタ１６の入力側と接続され、該使用機台数カウン
タ１６の出力は比較器１５に入力され、該比較器１５に
は更に使用機台数設定器１４の信号も入力され、使用機
台数カウンタ１６と使用機台数設定器１４の値を比較し
て、いずれか一方が大きい場合にはＯＲゲート１７に出
力し、更にＡＮＤゲート１８に出力する。使用機台数カ
ウンタ１６と使用機台数設定器１４の値が同じであれば
ＡＮＤゲート１９に出力される。
【００１２】前記ＡＮＤゲート１８の出力側は使用機台
記憶用フリップフロップＬ１，Ｌ２…Ｌｎのリセット側
Ｒとそれぞれ接続され、該使用機台記憶用フリップフロ
ップＬ１，Ｌ２…Ｌｎのセット側Ｓには前記ＡＮＤゲー
トＫ１，Ｋ２…Ｋｎの出力側と接続されている。そし
て、使用機台記憶用フリップフロップＬ１，Ｌ２…Ｌｎ
のＱ出力側には発光ダイオードＬＥＤ１，ＬＥＤ２…Ｌ
ＥＤｎ及びＡＮＤゲートＢ１，Ｂ２…Ｂｎの入力側に接
続されている。前記ＡＮＤゲート１９の出力側はセンサ
ー数確認カウンタ２２と接続され、該センサー数確認カ
ウンタ２２の出力側はフリップフロップ２１のセット側
に接続され、該フリップフロップ２１のリセット側には
スタート信号発生器２０が接続されている。
記憶用フリップフロップＬ１，Ｌ２…Ｌｎのリセット側
Ｒとそれぞれ接続され、該使用機台記憶用フリップフロ
ップＬ１，Ｌ２…Ｌｎのセット側Ｓには前記ＡＮＤゲー
トＫ１，Ｋ２…Ｋｎの出力側と接続されている。そし
て、使用機台記憶用フリップフロップＬ１，Ｌ２…Ｌｎ
のＱ出力側には発光ダイオードＬＥＤ１，ＬＥＤ２…Ｌ
ＥＤｎ及びＡＮＤゲートＢ１，Ｂ２…Ｂｎの入力側に接
続されている。前記ＡＮＤゲート１９の出力側はセンサ
ー数確認カウンタ２２と接続され、該センサー数確認カ
ウンタ２２の出力側はフリップフロップ２１のセット側
に接続され、該フリップフロップ２１のリセット側には
スタート信号発生器２０が接続されている。
【００１３】該スタート信号発生器２０はスイッチ等よ
りなり、スタート信号発生器２０からはセンサー数確認
カウンタ２２のリセット側と遅延タイマ２３とも接続さ
れ、該遅延タイマ２３の出力側はＡＮＤゲート２４の入
力側と接続されている。そして、該ＡＮＤゲート２４の
否定入力側にはフリップフロップ２１のＱ出力側と接続
され、該フリップフロップ２１のＱ出力側は更に前記Ａ
ＮＤゲート１８の否定入力側とスイッチＳＷのＯＮ／Ｏ
ＦＦ作動側に接続している。
りなり、スタート信号発生器２０からはセンサー数確認
カウンタ２２のリセット側と遅延タイマ２３とも接続さ
れ、該遅延タイマ２３の出力側はＡＮＤゲート２４の入
力側と接続されている。そして、該ＡＮＤゲート２４の
否定入力側にはフリップフロップ２１のＱ出力側と接続
され、該フリップフロップ２１のＱ出力側は更に前記Ａ
ＮＤゲート１８の否定入力側とスイッチＳＷのＯＮ／Ｏ
ＦＦ作動側に接続している。
【００１４】このような構成において、まず、電線製造
装置を作動させるとともに、スタート信号発生器２０を
ＯＮすると、センサー数確認カウンタ２２をリセットし
て、遅延回路２３に信号を送り、フリップフロップ２１
のＱ出力は“Ｌ”となり、スイッチＳＷはＯＦＦ、ＡＮ
Ｄゲート１８とＡＮＤゲート２４の入力は“Ｌ”とな
る。
装置を作動させるとともに、スタート信号発生器２０を
ＯＮすると、センサー数確認カウンタ２２をリセットし
て、遅延回路２３に信号を送り、フリップフロップ２１
のＱ出力は“Ｌ”となり、スイッチＳＷはＯＦＦ、ＡＮ
Ｄゲート１８とＡＮＤゲート２４の入力は“Ｌ”とな
る。
【００１５】一方、スキャン発振器Ｆは一定周期のクロ
ック信号を発生してリングカウンタＣに与える。リング
カウンタＣはクロック信号を順次計数し、フリップフロ
ップＣ１，Ｃ２…Ｃｎから順次“Ｈ”レベルのパルス信
号がＡＮＤゲートＢ１，Ｂ２…Ｂｎ及びＡＮＤゲートＫ
１，Ｋ２…Ｋｎに与えられる。リングカウンタＣ最終段
からの出力は単安定マルチバイブレータ１２に与えられ
て、その出力を“Ｈ”としてカウンタＥをリセットする
と共に、ＡＮＤゲート１８への入力により該ＡＮＤゲー
ト１８の出力が“Ｈ”となってフリップフロップＬ１，
Ｌ２…ＬｎのＱ出力を“Ｌ”とし、発光ダイオードＬＥ
Ｄ１，ＬＥＤ２…ＬＥＤｎが消燈のままで、ＡＮＤゲー
トＢ１，Ｂ２…Ｂｎの出力も“Ｌ”とする。
ック信号を発生してリングカウンタＣに与える。リング
カウンタＣはクロック信号を順次計数し、フリップフロ
ップＣ１，Ｃ２…Ｃｎから順次“Ｈ”レベルのパルス信
号がＡＮＤゲートＢ１，Ｂ２…Ｂｎ及びＡＮＤゲートＫ
１，Ｋ２…Ｋｎに与えられる。リングカウンタＣ最終段
からの出力は単安定マルチバイブレータ１２に与えられ
て、その出力を“Ｈ”としてカウンタＥをリセットする
と共に、ＡＮＤゲート１８への入力により該ＡＮＤゲー
ト１８の出力が“Ｈ”となってフリップフロップＬ１，
Ｌ２…ＬｎのＱ出力を“Ｌ”とし、発光ダイオードＬＥ
Ｄ１，ＬＥＤ２…ＬＥＤｎが消燈のままで、ＡＮＤゲー
トＢ１，Ｂ２…Ｂｎの出力も“Ｌ”とする。
【００１６】他方、各センサＳ１，Ｓ２…Ｓｎがそれぞ
れ対応する被検知物体の移動動作を検出し、対応の被検
知物体が正常に動作していれば、一定周期のパルス信号
がそれぞれトリガ信号として再トリガ型単安定マルチバ
イブレータＡ１，Ａ２…Ａｎに与える。該単安定マルチ
バイブレータＡ１，Ａ２…Ａｎの各Ｑ出力がＡＮＤゲー
トＫ１，Ｋ２…Ｋｎに与えられると、それぞれの出力が
“Ｈ”となってフリップフロップＬ１，Ｌ２…Ｌｎに入
力してＱ出力が“Ｈ”となって使用している基台の発光
ダイオードＬＥＤ１，ＬＥＤ２…ＬＥＤｎが点灯すると
共に、ＯＲゲート１１からＡＮＤゲートＫ１，Ｋ２…Ｋ
ｎそれぞれにパルス信号が入力される度に“Ｈ”が出力
されて使用機台数カウンタ１６に入力されてカウントさ
れ、単安定マルチバイブレータ１２の出力が“Ｈ”とな
った時に比較器１５が使用機台数カウンタ１６の計数値
と使用機台数設定器１４の設定値を比較して、いずれか
一方が大きい場合は使用機台に異常があることになり、
ＯＲゲート１７から“Ｈ”が出力され、ＡＮＤゲート１
８の出力も“Ｈ”となってフリップフロップＬ１，Ｌ２
…ＬｎをリセットしてＱ出力を“Ｌ”とし、発光ダイオ
ードＬＥＤ１，ＬＥＤ２…ＬＥＤｎを消燈する。そし
て、遅延タイマ２３から信号が出てＡＮＤゲート２４に
入力されて“Ｈ”が出力され、ＯＲゲート１３から
“Ｈ”が出力されて警報装置等により異常であると知ら
せるのである。
れ対応する被検知物体の移動動作を検出し、対応の被検
知物体が正常に動作していれば、一定周期のパルス信号
がそれぞれトリガ信号として再トリガ型単安定マルチバ
イブレータＡ１，Ａ２…Ａｎに与える。該単安定マルチ
バイブレータＡ１，Ａ２…Ａｎの各Ｑ出力がＡＮＤゲー
トＫ１，Ｋ２…Ｋｎに与えられると、それぞれの出力が
“Ｈ”となってフリップフロップＬ１，Ｌ２…Ｌｎに入
力してＱ出力が“Ｈ”となって使用している基台の発光
ダイオードＬＥＤ１，ＬＥＤ２…ＬＥＤｎが点灯すると
共に、ＯＲゲート１１からＡＮＤゲートＫ１，Ｋ２…Ｋ
ｎそれぞれにパルス信号が入力される度に“Ｈ”が出力
されて使用機台数カウンタ１６に入力されてカウントさ
れ、単安定マルチバイブレータ１２の出力が“Ｈ”とな
った時に比較器１５が使用機台数カウンタ１６の計数値
と使用機台数設定器１４の設定値を比較して、いずれか
一方が大きい場合は使用機台に異常があることになり、
ＯＲゲート１７から“Ｈ”が出力され、ＡＮＤゲート１
８の出力も“Ｈ”となってフリップフロップＬ１，Ｌ２
…ＬｎをリセットしてＱ出力を“Ｌ”とし、発光ダイオ
ードＬＥＤ１，ＬＥＤ２…ＬＥＤｎを消燈する。そし
て、遅延タイマ２３から信号が出てＡＮＤゲート２４に
入力されて“Ｈ”が出力され、ＯＲゲート１３から
“Ｈ”が出力されて警報装置等により異常であると知ら
せるのである。
【００１７】前記比較器１５が使用機台数カウンタ１６
の計数値と使用機台数設定器１４の設定値を比較して同
じであると、ＡＮＤゲート１９に入力されて“Ｈ”が出
力され、機台数確認カウンタ２２からフリップフロップ
２１のセット側に出力されて、そのＱ出力が“Ｈ”とな
ってＡＮＤゲート２４の入力となり、遅延タイマ２３か
ら信号が出てもＡＮＤゲート２４の出力は“Ｈ”とはな
らず異常信号が出ず、ＡＮＤゲート１８の反転入力端子
も“Ｈ”となり、ＡＮＤゲート１８の出力は“Ｌ”の状
態でありフリップフロップＬ１，Ｌ２…Ｌｎはリセット
されず発光ダイオードＬＥＤ１，ＬＥＤ２…ＬＥＤｎも
消燈せず、スイッチＳＷがＯＮとなり初期段階不良の確
認が終了するのである。
の計数値と使用機台数設定器１４の設定値を比較して同
じであると、ＡＮＤゲート１９に入力されて“Ｈ”が出
力され、機台数確認カウンタ２２からフリップフロップ
２１のセット側に出力されて、そのＱ出力が“Ｈ”とな
ってＡＮＤゲート２４の入力となり、遅延タイマ２３か
ら信号が出てもＡＮＤゲート２４の出力は“Ｈ”とはな
らず異常信号が出ず、ＡＮＤゲート１８の反転入力端子
も“Ｈ”となり、ＡＮＤゲート１８の出力は“Ｌ”の状
態でありフリップフロップＬ１，Ｌ２…Ｌｎはリセット
されず発光ダイオードＬＥＤ１，ＬＥＤ２…ＬＥＤｎも
消燈せず、スイッチＳＷがＯＮとなり初期段階不良の確
認が終了するのである。
【００１８】そして、このまま製造作業が続けられて、
各センサーＳ１，Ｓ２…Ｓｎにおいて異常がない限り、
再トリガ型単安定マルチバイブレータＡ１，Ａ２…Ａｎ
の各Ｑバー出力が“Ｌ”であるためＡＮＤゲートＢ１，
Ｂ２…Ｂｎは、“Ｌ”レベル信号を出力し、ＯＲゲート
１０からはスイッチＳＷを介して“Ｌ”レベル信号を出
力して被検知物体が正常に動作していることを示す。こ
の“Ｌ”レベル信号は発振制御機能回路Ｈから引き続き
スキャン発振器Ｆからクロック信号を発生させる。ま
た、カウンタＥはスキャン発振器Ｆから出力されたクロ
ック信号を計数し、その計数出力を表示器Ｊに表示させ
る。このようにして、各被検知物体が正常に動作してい
る限り、上述の動作を繰り返す。
各センサーＳ１，Ｓ２…Ｓｎにおいて異常がない限り、
再トリガ型単安定マルチバイブレータＡ１，Ａ２…Ａｎ
の各Ｑバー出力が“Ｌ”であるためＡＮＤゲートＢ１，
Ｂ２…Ｂｎは、“Ｌ”レベル信号を出力し、ＯＲゲート
１０からはスイッチＳＷを介して“Ｌ”レベル信号を出
力して被検知物体が正常に動作していることを示す。こ
の“Ｌ”レベル信号は発振制御機能回路Ｈから引き続き
スキャン発振器Ｆからクロック信号を発生させる。ま
た、カウンタＥはスキャン発振器Ｆから出力されたクロ
ック信号を計数し、その計数出力を表示器Ｊに表示させ
る。このようにして、各被検知物体が正常に動作してい
る限り、上述の動作を繰り返す。
【００１９】次に例えば、センサＳ１が対応する被検知
物体の異常動作を検出すると、このセンサＳ１から再ト
リガ型単安定マルチバイブレータＡ１に正常な周期的な
トリガ信号が与えられなくなり、再トリガ型単安定マル
チバイブレータＡ１の出力Ｑバーを“Ｈ”レベルにす
る。このため、リングカウンタＣのフリップフロップＣ
１の出力が“Ｈ”レベルになったとき、ＡＮＤゲートＢ
１からＯＲゲート１０に“Ｈ”レベル信号を出力し、ス
イッチＳＷ、ＯＲゲート１３を介して被検知物体が異常
であることを示す“Ｈ”レベル信号が出力される。
物体の異常動作を検出すると、このセンサＳ１から再ト
リガ型単安定マルチバイブレータＡ１に正常な周期的な
トリガ信号が与えられなくなり、再トリガ型単安定マル
チバイブレータＡ１の出力Ｑバーを“Ｈ”レベルにす
る。このため、リングカウンタＣのフリップフロップＣ
１の出力が“Ｈ”レベルになったとき、ＡＮＤゲートＢ
１からＯＲゲート１０に“Ｈ”レベル信号を出力し、ス
イッチＳＷ、ＯＲゲート１３を介して被検知物体が異常
であることを示す“Ｈ”レベル信号が出力される。
【００２０】そして、この“Ｈ”レベル信号はスイッチ
ＳＷより発振制御機能回路Ｈに入力されてスキャン発振
器Ｆの発振動作を停止させる。このため、カウンタＥは
計数動作を停止し、表示器ＪはセンサＳ１に対応する被
検知物体の番号を表示することになり、この表示を見て
被検知物体が異常であることもただちに知ることができ
るのである。
ＳＷより発振制御機能回路Ｈに入力されてスキャン発振
器Ｆの発振動作を停止させる。このため、カウンタＥは
計数動作を停止し、表示器ＪはセンサＳ１に対応する被
検知物体の番号を表示することになり、この表示を見て
被検知物体が異常であることもただちに知ることができ
るのである。
【００２１】
【発明の効果】本発明は以上の如く構成したので、次の
ような効果を奏するのである。即ち、作業開始時の初期
段階において、被検知物体の異常を検出することができ
るようになり、不良品が製造されることを未然に防ぐこ
とができ、点検も簡単に行うことができるようになった
のである。そして、通常の作業時においても異常となっ
た被検知物体が表示され、異常動作を行った被検知物体
を直ちに知ることができるのである。そして、この動作
監視装置はマルチバイブレータとＡＮＤゲート、ＯＲゲ
ート等で簡単に構成でき、コスト上昇も抑えることがで
きたのである。
ような効果を奏するのである。即ち、作業開始時の初期
段階において、被検知物体の異常を検出することができ
るようになり、不良品が製造されることを未然に防ぐこ
とができ、点検も簡単に行うことができるようになった
のである。そして、通常の作業時においても異常となっ
た被検知物体が表示され、異常動作を行った被検知物体
を直ちに知ることができるのである。そして、この動作
監視装置はマルチバイブレータとＡＮＤゲート、ＯＲゲ
ート等で簡単に構成でき、コスト上昇も抑えることがで
きたのである。
【図１】一実施例の具体的な動作監視装置のブロック図
である。
である。
【図２】細線検知部を示す図である。
Ａ1 ，Ａ２…Ａｎ 再トリガ型単安定マルチバイブレー
タ Ｂ１，Ｂ２…Ｂｎ ＡＮＤゲート Ｋ１，Ｋ２…Ｋｎ ＡＮＤゲート Ｌ１，Ｌ２…Ｌｎ フリップフロップ Ｓ１，Ｓ２…Ｓｎ センサー Ｃ リングカウンタ Ｅ カウンタ Ｇ 動作周期調整機能回路 Ｈ 発振制御機能回路 Ｆ スキャン発振器 Ｊ 表示器 ２０ スタート信号発生器 ２１ フリップフロップ ２２ カウンタ
タ Ｂ１，Ｂ２…Ｂｎ ＡＮＤゲート Ｋ１，Ｋ２…Ｋｎ ＡＮＤゲート Ｌ１，Ｌ２…Ｌｎ フリップフロップ Ｓ１，Ｓ２…Ｓｎ センサー Ｃ リングカウンタ Ｅ カウンタ Ｇ 動作周期調整機能回路 Ｈ 発振制御機能回路 Ｆ スキャン発振器 Ｊ 表示器 ２０ スタート信号発生器 ２１ フリップフロップ ２２ カウンタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01V 8/10 G06T 1/00 G06T 7/00 G06T 7/20
Claims (1)
- 【請求項１】 複数の被検知物体の動作をセンサーによ
り検知して周期的パルスを発生させ、該周期的パルスの
周期が設定された周期トリガ信号と比較して監視する動
作監視装置において、初期段階で動作すべき被検知体の
数を使用機台数設定器（１４）で設定し、実際に動作し
ている被検知物の数を使用機台数カウンタ（１６）で計
数し、両数を比較器（１５）に入力して比較して、同一
でない場合は異常を表示するとともに、同一の場合に
は、この被検知物を以後の被検知物体数として記憶し
て、この数と使用機台数カウンタ（１６）の計数値を比
較して異常を表示するようにしたことを特徴とする動作
監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP739193A JP3237086B2 (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | 動作監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP739193A JP3237086B2 (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | 動作監視装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06214049A JPH06214049A (ja) | 1994-08-05 |
| JP3237086B2 true JP3237086B2 (ja) | 2001-12-10 |
Family
ID=11664625
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP739193A Expired - Fee Related JP3237086B2 (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | 動作監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3237086B2 (ja) |
-
1993
- 1993-01-20 JP JP739193A patent/JP3237086B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06214049A (ja) | 1994-08-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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