JP3234803B2 - 光導波路素子 - Google Patents
光導波路素子Info
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Description
し、特に、LiNbO3 基板にTiの拡散により形成さ
れた光導波路(Ti拡散型LiNbO3 導波路)上に偏
光子を搭載した光導波路素子に関する。
閉じ込め、そのエネルギーの流れを経路の軸に平行に案
内して伝搬させる機能を有する。そのため、現在では、
光ファイバケーブルで代表される光の導波線路を光導波
路に変えることによって、光学部品の小型化を図るよう
にしている。
系、InP系の半導体導波路、Si上に酸化膜を形成し
たり、ガラス基板を用いる誘電体(ガラス)導波路、L
iNbO3 やLiTaO3 結晶で構成した強誘電体結晶
導波路がある。
波路を伝送する光ビームに電極を通じて情報を乗せるよ
うな光学素子としては、優れた電気光学特性を有するL
iNbO3 結晶にTiを拡散させたTi拡散型LiNb
O3 導波路が用いられる。
については、前記光導波路上に誘電体膜を介してAl膜
が形成されたものが、通常用いられている。
板上に厚さ数100Åの金属Ti膜を形成し、1000
℃程度の温度で4〜10時間の熱拡散操作を経て作製さ
れる。
の、例えば、HfO2 等の誘電体膜を蒸着やスパッタリ
ング等の成膜手法を用いて形成し、その上に数百〜数千
ÅのAl膜を同じく蒸着やスパッタリング等の成膜手法
を用いて形成することにより偏光子が作製される。
荷型偏光子では、長期間の使用により熱サイクル、熱衝
撃が加えられると、基板とAl膜が剥離し、偏光子とし
て働かなくなるという問題があった。また、剥離の際、
誘電体膜は、界面の付着強度に応じて、LiNbO3 基
板側に付着したままであったり、Al膜に付着したまま
であったり、或いは部分的にはその両方であったりする
という問題もあった。
金属装荷型偏光子を使用する際に、熱サイクル等による
Al膜の剥離がなく、また、偏光子特性等の劣化の少な
い改良された偏光子が搭載された光導波路素子を提供す
ることを目的とする。
は、LiNbO3 基板上にTiの拡散による光導波路が
形成された光導波路素子において、前記光導波路上に誘
電体膜を介してAl膜が形成され、さらにその上に、A
l膜より小さく基板に近い線膨張率を有する金属膜が形
成された偏光子を設けることを特徴とする。この場合、
金属膜を形成する金属としては、所望の線膨張率を有す
るものであれば、その種類を限定するものではない。
膜の線膨張係数が基板の平面方向の線膨張係数の2倍弱
と大きく、このため、素子使用時の熱サイクル、熱衝撃
により剥離するものと考えられる。これに対して本発明
に係る光導波路素子では、Al膜上にさらに、線膨張係
数が基板の平面方向のそれに近い金属膜を形成すること
により、熱応力による偏光子の剥離が解消される。
り、光導波路素子の劣化が軽減される。ここで、光導波
路素子の劣化とは、光導波路素子の評価方法として、Y
形状分岐を有する光導波路素子を高温高湿下で長時間保
持する信頼性試験を行った後、光導波路の損失特性およ
び偏光子の偏光消光比特性を測定して劣化判定を行った
結果をいう。具体的には、光導波路素子を温度75℃、
湿度93%の試験装置に配置し192時間保持する信頼
性試験の前後における光導波路の損失上昇分および偏光
消光比劣化分を評価した結果をいい、本発明に係る光導
波路素子では、この劣化度合いが少ないことが判明し
た。
して二以上の多層膜を用いることを特徴とする。金属膜
の金属の種類としては、基板の平面方向の線膨張係数と
金属膜の線膨張係数とができるだけ近いものが望まし
く、Al膜上にCr膜を中間層としてAu膜を搭載した
ものや、Al膜上にTiNを中間層としてTi膜を搭載
したもの等を用いることができる。但し、これに限定す
るものではなく、材料費や加工性等を考慮し、または光
導波路素子の使用環境を勘案したうえで適宜金属の種類
を選定することができる。
環境に応じた耐剥離性の調整、所望の積層厚みの調整等
を自由に行うことができる。
に接する金属膜としてTi膜を用いることを特徴とす
る。
用いたものが、耐剥離性の面からは最も好適である。こ
れは、LiNbO3 基板の線膨張係数が基板の三次元方
向で異なることに起因する。通常、金属膜に用いる金属
としては、基板の平面方向の線膨張係数(室温で約14
×10-6/℃)に近い線膨張係数を持つ金属を用いれば
十分であるが、耐剥離性を最大限に発揮するには基板の
平面方向に垂直な方向の線膨張係数(室温で約4×10
-6/℃)をも考慮し、両者の中間値の線膨張係数(室温
で約9×10-6/℃)を持つTiが最も望ましい。
及び光導波路素子の製造方法を図1〜図3を参照しなが
ら説明する。なお、基板および各膜の形成方法、形成条
件は、定法による。
を示す。この光導波路素子20は、LiNbO3 基板1
0に所定形状の光導波路12が形成されており、該光導
波路12上に偏光子13、位相変調器14が搭載されて
いる。なお、LiNbO3 基板10の平面方向とは、L
iNbO3 基板10の平面の長さ(Y方向)および幅方
向(Z方向)をいう。
基板10のサイズは、幅(Z方向)が約3mm、光導波
路12の長さ方向(Y方向)が約30mmであり、偏光
子13のサイズは、光導波路12の長さ方向(Y方向)
に対応する部分が約1mm、光導波路12の幅方向(Z
方向)に対応する部分が約2mmである。
る。光導波路素子20は、LiNbO 3 基板10に所定
形状の光導波路12が形成されており、光導波路12上
に誘電体膜15、Al膜16およびTi膜17から形成
される偏光子13が搭載されている。ここで、誘電体膜
15としては、HfO2 を用いた。なお、LiNbO3
基板10の垂直方向とは、LiNbO3 基板10の厚み
方向(X方向)をいう。
約1mmであり、光導波路12の幅、深さはともに数μ
mである。光導波路12上に積層される各膜の厚みは、
誘電体膜15が400Å、Al膜16が5000Å、T
i膜17が1000Åである。
路素子40を示す。この光導波路素子40は、LiNb
O3 基板30に所定形状の光導波路32が形成されてお
り、光導波路32上に誘電体膜35、Al膜36および
Ti膜37が形成され、さらにTi膜37上にPt膜3
8、Au膜39が形成された偏光子33が搭載されてい
る。
約1mmであり、光導波路32の幅、深さはともに数μ
mである。光導波路32上に積層されて偏光子33を構
成する各膜の厚みは、誘電体膜35が400Å、Al膜
36が3000Å、Ti膜37が400Åである。さら
にTi膜37上に形成されるPt膜38の厚みは200
Å、Au膜39の厚みは3000Åである。
導波路素子20、40を温度75℃、湿度93%の環境
下において、192時間保持した信頼性試験前後での光
導波路12、32の損失の増加は約0.3dB程度であ
り、また、偏光消光比の劣化は約1dB程度であり、と
もに許容できる範囲内であった。さらに、これらの光導
波路素子20、40について、信頼性試験後に目視観察
を行った結果、偏光子部分の劣化は見られなかった。さ
らにこれに対し、誘電体膜を介してAl膜を形成した従
来のものでは、偏光子部分のAl膜に部分的な白濁や剥
離が見られた。また、この従来の光導波路素子の偏光子
部分の劣化判定を行ったところ、光導波路の損失の増加
は1dB以上であり、また、偏光消光比の劣化は5dB
以上であり、顕著な劣化傾向が見られた。
では、光導波路素子の劣化を軽減させるために、Al膜
に接する金属膜の金属の種類として、Tiの他、Ti
N、TiW、WSi等を用いることができる。また、本
発明に係る光導波路素子を、高湿度環境下(例えば湿度
95%)で、所定時間(例えば1000時間)以上保持
した場合においても、顕著なAl膜の酸化の進行が認め
られず、かつ、導波路特性および偏光子特性が劣化しな
い、すなわち、耐湿度性が高いという結果が得られた。
波路素子は、線膨張率の異なる基板とAl膜で構成され
る偏光子において、Al膜上にさらに基板の線膨張率に
近い線膨張率をもつ金属膜を形成する。
による応力発生下において、Al膜の剥離を防止すると
ともに、光導波路特性および偏光子特性の劣化を軽減さ
せるという効果が得られる。
面図である。
る。
光導波路素子の縦断面図である。
波路 13、33…偏光子 14…位相変調器 15、35…誘電体膜 16、36…Al
膜 17、37…Ti膜 20、40…光導
波路素子 38…Pt膜 39…Au膜
Claims (3)
- 【請求項1】LiNbO3 基板上にTiの拡散による光
導波路が形成された光導波路素子において、前記光導波
路上に誘電体膜を介してAl膜が形成され、さらにその
上に、Al膜より小さく基板に近い線膨張率を有する金
属膜が形成された偏光子を設けたことを特徴とする光導
波路素子。 - 【請求項2】金属膜が、二以上の多層膜からなることを
特徴とする請求項1記載の光導波路素子。 - 【請求項3】Al膜に接する金属膜が、Ti膜であるこ
とを特徴とする請求項1または2記載の光導波路素子。
Priority Applications (1)
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JP34551397A JP3234803B2 (ja) | 1997-12-15 | 1997-12-15 | 光導波路素子 |
Applications Claiming Priority (1)
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JPH11174248A JPH11174248A (ja) | 1999-07-02 |
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ID=18377098
Family Applications (1)
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JP34551397A Expired - Lifetime JP3234803B2 (ja) | 1997-12-15 | 1997-12-15 | 光導波路素子 |
Country Status (1)
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-
1997
- 1997-12-15 JP JP34551397A patent/JP3234803B2/ja not_active Expired - Lifetime
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