JP3227171B2 - 量子ビームの波動性と粒子性とを観測するための方法及びそれに用いられる測定装置 - Google Patents
量子ビームの波動性と粒子性とを観測するための方法及びそれに用いられる測定装置Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、測定方法、特に量
子ビームの波動性と粒子性とを観測するための方法、及
びそれに用いられる測定装置に関する。
子ビームの波動性と粒子性とを観測するための方法、及
びそれに用いられる測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】量子力学の基本概念の一つに、光子、電
子、中性子等の量子に関する波動性と粒子性の２重性が
ある。従来それらの性質を同時に観測する試みが各種な
されてきた。しかしたとえばヤングの干渉実験におい
て、粒子性を観測すべく光子が２つのピンホールのどち
らを通過したかを検知する様な構成に改造して測定を行
なうと今度は干渉縞が得られなくなってしまう。これら
の試みは未だ成功しておらず、不確定性原理に基くと、
これら２重性の同時観測は不可能であるとされてきた
〔Ｄ．Ｂｏｈｍ，Ｑｕａｎｔｕｍ Ｔｈｅｏｒｙ（Ｐｒ
ｅｎｔｉｃｅ Ｈａｌｌ，Ｎｅｗ Ｙｏｒｋ，１９５
１），ｐ．１１８：Ｄ．Ｈａｕｓｃｈｉｌｄｔ，Ｐｒｏ
ｂｌｅｍｓ ｉｎ Ｑｕａｎｔｕｍ Ｐｈｙｓｉｃｓ
ＩＩ；Ｇｄａｎｓｋ’８９，ｅｄｉｔｅｄ ｂｙ Ｊ．
Ｍｉｚｅｒｓｋｉ ｅｔ．ａｌ．（Ｗｏｒｌｄ Ｓｃｉ
ｅｎｔｉｆｉｃ Ｐｕｂｌｉｓｈｉｎｇ，Ｓｉｎｇａｐ
ｏｒｅ，１９９０），ｐ．３０８．〕。従って、先のヤ
ングの干渉実験において、光子は２つのピンホールを同
時に通過すると解釈されている。プリーゴーとマンデル
は二つのレーザ光源からの個々の光子レベルでの干渉現
象を観測した〔Ｒ．Ｌ．Ｐｆｌｅｅｇｏｒ ａｎｄ
Ｌ．Ｍａｎｄｅｌ，Ｐｈｙｓ，Ｒｅｖ．１５９（１９６
７），１０８４．〕が、この場合もおのおのの光子は両
方の光源から同時に発せられたと解釈されている〔長崎
正幸、自然２４〔５〕、（１９６９）、ｐ．７３．〕。
子、中性子等の量子に関する波動性と粒子性の２重性が
ある。従来それらの性質を同時に観測する試みが各種な
されてきた。しかしたとえばヤングの干渉実験におい
て、粒子性を観測すべく光子が２つのピンホールのどち
らを通過したかを検知する様な構成に改造して測定を行
なうと今度は干渉縞が得られなくなってしまう。これら
の試みは未だ成功しておらず、不確定性原理に基くと、
これら２重性の同時観測は不可能であるとされてきた
〔Ｄ．Ｂｏｈｍ，Ｑｕａｎｔｕｍ Ｔｈｅｏｒｙ（Ｐｒ
ｅｎｔｉｃｅ Ｈａｌｌ，Ｎｅｗ Ｙｏｒｋ，１９５
１），ｐ．１１８：Ｄ．Ｈａｕｓｃｈｉｌｄｔ，Ｐｒｏ
ｂｌｅｍｓ ｉｎ Ｑｕａｎｔｕｍ Ｐｈｙｓｉｃｓ
ＩＩ；Ｇｄａｎｓｋ’８９，ｅｄｉｔｅｄ ｂｙ Ｊ．
Ｍｉｚｅｒｓｋｉ ｅｔ．ａｌ．（Ｗｏｒｌｄ Ｓｃｉ
ｅｎｔｉｆｉｃ Ｐｕｂｌｉｓｈｉｎｇ，Ｓｉｎｇａｐ
ｏｒｅ，１９９０），ｐ．３０８．〕。従って、先のヤ
ングの干渉実験において、光子は２つのピンホールを同
時に通過すると解釈されている。プリーゴーとマンデル
は二つのレーザ光源からの個々の光子レベルでの干渉現
象を観測した〔Ｒ．Ｌ．Ｐｆｌｅｅｇｏｒ ａｎｄ
Ｌ．Ｍａｎｄｅｌ，Ｐｈｙｓ，Ｒｅｖ．１５９（１９６
７），１０８４．〕が、この場合もおのおのの光子は両
方の光源から同時に発せられたと解釈されている〔長崎
正幸、自然２４〔５〕、（１９６９）、ｐ．７３．〕。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この様にこれら量子の
干渉実験において、量子が干渉計の２つの通路のどちら
を通ったかという事を観測しつつ干渉縞の形成も観測す
るという粒子性と波動性の同時観測ができず、上述のよ
うな解釈をするしか無かった。
干渉実験において、量子が干渉計の２つの通路のどちら
を通ったかという事を観測しつつ干渉縞の形成も観測す
るという粒子性と波動性の同時観測ができず、上述のよ
うな解釈をするしか無かった。
【０００４】本発明の目的は、不確定性原理に基づく従
来技術ではいかなる意味でもできなかった量子干渉にお
ける通路の決定と、干渉縞の観測を統計的な意味で同時
に行なえるようにする方法と、このような方法を実現す
る測定装置を提供することにある。
来技術ではいかなる意味でもできなかった量子干渉にお
ける通路の決定と、干渉縞の観測を統計的な意味で同時
に行なえるようにする方法と、このような方法を実現す
る測定装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決する為の手段】本発明は、角度差を以って
伝播する二量子ビームを所定面上に設定された二つの同
形開口領域に、二量子ビームによって形成される干渉縞
の明縞の本数が該開口領域で互いに異なるように調整し
た上で、重ね合わせた状態で入射させ、前記二つの開口
領域それぞれについて出射する二量子ビームをその伝播
方向に応じて異なった位置に収束させて個別の量子ビー
ムに分離する行程と、伝播方向に応じて分離された個別
の量子ビームそれぞれを検出するための一対の検出手段
を各々有する、前記二つの開口領域の各領域に対応した
二系統の検出部を用い、各検出手段で検出されたそれぞ
れの量子ビームの伝播方向に対応する通過経路を判別す
ることにより量子ビームの粒子性を検出するための第一
検出行程と、前記所定面における量子ビームの干渉縞発
生を、前記二系統の検出部それぞれで得られる一対の検
出手段の出力和同士の比較に基づいて、前記二つの開口
領域の各領域に対応した量子ビームの受光量の偏りとし
て検出することにより量子ビームの波動性を検出するた
めの第二検出行程とを有することを特徴とする。
伝播する二量子ビームを所定面上に設定された二つの同
形開口領域に、二量子ビームによって形成される干渉縞
の明縞の本数が該開口領域で互いに異なるように調整し
た上で、重ね合わせた状態で入射させ、前記二つの開口
領域それぞれについて出射する二量子ビームをその伝播
方向に応じて異なった位置に収束させて個別の量子ビー
ムに分離する行程と、伝播方向に応じて分離された個別
の量子ビームそれぞれを検出するための一対の検出手段
を各々有する、前記二つの開口領域の各領域に対応した
二系統の検出部を用い、各検出手段で検出されたそれぞ
れの量子ビームの伝播方向に対応する通過経路を判別す
ることにより量子ビームの粒子性を検出するための第一
検出行程と、前記所定面における量子ビームの干渉縞発
生を、前記二系統の検出部それぞれで得られる一対の検
出手段の出力和同士の比較に基づいて、前記二つの開口
領域の各領域に対応した量子ビームの受光量の偏りとし
て検出することにより量子ビームの波動性を検出するた
めの第二検出行程とを有することを特徴とする。
【０００６】
【０００７】更に本発明は、角度差を以って伝播する二
量子ビームを重ね合わせた際に該二量子ビームによって
形成される干渉縞の明縞の本数が互いに異なるように入
射されるべき、所定面上の二つの同形開口領域を規定す
る開口手段と、前記二つの開口領域それぞれについて出
射する二量子ビームをその伝播方向に応じて異なった位
置に収束させて個別の量子ビームに分離する分離手段
と、伝播方向に応じて分離された個別の量子ビームそれ
ぞれを検出するための一対の検出手段を各々設けた前記
二つの開口領域の各領域に対応した二系統の検出部と、
各検出手段で検出されたそれぞれの量子ビームの伝播方
向に対応する通過経路を判別することにより量子ビーム
の粒子性を検出するための第一検出行程、及び前記所定
面における量子ビームの干渉縞発生を、前記二系統の検
出部それぞれで得られる一対の検出手段の出力和同士の
比較に基づいて、前記二つの開口領域の各領域に対応し
た量子ビームの受光量の偏りとして検出することにより
量子ビームの波動性を検出するための第二検出行程とを
実行する手段とを有することを特徴とする。
量子ビームを重ね合わせた際に該二量子ビームによって
形成される干渉縞の明縞の本数が互いに異なるように入
射されるべき、所定面上の二つの同形開口領域を規定す
る開口手段と、前記二つの開口領域それぞれについて出
射する二量子ビームをその伝播方向に応じて異なった位
置に収束させて個別の量子ビームに分離する分離手段
と、伝播方向に応じて分離された個別の量子ビームそれ
ぞれを検出するための一対の検出手段を各々設けた前記
二つの開口領域の各領域に対応した二系統の検出部と、
各検出手段で検出されたそれぞれの量子ビームの伝播方
向に対応する通過経路を判別することにより量子ビーム
の粒子性を検出するための第一検出行程、及び前記所定
面における量子ビームの干渉縞発生を、前記二系統の検
出部それぞれで得られる一対の検出手段の出力和同士の
比較に基づいて、前記二つの開口領域の各領域に対応し
た量子ビームの受光量の偏りとして検出することにより
量子ビームの波動性を検出するための第二検出行程とを
実行する手段とを有することを特徴とする。
【０００８】
【実施例】本発明の第一の実施例を図１に示す。同図は
量子ビームとしてレーザー光を選んだ場合を示す。また
干渉計としてはマイケルソン干渉計を用いた。１は波長
６３３ｎｍのＨｅ−Ｎｅレーザー、２はレーザービー
ム、３は例えば顕微鏡対物レンズでコリメーターレンズ
４の前側焦点位置に点光源を発生させ、従って、コリメ
ーターレンズ４からは、拡張された平行光束５が出射す
る。６は半透鏡で入射光束を１：１に分割し、反射鏡
７、８に導く。９は半透鏡６を透過後、鏡７、半透鏡６
で夫々反射された平行光束、１０は半透鏡６と鏡８で反
射した後、半透鏡６を透過した平行光束で（光束１０は
破線で示す）、光束９と１０が重なった空間には、干渉
縞が生成する。１１は干渉縞の観測面を兼ねるスクリー
ンであり、同観測面上には次式で示す干渉縞が存在す
る。
量子ビームとしてレーザー光を選んだ場合を示す。また
干渉計としてはマイケルソン干渉計を用いた。１は波長
６３３ｎｍのＨｅ−Ｎｅレーザー、２はレーザービー
ム、３は例えば顕微鏡対物レンズでコリメーターレンズ
４の前側焦点位置に点光源を発生させ、従って、コリメ
ーターレンズ４からは、拡張された平行光束５が出射す
る。６は半透鏡で入射光束を１：１に分割し、反射鏡
７、８に導く。９は半透鏡６を透過後、鏡７、半透鏡６
で夫々反射された平行光束、１０は半透鏡６と鏡８で反
射した後、半透鏡６を透過した平行光束で（光束１０は
破線で示す）、光束９と１０が重なった空間には、干渉
縞が生成する。１１は干渉縞の観測面を兼ねるスクリー
ンであり、同観測面上には次式で示す干渉縞が存在す
る。
【０００９】 Ｉ（ｘ，ｙ）＝Ｉm［１＋ｃｏｓ（ｋθｘ＋δ）］／２…（１）
【００１０】（１）式において、ｋ＝２π／λ，δは一
定の位相項、θ（θ＜＜１）は、光束９と１０がなす角
度（即ちここでは鏡８における光束１０の入射方向と反
射方向のなす角度）、Ｉmは干渉縞の最大強度である。
図２にスクリーン１１の平面図を示す。図２に示したよ
うにスクリーン１１上には幅４ａ、高さ２ｂの矩形開口
２９を設ける。この開口の直後に、２枚の光学楔１２、
１３を、薄い方の端部同士接合し、接合面１４が前記矩
形開口を２等分するように配置する。本実施例では２ａ
＝１５ｍｍ，２ｂ＝２５ｍｍ、楔角１１．４′である。
図１に戻り、楔１２、１３の直後に焦点距離ｆ＝５００
ｍｍのコリメーターレンズ１５を置く。従って、スクリ
ーン面１１に入射した光束は、矩形開口により回折さ
れ、光学楔により±５．９′偏向され、レンズ１５によ
り、焦点面２０上の２組の焦点（２１、２２）、（２
３、２４）上に収束する。焦点２１、２３は光束９によ
る焦点、焦点２２、２４は光束１０による焦点である。
焦点面上に入射した光は、各焦点２１〜２４のそれぞれ
の周囲にフラウンホーファー回折パターンＩ（２１），
Ｉ（２２），Ｉ（２３），Ｉ（２４）となって分布する
はずである。
定の位相項、θ（θ＜＜１）は、光束９と１０がなす角
度（即ちここでは鏡８における光束１０の入射方向と反
射方向のなす角度）、Ｉmは干渉縞の最大強度である。
図２にスクリーン１１の平面図を示す。図２に示したよ
うにスクリーン１１上には幅４ａ、高さ２ｂの矩形開口
２９を設ける。この開口の直後に、２枚の光学楔１２、
１３を、薄い方の端部同士接合し、接合面１４が前記矩
形開口を２等分するように配置する。本実施例では２ａ
＝１５ｍｍ，２ｂ＝２５ｍｍ、楔角１１．４′である。
図１に戻り、楔１２、１３の直後に焦点距離ｆ＝５００
ｍｍのコリメーターレンズ１５を置く。従って、スクリ
ーン面１１に入射した光束は、矩形開口により回折さ
れ、光学楔により±５．９′偏向され、レンズ１５によ
り、焦点面２０上の２組の焦点（２１、２２）、（２
３、２４）上に収束する。焦点２１、２３は光束９によ
る焦点、焦点２２、２４は光束１０による焦点である。
焦点面上に入射した光は、各焦点２１〜２４のそれぞれ
の周囲にフラウンホーファー回折パターンＩ（２１），
Ｉ（２２），Ｉ（２３），Ｉ（２４）となって分布する
はずである。
【００１１】幅２ａ，高さ２ｂのフラウンホーファー回
折パターンは、次式
折パターンは、次式
【００１２】
【外１】 で与えられる。ここでＵ（Ｐ）は振幅分布、Ｉoはパタ
ーンの中心強度である。Ｉ（２１）〜Ｉ（２４）をそれ
ぞれ焦点２１〜２４付近の回折強度分布とすると光学楔
により十分偏向された２組の回折強度分布（Ｉ（２
１），Ｉ（２２））と（Ｉ（２３），Ｉ（２４））は、
焦点面２０上で約１．７ｍｍ離れており、相互の干渉は
無視できる。焦点２１〜２４に集光した夫々の光束は、
（２）式で与えられる強度分布の中心の山の幅（ここで
は
ーンの中心強度である。Ｉ（２１）〜Ｉ（２４）をそれ
ぞれ焦点２１〜２４付近の回折強度分布とすると光学楔
により十分偏向された２組の回折強度分布（Ｉ（２
１），Ｉ（２２））と（Ｉ（２３），Ｉ（２４））は、
焦点面２０上で約１．７ｍｍ離れており、相互の干渉は
無視できる。焦点２１〜２４に集光した夫々の光束は、
（２）式で与えられる強度分布の中心の山の幅（ここで
は
【００１３】
【外２】 に相当するスリット開口をもつディテクター２５〜２８
で測定する。実際に用いたスリット幅は４０μｍでこれ
は中心の山の幅の９５％に当たる。これらのディテクタ
ー２５〜２８の出力値をＩ〔２１〕，Ｉ［２２］，Ｉ
［２３］，Ｉ［２４］とする。この前面に開口２９を有
する楔１２、１３、レンズ１５、ティテクター２５〜２
８が１組の光束分割分離測光系を形成する。尚開口２９
の位置は楔１２、１３の後側でも良い。
で測定する。実際に用いたスリット幅は４０μｍでこれ
は中心の山の幅の９５％に当たる。これらのディテクタ
ー２５〜２８の出力値をＩ〔２１〕，Ｉ［２２］，Ｉ
［２３］，Ｉ［２４］とする。この前面に開口２９を有
する楔１２、１３、レンズ１５、ティテクター２５〜２
８が１組の光束分割分離測光系を形成する。尚開口２９
の位置は楔１２、１３の後側でも良い。
【００１４】光の粒子性と波動性の同時測定のために事
前に干渉計を２段階で調整する。その調整とは干渉縞の
観測面上における２つの同形の矩形開口Ａｅ，Ａｒ（図
２で示す）と、（１）式で与えられる干渉縞とのｘ軸上
における相対的位置関係の調整である。調整の第一段階
は、開口の幅２ａ内に含まれる干渉縞の本数Ｎを奇数の
１／２、即ち
前に干渉計を２段階で調整する。その調整とは干渉縞の
観測面上における２つの同形の矩形開口Ａｅ，Ａｒ（図
２で示す）と、（１）式で与えられる干渉縞とのｘ軸上
における相対的位置関係の調整である。調整の第一段階
は、開口の幅２ａ内に含まれる干渉縞の本数Ｎを奇数の
１／２、即ち
【００１５】Ｎ＝２ａ／ｌ＝（２ｎ＋１）／２…（３）
【００１６】とすることである。ここでｎ＝０，１，２
…とし、ｌ＝λ／θは（１）式の干渉縞の１周期の長さ
である。この調節は、たとえばミラー８の傾きを調整す
る事により可能となる。第２の調整は干渉縞のピーク位
置を一方の開口Ａｅの中心に位置させる事である。この
時他方の開口の中心位置には干渉縞のボトムが位置する
ようになる。この調整は、たとえばミラー８を光束１０
方向に前後することにより可能となる。これらミラー８
の傾き、位置調整は周知のアクチュエータ８ａで行な
う。図３はこの時の開口２９上での光強度Ｉ（ｘ）の分
布を示す。図３の場合はｎ＝２，従って一つの開口に含
まれる干渉縞の周期は、２．５周期となっている。図３
で示される様に開口Ａｅには明縞が３本、開口Ａｒには
２本できる。以上ですべての調整を終る。
…とし、ｌ＝λ／θは（１）式の干渉縞の１周期の長さ
である。この調節は、たとえばミラー８の傾きを調整す
る事により可能となる。第２の調整は干渉縞のピーク位
置を一方の開口Ａｅの中心に位置させる事である。この
時他方の開口の中心位置には干渉縞のボトムが位置する
ようになる。この調整は、たとえばミラー８を光束１０
方向に前後することにより可能となる。これらミラー８
の傾き、位置調整は周知のアクチュエータ８ａで行な
う。図３はこの時の開口２９上での光強度Ｉ（ｘ）の分
布を示す。図３の場合はｎ＝２，従って一つの開口に含
まれる干渉縞の周期は、２．５周期となっている。図３
で示される様に開口Ａｅには明縞が３本、開口Ａｒには
２本できる。以上ですべての調整を終る。
【００１７】次に粒子性と波動性の測定について説明す
る。測定はＩ［２５］〜Ｉ［２８］を入力されたプロセ
ッサー１００により行なう。後述する他の実施例ではプ
ロセッサーを省略する。
る。測定はＩ［２５］〜Ｉ［２８］を入力されたプロセ
ッサー１００により行なう。後述する他の実施例ではプ
ロセッサーを省略する。
【００１８】出力Ｉ［２５］とＩ［２７］は、光束９に
より形成される強度分布Ｉ（２５）とＩ（２７）の中心
ピークの光強度の測定値であり、この出力に寄与してい
る光子は、光路９を通ったと結論される。同様に、出力
Ｉ［２６］とＩ［２８］は光路１０を通ったと結論でき
る。従ってＩ［２５］とＩ［２７］、Ｉ［２６］とＩ
［２８］、それぞれの組の出力別に光子をカウントする
事により光路９、１０各々の光子の通過状態がわかり、
光の粒子性が確認される。但しこの測定には若干の誤差
が含まれる。それについて図４を用いて説明する。図４
はＩ（２５）（実線）とＩ（２６）（破線）の回折強度
分布を示す。厳密に云えば図４に示すようにＩ（２５）
とＩ（２６）は強度分布のすそが重なり合っており、相
互に干渉を起す。即ち真の強度分布はＩ（２５）＝｜Ｕ
（２５）｜2，Ｉ（２６）＝｜Ｕ（２６）｜2として、Ｉ
act＝｜Ｕ（２５）＋Ｕ（２６）｜2で与えられる。この
様に、出力Ｉ［２５］には、光路１０を通った光子が数
％まぎれ込む。出力Ｉ［２５］を、光束９、１０の夫々
にどう振り分けるかを考えた時、局所的なエネルギー保
存、あるいはビームレシオの保存の観点からみて夫々の
強度分布が干渉することなく独立に存在するとした図４
の分布に基づいて計算するのが最も合理的である。従っ
て観測点２５を中心にスリット巾−０．９５π≦Ｘ′≦
０．９５πの範囲でＩ（２５）を示す式（ｓｉｎｃ
Ｘ′）2≡（ｓｉｎＸ′／Ｘ′）2とＩ（２６）を示す式
｛ｓｉｎｃ（Ｘ′−２．５π）｝2との定積分を比較す
ると、結局、出力Ｉ［２５］に寄与する光子として、光
路９を通ったものは、９８．１％であることがわかる。
尚、ここでｋａｘ′＝Ｘ′の変換を行なった。他の出力
Ｉ［２６］〜Ｉ［２８］についても、主に寄与する光子
の割合は同様に９８．１％である。従って本装置におけ
る光子の光路確定の正確度は９８．１％となる。ちなみ
に測定では９７．３％であった。
より形成される強度分布Ｉ（２５）とＩ（２７）の中心
ピークの光強度の測定値であり、この出力に寄与してい
る光子は、光路９を通ったと結論される。同様に、出力
Ｉ［２６］とＩ［２８］は光路１０を通ったと結論でき
る。従ってＩ［２５］とＩ［２７］、Ｉ［２６］とＩ
［２８］、それぞれの組の出力別に光子をカウントする
事により光路９、１０各々の光子の通過状態がわかり、
光の粒子性が確認される。但しこの測定には若干の誤差
が含まれる。それについて図４を用いて説明する。図４
はＩ（２５）（実線）とＩ（２６）（破線）の回折強度
分布を示す。厳密に云えば図４に示すようにＩ（２５）
とＩ（２６）は強度分布のすそが重なり合っており、相
互に干渉を起す。即ち真の強度分布はＩ（２５）＝｜Ｕ
（２５）｜2，Ｉ（２６）＝｜Ｕ（２６）｜2として、Ｉ
act＝｜Ｕ（２５）＋Ｕ（２６）｜2で与えられる。この
様に、出力Ｉ［２５］には、光路１０を通った光子が数
％まぎれ込む。出力Ｉ［２５］を、光束９、１０の夫々
にどう振り分けるかを考えた時、局所的なエネルギー保
存、あるいはビームレシオの保存の観点からみて夫々の
強度分布が干渉することなく独立に存在するとした図４
の分布に基づいて計算するのが最も合理的である。従っ
て観測点２５を中心にスリット巾−０．９５π≦Ｘ′≦
０．９５πの範囲でＩ（２５）を示す式（ｓｉｎｃ
Ｘ′）2≡（ｓｉｎＸ′／Ｘ′）2とＩ（２６）を示す式
｛ｓｉｎｃ（Ｘ′−２．５π）｝2との定積分を比較す
ると、結局、出力Ｉ［２５］に寄与する光子として、光
路９を通ったものは、９８．１％であることがわかる。
尚、ここでｋａｘ′＝Ｘ′の変換を行なった。他の出力
Ｉ［２６］〜Ｉ［２８］についても、主に寄与する光子
の割合は同様に９８．１％である。従って本装置におけ
る光子の光路確定の正確度は９８．１％となる。ちなみ
に測定では９７．３％であった。
【００１９】次に波動性の測定について説明する。
【００２０】比Ｒ2≡（Ｉ［２５］＋Ｉ［２６］）／
（Ｉ［２７］＋Ｉ［２８］）を設定したときこの比は開
口Ａｅと開口Ａｒを通った光量の比即ちＲ1≡Ｉ［Ａ
ｅ］／Ｉ［Ａｒ］に等しいはずである。Ｒ1については
図３からわかるように、干渉縞が存在すれば開口Ａｅ、
Ａｒで明縞の数に偏りがあるのでＲ1＝１にはならな
い。具体的にはＲ1＝１．２９になる。干渉縞が存在し
なけばＲ1＝１．０になる。実測値Ｉ［２５］＝３９．
３μＷ，Ｉ［２６］＝４０．３μＷ，Ｉ［２７］＝３
０．０μＷ，Ｉ［２８］＝３１．５μＷからＲ2＝１．
２９が得られた。この光量の偏りにより開口２９部で干
渉縞の発生が確認された事になる。念の為、ビーム９、
１０を独立に入射させた時の出力からは、Ｒ2＝１．０
４±０．０１が得られた。この結果は観測面１１上に干
渉縞が存在していることを示す事になる。
（Ｉ［２７］＋Ｉ［２８］）を設定したときこの比は開
口Ａｅと開口Ａｒを通った光量の比即ちＲ1≡Ｉ［Ａ
ｅ］／Ｉ［Ａｒ］に等しいはずである。Ｒ1については
図３からわかるように、干渉縞が存在すれば開口Ａｅ、
Ａｒで明縞の数に偏りがあるのでＲ1＝１にはならな
い。具体的にはＲ1＝１．２９になる。干渉縞が存在し
なけばＲ1＝１．０になる。実測値Ｉ［２５］＝３９．
３μＷ，Ｉ［２６］＝４０．３μＷ，Ｉ［２７］＝３
０．０μＷ，Ｉ［２８］＝３１．５μＷからＲ2＝１．
２９が得られた。この光量の偏りにより開口２９部で干
渉縞の発生が確認された事になる。念の為、ビーム９、
１０を独立に入射させた時の出力からは、Ｒ2＝１．０
４±０．０１が得られた。この結果は観測面１１上に干
渉縞が存在していることを示す事になる。
【００２１】以上詳しく説明したように、本装置を用い
れば４つの出力値Ｉ［２５］〜Ｉ［２８］だけから、光
子の通過光路の決定、即ち光の粒子性の確認と、干渉縞
の存在確認、即ち光の波動性の確認が同時に行なえるこ
ととなる。
れば４つの出力値Ｉ［２５］〜Ｉ［２８］だけから、光
子の通過光路の決定、即ち光の粒子性の確認と、干渉縞
の存在確認、即ち光の波動性の確認が同時に行なえるこ
ととなる。
【００２２】本実施例では干渉計としてマイケルソン干
渉計を用いたが図１に示したスクリーン１１以降の光束
分割分離測光系は、他の平行光束に近い光束同士を干渉
させる干渉計、たとえばマッハツェンダー干渉計等には
そのまま好適に用いることができる。
渉計を用いたが図１に示したスクリーン１１以降の光束
分割分離測光系は、他の平行光束に近い光束同士を干渉
させる干渉計、たとえばマッハツェンダー干渉計等には
そのまま好適に用いることができる。
【００２３】また、本実施例で観測する見掛け上の干渉
縞は、実際に観測面に存在する干渉縞の５倍の周期をも
ち、ビジビリティーも１より小さい。そして２つの開口
の幅を合わせた長さは丁度見掛け上の干渉幅の１周期分
に相当する。しかし必要に応じ、一組の光束分割分離測
光系の左右片方ずつを最小単位として、それを一系列以
上追加配置してもよい。
縞は、実際に観測面に存在する干渉縞の５倍の周期をも
ち、ビジビリティーも１より小さい。そして２つの開口
の幅を合わせた長さは丁度見掛け上の干渉幅の１周期分
に相当する。しかし必要に応じ、一組の光束分割分離測
光系の左右片方ずつを最小単位として、それを一系列以
上追加配置してもよい。
【００２４】本発明の第２の実施例について図５を用い
て説明する。図５において用いられる干渉計はマイケル
ソン干渉計であり、図１と異なるのは、光束分割分離測
光系の部分である。本実施例では分割と分離を焦点距離
ｆ′の１組のレンズ３０、３１が請け負う。この場合の
矩形開口とレンズの位置関係を図６に示す。レンズ３
０、３１の接合面３２は、図２と同様、矩形開口２９を
幅２ａ、高さ２ｂの２つの矩形開口Ａｌ，Ａｒに２等分
する。再び図５にもどると、本実施例においても、光束
分割分離測光系により、レンズ３０、３１の焦点面３３
上の４つの焦点２１′〜２４′の夫々にフラウンホーフ
ァー回折パターンが生ずる。焦点２１′〜２４′に集光
する光束は夫々ディテクタ２５〜２８で検出される。粒
子性と波動性の同時測定は、図１で説明した内容と全く
同様に可能となる。本実施例においても、光束分割分離
測光系は見掛け上の干渉縞の１周期分しか配されていな
いが、必要に応じ一つのレンズとそれに対応した２つの
ディテクタを含む光束分割分離測光系の左右半分ずつを
最小単位として、それを１系列以上複数追加配列しても
良い。また、本実施例の光束分割分離測光系はマッハツ
ェンダー干渉計等とも組合せ用いることができる。
て説明する。図５において用いられる干渉計はマイケル
ソン干渉計であり、図１と異なるのは、光束分割分離測
光系の部分である。本実施例では分割と分離を焦点距離
ｆ′の１組のレンズ３０、３１が請け負う。この場合の
矩形開口とレンズの位置関係を図６に示す。レンズ３
０、３１の接合面３２は、図２と同様、矩形開口２９を
幅２ａ、高さ２ｂの２つの矩形開口Ａｌ，Ａｒに２等分
する。再び図５にもどると、本実施例においても、光束
分割分離測光系により、レンズ３０、３１の焦点面３３
上の４つの焦点２１′〜２４′の夫々にフラウンホーフ
ァー回折パターンが生ずる。焦点２１′〜２４′に集光
する光束は夫々ディテクタ２５〜２８で検出される。粒
子性と波動性の同時測定は、図１で説明した内容と全く
同様に可能となる。本実施例においても、光束分割分離
測光系は見掛け上の干渉縞の１周期分しか配されていな
いが、必要に応じ一つのレンズとそれに対応した２つの
ディテクタを含む光束分割分離測光系の左右半分ずつを
最小単位として、それを１系列以上複数追加配列しても
良い。また、本実施例の光束分割分離測光系はマッハツ
ェンダー干渉計等とも組合せ用いることができる。
【００２５】本発明の第３の実施例について図７を用い
て説明する。本実施例は異なるレーザー光源同志の干渉
現象を測定している。一方のレーザー光源１と、光束拡
張光学系３、４、及び干渉縞の観測面１１以降の光束分
割分離測光系とは、図１と同様である。３５は第２のＨ
ｅ−Ｎｅレーザー光源、３７、３８はその光束拡張光学
系であり、３４は半透鏡である。レーザー光源１よりの
平行光束は、半透鏡３４に反射され光束９となり、レー
ザー光源３５からの平行光束は、半透鏡３４を透過した
光束１０′となる。それぞれの光束は焦点２１″〜２
４″で集光し、ディテクタ２５〜２８が検出される。２
光束のなす角度はθとする。本装置において観測面１１
上の干渉縞と、それを形成する光子がどちらのレーザー
光源から発したかとを同時に検出する方法については図
１の実施例について説明した方法と同様である。しかし
同一光源からの２光束干渉と異なり、光束９と光束１０
との間の位相差は時間的に変動する。従って、レーザー
光の強度が強く観測が極く短時間で終了する場合以外
は、観測面１１上の干渉縞が横方向に移動する事を考慮
しなければならない。その場合においても、観測面１１
上に干渉縞が出来ているか否かはＩｅ（≡Ｉ［２５］＋
Ｉ［２６］）とＩｒ（≡Ｉ［２７］＋Ｉ［２８］）との
間に負の相関があるか否かを検出する事により判定でき
る。負の相関とはＩｅが大きい時はＩｒは小さく、Ｉｒ
が大きくなればＩｅは小さくなるという関係である。干
渉縞がなければＩｅ＝ＩｒであるからＩｅ≠Ｉｒを検出
する事で縞が確認ができる。本実施例においても、一つ
の光学楔とそれに対応したディテクター２つを含む光束
分割分離測光系の左右半分ずつを最小単位としてそれを
１以上複数追加配列してもよい。
て説明する。本実施例は異なるレーザー光源同志の干渉
現象を測定している。一方のレーザー光源１と、光束拡
張光学系３、４、及び干渉縞の観測面１１以降の光束分
割分離測光系とは、図１と同様である。３５は第２のＨ
ｅ−Ｎｅレーザー光源、３７、３８はその光束拡張光学
系であり、３４は半透鏡である。レーザー光源１よりの
平行光束は、半透鏡３４に反射され光束９となり、レー
ザー光源３５からの平行光束は、半透鏡３４を透過した
光束１０′となる。それぞれの光束は焦点２１″〜２
４″で集光し、ディテクタ２５〜２８が検出される。２
光束のなす角度はθとする。本装置において観測面１１
上の干渉縞と、それを形成する光子がどちらのレーザー
光源から発したかとを同時に検出する方法については図
１の実施例について説明した方法と同様である。しかし
同一光源からの２光束干渉と異なり、光束９と光束１０
との間の位相差は時間的に変動する。従って、レーザー
光の強度が強く観測が極く短時間で終了する場合以外
は、観測面１１上の干渉縞が横方向に移動する事を考慮
しなければならない。その場合においても、観測面１１
上に干渉縞が出来ているか否かはＩｅ（≡Ｉ［２５］＋
Ｉ［２６］）とＩｒ（≡Ｉ［２７］＋Ｉ［２８］）との
間に負の相関があるか否かを検出する事により判定でき
る。負の相関とはＩｅが大きい時はＩｒは小さく、Ｉｒ
が大きくなればＩｅは小さくなるという関係である。干
渉縞がなければＩｅ＝ＩｒであるからＩｅ≠Ｉｒを検出
する事で縞が確認ができる。本実施例においても、一つ
の光学楔とそれに対応したディテクター２つを含む光束
分割分離測光系の左右半分ずつを最小単位としてそれを
１以上複数追加配列してもよい。
【００２６】本発明の第４の実施例について図８を用い
て説明する。本装置の干渉計の部分は、ヤングの干渉計
とでも云うべきものである。３９はレーザービーム、４
０はスクリーンで小径のピンホール４１、４２が僅か離
れて並んでいる。ピンホール４１からは回折波４３が出
射し、ピンホール４２からは同じく回折波４４（破線）
が出射し、第２のスクリーン４５上に干渉縞が生ずる。
スクリーン４５上には矩形開口が開いており、その直後
に光束分割分離測光系を形成するレンズ４６、４７と受
光素子５７〜６０が配されている。矩形開口と２枚のレ
ンズ４６、４７との位置関係は、図６とほぼ同様であ
る。第１、第２、第３の実施例と異なり干渉を起こす２
つの光束４３、４４が発散球面波となっている。従っ
て、ここではレンズ４６、４７が結像レンズとなってお
り、スクリーン４０上の２つのピンホール４１、４２を
結像面５２上に５３、５４及び５５、５６として夫々結
像する。第２のスクリーン４５上の干渉縞と２つの開口
との位置関係を図３で示したのと同様に設定すれば、第
１実施例での説明と同様に４つのディテクター２５〜２
８の出力から、干渉縞の存在と干渉縞を形成する光子が
４１、４２のピンホールのどちらを通過したかを同時に
検出できる。
て説明する。本装置の干渉計の部分は、ヤングの干渉計
とでも云うべきものである。３９はレーザービーム、４
０はスクリーンで小径のピンホール４１、４２が僅か離
れて並んでいる。ピンホール４１からは回折波４３が出
射し、ピンホール４２からは同じく回折波４４（破線）
が出射し、第２のスクリーン４５上に干渉縞が生ずる。
スクリーン４５上には矩形開口が開いており、その直後
に光束分割分離測光系を形成するレンズ４６、４７と受
光素子５７〜６０が配されている。矩形開口と２枚のレ
ンズ４６、４７との位置関係は、図６とほぼ同様であ
る。第１、第２、第３の実施例と異なり干渉を起こす２
つの光束４３、４４が発散球面波となっている。従っ
て、ここではレンズ４６、４７が結像レンズとなってお
り、スクリーン４０上の２つのピンホール４１、４２を
結像面５２上に５３、５４及び５５、５６として夫々結
像する。第２のスクリーン４５上の干渉縞と２つの開口
との位置関係を図３で示したのと同様に設定すれば、第
１実施例での説明と同様に４つのディテクター２５〜２
８の出力から、干渉縞の存在と干渉縞を形成する光子が
４１、４２のピンホールのどちらを通過したかを同時に
検出できる。
【００２７】第５実施例は、干渉縞の検出感度を向上で
きる開口形状に関するもので、図９を用いて説明する。
図９上側は干渉光強度分布、下側はその分布に対して示
された開口である。たとえば、本実施例を第１の実施例
に適用する場合、干渉縞強度Ｉ（Ｘ′）の分布と幅２ａ
の２つの開口との位置関係は図９の上側に示すようにな
っている。このとき、スクリーン面上での開口形状を図
９の下側に示すＡｅ，Ａｒのように両端の幅２ａ／５に
関し高さをそれ以外の部分の高さＣの２倍の２Ｃとす
る。このようにすると図１の実施例のように単純な矩形
開口ではＲ1＝Ｉ［Ａｅ］／Ｉ［Ａｒ］＝１．２９であ
ったが、本実施例ではＲ1＝（７π＋６）／（７π−
６）＝１．７５となり感度が１．３５倍向上しているこ
ととなる。本実施例の開口を用いても、干渉縞ができて
いなければＲ1＝１である。一般的に明るい縞の多い開
口の明るい縞の部分の透過光量が増す様な開口形状にお
いては他方の開口では暗い縞の部分の透過光量が増し、
両開口間の透過光量差が増幅され干渉縞の検出感度を上
げる事ができる。従ってさらに図９の下側において、点
線で示したように夫々の開口の中央部において幅２ａ／
５にわたり高さを２ｃにすれば、更に感度を高められ
る。本実施例の開口形状は第２〜第４の実施例にも適用
できる。
きる開口形状に関するもので、図９を用いて説明する。
図９上側は干渉光強度分布、下側はその分布に対して示
された開口である。たとえば、本実施例を第１の実施例
に適用する場合、干渉縞強度Ｉ（Ｘ′）の分布と幅２ａ
の２つの開口との位置関係は図９の上側に示すようにな
っている。このとき、スクリーン面上での開口形状を図
９の下側に示すＡｅ，Ａｒのように両端の幅２ａ／５に
関し高さをそれ以外の部分の高さＣの２倍の２Ｃとす
る。このようにすると図１の実施例のように単純な矩形
開口ではＲ1＝Ｉ［Ａｅ］／Ｉ［Ａｒ］＝１．２９であ
ったが、本実施例ではＲ1＝（７π＋６）／（７π−
６）＝１．７５となり感度が１．３５倍向上しているこ
ととなる。本実施例の開口を用いても、干渉縞ができて
いなければＲ1＝１である。一般的に明るい縞の多い開
口の明るい縞の部分の透過光量が増す様な開口形状にお
いては他方の開口では暗い縞の部分の透過光量が増し、
両開口間の透過光量差が増幅され干渉縞の検出感度を上
げる事ができる。従ってさらに図９の下側において、点
線で示したように夫々の開口の中央部において幅２ａ／
５にわたり高さを２ｃにすれば、更に感度を高められ
る。本実施例の開口形状は第２〜第４の実施例にも適用
できる。
【００２８】本発明を電子ビームに適用した場合を図１
０により説明する。６１は電子ビーム源、６２は電子レ
ンズ、６３は絞りで、６４はより干渉性の高い二次電子
ビーム源、６５、６６、６７は電子線複プリズムで電極
６５には電極６６、６７に対し数Ｖの正圧をかけてあ
る。これらのプリズム作用により６４から出射した電子
ビームは６８、６９の電子ビーム源から出射したかのよ
うな二本の電子ビームに分割され観測面７４に干渉縞を
生成する。観測面７４の直後には第２の電子線複プリズ
ム７５、７６、７７が設けられているが、電極７５に
は、電極７６、７７に対し数Ｖの負圧がかけてある。第
２の電子線複プリズムにより電子ビームは更に分割され
７０〜７３の４本の電子ビームが生ずるが、プリズムの
直後に設置された第２の電子レンズ７８により、夫々、
７９〜８２に収束する。７９〜８２に配した４つのディ
テクターの出力から第１実施例と同様にして電子ビーム
の粒子性と波動性の同時検出が可能となる。尚、本実施
例においてはディテクター７９〜８２が電子ビームを受
ける事を受光と呼ぶものとする。
０により説明する。６１は電子ビーム源、６２は電子レ
ンズ、６３は絞りで、６４はより干渉性の高い二次電子
ビーム源、６５、６６、６７は電子線複プリズムで電極
６５には電極６６、６７に対し数Ｖの正圧をかけてあ
る。これらのプリズム作用により６４から出射した電子
ビームは６８、６９の電子ビーム源から出射したかのよ
うな二本の電子ビームに分割され観測面７４に干渉縞を
生成する。観測面７４の直後には第２の電子線複プリズ
ム７５、７６、７７が設けられているが、電極７５に
は、電極７６、７７に対し数Ｖの負圧がかけてある。第
２の電子線複プリズムにより電子ビームは更に分割され
７０〜７３の４本の電子ビームが生ずるが、プリズムの
直後に設置された第２の電子レンズ７８により、夫々、
７９〜８２に収束する。７９〜８２に配した４つのディ
テクターの出力から第１実施例と同様にして電子ビーム
の粒子性と波動性の同時検出が可能となる。尚、本実施
例においてはディテクター７９〜８２が電子ビームを受
ける事を受光と呼ぶものとする。
【００２９】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、こ
れまで観測方法が存在しなかった、光子、電子等の量子
の波動性と粒子性の統計的な意味での同時観測が極めて
容易に行なえるようになった。
れまで観測方法が存在しなかった、光子、電子等の量子
の波動性と粒子性の統計的な意味での同時観測が極めて
容易に行なえるようになった。
【図１】本発明を光子に適用した装置の概略図である。
【図２】図１の装置における開口と光束分割・偏向手段
との位置関係を示す図である。
との位置関係を示す図である。
【図３】図１の装置における開口と干渉縞の位置関係を
示す図である。
示す図である。
【図４】図１の装置におけるレンズ焦点面上のフラウン
ホーファー回折パターンを示す図である。
ホーファー回折パターンを示す図である。
【図５】別の光束分割分離手段を有する本発明の装置の
概略図である。
概略図である。
【図６】図５の装置において、開口と、光束分割分離手
段との位置関係を示す図である。
段との位置関係を示す図である。
【図７】異なる光源からの干渉縞に適用した本発明の装
置の概略図である。
置の概略図である。
【図８】いわゆるヤングの干渉実験に適用した本発明の
装置の概略図である。
装置の概略図である。
【図９】干渉縞の検出感度を高めるための開口形状の一
例を示す図である。
例を示す図である。
【図１０】本発明を電子に適用した装置の概略図であ
る。
る。
１ レーザー光源 ３、４ 光束拡張光学系 ５ 平行光束 ６ 半透鏡 ７、８ 鏡 １１ 干渉縞の観測面 １２、１３ 光学楔 １５ レンズ ２１〜２４ 光束収束位置 ２５〜２８ 光検出器 ２９ 開口部 ３０、３１ 光束分割・分離用レンズ ３５ レーザー光源 ３９ レーザービーム ４１、４２ ピンホール ４６、４７ 光束分割分離用レンズ ６１ 電子ビーム源 ６２ 電子レンズ ６５〜６７ 電子線複プリズム ７４ 電子線干渉縞の観測面 ７５〜７７ 電子線複プリズム ７８ 電子レンズ ７９〜８２ 電子ビーム収束位置
Claims (2)
- 【請求項１】 角度差を以って伝播する二量子ビームを
所定面上に設定された二つの同形開口領域に、二量子ビ
ームによって形成される干渉縞の明縞の本数が該開口領
域で互いに異なるように調整した上で、重ね合わせた状
態で入射させ、前記二つの開口領域それぞれについて出
射する二量子ビームをその伝播方向に応じて異なった位
置に収束させて個別の量子ビームに分離する行程と、伝
播方向に応じて分離された個別の量子ビームそれぞれを
検出するための一対の検出手段を各々有する、前記二つ
の開口領域の各領域に対応した二系統の検出部を用い、
各検出手段で検出されたそれぞれの量子ビームの伝播方
向に対応する通過経路を判別することにより量子ビーム
の粒子性を検出するための第一検出行程と、前記所定面
における量子ビームの干渉縞発生を、前記二系統の検出
部それぞれで得られる一対の検出手段の出力和同士の比
較に基づいて、前記二つの開口領域の各領域に対応した
量子ビームの受光量の偏りとして検出することにより量
子ビームの波動性を検出するための第二検出行程とを有
することを特徴とする測定方法。 - 【請求項２】 角度差を以って伝播する二量子ビームを
重ね合わせた際に該二量子ビームによって形成される干
渉縞の明縞の本数が互いに異なるように入射されるべ
き、所定面上の二つの同形開口領域を規定する開口手段
と、 前記二つの開口領域それぞれについて出射する二量子ビ
ームをその伝播方向に応じて異なった位置に収束させて
個別の量子ビームに分離する分離手段と、 伝播方向に応じて分離された個別の量子ビームそれぞれ
を検出するための一対の検出手段を各々設けた前記二つ
の開口領域の各領域に対応した二系統の検出部と、 各検出手段で検出されたそれぞれの量子ビームの伝播方
向に対応する通過経路を判別することにより量子ビーム
の粒子性を検出するための第一検出行程、及び前記所定
面における量子ビームの干渉縞発生を、前記二系統の検
出部それぞれで得られる一対の検出手段の出力和同士の
比較に基づいて、前記二つの開口領域の各領域に対応し
た量子ビームの受光量の偏りとして検出することにより
量子ビームの波動性を検出するための第二検出行程とを
実行する手段 とを有することを特徴とする測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14327291A JP3227171B2 (ja) | 1991-06-14 | 1991-06-14 | 量子ビームの波動性と粒子性とを観測するための方法及びそれに用いられる測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14327291A JP3227171B2 (ja) | 1991-06-14 | 1991-06-14 | 量子ビームの波動性と粒子性とを観測するための方法及びそれに用いられる測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04366736A JPH04366736A (ja) | 1992-12-18 |
| JP3227171B2 true JP3227171B2 (ja) | 2001-11-12 |
Family
ID=15334895
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14327291A Expired - Fee Related JP3227171B2 (ja) | 1991-06-14 | 1991-06-14 | 量子ビームの波動性と粒子性とを観測するための方法及びそれに用いられる測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3227171B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007077984A1 (ja) | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Takashi Suzuki | 情報処理装置及び情報処理方法可否評価装置 |
| JP4925012B2 (ja) * | 2005-12-28 | 2012-04-25 | 隆史 鈴木 | 情報処理装置及び情報処理方法可否評価装置 |
| US8619242B2 (en) | 2005-12-28 | 2013-12-31 | Takashi Suzuki | Information processing apparatus and apparatus for evaluating whether information processing method is possible |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2082200A2 (en) * | 2006-10-05 | 2009-07-29 | Delaware State University Foundation, Inc. | Fiber optics sound detector |
-
1991
- 1991-06-14 JP JP14327291A patent/JP3227171B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007077984A1 (ja) | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Takashi Suzuki | 情報処理装置及び情報処理方法可否評価装置 |
| JP4925012B2 (ja) * | 2005-12-28 | 2012-04-25 | 隆史 鈴木 | 情報処理装置及び情報処理方法可否評価装置 |
| US8619242B2 (en) | 2005-12-28 | 2013-12-31 | Takashi Suzuki | Information processing apparatus and apparatus for evaluating whether information processing method is possible |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04366736A (ja) | 1992-12-18 |
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