JP3221878B2 - 射出成形機のための制御装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 1.発明の分野 本発明は、機械のためのコンピュータ制御に関する。
特に、本発明は射出成形機のためのコンピュータ制御に
関する。

2.従来技術 米国特許第4,486,830号から、インタプリタ・ルーチ
ンにより高レベルの言語プログラムを実行するプログラ
ム可能論理コントローラ（PLC）を提供することが公知
である。この文献の開示は、それぞれ装置の条件および
パラメータ値を表わすビットおよびワードと関連する入
出力変数に関する論理式および数式を提供するブロック
により規定されるサイクルのプログラミングについて記
載する。

米国特許第4,745,541号から、機械の諸機構について
閉ループ制御を行うため、PLCがプログラム可能な工程
制御モジュールと組合わされる射出成形機の制御を提供
することが公知である。この文献においては、プログラ
ム可能な工程制御装置はPLCシステム・バスを介してPLC
と接続されている。更に、この文献から、制御パラメー
タを表わす選択されたアナログ入力信号を連続的に監視
して、プログラムされた応答の実行を開始する予め定め
た値によりその一致を検出する事象検出器を提供するこ
とが公知である。この文献の事象検出器は、選択された
アナログ入力の使用に限定され、アナログ入力信号によ
り表わされない機械の動作と関連する事象検出器の使用
を除くものであった。

例えば、本発明の譲受人であるCincinnati Milacron
社から入手可能なCAMAC射出成形機制御装置から、事象
検出器がPLC入出力（I/O）システム・バスと接続された
アナログ入力インターフェース・モジュールから得られ
るアナログ入力で動作するPLC用の事象検出器のプログ
ラミングを提供することが公知である。このような制御
装置は、閉ループ制御を行うがアナログ・ループ制御イ
ンターフェース・モジュールに依存するプログラム可能
な工程制御モジュールでは提供されなかった。

前記文献に記載された公知の射出成形機制御装置は、
PLCのプログラム可能なことが、２進状態信号および経
過時間信号、ならびにアナログ入力信号により反映され
る事象に応答するプログラム可能なサーボ制御および事
象検出機と組合わされる射出成形機のための制御装置は
提供するものではない。

発明の概要 本発明の目的は、機械の諸装置のプログラム可能サー
ボ制御を提供する設定点信号に応答する信号処理モジュ
ールを備え、かつ選択されたアナログ信号、２進状態信
号および経過時間信号の予め定めた条件との一致を検出
することに応答して設定点を処理するプロセッサを備え
た射出成形機のための制御装置の提供にある。

本発明の別の目的は、設定点信号に応答して制御信
号、測定パラメータ信号、設定点信号に関する予め定め
たアルゴリズムおよび測定パラメータ信号を周期的に生
じることにより機械の諸装置のサーボ制御を行う信号処
理モジュールを備え、かつ選択されたアナログ信号、２
進状態信号および経過時間信号の予め定めた条件との一
致を検出することに応答して設定点信号を生じるプロセ
ッサを備えた射出成形機のための制御装置の提供にあ
る。

本発明の更に別の目的は、機械の諸装置のプログラム
可能サーボ制御を行うため設定点信号に応答する信号処
理モジュールを備え、かつ選択されたアナログ信号、２
進状態信号および経過時間信号の予め定めた条件との一
致を検出することに応答して設定点信号を生じる事象検
出プログラムを実行するプロセッサ・モジュールを備え
た射出成形機のための制御装置の提供にある。

本発明の他の目的は、拡張バスを含むプロセッサ・モ
ジュールと、拡張バスを介してプロセッサ・モジュール
と接続された選択された機械の諸装置のサーボ制御を行
う信号処理モジュールと、拡張バスを介してプロセッサ
・モジュールと接続された過電流保護回路を提供するDC
出力インターフェース・モジュールとを射出成形機のた
めの制御装置の提供にある。

上記の目的に従って、記載の制御アプリケーション・
プログラムを実行し、かつ拡張バスを含むプロセッサ・
モジュールを備えた射出成形機のための制御装置が提供
される。このプロセッサ・モジュールは、事象検出プロ
グラムを含む機構制御プログラムの実行に応答して設定
点信号を生じるプロセッサを含む。この設定点信号は、
機械の諸装置の所定の動作を定義する。事象検出プログ
ラムは、選択された２進状態信号、アナログ入力信号お
よび経過時間信号の予め定めた値との一致を検出する。
選択された機械の諸装置のサーボ機構制御を行うプログ
ラム可能信号処理モジュールは、拡張バスを介してプロ
セッサ・モジュールと接続されている。信号処理モジュ
ールは、機械の諸装置の動作により影響を受ける測定パ
ラメータの値を表わすアナログ入力信号を周期的に生じ
るアナログ・インターフェースを含む。信号処理モジュ
ールは、設定点値および測定パラメータ値に関する予め
定めたアルゴリズムに従って、プロセッサ・モジュール
から受取る選択された設定点信号および選択されたアナ
ログ入力信号に応答して制御信号を周期的に生じる。選
択された機械の諸装置に対して２進制御信号を与えるDC
出力インターフェース・モジュールは、拡張バスを介し
てプロセッサ・モジュールと接続される。このDC出力イ
ンターフェース・モジュールは、過剰負荷電流を検出し
てこれに応答してモジュール出力をオフにするための過
電流保護回路を含む。

全くの別の目的および利点については、添付図面およ
びその記述から明らかになるであろう。

（図面の簡単な説明） 図１は、射出成形機を示す側面図、 図２は、本発明の制御装置のブロック図、 図3a、図3b、図3c、図3d、図3e、図3f、および図3g
は、図１の機械の動作を制御する図２の制御装置により
実行される手順を示すフローチャート、 図４は、図２のDC出力インターフェース・モジュール
の回路図である。

（実施例） 本発明を例示するため、本発明の譲受人であるCincin
nati Milacron社により開発された射出成形機制御装置
について詳細に記述する。この制御装置は、本発明の望
ましい実施例を構成するが、本発明の範囲をこの制御装
置の特定の細部に限定することは適用意図ではない。む
しろ、出願人の意図は、請求の範囲およびこれに相等す
る全てにより定義されることである。

（射出成形機） 図１は、クランプ機構12と、押出し機14と、射出ユニ
ット16と、イジェクタ18とを含む射出成形機10の側面図
である。成形品は、クランプ機構12により共働的に作動
させられる係合ダイ構成要素19、21により形成される型
腔（即ち、巣:mold cavity）部内へ射出される可塑性
材料から形成される。機械の諸機構は各々、機械フレー
ム20内に取付けられたポンプおよびタンク・ユニット22
からの加圧作動流体が供給される液圧作動アクチュエー
タなどにより動作させられる。

更に図１によれば、クランプ機構12は、機構フレーム
20に固定的に取付けられた固定プラテン24と、図１に示
されるバー28、30を含む４本の結合バー上に摺動自在に
載置された可動プラテン26とを含む。可動プラテン26の
往復運動は、液圧作動シリンダ34により作動させられる
トグル機構32により行われる。トグル機構32は、図１に
示されるリンク37、38を含む一連のトグル・リンク装置
により可動プラテン26に対して作動力を及ぼし、固定ダ
イ高さプラテン36に対して枢動する。リンク37、38が機
構フレームに対して平行に整合される時、トグル機構
は、型腔（即ち巣）部内への材料の注入（射出:injecti
on）の結果として、可動プラテン26に対して働く作用力
に抗して機械的にロックされる。可動プラテン26の往復
運動が、係合ダイ構成要素19、21により画成される型腔
部を開閉する。

押出し機14は、周知のように働く加熱と材料の組合わ
せにより射出成形される材料を可塑化する。押出し機14
は、押出し機モータ42により回転させられる可塑化スク
リュー（図示せず）を含む長手方向の貫通内孔を有する
バレル・セグメント40を含む。スクリューが回転するに
伴い、材料が圧搾されて材料自体を加熱する結果とな
る。外部ヒータ・バンド46乃至54は、バレル・セグメン
ト40の外側に固定されて押出し機14内部の可塑材料の温
度の制御を助ける。可塑化される材料は、ホッパ56を介
して押出し機14内へ充填される。ノズル44がバレル・セ
グメント40の出口端部に固定されている。ノズル44は、
可塑化材料を型腔部内へ注入するための経路を提供する
固定プラテン24内の流通路内へ挿入するためのノズル先
端部を含む。ノズル44は、可塑化材料のバレル40からの
流出を制御するための遮断弁が備えられている。

可塑化材料の型腔部への注入を行うため、押出しスク
リューがバレル40内で固定プラテン24の方向に長手方向
に前送させられる。これにより、予め定めた量の可塑化
材料が型腔部内へ強制される。押出しスクリューの往復
運動は、押出し機モータ42が取付けられた注入ユニット
・ラム58のバレル・セグメント40が取付けられた引込み
ユニット63に対する長手方向運動によって生じる。注入
ユニット・ラム58と引込みユニット63の両者は、図１に
示された注入ユニットアン案内ロッド45を含む固定プラ
テン24に取付けられた１対の対向する注入ユニット案内
ロッドにより摺動自在に支持されている。注入ユニット
・ラム58の運動は、引込みユニット63に固定されたピス
トンを有する１対の液圧作動シリンダ60、61により行わ
れる。射出ユニット16全体の往復運動は、図１に示した
シリンダ62を含む引込みユニット63に固定された１対の
対向する引込みユニット液圧作動シリンダにより行われ
る。引込みユニット液圧作動シリンダのピストンは、注
入ユニット案内ロッドに対して固定されている。引込み
ユニットの引込み運動が、固定ピストンからの押出し機
ノズルの引込み運動を許容して固定プラテン24における
通路における突起の破壊を行い、ノズル44の変更を可能
にする。

ダイ高さとして知られる固定プラテン24と可動プラテ
ン26間の間隙の一部は、ダイ構成要素19、21の厚さを受
入れるように調製することができる。ダイ高さは、図１
に示されるナット72、74を含むダイ高さプラテン36を介
して突出する結合バー端部へ螺合されるバーのナットを
回転させることにより調整される。結果として得るダイ
高さプラテン36の変位が可動プラテン26を含むクランプ
機構12の固定プラテン24に対する位置を変化する。バー
・ナットの回転はスプロケット77、78を含むナットのス
プロケットの周囲に巻付けられたチェーン76と係合する
スプロケット75を介して駆動モータ70により生じる。

型腔部から完成した物品の取出しを確実にするため、
イジェクタ18が可動プラテン26に取付けられている。イ
ジェクタ・プレート80は、図１に示されるロッド82、84
を含む案内ロッドに摺動自在に取付けられ、シリンダ86
を含む１対のイジェクタ液圧作動シリンダにより往復運
動させられる。イジェクタ押しロッド（図示せず）は、
イジェクタ・プレート80に固定され、可動プラテン26の
通路内でダイ構成要素19に組込まれたイジェクタ・ピン
と共働するように働く。

キーボードおよびディスプレイを含むオペレータ・ス
テーション90は、固定プラテン24に取付けられている。
オペレータ・ステーション90は、オペレータが機械の動
作に介入し機械の性能を監視することを許容する。機械
の動作は、フレーム20に配置されたキャビネット92に含
まれる機械制御盤98により実行されるプログラムにより
制御される。機械の機構アクチュエータおよびヒータの
動作を制御するための設定点値を含むプログラムの実行
時に使用されるデータは、オペレータ・ステーション90
を介して入力される。

（機械の制御） 機械の制御のブロック図は、図２に関して説明され
る。制御装置盤98は、例えば出力インターフェース・モ
ジュール102、入力インターフェース・モジュール106お
よび信号処理モジュール104の如きインターフェース・
モジュールが接続されたプロセッサ・モジュール110を
含む。プロセッサ・モジュール110は、成形品の生産の
ための機械の動作サイクルを定義する機械制御アプリケ
ーション・プログラム160を実行する。更に、プロセッ
サ・モジュール110はユーザ・アプリケーション・プロ
グラム140を実行して、ディスプレイ94のための表示デ
ータの生成の如き選択された周辺装置と関連する諸機能
を実施する。

機構アクチュエータの動作および押出し機ヒータに対
する電力の供給のサーボ制御は、アプリケーション・プ
ログラム160の実行によりプロセッサ・モジュール110が
生じた設定点信号に応答して信号処理モジュール104に
よって行われる。射出成形機10に対して用いられると、
信号処理モジュール104は、測定パラメータおよび適当
な制御パラメータの比例積分微分（PID）項に関する制
御アルゴリズムの実行により弁制御信号およびヒータ制
御信号を生じる。弁制御の場合は、弁スプール位置指令
が、例えば制御される装置位置または速度、ならびに与
えられる流体圧力に応答して生成される。位置は、例え
ば、可動プラテン26の位置が得られるトグル・リンク位
置を測定する図２に示される位置検出回転ポテンショメ
ータ161の如きポテンショメータなどにより測定され
る。他の位置のトランスジューサは、イジェクタ・プレ
ート80の位置を測定する図１に示した線形ポテンショメ
ータ87、および注入ユニット・ラム58の位置を測定する
ための図１に示した線形ポテンショメータ65を含む。速
度は測定位置から得られ、あるいは例えば押出し機スク
リューの角速度を測定するタコジェネレータ43の如きタ
コジェネレータにより測定される。流体圧力は、比例弁
170の出力側の圧力を測定するトランスジューサ23の如
き圧力トランスジューサにより測定される。ヒータ制御
の場合には、ヒータ電力指令が、図２に示される熱電対
162乃至169の如きヒータ・バンド46乃至54付近のバレル
・セグメント40内に配置される熱電対などにより生じる
測定温度に応答して生じる。

２進信号、即ちON/OFF制御信号により制御される機械
10と関連する諸装置の動作は、例えばDC出力インターフ
ェース・モジュール102の如き出力インターフェース・
モジュールを介して行われる。２進状態信号は、出力イ
ンターフェース・モジュールへ与えられる２進制御信号
ならびに例えばDC入力インターフェース・モジュール10
6の如き２進入力インターフェースに接続される装置に
より生じる２進入力信号に応答して生成される。モジュ
ール102、104および106の各々は、データ、アドレスお
よびバス制御信号が送られる拡張バス100を構成する対1
00A、100Bおよび100Cの如きプラグおよびソケット対を
含むコネクタを介して、プロセッサ・モジュール110に
電気的に接続される。拡張バス100は、インダストリア
ル・スタンダード・アーキテクチャ規定に合致し、アプ
リケーションは拡張バス100における10個までのモジュ
ールを受入れるのに充分なプロセッサ・モジュール110
におけるコネクタ・ソケットを含むように選択されてい
る。

機械制御アプリケーション・プログラム160およびユ
ーザ・アプリケーション・プログラム140はメモリー116
に記憶されている。これらのプログラムは読出し専用メ
モリー（ROM）142に記録されたオペレーティング・シス
テム・プログラムの制御下でマイクロプロセッサ112に
より実行される。出願人は、マイクロプロセッサ112と
してはIntel社から入手可能な80386SXマイクロプロセッ
サを選択した。データは、マイクロプロセッサ112の内
部データ・バスとメモリー116間に直接ローカル・デー
タ・バス118を介して送られる。メモリー・データ・ア
ドレスは、メモリー・アドレス・バス122を介して送ら
れ、アドレス・ラッチ120でラッチされる。メモリー・
アドレス・バス122、および拡張バスのデータおよびア
ドレス線は、バス・コントローラ114により制御され
る。マイクロプロセッサ112と拡張バス100間の全てのデ
ータ交換は、バス・コントローラ114を介して行われ
る。出願人は、バス・コントローラ114に対して、Chips
and Technologies社から入手可能な82C386SXバス・
コントローラを選択した。バス・コントローラ114は、
拡張バス100におけるデータの転送を制御する制御信号
を生成し、マイクロプロセッサ112により生成されるデ
ータ・バス信号のバッファリングを行い、割込みコント
ローラ、リアルタイム・クロック・ジェネレータ、メモ
リー直接アクセス・コントローラ、プログラム可能内部
タイマー、80387SX数値コプロセッサに対するインター
フェース・ロジック、および8042キーボード・コントロ
ーラに対するインターフェース・ロジックを内蔵する。

キーボード96により生じるキースイッチ信号はキーボ
ード・コントローラ128と接続された直列リンクにより
プロセッサ・モジュール110へインターフェースされ
る。出願人は、キーボード・コントローラ128としてInt
el社から入手可能な8242プログラム可能キーボード・コ
ントローラを選択した。このデバイスは、キーボード・
データを逐次受取り、キーボード・データをバス・コン
トローラに接続された８ビットのデータ・バスで得られ
るようにする。キーボード文字が受取られると、キーボ
ード・コントローラ128は、キースイッチ・データが転
送の用意があることを表示するデータ使用可能割込み要
求信号を生じる。出願人は、「エコー」されるようキー
ボード・コントローラ128へ予め決定された文字を送る
ことにより、キーボード・コントローラ128およびオペ
レータ・ステーション90との通信の周期的な検証を行っ
た。エコー文字がキーボード・コントローラ128による
転送の用意ができると、データ使用可能割込み要求信号
が生成される。キーボード・コントローラ128は、シス
テム組込みおよび保守と関連して使用されるジャンパ・
ブロック（図示せず）と接続された並列入力バスを含
み、マイクロプロセッサ112によるプログラムの実行に
影響を及ぼす入力信号を与える。

ディスプレイ94は、320行および200列の表示要素とし
て構成されるバック・ライト付き液晶ディスプレイであ
る。表示データは、表示コントローラ134によりデータ
信号バッファ130を介してディスプレイ94へ出力され
る。出願人は、表示コントローラ134として、Chips ＆
Technologies社から入手可能な82C426LCD/CRTコント
ローラを選択した。ディスプレイ94の各要素の状態を定
義する表示データは、ユーザ・アプリケーション・プロ
グラム140の実行により生成される。表示データは、表
示コントローラ135の制御下で拡張バスのデータ線から
表示メモリー132へコピーされる。表示データは、表示
コントローラ134の制御下で４つの並列線上を一時に４
ビットずつディスプレイ94に対して送られる。

プログラミング・ユニット（図示せず）の如き外部デ
バイスに対してデータ通信は、例えば逐次通信によるデ
ータの転送を行う通信インターフェース136により行わ
れる。出願人は、通信インターフェース136として、Chi
ps ＆ Technologies社から入手可能な82C601周辺装置
コントローラを選択した。通信インターフェース136
は、接続されたデバイスがデータを受取る条件にあるこ
とに応答してデータが接続されたデバイスへ送られべき
時にデータ要求割込み要求を、また外部デバイスから受
取るデータの使用可能であることに応答してデータ使用
可能割込み要求を生成する。データは、拡張バス100の
データ線上で通信インターフェース136とバス・コント
ローラ114間に交換される。

以上のことから理解されるように、マイクロプロセッ
サ112とプロセッサ・モジュール110の他の構成要素との
間のデータ通信は、ローカル・データおよびアドレス・
バス、および拡張バス100のアドレスおよびデータ・バ
スの組合わせにおいて行われる。マイクロプロセッサ11
2は、24ビットのアドレス・バスと16ビットのデータ・
バスとを含む。マイクロプロセッサ112のアドレス・バ
スは、アドレス・トランシーバ124によりバッファされ
て拡張バス100に対するアドレス信号を生成する。バス
・コントローラ114は、バッファされないアドレス・バ
スで受取られるアドレスから８ビットのメモリー・アド
レスを生成する。バス・コントローラ114の16ビットの
データ・バスは、データ・バス・トランシーバ126によ
りバッファされて拡張バス100のデータ線を生じる。

マイクロプロセッサ112により実行されるオペレーテ
ィング・システム・プログラムは、事象検出器プログラ
ム144、データ取得プログラム146、バックグラウンド・
プログラム148、診断プログラム152、機械制御インタプ
リタ・プログラム154およびユーザ・プロセッサ・プロ
グラム158を含む。事象検出器プログラム144は、選択さ
れた信号およびこれら信号の予め定められた（トリガ
ー）条件の検出に対するプログラムされた応答の連続的
な監視を制御する。データ取得プログラム146は、機械
制御アプリケーション・プログラムの制御下でのプロセ
ス監視を行う際に使用される選択された入力信号の周期
的サンプリングを制御する。診断プログラムは、制御シ
ステム構成要素の診断、選択されたデータ値の初期化、
およびシステム・プログラム実行の初期化に対する電力
を提供する。バックグラウンド・プログラム148は、ユ
ーザ・アプリケーション・プログラムに対するデータ転
送、ならびにバス・コントローラ114により生成される
リアルタイム・クロック・データの管理を行う。

（信号プロセッサ・モジュール・インターフェース） 信号処理モジュール104は、機構の諸装置の所定の動
作を定義する設定点信号、制御されたデバイスにより影
響を受けた実際の条件を表わす選択されたアナログ入力
信号および選択された設定点信号および選択されたアナ
ログ入力信号に関するプログラムされた制御アルゴリズ
ムに応答してサーボ制御を行う。信号処理モジュール10
4は、予め定めたループ閉鎖間隔でループ制御アルゴリ
ズム計算を行う。信号処理モジュール104は拡張バス100
によりプロセッサ・モジュール110に接続されているこ
とが思出されれよう。信号処理モジュール104とプロセ
ッサ・モジュール110間に交換されるデータは、信号処
理モジュール104に常駐するデュアル・ポート・メモリ
ーにおける記憶場所に書込まれる。このデュアル・ポー
ト・メモリーを介するデータ転送は、プロセッサ・モジ
ュール110により実行された機械制御インタプリタ・プ
ログラム154の制御下で交換される多数のワード・ベク
トルとして構成される。このベクトルは、（ａ）弁制御
アルゴリズムに対する利得定数、ランプ関数定数および
アナログ処理モード指令を提供するアナログ形態ベクト
ルと、（ｂ）温度制御アルゴリズムに対する利得定数お
よび温度ループ処理モード指令を提供するディジタル形
成ベクトルと、（ｃ）アナログ入力および測定温度のデ
ィジタル表示を行う入力レジスタ・ベクトルと、（ｄ）
弁制御および温度制御のためのサーボ制御設定点値を含
む出力レジスタ・ベクトルとを含む。信号処理モジュー
ル104は、ループ閉鎖間隔で出力レジスタ・ベクトル・
データを読出し、入力レジスタ・ベクトル・データを書
込む。

先に述べたように、信号処理モジュール104は、制御
アルゴリズムの実行時に使用されるトランスジューサに
より生じる測定パラメータ信号を受取る。信号処理モジ
ュール104は、これらのアナログ入力信号に対する入力
インターフェースを含み、アナログ入力信号をそのディ
ジタル表示へ変換し、ディジタル信号プロセッサによる
制御アルゴリズムの実行においてディジタル表示を使用
する。更に、信号処理モジュール104は、デュアル・ポ
ート・メモリーを介して交換された入力レジスタ・ベク
トルにおいてアナログ入力のディジタル表示をプロセッ
サ・モジュール110から利用可能にする。

（制御動作） 図２の制御ブロック図に示されるオペレーティング・
システム・ルーチンは、制御の構成要素間のデータ転送
を監視し、機械の動作サイクルの制御機能を実施する機
械制御アプリケーション・プログラムおよびユーザ・ア
プリケーション・プログラムの実行を行う。オペレーテ
ィング・システム・ルーチンについては、図3a、図3b、
図3c、図3d、図3e、図3fおよび図3gに関して記述され
る。オペレーティング・システム・ルーチンは、一般
に、図3aのフローチャートにより示される手順に従って
実行される。プロセッサ・モジュール110に対する電力
の供給と同時に、パワーアップ診断ルーチンがステップ
500において実行される。パワーアップ診断ルーチンに
より行われる機能は、メモリー・バックアップ・バッテ
リ・テスト、メモリー診断、キーボード・コントローラ
128の自己テストの実行、通信インターフェース136によ
るデータ読出しおよびデータ書込み機能の検証、および
バス・コントローラ114により生じる時刻クロックのテ
ストを含んでいる。プロセッサ・モジュール110の構成
要素と関連する診断の連続的な実行の完了と同時に、拡
張バスと接続されたモジュールと関連する診断ルーチン
が実施され、オペレータ・ステーション90の操作と関連
する診断ルーチンが実施される。その後、初期化ルーチ
ンが実行されて、機械の制御走査処理および事象検出器
処理と関連するタイマーの初期値を確立する。図3aのフ
ローチャートの交換は、ステップ502におけるユーザの
プロセッサ初期化の実行により継続する。

ステップ500、502と関連するパワーアップ手順の実行
の完了に続いて、ユーザ・プロセッサ・ルーチンの実行
がステップ504において開始される。ユーザ・プロセッ
サ・ルーチンの実行は、オペレーティング・システム・
プログラムの他の主要な機能と関連する割込み信号によ
り割込みが生じるまで連続的に行われる。プロセッサ・
モジュール構成要素により生成される割込み要求ならび
に調時された割込みは、バス・コントローラ114の割込
みコントローラにより処理されてマイクロプロセッサ11
2に対する単一割込み信号を生じる。バス・コントロー
ラ114は、マイクロプロセッサ112に対して適当な割込み
サービス・ルーチンの開始アドレスを提供する。割込み
信号の生起は判断ステップ506において検出され、バス
・コントローラ114により与えられるアドレスにより識
別される手順は処理ステップ508により実行される。割
込み手順の実行の完了と同時に、ユーザ・プロセッサ・
ルーチンの実行が図3aのフローチャートの直前のステッ
プ504のルーチン線により示される如く再開される。

ユーザ・プロセッサ・ルーチン158は、ユーザ・アプ
リケーション・プログラムの実行を開始して、ウォッチ
ドッグ・タイマーによるその実行を監視する。各アプリ
ケーションは、これと関連する２つのタスク・ポインタ
を有する、即ち一方はタスク初期化ルーチンの実行指
令、他方はタスク・バックグラウンド・ルーチンの交換
の指令である。ユーザのアプリケーション初期化ルーチ
ンの実行は、ユーザのアプリケーション・バックグラウ
ンド・ルーチンの実行を指令するタスク・ポインタの設
定を行う。その後、ユーザ・アプリケーション・ルーチ
ンの各呼出しが、ユーザ・アプリケーション・バックグ
ラウンド・ルーチンの実行を行う。ユーザ・アプリケー
ション初期化ルーチンに対するタスク・ポインタは、処
理ステップ502におけるユーザ・プロセッサ初期化の実
行により設定される。図3bにおいて、選択されたタスク
・ポインタが処理ステップ510において読出される。タ
スク・ポインタ値がゼロならば、選択されたタスク・ポ
インタと関連するルーチンは実行されない。タスク・ポ
インタ値がゼロでなければ、関連するルーチンの交換が
タクス・ポインタから決定されるアドレスから処理ステ
ップ512において呼出される。ユーザ・アプリケーショ
ン・プログラムの実行の完了と同時に、ユーザ・プロセ
ッサ・プログラム158の実行が処理ステップ514で再開さ
れ、ここでタクス・ポインタ指標Ｉが増分される。処理
ステップ520において、タクス・ウォッチドッグ・カウ
ンタがリセットされる。このタスク・ウォッチドッグ・
カウンタは、ユーザ・プロセッサ・ルーチンの実行の持
続時間の監視を可能にする。判断ステップ516におい
て、タスク・ポインタ指標が限度値に等しいかどうかが
判定される。もしそうであれば、タスク・ポインタ指標
はゼロに等しく設定されて、タスク・ポインタを介して
識別された各タスクと関連する全てのユーザ・アプリケ
ーション・プログラムが実行されたことを表示する。そ
の後、ユーザ・プロセッサ・プログラムの実行が判断ス
テップ510において継続し、図3aに関して述べたように
割込みの起生を中断する。判断ステップ516においてタ
スク・ポインタ指標が限度値に等しくなかったと判断さ
れるならば、処理ステップ518が飛越されて、実行は判
断ステップ510で継続する。出願人の望ましい実施例で
は、ユーザ・プロセッサ・プログラムが４つまでの独立
的なユーザ・アプリケーション即ちタスクの実行を行
う。一実施例においては、唯１つのユーザ・アプリケー
ションがオペレータ・ステーション90のディスプレイ94
に表示されるデータを生じる。

割込み信号の起生に応答して行われる各オペレーティ
ング・システム機能は、割込み処理が起生する順序を決
定する優先レベルが割当てられている。最も高い割込み
優先レベルは、２ミリ秒の固定間隔で起生するシステム
・タイマー割込みに割当てられる。事象検出器ルーチン
およびデータ取得ルーチンの処理は、システム・タイマ
ー割込み信号の起生に応答して行われる。

図3cにおいて、事象検出器処理が処理ステップ530に
おいて呼出される。事象検出器ルーチンは、予め定めた
（トリガー）値との選択された信号の一致により反映さ
れる事象の起生を判定するため選択信号の連続的な監視
を制御する。この選択された入力は、２進制御信号およ
び機械および制御条件と関連する内部変数を含む機械制
御アプリケーション・プログラム160の実行過程で生じ
る出力信号、信号処理モジュール104により処理される
アナログ入力信号を含む入力信号、および入力インター
フェース・モジュール106を介して受取られる２進入力
信号、および事象検出器プログラムの実行過程において
生じるタイミング信号のディジタル表示を含む。典型的
には１つ以上の出力信号の状態変化を含むプログラムさ
れたシーケンスが、トリガー事象の検出に応答して実行
される。プログラムされたシーケンスは、信号処理モジ
ュール104への設定点値の即時伝送、例えばDC出力イン
ターフェース・モジュール102における出力信号の状態
変化、別の事象検出器シーケスの実行の開始、あるいは
事象検出器プログラム144に構成されたタイマーによる
経過時間の測定の開始を行う。出願人は、各々がシステ
ム・タイマー割込みの起生毎に処理される４つまでの同
時にアクティブな事象検出器を提供した。事象検出器の
処理の全体的記述は、以下本文において行う。

事象検出器の処理の実行の完了と同時に、データ取得
ルーチンが処理ステップ532において実行される。デー
タ取得は、選択された入力信号の周期的サンプリング、
および機械制御アプリケーション・プログラムによるア
クセスのためのサンプル値の記憶を可能にする。サンプ
リングの期間はプログラム可能であり、得られたサンプ
ルの最大数は予め定められている。データ取得ルーチン
の実行の完了と同時に、システム・ウォッチドッグ・タ
イマーが処理ステップ534によりリセットされる。この
システム・ウォッチドッグ・タイマーは、ルーチンの実
行時にマイクロプロセッサ112が関与する持続時間を監
視するため使用される。ウォッチドッグ・タイマーがリ
セットされない場合は、保守を要求する基本システム障
害を表わすタイムアウト条件が検出される。処理ステッ
プ538において、ユーザ・プロセッサによりリセットさ
れたタスク・ウォッチドッグ・カウンタが増分される。
タスク・ウォッチドッグ・カウンタをリセットさせるユ
ーザ・プロセッサの障害の場合、このカウンタはタスク
・プロセッサの障害を示す限度値に増分され、エラー状
態がセットされる。ユーザ・アプリケーション処理ルー
チンの実行は、端子536を介する戻りを介して再開され
る。

２番目に高い割込み優先レベルがキーボード・コント
ローラ128により生成される割込み信号に割当てられ
る。割込み要求は、転送されるデータが得られると同時
に、キーボード・コントローラ128により生成される。
図3dの処理ステップ540において、キーボード・コント
ローラ・データが読出される。判断ステップ542におい
て、キーボード・データがキーボード・コントローラ12
8との通信の検証のため送られるエコー文字であるかど
うかが判定される。もしそうであれば、エコー文字カウ
ンタが処理ステップ544においてリセットされる。その
後、ユーザ・アプリケーション・プロセッサ・ルーチン
の実行が端子548を介する戻りを介して再開される。判
断ステップ542において、読出された文字がエコー文字
でないと判定されると、キーボード・コントローラ128
の出力で得られる文字が処理ステップ546において機械
制御アプリケーション・プログラムおよびユーザ・アプ
リケーション・プログラムによりアクセスするため記憶
場所に記憶される。その後、ユーザ・アプリケーション
・プロセッサ・ルーチンの実行が端子548の戻りを介し
て再開される。

３番目に高い割込み優先レベルは、通信インターフェ
ース136により生じる割込み信号に割当てられる。通信
インターフェース136は、キーボード・コントローラ128
のデータ・バス端子における入力データが利用可能であ
るとこれに応答して入力データ割込み要求を生じる。通
信インターフェース136は、データが接続されたデバイ
スへ送られる時出力データ割込み要求を生じ、接続され
たデバイスがデータを受取る条件に置かれる。図3eにお
いて、出力データ・ルーチンの実行が判断ステップ550
の「Ｙ」側で示される如く選択されたならば、出力デー
タが処理ステップ552において通信インターフェース・
データ・バス端子へ書込まれる。入力データ割込みルー
チンが判断ステップ550の「Ｎ」により示される如く選
択されるならば、入力メッセージ・データが処理ステッ
プ554においてキーボード・コントローラ128のデータ・
バス端子から読出される。あるいはまた、処理ステップ
552および処理ステップ554の完了と同時に、ユーザ・ア
プリケーション処理ルーチンの実行が端子556を介する
戻りを介して再開される。

４番目に高い優先レベルは、機械制御アプリケーショ
ン処理ルーチンの実行と関連するプログラム可能期間に
生成される機械制御走査割込み信号に割当てられる。図
3fにおいて、機械制御走査割込み信号の起生と同時に、
入出力インターフェース・デバイス間および機械制御イ
ンターフェース・データ領域間のデータの交換が、処理
ステップ560により影響を受ける。２進状態信号のディ
ジタル表示は、入出力インターフェース・データ交換と
関連して生成される。処理ステップ562において、機械
制御アプリケーション・プログラム・インタプリタが呼
出される。このインタプリタ・プログラム154は、機械
制御アプリケーション・プログラム160の実行を制御す
る。機械制御アプリケーション・プログラム・インタプ
リタの機能の説明は、米国特許第4,486,830号に記載さ
れている。機械制御アプリケーション・インタプリタ・
プログラムの実行の完了に続いて、エコー文字が処理ス
テップ568においてキーボード・コントローラ128へ出力
される。処理ステップ570において、エコー文字カウン
タが増分される。エコー文字カウンタは、通常の動作に
おいて、図3dに示されるキーボード・コントローラ割込
みサービス・ルーチンによりリセットされる。判断ステ
ップ572は、エコー文字カウンタが、エコー文字を認識
するオペレータ・ステーションの反復された障害を表わ
す限度値まで増分されたかどうかを判定する。これは通
信障害を示し、エラー状態が処理ステップ574において
セットされる。エコー文字カウンタのテスト・ステップ
の実行に続いて、プロセッサ・モジュール・バックグラ
ウンド・プログラム148が処理ステップ564で呼出され
る。バックグラウンド・プログラムは、信号処理モジュ
ール104に対する形態ベクトル・データの転送、バス・
コントローラ114から機械制御アプリケーション・プロ
グラムおよびユーザ・アプリケーション・プログラムに
よりアクセスし得る記憶場所を記録するためバス・コン
トローラ114からの時刻クロック・データのローディン
グ、および機械制御アプリケーション・プログラムの実
行により生成されたデータ取得要求と関連するパラメー
タの設定を諸機能を実施するため使用される。バックグ
ラウンド・ルーチンの実行の完了と同時に、ユーザ・ア
プリケーション処理ルーチンの実行が端子566の戻りを
介して再開される。

事象検出器の処理については、図3gに関して記述す
る。処理ステップ570において、システム・タイマー割
込みの生起によりマークされた期間の経過を反映するよ
うに全てのアクティブな事象検出器タイマーが増分され
る。処理ステップ572において、選択された事象検出器
のシーケンス・ポインタが読出される。このシーケンス
・ポインタは、事象検出器選択指標１により選択される
事象検出器のアクティブ・シーケンスを表示する。判断
ステップ574において、選択された事象検出器のアクテ
ィブ・シーケンスと関連するトリガー事象が生じたかど
うかが判定される。アクティブ・シーケンスは、これと
関連する比較のための信号を識別するデータ、および信
号が比較されるべき所要の値を有する。先に述べたよう
に、トリガー事象は、例えば、位置測定用ポテンショメ
ータ161と関連するアナログ入力の如き選択されたアナ
ログ入力の、予め定めた値のマーキング、例えばクラン
プ機構動作の所要の変化と関連する可動プラテン26の位
置との一致である。この場合、アナログ入力は所要の位
置を表わすプログラムされた値と比較される。更に、ト
リガー事象は、アクティブ事象検出器タイマーにより測
定される予め定めた期間の満了の検出である。この場
合、選択されたタイマーの大きさは、所定の数のシステ
ム・タイマー割込み期間を定義するプログラムされた値
と比較される。あるいはまた、トリガー事象は、予め定
めた状態を取得した２進状態信号の検出である。この場
合、選択された２進状態信号は所定の状態値と比較され
る。

トリガー事象が起生したならば、アクティブ・シーケ
ンスで取上られるべくプログラムされた動作は処理ステ
ップ576において行われる。この動作は、信号処理モジ
ュール104に対する新しい設定点データ、あるいはDC出
力インターフェース・モジュール102を介して出力信号
の状態の変化の出力を含む。影響を受ける出力即ち設定
点および新しい値を定義するデータは、事象検出器トリ
ガー応答プログラミングにより含まれる。トリガーされ
た事象検出器に応答する設定点値における変化を生じる
ため、プロセッサ112は信号処理モジュール104における
デュアル・ポート・メモリーを介して交換された出力レ
ジスタ・ベクトルにおける新しい設定点値を書込む。ト
リガーされた事象検出器に応答して出力インターフェー
スにおける変化を生じるため、プロセッサ112は新しい
出力データを適当なデバイス・インターフェースへ書込
む。更に、この動作は、米国特許第第4,745,541号に記
載される如く他の事象検出器の動作に影響を及ぼす。ト
リガー応答の実行の完了と同時に、新しい値がアクティ
ブ・シーケンス・ポインタへロードされて処理ステップ
578において選択された事象検出器の次のアクティブ・
シーケンスを表示する。

判断ステップ574においてトリガー事象が起生しなか
ったと判定されると、処理ステップ576、578は飛越され
て事象検出器の処理は処理ステップ580で継続し、ここ
で事象検出器選択指標が増分される。判断ステップ582
において、事象検出器選択指標が許容アクティブ事象検
出器の数に等しい限度値と等しいかどうかが判定され
る。この指標が限度値に等しければ、これは処理ステッ
プ584においてゼロに等しくセットされ、ユーザ・アプ
リケーション処理ルーチンの実行は端子586を介する戻
りを介して再開される。判断ステップ582において事象
検出器の選択指標が限度値に等しくないと判定される
と、事象検出器の処理は、選択された事象検出器を識別
する指標の新しい値を用いて処理ステップ572において
継続する。このように、全てのアクティブな事象検出器
がシステム・タイマー割込みの起生毎に処理されること
により、システム・タイマー割込みの起生率で信号処理
モジュール104に対する設定点データの変化を可能にす
る。

（DC出力インターフェース・モジュール） 望ましい実施例において、DC出力モジュール102は、
出力トランジスタとしてMOS電界効果トランジスタを用
いる16のDC出力インターフェース回路を提供する。これ
らのトランジスタは、従来のバイポーラ・パワー・トラ
ンジスタと比較して、比較的低い電力消費で高い電流搬
送能力を提供する。その結果、通常の動作のためにはト
ランジスタのヒート・シンクは不要であり、これにより
各インターフェース回路に対して必要な面積を低減す
る。出力インターフェース回路は、負荷へ送られる過電
流を検出するとこれに応答して出力トランジスタを導通
状態から外す過電流保護回路を含む。

事例のDC出力インターフェース回路について図４に関
して記述する。出力トランジスタ600のドレーン端子
は、正のDC出力電源電圧に接続されている。電流検出抵
抗602は、出力トランジスタ600のソース端子とインター
フェース回路出力端子との間に接続されている。DC出力
インターフェース回路により駆動される負荷は、インタ
ーフェース回路出力端子とDC出力電源への戻りを提供す
る戻り線との間に接続されている。出力トランジスタ60
0に対するゲート駆動信号は、トランスフォーマ604の二
次巻線の両端に現れる信号から得られる。出力インター
フェース制御信号Ｃが、それぞれバッファ608、610を介
して高周波パルス列OSCと組合わされて、トランスフォ
ーマ604の一次巻線に対するバッファ・トランジスタ606
の出力に駆動信号DRVを生じる。トランスフォーマ604
は、2:1の比で駆動信号を昇圧して出力電源電圧の半分
に略々等しいゲート駆動信号を生じる。この駆動信号
は、ダイオード612により半波整流され、コンデンサ613
によりフィルタされて出力トランジスタ600に対するDC
ゲート駆動信号を生じる。前記パルス列の周波数は、半
波整流されたゲート駆動信号が通常の動作におけるパル
ス列期間中に導通状態から出力トランジスタ600を外さ
ないようにする如きものである。MOSFET遮断デバイス61
4は、ゲート駆動信号と、ゲート駆動信号が除かれた時
出力トランジスタ600の急速な遮断を生じるその戻りと
の間に接続されている。出願人は、遮断デバイス614と
してMotorola社から入手可能なMD1000B MOSFET遮断デ
バイスを選択した。ゲート駆動電圧の除去と同時に、こ
のデバイスは出力トランジスタ600のゲートに蓄えれた
電荷を除去して出力トランジスタの「OFF」位置への急
速な切換えを保証する。

更に図４に関して、出力トランジスタ600は、電流検
出抵抗602で検出される過電流に応答するトランジスタ6
18、620を含むラッチ回路により、過負荷電流に対して
保護されている。電流検出抵抗602の両端に生じる電圧
が増加するに伴い、直列通過トランジスタ616が導通状
態に置かれる。トランジスタ616により通される電流
は、直列抵抗622を介してコンデンサ624をこれら素子の
値により決定される時定数で充電する。この時定数は、
出力トランジスタ600を遮断する前に望ましい予め定め
た過電流動作期間を得るように選定される。一旦コンデ
ンサ624がトランジスタ620のベース対エミッタ接合を順
方向にバイアスするように充電されると、トランジスタ
620は導通状態となって抵抗626の両端に電圧を生じてト
ランジスタ618のベース対エミッタ接合を順方向にバイ
アスする。トランジスタ618がオンにされると、トラン
ジスタ620がオンにラッチされて、出力トランジスタ600
からのゲート駆動信号を除去すると同時に、トランスフ
ォーマ604により送られる電流を増加する結果となる。
トランジスタ620のラッチ状態は、ラッチ回路から給電
を止めることによってのみ克服される。これは、インタ
ーフェース制御信号Ｃをそのロー状態にセットすること
により行われ、これによりパルス列に応答してトランジ
スタ606のスイッチングを阻止し、トランスフォーマ604
の二次巻線における駆動信号を除去する。

望ましい実施例において、過電流ラッチングの起生を
検出するセンサが設けられ、拡張バス・インターフェー
スにおける障害信号出力を生じる。コンパレータ630
が、トランスフォーマ一次巻線の駆動信号DRVを抵抗63
2、634により形成される電圧分割器から得る基準値と比
較する。通常の状態では、トランジスタ606がOFFにされ
る時そのコレクタに現れる誘導キックバック電圧は、ツ
ェナー・ダイオード633のツェナー電圧の約２倍であ
る。このことは、コンパレータ630の正の（非反転）入
力がコンパレータの負の（反転）入力に与えられる基準
電圧より高くバイアスされることを保証する。このよう
な条件下では、コンパレータ630の出力はハイとなる。
過電流ラッチのラッチ状態の結果として生じるトランス
フォーマ604の二次巻線に増加した負荷は、結果として
バッファ・トランジスタ606のコレクタに現れる誘導キ
ックバック電圧の低下を招くことになる。この低下は、
コンパレータ630の入力における条件を反転させるに充
分であり、その結果コンパレータ出力がローのレベルへ
駆動されることになる。コンパレータ630のローの出力
は、フリップフロップ636の出力をセットして割込み要
求信号を生じる。この割込み要求は、最後に拡張バス10
0を介して伝送され、バス・コントローラ114の割込みコ
ントローラにより処理される。出力インターフェースが
OFFになるよう指令される期間中コンパレータ630の正入
力が負の入力より更に高い正の値であることを保証する
ため、トランジスタ636は出力インターフェース制御信
号Ｃに応答して切換えられる。インターフェース制御信
号Ｃがローである時、トランジスタ636はONとなりコン
パレータ630の正入力を負入力より高い正の値へ強制す
る。駆動信号DRVがローでありインターフェースがONに
なるよう指令される期間中コンパレータ630の切換えを
阻止するため、コンデンサ631はコンパレータ630の正ナ
イキストに所定のヒステリシスを生じる。

本発明の制御装置が拡張バスに接続された３つのタイ
プのモジュールを含むものとして記述したが、インダス
トリアル・スタンダード・アーキテクチャ・バス規定の
出願人による採用により、このバスに対して開発された
どんなモジュールも接続可能であることは明らかであろ
う。従って、ネットワーク・インターフェース、ディス
ク・ドライブ、メモリー拡張、およびパーソナル・コン
ピュータ産業で典型的である他の諸機能を提供する市販
製品が必要に応じて容易に付設できることが考えられ
る。当業者には、バス・コントローラ114をインダスト
リアル・スタンダード・アーキテクチャ・バス規定と組
合わせて使用することが、これらの製品により提供され
る諸機能をサポートする動作ソフトウエアを提供する作
業を著しく軽減することが理解されよう。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 メッサーレ，チャールズ・エヌ アメリカ合衆国オハイオ州45036，レバ ノン，ウィンディング・ウェイ 1026 (56)参考文献 特開 昭58−207106（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−150102（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−69873（ＪＰ，Ａ) 特開 昭56−153408（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−39188（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−184601（ＪＰ，Ａ) 米国特許5062052（ＵＳ，Ａ) 米国特許4745541（ＵＳ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) B29C 45/76 - 45/77 G05B 19/00 - 19/042

Claims (17)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】アナログ制御信号に応答する少なくとも１
   つの機械デバイスと、該機械デバイスの動作により影響
   を受ける機械の条件を表わす測定パラメータ信号を生じ
   る少なくとも１つのトランスジューサとを含む射出成形
   機を制御する方法において、 a.測定パラメータ信号に応答して、測定された機械パラ
   メータの値を表わすアナログ入力信号を生成し、 b.選択された機械の条件の状態を表わす２進の状態信号
   を生成し、 c.機械の動作と関連する経過期間を表わす経過時間信号
   を生成し、 d.選択可能に、アナログ入力信号、２進の状態信号およ
   び経過時間信号と、機械の動作と関連する事象の起生を
   マークする予め定めた値との一致の検出に応答して、機
   械デバイスの所要の動作を定義する設定点信号を生成
   し、 e.機械デバイスを制御する制御信号を周期的に生成する
   ステップを含み、該制御信号の値は、前記設定点信号、
   選択されたアナログ入力信号、および選択された設定点
   値および選択された測定パラメータ値に関する制御アル
   ゴリズムに応答して、予め定めたループ閉鎖インターバ
   ルで計算される 方法。
2. 【請求項２】設定点信号を生成するステップが更に、 a.第１の予め定めた割込み信号を定義するシステム・タ
   イマー割込み信号を生成し、 b.選択的にアナログ入力信号、２進の状態信号、および
   経過時間信号により表わされる値を、予め定めた値と比
   較して該値との一致を検出する ステップを含む請求の範囲第１項記載の方法。
3. 【請求項３】経過時間信号と予め定めた値との一致が検
   出され、設定点信号を生成するスナップが更に、 a.システム・タイマー割込み信号の起生に応答して経過
   時間値を増加し、該経過時間値が予め定めた事象からの
   システム・タイマー割込み信号の起生数をマークし、 b.前記増分された経過時間値を予め定めた値と比較する ステップを含む請求の範囲第２項記載の方法。
4. 【請求項４】アナログ入力信号を生成するステップが更
   に、 ループ閉鎖インターバルで測定パラメータ信号を周期的
   にサンプリングするステップを含む請求の範囲第１項記
   載の方法。
5. 【請求項５】２進の状態信号を生成するステップが更
   に、 a.第２の予め定めた割込みインターバルで走査割込み信
   号を周期的に生成し、 b.所望のデバイス条件、および走査割込み信号の発生と
   して存在する機械の条件に従って決定される実際のデバ
   イス条件に応答して、２進の状態信号を生成するステッ
   プを含む請求の範囲第１項記載の方法。
6. 【請求項６】アナログ制御信号に応答する少なくとも１
   つの機械デバイスと、該機械デバイスの動作により影響
   を受ける機械の条件を表わす設定されたパラメータ信号
   を生成する少なくとも１つのトランスジューサとを含む
   射出成形機のための制御装置において、 a.測定された機械パラメータの値を表わすアナログ入力
   信号を生成する手段と、 b.選択された機械の条件の状態を表わす２進の状態信号
   を生成する手段と、 c.機械の動作と関連する経過期間を表わす経過時間信号
   を生成する手段と、 d.選択可能に、アナログ入力信号、２進の状態信号、お
   よび経過時間信号と、機械動作と関連する事象の発生を
   マークする予め定めた値との一致の検出に応答して、機
   械のデバイスの所定の動作を定義する設定点信号を周期
   的に生成するプロセッサと、 e.機械デバイスを制御するアナログ制御信号を周期的に
   生成する信号処理手段とを設け、該信号処理手段は、設
   定点信号、選択されたアナログ入力信号、および選択さ
   れた設定点値および選択された測定パラメータ値に関す
   る制御アルゴリズムに応答して、予め定めたループ閉鎖
   インターバルで制御信号の値を計算する 制御装置。
7. 【請求項７】前記プロセッサが更に、 a.予め定めた時間インターバルを定義するシステム・タ
   イマー割込み信号を周期的に生成する手段と、 b.前記システム・タイマー割込み信号に応答して、経過
   時間信号により表わされる経過時間値を増分し、かつ予
   め定めた事象からのシステム・タイマー割込み信号の発
   生数をマークする手段と、 c.選択可能にアナログ入力信号、２進の状態信号、およ
   び経過時間信号により表わされる値を予め定めた値と比
   較して、該値との一致を検出する手段と、 を含む請求の範囲第６項記載の制御装置。
8. 【請求項８】アナログ入力信号を生成する手段が、ルー
   プ閉鎖インターバルで測定されたパラメータ信号を周期
   的にサンプリングする手段を含む請求の範囲第６項記載
   の制御装置。
9. 【請求項９】２進の状態信号を生成する手段が、 a.第２の予め定めた割込みインターバルで走査割込み信
   号を周期的に生成する手段と、 b.所望のデバイス条件、および前記走査割込み信号の発
   生として存在する機械の条件に従って決定される実際の
   デバイス条件とに応答して、２進の状態信号を生成する
   手段とを含む請求の範囲第６項記載の制御装置。
10. 【請求項１０】巣部を規定する係合ダイ構成要素と、可
    塑化材料を該巣部内へ射出する射出ラムと、射出成形さ
    れる材料を可塑化させる押出し機とを共働的に動作させ
    るクランプ機構を備えた射出成形機のための制御装置で
    あって、前記機械が機械条件の測定値を表わす測定パラ
    メータ信号を生成するトランスジューサを含む制御装置
    において、 a.拡張バスを含むプロセッサ・モジュールを設け、該プ
    ロセッサ・モジュールが、事象検出プログラムを実行し
    て、選択可能に、アナログ入力信号、２進の状態信号、
    および経過時間信号と、予め定めた値との一致を検出
    し、これに応答して設定点信号を生成し、 b.システム・プロセッサ・モジュールと拡張バスを介し
    て接続される信号処理モジュールを設け、該信号処理モ
    ジュールは、測定パラメータ信号を周期的にサンプリン
    グしてアナログ入力信号を生成する手段と、前記アナロ
    グ入力信号および設定点信号に応答して、クランプ機
    構、押出し機および射出ラムの動作を制御する制御信号
    を周期的に生成する手段とを含む 制御装置。
11. 【請求項１１】表示デバイスとキーボードとを含むオペ
    レータ・ステーションを更に設け、該オペレータ・ステ
    ーションが前記プロセッサ・モジュールから遠隔位置に
    配置される請求の範囲第10項記載の制御装置。
12. 【請求項１２】前記プロセッサ・モジュールが更に、 a.前記キーボードにより生成されたキーボード・データ
    を読出して変換するキーボード・コントローラと、 b.前記表示デバイスにより要求されるフォーマットでデ
    ータを生成する表示コントローラとを含む請求の範囲第
    11項記載の制御装置。
13. 【請求項１３】前記拡張バスがインダストリ・スタンダ
    ード・アーキテクチャと互換性を有する請求の範囲第11
    項記載の制御装置。
14. 【請求項１４】前記プロセッサ・モジュールと拡張バス
    を介して接続され、インターフェース制御信号に応答す
    る複数のDC出力インターフェース回路と、これにより送
    られる過負荷電流の検出に応答してインターフェース回
    路の出力における電流の導通を禁止する手段とを含むDC
    出力インターフェース・モジュールを更に設けてなる請
    求の範囲第10項記載の制御装置。
15. 【請求項１５】前記インターフェース回路が、 a.負荷へ電流を送る出力トランジスタと、 b.インターフェース制御信号に応答してAC駆動信号を生
    成する入力バッファと、 c.前記AC駆動信号に応答して、出力トランジスタを制御
    するDC駆動信号を生成する整流手段と、 d.負荷に送られる電流を測定する手段と、 e.前記測定手段に応答して、負荷電流供給トランジスタ
    からDC駆動信号を除去し入力バッファへ与えられる負荷
    を増加させるラッチ手段とを含む請求の範囲第14項記載
    の制御装置。
16. 【請求項１６】前記インターフェース回路が更に、前記
    バッファにおける負荷に応答して前記ラッチ手段の状態
    を検出し、拡張バスにおいてプロセッサに対してアクセ
    ス可能な障害信号を生じる手段を含む請求の範囲第15項
    記載の制御装置。
17. 【請求項１７】前記入力バッファが更に、 a.パルス列を生成する手段と、 b.入力スイッチング手段と、 c.インターフェース制御信号と前記パルス列とを論理的
    に組合わせて前記入力スイッチング手段を制御する手段
    と、 d.前記入力スイッチング手段に応答してAC駆動信号を生
    成するトランスフォーマとを含む請求の範囲第15項記載
    の制御装置。